CN210245076U - 一种用于自动化测试ssd上下电的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例公开了一种用于自动化测试SSD上下电的装置，所述装置包括MCU、主电支路、辅电支路和切换电路；所述MCU通过RELAY1_EN信号控制所述主电支路工作，所述主电支路用于将输入主电P12VIN_MAIN转化为输出主电P12V0_MAIN1和主电过流保护，所述MCU通过RELAY2_EN信号控制所述辅电支路工作，所述辅电支路用于将输入辅电P12VIN_AUX转化为输出辅电P12V0_AUX1和辅电过流保护，所述切换电路用于输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1的切换，所述切换电路的输出电压P12V0_COM作为所述装置的输出并给SSD供电。本实用新型实施例装置在主电断电后，通过辅电供电给SSD，使SSD能正常供电和运行，顺利执行主电异常断电的流程，打印和导出内部寄存器的参数信息，且装置在使用过程中，可以多次循环上下电，不需人工参与操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及存储技术领域，具体涉及一种用于自动化测试SSD上下电的装置。
背景技术
众所周知，与HDD(HDD，Hard Disk Drive，机械硬盘)相比，SSD在速度，功耗，容量，噪声，可靠性等性能方面具有较大优势，在现阶段，尽管前者在价格上有一定优势，但是随着大容量FLASH(FLASH，Flash EEPROM Memory，闪存存储器芯片)闪存颗粒的出现，SDD的也会越来越低，使其更广泛应用于服务器、存储等设备中。但在服务器和存储领域，企业级SSD不同于消费级SSD，要求SSD异常断电时，能够保证DRAM数据刷新保存到FLASH，所对应的FTL(FTL，Flash Translation Layer，闪存转换层，完成主机逻辑地址空间到闪存物理空间映射)表不被破坏，实现下一次SSD正常上电后正常识别和运行，通过SSD主板上的储能电容完成异常掉电时的数据保护。
但是，在SSD前期研发阶段，如何实现SSD的自动化断电测试，特别是当服务器或者存储设备给SSD断电后，有些为了解决软件开发过程中的异常下电bug问题，检查代码逻辑和功能，保证SSD控制器能够被正常供电和运行，打印对应的日志和寄存器信息，方便问题定位，是摆在现有软件研发人员面前的主要问题。在现有技术中，只描述了一种实现SSD自动化上下电的测试治具，用以实现对SSD的上电和下电操作。
现有技术没有提供主电断电后，通过电路切换，经过另一电源支路保证SSD主板上主控器以及其他IC能够正常运行没有对应的实现方法。这将使SSD的日志和寄存器参数信息不能及时保存到FLASH中，不方便软件定位问题。并且测试治具需要手动操作上下电，在测试次数较多的调试中，调试效率极低。
实用新型内容
本实用新型实施例中提供了一种用于自动化测试SSD上下电的装置，装置在主电断电后，通过辅电供电给SSD，使SSD能正常供电和运行，顺利执行主电异常断电的流程，打印和导出内部寄存器的参数信息，且装置在使用过程中，可以多次循环上下电，不需人工参与操作。本实用新型实施例所述装置解决了现有技术中测试SSD上下电装置只有主电没有辅电的问题，以及装置不能多次循环上下电的问题。
本实用新型实施例公开了如下技术方案：
本实用新型提供了一种用于自动化测试SSD上下电的装置，包括MCU、主电支路、辅电支路和切换电路；所述MCU通过RELAY1_EN信号控制所述主电支路工作，所述主电支路用于将输入主电P12VIN_MAIN转化为输出主电P12V0_MAIN1和主电过流保护，所述MCU通过RELAY2_EN信号控制所述辅电支路工作，所述辅电支路用于将输入辅电P12VIN_AUX转化为输出辅电P12V0_AUX1和辅电过流保护，所述切换电路用于输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1的切换，所述切换电路的输出电压P12V0_COM作为所述装置的输出并给SSD供电。
进一步地，所述主电支路包括主电开关电路和主电过流保护电路，所述主电开关电路的输入端连接MCU，所述主电开关电路的输出端连接所述主电过流保护电路的输入端，所述主电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。
进一步地，所述辅电支路包括辅电开关电路和辅电过流保护电路，所述辅电开关电路的输入端连接MCU，所述辅电开关电路的输出端连接所述辅电过流保护电路的输入端，所述辅电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。
