CN115206405A - 固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。该固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

Description

固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。

背景技术

目前，SSD(Solid State Drive，固态硬盘)已经被广泛应用于各种场合，由于其在性能、功耗、环境适应性等方面的优秀指标，正逐步替换传统的硬盘。固态硬盘的性能测试是固态硬盘出厂前必须经过的环节，如何提高测试效率是现在各大固态硬盘厂商待以解决的问题。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质，能够结合真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

本申请采用的一种技术方案是提供一种固态硬盘的测试方法，方法包括：对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。

进一步地，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标，包括：在待测固态硬盘处于裸盘状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：对待测固态硬盘进行K次写入/删除操作，K＝1，2，……。其中，在第M次进行写入/删除操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入/删除操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。其中，写入/删除操作包括对待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态，删除待测固态硬盘的所有数据，以使得待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：对待测固态硬盘进行K次写入操作，向待测固态硬盘写入预设容量的数据，K＝1，2，……。其中，在第M次进行写入操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

进一步地，在对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标之前，包括：判断待测固态硬盘是否支持写缓存功能。若是，则获取待测固态硬盘的初始写缓存状态。

进一步地，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标，包括：在待测固态硬盘处于初始写缓存状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

进一步地，改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标包括：交替改变K次待测固态硬盘的写缓存状态，K＝1，2，……。其中，在第M次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。其中，第一次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与初始写缓存状态相反。

进一步地，基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况包括：若第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的第一性能指标，M＝1,2，……，K。确定待测固态硬盘的性能没有跌落。

进一步地，基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况包括：在K个第二性能指标中，若对应相同写缓存状态的第二性能指标的波动率不超过预设阈值，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落。

进一步地，第一性能指标或第二性能指标包括带宽和/或每秒进行读写操作的次数和/或时延。

本申请采用的另一种技术方案是提供一种测试装置，测试装置用于连接待测固态硬盘以对待测固态硬盘进行测试，测试装置包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述固态硬盘的测试方法的步骤。

本申请采用的另一种技术方案是提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述固态硬盘的测试方法的步骤。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供的固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案改变固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数之后的固态硬盘的性能进行测试，得到固态硬盘性能的变化情况，进而能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本申请提供的固态硬盘的测试方法第一实施例的流程示意图；

图2是本申请提供的固态硬盘的测试方法第二实施例的流程示意图；

图3是本申请提供的固态硬盘的测试方法第三实施例的流程示意图；

图4是本申请提供的固态硬盘的测试方法第四实施例的流程示意图；

图5是本申请提供的测试装置一实施例的结构示意图；

图6是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

固态硬盘的IOPS(Input/Output Operations Per Second，每秒进行读写的操作次数)及BW(Bandwidth带宽)等参数决定了固态硬盘的性能高低，IOPS、BW的数值越大，固态硬盘的性能就越高。现有技术中，固态硬盘的性能通常是在Linux系统下利用FIO测试获得的，在获得固态硬盘的性能数据后，需人工将其性能数据拷贝至Linux系统或者其他操作系统下，再人工将该性能数据整理成图表进行分析。由此可知，在Linux系统下获得固态硬盘的性能数据后，需要耗费较多的人工时间对该性能数据进行整理、分析，导致固态硬盘的测试效率较低。

基于此，本申请发明人提供一种固态硬盘的测试方法，该方法能自动对固态硬盘进行测试，提高测试效率。

另外，本申请提供的固态硬盘的测试方法通过改变固态硬盘的工作参数，改变固态硬盘的工作状态，并在改变固态硬盘的工作状态之后，对其进行性能测试，并分析固态硬盘的性能改变情况。因此，本申请提供的固态硬盘的测试方法能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

参阅图1，图1是本申请提供的固态硬盘的测试方法第一实施例的流程示意图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

S101：搭建测试环境。

在本实施例中，可以对多种固态硬盘进行测试，例如SATA硬盘和NMVe硬盘。在明确了待测试固态硬盘的类型之后，选择与待测试固态硬盘匹配的Linux系统及主机，以利用该Linux系统及主机对待测试固态硬盘进行性能测试。

