CN116665758A - 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 - Google Patents
硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116665758A CN116665758A CN202310505124.4A CN202310505124A CN116665758A CN 116665758 A CN116665758 A CN 116665758A CN 202310505124 A CN202310505124 A CN 202310505124A CN 116665758 A CN116665758 A CN 116665758A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- hard disk
- partition
- data
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 197
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 112
- 238000013524 data verification Methods 0.000 claims abstract description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 3
- 238000013403 standard screening design Methods 0.000 description 25
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002688 persistence Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000012372 quality testing Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C29/56016—Apparatus features
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
本申请公开了硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，其中，硬盘数据测试方法包括：基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验；在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，第二分区为空；在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试；当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验。根据本申请的技术方案，能够适用于各种类型的硬盘，通过提供不同的测试环境，提高对硬盘测试的准确性。
Description
技术领域
本申请涉及数据处理技术领域，尤其是一种硬盘数据测试方法、装置、系统及介质。
背景技术
硬盘是电脑主要的存储媒介之一，硬盘包括固态硬盘、机械硬盘和混合硬盘，硬盘在设计时要考虑硬盘的性能和擦除损耗等方面的影响，因此在将产品送至客户手中之前，需要对硬盘进行速度测试、质量测试等测试过程，以避免出现硬盘质量问题。
目前在硬盘尤其是工业固态硬盘的测试方面，大部分测试方法主要通过常规市售的测试软件，针对硬盘在系统下的性能表现进行测试并读取相应的数据。但是，其忽视了硬盘本身存储信息类型不同的问题。同时，现有的测试方法只是进行简单的数据层面的模拟与对比，无法对不同的数据类型进行区分对比。因此，相关技术对于硬盘的测试流程过于简单，导致对不同类型的硬盘筛选效果不好，无法对各种类型的硬盘进行测试。
发明内容
本申请实施例提供了一种硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，适用于各种类型的硬盘，通过提供不同的测试环境，提高对硬盘测试的准确性。
第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘数据测试方法，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；
在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验；
在所述目标硬盘通过数据校验的情况下，对所述目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；
基于第二测试软件对所述第一分区进行数据写入操作，所述第二分区为空；
在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试；
当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对所述第一分区进行数据校验。
在一些实施例中，所述在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试，包括：
将所述温箱中的温度调节为第一预设温度，在所述第一预设温度下对所述第一分区进行断电烘烤测试；
在经过预设的第一测试周期后，将所述第一分区从所述温箱取出，并在常温下基于所述第二测试软件对所述第一分区的数据进行数据校验；
在所述第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试。
在一些实施例中，所述基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试，包括：
将所述温箱中的温度调节为第二预设温度，基于所述第三测试软件在所述第二预设温度下对所述第二分区进行随机数写入操作，记录所述第二分区的随机数据；
在经过预设的第二测试周期后，对所述随机数据进行满盘擦写操作。