进一步地，所述MCU包括芯片U1，U1的7引脚连接电阻R2的一端，电阻R2的另一端通过电容C1接地，电阻R2的另一端通过电阻R1连接P3V3_MCU,U1的16引脚连接P3V3_MCU和电容C2的一端，U1的15引脚连接地和电容C2的另一端，U1的46引脚连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端连接所述主电开关电路，U1的49引脚连接电阻R6的一端，电阻R6的另一端连接所述辅电开关电路，U1的10、26、38和57引脚连接磁珠FB1的一端，磁珠FB1的一端连接P3V3_MCU、电容C3的一端、电容C4的一端、电容C5的一端、电容C6的一端和U1的35引脚，磁珠FB1的另一端连接U1的19引脚和电容C8的一端，U1的9、25和41引脚连接电容C3的另一端，电容C3的另一端连接电容C4的另一端、电容C5的另一端、电容C6的另一端和地，电容C8的另一端连接U1的20引脚、65引脚和地，U1的56引脚通过电容C7接地，U1的34引脚通过电阻R7接地。
进一步地，所述主电开关电路包括第一继电器，所述第一继电器的线圈连接RELAY1_EN信号，所述第一继电器的常开触点连接输入主电P12VIN_MAIN，所述第一继电器的公共触点连接所述主电过流保护电路的输入端P12VO_MAIN。
进一步地，所述辅电开关电路包括第二继电器，所述第二继电器的线圈连接RELAY2_EN信号，所述第二继电器的常开触点连接输入辅电P12VIN_AUX，所述第二继电器的公共触点连接所述辅电过流保护电路的输入端P12VO_AUX。
进一步地，所述主电过流保护电路包括芯片U2，U2的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C100的一端，电容C100的一端连接电阻R133的一端、电阻R137的一端和P12V0_MAIN,电阻R133的另一端连接U2的EN引脚、电容C443的一端和电阻R134的一端，电容C443的另一端接地，电阻R134的另一端接地，电阻R137的另一端连接U2的OVP引脚和电阻R138的一端，电阻R138的另一端接地，电容C100的另一端接地，U2的DVDT引脚通过电容C101接地，U2的IMON引脚通过电阻R149接地，U2的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R100的一端，电阻R100的一端连接电阻R153的一端、电阻R171的一端、电容C103的一端、电容C104的一端和P12V0_MAIN1，电阻R100的另一端连接U2的FLT_L引脚，电阻R153的另一端连接U2的PGTH引脚和电阻R154的一端，电阻R154的另一端接地，电阻R171的另一端连接电阻R101的一端和电阻R102的一端，电阻R101的另一端连接电容C103的另一端和电容C104的另一端，电容C104的另一端接地，电阻R102的另一端连接U2的PGOOD引脚，U2的ILIM引脚通过电阻R150接地，U2的GND、EPAD引脚接地。
进一步地，所述辅电过流保护电路包括芯片U3，U3的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C108的一端，电容C108的一端连接电阻R135的一端、电阻R136的一端和P12V0_AUX,电阻R135的另一端连接U3的EN引脚、电容C444的一端和电阻R140的一端，电容C444的另一端接地，电阻R140的另一端接地，电阻R136的另一端连接U3的OVP引脚和电阻R139的一端，电阻R139的另一端接地，电容C108的另一端接地，U3的DVDT引脚通过电容C107接地，U3的IMON引脚通过电阻R148接地，U3的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R104的一端，电阻R104的一端连接电阻R151的一端、电阻R172的一端、电容C106的一端、电容C105的一端和P12V0_AUX1，电阻R104的另一端连接U3的FLT_L引脚，电阻R151的另一端连接U3的PGTH引脚和电阻R152的一端，电阻R152的另一端接地，电阻R172的另一端连接电阻R105的一端和电阻R106的一端，电阻R105的另一端连接电容C106的另一端和电容C105的另一端，电容C105的另一端接地，电阻R106的另一端连接U3的PGOOD引脚，U3的ILIM引脚通过电阻R155接地，U3的GND、EPAD引脚接地。
进一步地，所述切换电路包括二极管D3和二极管D4，P12V0_MAIN1连接二极管D3的阳极，二极管D3的阴极连接P12V0_COM，P12V0_AUX1连接二极管D4的阳极，二极管D4的阴极连接P12V0_COM。
进一步地，所述输入主电P12VIN_MAIN由PC机供电，输入辅电P12VIN_AUX由12V电源适配器供电，所述装置由外置直流电源供电。
实用新型内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是实用新型所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