在本实施例中，针对每个测试用例搭建运行环境，编写测试脚本。具体地，为了有效地测试待测固态硬盘的性能，本实施例可以提前配置多个测试用例，每个测试用例均可以测试待测固态硬盘的一个性能。在测试用例测试待测固态硬盘之前，待测固态硬盘安装至服务器中，然后通过多个测试用例分别测试待测固态硬盘，每个测试过程均得到一个测试结果，该测试结果相应地体现了待测固态硬盘的性能。

具体地，每个测试用例都可以对应一个测试脚本。本实施例中，可以基于Linux系统下的IOPS、待测固态硬盘的读延迟或者待测固态硬盘的带宽测试工具fio搭建运行环境。fio工具中的每个测试任务都是独立的。待测固态硬盘具有多个性能，共同影响待测固态硬盘的整体性能。比如，待测固态硬盘的带宽，是指用于传输数据的总线所能提供的数据传输能力。待测固态硬盘的IOPS，是指待测固态硬盘每秒可接受多少次主机发出的访问，用来衡量随机访问的性能。待测固态硬盘的读延迟，主机需要从待测固态硬盘中获取已经落地的数据返回到主机或者缓存中，这个过程中的延迟就是读延迟。待测固态硬盘还包括其他性能，本申请在此不作详细地介绍。

在本实施例中，可以对待测固态硬盘进行测试前的预处理，具体地，判断待测固态硬盘是否已经挂载，如已挂载，则执行卸载操作，卸载完成后执行格式化并挂载到指定目录。

S102：对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

在本实施例中，可以对待测固态硬盘的IOPS性能、待测固态硬盘的读延迟性能或者待测固态硬盘的带宽性能进行测试，用户可根据需求指定性能测试类型。可选地，在执行步骤S103之前，可以判断性能测试是否成功，若成功，则执行步骤S103，若失败，则写入错误日志中并退出测试。

S103：改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。

在本实施例中，改变待测固态硬盘的工作参数相当于为待测固态硬盘营造出多个工作场景，在这些工作场景中，待测固态硬盘的性能可能会发生变化，从而从多个工作场景全方位考察待测固态硬盘的性能。

在本实施例中，改变待测固态硬盘的工作参数，也相当于改变待测固态硬盘的状态，如满盘状态。

S104：基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。

综上，本实施例提供的固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案改变固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数之后的固态硬盘的性能进行测试，得到固态硬盘性能的变化情况，进而能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

参阅图2，图2是本申请提供的固态硬盘的测试方法第二实施例的流程示意图。如图2所示，该方法包括以下步骤：

S201：搭建测试环境。

S202：在待测固态硬盘处于裸盘状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

在本实施例中，裸盘状态表示待测固态硬盘没有存储任何数据的状态，也可以称为空盘状态。

S203：对待测固态硬盘进行K次写入/删除操作，K＝1，2，……。

随着K值的变化，对待测固态硬盘进行不同次数的写入/删除操作，例如，当K＝5时，即对待测固态硬盘进行5次写入/删除操作，在此不做过多叙述。

写入/删除操作包括对待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态，删除待测固态硬盘的所有数据，以使得待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。

在本实施例中，满盘状态与裸盘状态相对，表示待测固态硬盘的写满数据的状态。

具体地，一些固态硬盘在执行满盘随机写后，全盘动态SLC Cache可能会失效，删除文件数据再测试性能可能会触发固件后台进行GC操作和TRIM操作，持续写入数据可能会触发SLC cache进行数据搬移，对于有固定次数的小容量动态SLC Cache，达到固定次数后动态SLC Cache可能会失效。总的来说，一些固态硬盘在进行了多次写入/删除操作之后，性能可能会下降。因此，有必要在对待测固态硬盘进行性能测试时，测试待测固态硬盘在进行了多次写入/删除操作之后性能的下降情况。

在本实施例中，在第M次进行写入/删除操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入/删除操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

具体地，对待测固态硬盘进行一次写入/删除操作后，即进行一次性能测试，也即写入/删除操作的次数与性能测试的次数相同。例如，当K＝5时，即对待测固态硬盘进行5次写入/删除操作，则每进行一次写入/删除操作，则进行一次对应的性能测试。而每进行一次性能测试，可以得到一个对应的第二性能指标，因此可以得到5个第二性能指标。

值得注意的是，步骤S203所进行的性能测试类型应与步骤S202所执行的性能测试类型相同，例如，步骤S202所执行的性能测试为带宽性能测试，则步骤S203也将执行带宽性能测试。

