CN111104275A - 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 - Google Patents
一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111104275A CN111104275A CN201911349771.0A CN201911349771A CN111104275A CN 111104275 A CN111104275 A CN 111104275A CN 201911349771 A CN201911349771 A CN 201911349771A CN 111104275 A CN111104275 A CN 111104275A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ssd
- tested
- hard disk
- test
- flash
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 185
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 238000013522 software testing Methods 0.000 abstract 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2268—Logging of test results
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
本申请公开了一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法及装置，所述方法包括：搭建自动测试环境；检查自动测试环境，并获取自动测试环境下的被测SSD硬盘数据；在自动测试环境下，对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作；检测被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。本申请通过搭建自动测试环境进行硬盘测试任务，实现了自动控制被测SSD硬盘电源闪断及对硬盘状态的监控，验证了SSD硬盘掉电保护机制是否正常，且测试操作简单，减少了人力，避免误操作，提高了测试效率，保证了产品质量。
Description
技术领域
本申请涉及SSD测试技术领域，尤其涉及一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法及装置。
背景技术
SSD(solid-state storage device，固态硬盘)是一种主要以非易失性闪存作为永久性存储器的计算机存储设备，随着计算机的发展，对数据存储要求高速度、低时延、低功耗、防抗震等，SSD具有所有这些优势，必将取代HDD(hard disk drive，硬盘驱动器)作为大数据时代的主角。
SSD硬盘架构中也存在CPU、SDRAM(synchronous dynamic random-accessmemory，同步动态随机存储内存)、Buffer等，并实时运算来自主机的IO和SSD内部管理IO，因为DRAM(dynamic random access memory，动态随机存取存储器)和Buffer主要用于临时存储运算，需要靠外界电力维持其记忆，当外界电源突然中断时，需要靠应急电池来进入掉电保护机制。在一些特殊行业和军工项目中，对数据的存储十分重视，不能有任何意外造成数据丢失，所以在异常掉电后为了验证数据的完整性非常重要。传统闪断测试中，测试步骤依次是：a，配置环境；b，观察硬盘状态；c，触发硬盘IO业务运行；d，待策略规定时间后，手动拔插硬盘电源线；e，再次检查硬盘状态；f，重复步骤a-e。
但是，在传统闪断测试中，每一步骤都需要人为操作，容易导致出错、误操作，不可重复运行等问题。
发明内容
本申请提供了一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法及装置，以解决传统闪断测试操作复杂，容易导致出错、误操作、不可重复运行等问题。
为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：
第一方面，本申请实施例公开了一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法，所述方法包括：
搭建自动测试环境；
检查所述自动测试环境，并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据；
在所述自动测试环境下，对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作；
检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
可选的，搭建自动测试环境包括：
分别搭建测试主机、执行主机、PDU电源控制器；
将所述测试主机与所述执行主机分别与所述PDU电源控制器连接；
将被测SSD硬盘分别与测试主机、电源连接，并将所述被测SSD硬盘放入温箱中。
可选的，搭建自动测试环境，还包括：
预定义识别所述被测SSD硬盘的唯一标识；
预定义所述被测SSD硬盘的盘片数量；
预定义所述被测主机的IP信息；
预定义所述温箱的IP信息与所述温箱配置的参数；
预定义所述PDU电源控制器的IP信息；
预定义掉电上电的PDU电源控制器的slot号；
预定于测试次数与测试时间。
可选的，检查所述自动测试环境，包括：
检查所述测试主机、所述执行主机、所述PDU电源控制器、所述被测SSD硬盘、与所述电源之间的连接是否正常；
检查预配置的测试参数是否在正常范围内；
检查所有被测SSD硬盘是否能找到；
检查所述PDU电源控制器掉电上电是否正常；
若检查有异常，则收集异常日志，发送异常报告并停止测试。
可选的，获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据，包括：
查找所述被测SSD硬盘的盘符号，读取所述SSD硬盘的初始状态信息；
检查掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘初始连接的信息，检查所述被测SSD硬盘状态；
