CN107305792A - 一种测试存储器的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种测试存储器的方法和装置，存储器包括自测试控制器，方法包括：将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器；通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。本发明实施例不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

Description

一种测试存储器的方法和装置

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置。

背景技术

存储器由于容量大，器件密度高，存在严重的早期失效问题，且这个问题随着存储器工艺尺寸的缩小而加剧。存储器的失效概率与使用次数之间的关系符合图1所示浴缸曲线的特性，即开始使用时存储器的失效概率高，当达到一定使用次数后存储器的失效概率就会大幅降低，直到达到存储器的使用寿命后，存储器的失效概率会继续升高。通过老化测试能够提高存储器的可靠性。老化测试即在存储器出厂之前，对存储器进行反复地擦除、写、读等操作，将早期失效的存储器个体被检测出来，这样出厂时候的产品失效概率已经处于浴缸曲线的底部，失效概率大幅降低。

现有老化测试方法是使用老化测试设备，对存储器依次进行擦、写、校验以及所需的其他操作，并循环特定的次数，从而筛除早期失效的存储器个体。

但是，现有老化测试方法中还存在以下缺点：在批量生产存储器的时候，需要用老化测试设备对存储器进行反复的擦除、写、读等操作，时间很长，由于老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵，因此，现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置，以解决现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种测试存储器的方法，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。

可选地，在所述通过所述第一测试设备发送启动自测试指令之前，还包括：设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。

可选地，所述通过所述自测试控制器根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，包括：当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。

可选地，在所述将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括以下步骤：断开所述存储器与所述第一测试设备之间的连接。

为了解决上述问题，本发明实施例还公开了一种测试存储器的装置，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的装置包括：指令发送模块，用于将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；第一测试模块，用于通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；第二测试模块，用于将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。

可选地，在所述指令发送模块之前，还包括：信息设置模块，用于设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。

可选地，所述第一测试模块包括：擦除操作单元，用于当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；写操作单元，用于当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；读操作单元，用于当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。

可选地，在所述第二测试模块将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括：

连接断开模块，用于断开所述存储器与所述第一测试设备之间的连接。

本发明实施例包括以下优点：通过在存储器中嵌入自测试控制器，在通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器后，启动自测试控制器，进而通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数，最后通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，且当任一功能测试失败时，判断存储器失效，实现筛除失效的存储器个体。

这样，对存储器的老化测试主要由存储器内的自测试控制器自动完成，第一测试设备只需发送启动自测试指令，第二测试设备只需在自测试控制器完成测试后对存储器进行全功能测试，就可以实现对失效存储器个体的筛除，不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

附图说明

图1是存储器的失效概率与使用次数之间的关系示意图；

图2是本发明的一种测试存储器的方法实施例的步骤流程图；

图3是本发明的另一种测试存储器的方法实施例的步骤流程图；

图4是本发明的一种测试存储器的装置实施例的结构框图；

图5是本发明的另一种测试存储器的装置实施例的结构框图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

实施例一

参照图2，示出了本发明的一种测试存储器的方法实施例的步骤流程图，存储器包括自测试控制器，自测试控制器可以嵌入或集成在存储器内部，测试存储器的方法具体可以包括如下步骤：

S21，将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器。

其中，存储器可以为任意存储器，包括当系统关闭或无电源供应时，所存储的信息不会消失的存储器和所存储的信息会消失的存储器。具体地，存储器与第一测试设备可以通过数据接口连接，第一测试设备可以为存储器供电。在存储器接收到启动自测试指令后，启动自测试控制器。

具体地，启动自测试指令可以为任意使自测试控制器进入测试模式的指令或指令序列。第一测试设备可以为可发送启动自测试指令至存储器的任意设备。

S22，通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数。

具体地，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则各待测试功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等功能中的一个或多个。需要说明的是，在本发明的其它实施例中，存储器可执行的操作由存储器自身情况决定，可以为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作或其它操作中的一个或多个。

其中，在本发明的一个实施例中，步骤S22可以通过自测试控制器根据各待测试功能依次对存储器进行循环测试。

S23，将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。

具体地，存储器与第二测试设备可以通过数据接口连接，第二测试设备可以为存储器供电。具体地，在本发明的一个实施例中，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则全功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等操作功能。

另外，若通过第二测试设备对存储器进行全功能测试时，所有测试均成功，则步骤S23判断存储器有效。

步骤S22后，存储器的老化自测试完成，由于此时，早期会失效的存储器个体已经在自测试过程中发生失效，此时步骤S23再使用功能齐备的第二测试设备对存储器进行最后一次全功能筛查，就能方便地把失效的存储器个体筛除出去。