在一些实施例中，所述在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验，包括：
将所述温箱中的温度调节为第三预设温度，在所述第三预设温度下对所述目标硬盘进行断电烘烤测试；
在经过预设的第三测试周期后，将所述目标硬盘从所述温箱中取出，并在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验。
在一些实施例中，所述第一测试软件为fio软件，所述第二测试软件为H2test软件，所述第三测试软件为BIT测试软件；还包括：
当接收到所述H2test软件输出的所述第一分区进行第一高温测试通过的信息，调用所述BIT测试软件并按照预设参数设置所述BIT测试软件中的测试参数。
在一些实施例中，还包括：
对所述目标硬盘的数据校验、第一高温测试以及第二高温测试的过程进行记录，生成硬盘日志信息。
在一些实施例中，还包括：
当第一高温测试和第二高温测试中任意一个测试结果为未通过，确定测试异常信息；
将所述测试异常信息添加至所述硬盘日志信息。
第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘数据测试方法。
第三方面，本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试系统，包括温箱以及如第二方面所述的硬盘数据测试装置。
第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘数据测试方法。
本申请实施例至少有如下有益效果：首先，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作，在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验，从而能够得到目标硬盘在断电或者故障场景下数据的完整性和持久性，之后在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区，能够灵活地验证第一分区和第二分区，避免分区的相互影响，再基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，并对第二分区不操作，使得第二分区为空，实现针对不同分区的校验，提高校验的可靠性，最后在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试，实现在不同测试环境下对目标硬盘的校验，能够覆盖多种测试场景，当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验，提高目标硬盘的数据可靠性以及完整性，提高目标硬盘的稳定性。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1是本发明一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图；
图2是图1中步骤S105的具体方法的流程图；
图3是图2中步骤S203的具体方法的流程图；
图4是图1中步骤S102的具体方法的流程图；
图5是本发明另一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图；
图6是本申请一个实施例提供的硬盘数据测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要注意的是，在本发明实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
目前在硬盘尤其是工业固态硬盘的测试方面，大部分测试方法主要通过常规市售的测试软件，针对硬盘在系统下的性能表现进行测试并读取相应的数据。但是，其忽视了硬盘本身存储信息类型不同的问题。同时，现有的测试方法只是进行简单的数据层面的模拟与对比，无法对不同的数据类型进行区分对比。因此，相关技术对于硬盘的测试流程过于简单，导致对不同类型的硬盘筛选效果不好，无法对各种类型的硬盘进行测试，在日常应用硬盘的过程中，可能会遇到常会遇到恶劣的工况，包括：高温、低温、振动、潮湿、异常掉电、电压不稳等等情况，因此对提高硬盘的稳定性，并且保证硬盘存储数据的完整性变得尤为重要。
为了解决上述问题，本发明提供了一种硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，首先，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作，在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验，从而能够得到目标硬盘在断电或者故障场景下数据的完整性和持久性，之后在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区，能够灵活地验证第一分区和第二分区，避免分区的相互影响，再基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，并对第二分区不操作，使得第二分区为空，实现针对不同分区的校验，提高校验的可靠性，最后在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试，实现在不同测试环境下对目标硬盘的校验，能够覆盖多种测试场景，当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验，提高目标硬盘的数据可靠性以及完整性，提高目标硬盘的稳定性。
下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。
参考图1，图1是本发明一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图，该硬盘数据测试方法包括但不限于有步骤S101至步骤S106。
步骤S101：基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；
