CN117637013A - 电源控制装置与电源测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种电源控制装置与电源测试系统。该电源测试系统包括存储器和处理器，处理器用于执行如下步骤：获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；根据至少一种供电路径方式确定至少一种供电路径接口；根据至少一种供电路径接口确定至少一个电子开关；确定待测试的至少一个目标设备；根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；根据供电路径建立参数，从至少一种供电路径接口和至少一个电子开关中，建立目标设备对应的目标供电路径；在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作。该电源测试系统能够显著提高存储设备的掉电测试效率。

Description

电源控制装置与电源测试系统

技术领域

本申请涉及存储设备测试的技术领域，尤其涉及一种电源控制装置与电源测试系统。

背景技术

大部分的存储设备在开发阶段都会进行掉电测试，以确保存储设备在用户端的使用过程中具备足够的稳定性。然而，实际场景中针对不同类型的存储设备的供电方式可能不同。当需要对不同类型的存储设备进行掉电测试时，需要额外采用不同规格的供电设备、连接线及接口电路，以满足不同类型的存储设备的供电需求。但是，这样的测试环境不利于针对数量较多且类型可能各不相同的存储设备进行大规模测试，其掉电测试效率较低。

发明内容

本申请提供一种电源控制装置与电源测试系统，用以解决目前存储设备掉电测试效率较低的问题。

第一方面，本申请的提供一种电源测试系统，所述系统包括存储器和处理器，所述处理器执行的指令存储在所述存储器中，所述处理器用于执行如下步骤：

获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；

根据至少一种所述供电路径方式确定至少一种供电路径接口；

根据至少一种所述供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，所述电子开关用于控制电能的变化；

确定待测试的至少一个目标设备；

根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条所述掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；

根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径；

在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，以对所述目标设备进行掉电测试。

进一步地，所述根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，还包括所述处理器执行如下步骤：

获取至少一个所述目标设备的设备信息；

将所述设备信息和掉电测试表进行匹配，得到至少一条所述掉电测试指令，其中，所述掉电测试表中存储有所述设备信息和至少一条所述掉电测试指令之间的映射关系；

其中，所述掉电测试表为预先建立的，在根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

确定不同的所述掉电测试设备的所述设备信息；

根据所述设备信息确定对应的所述掉电测试设备的所述供电路径方式和掉电触发方式；

根据所述供电路径方式确定供电路径生成指令集，其中，所述供电路径生成指令集与所述供电路径建立参数具有映射关系；

根据所述掉电触发方式确定掉电时机触发指令集，其中，所述掉电时机触发指令集与所述掉电执行参数具有映射关系；

根据所述设备信息、所述供电路径建立参数和所述掉电执行参数生成所述掉电测试表，以根据所述掉电测试表执行对应的所述供电路径生成指令集和所述掉电时机触发指令集。

本申请中，提出了一种新的基于统一体系化掉电测试的思路，测试用户仅需将待测试的目标设备接入到电源测试系统中，电源测试系统便可相应地建立出该目标设备所需的测试环境以及掉电测试操作，能够支持对多种不同目标设备的掉电测试。具体地，本申请可基于供电路径方式、掉电触发方式建立出与目标设备具有映射关系的掉电测试表，通过该掉电测试表快速、准确地生成与掉电测试相关的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集，并基于这些指令集实现完备的掉电测试。

进一步地，所述根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述供电路径建立参数确定所述目标设备的掉电测试路径和电压控制范围；

根据所述掉电测试路径，从至少一种所述供电路径接口中选择满足所述掉电测试路径的所述供电路径接口作为第一路径点；

根据所述掉电测试路径，从至少一种所述电子开关中选择满足所述电压控制范围的所述电子开关作为第二路径点；

建立所述第一路径点到所述第二路径点的通路关系，得到所述目标供电路径。

本申请中，提供了一种目标供电路径的建立方式，通过对供电路径接口、电子开关进行拆解，可以从中灵活变换、切换至掉电测试所需的各种形态，能够快速建立目标设备的目标供电路径，显著提高对不同目标设备进行掉电测试的测试效率。

进一步地，所述在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，还包括所述处理器执行如下步骤：

当所述目标设备通过所述目标供电路径进行掉电测试时，根据所述掉电执行参数生成事件观测指令，其中，所述事件观测指令应用于掉电测试的期间；

根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件；

根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息；

采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，并根据所述掉电触发时机生成掉电时机触发指令，以在预设时间周期后采用所述掉电时机触发指令执行所述掉电操作。

本申请中，采用事件观测指令实现对电路状态的全时机掌握。电源测试系统能够在测试过程中通过事件观测确定当前目标设备所属的掉电测试事件，并通过获取至少一个掉电特征信息准确推算出掉电时机，能够让掉电测试安排在最佳的测试时机，实现目标设备的掉电测试时机可控。

进一步地，所述根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述事件观测指令获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值；

当所述掉电测试计数为0时，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为起始掉电测试事件，并在每次确认有新的所述掉电测试事件期间，设置所述掉电测试事件的计数值加1，此处，在所述起始掉电测试事件结束后，所述掉电测试事件的计数值置为1；

当所述掉电测试计数不为0，且本次的所述单次掉电测试时钟值和上一次的所述单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为新的所述掉电测试事件，所述掉电测试事件的计数值加1；

在每次进行掉电测试时，根据所述掉电测试事件的计数值，确定当前所述目标设备所属的所述掉电测试事件，以执行对应的掉电操作。

本申请中，通过掉电测试计数和单次掉电测试时钟值两个层面反映出目标供电路径的运作状况，可准确地获知当前目标设备所属的所述掉电测试事件，从而针对该掉电测试事件执行合适的掉电操作。

进一步地，所述根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述掉电测试事件查询对应的掉电测试特征表，所述掉电测试特征表存储有掉电测试事件编号和掉电特征信息编号的编号映射关系；

将所述掉电测试事件转换为对应的所述掉电测试事件编号，根据所述编号映射关系和所述掉电测试事件编号确定所述掉电特征信息编号；

根据所述掉电特征信息编号获取所述掉电测试事件对应的所述掉电特征信息。

本申请中，通过将掉电测试事件和掉电特征信息编号化实现两维度的精简关联，电源测试系统可以根据掉电测试事件快速获取到与之相对应的至少一个掉电特征信息，以利用该掉电特征信息提高对掉电触发时机的把控度。

进一步地，所述采用所述至少一个掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，还包括所述处理器执行如下步骤：

从至少一个所述掉电特征信息获取每一类型的所述掉电特征信息对应的掉电特征数值；

根据所述掉电特征数值确定掉电特征区间值；

获取所述掉电特征区间值和对应的所述掉电特征数值的差值，其中，所述差值与时钟周期具有倍数关系；

获取所述掉电特征区间值对应的单倍换算表，根据所述单倍换算表换算所述掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间；

