CN116844627B - 硬盘掉电测试方法、系统及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质，方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；对待测硬盘进行异常掉电；当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电；当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。根据本申请的技术方案，能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试，更加贴近硬盘的应用场景，实现对硬盘的全面掉电测试。
Description
技术领域
本申请涉及数据处理技术领域，尤其是一种硬盘掉电测试方法、系统及介质。
背景技术
SSD(Solid-state Storage Device，固态硬盘)是一种主要以非易失性闪存作为永久性存储器的计算机存储设备，随着计算机的发展，对数据存储要求高速度、低时延、低功耗、防抗震等。在实际用户使用过程中，难以避免存在在对硬盘进行读写过程中非安全异常掉电操作。当发生异常掉电时，缓冲区中的数据可能并没有真正写入到nand flash或磁道中，异常掉电会造成硬盘中数据丢失，影响用户正常使用。因此，硬盘对于异常掉电操作时的数据安全指标是硬盘的重要测试评估指标，也是必测项。现在技术对硬盘在使用过程中进行异常掉电测试基本上为手动操作，对整个SSD或者整个存储芯片进行异常掉电测试，并没有考虑到硬盘存储有一定数据的情况，使得硬盘异常掉电测试的过程过于局限，不能很好的贴合硬盘的应用场景，难以尽早发现待测固态硬盘所存在的故障隐患，进而影响了用户的使用体验。
发明内容
本申请实施例提供了一种硬盘掉电测试方法、系统及介质，能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试，更加贴近硬盘的应用场景，实现对硬盘的全面掉电测试。
第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘掉电测试方法，所述方法包括：
对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；
向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向所述第二分区发送测试指令；
对所述待测硬盘进行异常掉电；
当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据拷贝至所述第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电；
当确定所述样本数据拷贝成功并且所述待测硬盘通过异常掉电，对所述第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。
在一些实施例中，所述向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，包括：
获取所述第一分区的第一区块地址，其中，所述第一区块地址为所述第一分区的逻辑区块地址；
根据所述样本数据确定第一写入地址，其中，所述第一写入地址为所述样本数据所指向的数据块的物理地址；
当所述第一区块地址与所述第一写入地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据填充至所述第一分区的数据块中。
在一些实施例中，所述将所述样本数据拷贝至所述第二分区，包括：
获取所述样本数据的数据容量以及所述第二分区的第二区块地址，其中，所述第二区块地址为所述第二分区的逻辑区块地址；
当所述数据容量小于所述第二分区的容量，将所述第一写入地址与所述第二区块地址进行匹配；
当所述第一写入地址与所述第二区块地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据拷贝至所述第二分区的数据块中。
在一些实施例中，所述对所述第一分区进行数据填充操作，包括：
获取预设的测试数据的测试容量；
对所述第一分区进行容量测试，确定所述第一分区的剩余容量以及已填充容量；
当所述测试容量小于所述剩余容量，将所述测试数据填充至所述第一分区。
在一些实施例中，所述将所述测试数据填充至所述第一分区，包括：
获取所述测试数据的第二写入地址；
根据所述剩余容量确定所述第一分区的写入地址区间；
当所述写入地址区间中的地址与所述第二写入地址匹配，根据所述第二写入地址将所述测试数据填充至所述第一分区的数据块中。
在一些实施例中，在所述对所述第一分区进行数据填充操作之后，还包括：
对所述待测硬盘进行异常掉电，并对所述第二分区进行格式化；
当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据以及所述测试数据拷贝至格式化后的第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电。
在一些实施例中，在所述对待测硬盘进行逻辑分区之前，还包括：
对所述待测硬盘进行格式化。
在一些实施例中，所述对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，包括：
获取所述待测硬盘的实际容量；
基于预设的分区规则对所述待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，其中，所述第一分区的容量大于等于所述第二分区的容量。
第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘掉电测试系统，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘掉电测试方法。
第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘掉电测试方法。
本申请实施例至少有如下有益效果：首先，对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，从而便于后续对待测硬盘的分区测试，再向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令，从而能够模拟硬盘的实际使用场景，对待测硬盘进行异常掉电，实现在实际应用场景下对硬盘的断电测试，当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电，从而能够通过掉电测试验证待测硬盘在掉电情况下的工作表现，更加贴近硬盘的使用场景，当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件，从而实现对硬盘使用场景下的全面测试，以避免硬盘数据出现丢失。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1是本发明一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
图2是图1中步骤S102的具体方法的流程图；
图3是图1中步骤S104的具体方法的流程图；
图4是图1中步骤S105的具体方法的流程图；
图5是本发明另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
图6是本发明另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图；
图7是图1中步骤S101的具体方法的流程图；
图8是本发明一个实施例提供的硬盘掉电测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要注意的是，在本发明实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
SSD(Solid-state Storage Device，固态硬盘)是一种主要以非易失性闪存作为永久性存储器的计算机存储设备，随着计算机的发展，对数据存储要求高速度、低时延、低功耗、防抗震等。在实际用户使用过程中，难以避免存在在对硬盘进行读写过程中非安全异常掉电操作。当发生异常掉电时，缓冲区中的数据可能并没有真正写入到nand flash或磁道中，异常掉电会造成硬盘中数据丢失，影响用户正常使用。因此，硬盘对于异常掉电操作时的数据安全指标是硬盘的重要测试评估指标，也是必测项。现在技术对硬盘在使用过程中进行异常掉电测试基本上为手动操作，对整个SSD或者整个存储芯片进行异常掉电测试，并没有考虑到硬盘存储有一定数据的情况，使得硬盘异常掉电测试的过程过于局限，不能很好的贴合硬盘的应用场景，难以尽早发现待测固态硬盘所存在的故障隐患，进而影响了用户的使用体验。
为了解决上述问题，本发明提供了一种硬盘掉电测试方法、系统及介质，首先，对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，从而便于后续对待测硬盘的分区测试，再向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令，从而能够模拟硬盘的实际使用场景，对待测硬盘进行异常掉电，实现在实际应用场景下对硬盘的断电测试，当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电，从而能够通过掉电测试验证待测硬盘在掉电情况下的工作表现，更加贴近硬盘的使用场景，当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件，从而实现对硬盘使用场景下的全面测试，以避免硬盘数据出现丢失。
下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。
参考图1，图1是本发明一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图，该硬盘掉电测试方法包括但不限于有步骤S101至步骤S105。
步骤S101：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；
在一些实施例中，对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，从而提高系统的稳定性和安全性，便于后续对第一分区和第二分区的测试，可以最大限度地满足不同应用程序和文件的空间需求，从而优化硬盘使用效率。
步骤S102：向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；
在一些实施例中，向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，从而能够模拟待测硬盘的实际使用情况，并向第二分区发送测试指令，从而实现对硬盘的读写、随机访问等方面的测试。
需要说明的是，测试指令包括但不限包括对第二分区的写指令、读指令、擦除指令等等。
步骤S103：对待测硬盘进行异常掉电；
在一些实施例中，在向第二分区发送测试指令之后，对待测硬盘进行异常掉电，从而测试待测硬盘在执行测试指令过程中的掉电情况，实现执行测试指令的情况下对待测硬盘的掉电测试。
步骤S104：当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电；
在一些实施例中，当待测硬盘通过异常掉电，说明待测硬盘在第一分区存储有数据的情况下性能良好，实现对待测硬盘应用场景的模拟，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电操作，从而能够在第一分区以及第二分区均写入有样本数据的情况下，实现对待测硬盘的掉电测试，并实现待测硬盘在拷贝数据过程中的掉电测试，实现对待测硬盘的全面测试，提高待测硬盘的稳定性。
需要说明的是，当待测硬盘未通过异常掉电，则重新对待测硬盘进行逻辑分区操作，重复步骤S101至S104,本实施例在此不再赘述。
步骤S105：当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。
在一些实施例中，当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，则继续对第一分区进行数据填充操作，重复步骤S102至步骤S104，直至满足预设的结束条件，从而能够模拟待测硬盘在各种使用场景下的掉电情况，进一步提高待测硬盘的稳定性，避免出现硬盘故障。
需要说明的是，当确定样本数据拷贝失败或者待测硬盘未通过异常掉电，则重新对待测硬盘进行分区操作，并重复步骤S101至步骤S103，直至确定样本数据拷贝成功并且硬盘通过异常掉电。
可以理解的是，样本数据拷贝失败的情况包括但不限于包括硬盘出现损坏、硬盘的读写头出现故障、硬盘分区系统损坏、第二分区的容量小于样本数据的容量、样本数据损坏等等，本实施例不做具体限制。
值得注意的是，结束条件包括至少如下之一：进行异常掉电的次数满足预设的测试次数；第一分区以及第二分区达到可填充的最大容量；进行掉电测试的时长达到预设的最大时长。
参照图2，图2是图1中步骤S102的一种具体方法流程图，是对步骤S102的进一步说明，步骤S102包括但不限于步骤S201至步骤S203。
步骤S201：获取第一分区的第一区块地址；
需要说明的是，第一区块地址为第一分区的逻辑区块地址。
在一些实施例中，在对待测硬盘进行格式化操作时，文件系统会在硬盘上创建分区表和文件系统结果，并为每个分区分配一个唯一的卷标，之后选择合适的文件系统类型，例如，FAT32(File Allocation Table 32，文件分配表32位)、NTFS(NT File System，新技术文件系统)等。文件系统使用逻辑块号码(Logical Block Number,LBN)来表示逻辑区块地址。LBN是以簇为基础单位来分配的，因此它是相对于硬盘起始位置的偏移量。因此，待测硬盘上的不同分区均设置有对应的逻辑区块地址。
可以理解的是，不同的文件系统类型，对应着不同的簇大小和索引方式，从而影响了逻辑区块地址空间的划分和管理方式。
步骤S202：根据样本数据确定第一写入地址；
需要说明的是，第一写入地址为样本数据所指向的数据块的物理地址。
在一些实施例中，根据样本数据确定想要插入待测硬盘的第一写入地址，便于后续对待测硬盘的填充。
步骤S203：当第一区块地址与第一写入地址匹配，根据第一写入地址将样本数据填充至第一分区的数据块中。
在一些实施例中，当第一区块地址与第一写入地址匹配，说明第一写入地址在第一分区的逻辑区块地址中，可以直接根据第一写入地址在第一分区中进行定位，将样本数据填充至第一分区的数据块中，从而实现对样本数据的填充，便于后续及时发现并纠正硬盘上的文件系统错误。
需要说明的是，当第一区块地址与第一写入地址不匹配，说明样本数据不应该被写入到第一分区，则需要重新获取新的样本数据进行填充，从而避免出现数据填充错误，降低测试精度。
参照图3，图3是图1中步骤S104的一种具体方法流程图，是对步骤S104的进一步说明，步骤S104包括但不限于步骤S301至步骤S303。
步骤S301：获取样本数据的数据容量以及第二分区的第二区块地址；
需要说明的是，第二区块地址为第二分区的逻辑区块地址。
步骤S302：当数据容量小于第二分区的容量，将第一写入地址与第二区块地址进行匹配；
步骤S303：当第一写入地址与第二区块地址匹配，根据第一写入地址将样本数据拷贝至第二分区的数据块中。
在一些实施例中，在将样本数据拷贝至第二分区的过程中，获取样本数据的数据容量以及第二分区的第二区块地址，便于后续判断是否能够进行数据的拷贝以及第二分区的容量是否充足，当数据容量小于第二分区的容量，则说明第二分区可以容纳样本数据，将第一写入地址与第二区块地址进行匹配，以判断样本数据是否能够拷贝至第二区块，当第一写入地址与第二区块地址匹配，说明第一写入地址在第二分区的逻辑区块地址中，可以直接根据第一写入地址在第二分区中进行定位，将样本数据填充至第二分区的数据块中，从而实现对样本数据的填充，便于后续及时发现并纠正硬盘上的文件系统错误。
需要说明的是，当样本数据的数据容量大于等于第二分区的容量，则不能将样本数据拷贝至第二区块，需要将样本数据划分成为多个子数据，再获取每个子数据的子地址，其中，子地址用于表征子地址所指向的数据块的物理地址，之后，将子地址与第二区块地址进行匹配，当子地址与第二区块地址配置，根据子地址将样本数据拷贝至第二分区的数据块中，从而避免硬盘的自由空间不足，数据读写效率将大幅下降，防止系统变得缓慢和不稳定。
可以理解的是，在将样本数据划分成为多个子数据的过程中，需要根据第二分区的容量进行划分，例如，第二分区的容量为40G，样本数据为50G，则可以将样本数据划分为两个25G的子样本，或者划分为五个10G的子样本等等，本实施例不做具体限制。
在一些实施例中，在将样本数据划分成为多个子数据之后，对于每一个子数据，都需要判断其与第二分区的容量大小，根据判断结果逐次对第二分区进行数据拷贝，直至第二分区剩余的容量满足预设的剩余容量，例如，将30G的样本数据划分成为3个10G的子数据，第二分区的区域容量为25G，第一次先将一个子数据与第二分区的容量进行对比，确定第一个子数据的容量小于第二分区的容量，将第一个子数据的子地址与第二区块地址进行匹配，当确定第一个子数据的子地址与第二区块地址匹配，将第一个子数据填充至第二分区；
此时第二分区剩余25G的容量，再将第二个子数据与第二分区的剩余容量进行对比，确定第二个子数据的容量小于第二分区的剩余容量，将第二个子数据的子地址与第二区块地址进行匹配，当确定第二个子数据的子地址与第二区块地址匹配，将第二个子数据填充至第二分区；
此时第二分区剩余15G的容量，再将第三个子数据与第二分区的剩余容量进行对比，确定第三个子数据的容量小于第二分区的剩余容量，将第三个子数据的子地址与第二区块地址进行匹配，当确定第三个子数据的子地址与第二区块地址匹配，将第三个子数据填充至第二分区；
此时第三分区剩余10G的容量，再将第四个子数据与第二分区的剩余容量进行对比，确定第四个子数据的容量大于第二分区的剩余容量，则结束数据拷贝过程，得到拷贝后的第二分区，从而避免数据拷贝过程中可能会因为目标硬盘空间不足、写入速度过慢等问题而出现错误或者中断，保证数据的安全性和可靠性。
需要说明的是，对数据的拷贝过程包括但不限于包括备份、镜像、同步拷贝多种方式，可以根据使用者的需要自行选择。
在一些实施例中，当数据容量大于等于第二分区的容量，还可以重新对待测硬盘进行逻辑分区，得到新的第三分区和第四分区进行掉电测试，实现对硬盘的全面掉电测试。
参照图4，图4是图1中步骤S105的一种具体方法流程图，是对步骤S105的进一步说明，步骤S105包括但不限于步骤S401至步骤S403。
步骤S401：获取预设的测试数据的测试容量；
步骤S402：对第一分区进行容量测试，确定第一分区的剩余容量以及已填充容量；
步骤S403：当测试容量小于剩余容量，将测试数据填充至第一分区。
在一些实施例中，在对第一分区进行数据填充操作的过程中，需要重新获取测试数据的测试容量，再对第一分区进行容量测试，确定第一分区未填充的剩余容量以及已填充容量，之后再将测试数据的测试容量与剩余容量进行对比，当测试容量小于剩余容量，则可以直接将测试数据填充至第一分区，从而进一步实现对待测硬盘使用场景下的全面测试，提高硬盘的稳定性和可用性，保持硬盘正常运转。
需要说明的是，当测试容量大于等于剩余容量，则第一分区的剩余容量已经不足以容纳新的测试数据，则结束填充过程。
参照图5，图5是本发明另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图，该硬盘掉电测试方法包括但不限于有步骤S501至步骤S502。
需要说明的是，步骤S501至步骤S502发生在对第一分区进行数据填充操作之后。
步骤S501：对待测硬盘进行异常掉电，并对第二分区进行格式化；
步骤S502：当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据以及测试数据拷贝至格式化后的第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电。
在一些实施例中，对待测硬盘进行异常掉电，并对第二分区进行格式化操作，从而了解硬盘在掉电情况下的数据保护能力，避免第二分区之前存储数据的干扰，当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据以及测试数据拷贝至格式化后的第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电，从而测试在数据拷贝过程中的掉电表现，实现对硬盘的全面测试。
可以理解的是，当待测硬盘未通过异常掉电，则重新对待测硬盘进行分区测试，重复步骤S101至步骤S105。
参照图6，图6是本发明另一个实施例提供的硬盘掉电测试方法的流程图，该硬盘掉电测试方法包括但不限于有步骤S601。
需要说明的是，步骤S601发生在步骤S101之前。
步骤S601：对待测硬盘进行格式化。
在一些实施例中，在对待测硬盘进行逻辑分区之前，需要对待测硬盘进行格式化操作，从而避免其他数据的干扰，加强硬盘数据的安全性，提高系统的响应速度，避免出现数据泄漏等情况。
参照图7，图7是图1中步骤S101的一种具体方法流程图，是对步骤S101的进一步说明，步骤S101包括但不限于步骤S701至步骤S702。
步骤S701：获取待测硬盘的实际容量；
步骤S702：基于预设的分区规则对待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区。
需要说明的是，第一分区的容量大于等于第二分区的容量。
在一些实施例中，在对待测硬盘进行逻辑分区的过程中，首先获取待测硬盘的实际容量，之后基于预设的分区规则对待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，从而实现对待测硬盘的逻辑分区，提高数据安全性，方便数据的备份和恢复。
需要说明的是，预设的分区规则为使用者执行设置的规则，例如，待测硬盘的实际容量为50G，使用者执行设置分区规则，将待测硬盘的实际容量平均划分，得到容量为25G的第一分区和容量为25G的第二分区；或者待测硬盘的实际容量为50G，使用者执行设置分区规则，将待测硬盘的实际容量平均划分，得到容量为30G的第一分区和容量为20G的第二分区等等，本实施例不做具体限制。
请参阅图8，图8示意了另一实施例的硬盘掉电测试系统的硬件结构，硬盘掉电测试系统包括：
处理器1001，可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；
存储器1002，可以采用只读存储器(Read Only Memory，ROM)、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的硬盘掉电测试方法；
输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；
通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信；
总线1005，在设备的各个组件(例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004)之间传输信息；
其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。
在一些实施例中，本申请实施例还提供了一种硬盘掉电测试系统，包括温箱以及硬盘掉电测试系统，具有如上硬盘掉电测试系统带来的有益效果，本实施对此不再赘述。
此外，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述系统实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的硬盘掉电测试方法。
本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，图1-7中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。
Claims (7)
1.一种硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；
向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向所述第二分区发送测试指令；
对所述待测硬盘进行异常掉电；
当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据拷贝至所述第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电；
当确定所述样本数据拷贝成功并且所述待测硬盘通过异常掉电，对所述第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件；
其中，所述对所述第一分区进行数据填充操作，包括：
获取预设的测试数据的测试容量；
对所述第一分区进行容量测试，确定所述第一分区的剩余容量以及已填充容量；
当所述测试容量小于所述剩余容量，将所述测试数据填充至所述第一分区；
其中，所述将所述测试数据填充至所述第一分区，包括：
获取所述测试数据的第二写入地址；
根据所述剩余容量确定所述第一分区的写入地址区间；
当所述写入地址区间中的地址与所述第二写入地址匹配，根据所述第二写入地址将所述测试数据填充至所述第一分区的数据块中；
其中，所述对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，包括：
获取所述待测硬盘的实际容量；
基于预设的分区规则对所述待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，其中，所述第一分区的容量大于等于所述第二分区的容量。
2.根据权利要求1所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，包括：
获取所述第一分区的第一区块地址，其中，所述第一区块地址为所述第一分区的逻辑区块地址；
根据所述样本数据确定第一写入地址，其中，所述第一写入地址为所述样本数据所指向的数据块的物理地址；
当所述第一区块地址与所述第一写入地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据填充至所述第一分区的数据块中。
3.根据权利要求2所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述将所述样本数据拷贝至所述第二分区，包括：
获取所述样本数据的数据容量以及所述第二分区的第二区块地址，其中，所述第二区块地址为所述第二分区的逻辑区块地址；
当所述数据容量小于所述第二分区的容量，将所述第一写入地址与所述第二区块地址进行匹配；
当所述第一写入地址与所述第二区块地址匹配，根据所述第一写入地址将所述样本数据拷贝至所述第二分区的数据块中。
4.根据权利要求1所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，在所述对所述第一分区进行数据填充操作之后，还包括：
对所述待测硬盘进行异常掉电，并对所述第二分区进行格式化；
当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据以及所述测试数据拷贝至格式化后的第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电。
5.根据权利要求1所述的硬盘掉电测试方法，其特征在于，在所述对待测硬盘进行逻辑分区之前，还包括：
对所述待测硬盘进行格式化。
6.一种硬盘掉电测试系统，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任意一项所述的硬盘掉电测试方法。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至5任意一项所述的硬盘掉电测试方法。
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