CN116994635B - 闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，涉及存储产品技术领域。闪存掉电测试方法包括以下步骤：控制模块通过状态引脚检测待测闪存的工作状态；工作状态包括繁忙状态和空闲状态；当检测到待测闪存处于繁忙状态时，控制模块控制可控电源对待测闪存进行延时断电；通过获取模块获取待测闪存断电后的阈值电压分布图。根据本发明实施例的闪存掉电测试方法，可以准确控制待测闪存在不同的时间点或位置进行断电，从而能够得到待测闪存在不同的时间点或位置进行断电的不同表现，进而能够更全面地分析待测闪存的掉电表现。

Description

闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质

技术领域

本发明涉及存储产品技术领域，尤其是涉及一种闪存掉电测试方法和系统、电子设备和存储介质。

背景技术

在现代电子信息产业中，存储器作为电子设备中存储数据的载体一直有着非常重要的地位。目前，市场上的存储器主要分为：易失性存储器和非易失性存储器。闪存是一种非易失性存储器，它能够在掉电后长时间保存数据，并且有着数据传输速度快、生产成本低、存储容量大等优点，所以被广泛应用于电子设备之中。

闪存的基本操作主要有Read(读)、Program(写)和Erase(擦除)等，在闪存进行读/写/擦除过程中，其rb引脚(ready/busy，用于表示闪存处于空闲状态或繁忙状态)会被拉低进入busy状态，此时无法对闪存执行下一项操作，需要等待闪存完成当前的操作后，将rb引脚拉高，进入ready状态，才能够对闪存执行下一项操作。

在闪存的实际使用过程中，经常会因为设备重启或断电等情况而突然掉电，如果在掉电的瞬间，闪存正好处于busy状态，其出现数据丢失、错误或损坏等情况的概率将会大增；而如果在掉电的瞬间，闪存处于ready的状态，则说明此时闪存未执行写入等操作或者是已经完成了写入等操作，在此状态下，闪存的数据均保存在内部的非易失存储区域，即使掉电，也不会对闪存的数据造成影响。因此，为了能够更好地研究闪存在掉电情况下的数据保存情况，需要能够控制在闪存处于busy状态而非ready状态下对其进行掉电测试。而在现有技术中，对闪存进行掉电测试时，通常采用的是随机断电的方法，即通过程控电源控制闪存进行断电或者上电，而由于闪存处于busy状态的时间通常是很短的，最多也仅有几毫秒，所以随机断电的方法很难控制闪存在处于busy状态时进行掉电，采用这种方法会获得较多无效的测试数据，测试效率不高，测试结果不够直观。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出了一种闪存掉电测试方法和系统、电子设备和存储介质，能够准确控制在闪存处于busy状态下对其进行掉电测试。

一方面，根据本发明实施例的闪存掉电测试方法，基于闪存掉电测试系统，所述闪存掉电测试系统包括控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚，所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电，所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并根据检测结果，控制所述可控电源对所述待测闪存的供电状态；所述获取模块用于获取所述待测闪存的阈值电压分布图；所述闪存掉电测试方法包括以下步骤：

所述控制模块通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态；所述工作状态包括繁忙状态和空闲状态；

当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；

通过所述获取模块获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图。

根据本发明的一些实施例，当所述状态引脚为低电平时，所述待测闪存处于繁忙状态；当所述状态引脚为高电平时，所述待测闪存处于空闲状态。

根据本发明的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段；

在所述时间段内，选取多个第一时间点；

所述控制模块在每个所述第一时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第一时间点对所述待测闪存进行断电。

根据本发明的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段，以及在所述时间段内所述待测闪存处于不同的预设写入位置所对应的第二时间点；

所述控制模块在每个所述第二时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第二时间点对所述待测闪存进行断电。

根据本发明的一些实施例，所述闪存掉电测试系统还包括放电模块，所述放电模块包括：

控制开关，所述控制开关的受控端与所述控制模块电连接，所述控制开关的第一端与所述供电引脚电连接；

放电电阻，所述放电电阻的第一端与所述控制开关的第二端电连接，所述放电电阻的第二端接地。

根据本发明的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，且所述控制模块驱动所述控制开关处于导通状态，使所述待测闪存的供电引脚通过所述放电模块进行放电。

另一方面，根据本发明实施例的闪存掉电测试系统，包括：

控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚；

所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电；

所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并在检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；

所述获取模块用于获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图。

根据本发明的一些实施例，所述闪存掉电测试系统还包括：

放电模块，用于在所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电时，对所述待测闪存的供电引脚进行放电。