获取所述掉电特征区间值对应的发生时间，根据所述掉电特征区间值对应的所述发生时间和所述掉电特征数值的差值所预测花费的所述目标时间确定所述掉电测试的掉电触发时机。

本申请中，采用单倍换算表的方式可换算得到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差距的时间，从而在没办法对每种掉电特征数值对应的掉电触发时机做映射关系的前提下，仍能准确地预测掉电触发时机。

进一步地，在所述采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

建立所述掉电特征区间值和掉电特征区间的映射关系，其中，所述掉电特征区间为一个或多个，每个所述掉电特征区间对应一所述掉电特征区间值；

根据所述掉电特征区间值确定对应的掉电测试发生时间；

在每个所述掉电特征区间上，以对应的所述掉电特征区间值为参照，计算单倍时钟周期对应的换算值，并存储在所述单倍换算表中，以在确定所述掉电测试的掉电触发时机，采用所述单倍换算表进行预测。

本申请中，提供了一种建立单倍换算表的具体实现方式，利用数值差值换算时间的方式，能够进一步提高掉电触发时机预测的准确度。

进一步地，所述处理器还包括执行如下步骤：

获取新增添的所述掉电测试设备；

根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述供电路径方式；

若需增加新的所述供电路径方式，在所述电源测试系统中添加所述供电路径方式对应的所述供电路径接口；

根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述电子开关；

若需增加新的所述电子开关，在所述电源测试系统中添加所述电子开关。

本申请中，可支持在原构建好的掉电测试体系下支持对新的掉电测试设备的加入，具有较高的包容性及扩展性，且也便于实现。

第二方面，本申请的提供一种电源控制装置，包括如上述第一方面所述的电源测试系统和待测试的至少一个目标设备。

本申请中，提供了一种用以实现掉电测试的电源测试系统，该电源测试系统以掉电测试设备的供电路径方式为基础，将供电路径接口和电子开关集成在系统重，并通过供电路径接口和电子开关，能够根据待测试的目标设备和实际测试场景搭建对应的目标供电路径。其中，该目标路径搭建过程通过系统重专用的控制器实现逻辑上的对接及搭建。并且，控制器还可以根据掉电测试需求，在目标供电路径是上通过掉电执行参数执行用户期望的掉电操作，从而实现对目标设备快速、精准、全面、灵活的掉电测试。本申请中通过该电源测试系统，可以解决原本测试步骤繁多，测试环境搭建困难等问题，能够在一系统中实现对不同存储设备的不同掉电测试，且支持测试用户在测试过程中对不同掉电测试场景的切换，能够显著提高存储设备的掉电测试效率。

附图说明

图1是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试方法的流程示意图；

图2是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的一原理框图；

图3是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的另一原理框图；

图4是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的又一原理框图；

图5是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的又一原理框图。

具体实施方式

现将详细地参考本申请的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。

在半导体存储领域中，为了存储设备功能完备性的考量，需要在存储设备开发阶段便对存储设备进行电源测试的相关验证，其中，主要包括对存储设备的掉电测试。存储设备的掉电，描述的是存储设备因断电、失电、或电的质量达不到要求而不能正常工作的情况，对于如Nand Flash等存储介质来说，其载体存储设备出现的掉电现象会直接影响存储数据的表现，该掉电测试对于存储设备具有重要意义。然而，在实际应用中，对于同一种存储设备的甚至都存在多种不同的掉电测试方式，对于不同种的存储设备的掉电测试更是实现起来相当复杂。

本申请中，将鉴于该存储设备在掉电测试中遇到的困难提出一种新的解决方法。具体地，如图1所示，图1是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试方法的流程示意图。其中，该电源测试方法可在电源测试系统中执行并实现，电源测试系统根据存储器中存储的指令，通过电源测试系统中的一个或多个处理器执行如下步骤：

S10：获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式。

在一实施例中，本申请以Nand Flash存储介质为例对存储设备的掉电测试进行讲述。首先，本申请中将对采用Nand Flash为存储介质的存储设备进行记录，例如不同型号的SSD（Solid State Disk，固态硬盘），U盘等相关存储设备。然后，可将这些存储设备按照具体的存储体实现方式进行分类，例如SSD的分为一组，U盘的分为一组，并且，再进一步地，将同一组的存储设备按照型号等再进行分类，从而确定出待测试的存储设备，也即掉电测试设备。

可以理解地，在实际应用中，面对这么多种的掉电测试设备，想要做到快速、全面且准确的掉电测试是非常困难的，测试者经常需要重新建立不同的测试路径，以应对多个掉电测试设备情况下的掉电测试。该种方式复杂且容易出错，在掉电测试效率上更是非常低效。

本申请中，首先获取掉电测试设备所具有的供电路径方式，以从供电路径方式为出发点对掉电测试设备进行统一的管理和调配。可以理解地，例如对于U盘，其供电路径方式可以包括有电源输入、USB（Universal Serial Bus，通用串行总线）输入等，其中USB输入的供电路径方式中又可以包括仅实现充电功能的输入方式，以及同时包括实现充电功能和数据传输功能的另一种输入方式。对于SSD，和U盘类似，除了以上的供电路径方式之外，还包括不同的协议接口所对应的供电路径方式。本申请中，对于如此繁多且复杂的供电路径方式，将掉电测试设备所具有的供电路径方式进行归纳，以基于该供电路径方式对不同的存储设备实现快速、准确的掉电测试。

S20：根据至少一种供电路径方式确定至少一种供电路径接口。

在一实施例中，本申请中将这些供电路径方式都集成在不同的供电路径接口上实现，一种或多种的供电路径方式可以对应一供电路径接口，例如，电源输入的供电路径方式对应的电源输入接口，采用USB输入的供电路径方式可以采用如集线器集成在一USB输入接口中，USB的供电路径方式中的仅用于充电和同时可用于充电和数据传输的这两种输入方式也可同一集成在USB输入接口中，这样，可以有效地减少供电路径接口的数量，并利于掉电测试供电路径接口的集成化。

在一实施例中，本申请采用有限个数的供电路径接口为不同掉电测试设备进行掉电测试提供了建立测试路径的前提，基于该供电路径的体系之下，在进行掉电测试时，电源测试系统总能够找到合适的供电路径接口，并支持快速建立出对应的测试路径，该确定至少一种供电路径接口是实现电源测试系统，对不同存储设备实现统一掉电测试调配管理的重要技术实现基础。

