CN102842342A - 数据存储测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种数据存储测试方法,该方法包括步骤:设置测试次数及测试文件;通过文件拷贝指令将测试文件写入到存储器中;发送控制指令给电源设备,以使电源设备在一个预设的时间段内停止向存储器供电,在该预设的时间段之后,再次发送控制指令给电源设备,以使该电源设备重新向存储器供电;读取存储器中写入的测试文件;比较写入的测试文件与设置的测试文件的内容;根据比较的结果显示测试结果。本发明还提供一种数据存储测试系统。利用本发明测试人员可以不用停留在测试机台旁边,程序自动测试存储器断电时数据存储的性能,提高了测试效率,降低了测试成本,同时也方便测试人员查看。

Description

数据存储测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种数据存储测试系统及方法,尤其涉及一种存储器断电时的数据存储测试系统及方法。
背景技术
通常,计算机将数据存储到存储设备(例如,RAID格式的存储设备)中时,首先是将数据暂存到存储设备中的缓存中,然后缓存自动将数据存储到存储设备的存储介质(如,硬盘)中。由于缓存中的数据一断电就会消失,若存储设备的供电被切断,会导致数据丢失。目前的做法是,在存储设备中加入一个备用电源,当存储设备供电被切断时,及时启动该备用电源,保证缓存中的数据不会消失。
为了保证存储设备的品质,在存储设备生产完成之后,需要对存储设备进行各种测试,其中一项测试为测试存储器断电时数据存储的性能,即通过耐久性测试(例如,100次)来判断该存储器在断电时数据存储的性能是否合格。然而,以往测试存储器断电时数据存储的性能所采用的都是手动形式,即完成一次测试之后,关掉存储设备的电源一段时间,然后重启接通存储设备的外接电源,再对存储设备进行测试,如此一来不仅繁琐,效率低下且容易出错,还增加了测试成本,耗费测试人员的大量时间,不利于大规模测试。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种数据存储测试系统,测试人员可以不用停留在测试机台旁边,完全摆脱测试人员手动测试,程序自动测试存储器断电时数据存储的性能,提高了测试效率,降低了测试成本,同时也方便测试人员查看。
鉴于以上内容,还有必要提供一种数据存储测试方法,测试人员可以不用停留在测试机台旁边,完全摆脱测试人员手动测试,程序自动测试存储器断电时数据存储的性能,提高了测试效率,降低了测试成本,同时也方便测试人员查看。
一种数据存储测试系统,该系统包括:设置模块,用于设置测试次数及测试文件;写入模块,用于通过文件拷贝指令的方式将测试文件写入到存储器中;发送模块,用于发送控制指令给电源设备,以使电源设备在一个预设的时间段内停止向存储器供电,在该预设的时间段之后,再次发送控制指令给电源设备,以使该电源设备重新向存储器供电;读取模块,用于从存储器中读取所述写入的测试文件;判断模块,用于判断所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容是否一致;记录模块,用于当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致时,将测试次数加一,记录该测试次数;判断模块,还用于判断所述记录的测试次数是否到达设置的测试次数;显示模块,用于当所记录的测试次数到达所述设置的测试次数时,显示测试通过,及当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致时,显示测试失败。
一种数据存储测试方法,其特征在于,该方法包括步骤:设置测试次数及测试文件;通过文件拷贝指令的方式将测试文件写入到存储器中;发送控制指令给电源设备,以使电源设备在一个预设的时间段内停止向存储器供电,在该预设的时间段之后,再次发送控制指令给电源设备,以使该电源设备重新向存储器供电;从存储器中读取所述写入的测试文件;当所述读取的测试文件的内容与上述设置的测试文件的内容一致时,将测试次数加一,记录该测试次数,若所记录的测试次数到达所述设置的测试次数,则显示测试通过;当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致时,显示测试失败。
相较于现有技术,通过所述的数据存储测试系统及方法,测试人员可以不用停留在测试机台旁边,完全摆脱测试人员手动测试,程序自动测试存储器断电时数据存储的性能,提高了测试效率,降低了测试成本,同时也方便测试人员查看。
附图说明
图1是本发明数据存储测试系统较佳实施例的应用环境图。
图2是本发明图1中数据存储测试系统较佳实施例的功能模块图。
图3是本发明数据存储测试方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
  服务器   1
  数据存储测试系统   10
  电源设备   2
  存储器   3
  BBU   30
  缓存   31
  存储介质   32
  设置模块   110
  写入模块   120
  发送模块   130
  读取模块   140
  判断模块   150
  记录模块   160
  显示模块   170