可选地，在执行写入/删除操作时，在对待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态之后，判断是否执行成功，若执行失败，则写入错误日志中并退出测试。若执行成功，则删除待测固态硬盘的所有数据，以使得待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。具体地，通过对待测固态硬盘进行检验测试预设时间段，以判断执行是否成功。

可选地，在进行第M次性能测试之后，判断第M次性能测试是否成功，性能测试失败则将错误信息写入错误日志中并退出测试，性能测试成功则将性能测试结果即第M个第二性能指标保存到日志中。

S204：判断第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标是否大于预设比例的第一性能指标，M＝1,2，……，K。

S205：若第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落，M＝1,2，……，K。

例如，当K＝10时，若经过10次写入/删除操作后，得到的10个第二性能指标均大于90％的第一性能指标，则确定在经过多次写入/删除操作之后，待测固态硬盘的性能没有跌落。反之，若有1个第二性能指标小于90％的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能发生跌落现象。

本实施例提供的固态硬盘的测试方法通过反复多次对待测固态硬盘进行写入/删除操作，改变待测固态硬盘的工作参数，进而改变待测固态硬盘的工作场景，并对改变工作场景的待测固态硬盘进行性能检测，判断待测固态硬盘的性能跌落情况。

在另一实施方式中，参阅图3，图3是本申请提供的固态硬盘的测试方法第三实施例的流程示意图。如图3所示，该方法包括以下步骤：

S301：搭建测试环境。

S302：在待测固态硬盘处于裸盘状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

S303：对待测固态硬盘进行K次写入操作，向待测固态硬盘写入预设容量的数据，K＝1，2，……。

随着K值的变化，对待测固态硬盘进行不同次数的写入操作，例如，当K＝5时，即对待测固态硬盘进行5次写入操作，在此不做过多叙述。

其中，在第M次进行写入操作后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行写入操作后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

在一个具体实施方式中，K＝5，则对待测固态硬盘进行5次写入操作，每进行一次写入操作，对待测固态硬盘进行一次性能测试，也即一共进行5次性能测试。每次写入待测固态硬盘的数据量可以相同也可以不同，每进行一次写入操作，待测固态硬盘所存储的数据量增加该次写入操作所写入的数据容量。

在另一个具体实施方式中，K＝10，前9次写入操作，在待测固态硬盘中写入的数据量均为待测固态硬盘容量的百分之十，最后一次写入操作所写入大小为待测固态硬盘的容量减去2GB的数据量。可以理解，若待测固态硬盘容量的百分之十大于待测固态硬盘的容量减去2GB，则第十次写入大小为待测固态硬盘的容量减去2GB的数据量，反之，则第十次写入大小为待测固态硬盘容量的百分之十的数据量即可。

事实上，由于一些固态硬盘在待测固态硬盘中预留不同容量冷数据后的性能可能会发生变化，因此本实施例在待测固态硬盘中预留不同容量冷数据后再写入略小于待测固态硬盘容量的数据，验证在保留不同容量冷数据的情况下待测固态硬盘性能是否正常。

可选地，在第M次对待测固态硬盘进行测试之后，判断性能测试是否成功，性能测试失败则将错误信息写入错误日志中并退出测试，性能测试成功则将性能测试结果保存到日志中。

S304：判断第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标是否大于预设比例的第一性能指标，M＝1,2，……，K。

S305：第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落，M＝1,2，……，K。

例如，当K＝10时，若经过10次写入操作后，得到的10个第二性能指标均大于90％的第一性能指标，则确定在经过多次写入操作之后，待测固态硬盘的性能没有跌落。反之，若有1个第二性能指标小于90％的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能发生跌落现象。

本实施例提供的固态硬盘的测试方法通过反复多次对待测固态硬盘进行写入操作，改变待测固态硬盘的工作参数，进而改变待测固态硬盘的工作场景，并对预留不同容量的冷数据的待测固态硬盘进行性能检测，判断待测固态硬盘的性能跌落情况。