1)本实用新型提供的用于自动化测试SSD上下电的装置，输出电压P12V0_COM用于给SSD供电，装置的主电支路和辅电支路可以通过切换电路实现无缝切换。在主电断电的情况下，SSD与PC机的通信中断，但由于辅电支路的存在，SSD也能正常运行，SSD控制器串口输出日志和寄存器参数信息。研发人员通过查看每次SSD控制器输出的串口日志信息，判定每次的下电流程是否正常，以此来判定软件逻辑是否正常，保证了SSD产品研发质量。
2)本实用新型提供的用于自动化测试SSD上下电的装置，可以多次对SSD执行上下电循环操作，不需人工操作装置，在实际测试时，提高了测试效率。通过本实用新型装置，可以快速定位软件问题，提高了产品的研发效率，缩短了产品的研发周期。
3)本实用新型提供的用于自动化测试SSD上下电的装置，可以适用于其他硬件接口或者形态的SSD中，如AIC SSD，SATA SSD，SAS SSD等等，适用范围广泛，企业级SSD异常上下电操作测试的装置都可以借鉴本实用新型装置，并且装置操作简单，易于实现。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型所述电路结构框图；
图2为本实用新型实施例所述MCU的电路原理图；
图3为本实用新型实施例所述主电开关电路的原理图；
图4为本实用新型实施例所述辅电开关电路的原理图；
图5为本实用新型实施例所述切换电路的原理图。
具体实施方式
为了能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本实用新型进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本实用新型省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本实用新型。
如图1所示，本实用新型实施例提供的装置包括MCU(MCU，Microcontroller Unit，微控制器单元)、主电支路、辅电支路和切换电路；MCU通过RELAY1_EN信号控制所述主电支路工作，主电支路用于将输入主电P12VIN_MAIN转化为输出主电P12V0_MAIN1和主电过流保护，MCU通过RELAY2_EN信号控制所述辅电支路工作，辅电支路用于将输入辅电P12VIN_AUX转化为输出辅电P12V0_AUX1和辅电过流保护，切换电路用于输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1的切换，切换电路的输出电压P12V0_COM作为所述装置的输出并给SSD(SSD，Solid State Disk，固态硬盘)供电。
主电支路包括主电开关电路和主电过流保护电路，主电开关电路的输入端连接MCU，主电开关电路的输出端连接主电过流保护电路的输入端，主电过流保护电路的输出端连接切换电路。
辅电支路包括辅电开关电路和辅电过流保护电路，辅电开关电路的输入端连接MCU，辅电开关电路的输出端连接辅电过流保护电路的输入端，辅电过流保护电路的输出端连接切换电路。
如图2所示，MCU包括芯片U1(Microchip，32bit PIC32MX534F064)，U1的7引脚连接电阻R2的一端，电阻R2的另一端通过电容C1接地，电阻R2的另一端通过电阻R1连接P3V3_MCU,U1的16引脚连接P3V3_MCU和电容C2的一端，U1的15引脚连接地和电容C2的另一端，U1的46引脚连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端连接主电开关电路，U1的49引脚连接电阻R6的一端，电阻R6的另一端连接辅电开关电路，U1的10、26、38和57引脚连接磁珠FB1的一端，磁珠FB1的一端连接P3V3_MCU、电容C3的一端、电容C4的一端、电容C5的一端、电容C6的一端和U1的35引脚，磁珠FB1的另一端连接U1的19引脚和电容C8的一端，U1的9、25和41引脚连接电容C3的另一端，电容C3的另一端连接电容C4的另一端、电容C5的另一端、电容C6的另一端和地，电容C8的另一端连接U1的20引脚、65引脚和地，U1的56引脚通过电容C7接地，U1的34引脚通过电阻R7接地。MCU的其他引脚没有在本实用新型实施例中使用，故对引脚连接关系不做说明。
主电开关电路包括第一继电器，第一继电器的线圈连接RELAY1_EN信号，第一继电器的常开触点连接输入主电P12VIN_MAIN，第一继电器的公共触点连接主电过流保护电路的输入端P12VO_MAIN。
辅电开关电路包括第二继电器，第二继电器的线圈连接RELAY2_EN信号，第二继电器的常开触点连接输入辅电P12VIN_AUX，第二继电器的公共触点连接辅电过流保护电路的输入端P12VO_AUX。
MCU通过内部的GPIO单元控制外围的继电器，当RELAY1_EN信号为高电平时，第一继电器闭合，输入主电P12VIN_MAIN经过第一继电器输出到主电过流保护电路的输入端P12VO_MAIN；当RELAY2_EN信号为高电平时，第二继电器闭合，输入辅电P12VIN_AUX经过第二继电器输出到辅电过流保护电路的输入端P12VO_AUX。
继电器触点支持的负载参数需满足SSD的最大功耗要求，例如SSD最大功耗为12V/1.5A，可选择超小型中功率继电器HF32F/005-H，触点支持30VDC/3.0A。