判断当前测试次数与测试时间是否小于预设值；
若当前测试次数与测试时间小于预设值，则配置所述温箱温度；
控制所述温箱内的被测SSD硬盘下发IO业务，保存所述被测SSD硬盘写入数据。
可选的，在所述自动测试环境下，对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作，包括：
通过所述PDU电源控制器控制所述电源闪断，以控制所述被测SSD硬盘掉电；
闪断多次后，通过所述PDU电源控制器控制打开所述电源。
可选的，检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性，包括：
查找所述被测SSD硬盘的盘符号，读取所述SSD硬盘的状态信息；
检查当前掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘连接的信息，检查所述被测SSD硬盘状态；
配置温箱温度；
读取所述温箱内所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据；
判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
第二方面，本申请实施例公开了一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置，包括：
环境搭建模块，用于搭建自动测试环境；
检查模块，用于检查所述自动测试环境，并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据；
闪断重启模块，用于在所述自动测试环境下，对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作；
检测模块，用于检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
可选的，所述检查模块包括：
第一检查子单元，用于检查所述自动测试环境是否正常；
获取单元，用于在所述自动测试环境下控制所述被测SSD硬盘下发IO业务，保存所述SSD硬盘写入数据。
可选的，所述检测模块包括：
第二检查子单元，用于检查闪断后自动测试环境是否正常；
读取单元，用于读取所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据；
检测单元，用于判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
与现有技术相比，本申请的有益效果为：
本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法包括：搭建自动测试环境，并检查自动测试环境是否正常，在自动测试环境正常的情况下获取被测SSD硬盘数据，之后对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作，然后读取被测SSD硬盘闪断后的测试数据，检测被测SSD硬盘闪断前后的数据是否一致，得到测试结果。本申请通过搭建自动测试环境，根据策略配置测试参数，就可以进行硬盘测试任务，能够实现自动控制被测SSD硬盘电源闪断及对硬盘状态的监控，验证SSD硬盘掉电保护机制是否正常，且测试操作简单，能够减少人力，避免误操作，提高测试效率，保证产品质量。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法的流程图；
图2为本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法中自动化测试环境的示意图；
图3为本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法中S200的详细流程图；
图4为本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法中S400的详细流程图；
图5为本申请实施例提供的一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置的框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
SSD硬盘内部都需要使用FTL(Flash Translation Layer，闪存转换层)来维护逻辑地址空间到闪存地址空间的映射，如果当SSD正在写、读、擦等工作时出现异常掉电，可能会导致映射表来不及更新，从而导致故障。同时在有使用SDRAM(Synchronous DynamicRandom-access Memory，同步动态随机存取内存)做缓存回写制中，SDRAM数据来不及刷到闪存中，可能导致数据丢失，出现数据不一致。
为了解决上述问题，本申请实施例提供了一种提升自动化测试硬盘电源闪断的测试方法，来验证SSD硬盘掉电保护机制是否正常，其能够实现控制被测硬盘电源闪断和对硬盘状态监控以及操作硬盘对其下发IO业务，以及根据策略控制改变硬盘环境温度等功能。
如图1所示，本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法包括：
S100：搭建自动测试环境。
如图2所示，自动测试环境的搭建为硬件部分的搭建，包括测试主机、执行主机与PDU电源控制器的搭建，可搭建1套或多套测试主机，搭建一套执行主机，搭建一套或多套PDU电源控制器，之后把测试主机、执行主机与PDU电源控制器通过交换机连接成功，并配置各自的网络地址；然后把被测SSD硬盘放入温箱中，每块SSD硬盘与测试主机使用SATA线连接，每块SSD硬盘的电源线连接到电源，把电源输入端与PDU电源控制器断开连接。
本示例中，测试主机用于连接被测SSD硬盘，查询SSD硬盘信息、保存日志文件与操作PDU电源控制器下发电源通断命令。若PDU电源控制器仅支持串口操作，那么测试主机需要连接串口到PDU电源控制器，通过程序下发命令控制。
执行主机用于运行自动化程序，也可以配置成远程定时触发自动化程序运行的服务器。
PDU控制器是掉电上电的工具，设置支持TCP网络连接，可以通过Telent或者SSH远程连接到此设备，并进行电源通断操作命令的下发。如果其仅支持串口连接，需要通过测试主机下发串口命令。每个PDU电源控制器支持多个slot的独立电源控制，支持同时并发操作，每个slot电源开关互不受影响，在搭建环境连接时，设置slot与电源一一对应。
