CN114496058A - Ssd异常掉电测试方法、装置、存储介质及ssd设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备，该方法包括：建立与测试机的连接关系；当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。本发明将SSD设备直连测试机器配合专用指令，即可通过SSD控制器实现自掉电控制，进而无需依赖外部电源控制装置实现高精细度掉电，以实现更高时间精度的掉电测试，更好地满足测试需求。
Description
技术领域
本发明涉及存储设备测试技术领域，尤其涉及一种SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备。
背景技术
当前主流SSD异常掉电的测试系统主要采用中间电源控制设备的方式对SSD进行异常掉电，如图1所示，SSD与电源控制设备相连，电源控制设备再与测试机器相连。测试机器下发掉电命令给电源控制设备，电源控制设备再对SSD进行电源掉电。
这种通过电源控制设备去操作SSD掉电的方式具有如下缺点：首先，外设装置一对一，成本过高，浪费资源；其次，测试设备通过转接线的方式，使用不太方便，线材容易损坏；最后，SSD的掉电时间受电容电量控制，精度较低，没有完全模拟用户在任意场景下发生异常掉电的可能，不仅需要浪费人力搭建环境，而且效率低且测试不够充分。
综上，现有SSD异常掉电的测试方法，需要自研或者是购买测试环境所需硬件设备，成本高，且掉电场景覆盖面小，外设装置掉电后，本质上SSD自身电容放电时间较为固定，对需要精确的掉电时间的测试场景控制不够精细，测试不够充分，无法满足测试需求，进而增加了产品的整个开发周期。
发明内容
鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备。
本发明的一个方面，提供了一种SSD异常掉电测试方法，所述方法包括：
建立与测试机的连接关系；
当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；
根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
进一步地，所述掉电测试参数还包括数据快照周期；
所述方法还包括：
当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，根据所述数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
进一步地，所述RAM数据包括映射表和/或用户缓存数据；
所述设备使用状态信息包括NAND闪存擦除次数和/或读次数。
进一步地，所述掉电测试参数包括目标掉电设定时间；
所述根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，包括：
将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；
当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
进一步地，所述方法还包括：
获取目标掉电设定时间与目标数据快照时间之间的时间间隔，所述目标数据快照时间是在实现自掉电控制之前距离所述目标掉电设定时间最近的数据快照时间；
根据所述时间间隔确定NAND闪存中待扫描的物理空间，并通过扫描所述物理空间对映射表进行重建，以恢复掉电数据。
本发明的第二方面，提供了一种SSD异常掉电测试装置，所述装置包括：
配置模块，用于建立与测试机的连接关系；
第一控制模块，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；
第二控制模块，用于根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
进一步地，所述掉电测试参数还包括数据快照周期；
所述装置还包括：
数据处理模块，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，根据所述数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
进一步地，所述掉电测试参数包括目标掉电设定时间；
所述第二控制模块，具体用于将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
本发明的另一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上SSD异常掉电测试方法的步骤。
本发明的又一个方面，还提供了一种SSD设备，该设备包括存储控制器，所述存储控制器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上SSD异常掉电测试方法的步骤。
本发明实施例提供的SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备，SSD设备直连测试机器配合专用指令，即可通过SSD控制器实现自掉电控制，进而无需依赖外部电源控制装置实现高精细度掉电，以实现更高时间精度的掉电测试，更好地满足测试需求，缩短产品开发周期以及提高了产品质量。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1现有SSD异常掉电测试系统的结构示意图；
图2本发明实施例提供的SSD异常掉电测试系统的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的SSD异常掉电测试方法的流程图；
图4为本发明实施例提出的快照操作实现示意图；
图5为本发明实施例提供的SSD异常掉电测试装置的结构框图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
图2示意性示出了本发明实施例提供的SSD异常掉电测试系统的结构示意图。参照图2，本实施例中，将SSD控制器端采用GPIO开关控制端口用来做整个板级的开关电源，SSD设备直接连接测试机，试机器发送掉电功能测试指令到SSD控制器，并在掉电功能测试指令中携带目标掉电设定时间，期望等待设定值时间后SSD设备掉电，SSD控制器收到掉电功能测试指令后通过调用内部预设函数首先关闭电容放电通路，然后等到目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。本发明实施例的SSD异常掉电测试系统，SSD设备带有自掉电控制功能，SSD设备能够直连测试机器配合专用指令实现高精细度掉电控制，无需借用外部电源控制装置，降低测试成本。
图3示意性示出了本发明一个实施例的SSD异常掉电测试方法的流程图。参照图1，本发明实施例的SSD异常掉电测试方法具体包括以下步骤：
S11、建立与测试机的连接关系。
本实施例中，首先确定待测试SSD设备，建立SSD设备与测试机器之间的直接连接。其中，SSD控制器端采用GPIO开关控制端口用来做整个板级的开关电源。
S12、当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数。
本实施例中，掉电测试参数可以包括目标掉电设定时间即期望的SSD设备掉电时间，以及数据快照周期等参数。
接收到测试机发送的掉电功能测试指令后，SSD控制器首先关闭内部储能电容的放电电路，不再依赖电容放电时间。
S13、根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
具体的，步骤S13中的根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，通过以下具体步骤实现：将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
本实施例中，将SSD控制器端采用GPIO开关控制端口用来做整个板级的开关电源，等到目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，拉GPIO直接断开供电电源来实现自断电。本发明使用关闭电容放电，通过SSD内部自控机制实现异常掉电这种方式，不仅无需借用外部电源控制装置，节约资源提高效率，同时掉电时间更加精确，覆盖面更广，测试更充分。
本发明实施例提供的SSD异常掉电测试方法，将SSD设备直连测试机器配合专用指令，即可通过SSD控制器实现自掉电控制，进而无需依赖外部电源控制装置实现高精细度掉电，以实现更高时间精度的掉电测试，更好地满足测试需求，缩短产品开发周期以及提高了产品质量。