S30：根据至少一种供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，电子开关用于控制电能的变化。

在一实施例中，电子开关的表现形式可以有多种。该电子开关具体可以是指MOSFET（Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，金属-氧化物半导体场效应晶体管），还可以是信号继电器等电子器件。其中，该电子开关的作用是实现对输入电能的变化控制，可将输入的电能采用某种变化处理后输出，例如，对于电压值的升压、降压等的变化控制。其中，对于以供电功能为主的供电路径接口，可具体设置对应的MOSFET，以通过MOSFET对输入的电压值进行控制，实现掉电功能的控制效果；而对于以通信为主的供电路径接口，可具体设置对应的信号继电器，以保证信号不失真。

在一实施例中，一个供电路径接口可以对应一个电子开关，多个供电路径接口可以对应一个或多个电子开关。其中，可实现的一种方式是，对每一个供电路径接口都设置配备有一对应的电子开关，该电子开关专门用于对与其配备的供电路径接口进行电能转换控制，以实现各种掉电功能测试。

进一步地，本申请中还可以采用一电子开关对应多个供电路径接口的方式，此时，需要对控制器（MCU，Micro controller Unit）进行相应的设置。具体地，掉电测试在多个不同供电路径接口切换时，可采用同一电子开关在不同时间段和不同的供电路径接口进行关联，并且，根据关联的具体供电路径接口，控制器可对电子开关下发对应的电能变化控制指令，以使得电子开关能够在当前的场景下准确地对存储设备进行掉电测试。可以理解地，如果采用一电子开关对应多个不同供电路径接口的方式，该电子开关还需配置有能够同时满足多种不同电能变化控制方案的电路配置条件，而对于一电子开关对应一个供电路径接口的方式，则电子开关的电路配置条件可以降低。进一步地，对于一电子开关对应一个供电路径接口的方式中，每一个供电路径接口可以选择从多个电子开关中选择一电子开关建立关联，也即是说，一电子开关和一供电路径接口不再是唯一的绑定关系，电子开关和供电路径接口之间是可以灵活变动的。对于该种设计，在本申请中可实现多掉电测试设备的同步测试，即使采用同一供电路径接口进行掉电测试，也可以通过关联多个不同的电子开关实现多掉电测试设备的同步测试，能够高效利用空闲的电子开关，显著提高掉电测试效率。

S40：确定待测试的至少一个目标设备。

在一实施例中，在正式测试阶段，将从潜在的可能用于测试的存储设备中选取实际用于掉电测试的一个或多个目标设备。需要说明的是，该目标设备一般可设置为同一组别的存储设备，例如，SSD的分为一组进行测试，U盘的分为另一组进行测试，当然，本申请中的方案是可支持两种类别的存储设备通过进行掉电测试，在此并不对具体的测试对象进行限制。

S50：根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数。

需要说明的是，本申请建立的电源测试系统是一种智能的集成型测试系统。该电源测试系统中包括执行掉电测试逻辑的控制器，以及该控制器还集成有其他的功能，用以在该电源测试系统中实现对内部及外部的统一调度、控制功能，其中，控制器中包括有存储器和处理器。电源测试系统的其他模块也包括有相应的存储器和处理器，从而使得存储器和处理器内的各模块实现智能交互。

在一实施例中，当目标设备接入到电源测试系统进行掉电测试时，将和控制器进行通信，并通过该控制器实现对该目标设备的掉电测试。具体地，目标设备在接入电源测试系统后，控制器将根据目标设备生成相对应的一条或多条掉电测试指令，以根据掉电测试指令实现该目标设备的掉电测试。其中，需要说明的是，该掉电测试指令并不是随意生成的，该掉电测试指令的生成以及生成的内容与具体接入到电源测试系统的目标设备相关，不同的目标设备对应生成的一般是不同的掉电测试指令，以区分实现对不同目标设备的不同掉电测试功能。

进一步地，掉电测试指令中具体包括供电路径建立参数和掉电执行参数。其中，供电路径建立参数是指用于根据目标设备在电源测试系统中建立相关的供电路径的参数；掉电执行参数是指用于根据目标设备在电源测试系统中对电子开关执行的电能变化控制操作的参数，以通过该掉电执行参数实现不同的掉电测试功能。

在一实施例中，本申请中将目标设备作为电源测试系统中外接的设备，构建了一个内部统一协调，仅通过外部接入的目标设备进行统一掉电测试的系统。

S60：根据供电路径建立参数从至少一种供电路径接口和至少一种电子开关中建立目标设备对应的目标供电路径。

在一实施例中，当接入目标设备后，在电源测试系统内部将根据目标设备搭建用于该目标设备掉电测试的桥梁，该桥梁也即目标供电路径。具体地，电源测试系统具体可通过控制器发出的供电路径建立参数确定搭建桥梁的对象及方式。具体地，可根据供电路径建立参数确定用于搭建桥梁的一个或多个供电路径接口，并选择能够满足目标设备掉电测试需求的一个或多个电子开关后，可建立得到目标设备对应的目标供电路径。这样，目标设备可以通过该目标供电路径正常进行运行，并在运行期间进行特定的掉电功能测试，从而实现对不同目标设备的统一、精准和快速的掉电测试。

S70：在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作，以对目标设备进行掉电测试。

在一实施例中，在接入目标设备并建立得到目标供电路径后，为了实现目标设备不同的掉电测试功能，例如，完全停电、电压从较高值下降到较低值，功率输出限制在阈值范围外等测试场景，可通过掉电执行参数确定所要执行的掉电操作，从而能够让目标设备实现测试者所期望的掉电功能测试。

本申请实施例中，提供了一种用以实现掉电测试的电源测试系统，该电源测试系统以掉电测试设备的供电路径方式为基础，将供电路径接口和电子开关集成在系统重，并通过供电路径接口和电子开关，能够根据待测试的目标设备和实际测试场景搭建对应的目标供电路径。其中，该目标路径搭建过程通过系统重专用的控制器实现逻辑上的对接及搭建。并且，控制器还可以根据掉电测试需求，在目标供电路径是上通过掉电执行参数执行用户期望的掉电操作，从而实现对目标设备快速、精准、全面、灵活的掉电测试。本申请中通过该电源测试系统，可以解决原本测试步骤繁多，测试环境搭建困难等问题，能够在一系统中实现对不同存储设备的不同掉电测试，且支持测试用户在测试过程中对不同掉电测试场景的切换，能够显著提高存储设备的掉电测试效率。

图2是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的一原理框图。如图2所示，该电源测试系统中具体可包括供电路径接口1-n的多个接口、控制器21、电能转换模块22、重启模块23和输出模块24。其中，该多种供电路径接口1-n和电能转换模块22可用于建立目标供电路径，构建目标设备掉电测试所需的测试环境/通道。该控制器21可用接收上位机的指令以及生成多种不同功能的指令，以通过该控制器21实现对目标设备精准的掉电测试目的。其中，重启模块23是在掉电测试过程实现掉电后电源重启功能的模块，可以在目标设备掉电后重启恢复到最初的状态；输出模块24中可包括多个输出口，输出口可与一个或多个目标设备连接，从而实现对不同存储设备的掉电测试。其中，需要说明的是，这些电源测试系统中的组成模块中可设置有对应的存储器和处理器，以通过存储器存储指令，实现不同模块之间的通信交互以及使能实现特定功能，处理器可根据存储器中存储的指令实现上述关于掉电测试的电源测试步骤。