在一些实施例的步骤S101中，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作，其中，第一测试软件为fio(Flexible Input/Output Tester and Benchmark，灵活的输入/输出测试和基准测试工具)软件，设置fio软件的读写操作的大小为128k，并且按照顺序写入的方式对目标硬盘整盘进行数据写入操作，从而便于模拟多种真实环境下硬盘的负载情况，评估目标硬盘的存储性能。
步骤S102：在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验；
在一些实施例的步骤S102中，在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验，从而测试得到目标硬盘在特定场下的存储性能、使用寿命等，便于后续对不同场景下的目标硬盘进行测试，可以模拟用户使用过程中非法断电对硬盘造成的影响，提高硬盘极限使用情况下的损耗模拟。
需要说明的是，SSD的断电烘烤测试是一种测试方法，用于检测SSD在突然断电或电源故障场景下，数据的完整性和持久性。测试中，SSD被先进行一次正常的工作负载测试，然后突然切断电源并将其置于高温环境中，一般为40℃～60℃之间，测试时间持续数小时至数天。断电烘烤测试可以模拟发生突然断电或电源故障情况下，SSD电源无法正确关闭导致的数据丢失或损坏。在测试期间，经过高温烘烤后，SSD应当能够正常启动并展现先前的数据完整性，证明其在断电情况下拥有较高的数据持久性。
值得注意的是，对目标硬盘进行数据校验的校验操作包括但不限于包括对数据的IOPS(Input/Output Operations Per Second，每秒输入/输出操作数)指标、延迟指标、吞吐量指标、带宽指标等等。
步骤S103：在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；
在一些实施例的步骤S103中，在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作，并对目标硬盘进行分区操作，得到第一分区和第二分区，从而能够灵活地验证第一分区和第二分区，避免分区的相互影响，便于每个分区的数据的备份和恢复，提高数据的存储效率。
可以理解的是，目标硬盘通过数据校验的情况包括上述的各项指标均通过预设的目标值。
步骤S104：基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，第二分区为空；
在一些实施例的步骤S104中，基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，第二分区为空，便于后续对第一分区以及第二分区分别进行校验，提高数据校验的完整性。
需要说明的是，第二测试软件为H2test软件，通过第二测试软件将第一分区写满，并对第二分区不操作，保持第二分区为空。
步骤S105：在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试；
在一些实施例的步骤S105中，在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试，从而可以模拟极限环境温度，测试硬盘在高低温环境下能否正常工作，避免主控带来的影响，实现对硬盘的全面检测。
步骤S106：当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验。
在一些实施例的步骤S106中，当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验，从而能够在经历过多种测试环境下，对第一分区进行校验以提高目标硬盘的数据可靠性以及完整性，提高目标硬盘的稳定性。
需要说明的是，第一高温操作和第二高温操作结果都通过包括但不限于包括读写速度正常、数据完整、读写正确、延迟指标通过、吞吐量指标正常等，本实施例不做具体限制。
可以理解的是，在对目标硬盘进行数据测试的过程中，可以以三件硬盘为一组进行测试、五件硬盘为一组进行测试或者六件硬盘为一组进行测试，本实施例中为五件硬盘为一组进行测试。
参照图2，图2是图1中步骤S105的一种具体方法流程图，是对步骤S105的进一步说明，步骤S103包括但不限于步骤S201至步骤S203。
步骤S201：将温箱中的温度调节为第一预设温度，在第一预设温度下对第一分区进行断电烘烤测试；
步骤S202：在经过预设的第一测试周期后，将第一分区从温箱取出，并在常温下基于第二测试软件对第一分区的数据进行数据校验；
步骤S203：在第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对第二分区进行随机擦写测试。
在一些实施例的步骤S201至步骤S203中，将温箱中的温度调节为第一预设温度，在第一预设温度下对第一分区进行断电烘烤测试，从而能够得到在第一预设温度情形下数据的完整性和持久性，在经过第一测试周期后，将第一分区从温箱取出，并在常温下基于第二测试软件对第一分区的数据进行数据校验，并且在第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对第二分区进行随机擦写，实现在不同测试环境下对目标硬盘的校验，能够覆盖多种测试场景，以确保目标硬盘的性能和寿命。
需要说明的是，SSD中40度2年标准是指SSD在40℃条件下，持续使用2年的可靠性标准。在40℃的环境中，SSD的内部温度会更高，会有一定程度的加速老化，并可能影响SSD的性能和寿命。因此，制造商需要对SSD在不同温度条件下的使用寿命进行测试和评估，以确保其可靠性和稳定性。然而，值得注意的是，在不同的使用环境下(如温度、湿度等条件)，SSD的寿命和可靠性会不同，用户需要根据不同的使用环境，选择合适的SSD，并遵循制造商的使用和维护建议，以确保SSD的性能和寿命。
值得注意的是，通过第二测试软件对第一分区进行数据校验包括但不限于包括对第一分区的读写速度、容量、坏道信息以及数据完整性进行校验，本实施例不做具体限制。
参照图3，图3是图2中步骤S203的一种具体方法流程图，是对步骤S203的进一步说明，步骤S203包括但不限于步骤S301至步骤S302。