电源是支持输入断点输出及断电，输入上电输出及通电的电源设备，电源的输出端与SSD硬盘的电源输入端连接，多块SSD硬盘可接到同一个电源上，电源输出功率与正常个人电脑输出功率相同，以保证SSD硬盘供电电压电流在正常值范围内。
温箱用于控制SSD硬盘所在封闭环境的温度，根据策略设置持续高温、持续低温或者是温循来验证不同温度下SSD硬盘的状态。
S200：检查自动测试环境，并获取自动测试环境下的被测SSD硬盘数据。
搭建好测试环境后，需要预配置测试环境内各结构的参数，如详细定义用来识别被测SSD硬盘的唯一标识，被测SSD硬盘的盘片数量，被测主机的IP信息，温箱控制器的IP信息和温箱配置的参数(指定温箱是持续高温、持续低温或者是温循)，PDU电源控制器的IP信息，以及需要掉电上电的PDU电源控制器的slot号，还包括需要指定测试的次数和测试的时间。
配置好参数后，检查所有IP设备连接是否正常，预设参数输入是否在正常范围内，检查所有被测SSD硬盘是否能找到，检查PDU电源控制器掉电上电是否正常。如果检查有异常，则收集异常日志，发送异常报告并停止测试。
如果检查成功，则获取该自动测试环境下的被测SSD硬盘数据，具体方法如图3所示：
S201：查找被测SSD硬盘的盘符号，读取SSD硬盘的初始状态信息。
查找被测SSD硬盘的盘符号，读取硬盘的smart和identity信息及测试主机信息，记录测试时间和次数。
S202：检查掉电上电日志记录与被测SSD硬盘初始连接的信息，检查被测SSD硬盘状态。
检查被测SSD硬盘盘符号是否与预期的名称和数量一致，检查硬盘的smart和identity信息是否在正常范围内，测试主机系统打印信息是否正常。如果是非第一次IO业务还要检查上一次掉电前写入数据读校验是否一致。若所有检查比较有任何异常进入日志收集模块，最后进入结束报告，完成测试。
S203：判断当前测试次数与测试时间是否小于预设值。
当检查SSD硬盘没有异常时，将当前测试次数与预期测试次数、当前测试时间与预期结束时间进行比较，判断当前测试次数与测试时间是否小于预设值，若小于预设值，则执行S204；若不小于预设值，则执行步骤S206，结束测试。
S204：配置温箱温度。
若当前测试次数与测试时间小于预设值，则设置温箱的参数，可以是恒温值，也可以是温循设置，使得被测SSD硬盘处于设定的温度环境中。
S205：控制温箱内的被测SSD硬盘下发IO业务，保存被测SSD硬盘写入数据。
设定温箱参数后，根据策略配置业务模型IO，可以是恒定一种模型，也可以根据需要设置随机模型保证所有IO模型都能被测试，然后运行IO业务，并检查IO业务运行正常，等待业务到达预设时间后，保存被测SSD硬盘状态与硬盘写入数据。
S206：结束测试。
若当前测试次数与测试时间大于预设值，则停止测试。
S300：在自动测试环境下，对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作。
通过PDU电源控制器控制电源闪断，且电源为输入断电输出及断电，输入上电输出及通电的设备，因此电源输入断电后，电源输出端也断电，使得被测SSD硬盘断电。闪断次数可为一次或多次，然后闪断停止，通过PDU电源控制器控制打开电源，对被测SSD硬盘进行上电。
S400：检测被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
对被测SSD硬盘进行闪断重启后，通过检测闪断前后被测SSD硬盘数据的一致性可测试出硬盘掉电保护机制是否正常，具体检测方法如图4所示：
S401：查找被测SSD硬盘的盘符号，读取SSD硬盘的状态信息。
查找被测SSD硬盘的盘符号，以保证闪断重启后的被测SSD硬盘与闪断前的被测SSD硬盘的盘符号一致，读取硬盘的smart和identity信息及测试主机信息。
S402：检查当前掉电上电日志记录与被测SSD硬盘连接的信息，检查被测SSD硬盘状态。
检查被测SSD硬盘盘符号是否与预期的名称和数量一致，检查硬盘的smart和identity信息是否在正常范围内，测试主机系统打印信息是否正厂。然后检查上一次掉电前写入数据读校验是否一致。若所有检查比较有任何异常进入日志收集模块，最后进入结束报告，完成测试。
S403：配置温箱温度。
当检查SSD硬盘没有异常时，设置温箱的参数，使得被测SSD硬盘处于闪断前的温度环境中。
S404：读取被测SSD硬盘闪断后的测试数据。
设定温箱参数后，根据策略配置业务模型IO，该IO模型与闪断前IO模型一致，然后运行IO业务，并检查UO业务运行正常，等待业务到达预设时间后，读取被测SSD硬盘闪断后的测试数据。
S405：判断被测SSD硬盘闪断前后测试数据是否一致。
将被测SSD硬盘闪断前保存的数据与闪断后读取的数据进行比较，判断被测SSD硬盘闪断前后数据是否一致，若一致，则说明SSD硬盘掉电保护机制正常。
本申请提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法，通过搭建包括执行主机、执行主机上的驱动程序、多台测试主机、多块被测试SSD硬盘、PDU电源控制器与可远程控制的高低温箱来对SSD硬盘进行自动测试，从而验证SSD硬盘掉电保护机制是否正常，从而实现了控制被测硬盘电源闪断、对硬盘状态监控、操作硬盘对其下发IO业务以及根据策略控制改变硬盘环境温度等功能，测试操作简单；且测试环境不仅限制一套测试主机，还可以搭建多套测试主机和多块被测硬盘，如此能实现并发测试，从而减少了人力，避免误操作；另外还可定制化掉电时间和硬盘压力程度，极大地提高了测试效率，保证了产品质量。
基于上述实施例所述的闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法，本申请实施例还提供了一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置。
如图5所示，本申请实施例提供的闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置包括：
环境搭建模块100，用于搭建自动测试环境，自动测试环境包括执行主机、执行主机上的驱动程序、多台测试主机、多块被测试SSD硬盘、PDU电源控制器与可远程控制的高低温箱，通过搭建该自动测试环境对SSD硬盘进行自动测试。