图3是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的另一原理框图。如图3所示，图3和图2的主要区别在于，电能转换模块22中具体可包括多个电子开关31，以及输出模块24包括输出口1-n等多个输出口；此外图3的电源测试系统中供电路径和电子开关31一一对应；此外电子开关31和输出口1-n也可设置为一一对应。采用如图3的方式可便于供电路径接口的管理，在掉电测试时系统无需判断如何选择供电路径接口和电子开关，只需根据唯一的映射关系建立起目标供电路径即可。

进一步地，在图3的基础上，也可以不将电子开关31和输出口1-n设置为一一对应。这种情况在建立目标供电路径时，电源测试系统将根据供电路径接口1-n选择出合适的电子开关31。该种方式在实现上成本是比较低的，且系统灵活性、可维护性也比较高，能够对出现故障的电子元件进行替换。

图4是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的又一原理框图。如图4所示，图4和图2的主要区别在于，电能转换模块22中具体仅设置有一个电子开关41，以及输出模块24包括输出口1-n等多个输出口。该种方式对电子开关41具备的控制电能变化的能力要求较高，但同时，任一供电路径接口都可以通过该电子开关41建立测试所需的目标供电路径。

进一步地，在图4基础上还可以设置多个具备如图4中具备控制电能变化能力较强的电子开关41，这样，可实现同时建立多条目标供电路径，做到对多个目标设备在同一时段内的掉电测试。并且，该方式在掉电测试时系统同样无需判断如何选择供电路径接口1-n和电子开关41。

图5是根据本申请的实施例所示出的一种电源测试系统的又一原理框图。如图5所示，图5和图2的主要区别在于，图5的多个供电路径接口1-n可以支持集合封装，如图示中的集合型供电路径接口1；例如可将U盘的实现供电功能的接口和实现供电和通信的接口采用集线器集成起来，能够简化系统的供电路径接口的复杂度。

进一步地，在步骤S50中，即根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令的步骤，具体包括如下步骤：

S516：获取至少一个目标设备的设备信息。

在一实施例中，不同目标设备对于测试用户而言，有着不同的掉电测试需求，即使是同一存储设备，也包括如设备用电耗尽，电源突然切断以及一些特殊场景出现掉电情况的掉电测试场景。对于此，本申请中对每个目标设备进行区分，具体可通过设备信息进行区分。其中，设备信息具体可以是设备的设备编号或者设备ID等能直接区分不同存储设备的信息，在此并不对设备信息的具体表现形式进行限定。

S517：将设备信息和掉电测试表进行匹配，得到至少一条掉电测试指令，其中，掉电测试表中存储有设备信息和至少一条掉电测试指令之间的映射关系。

在一实施例中，目标设备的内存中可存储有掉电测试表，该掉电测试表是基于不同目标设备的不同掉电测试需求所设置的，以使得电源测试系统在接入不同的目标设备时，能够针对不同目标设备做出测试用户期望的掉电测试操作，从而达到精准的掉电测试效果。具体地，目标设备接入电源测试系统后，电源测试系统可通过设备信息识别出目前有掉电测试需求的存储设备。电源测试系统将会把设备信息和掉电测试表进行匹配，根据设备信息和掉电测试表所对应的映射关系，在掉电测试表中查找得到与目标设备对应的至少一条掉电测试指令，控制器将采用该至少一条掉电测试指令实现对目标设备的掉电测试。

进一步地，该掉电测试表是可以进行扩容及管理的，在后续有新增的目标设备时，可以在掉电测试表中添加新的映射关系，这样，即使以后有新的其他类型的目标设备的掉电测试需求，电源测试系统也可以快速、简便地满足新的掉电测试需求。

其中，掉电测试表具体可以是在掉电测试之间便预先建立的，在步骤S50中，即根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令之前，还包括如下步骤：

S511：确定不同的掉电测试设备的设备信息。

在一实施例中，可以将测试用户有需求进行掉电测试的存储设备的设备信息进行记录，利用设备信息区分不同的掉电测试设备。

S512：根据设备信息确定对应的掉电测试设备的供电路径方式和掉电触发方式。

在一实施例中，掉电测试设备的供电路径方式有多种，即使是同一掉电测试设备也存在多个供电路径方式。本申请中利用设备信息将掉电测试设备的供电路径方式进行绑定，使得电源测试系统在接入目标设备后便可知晓该目标设备对应的多种供电路径方式，以及不同供电路径方式上测试用户的测试需求所对应的掉电触发方式，从而搭建出目标设备精准对应的测试通道，实现精准的掉电测试。

S513：根据供电路径方式确定供电路径生成指令集，其中，供电路径生成指令集与供电路径建立参数具有映射关系。

在一实施例中，本申请还可支持自动生成指令集。例如，在确定目标设备的供电路径方式后，随即生成与供电路径方式对应的供电路径生成指令集。该供电路径生成指令集中包括生成指定供电路径方式相关的多条指令，电源测试系统可利用该供电路径生成指令集自动搭建出目标设备所相关的测试通道，能够快速建立、满足目标设备的测试环境搭建需求。其中，该供电路径生成指令集具体可设置为与供电路径建立参数具有映射关系，以通过识别供电路径建立参数快速搭建可用的测试通道。

S514：根据掉电触发方式确定掉电时机触发指令集，其中，掉电时机触发指令集与掉电执行参数具有映射关系。

在一实施例中，在确定目标设备的掉电触发方式后，随即生成与掉电触发方式对应的掉电时机触发指令集。该掉电时机触发指令集中包括生成掉电操作相关的多条指令，电源测试系统可利用该掉电时机触发指令集自动确定并执行接下来对目标设备所要进行的多种掉电测试操作，从而实现对目标设备的快速、精准掉电测试目的。

S515：根据设备信息、供电路径建立参数和掉电执行参数生成掉电测试表，以根据掉电测试表执行对应的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集。

在一实施例中，本申请基于设备信息区分不同目标设备的层面，结合利用供电路径建立参数和掉电执行参数生成了掉电测试表，使得电源测试系统在测试阶段，可利用该掉电测试表快速且准确地确定接入的目标设备所需搭建的测试通道和测试所需的掉电测试操作，从而高效且可靠地实现对不同目标设备的统一掉电测试管理。