如图3所示，主电过流保护电路包括芯片U2(TI的TPS25942)，U2的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C100的一端，电容C100的一端连接电阻R133的一端、电阻R137的一端和P12V0_MAIN,电阻R133的另一端连接U2的EN引脚、电容C443的一端和电阻R134的一端，电容C443的另一端接地，电阻R134的另一端接地，电阻R137的另一端连接U2的OVP引脚和电阻R138的一端，电阻R138的另一端接地，电容C100的另一端接地，U2的DVDT引脚通过电容C101接地，U2的IMON引脚通过电阻R149接地，U2的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R100的一端，电阻R100的一端连接电阻R153的一端、电阻R171的一端、电容C103的一端、电容C104的一端和P12V0_MAIN1，电阻R100的另一端连接U2的FLT_L引脚，电阻R153的另一端连接U2的PGTH引脚和电阻R154的一端，电阻R154的另一端接地，电阻R171的另一端连接电阻R101的一端和电阻R102的一端，电阻R101的另一端连接电容C103的另一端和电容C104的另一端，电容C104的另一端接地，电阻R102的另一端连接U2的PGOOD引脚，U2的ILIM引脚通过电阻R150接地，U2的GND、EPAD引脚接地。
如图4所示，辅电过流保护电路包括芯片U3(TI的TPS25942)，U3的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C108的一端，电容C108的一端连接电阻R135的一端、电阻R136的一端和P12V0_AUX,电阻R135的另一端连接U3的EN引脚、电容C444的一端和电阻R140的一端，电容C444的另一端接地，电阻R140的另一端接地，电阻R136的另一端连接U3的OVP引脚和电阻R139的一端，电阻R139的另一端接地，电容C108的另一端接地，U3的DVDT引脚通过电容C107接地，U3的IMON引脚通过电阻R148接地，U3的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R104的一端，电阻R104的一端连接电阻R151的一端、电阻R172的一端、电容C106的一端、电容C105的一端和P12V0_AUX1，电阻R104的另一端连接U3的FLT_L引脚，电阻R151的另一端连接U3的PGTH引脚和电阻R152的一端，电阻R152的另一端接地，电阻R172的另一端连接电阻R105的一端和电阻R106的一端，电阻R105的另一端连接电容C106的另一端和电容C105的另一端，电容C105的另一端接地，电阻R106的另一端连接U3的PGOOD引脚，U3的ILIM引脚通过电阻R155接地，U3的GND、EPAD引脚接地。
主电过流保护电路的芯片U2用于实现主电的短路保护，辅电过流保护电路的芯片U3用于实现辅电的短路保护。通过调整芯片Ilim管脚的下拉电阻阻值可以实现过流阈值的调整，例如当下拉电阻为20K时，对应的过流阈值为4.45A。当装置输出端出现短路时，芯片U2和芯片U3的输出端均无电压输出，以实现短路保护的功能。
如图5所示，切换电路包括二极管D3和二极管D4，P12V0_MAIN1连接二极管D3的阳极，二极管D3的阴极连接P12V0_COM，P12V0_AUX1连接二极管D4的阳极，二极管D4的阴极连接P12V0_COM。
切换电路通过两个不同Vf(正向导通压降)的整流二极管或门逻辑实现两路电源的切换，整流二极管的选型需满足SSD主板的最大功耗(如12V/1.5A)要求。二极管D3选择ON厂家的MBR230LSFT1G(正向导通电流If＝2.0A时，Vf＝0.43V，反向击穿电压Vr＝30V)，二极管D4选择ROHM厂家的RBR3LAM60BTR(正向导通电流If＝2.0A时，Vf＝0.50V，反向击穿电压Vr＝60V)。
当输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1同时输入切换电路时，由于二极管D3的Vf小于二极管D4的Vf，即使输出主电和输出辅电同时存在，由于二极管的单向导通性，二极管D4截止，二极管D3导通，电流从二极管D3支路流过，装置通过输入主电P12VIN_MAIN给SSD供电；当MCU控制第一继电器断开，即输入主电P12VIN_MAIN消失，此时二极管D4导通，装置通过输入辅电P12VIN_AUX给SSD供电。
切换电路也可以通过2个Rds(on)(D/S漏源极之间导通电阻)小的PMOS管实现两路电源支路切换，MOS管选型和使用的基本原理与整流二极管类似，不再赘述。
输入主电P12VIN_MAIN由PC机供电，输入辅电P12VIN_AUX由12V电源适配器供电，装置由外置直流电源供电。12V电源适配器的选型需满足SSD的最大功耗，例如12V/1.5A的SSD，可选型12V/3.0A的电源适配器。