检查模块200，用于检查自动测试环境，并获取自动测试环境下的被测SSD硬盘数据。搭建好自动测试环境后，根据策略配置环境参数。本示例中，检查模块200包括：
第一检查子单元201，用于检查自动测试环境是否正常。配置好环境参数后，需要检查测试环境是否正常。
获取单元202，用于在自动测试环境下控制被测SSD硬盘下发IO业务，保存SSD硬盘写入数据。当测试环境正常时，控制被测SSD硬盘下发IO业务，获取被测SSD硬盘的写入数据。
闪断重启模块300，用于在自动测试环境下，对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作。控制被测SSD硬盘闪断，之后再重启。
检测模块400，用于检测被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。检测模块400包括：
第二检查子单元401，用于检查闪断后自动测试环境是否正常。被测SSD硬盘闪断重启后，需要再次检查闪断后自动测试环境是否正常。
读取单元402，用于读取被测SSD硬盘闪断后的测试数据。当闪断后自动测试环境正常时，在自动测试环境下控制被测SSD硬盘下发IO业务，读取被测SSD硬盘闪断后的数据。
检测单元403，用于判断被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。将被测SSD硬盘闪断前保存的写入数据与其闪断后读取的数据进行比较，判断两者是否一致，得到最终测试结果。
本申请通过搭建自动测试环境，实现了控制被测硬盘电源闪断、对硬盘状态监控、操作硬盘对其下发IO业务，以及根据策略控制改变硬盘环境温度等功能，可验证SSD硬盘掉电保护机制是否正常。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里发明的公开后，将容易想到本申请的其他实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由权利要求的内容指出。
以上所述的本申请实施方式并不构成对本申请保护范围的限定。
Claims (10)
1.一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
搭建自动测试环境；
检查所述自动测试环境，并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据；
在所述自动测试环境下，对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作；
检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，搭建自动测试环境包括：
分别搭建测试主机、执行主机、PDU电源控制器；
将所述测试主机与所述执行主机分别与所述PDU电源控制器连接；
将被测SSD硬盘分别与测试主机、电源连接，并将所述被测SSD硬盘放入温箱中。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，搭建自动测试环境，还包括：
预定义识别所述被测SSD硬盘的唯一标识；
预定义所述被测SSD硬盘的盘片数量；
预定义所述被测主机的IP信息；
预定义所述温箱的IP信息与所述温箱配置的参数；
预定义所述PDU电源控制器的IP信息；
预定义掉电上电的PDU电源控制器的slot号；
预定于测试次数与测试时间。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检查所述自动测试环境，包括：
检查所述测试主机、所述执行主机、所述PDU电源控制器、所述被测SSD硬盘、与所述电源之间的连接是否正常；
检查预配置的测试参数是否在正常范围内；
检查所有被测SSD硬盘是否能找到；
检查所述PDU电源控制器掉电上电是否正常；
若检查有异常，则收集异常日志，发送异常报告并停止测试。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据，包括：
查找所述被测SSD硬盘的盘符号，读取所述SSD硬盘的初始状态信息；
检查掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘初始连接的信息，检查所述被测SSD硬盘状态；
判断当前测试次数与测试时间是否小于预设值；
若当前测试次数与测试时间小于预设值，则配置所述温箱温度；
控制所述温箱内的被测SSD硬盘下发IO业务，保存所述被测SSD硬盘写入数据。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述自动测试环境下，对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作，包括：
通过所述PDU电源控制器控制所述电源闪断，以控制所述被测SSD硬盘掉电；
闪断多次后，通过所述PDU电源控制器控制打开所述电源。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性，包括：
查找所述被测SSD硬盘的盘符号，读取所述SSD硬盘的状态信息；
检查当前掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘连接的信息，检查所述被测SSD硬盘状态；
配置温箱温度；
读取所述温箱内所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据；
判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
8.一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置，其特征在于，包括：
环境搭建模块，用于搭建自动测试环境；
检查模块，用于检查所述自动测试环境，并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据；
闪断重启模块，用于在所述自动测试环境下，对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作；
检测模块，用于检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检查模块包括：