另一方面，根据本发明实施例的电子设备，包括：

存储器，用于存储程序指令；

处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序指令执行上述实施例的闪存掉电测试方法。

另一方面，根据本发明实施例的存储介质，所述存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行上述实施例所述的闪存掉电测试方法。

根据本发明实施例的闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，至少具有如下有益效果：通过控制模块来检测待测闪存的状态引脚，从而判断待测闪存处于繁忙状态或空闲状态，进而控制可控电源在待测闪存处于繁忙状态时，对待测闪存进行断电，从而能够准确控制在待测闪存处于繁忙状态下进行掉电测试。在对待测闪存断电后，通过获取模块获取待测闪存的阈值电压分布图，通过阈值电压分布图，可以直观查看待测闪存内部的数据保存情况，从而有利于后续对待测闪存的掉电状态进行分析。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本发明一种实施例的闪存掉电测试系统的结构示意图；

图2为本发明另一种实施例的闪存掉电测试系统的结构示意图；

图3为本发明实施例的闪存掉电测试方法的步骤流程图；

附图标记：

控制模块100、待测闪存200、可控电源300、获取模块400、放电模块500。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

本发明的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本发明中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

在闪存的实际使用过程中，经常会因为设备重启或断电等情况而突然掉电，如果在掉电的瞬间，闪存正好处于busy状态，其出现数据丢失、错误或损坏等情况的概率将会大增；而如果在掉电的瞬间，闪存处于ready的状态，则说明此时闪存未执行写入等操作或者是已经完成了写入等操作，在此状态下，闪存的数据均保存在内部的非易失存储区域，即使掉电，也不会对闪存的数据造成影响。

因此，为了能够更好地研究闪存在掉电情况下的数据保存情况，需要能够控制在闪存处于busy状态而非ready状态下对其进行掉电测试。而在现有技术中，对闪存进行掉电测试时，通常采用的是随机断电的方法，即通过程控电源控制闪存进行断电或者上电，而由于闪存处于busy状态的时间通常是很短的，最多也仅有几毫秒，所以随机断电的方法很难控制闪存在处于busy状态时进行掉电，采用这种方法会获得较多无效的测试数据，测试效率不高，测试结果不够直观。

为此，本发明实施例提出了一种闪存掉电测试方法和系统、电子设备和存储介质，先是通过控制模块来检测待测闪存的状态引脚，从而判断待测闪存处于繁忙状态或空闲状态，进而控制可控电源在待测闪存处于繁忙状态时，对待测闪存进行断电，从而能够准确控制在待测闪存处于繁忙状态下进行掉电测试。在对待测闪存断电后，通过获取模块获取待测闪存的阈值电压分布图，通过阈值电压分布图，可以直观查看待测闪存内部的数据保存情况，从而有利于后续对待测闪存的掉电状态进行分析。

下面结合附图1-3，详细描述本发明实施例的闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质。

一方面，如图1所示，本发明实施例中提出了一种闪存掉电测试系统，该系统包括控制模块100、待测闪存200、可控电源300和获取模块400；其中，待测闪存200包括供电引脚(即VCC)和状态引脚(即rb)，供电引脚是用于对待测闪存提供工作电源的，而状态引脚则是用于表明待测闪存200当前的工作状态，当状态引脚被拉高处于高电平时，说明待测闪存200处于空闲(ready)状态，此时待测闪存200未执行写入/读取等操作，当状态引脚被拉低处于低电平时，说明待测闪存200处于繁忙(busy)状态，此时待测闪存200正在执行写入/读取等操作。可控电源300可以采用常见的开关电源、程控电源等供电装置，可控电源300用于通过供电引脚对待测闪存200进行供电或断电，且可控电源300的供电状态由控制模块100进行控制。控制模块100可以采用常见的控制器/处理器等，控制模块100可以通过GPIO(General-purpose input/output，通用输入输出)线检测待测闪存200的状态引脚的电平状态，当控制模块100检测到状态引脚由高电平变为低电平时，说明待测闪存200此时处于繁忙状态，可以控制可控电源300停止对待测闪存200供电，使得待测闪存200进行掉电。在待测闪存200掉电后，通过获取模块400获取并绘制待测闪存200的阈值电压分布图，通过比较待测闪存200掉电前后的阈值电压分布图，即可分析待测闪存200在掉电情况下的数据保存情况。

