CN101763298A - 数据储存装置、数据储存控制器及相关自动化测试的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用以控制一数据储存组件之每一笔数据存取的数据储存控制器。数据储存控制器包含有一处理单元与一储存单元，其中该处理单元系用来执行一自动化测试程序以对该数据储存组件进行自动化测试，以及该储存单元系耦接于该处理单元，并用来储存该自动化测试程序。

Description

数据储存装置、数据储存控制器及相关自动化测试的方法

技术领域

本发明涉及对数据储存组件进行自动化测试(automated testing)之机制，尤其涉及一种用以对数据储存组件进行自动化测试的数据储存控制器、数据储存装置及其相关自动化测试方法。

背景技术

一般而言，传统上对内存组件进行测试的方式系以人工不断更改参数设定，逐一对不同的测试项目进行测试，举例来说，测试人员依据自内存组件之制造商所得到的基本规格，不断更改参数设定来进行测试，并以自身经验判断何种参数设定为最佳设定。然而，此种以人工经验判断来决定最佳参数设定的方式，其缺点除了耗时且容易出错外，更有可能受限于该名测试人员本身的经验而使测试流程不尽完善。

发明内容

因此本发明的目的之一在于提供一种用以对数据储存组件进行自动化测试的数据储存控制器、数据储存装置及其相关自动化测试方法，以解决习知所遭遇的问题。

依据本发明的实施例，其系揭露一种用以控制一数据储存组件之每一笔数据存取的数据储存控制器。数据储存控制器包含有一处理单元与一储存单元，其中该处理单元系用来执行一自动化测试程序以对该数据储存组件进行自动化测试，以及该储存单元系耦接于该处理单元，并用来储存该自动化测试程序。

依据本发明的实施例，其另揭露一种数据储存装置。该数据储存装置包含有一数据储存组件与一数据储存控制器，该数据储存控制器系耦接于该数据储存组件，并用来控制该数据储存组件的每一笔数据存取，以及执行一自动化测试程序(automatedtesting procedure)来对该数据储存组件进行自动化测试。

依据本发明的实施例，其系揭露一种利用一数据储存控制器对一数据储存组件进行一自动化测试的方法。其中，该数据储存组件的每一笔数据存取系由该数据储存控制器所控制，以及该方法包含有：将一自动化测试程序储存于该数据储存控制器；以及使用该数据储存控制器执行该自动化测试程序以对该数据储存组件进行该自动化测试。

本发明之实施例藉由执行该自动化测试程序，可有效避免发生人工测试所产生的错误，并达到降低人力成本与缩短整体测试时间的目的。此外，本发明的实施例并不会受限于人工经验的判断，因此，本发明的测试流程将较为完善。

附图说明

图1是本发明一实施例之数据储存装置的示意图；

图2a与图2b是图1所示之数据储存控制器之自动化测试程序对数据储存组件进行自动测试的流程图。

附图标记：

100        数据储存装置

105        数据储存组件

110        数据储存控制器

1105       处理单元

1110       储存单元

具体实施方式

请参照图1，图1是本发明一实施例之数据储存装置100的示意图。数据储存装置100包含有一壳体(未显示于图1中)、一数据储存组件105与一数据储存控制器110，其中数据储存组件105与数据储存控制器110系设置于该壳体的内部，实作上，本实施例的数据储存装置100系一NAND型快闪记忆装置(NAND flash apparatus)，例如快闪记忆卡，而数据储存组件105系一NAND型闪存组件(NAND flash memory)，数据储存控制器110则系一闪存控制器，一般而言，数据储存控制器110系依据一主机(未显示于图1中)之存取指令控制对于数据储存组件105之存取，数据储存控制器110系将存取指令之逻辑地址转换为相对应的实体地址，并依据实体地址对数据储存组件105进行存取。而在其它实施例中，数据储存组件105亦可利用其它类型的内存来实作之，例如NOR型闪存组件或其它类型的内存组件，而此亦属于本发明的范畴。