在步骤S511-S517中，提出了一种新的基于统一体系化掉电测试的思路，测试用户仅需将待测试的目标设备接入到电源测试系统中，电源测试系统便可相应地建立出该目标设备所需的测试环境以及掉电测试操作，能够支持对多种不同目标设备的掉电测试。具体地，本申请可基于供电路径方式、掉电触发方式建立出与目标设备具有映射关系的掉电测试表，通过该掉电测试表快速、准确地生成与掉电测试相关的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集，并基于这些指令集实现完备的掉电测试。

进一步地，在步骤S60中，即根据供电路径建立参数，从至少一种供电路径接口和至少一个电子开关中，建立目标设备对应的目标供电路径的步骤中，具体包括如下步骤：

S61：根据供电路径建立参数确定目标设备的掉电测试路径和电压控制范围。

在一实施例中，电源测试系统可根据生成的供电路径建立参数，查找得到与该供电路径建立参数对应的一个或多个掉电测试路径，也即，可确定出目标设备在掉电测试过程中可能采用的供电路径方式；此外，还可以根据供电路径建立参数查找得到电压控制范围。该电压控制范围具体反映的是对电子开关在掉电测试时的电压操作变化需求，不同的电子开关可能具备有不同的电压控制范围区间，因此，可根据电压控制范围从电子开关中寻找到合适的可用于当前目标设备掉电测试需求的电压控制部件。本申请中，通过供电路径建立参数可支持从供电路径接口和电子开关中找到合适的目标对象。

S62：根据掉电测试路径，从至少一种供电路径接口中选择满足掉电测试路径的供电路径接口作为第一路径点。

在一实施例中，电源测试系统具有多个供电路径接口，本申请可利用掉电测试路径在电源测试系统的多个供电路径接口中找到可用于建立目标供电路径的接口，并将这些供电路径接口作为第一路径点。其中，当电源测试系统中的供电路径接口是目标设备包含的常用接口时，即满足选入条件。

可以理解地，目标供电路径可以有多条，每一条目标供电路径的起点即为第一路径点。在掉电测试时，可以单独对一条目标供电路径进行掉电测试，也可以支持对多条目标供电路径同时进行掉电测试，可显著地提高掉电测试的灵活性。

S63：根据掉电测试路径，从至少一种电子开关中选择满足电压控制范围的电子开关作为第二路径点。

在一实施例中，当电压控制范围能够满足目标设备各掉电测试的需求时，则满足选入条件，选入的电子开关作为掉电测试路径的第二路径点，作为目标供电路径中实现电能变化控制的关键节点。

S64：建立第一路径点到第二路径点的通路关系，得到目标供电路径。

在一实施例中，根据不同的掉电测试需求，相应地可以将第一路径点和第二路径点打通，使得第一路径点和第二路径在连接后既能满足目标设备的供电路径接口的要求，也能够满足支持对目标设备进行掉电测试时所需的电能变化控制条件，得到目标供电路径。该目标供电路径是目标设备进行掉电测试时电能所经过的路径，能够实现对目标设备的针对性掉电测试。

在步骤S61-S64中，提供了一种目标供电路径的建立方式，通过对供电路径接口、电子开关进行拆解，可以从中灵活变换、切换至掉电测试所需的各种形态，能够快速建立目标设备的目标供电路径，显著提高对不同目标设备进行掉电测试的测试效率。

进一步地，在步骤S70中，即在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作的步骤中，还包括如下具体步骤：

S71：当目标设备通过目标供电路径进行掉电测试时，根据掉电执行参数生成事件观测指令，其中，事件观测指令应用于掉电测试的期间。

可以理解地，如何在掉电测试过程中有序准确地对目标设备进行不同的掉电功能测试是非常困难的，本申请将通过在对掉电测试过程引入的事件观测实现掉电测试的准确性和有序性。

在一实施例中，电源测试系统将在目标设备进行掉电测试时，根据掉电执行参数生成事件观测指令。该事件观测指令是全程对掉电测试过程进行监控的，通过对掉电测试过程中目标设备所处的不同状态中判断出目标设备接下来应当做的掉电测试操作，从而使得目标设备能够有序准确地执行用户期望的各种掉电功能测试。

S72：根据事件观测指令确定当前目标设备所属的掉电测试事件。

在一实施例中，掉电测试过程中目标设备包含不同状态（状态可通过设置一些参数进行区分）对应的是不同的掉电测试事件，该掉电测试事件反映的是当前或接下来目标设备应进行的掉电功能测试，例如，接下来的掉电功能测试是模拟目标设备电能耗尽后的测试，或者，接下来的掉电功能测试是模拟目标设备突然遭遇断电情况的测试，或者，接下来的掉电功能测试是模拟目标设备电压从较高值骤降到较低值导致电压不稳，电能供应不足的情况的掉电测试。本申请中，可通过事件观测指令得到当前目标设备所属的掉电测试事件，从而根据对掉电测试做出更多的精确性控制，提高掉电测试的时效性及准确性。

S73：根据掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息。

其中，掉电特征信息反映的是与掉电性质相关的信息，即可以理解为，可通过一些掉电特征信息来描述掉电功能测试时测试电路的电路状态，例如测试电路是否即将出现掉电的情况。在一实施例中，掉电特征信息具体可以是电压值，电压变化率（电压在一预设时间内变化的幅度），温度等，这些掉电特征信息对于某些掉电功能测试的掉电预测是有一定意义的，本申请将利用这些掉电特征信息实现掉电测试过程的精准控制。

S74：采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机，并根据掉电触发时机生成掉电时机触发指令，以在预设时间周期后采用掉电时机触发指令执行掉电操作。

在一实施例中，本申请可通过多个掉电特征信息提前预测或推算出目标供电路径上的掉电时机，即在特定时间点可通过控制器对电子开关发出指令控制电能的变化，从而实现可控的掉电测试目的。其中，具体可通过生成掉电时机触发指令的方式，在经过预设时间周期后执行该生成掉电时机触发指令，从而能够准确地在需要进行掉电测试的时机执行对应的掉电操作，能够提高目标设备掉电测试的准确度和高适配度，实现掉电测试时机可控的掉电功能测试目的。

步骤S71-S74中，采用事件观测指令实现对电路状态的全时机掌握。电源测试系统能够在测试过程中通过事件观测确定当前目标设备所属的掉电测试事件，并通过获取至少一个掉电特征信息准确推算出掉电时机，能够让掉电测试安排在最佳的测试时机，实现目标设备的掉电测试时机可控。

进一步地，在步骤S72中，即根据事件观测指令确定当前目标设备所属的掉电测试事件的步骤中，具体包括如下步骤：

S721：根据事件观测指令获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值。

在一实施例中，本申请中具体将事件观测指令设置为从计数情况和时钟情况综合判定当前目标供电路径所处的状态。具体地，事件观测指令可获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值。掉电测试计数是用于对已进行的掉电测试的计数统计。单次掉电测试时钟值是指每轮掉电测试时所消耗的总时间，其中，目标供电路径在执行掉电时机触发指令后，若在间隔一段预设时间间隔后，没有检测到掉电行为，则基于该间隔后的时间点记录本次的单次掉电测试时钟值。