在另一实施方式中，参阅图4，图4是本申请提供的固态硬盘的测试方法第四实施例的流程示意图。如图4所示，该方法包括以下步骤：

S401：搭建测试环境。

S402：判断待测固态硬盘是否支持写缓存功能。

Cache名为高速缓冲存储器。其是指存取速度比一般随机存取记忆体(RAM)来得快的一种RAM，一般而言它不像系统主记忆体那样使用DRAM技术，而使用昂贵但较快速的SRAM技术，也有快取记忆体的名称。cache是存在于主存与CPU之间的一级存储器，由静态存储芯片(SRAM)组成，量比较小但速度比主存高得多，接近于CPU的速度。Cache可以大大提高CPU访问主存的速度，中央处理器绝大多数存取主存储器的操作能为存取高速缓冲存储器所代替，能极大缓和中央处理器和主存储器之间速度不匹配的矛盾。

Cache可以显著提高计算机系统处理速度。

高速缓冲存储器的量一般只有主存储器的几百分之一，但它的存取速度能与中央处理器相匹配。根据程序局部性原理，正在使用的主存储器某一单元邻近的那些单元将被用到的可能性很大。因而，当中央处理器存取主存储器某一单元时，计算机硬件就自动地将包括该单元在的那一组单元调入高速缓冲存储器，中央处理器即将存取的主存储器单元很可能就在刚刚调入到高速缓冲存储器的那一组单元。于是，中央处理器就可以直接对高速缓冲存储器进行存取。在整个处理过程中，如果中央处理器绝大多数存取主存储器的操作能为存取高速缓冲存储器所代替，计算机系统处理速度就能显著提高。

写缓存功能(write Cache功能)是指固态硬盘是否具有高速缓冲存储功能，若有，则表示支持write Cache功能。若判断待测固态硬盘不支持写缓存功能，则输出不支持write cache功能，测试停止的标识，并退出测试。

S403：若是，则获取待测固态硬盘的初始写缓存状态。

固态硬盘的write cache状态有两种情况，即打开或关闭。研究表明，频繁改变write cache状态的过程中，固态硬盘的性能可能会发生变化。用户在实际使用固态硬盘时，可能需要根据实际情况多次改变write cache状态，因此，若某一固态硬盘的经过多次改变write cache状态后，性能发生较大的跌落，则表明该固态硬盘不合格。

在本实施例中，固态硬盘的初始写缓存状态可以是打开也可以是关闭。

S404：在待测固态硬盘处于初始写缓存状态时，对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。

S405：交替改变K次待测固态硬盘的写缓存状态，K＝1，2，……。

随着K值的变化，改变待测固态硬盘的写缓存状态的次数不同，例如，当K＝5时，即表示改变待测固态硬盘的写缓存状态的次数为5，在此不做过多叙述。

其中，在第M次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后，对待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

其中，第一次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与初始写缓存状态相反。

例如，当K＝5，待测固态硬盘的初始写缓存状态为打开时，第一次改变待测固态硬盘的写缓存状态的过程为，设置待测固态硬盘的写缓存状态从打开变为关闭，第二次为从关闭变为打开，第三次为从打开变为关闭，第四次为从关闭变为打开，第五次为从打开变为关闭。每一次改变待测固态硬盘的写缓存状态后，对待测固态硬盘进行一次对应的性能测试，则最终得到5个第二性能指标。

可选地，在第M次对待测固态硬盘进行测试之后，判断性能测试是否成功，性能测试失败则将错误信息写入错误日志中并退出测试，性能测试成功则将性能测试结果保存到日志中。

S406：判断第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标是否大于预设比例的第一性能指标，M＝1,2，……，K。

S407：若第M次改变工作参数后的所测得的待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落，M＝1,2，……，K。

例如，当K＝5，待测固态硬盘的初始写缓存状态为打开时，第一次至第五次改变待测固态硬盘的写缓存状态之后，若对应进行性能测试得到的5个第二性能指标均大于90％的初始写缓存状态为打开时进行性能测试得到的第一性能指标，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落。

在另一实施方式中，在K个第二性能指标中，若对应相同写缓存状态的第二性能指标的波动率不超过预设阈值，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落。

具体地，统计K个第二性能指标中，对应写缓存状态为打开的所有第二性能指标，以及对应写缓存状态为关闭的所有第二性能指标，计算写缓存状态为打开的所有第二性能指标的第一波动率，计算写缓存状态为关闭的所有第二性能指标的第二波动率，若第一波动率和第二波动率都不超过预设阈值，则确定待测固态硬盘的性能没有跌落。