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示,是本发明数据存储测试系统较佳实施例的应用环境图。其中,该数据存储测试系统10运行在服务器1上。所述数据存储测试系统20的功能将在图2及图3中做详细描述。
该服务器1通过网线与电源设备2相连接,以控制电源设备2的开启,所述电源设备2与存储器3相连接,以向存储器3供电。该服务器1还通过线缆与存储器3相连接,以测试该存储器3在断电时数据存储的性能。
该存储器3包括备用电源单元(Battery Backup Unit,BBU)30、缓存31及存储介质32。所述BBU 30用于当电源设备2向存储器3提供的电源被切断时,启动该BBU 30以对存储器3暂时进行供电。通常,将数据存储到存储器3中时,首先将数据写入到缓存31中,然后再将缓存31中的数据写入到存储介质中。为了提高存储速度,在本较佳实施例中,所述存储介质32为固态硬盘(Solid-state drive,SSD)。所述存储器3为独立磁盘冗余数组(Redundant Array of IndependentDisks,RAID)存储器。
如图2所示,是本发明图1中数据存储测试系统20较佳实施例的功能模块图。该数据存储测试系统20包括设置模块110、写入模块120、发送模块130、读取模块140、判断模块150、记录模块160及显示模块170。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段,比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程,因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
所述设置模块110用于设置测试次数及测试文件。例如,设置所述测试次数为100次。当测试次数到达100次时,测试结束。所述测试文件提前被用户存储在服务器1中,为了便于后续对存储器3断电时的数据存储性能进行测试,该测试文件为文本文件格式,例如,text.txt,其中,text是测试文件的文件名。
所述写入模块120用于通过文件拷贝指令(file copy command)的方式将测试文件写入到存储器3的缓存31中。具体而言,写入模块120首先将所述文本文件text.txt格式的测试文件写入到存储器3的缓存31中,之后缓存31自动将该测试文件中上的数据写入到存储介质32中。
所述发送模块130用于发送控制指令给电源设备2,以使电源设备2在一个预设的时间段内停止向存储器3供电。一般而言,该预设的时间段一般在10秒至15秒之间。停止供电期间,所述存储器3中的BBU 30会自动开启,临时充当存储器3的电源,避免因为存储器3暂时被切断电源,导致数据丢失的情况发生。
在所述预设的时间段之后,所述发送模块130还用于发送控制指令给电源设备2,以使电源设备2重新向存储器3供电。
所述读取模块140用于从存储器3中读取写入的测试文件。具体而言,读取模块140首先判断存储介质32中是否有与所述测试文件名称相同的文件,即判断存储介质32中是否有与所述text.txt相同的文本文件名,若有,读取该测试文件中的具体内容。
判断模块150用于判断所述读取的测试文件的内容是否与设置的测试文件内容一致。具体而言,若设置的测试文件的内容为一段文字,例如,agejglggelhh,而读取的测试文件的内容也是agejglggelhh,则表明该读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致。若读取的测试文件的内容是agejgl,其不同于agejglggelhh,则表明该读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致。
所述记录模块160还用于当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致时,将测试次数加一,记录该测试次数。
所述判断模块150还用于判断所记录的测试次数是否到达设置的测试次数。具体而言,判断所记录的测试次数是否为100次。
当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致,且所记录的测试次数到达所述设置的测试次数时,所述显示模块170用于显示测试通过。具体而言,当所记录的测试次数为100次时,显示测试通过,存储器3合格。
当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致时,所述显示模块170用于显示测试失败。具体而言,若读取的测试文件的内容是agejgl,而设置的测试文件的内容是agejglggelhh,则表明两者的内容不一致,进一步表明了存储器3断电时,缓存31没有完全将测试文件的内容写入到存储介质32中,显示模块170显示测试失败,并提醒用户,该存储器3在出现断电问题时,需要注意数据恢复,存储器3不合格。
如图3所示,是本发明数据存储测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S10,设置模块110设置测试次数及测试文件。例如,设置所述测试次数为100次。当测试次数到达100次时,测试结束。所述测试文件提前被用户存储在服务器1中,为了便于后续对存储器3断电时的数据存储性能进行测试,该测试文件为文本文件格式,例如,text.txt,其中,text是测试文件的文件名。
步骤S20,写入模块120通过文件拷贝指令(file copy command)的方式将测试文件写入到存储器3的缓存31中。具体而言,写入模块120首先将所述文本文件text.txt格式的测试文件写入到存储器3的缓存31中,之后缓存31自动将该测试文件中上的数据写入到存储介质32中。
步骤S30,发送模块130发送控制指令给电源设备2,以使电源设备2在一个预设的时间段内停止向存储器3供电。一般而言,该预设的时间段一般在10秒至15秒之间。停止供电期间,所述存储器3中的BBU 30会自动开启,临时充当存储器3的电源,避免因为存储器3暂时被切断电源,导致数据丢失的情况发生。
步骤S40,在电源设备2停止向所述存储器3供电所述预设的时间段之后,所述发送模块130发送控制指令给电源设备2,以使电源设备2重新向存储器3供电。
步骤S50,读取模块140从存储器3中读取写入的测试文件。具体而言,读取模块140首先判断存储介质32中是否有与所设置的测试文件名称相同的文件,即判断是否有与所述text.txt相同的文本文件名,若有,读取该测试文件中的具体内容。
步骤S60,判断模块150判断所述读取的测试文件的内容是否与设置的测试文件内容一致。
假设设置的测试文件的内容为一段文字,例如,agejglggelhh。若读取的测试文件的内容也是agejglggelhh,则表明该读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致,流程进入步骤S70。
若读取的测试文件的内容是agejgl,与所设置的测试文件的内容agejglggelhh不一致,则流程进入步骤S100。
步骤S70,记录模块160将测试次数加一,记录该测试次数。
步骤S80,判断模块150判断是否到达设置的测试次数。具体而言,判断所记录的测试次数是否为100次。
若所记录的测试次数为100次时,步骤进入S90。
若所记录的测试次数不是100次时,返回步骤S20。需要说明的是,返回步骤S20时,存储介质32中写入的测试文件会被清空。
步骤S90,所述显示模块170显示测试通过。具体而言,当所记录的测试次数为100次时,显示测试通过,存储器3合格。
步骤S100,所述显示模块170显示测试失败。具体而言,若读取的测试文件的内容是agejgl,而设置的测试文件的内容是agejglggelhh,则表明两者的内容不一致,进一步表明了存储器3断电时,缓存31没有完全将测试文件的内容写入到存储介质32中,显示模块170显示测试失败,并提醒用户,该存储器3在出现断电问题时,需要注意数据恢复,存储器3不合格。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (6)

1.一种数据存储测试系统,其特征在于,该系统包括:
设置模块,用于设置测试次数及测试文件;
写入模块,用于通过文件拷贝指令的方式将测试文件写入到存储器中;
发送模块,用于发送控制指令给电源设备,以使电源设备在一个预设的时间段内停止向存储器供电,在该预设的时间段之后,再次发送控制指令给电源设备,以使该电源设备重新向存储器供电;
读取模块,用于从存储器中读取所述写入的测试文件;
判断模块,用于判断所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容是否一致;
记录模块,用于当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容一致时,将测试次数加一,记录该测试次数;
判断模块,还用于判断所述记录的测试次数是否到达设置的测试次数;及
显示模块,用于当所记录的测试次数到达所述设置的测试次数时,显示测试通过,及当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致时,显示测试失败。
2.如权利要求1所述的数据存储测试系统,其特征在于,所述测试文件为文本文件。
3.如权利要求1所述的数据存储测试系统,其特征在于,所述预设的时间段在10秒至15秒之间。
4.一种数据存储测试方法,其特征在于,该方法包括步骤:
设置测试次数及测试文件;
通过文件拷贝指令的方式将测试文件写入到存储器中;
发送控制指令给电源设备,以使电源设备在一个预设的时间段内停止向存储器供电,在该预设的时间段之后,再次发送控制指令给电源设备,以使该电源设备重新向存储器供电;
从存储器中读取所述写入的测试文件;
当所述读取的测试文件的内容与上述设置的测试文件的内容一致时,将测试次数加一,记录该测试次数;
若所记录的测试次数到达所述设置的测试次数,则显示测试通过,否则,返回通过文件拷贝指令的方式将测试文件写入到存储器中的步骤;或
当所述读取的测试文件的内容与设置的测试文件的内容不一致时,显示测试失败。
5.如权利要求4所述的数据存储测试方法,其特征在于,所述测试文件为文本文件。
6.如权利要求4所述的数据存储测试方法,其特征在于,所述预设的时间段在10秒至15秒之间。
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