S722：当掉电测试计数为0时，则确定当前目标设备所属的掉电测试事件为起始掉电测试事件，并在每次确认有新的掉电测试事件期间，设置掉电测试事件的计数值加1，此处，在起始掉电测试事件结束后，掉电测试事件的计数值置为1。

在一实施例中，本申请设置有一个起始掉电测试事件，也即默认的第一次测试时所采用的掉电功能测试，然后，将基于该起始掉电测试事件，通过计数值累计的方式实现对不同掉电测试事件的转换表示。需要说明的是，如果没有该设置的起始掉电测试事件，则掉电测试的自动化是跑不起来的，该起始掉电测试事件可看作是一个推动点。

S723：当掉电测试计数不为0，且本次的单次掉电测试时钟值和上一次的单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，则确定当前目标设备所属的掉电测试事件为新的掉电测试事件，掉电测试事件的计数值加1。

在一实施例中，考虑到可能会出现同一种掉电功能测试多次进行的情况，将把这些多次进行的相同掉电功能测试视为是同一掉电测试事件，对此，本申请中还设置有单次掉电测试时钟值，当单次掉电测试时钟值和上一次的单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，说明这次的掉电测试和上次的掉电测试耗时差距较大，属于不同的掉电测试，则可认为当前目标设备所属的掉电测试事件为新的掉电测试事件。

可以理解地，掉电测试事件的计数值将逐步累加，直到目标设备的掉电测试全部测试完成。需要说明的是，从掉电测试执行的角度，掉电测试是一直往下执行的，本身并没有掉电测试事件的概念，而本申请中，设置有掉电测试事件的概念，在掉电测试过程中进行实时分析，以使得目标设备在进行不同的掉电功能测试时，能够准确地把握掉电触发时机，从而达到效果较佳的掉电测试效果。

S724：在每次进行掉电测试时，根据掉电测试事件的计数值，确定当前目标设备所属的掉电测试事件，以执行对应的掉电操作。

在一实施例中，不同的计数值可反映不同的掉电测试阶段，通过计数值和预设的与掉电测试事件的映射关系，可确定目标设备所属的掉电测试事件，从而能够在该掉电测试事件中执行测试所需的掉电操作，提高测试精确度，能够实现掉电操作时机的准确把控。

步骤S721-S724中，通过掉电测试计数和单次掉电测试时钟值两个层面反映出目标供电路径的运作状况，可准确地获知当前目标设备所属的掉电测试事件，从而针对该掉电测试事件执行合适的掉电操作。

进一步地，在步骤S73中，即根据掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息的步骤中，具体包括如下步骤：

S731：根据掉电测试事件查询对应的掉电测试特征表，掉电测试特征表存储有掉电测试事件编号和掉电特征信息编号的编号映射关系。

S732：将掉电测试事件转换为对应的掉电测试事件编号，根据编号映射关系和掉电测试事件编号确定掉电特征信息编号。

S733：根据掉电特征信息编号获取掉电测试事件对应的掉电特征信息。

步骤S731-S733中，通过将掉电测试事件和掉电特征信息编号化实现两维度的精简关联，电源测试系统可以根据掉电测试事件快速获取到与之相对应的至少一个掉电特征信息，以利用该掉电特征信息提高对掉电触发时机的把控度。

进一步地，在步骤S74中，即采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机的步骤中，具体包括如下步骤：

S744：从至少一个掉电特征信息获取每一类型的掉电特征信息对应的掉电特征数值。

在一实施例中，掉电特征信息设置有对应的掉电特征数值，该掉电特征数值反映的是掉电特征信息的属性。

S745：根据掉电特征数值确定掉电特征区间值。

在一实施例中，每个掉电特征数值都存在一掉电特征区间包含它。本申请中，因为没办法对每种掉电特征数值对应的掉电触发时机做映射关系（掉电特征数值理论上有无穷），设置了掉电特征区间的方式，采用区间化的思维对不同的掉电特征数值进行分类处理，然后再通过掉电特征区间值和掉电特征数值得出更接近实际的掉电触发时机。其中，掉电特征区间值是掉电特征区间中的一用于参照的数值，该掉电特征区间值具体可以是掉电特征区间的中间值。

S746：获取掉电特征区间值对应的单倍换算表，根据单倍换算表换算掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间。

其中，单倍换算表是指在掉电特征区间上以单倍时钟周期为基底，换算掉电特征数值和掉电特征区间值之间差值所对应换算的时间的映射关系表。也即可理解为，当直到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差值时，可以根据该掉电特征区间值对应的单倍换算表，换算得到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差距的时间。

S747：获取掉电特征区间值对应的发生时间，根据掉电特征区间值对应的发生时间和掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间确定掉电测试的掉电触发时机。

在一实施例中，在确定掉电特征区间值对应的发生时间，以及掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间后，可更加准确地预测掉电触发时机。

步骤S744-S747中，采用单倍换算表的方式可换算得到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差距的时间，从而在没办法对每种掉电特征数值对应的掉电触发时机做映射关系的前提下，仍能准确地预测掉电触发时机。

进一步地，在步骤S74之前，即采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机的步骤之前，具体还包括如下步骤：

S741：建立掉电特征区间值和掉电特征区间的映射关系，其中，掉电特征区间为一个或多个，每个掉电特征区间对应一掉电特征区间值。

在一实施例中，在掉电测试之前的阶段，可以预先划分出掉电特征区间，并在每个掉电特征区间上确定有一用于参照的掉电特征区间值。

S742：根据掉电特征区间值确定对应的掉电测试发生时间。

在一实施例中，需要测出掉电特征区间值准确地掉电测试发生时间，以将该掉电特征区间值为后续在该掉电特征区间上的值做标准的时间对照。

S743：在每个掉电特征区间上，以对应的掉电特征区间值为参照，计算单倍时钟周期对应的换算值，并存储在单倍换算表中，以在确定掉电测试的掉电触发时机，采用单倍换算表进行预测。

在一实施例中，具体可采用单倍时钟周期为基底进行换算，采用单倍时钟周期为底的时间作为数值差值的换算。

步骤S741-S743中，提供了一种建立单倍换算表的具体实现方式，利用数值差值换算时间的方式，能够进一步提高掉电触发时机预测的准确度。

进一步地，本申请中电源测试系统的处理器还包括执行如下步骤：

S81：获取新增添的掉电测试设备。

S82：根据新增添的掉电测试设备确定是否需增加新的供电路径方式。

S83：若需增加新的供电路径方式，在电源测试系统中添加供电路径方式对应的供电路径接口。

S84：根据新增添的掉电测试设备确定是否需增加新的电子开关。

S85：若需增加新的电子开关，在电源测试系统中添加电子开关。

步骤S81-S85中，可支持在原构建好的掉电测试体系下支持对新的掉电测试设备的加入，具有较高的包容性及扩展性，且也便于实现。

本申请的实施例还提供一种电源控制装置，该装置包括上述实施例的电源测试系统和待测试的至少一个目标设备。目标设备可通过电源测试系统实现掉电测试。其中，电源测试系统还包括通过处理器执行如下步骤：