步骤S301：将温箱中的温度调节为第二预设温度，基于第三测试软件在第二预设温度下对第二分区进行随机数写入操作，记录第二分区的随机数据；
步骤S302：在经过预设的第二测试周期后，对随机数据进行满盘擦写操作。
在一些实施例的步骤S301至步骤S302中，将温箱中的温度调节为第二预设温度，同时基于第三测试软件在第二预设温度下对第二分区进行随机数写入操作，并记录第二分区的随机数据，在经过预设的第二测试周期后，对随机数据进行满盘擦写操作，从而确定目标硬盘的性能和耐用性，实现在不同测试环境下对目标硬盘的校验，提高目标硬盘的性能。
需要说明的是，第三测试软件为BIT软件，本实施例中的第二预设温度可以为70摄氏度、75摄氏度、72摄氏度，第二测试周期可以为八天、九天、十天，本实施例中的第二预设温度为70摄氏度，第二测试周期为十天，本实施例对此不做具体限制。
可以理解的是，本实施例中的BIT+random模式测试是一种测试SSD闪存芯片的性能和可靠性的方法。通过对第二分区进行随机数写入操作以及满盘擦写操作来确定闪存芯片是否正常工作。并且测试过程中还使用随机数据来模拟实际使用情况下的读写操作，从而排除闪存芯片中的缺陷，以确保产品的一致性和可靠性。测试还可以帮助用户确定SSD的性能和耐用性，以及检测任何可能出现的问题。
值得注意的是，在进行随机擦写测试期间，利用BIT测试软件在一定的时间内对目标硬盘的第二分区进行不间断的满盘擦写，并观察测试期间是否有芯片出现问题，即，随机数据会被写入SSD的第二分区中，然后被读回。这个过程会重复多次，以模拟实际使用情况下的操作。如果读写操作中出现错误或数据不一致，就会表明闪存芯片存在问题。
参照图4，图4是图1中步骤S102的一种具体方法流程图，是对步骤S102的进一步说明，步骤S102包括但不限于步骤S401至步骤S402。
步骤S401：将温箱中的温度调节为第三预设温度，在第三预设温度下对目标硬盘进行断电烘烤测试；
步骤S402：在经过预设的第三测试周期后，将目标硬盘从温箱中取出，并在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验。
在一些实施例的步骤S401至步骤S402中，按照SSD的40度3年标准进行数据校验，将温箱中的温度调节为40摄氏度，并在40摄氏度下对目标硬盘进行断电烘烤测试，再经过预设的第三测试周期后，将目标硬盘从温箱中取出，在常温下对经过断电烘烤测试的目标硬盘的数据进行数据校验，从而能够得到目标硬盘在第三预设温度以及第三测试周期下的数据完成性和持久性，提高硬盘的稳定性。
需要说明的是，SSD中40度3年标准是指，SSD在40摄氏度条件下，持续使用3年的可靠性标准。这个标准是固态硬盘制造商用于评估SSD的可靠性和寿命的指标之一。在40摄氏度的环境中，SSD的内部温度会更高，会有一定程度的加速老化，并且可能会影响SSD的性能和寿命。因此，本实施例能够对SSD在不同温度条件下的使用寿命进行测试和评估，确保其可靠性和稳定性。
在一些实施例中，第一测试软件为fio软件，第二测试软件为H2test软件，第三测试软件为BIT测试软件；还包括：当接收到H2test软件输出的第一分区进行第一高温测试通过的信息，调用BIT测试软件并按照预设参数设置BIT测试软件中的测试参数，从而实现对目标硬盘的全面校验，提高目标硬盘的数据完整性，实现在不同的测试环境下对目标硬盘的测试，能够测试不同种类的硬盘。
需要说明的是，H2test软件可以用来测试U盘、SD卡、TF卡、硬盘、SSD等存储设备的读写速度、容量、坏道、以及数据完整性等。H2test软件测试完成后，会显示测试结果。如果存储设备的容量和测试出的容量差别较小，测试速度也比较接近存储设备的宣传速度，且没有出现错误信息，则存储设备的品质较好；如果测试结果与宣传容量相差较大、测试速度偏慢或出现坏块信息，则存储设备可能存在质量问题。当接收到H2test软件输出的第一分区进行第一高温测试通过的信息，直接调用BIT测试软件并按照预设参数设置BIT测试软件中的测试参数，以便于后续对第二分区进行随机写入测试，实现对目标硬盘的全面覆盖测试。
可以理解的是，测试参数包括测试次数、测试周期、测试温度等等。
参照图5，图5是本发明另一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图，该硬盘数据测试方法包括但不限于有步骤S501至步骤S502。
步骤S501：当第一高温测试和第二高温测试中任意一个测试结果为未通过，确定测试异常信息；
步骤S502：将测试异常信息添加至硬盘日志信息。
在一些实施例的步骤S501至步骤S502中，当第一高温测试和第二高温测试中任意一个测试结果为未通过，确定未通过的测试结果对应的测试异常信息，并将测试异常信息添加至硬盘日志信息中，从而可以有效筛选出异常硬盘，便于测试人员查看当前硬盘在哪个测试环节未通过，能够实现快速测试结果追溯。同时，能够便捷化的查看测试结果，便于统计后送往生产前端来进行排查，也可以导出数据进行相应的建档。
需要说明的是，测试异常信息包括但不限于包括读写速度异常、坏道信息异常、数据缺失、读写错误、数据不一致等情况，本实施例不做具体限制。
本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试装置，硬盘数据测试装置包括：存储器、处理器、存储在存储器上并可在处理器上运行的程序以及用于实现处理器和存储器之间的连接通信的数据总线，程序被处理器执行时实现上述硬盘数据测试方法。
请参阅图6，图6示意了另一实施例的硬盘数据测试装置的硬件结构，硬盘数据测试装置包括：
处理器1001，可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；
存储器1002，可以采用只读存储器(Read Only Memory，ROM)、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的硬盘数据测试方法；
输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；
通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信；