SSD主电和辅电上下电的控制程序为现有常规技术，且控制程序中涉及的参数可以根据匹配的硬盘进行调整。本实用新型装置结合控制程序对一个上电和下电周期的说明如下：
S1，装置上电，完成初始化；
S2，MCU延时5ms，并控制RELAY1_EN信号输出高电平，此时第一继电器闭合，输入主电P12VIN_MAIN经过主电支路输入切换电路，切换电路的二极管D3导通，装置通过输出主电给SSD；
S3，MCU延时30s，并控制RELAY2_EN信号输出高电平，此时第二继电器闭合，输入辅电P12VIN_AUX经过辅电支路输入切换电路，由于二极管D4正向导通压降高于二极管D3，辅电不通过切换电路输出，装置仍然通过主电对外供电，此时装置完成对SSD的上电过程；
S4，MCU延时3min，此段时间供SSD测试用，3min后，MCU控制RELAY1_EN信号输出低电平，此时第一继电器断开，主电支路关断，切换电路的二极管D4导通，装置通过输出辅电给SSD；
S5，MCU延时30s，此段时间供SSD内部的控制器串口输出日志和寄存器参数信息，30s后，MCU控制RELAY2_EN信号输出低电平，此时第二继电器断开，辅电支路关断，装置对外输出关闭，至此SSD的一个上电和下电周期完成；
S6，重复S2～S5的步骤，直至完成规定的测试次数。
本实用新型装置用于给SSD供电，完成SSD的自动化上下电测试。测试时PC机的PCIe3.0 x4接口通过转接治具和SSD连接，PC机作为Host主机与外接的SSD实现交互通信。测试过程中，主电支路和辅电支路可以实现无缝切换，装置的输出电压P12V0_COM给SSD供电，SSD通过内部DC/DC转换成SSD控制器、NAND、DDR等芯片所需要的电源电压，如0.9V/1.2V/1.8V/2.5V/3.3V等等。当主电断电时，SSD与PC机的通信中断，但由于辅电支路的存在，SSD控制器也能正常运行，并且SSD控制器串口输出日志和寄存器参数信息。
本装置可以多次对SSD执行上下电循环操作，研发人员通过查看每次SSD控制器输出的串口日志信息判定每次的下电流程是否正常，以此来判定软件逻辑是否正常。
以上所述只是本实用新型的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述装置包括MCU、主电支路、辅电支路和切换电路；所述MCU通过RELAY1_EN信号控制所述主电支路工作，所述主电支路用于将输入主电P12VIN_MAIN转化为输出主电P12V0_MAIN1和主电过流保护，所述MCU通过RELAY2_EN信号控制所述辅电支路工作，所述辅电支路用于将输入辅电P12VIN_AUX转化为输出辅电P12V0_AUX1和辅电过流保护，所述切换电路用于输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1的切换，所述切换电路的输出电压P12V0_COM作为所述装置的输出并给SSD供电。
2.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述主电支路包括主电开关电路和主电过流保护电路，所述主电开关电路的输入端连接MCU，所述主电开关电路的输出端连接所述主电过流保护电路的输入端，所述主电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。
3.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述辅电支路包括辅电开关电路和辅电过流保护电路，所述辅电开关电路的输入端连接MCU，所述辅电开关电路的输出端连接所述辅电过流保护电路的输入端，所述辅电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。
4.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述MCU包括芯片U1，U1的7引脚连接电阻R2的一端，电阻R2的另一端通过电容C1接地，电阻R2的另一端通过电阻R1连接P3V3_MCU,U1的16引脚连接P3V3_MCU和电容C2的一端，U1的15引脚连接地和电容C2的另一端，U1的46引脚连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端连接所述主电开关电路，U1的49引脚连接电阻R6的一端，电阻R6的另一端连接所述辅电开关电路，U1的10、26、38和57引脚连接磁珠FB1的一端，磁珠FB1的一端连接P3V3_MCU、电容C3的一端、电容C4的一端、电容C5的一端、电容C6的一端和U1的35引脚，磁珠FB1的另一端连接U1的19引脚和电容C8的一端，U1的9、25和41引脚连接电容C3的另一端，电容C3的另一端连接电容C4的另一端、电容C5的另一端、电容C6的另一端和地，电容C8的另一端连接U1的20引脚、65引脚和地，U1的56引脚通过电容C7接地，U1的34引脚通过电阻R7接地。