具体来说，数据储存控制器110具有一处理单元1105与一储存单元1110，其中，储存单元1110可为一只读存储器(ROM，Read Only Memory)，但不限于此，其系耦接于处理单元1105并用来预先储存一自动化测试程序(automated testing program)，而处理单元1105系用以执行该自动化测试程序来对数据储存组件105进行自动化测试，其中该自动化测试程序针对数据储存组件105进行复数个不同参数设定值的测试，以得出复数个测试结果，接着再依该等测试结果中一特定测试结果所对应的一特定参数设定值来决定数据储存控制器110存取数据储存组件105时的相关设定；实际上，在测试时数据储存控制器110的处理单元1105会使用该自动化测试程序先对数据储存组件105进行一预定参数设定值的测试，接着再以所设定的级距为单位对该预定参数值进行调整以得到至少一调整后的参数设定值，并对数据储存组件105进行一或多个调整后参数设定值的测试，因此，藉由执行该自动化测试程序，本发明之实施例可有效避免发生人工测试时的错误，并达到降低人力成本与缩短整体测试时间的目的。

实作上，举例来说，该自动化测试程序的测试方式先将一预定参数设定值(亦即第一组测试参数)设定为数据储存控制器110用以存取数据储存组件105之存取参数设定，再依据预定参数设定值写入一笔测试数据至数据储存组件105，再由数据储存组件105中读取出所写入的数据，若所读出的数据与原先写入的测试数据相同，则表示此预定参数设定值的测试结果成功，而若不同，则表示测试结果失败，一般来说，预定参数设定值的测试结果会成功(可将预定参数设定值设定为基本的参数设定值)，处理单元1105会接着调整该预定参数设定值并逐一以调整后的参数设定值来对数据储存组件105进行上述的写入/读取测试。例如，预定参数设定值中包含将逻辑高电压准位设为3.3V，而其相对应的测试结果亦成功，则接着可以调整参数设定值，将逻辑高电压准位设成3.2V或3.1V等以进行测试。

因此，最后可得到多个分别相对应于不同的参数设定值的测试结果，而该自动化测试程序会依据某一特定测试结果所对应的特定参数设定值来决定存取数据储存组件105的设定，一般而言，该自动化测试程序系由多个不同的成功测试结果中选出一特定成功测试结果，再以该特定成功测试结果所对应的特定参数设定值来作为存取数据储存组件105的参数设定。例如，将逻辑高电压准位设为3.3V、3.2V或3.1V均可得到成功的测试结果，则该自动化测试程序可将3.2V的逻辑高电压准位作为存取数据储存组件105的参数设定。

在另一实施例中，该等不同的参数设定值例如可以是数据储存组件105与数据储存控制器110之连接接脚(pin)上测试数据写入/读取时讯号脉波的不同宽度，处理单元1105系执行该自动化测试程序以一固定或非固定的级距由一预定讯号脉波宽度开始进行调整，例如预定讯号脉波宽度可为1微秒(μsecond)，于每次调整时得出不同的讯号脉波宽度来进行测试数据的写入或读取，例如逐次将讯号脉波宽度调整为0.95微秒、0.9微秒、0.85微秒等。因而藉此可得到不同讯号脉波宽度所对应的不同测试结果，接着该自动化测试程序会由该些不同的测试结果中选出上述的特定测试结果，并将该特定测试结果所对应的特定讯号脉波宽度储存于数据储存控制器110中，以作为存取数据储存组件105时的讯号脉波宽度设定。

而在上述实施例中，若所进行的测试项目为效能测试且测试参数为讯号脉波宽度，则该特定测试结果系代表一最佳效能的测试结果，举例来说，该效能测试可系指测试数据储存组件105写入兆字节(Megabyte)之数据所需的时间，因此，该特定测试结果系为写入兆字节数据所需的最短时间，此表示若使用该特定参数设定值(亦即特定讯号脉波宽度)来作为存取数据储存组件105时其连接接脚上的讯号脉波宽度大小，数据储存控制器110可达到最快将兆字节数据写入至数据储存组件105的功效。