获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；

根据至少一种供电路径方式确定至少一种供电路径接口；

根据至少一种供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，电子开关用于控制电能的变化；

确定待测试的至少一个目标设备；

根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；

根据供电路径建立参数，从至少一种供电路径接口和至少一个电子开关中，建立目标设备对应的目标供电路径；

在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作，以对目标设备进行掉电测试。

进一步地，根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，还包括处理器执行如下步骤：

获取至少一个目标设备的设备信息；

将设备信息和掉电测试表进行匹配，得到至少一条掉电测试指令，其中，掉电测试表中存储有设备信息和至少一条掉电测试指令之间的映射关系；

其中，掉电测试表为预先建立的，在根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令之前，处理器还包括执行如下步骤：

确定不同的掉电测试设备的设备信息；

根据设备信息确定对应的掉电测试设备的供电路径方式和掉电触发方式；

根据供电路径方式确定供电路径生成指令集，其中，供电路径生成指令集与供电路径建立参数具有映射关系；

根据掉电触发方式确定掉电时机触发指令集，其中，掉电时机触发指令集与掉电执行参数具有映射关系；

根据设备信息、供电路径建立参数和掉电执行参数生成掉电测试表，以根据掉电测试表执行对应的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集。

本申请实施例中，提出了一种新的基于统一体系化掉电测试的思路，测试用户仅需将待测试的目标设备接入到电源测试系统中，电源测试系统便可相应地建立出该目标设备所需的测试环境以及掉电测试操作，能够支持对多种不同目标设备的掉电测试。具体地，本申请可基于供电路径方式、掉电触发方式建立出与目标设备具有映射关系的掉电测试表，通过该掉电测试表快速、准确地生成与掉电测试相关的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集，并基于这些指令集实现完备的掉电测试。

进一步地，根据供电路径建立参数，从至少一种供电路径接口和至少一个电子开关中，建立目标设备对应的目标供电路径，还包括处理器执行如下步骤：

根据供电路径建立参数确定目标设备的掉电测试路径和电压控制范围；

根据掉电测试路径，从至少一种供电路径接口中选择满足掉电测试路径的供电路径接口作为第一路径点；

根据掉电测试路径，从至少一种电子开关中选择满足电压控制范围的电子开关作为第二路径点；

建立第一路径点到第二路径点的通路关系，得到目标供电路径。

本申请实施例中，提供了一种目标供电路径的建立方式，通过对供电路径接口、电子开关进行拆解，可以从中灵活变换、切换至掉电测试所需的各种形态，能够快速建立目标设备的目标供电路径，显著提高对不同目标设备进行掉电测试的测试效率。

进一步地，在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作，还包括处理器执行如下步骤：

当目标设备通过目标供电路径进行掉电测试时，根据掉电执行参数生成事件观测指令，其中，事件观测指令应用于掉电测试的期间；

根据事件观测指令确定当前目标设备所属的掉电测试事件；

根据掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息；

采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机，并根据掉电触发时机生成掉电时机触发指令，以在预设时间周期后采用掉电时机触发指令执行掉电操作。

本申请实施例中，采用事件观测指令实现对电路状态的全时机掌握。电源测试系统能够在测试过程中通过事件观测确定当前目标设备所属的掉电测试事件，并通过获取至少一个掉电特征信息准确推算出掉电时机，能够让掉电测试安排在最佳的测试时机，实现目标设备的掉电测试时机可控。

进一步地，根据事件观测指令确定当前目标设备所属的掉电测试事件，还包括处理器执行如下步骤：

根据事件观测指令获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值；

当掉电测试计数为0时，则确定当前目标设备所属的掉电测试事件为起始掉电测试事件，并在每次确认有新的掉电测试事件期间，设置掉电测试事件的计数值加1，此处，在起始掉电测试事件结束后，掉电测试事件的计数值置为1；

当掉电测试计数不为0，且本次的单次掉电测试时钟值和上一次的单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，则确定当前目标设备所属的掉电测试事件为新的掉电测试事件，掉电测试事件的计数值加1；

在每次进行掉电测试时，根据掉电测试事件的计数值，确定当前目标设备所属的掉电测试事件，以执行对应的掉电操作。

本申请实施例中，通过掉电测试计数和单次掉电测试时钟值两个层面反映出目标供电路径的运作状况，可准确地获知当前目标设备所属的掉电测试事件，从而针对该掉电测试事件执行合适的掉电操作。

进一步地，根据掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息，还包括处理器执行如下步骤：

根据掉电测试事件查询对应的掉电测试特征表，掉电测试特征表存储有掉电测试事件编号和掉电特征信息编号的编号映射关系；

将掉电测试事件转换为对应的掉电测试事件编号，根据编号映射关系和掉电测试事件编号确定掉电特征信息编号；

根据掉电特征信息编号获取掉电测试事件对应的掉电特征信息。

本申请实施例中，通过将掉电测试事件和掉电特征信息编号化实现两维度的精简关联，电源测试系统可以根据掉电测试事件快速获取到与之相对应的至少一个掉电特征信息，以利用该掉电特征信息提高对掉电触发时机的把控度。

进一步地，采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机，还包括处理器执行如下步骤：

从至少一个掉电特征信息获取每一类型的掉电特征信息对应的掉电特征数值；

根据掉电特征数值确定掉电特征区间值；

获取掉电特征区间值和对应的掉电特征数值的差值，其中，差值与时钟周期具有倍数关系；

获取掉电特征区间值对应的单倍换算表，根据单倍换算表换算掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间；

获取掉电特征区间值对应的发生时间，根据掉电特征区间值对应的发生时间和掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间确定掉电测试的掉电触发时机。

本申请实施例中，采用单倍换算表的方式可换算得到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差距的时间，从而在没办法对每种掉电特征数值对应的掉电触发时机做映射关系的前提下，仍能准确地预测掉电触发时机。