如图2所示，在本发明的一些实施例，闪存掉电测试系统还包括放电模块500，放电模块500用于在控制模块100控制可控电源300对待测闪存200进行延时断电时，对待测闪存200的供电引脚进行放电。在实际应用中，待测闪存200通常连接在一个电流回路中，电流回路中所存在的电容效应会影响待测闪存200的电压下降速度，进而影响放电时间的准确性；在理想状态下，在可控电源300停止对待测闪存200进行供电时，待测闪存200的电压会快速下降为0；而由于电容效应的存在，会影响待测闪存200的掉电速率，使得待测闪存200的电压无法快速下降到零，从而影响掉电测试的结果。为此，在本示例中，闪存掉电测试系统增设了一个放电模块500，放电模块500用于在可控电源300停止对待测闪存200进行供电时，对待测闪存200进行快速放电，使得掉电测试的结果更为准确。如图2所示，放电模块500包括控制开关和放电电阻R1，控制开关的受控端与控制模块100电连接，控制开关的第一端与供电引脚电连接；控制开关的第二端与放电电阻R1的第一端电连接，放电电阻R1的第二端接地。具体地，控制开关可以采用三极管、MOS管、继电器等开关，在本示例中，以控制开关采用三极管为例，三极管Q1的基极与控制模块100电连接，三极管Q1的集电极与待测闪存200的供电引脚电连接，三极管Q1的发射极通过放电电阻R1接地；当可控电源300停止对待测闪存200进行供电时，控制模块100控制三极管Q1导通，使得待测闪存200可以通过三极管Q1和放电电阻R1进行快速放电，从而避免影响掉电测试结果的准确性。

根据本发明实施例的闪存掉电测试系统，通过控制模块100来检测待测闪存200的状态引脚，从而判断待测闪存200处于繁忙状态或空闲状态，进而控制可控电源300在待测闪存200处于繁忙状态时，对待测闪存200进行断电，从而能够准确控制在待测闪存200处于繁忙状态下进行掉电测试。在对待测闪存200断电后，还可以通过获取模块400获取待测闪存200的阈值电压分布图，通过阈值电压分布图，可以直观查看待测闪存内部的数据保存情况，从而有利于后续对待测闪存200的掉电状态进行分析。此外，通过设计放电模块500，能够在对待测闪存200进行断电后，对其进行快速放电，从而进一步提升掉电测试结果的准确性。

另一方面，本发明实施例还提出了一种闪存掉电测试方法，如图3所示，该方法包括以下步骤：

步骤S100：控制模块100通过状态引脚检测待测闪存200的工作状态；工作状态包括繁忙状态和空闲状态；

具体地，控制模块100可以通过GPIO线检测待测闪存200的状态引脚的电平状态，当控制模块100检测到状态引脚为高电平时，说明待测闪存200此时处于空闲状态；当控制模块100检测到状态引脚为低电平时，说明待测闪存200此时处于繁忙状态。

步骤S200：当检测到待测闪存200处于繁忙状态时，控制模块100控制可控电源300对待测闪存200进行延时断电；

当控制模块100检测到待测闪存200的状态引脚由高电平变为低电平时，说明待测闪存200进入了繁忙状态，此时，控制模块100可以控制可控电源300对待测闪存200进行延时断电。为了能够验证待测闪存200在不同的时间点进行断电的情况下，分别具有怎样的特征和表现，从而使得测试结果更为丰富和全面，可以通过控制模块100准确控制待测闪存200在繁忙状态下的不同时间点进行断电；为此，上述的步骤S200，可以包括以下子步骤：

步骤S210：确定待测闪存200处于繁忙状态的时间段；

步骤S220：在所述时间段内，选取多个第一时间点；

步骤S230：控制模块100在每个第一时间点，控制可控电源300对待测闪存200进行断电，每次断电后，对待测闪存200重新进行上电，并在下一个第一时间点对待测闪存200进行断电。

具体地，控制模块100可以通过预先的测试，获得待测闪存200在执行测试指令时，进入繁忙状态的时间点以及持续的时间长度；假设待测闪存200处于繁忙状态所持续的时间长度为1ms，则可以每隔100us选取一个时间点，例如，当控制模块100检测到待测闪存200进入繁忙状态后，等待100us后，再控制可控电源300对待测闪存200进行断电；随后，重新对待测闪存200进行上电，使其重新初始化，然后在检测到待测闪存200进入繁忙状态后，等待200us后，再控制可控电源300对待测闪存200进行断电；重复此过程，控制模块100在检测到待测闪存200进入繁忙状态后，每次延时不同的时间，再对待测闪存200进行断电。通过这样的措施，能够测试待测闪存200在不同的时间点掉电的情况，从而能够更全面的分析待测闪存200的掉电表现。