总线1005，在设备的各个组件(例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004)之间传输信息；
其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。
在一些实施例中，本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试系统，包括温箱以及硬盘数据测试装置，具有如上硬盘数据测试装置带来的有益效果，本实施对此不再赘述。
此外，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述系统实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的硬盘数据测试方法。
本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，图1-5中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。
Claims (10)
1.一种硬盘数据测试方法，其特征在于，包括：
基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；
在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验；
在所述目标硬盘通过数据校验的情况下，对所述目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；
基于第二测试软件对所述第一分区进行数据写入操作，所述第二分区为空；
在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试；
当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对所述第一分区进行数据校验。
2.根据权利要求1所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试，包括：
将所述温箱中的温度调节为第一预设温度，在所述第一预设温度下对所述第一分区进行断电烘烤测试；
在经过预设的第一测试周期后，将所述第一分区从所述温箱取出，并在常温下基于所述第二测试软件对所述第一分区的数据进行数据校验；
在所述第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试。
3.根据权利要求2所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试，包括：
将所述温箱中的温度调节为第二预设温度，基于所述第三测试软件在所述第二预设温度下对所述第二分区进行随机数写入操作，记录所述第二分区的随机数据；
在经过预设的第二测试周期后，对所述随机数据进行满盘擦写操作。
4.根据权利要求1所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验，包括：
将所述温箱中的温度调节为第三预设温度，在所述第三预设温度下对所述目标硬盘进行断电烘烤测试；
在经过预设的第三测试周期后，将所述目标硬盘从所述温箱中取出，并在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验。
5.根据权利要求2所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述第一测试软件为fio软件，所述第二测试软件为H2test软件，所述第三测试软件为BIT测试软件；还包括：
当接收到所述H2test软件输出的所述第一分区进行第一高温测试通过的信息，调用所述BIT测试软件并按照预设参数设置所述BIT测试软件中的测试参数。
6.根据权利要求1所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，还包括：
对所述目标硬盘的数据校验、第一高温测试以及第二高温测试的过程进行记录，生成硬盘日志信息。
7.根据权利要求6所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，还包括：
当第一高温测试和第二高温测试中任意一个测试结果为未通过，确定测试异常信息；
将所述测试异常信息添加至所述硬盘日志信息。
8.一种硬盘数据测试装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的硬盘数据测试方法。
9.一种硬盘数据测试系统，其特征在于，包括温箱以及如权利要求8所述的硬盘数据测试装置。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至7任意一项所述的硬盘数据测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310505124.4A CN116665758B (zh) | 2023-05-06 | 2023-05-06 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310505124.4A CN116665758B (zh) | 2023-05-06 | 2023-05-06 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116665758A true CN116665758A (zh) | 2023-08-29 |
| CN116665758B CN116665758B (zh) | 2024-05-07 |
Family