在本发明实施例中，当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，还能够根据数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
其中，RAM数据包括映射表和/或用户缓存数据；设备使用状态信息包括NAND闪存擦除次数、读次数和/或其他设备使用信息。
进一步地，可通过获取目标掉电设定时间与目标数据快照时间之间的时间间隔，根据所述时间间隔确定NAND闪存中待扫描的物理空间，并通过扫描所述物理空间对映射表进行重建，以恢复掉电数据。
其中，目标数据快照时间是在实现自掉电控制之前距离所述目标掉电设定时间最近的数据快照时间。
图4为本发明实施例提出的快照操作实现示意图。如图4所示，在做完快照C后，做下一个快照D之前，在X处发生了异常掉电，从快照C处到X处新产生的映射关系丢失，这里不再依赖电容放电时间，而是取决于设置的SSD自掉电时间，可测性大大增强，可以模拟各种场景来验证产品的健壮性。
对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
图5示意性示出了本发明一个实施例的SSD异常掉电测试装置的结构示意图。参照图5，本发明实施例的SSD异常掉电测试装置具体包括配置模块201、第一控制模块202以及第二控制模块203，其中：
配置模块201，用于建立与测试机的连接关系；
第一控制模块202，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；
第二控制模块203，用于根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
本发明实施例中，所述掉电测试参数还包括数据快照周期。
进一步地，所述装置还包括附图中未示出的数据处理模块，该数据处理模块，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，根据所述数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
其中，RAM数据包括映射表、用户缓存数据；设备使用状态信息包括NAND闪存擦除次数、读次数、其他使用状态信息。
本发明实施例中，所述掉电测试参数包括目标掉电设定时间。
进一步地，所述第二控制模块203，具体用于将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
本发明实施例中，所述装置还包括附图中未示出的获取模块和数据恢复模块，其中：
获取模块，用于获取目标掉电设定时间与目标数据快照时间之间的时间间隔，所述目标数据快照时间是在实现自掉电控制之前距离所述目标掉电设定时间最近的数据快照时间；
数据恢复模块，用于根据所述时间间隔确定NAND闪存中待扫描的物理空间，并通过扫描所述物理空间对映射表进行重建，以恢复掉电数据。
对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
此外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述方法的步骤。
本实施例中，所述SSD异常掉电测试装置集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
此外，本发明实施例还提供了一种SSD设备，该设备包括存储控制器，所述存储控制器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上所述方法的步骤。例如图3所示的步骤S11～S13。或者，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述SSD异常掉电测试装置实施例中各模块/单元的功能，例如图5所示的配置模块201、第一控制模块202以及第二控制模块203。
本发明实施例提供的SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备，将SSD设备直连测试机器配合专用指令，即可通过SSD控制器实现自掉电控制，进而无需依赖外部电源控制装置实现高精细度掉电，以实现更高时间精度的掉电测试，更好地满足测试需求，缩短产品开发周期以及提高了产品质量。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种SSD异常掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
建立与测试机的连接关系；
当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；
根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述掉电测试参数还包括数据快照周期；
所述方法还包括：
当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，根据所述数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述RAM数据包括映射表和/或用户缓存数据；
所述设备使用状态信息包括NAND闪存擦除次数和/或读次数。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述掉电测试参数包括目标掉电设定时间；
所述根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，包括：
将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；
当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取目标掉电设定时间与目标数据快照时间之间的时间间隔，所述目标数据快照时间是在实现自掉电控制之前距离所述目标掉电设定时间最近的数据快照时间；
根据所述时间间隔确定NAND闪存中待扫描的物理空间，并通过扫描所述物理空间对映射表进行重建，以恢复掉电数据。
6.一种SSD异常掉电测试装置，其特征在于，所述装置包括：
配置模块，用于建立与测试机的连接关系；
第一控制模块，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；
第二控制模块，用于根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述掉电测试参数还包括数据快照周期；
所述装置还包括：
数据处理模块，用于当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，根据所述数据快照周期定期进行数据快照，以将当前设备的RAM数据和设备使用状态信息写到NAND闪存中。
8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述掉电测试参数包括目标掉电设定时间；
所述第二控制模块，具体用于将所述掉电功能测试指令的接收时间为起始计时时间进行计时；当计时时间到达所述目标掉电设定时间时，调用预设的GPIO操作函数对供电电源的GPIO开关控制端口进行设置，以实现自掉电控制。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述方法的步骤。
10.一种SSD设备，其特征在于，包括存储控制器，所述存储控制器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-5任一项所述方法的步骤。
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| CN116994635B (zh) * | 2023-06-28 | 2024-04-09 | 珠海妙存科技有限公司 | 闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质 |
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| PB01 | Publication | ||
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