第一检查子单元，用于检查所述自动测试环境是否正常；
获取单元，用于在所述自动测试环境下控制所述被测SSD硬盘下发IO业务，保存所述SSD硬盘写入数据。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：
第二检查子单元，用于检查闪断后自动测试环境是否正常；
读取单元，用于读取所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据；
检测单元，用于判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911349771.0A CN111104275A (zh) | 2019-12-24 | 2019-12-24 | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911349771.0A CN111104275A (zh) | 2019-12-24 | 2019-12-24 | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111104275A true CN111104275A (zh) | 2020-05-05 |
Family
ID=70423996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201911349771.0A Pending CN111104275A (zh) | 2019-12-24 | 2019-12-24 | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111104275A (zh) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111782446A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN111897685A (zh) * | 2020-07-29 | 2020-11-06 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备 |
| CN112256535A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-01-22 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 硬盘告警方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN112486745A (zh) * | 2020-11-27 | 2021-03-12 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd安全掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN113434347A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-09-24 | 上海商米科技集团股份有限公司 | 一种移动终端的掉电自动化测试系统及方法 |
| CN113760623A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-12-07 | 深圳忆联信息系统有限公司 | 固态硬盘tcg协议功能测试方法、装置及计算机设备 |
| CN114860528A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-08-05 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种NVMe SSD Nand可靠性测试方法及系统 |
| CN116665758A (zh) * | 2023-05-06 | 2023-08-29 | 深圳市晶存科技有限公司 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
| CN111782446B (zh) * | 2020-06-30 | 2024-09-24 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110427289A (zh) * | 2019-07-31 | 2019-11-08 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 自动测试ssd掉电对数据一致性影响的方法及装置 |
-
2019
- 2019-12-24 CN CN201911349771.0A patent/CN111104275A/zh active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110427289A (zh) * | 2019-07-31 | 2019-11-08 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 自动测试ssd掉电对数据一致性影响的方法及装置 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 李思思等: "固态盘测试系统的设计与实现" * |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111782446B (zh) * | 2020-06-30 | 2024-09-24 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN111782446A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN111897685A (zh) * | 2020-07-29 | 2020-11-06 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备 |