除了控制待测闪存200在不同的时间点进行掉电，还可以控制待测闪存200在不同的位置进行掉电；待测闪存200在执行测试指令时，需要往内部写入数据，由于待测闪存200内部具有多个page(存储页)，所以在写入数据的过程中，待测闪存200会根据相应的指令，在不同的page写入数据，而在不同的page写入数据会对应不同的时间点；为了验证待测闪存200在不同的page写入数据时掉电会有怎样不同的表现，可以控制待测闪存200在不同的写入位置进行掉电；为此，上述的步骤S200，可以包括以下子步骤：

步骤S240：确定待测闪存200处于繁忙状态的时间段，以及在所述时间段内待测闪存200处于不同的预设写入位置所对应的第二时间点；

步骤S250：控制模块100在每个第二时间点，控制可控电源300对待测闪存200进行断电，每次断电后，对待测闪存200重新进行上电，并在下一个第二时间点对待测闪存200进行断电。

具体地，当待测闪存200在执行测试指令时，可以通过测试得到每个时间点待测闪存200正在对哪个page进行写入数据，从而能够根据所需的掉电位置，计算出所需的延时时间，当控制模块100检测到待测闪存200进入繁忙状态后，延时相应的时间后，控制可控电源300对待测闪存200进行断电，即可使得待测闪存200在所需的位置进行断电；随后，重新对待测闪存200进行上电，使其重新初始化，然后根据下一个预设写入位置所需的延时时间，控制待测闪存200进行断电；重复此过程，即可测试待测闪存200在不同的写入位置掉电的情况，从而能够更全面的分析待测闪存200在不同的page写入数据时的掉电情况。

步骤S400：通过获取模块400获取待测闪存200断电后的阈值电压分布图。

在每次对待测闪存200进行断电后，获取和绘制待测闪存的阈值电压分布图，通过比较待测闪存200断电前后的阈值电压分布图，可以得到待测闪存200在掉电后的数据保存情况，从而能够分析待测闪存200的掉电表现。

此外，在本发明的一些实施例中，闪存掉电测试系统还包括放电模块500，如图2所示，放电模块500包括控制开关和放电电阻R1，控制开关的受控端与控制模块100电连接，控制开关的第一端与供电引脚电连接；控制开关的第二端与放电电阻R1的第一端电连接，放电电阻R1的第二端接地。具体地，控制开关可以采用三极管、MOS管、继电器等开关，在本示例中，以控制开关采用三极管为例，三极管Q1的基极与控制模块100电连接，三极管Q1的集电极与待测闪存200的供电引脚电连接，三极管Q1的发射极通过放电电阻R1接地；当可控电源300停止对待测闪存200进行供电时，控制模块100控制三极管Q1导通，使得待测闪存200剩余的电源可以通过三极管Q1和放电电阻R1进行快速放电，从而避免影响掉电测试结果的准确性。

根据本发明实施例的闪存掉电测试系统，通过控制模块100来检测待测闪存200的状态引脚，从而判断待测闪存200处于繁忙状态或空闲状态，进而控制可控电源300在待测闪存200处于繁忙状态时，对待测闪存200进行断电，从而能够准确控制在待测闪存200处于繁忙状态下进行掉电测试。而且，在掉电测试过程中，可以准确控制待测闪存200在不同的时间点或位置进行断电，从而能够得到待测闪存200在不同的时间点或位置进行断电的不同表现，进而能够更全面地分析待测闪存200的掉电表现。此外，通过设计放电模块500，能够在对待测闪存200进行断电后，对其多余的电源进行快速放电，从而进一步提升掉电测试结果的准确性。

另一方面，本发明实施例还提出了一种电子设备，包括：

存储器，用于存储程序指令；

处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序指令执行上述的闪存掉电测试方法。

需要说明的是，上述方法实施例中的内容均适用于本电子设备实施例中，本电子设备实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。

尽管本文描述了具体实施方案，但是本领域中的普通技术人员将认识到，许多其它修改或另选的实施方案同样处于本公开的范围内。例如，结合特定设备或组件描述的功能和/或处理能力中的任一项可以由任何其它设备或部件来执行。另外，虽然已根据本公开的实施方案描述了各种示例性具体实施和架构，但是本领域中的普通技术人员将认识到，对本文所述的示例性具体实施和架构的许多其它修改也处于本公开的范围内。