ID=87718107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310505124.4A Active CN116665758B (zh) | 2023-05-06 | 2023-05-06 | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116665758B (zh) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109285583A (zh) * | 2018-09-11 | 2019-01-29 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 | Nand闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法 |
| CN110825569A (zh) * | 2019-10-13 | 2020-02-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种硬盘稳定性测试方法及测试系统 |
| CN110992992A (zh) * | 2019-10-31 | 2020-04-10 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种硬盘测试方法、设备以及存储介质 |
| CN111104275A (zh) * | 2019-12-24 | 2020-05-05 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 |
-
2023
- 2023-05-06 CN CN202310505124.4A patent/CN116665758B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109285583A (zh) * | 2018-09-11 | 2019-01-29 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 | Nand闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法 |
| CN110825569A (zh) * | 2019-10-13 | 2020-02-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种硬盘稳定性测试方法及测试系统 |
| CN110992992A (zh) * | 2019-10-31 | 2020-04-10 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种硬盘测试方法、设备以及存储介质 |
| CN111104275A (zh) * | 2019-12-24 | 2020-05-05 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116665758B (zh) | 2024-05-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102568522B (zh) | 硬盘性能的测试方法和装置 | |
| CN112331253B (zh) | 一种芯片的测试方法、终端和存储介质 | |
| CN116340076B (zh) | 硬盘性能测试方法、装置及介质 | |
| CN107391333B (zh) | 一种osd磁盘故障测试方法及系统 | |
| US20110276845A1 (en) | Methods, apparatus and articles of manufacture to diagnose temperature-induced memory errors | |
| CN116662214B (zh) | 基于fio的硬盘垃圾回收方法、装置、系统及介质 | |
| CN105573676B (zh) | 一种存储系统中验证数据一致性的方法 | |
| CN112466382A (zh) | 一种raid阵列的巡检方法和装置 | |
| CN114283868A (zh) | 闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| CN116665758B (zh) | 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质 | |
| CN115206405A (zh) | 固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质 | |
| US9507690B2 (en) | Method and device for analyzing an execution of a predetermined program flow on a physical computer system | |
| CN117290165A (zh) | 一种芯片测试的方法、系统、装置及存储介质 | |
| CN110532139A (zh) | 预警方法及装置 | |
| CN113625957B (zh) | 一种硬盘故障的检测方法、装置及设备 | |
| CN112084097B (zh) | 一种磁盘告警方法及装置 | |
| CN111209146B (zh) | 一种raid卡老化测试方法及系统 | |
| CN113836152A (zh) | 一种高效率数据一致性校验方法、装置及存储介质 | |
| CN116719675B (zh) | 硬盘磨损测试方法、装置及介质 | |
| CN112783701A (zh) | 一种kvm系统的usb功能测试方法、装置和设备 | |
| CN111188782A (zh) | 一种风扇冗余测试方法、装置和计算机可读存储介质 | |
| CN116483641B (zh) | 硬盘异常掉电测试方法、系统及介质 | |
| CN116844627B (zh) | 硬盘掉电测试方法、系统及介质 | |
| CN109739702A (zh) | 硬盘自动化检测方法 | |
| CN111352819A (zh) | 一种重删性能检测方法、装置及其相关设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |