CN109815071A - 一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出了一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法,包括以下步骤:对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若未损坏,则继续执行以下步骤;读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比。
Description
技术领域
本发明涉及存储器测试领域,特别涉及一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法。
背景技术
Nand Flash/eMMC作为一种性能优秀的存储设备,应用在越来越多的产品上。但是越来越多的应用场景给Nand Flash/eMMC驱动开发者带来了很多的困难。例如:电视盒子,智能音响,车载中控这些应用场景都是没有电池的,存储设备在异常掉电时候都有一个致命的问题:数据丢失。这样会导致实际产品死机,变砖的情况,给客户带来极大的损失。所以存储介质驱动在产品发布前做大量的测试,其中就有专项的掉电测试。因此需要设计一种测试方法,更接近于实际的应用场景,将存储介质驱动的所有问题暴露出来。现有的技术将eMMC和U盘读卡器相连接,在windows上执行相关的掉电应用程序或基于实际产品,或在android系统下随机掉电,实现掉电功能。
然而,现有技术测试环境不能与实际的使用环境相符,表现如下:
使用windows加应用程序测试U盘的这种方式,和实际的产品是有很大的差异的,这种方法并不能模拟真实的应用场景。从硬件角度来看,实际的产品中,主控和存储介质无论在通信频率,通信协议,电压,都是有很大的差异的。从软件角度来看,windows加应用程序的数据流,文件操作等行为和实际的产品有很大的差异。使用android系统测试发现问题的概率很低,并没有太强的针对性,测试组合过于复杂,测试场景复杂,如果测试出问题,要解决问题也比较复杂。
发明内容
本发明针对现有技术测试环境不能与实际的使用环境相符的问题,提出一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法。
首先,本发明提出一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法,包括以下步骤:
S100)对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
S200)将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
S300)重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本步骤,若未损坏,则继续执行以下步骤;
S400)读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本步骤。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,步骤S100还包括以下前置步骤:
S101)将操作系统上将存储器划分为至少两个分区,分别为源盘分区和目标盘分区,其中源盘分区中存储至少一个文件,目标盘分区中不包含任何一个与源分区存储的文件相同的文件。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,所述源盘分区只能读出数据,所述目标盘分区既能读出数据,也能写入数据。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,步骤S400还包括以下子步骤:
S410A)获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件的文件类型;
S420A)从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,并读取其文件头、有效数据及文件结尾;
S430A)从所选文件的文件头开始,按顺序依次地对比源盘分区的文件和目标盘分区的文件的每一个比特位,若至少存在一个比特位上的数据不相同,则判断为出错。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,所述存储介质至少包括以下介质中的一种:Nand flash及eMMC。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,所述eMMC的速度模式至少包括以下模式中的一种:低速兼容模式、HS-SDR、HS-DDR、HS200及HS400。
其次,本发明提出一种基于Linux系统的存储介质掉电测试装置,包括以下模块:
启动模块,用于对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
测试模块,用于将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
检测模块,用于重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本模块,若未损坏,则继续执行对比模块;
对比模块,用于读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本模块。
最后,本发明提出一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,所述指令用于执行上述方法。
本发明的有益效果是:方案设计简单,更接近于实际使用场景。
附图说明
图1所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的分区及文件拷贝示意图;
图2所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的文件对比示意图;
图3所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第一实施例流程图;
图4所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第二实施例流程图;
图5所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第三实施例流程图;
图6所示为本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试装置的框架图。
具体实施方式
以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述,以充分地理解本发明的目的、方案和效果。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。附图中各处使用的相同的附图标记指示相同或相似的部分。
需要说明的是,如无特殊说明,当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征,它可以直接固定、连接在另一个特征上,也可以间接地固定、连接在另一个特征上。此外,本申请中所使用的上、下、左、右等描述仅仅是相对于附图中本申请各组成部分的相互位置关系来说的。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
此外,除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与本技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例,而不是为了限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的组合。
应当理解,尽管在本申请中可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种元件,但这些元件不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的元件彼此区分开。例如,在不脱离本申请范围的情况下,第一元件也可以被称为第二元件,类似地,第二元件也可以被称为第一元件。取决于语境,如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”。
在本发明的实施例中,方法步骤可以按另一个顺序执行。本发明并不限于所述的方法步骤确定的顺序。
参照图1所示的本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的分区及文件拷贝示意图,图中示出了一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的分区及文件拷贝的过程,在本发明的一个实施例中,测试的系统需要包括一台能够运行Linux操作系统的主机,具体可以为台式机、笔记本电脑、平板电脑等具有处理器及存储器的信息处理装置,在操作系统上将磁盘划分为源(src)盘分区和目标(desc)盘分区(解释:类似于windows操作系统有C盘,D盘,E盘,可以根据实际的需求要求划分更多的分区,但至少要包括上述两个分区),其中源盘分区存储着原始文件,并且是一个只读的盘,不能进行写操作;目标盘是用来存储从源盘分区拷贝过来原始文件,是一个读写盘。实际操作是从源盘随机拷贝文件给目标盘,在拷贝过程中掉电,并且所述的拷贝是随机拷贝,即从源盘分区中任意选取其中的一个或多个原始文件,拷贝到目标盘分区,而不受原始文件的大小,修改时间,类型等排序的限制。
进一步,参照图2所示本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的文件对比示意图,在本发明的一个实施例中,当完成了掉电的操作后,在下一次系统启动后,先检测源盘是否遭到损坏,如果损坏表示存储介质的驱动存在掉码的问题。如果源盘没有问题的话,再对比源盘和目标盘共有的文件,如果出现大量的文件对比不一致,则表示存储介质存在问题,需要进行优化处理。
进一步,参照图3所示的本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第一实施例流程图,在本发明的一个实施例中,一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法可包括以下步骤:
S100)对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
S200)将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
S300)重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本步骤,若未损坏,则继续执行以下步骤;
S400)读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本步骤。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,步骤S100还包括以下前置步骤:
S101)将操作系统上将存储器划分为至少两个分区,分别为源盘分区和目标盘分区,其中源盘分区中存储至少一个文件,目标盘分区中不包含任何一个与源分区存储的文件相同的文件。
进一步,在本发明的一个实施例中,步骤S101通过制作一个固件,这个固件烧入机器。机器就开始循环掉电测试。
进一步,在本发明上述所提出的方法中,所述源盘分区只能读出数据,所述目标盘分区既能读出数据,也能写入数据。
进一步,参照图4所示的本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第二实施例流程图,在本发明的一个实施例中,步骤S400还包括以下子步骤:
S410A)获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件的文件类型;
S420A)从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,并读取其文件头、有效数据及文件结尾;
S430A)从所选文件的文件头开始,按顺序依次地对比源盘分区的文件和目标盘分区的文件的每一个比特位,若至少存在一个比特位上的数据不相同,则判断为出错。
进一步,本发明的一个实施例中,所述存储介质至少包括以下介质中的一种:Nandflash及eMMC。
进一步,本发明的一个实施例中,所述eMMC的速度模式至少包括以下模式中的一种:低速兼容模式、HS-SDR、HS-DDR、HS200及HS400。
具体地,随着eMMC协议的版本迭代,eMMC总线的速率越来越高。为了兼容旧版本的eMMC Device,所有Devices在上电启动或者Reset后,都会先进入兼容速率模式(BackwardCompatible Mode)。在完成eMMC Devices的初始化后,HOST可以通过特定的流程,让Device进入其他高速率模式,目前支持以下的几种速率模式。其中,最新的HS400模式的最大传输速度达400MB/s。
模式 | 总线带宽 | 频率 | 最大数据传输速度 |
低速兼容模式 | x1,x4,x8 | 0-26MHz | 26MB/s |
HS SDR | x1,x4,x8 | 0-52MHz | 52MB/s |
HS DDR | x4,x8 | 0-52MHz | 104MB/s |
HS200 | x4,x8 | 0-200MHz | 200MB/s |
HS400 | x8 | 0-200MHz | 400MB/s |
在以上实施例中,共同文件对比的方式是全文件逐比特的对比,对于非常大的文件可能存在耗时长效率低下的问题,因此可以进行对比方式优化,例如采用区别特征数据的方式。
进一步,参照图5所示的本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法的第三实施例流程图,在本发明的一个实施例中,步骤S400还包括以下子步骤:
S410B)从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,分别生成源盘分区文件和目标盘分区文件的唯一区别特征数据;
S420B)对比生成的源盘分区文件和目标盘分区的唯一区别特征数据。
进一步,参照图6所示的本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试装置的框架图,在本发明的一个实施例中,本发明所提出的一种基于Linux系统的存储介质掉电测试装置可包括以下模块:
启动模块,用于对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
测试模块,用于将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
检测模块,用于重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本模块,若未损坏,则继续执行对比模块;
对比模块,用于读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本模块。
具体地,在本发明的一个实施例中,所述源盘分区只能读出数据,所述目标盘分区既能读出数据,也能写入数据。
进一步,本发明的一个实施例中,启动模块还包括以下前置子模块:
分区模块,用于将操作系统上将存储器划分为至少两个分区,分别为源盘分区和目标盘分区,其中源盘分区中存储至少一个文件,目标盘分区中不包含任何一个与源分区存储的文件相同的文件。
进一步,在本发明的一个实施例中,分区模块通过制作一个固件来实现,这个固件烧入机器。机器就开始循环掉电测试。
进一步,在本发明的一个实施例中,对比模块还包括以下子模块:
获取子模块,用于获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件的文件类型;
读取子模块,用于从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,并读取其文件头、有效数据及文件结尾;
第一对比子模块,用于从所选文件的文件头开始,按顺序依次地对比源盘分区的文件和目标盘分区的文件的每一个比特位,分别对相同的比特位数量和不相同的比特位数量分别进行累加。
在本实施例中,共同文件对比的方式是全文件逐比特的对比,对于非常大的文件可能存在耗时长效率低下的问题,因此可以进行对比方式优化,例如采用区别特征数据的方式。
进一步,在本发明的一个实施例中,对比模块还包括以下子模块:
特征生成模块,用于从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,分别生成源盘分区文件和目标盘分区文件的唯一区别特征数据;
第二对比子模块,用于对比生成的源盘分区文件和目标盘分区的唯一区别特征数据。
进一步,本发明的一个实施例中,所述存储介质至少包括以下介质中的一种:Nandflash及eMMC。
进一步,本发明的一个实施例中,所述eMMC的速度模式至少包括以下模式中的一种:低速兼容模式、HS-SDR、HS-DDR、HS200及HS400。
最后,本发明提出一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,所述指令用于执行上述的方法步骤。
综上所述,利用本发明所提出的方法及装置,基于Linux系统以设计掉电测试方法,该方法设计简单,更接近于实际使用场景。
应当认识到,本发明的实施例可以由计算机硬件、硬件和软件的组合、或者通过存储在非暂时性计算机可读存储器中的计算机指令来实现或实施。所述方法可以使用标准编程技术包括配置有计算机程序的非暂时性计算机可读存储介质在计算机程序中实现,其中如此配置的存储介质使得计算机以特定和预定义的方式操作-根据在具体实施例中描述的方法和附图。每个程序可以以高级过程或面向对象的编程语言来实现以与计算机系统通信。然而,若需要,该程序可以以汇编或机器语言实现。在任何情况下,该语言可以是编译或解释的语言。此外,为此目的该程序能够在编程的专用集成电路上运行。
进一步,该方法可以在可操作地连接至合适的任何类型的计算平台中实现,包括但不限于个人电脑、迷你计算机、主框架、工作站、网络或分布式计算环境、单独的或集成的计算机平台、或者与带电粒子工具或其它成像装置通信等等。本发明的各方面可以以存储在非暂时性存储介质或设备上的机器可读代码来实现,无论是可移动的还是集成至计算平台,如硬盘、光学读取和/或写入存储介质、RAM、ROM等,使得其可由可编程计算机读取,当存储介质或设备由计算机读取时可用于配置和操作计算机以执行在此所描述的过程。此外,机器可读代码,或其部分可以通过有线或无线网络传输。当此类媒体包括结合微处理器或其他数据处理器实现上文所述步骤的指令或程序时,本文所述的发明包括这些和其他不同类型的非暂时性计算机可读存储介质。当根据本发明所述的方法和技术编程时,本发明还包括计算机本身。
本文描述了本公开的实施例,包括发明人已知用于执行本发明的最佳模式。在阅读了上述描述后,这些所述实施例的变化对本领域的技术人员将变得明显。发明人希望技术人员视情况采用此类变型,并且发明人意图以不同于如本文具体描述的方式来实践本公开的实施例。因此,经适用的法律许可,本公开的范围包括在此所附的权利要求书中叙述的主题的所有修改和等效物。此外,本公开的范围涵盖其所有可能变型中的上述元素的任意组合,除非本文另外指示或以其他方式明显地与上下文矛盾。
尽管本发明的描述已经相当详尽且特别对几个所述实施例进行了描述,但其并非旨在局限于任何这些细节或实施例或任何特殊实施例,而是应当将其视作是通过参考所附权利要求考虑到现有技术为这些权利要求提供广义的可能性解释,从而有效地涵盖本发明的预定范围。此外,上文以发明人可预见的实施例对本发明进行描述,其目的是为了提供有用的描述,而那些目前尚未预见的对本发明的非实质性改动仍可代表本发明的等效改动。
因此,应以说明性意义而不是限制性意义来理解本说明书和附图。然而,将明显的是:在不脱离如权利要求书中阐述的本申请的更宽广精神和范围的情况下,可以对本申请做出各种修改和改变。
其他变型在本申请的精神内。因此,尽管所公开的技术可容许各种修改和替代构造,但在附图中已示出并且在上文中详细描述所示的其某些实施例。然而,应当理解,并不意图将本申请局限于所公开的一种或多种具体形式;相反,其意图涵盖如所附权利要求书中所限定落在本申请的精神和范围内的所有修改、替代构造和等效物。
Claims (8)
1.一种基于Linux系统的存储介质掉电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S100)对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
S200)将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
S300)重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本步骤,若未损坏,则继续执行以下步骤;
S400)读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本步骤。
2.根据权利要求1所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,步骤S100还包括以下前置步骤:
S101)将操作系统上将存储器划分为至少两个分区,分别为源盘分区和目标盘分区,其中源盘分区中存储至少一个文件,目标盘分区中不包含任何一个与源分区存储的文件相同的文件。
3.根据权利要求2所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,所述源盘分区只能读出数据,所述目标盘分区既能读出数据,也能写入数据。
4.根据权利要求1所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,步骤S400还包括以下子步骤:
S410A)获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件的文件类型;
S420A)从源盘分区和目标盘分区中分别选取至少一个相同的文件,并读取其文件头、有效数据及文件结尾;
S430A)从所选文件的文件头开始,按顺序依次地对比源盘分区的文件和目标盘分区的文件的每一个比特位,若至少存在一个比特位上的数据不相同,则判断为出错。
5.根据权利要求1所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,所述存储介质至少包括以下介质中的一种:Nand flash及eMMC。
6.根据权利要求5所述的存储介质掉电测试方法,其特征在于,所述eMMC的速度模式至少包括以下模式中的一种:低速兼容模式、HS-SDR、HS-DDR、HS200及HS400。
7.一种基于Linux系统的存储介质掉电测试装置,其特征在于,包括以下模块:
启动模块,用于对测试系统通电,启动操作系统,挂载待测试的存储介质,加载测试存储介质;
测试模块,用于将源盘分区中存储的文件中随机地至少选择一个拷贝到目标盘分区,并在拷贝的过程中断开电源;
检测模块,用于重新启动操作系统,检查源盘分区是否损坏,若损坏,则结束本模块,若未损坏,则继续执行对比模块;
对比模块,用于读取源盘分区中及目标盘分区中的所有文件,获取源盘分区和目标盘分区中相同的文件数量,若相同的文件数量不小于1,则进行文件对比,否则,结束本模块。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,所述指令用于执行上述权利要求1-6任一项所述的方法。
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CN112133357A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-25 | 深圳市宏旺微电子有限公司 | 一种eMMC的测试方法及装置 |
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CN116844627A (zh) * | 2023-06-13 | 2023-10-03 | 深圳市晶存科技有限公司 | 硬盘掉电测试方法、系统及介质 |
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