进一步地，在采用至少一个掉电特征信息确定掉电测试的掉电触发时机之前，处理器还包括执行如下步骤：

建立掉电特征区间值和掉电特征区间的映射关系，其中，掉电特征区间为一个或多个，每个掉电特征区间对应一掉电特征区间值；

根据掉电特征区间值确定对应的掉电测试发生时间；

在每个掉电特征区间上，以对应的掉电特征区间值为参照，计算单倍时钟周期对应的换算值，并存储在单倍换算表中，以在确定掉电测试的掉电触发时机，采用单倍换算表进行预测。

本申请实施例中，提供了一种建立单倍换算表的具体实现方式，利用数值差值换算时间的方式，能够进一步提高掉电触发时机预测的准确度。

进一步地，本申请电源测试系统中处理器还包括执行如下步骤：

获取新增添的掉电测试设备；

根据新增添的掉电测试设备确定是否需增加新的供电路径方式；

若需增加新的供电路径方式，在电源测试系统中添加供电路径方式对应的供电路径接口；

根据新增添的掉电测试设备确定是否需增加新的电子开关；

若需增加新的电子开关，在电源测试系统中添加电子开关。

本申请实施例中，可支持在原构建好的掉电测试体系下支持对新的掉电测试设备的加入，具有较高的包容性及扩展性，且也便于实现。

本申请实施例中，提供了一种用以实现掉电测试的电源控制装置，该电源测试系统以掉电测试设备的供电路径方式为基础，将供电路径接口和电子开关集成在系统重，并通过供电路径接口和电子开关，能够根据待测试的目标设备和实际测试场景搭建对应的目标供电路径。其中，该目标路径搭建过程通过系统重专用的控制器实现逻辑上的对接及搭建。并且，控制器还可以根据掉电测试需求，在目标供电路径是上通过掉电执行参数执行用户期望的掉电操作，从而实现对目标设备快速、精准、全面、灵活的掉电测试。本申请中通过该电源控制装置，可以解决原本测试步骤繁多，测试环境搭建困难等问题，能够在一系统中实现对不同存储设备的不同掉电测试，且支持测试用户在测试过程中对不同掉电测试场景的切换，能够显著提高存储设备的掉电测试效率。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种电源测试系统，其特征在于，所述系统包括存储器和处理器，所述处理器执行的指令存储在所述存储器中，所述处理器用于执行如下步骤：

获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；

根据至少一种所述供电路径方式确定至少一种供电路径接口；

根据至少一种所述供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，所述电子开关用于控制电能的变化；

确定待测试的至少一个目标设备；

根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条所述掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；

根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径；

在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，以对所述目标设备进行掉电测试。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，还包括所述处理器执行如下步骤：

获取至少一个所述目标设备的设备信息；

将所述设备信息和掉电测试表进行匹配，得到至少一条所述掉电测试指令，其中，所述掉电测试表中存储有所述设备信息和至少一条所述掉电测试指令之间的映射关系；

其中，所述掉电测试表为预先建立的，在根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

确定不同的所述掉电测试设备的所述设备信息；

根据所述设备信息确定对应的所述掉电测试设备的所述供电路径方式和掉电触发方式；

根据所述供电路径方式确定供电路径生成指令集，其中，所述供电路径生成指令集与所述供电路径建立参数具有映射关系；

根据所述掉电触发方式确定掉电时机触发指令集，其中，所述掉电时机触发指令集与所述掉电执行参数具有映射关系；

根据所述设备信息、所述供电路径建立参数和所述掉电执行参数生成所述掉电测试表，以根据所述掉电测试表执行对应的所述供电路径生成指令集和所述掉电时机触发指令集。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述供电路径建立参数确定所述目标设备的掉电测试路径和电压控制范围；

根据所述掉电测试路径，从至少一种所述供电路径接口中选择满足所述掉电测试路径的所述供电路径接口作为第一路径点；

根据所述掉电测试路径，从至少一种所述电子开关中选择满足所述电压控制范围的所述电子开关作为第二路径点；

建立所述第一路径点到所述第二路径点的通路关系，得到所述目标供电路径。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，还包括所述处理器执行如下步骤：

当所述目标设备通过所述目标供电路径进行掉电测试时，根据所述掉电执行参数生成事件观测指令，其中，所述事件观测指令应用于掉电测试的期间；

根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件；

根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息；

采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，并根据所述掉电触发时机生成掉电时机触发指令，以在预设时间周期后采用所述掉电时机触发指令执行所述掉电操作。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述事件观测指令获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值；

当所述掉电测试计数为0时，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为起始掉电测试事件，并在每次确认有新的所述掉电测试事件期间，设置所述掉电测试事件的计数值加1，此处，在所述起始掉电测试事件结束后，所述掉电测试事件的计数值置为1；

当所述掉电测试计数不为0，且本次的所述单次掉电测试时钟值和上一次的所述单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为新的所述掉电测试事件，所述掉电测试事件的计数值加1；

在每次进行掉电测试时，根据所述掉电测试事件的计数值，确定当前所述目标设备所属的所述掉电测试事件，以执行对应的掉电操作。

6.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息，还包括所述处理器执行如下步骤：

根据所述掉电测试事件查询对应的掉电测试特征表，所述掉电测试特征表存储有掉电测试事件编号和掉电特征信息编号的编号映射关系；

将所述掉电测试事件转换为对应的所述掉电测试事件编号，根据所述编号映射关系和所述掉电测试事件编号确定所述掉电特征信息编号；

根据所述掉电特征信息编号获取所述掉电测试事件对应的所述掉电特征信息。

7.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述采用所述至少一个掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，还包括所述处理器执行如下步骤：

从至少一个所述掉电特征信息获取每一类型的所述掉电特征信息对应的掉电特征数值；

根据所述掉电特征数值确定掉电特征区间值；

获取所述掉电特征区间值和对应的所述掉电特征数值的差值，其中，所述差值与时钟周期具有倍数关系；

获取所述掉电特征区间值对应的单倍换算表，根据所述单倍换算表换算所述掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间；

获取所述掉电特征区间值对应的发生时间，根据所述掉电特征区间值对应的所述发生时间和所述掉电特征数值的差值所预测花费的所述目标时间确定所述掉电测试的掉电触发时机。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，在所述采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

建立所述掉电特征区间值和掉电特征区间的映射关系，其中，所述掉电特征区间为一个或多个，每个所述掉电特征区间对应一所述掉电特征区间值；

根据所述掉电特征区间值确定对应的掉电测试发生时间；

在每个所述掉电特征区间上，以对应的所述掉电特征区间值为参照，计算单倍时钟周期对应的换算值，并存储在所述单倍换算表中，以在确定所述掉电测试的掉电触发时机，采用所述单倍换算表进行预测。

9.根据权利要求1-8任一项所述的系统，其特征在于，所述处理器还包括执行如下步骤：

获取新增添的所述掉电测试设备；

根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述供电路径方式；

若需增加新的所述供电路径方式，在所述电源测试系统中添加所述供电路径方式对应的所述供电路径接口；

根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述电子开关；

若需增加新的所述电子开关，在所述电源测试系统中添加所述电子开关。

10.一种电源控制装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的电源测试系统和待测试的至少一个目标设备。