需要说明的是，在本发明的一个实施例中，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息可以集成在启动自测试指令中，例如，启动自测试指令可以为A1B1B2B30A，其中，A1为使自测试控制器进入测试模式的标识，B1、B2、B3为各待测试功能的标识，0A为预设最大测试次数。步骤S22可以通过自测试控制器根据各待测试功能对应的信息确定存储器的各待测试功能，以及根据预设最大测试次数对应的信息确定预设最大测试次数。此时，在步骤S21之前，可以对各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息根据存储器特性、测试需求等进行设置，从而达到最佳的测试效果。例如，可以设置启动自测试指令可以为A10BC1C2C3，其中，A1为使自测试控制器进入测试模式的标识，0B为预设最大测试次数，C1、C2、C3为各待测试功能的标识。

在本发明的另一个实施例中，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息可以集成在自测试控制器中，此时，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息在生产自测试控制器的过程中根据存储器特性、测试需求等进行固定配置，之后不可改变。

在本发明的一个具体实施例中，步骤S21通过第一测试设备发送启动自测试指令例如A1至存储器，步骤S22通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能例如擦除操作功能、写操作功能和读操作功能，并根据各待测试功能依次对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数例如10次，最后步骤S23通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，全功能包括擦除操作功能、写操作功能、读操作功能以及其它操作功能，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效，和当所有测试均成功时，判断存储器有效。

本发明实施例一包括以下优点：通过在存储器中嵌入自测试控制器，在通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器后，启动自测试控制器，进而通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数，最后通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，且当任一功能测试失败时，判断存储器失效，实现筛除失效的存储器个体。

这样，对存储器的老化测试主要由存储器内的自测试控制器自动完成，第一测试设备只需发送启动自测试指令，第二测试设备只需在自测试控制器完成测试后对存储器进行全功能测试，就可以实现对失效存储器个体的筛除，不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

实施例二

参照图3，示出了本发明的另一种测试存储器的方法实施例的步骤流程图，存储器包括自测试控制器，自测试控制器可以嵌入或集成在存储器内部，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息集成在启动自测试指令中，测试存储器的方法具体可以包括如下步骤：

S31，设置启动自测试指令中的各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息。

其中，存储器可以为任意存储器，包括当系统关闭或无电源供应时，所存储的信息不会消失的存储器和所存储的信息会消失的存储器。具体地，步骤S31可以根据存储器特性、测试需求等设置各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息。

S32，将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器。

S33，启动自测试控制器。

具体地，启动自测试控制器后，自测试控制器进入测试模式。需要说明的是，启动自测试指令可以为任意使自测试控制器进入测试模式的指令或指令序列。

具体地，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则各待测试功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等功能中的一个或多个。需要说明的是，在本发明的其它实施例中，存储器可执行的操作由存储器自身情况决定，可以为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作或其它操作中的一个或多个。

S34，通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；其中，通过自测试控制器根据各待测试功能对存储器进行循环测试，可以包括：

S341，当待测试功能为擦除操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行擦除操作。

S342，当待测试功能为写操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行写操作。

S343，当待测试功能为读操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行读操作。

S344，当待测试功能为除擦除操作功能、写操作功能、读操作功能之外的其它操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行相应的操作。

其中，在本发明的一个实施例中，步骤S34可以通过自测试控制器根据各待测试功能依次对存储器进行循环测试。

S35，断开存储器与第一测试设备之间的连接。

S36，将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。

具体地，在本发明的一个实施例中，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则全功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等操作功能。

另外，若通过第二测试设备对存储器进行全功能测试时，所有测试均成功，则步骤S36判断存储器有效。

本发明实施例二包括以下优点：通过在存储器中嵌入自测试控制器，在设置启动自测试指令中的各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息后，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器，启动自测试控制器，进而通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数，最后通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效，以及当所有测试均成功，判断存储器有效。

这样，对存储器的老化测试主要由存储器内的自测试控制器自动完成，第一测试设备只需发送启动自测试指令，第二测试设备只需在自测试控制器完成测试后对存储器进行全功能测试，就可以实现对失效存储器个体的筛除，不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

实施例三

参照图4，示出了本发明的一种测试存储器的装置实施例的结构框图，存储器包括自测试控制器，自测试控制器可以嵌入或集成在存储器内部，测试存储器的装置具体可以包括如下模块：

指令发送模块41，用于将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器。

其中，存储器可以为任意存储器，包括当系统关闭或无电源供应时，所存储的信息不会消失的存储器和所存储的信息会消失的存储器。具体地，存储器与第一测试设备可以通过数据接口连接，第一测试设备可以为存储器供电。在存储器接收到启动自测试指令后，启动自测试控制器。

具体地，启动自测试指令可以为任意使自测试控制器进入测试模式的指令或指令序列。第一测试设备可以为可发送启动自测试指令至存储器的任意设备。

第一测试模块42，用于通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数。

具体地，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则各待测试功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等功能中的一个或多个。需要说明的是，在本发明的其它实施例中，存储器可执行的操作由存储器自身情况决定，可以为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作或其它操作中的一个或多个。