本实施例提供的固态硬盘的测试方法，在待测固态硬盘支持写缓存功能时，反复交替改变待测固态硬盘的写缓存状态，进而对改变写缓存状态之后的待测固态硬盘进行功能测试，得到待测固态硬盘的性能跌落情况。

参阅图5，图5是本申请提供的测试装置一实施例的结构示意图。测试装置100用于连接待测固态硬盘(图未示)以对待测固态硬盘进行测试，该测试装置100可以包括存储器110和处理器120。其中，存储器110用于存储计算机程序，处理器120用于执行计算机程序以实现本申请提供的固态硬盘的测试方法的步骤。例如，处理器120用于实现以下步骤：

对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。

处理器120可能是一个中央处理器CPU，或者是专用集成电路ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)，或者是被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。

存储器110用于可执行的指令。存储器110可能包含高速RAM存储器，也可能包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。存储器110也可以是存储器阵列。存储器110还可能被分块，并且块可按一定的规则组合成虚拟卷。存储器110存储的指令可被处理器120执行，以使处理器120能够执行上述任意方法实施例中的固态硬盘的测试方法。

参阅图6，图6是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。如图6所示，该计算机可读存储介质200上存储有计算机程序201，计算机程序201被处理器执行时实现本申请提供的固态硬盘的测试方法的步骤。例如，计算机程序201被处理器执行时实现以下步骤：

对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。

计算机可读存储介质200可以是计算机能够存取的任何可用介质或数据存储设备，包括但不限于磁性存储器(例如软盘、硬盘、磁带、磁光盘(MO)等)、光学存储器(例如CD、DVD、BD、HVD等)、以及半导体存储器(例如ROM、EPROM、EEPROM、非易失性存储器110(NANDFLASH)、固态硬盘(SSD))等。

综上，本实施例提供的固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案改变固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数之后的固态硬盘的性能进行测试，得到固态硬盘性能的变化情况，进而能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。

在本申请所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。

另外，在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述其他实施方式中的集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (12)

1.一种固态硬盘的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标；

改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标；

基于所述第一性能指标与所述第二性能指标确定所述待测固态硬盘的性能跌落情况。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标，包括：

在所述待测固态硬盘处于裸盘状态时，对所述待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

对所述待测固态硬盘进行K次写入/删除操作，K＝1，2，……；

其中，在第M次进行所述写入/删除操作后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行所述写入/删除操作后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K；

其中，所述写入/删除操作包括对所述待测固态硬盘的所有容量写满数据，以使得所述待测固态硬盘从裸盘状态变为满盘状态，删除所述待测固态硬盘的所有数据，以使得所述待测固态硬盘从满盘状态变为裸盘状态。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

对所述待测固态硬盘进行K次写入操作，向所述待测固态硬盘写入预设容量的数据，K＝1，2，……；

其中，在第M次进行所述写入操作后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次进行所述写入操作后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标之前，包括：

判断所述待测固态硬盘是否支持写缓存功能；

若是，则获取所述待测固态硬盘的初始写缓存状态。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述对待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标，包括：

在所述待测固态硬盘处于所述初始写缓存状态时，对所述待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述改变所述待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的所述待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的所述待测固态硬盘的第二性能指标包括：

交替改变K次所述待测固态硬盘的写缓存状态，K＝1，2，……；

其中，在第M次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M＝1,2，……，K；

其中，第一次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与所述初始写缓存状态相反。

8.根据权利要求2-7任一项所述的方法，其特征在于，

所述基于所述第一性能指标与所述第二性能指标确定所述待测固态硬盘的性能跌落情况包括：

若所述第M次改变工作参数后的所测得的所述待测固态硬盘的第二性能指标大于预设比例的所述第一性能指标，M＝1,2，……，K；

确定所述待测固态硬盘的性能没有跌落。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，

所述基于所述第一性能指标与所述第二性能指标确定所述待测固态硬盘的性能跌落情况包括：

在K个所述第二性能指标中，若对应相同写缓存状态的第二性能指标的波动率不超过预设阈值，则确定所述待测固态硬盘的性能没有跌落。

10.根据权利要求1-9任一项所述的方法，其特征在于，

所述第一性能指标或所述第二性能指标包括带宽和/或每秒进行读写操作的次数和/或时延。

11.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置用于连接待测固态硬盘以对所述待测固态硬盘进行测试，所述测试装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至10任一项所述方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至10任一项所述方法的步骤。

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