5.根据权利要求2所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述主电开关电路包括第一继电器，所述第一继电器的线圈连接RELAY1_EN信号，所述第一继电器的常开触点连接输入主电P12VIN_MAIN，所述第一继电器的公共触点连接所述主电过流保护电路的输入端P12VO_MAIN。
6.根据权利要求3所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述辅电开关电路包括第二继电器，所述第二继电器的线圈连接RELAY2_EN信号，所述第二继电器的常开触点连接输入辅电P12VIN_AUX，所述第二继电器的公共触点连接所述辅电过流保护电路的输入端P12VO_AUX。
7.根据权利要求2所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述主电过流保护电路包括芯片U2，U2的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C100的一端，电容C100的一端连接电阻R133的一端、电阻R137的一端和P12V0_MAIN,电阻R133的另一端连接U2的EN引脚、电容C443的一端和电阻R134的一端，电容C443的另一端接地，电阻R134的另一端接地，电阻R137的另一端连接U2的OVP引脚和电阻R138的一端，电阻R138的另一端接地，电容C100的另一端接地，U2的DVDT引脚通过电容C101接地，U2的IMON引脚通过电阻R149接地，U2的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R100的一端，电阻R100的一端连接电阻R153的一端、电阻R171的一端、电容C103的一端、电容C104的一端和P12V0_MAIN1，电阻R100的另一端连接U2的FLT_L引脚，电阻R153的另一端连接U2的PGTH引脚和电阻R154的一端，电阻R154的另一端接地，电阻R171的另一端连接电阻R101的一端和电阻R102的一端，电阻R101的另一端连接电容C103的另一端和电容C104的另一端，电容C104的另一端接地，电阻R102的另一端连接U2的PGOOD引脚，U2的ILIM引脚通过电阻R150接地，U2的GND、EPAD引脚接地。
8.根据权利要求3所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述辅电过流保护电路包括芯片U3，U3的IN1、IN2、IN3、IN4和IN5引脚连接电容C108的一端，电容C108的一端连接电阻R135的一端、电阻R136的一端和P12V0_AUX,电阻R135的另一端连接U3的EN引脚、电容C444的一端和电阻R140的一端，电容C444的另一端接地，电阻R140的另一端接地，电阻R136的另一端连接U3的OVP引脚和电阻R139的一端，电阻R139的另一端接地，电容C108的另一端接地，U3的DVDT引脚通过电容C107接地，U3的IMON引脚通过电阻R148接地，U3的OUT1、OUT2、OUT3、OUT4和OUT5引脚连接电阻R104的一端，电阻R104的一端连接电阻R151的一端、电阻R172的一端、电容C106的一端、电容C105的一端和P12V0_AUX1，电阻R104的另一端连接U3的FLT_L引脚，电阻R151的另一端连接U3的PGTH引脚和电阻R152的一端，电阻R152的另一端接地，电阻R172的另一端连接电阻R105的一端和电阻R106的一端，电阻R105的另一端连接电容C106的另一端和电容C105的另一端，电容C105的另一端接地，电阻R106的另一端连接U3的PGOOD引脚，U3的ILIM引脚通过电阻R155接地，U3的GND、EPAD引脚接地。
9.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述切换电路包括二极管D3和二极管D4，P12V0_MAIN1连接二极管D3的阳极，二极管D3的阴极连接P12V0_COM，P12V0_AUX1连接二极管D4的阳极，二极管D4的阴极连接P12V0_COM。
10.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述输入主电P12VIN_MAIN由PC机供电，输入辅电P12VIN_AUX由12V电源适配器供电，所述装置由外置直流电源供电。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN115035946A (zh) * | 2022-08-12 | 2022-09-09 | 武汉麓谷科技有限公司 | 一种可扩展的NVMe固态硬盘测试系统 |
| CN115083510A (zh) * | 2022-07-22 | 2022-09-20 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 |
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