上文参考根据示例性实施方案所述的系统、方法、系统和/或计算机程序产品的框图和流程图描述了本公开的某些方面。应当理解，框图和流程图中的一个或多个块以及框图和流程图中的块的组合可分别通过执行计算机可执行程序指令来实现。同样，根据一些实施方案，框图和流程图中的一些块可能无需按示出的顺序执行，或者可以无需全部执行。另外，超出框图和流程图中的块所示的那些部件和/或操作以外的附加部件和/或操作可存在于某些实施方案中。

因此，框图和流程图中的块支持用于执行指定功能的装置的组合、用于执行指定功能的元件或步骤的组合以及用于执行指定功能的程序指令装置。还应当理解，框图和流程图中的每个块以及框图和流程图中的块的组合可以由执行特定功能、元件或步骤的专用硬件计算机系统或者专用硬件和计算机指令的组合来实现。

本文所述的程序模块、应用程序等可包括一个或多个软件组件，包括例如软件对象、方法、数据结构等。每个此类软件组件可包括计算机可执行指令，所述计算机可执行指令响应于执行而使本文所述的功能的至少一部分(例如，本文所述的例示性方法的一种或多种操作)被执行。

软件组件可以用各种编程语言中的任一种来编码。一种例示性编程语言可以为低级编程语言，诸如与特定硬件体系结构和/或操作系统平台相关联的汇编语言。包括汇编语言指令的软件组件可能需要在由硬件架构和/或平台执行之前由汇编程序转换为可执行的机器代码。另一种示例性编程语言可以为更高级的编程语言，其可以跨多种架构移植。包括更高级编程语言的软件组件在执行之前可能需要由解释器或编译器转换为中间表示。编程语言的其它示例包括但不限于宏语言、外壳或命令语言、作业控制语言、脚本语言、数据库查询或搜索语言、或报告编写语言。在一个或多个示例性实施方案中，包含上述编程语言示例中的一者的指令的软件组件可直接由操作系统或其它软件组件执行，而无需首先转换成另一种形式。

软件组件可存储为文件或其它数据存储构造。具有相似类型或相关功能的软件组件可一起存储在诸如特定的目录、文件夹或库中。软件组件可为静态的(例如，预设的或固定的)或动态的(例如，在执行时创建或修改的)。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (9)

1.一种闪存掉电测试方法，基于闪存掉电测试系统，其特征在于，所述闪存掉电测试系统包括控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚，所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电，所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并根据检测结果，控制所述可控电源对所述待测闪存的供电状态；所述获取模块用于获取所述待测闪存的阈值电压分布图；所述闪存掉电测试方法包括以下步骤：

所述控制模块通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态；所述工作状态包括繁忙状态和空闲状态；

当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；

通过所述获取模块获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图；

所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段；

在所述时间段内，选取多个第一时间点；

所述控制模块在每个所述第一时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第一时间点对所述待测闪存进行断电。

2.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，当所述状态引脚为低电平时，所述待测闪存处于繁忙状态；当所述状态引脚为高电平时，所述待测闪存处于空闲状态。

3.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段，以及在所述时间段内所述待测闪存处于不同的预设写入位置所对应的第二时间点；

所述控制模块在每个所述第二时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第二时间点对所述待测闪存进行断电。

4.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，所述闪存掉电测试系统还包括放电模块，所述放电模块包括：

控制开关，所述控制开关的受控端与所述控制模块电连接，所述控制开关的第一端与所述供电引脚电连接；

放电电阻，所述放电电阻的第一端与所述控制开关的第二端电连接，所述放电电阻的第二端接地。

5.根据权利要求4所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，且所述控制模块驱动所述控制开关处于导通状态，使所述待测闪存的供电引脚通过所述放电模块进行放电。

6.一种闪存掉电测试系统，其特征在于，包括：控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚；

所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电；

所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并在检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；

所述获取模块用于获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图；

所述在检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：

确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段；

在所述时间段内，选取多个第一时间点；

所述控制模块在每个所述第一时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第一时间点对所述待测闪存进行断电。

7.根据权利要求6所述的闪存掉电测试系统，其特征在于，所述闪存掉电测试系统还包括：

放电模块，用于在所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电时，对所述待测闪存的供电引脚进行放电。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储程序指令；

处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序指令执行权利要求1-5中任一项所述的闪存掉电测试方法。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行权利要求1-5中任一项所述的闪存掉电测试方法。