其中，在本发明的一个实施例中，第一测试模块42可以通过自测试控制器根据各待测试功能依次对存储器进行循环测试。

第二测试模块43，用于将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。

具体地，存储器与第二测试设备可以通过数据接口连接，第二测试设备可以为存储器供电。具体地，在本发明的一个实施例中，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则全功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等操作功能。

另外，若通过第二测试设备对存储器进行全功能测试时，所有测试均成功，则第二测试模块43判断存储器有效。

第一测试模块42后，存储器的老化自测试完成，由于此时，早期会失效的存储器个体已经在自测试过程中发生失效，此时第二测试模块43再使用功能齐备的第二测试设备对存储器进行最后一次全功能筛查，就能方便地把失效的存储器个体筛除出去。

需要说明的是，在本发明的一个实施例中，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息可以集成在启动自测试指令中。第一测试模块42可以通过自测试控制器根据各待测试功能对应的信息确定存储器的各待测试功能，以及根据预设最大测试次数对应的信息确定预设最大测试次数。此时，在指令发送模块41之前，可以对各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息根据存储器特性、测试需求等进行设置，从而达到最佳的测试效果。

在本发明的另一个实施例中，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息可以集成在自测试控制器中，此时，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息在生产自测试控制器的过程中根据存储器特性、测试需求等进行固定配置，之后不可改变。

本发明实施例三包括以下优点：通过在存储器中嵌入自测试控制器，在指令发送模块通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器后，启动自测试控制器，第一测试模块通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数，最后第二测试模块通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，且当任一功能测试失败时，判断存储器失效，实现筛除失效的存储器个体。

这样，对存储器的老化测试主要由存储器内的自测试控制器自动完成，第一测试设备只需发送启动自测试指令，第二测试设备只需在自测试控制器完成测试后对存储器进行全功能测试，就可以实现对失效存储器个体的筛除，不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

实施例四

参照图5，示出了本发明的另一种测试存储器的装置实施例的结构框图，存储器包括自测试控制器，自测试控制器可以嵌入或集成在存储器内部，各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息集成在启动自测试指令中，测试存储器的装置具体可以包括以下模块：

信息设置模块51，用于设置启动自测试指令中的各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息。

其中，存储器可以为任意存储器，包括当系统关闭或无电源供应时，所存储的信息不会消失的存储器和所存储的信息会消失的存储器。具体地，信息设置模块51可以根据存储器特性、测试需求等设置各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息。

指令发送模块52，用于将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器。

启动模块53，用于启动自测试控制器。

具体地，动自测试控制器后，自测试控制器进入测试模式。需要说明的是，启动自测试指令可以为任意使自测试控制器进入测试模式的指令或指令序列。

具体地，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则各待测试功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等功能中的一个或多个。需要说明的是，在本发明的其它实施例中，存储器可执行的操作由存储器自身情况决定，可以为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作或其它操作中的一个或多个。

第一测试模块54，用于通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；其中，第一测试模块54可以包括：

擦除操作单元541，用于当待测试功能为擦除操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行擦除操作。

写操作单元542，用于当待测试功能为写操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行写操作。

读操作单元543，用于当待测试功能为读操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行读操作。

其它操作单元544，用于当待测试功能为除擦除操作功能、写操作功能、读操作功能之外的其它操作功能时，通过自测试控制器对存储器进行相应的操作。

其中，在本发明的一个实施例中，第一测试模块54可以通过自测试控制器根据各待测试功能依次对存储器进行循环测试。

连接断开模块55，用于断开存储器与第一测试设备之间的连接。

第二测试模块56，用于将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。

具体地，在本发明的一个实施例中，若存储器根据操作指令可执行的操作为擦除操作、写操作、读操作、寻址操作、修改数据操作等操作，则全功能可以为擦除操作功能、写操作功能、读操作功能、寻址操作功能、修改数据操作功能等操作功能。

另外，若通过第二测试设备对存储器进行全功能测试时，所有测试均成功，则第二测试模块56判断存储器有效。

本发明实施例四包括以下优点：通过在存储器中嵌入自测试控制器，在信息设置模块设置启动自测试指令中的各待测试功能对应的信息和预设最大测试次数对应的信息后，指令发送模块通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器，启动模块启动自测试控制器，进而第一测试模块通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数，最后第二测试模块通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效，以及当所有测试均成功，判断存储器有效。

这样，对存储器的老化测试主要由存储器内的自测试控制器自动完成，第一测试设备只需发送启动自测试指令，第二测试设备只需在自测试控制器完成测试后对存储器进行全功能测试，就可以实现对失效存储器个体的筛除，不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种测试存储器的方法，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：

将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；

通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；

将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述通过所述第一测试设备发送启动自测试指令之前，还包括：

设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述自测试控制器根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，包括：

当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；

当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；

当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括以下步骤：

断开所述存储器与所述第一测试设备之间的连接。

7.一种测试存储器的装置，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的装置包括：

指令发送模块，用于将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；

第一测试模块，用于通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；

第二测试模块，用于将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，在所述指令发送模块之前，还包括：

信息设置模块，用于设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。