| CN112256535A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-01-22 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 硬盘告警方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN112256535B (zh) * | 2020-10-20 | 2023-08-22 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 硬盘告警方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN112486745A (zh) * | 2020-11-27 | 2021-03-12 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd安全掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN113434347A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-09-24 | 上海商米科技集团股份有限公司 | 一种移动终端的掉电自动化测试系统及方法 |
| CN113434347B (zh) * | 2021-06-25 | 2023-02-07 | 上海商米科技集团股份有限公司 | 一种移动终端的掉电自动化测试系统及方法 |
| CN113760623A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-12-07 | 深圳忆联信息系统有限公司 | 固态硬盘tcg协议功能测试方法、装置及计算机设备 |
| CN114860528A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-08-05 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种NVMe SSD Nand可靠性测试方法及系统 |
| CN114860528B (zh) * | 2022-05-30 | 2024-05-31 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种NVMe SSD Nand可靠性测试方法及系统 |
| CN116665758B (zh) * | 2023-05-06 | 2024-05-07 | 深圳市晶存科技有限公司 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
| CN116665758A (zh) * | 2023-05-06 | 2023-08-29 | 深圳市晶存科技有限公司 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111104275A (zh) | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 | |
| US10387239B2 (en) | Detecting memory failures in the runtime environment | |
| CN102568522B (zh) | 硬盘性能的测试方法和装置 | |
| TWI552158B (zh) | 用於測試記憶體之系統與方法 | |
| CN111081309B (zh) | 固态硬盘测试系统 | |
| CN115035946A (zh) | 一种可扩展的NVMe固态硬盘测试系统 | |
| US11221933B2 (en) | Holdup self-tests for power loss operations on memory systems | |
| CN111653307A (zh) | 固态硬盘的数据完整性检测方法、系统、设备及存储介质 | |
| CN109509508A (zh) | 一种ssd的异常掉电测试方法、装置、介质及设备 | |
| CN111737051B (zh) | 一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统 | |
| CN110618892A (zh) | 一种固态硬盘的bug定位方法、装置、电子设备及介质 | |
| CN115083510B (zh) | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 | |
| CN114138587B (zh) | 服务器电源固件升级的可靠性验证方法、装置和设备 | |
| CN117012258A (zh) | 一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质 | |
| CN116719668A (zh) | 一种NVMe固态硬盘组RAID的自动化测试方法及测试系统 | |
| CN111897685B (zh) | 掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备 | |
| CN107807870B (zh) | 一种存储服务器主板掉电保护功能的测试方法和系统 | |
| CN109741786A (zh) | 一种固态硬盘监控方法、装置及设备 | |
| CN113851180A (zh) | 检测ssd备电可靠性的系统、测试治具及ssd | |
| CN113204456A (zh) | 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备 | |
| CN112445670B (zh) | 一种eMMC测试方法和装置 | |
| CN110853695A (zh) | 一种测试nvram存储性能的方法 | |
| TW201301034A (zh) | 資料儲存測試系統及方法 | |
| CN114420194A (zh) | 固态硬盘掉电保护功能的测试方法、装置及计算机设备 | |
| CN114461458A (zh) | 服务器内存测试方法、系统、终端及存储介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200505 |