此外，该等参数设定值并未被限定为不同的讯号脉波宽度，在另一实施例中，该等参数设定值亦可以是不同的时钟频率(clock frequency)、不同的讯号电压、不同的讯号电流或是不同的讯号稳定时间(signal setup/hold time)，换言之，本发明之该复数个不同参数设定值系讯号脉波宽度、时钟频率、讯号电压、讯号电流及讯号稳定时间中至少其中一个参数的不同参数值。

另外，本发明所进行的测试项目并非仅限于效能测试，在其它实施例中，测试项目亦可以是写入/读取的稳定性测试、省电测试或是其它测试；而对于稳定性测试来说，本发明的自动化测试程序系依据一特定稳定性标准来对数据储存组件105进行测试，例如连续存取一万笔数据均不得发生错误，而对于省电测试来说，本发明的自动化测试程序系依据一特定功率标准来对数据储存组件105进行测试，例如以一特定功率连续存取一万笔数据均不得发生错误。以稳定性测试项目为例，该自动化测试程序藉由调整讯号脉波宽度、时钟频率、讯号电压、讯号电流及讯号稳定时间等不同类别的参数设定值，最后即可获知为达到连续存取一万笔数据均未发生错误的功效，存取数据储存组件105时各参数设定值的最佳设定。

再者，虽然上述实施例系将该自动化测试程序预先储存于数据储存控制器110之储存单元1110中，当欲对数据储存组件105进行测试时，数据储存控制器110之处理单元1105再由储存单元1110加载该自动化测试程序以进行自动测试，然而，在其它实施例中，该自动化测试程序亦可储存于数据储存装置100外的一外部电子装置(例如个人计算机)中，当数据储存装置100开机时，处理单元1105先由该外部电子装置下载该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于储存单元1110中，因此，欲对数据储存组件105进行测试时，处理单元1105可由储存单元1110中加载上述所暂存的自动化测试程序以进行自动测试，之后再选择是否将自动测试的测试结果回报至该外部电子装置；甚至，在另一实施例中，系设计成将该自动化测试程序预先储存于数据储存组件105中，当数据储存装置100开机时，处理单元1105先由数据储存组件105读取出该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于储存单元1110中，因此，欲对数据储存组件105进行测试时，处理单元1105可由储存单元1110中加载上述所读出的自动化测试程序以进行自动测试；以上针对自动化测试程序所设计之储存方式的种种实施变化皆落入本发明的范畴。

请参照图2a与图2b，其所绘示为图1中数据储存控制器110之自动化程序对数据储存组件105进行自动测试的流程示意图；请注意，倘若大体上可达到实质相同的结果，并不需要一定照图2a与图2b所示之流程中的步骤顺序来进行，且图2a与图2b所示之步骤不一定要连续进行，亦即其它步骤亦可插入其中；详细步骤说明则描述于下：

步骤200：开始；

步骤205：于数据储存装置100之使用者界面(例如显示屏幕)上显示是否进行自动测试的讯息；

步骤210：使用者是否按下开启自动测试的按钮？若是，则进行步骤215，反之，则进行步骤260；

步骤215：决定此次自动测试时的参数设定值(例如讯号脉波宽度、时钟频率、讯号电压、讯号电流或是讯号稳定时间)，其中此步骤于第一次执行时系先将一预定参数设定值作为此次自动测试时的参数设定值，尔后再逐一调整预定参数设定值以产生自动测试时的参数设定值；

步骤220：开启数据储存组件105的电源；

步骤225：执行数据储存组件105的初始化程序，其中初始化程序包括确认数据储存组件105系为何种类型的内存组件(例如读取数据储存组件105的识别码来得知其型号)以及依据型号对其进行其它初始化测试；

步骤230：以步骤215中所决定之参数设定值进行至少一特定测试项目的自动化测试，其中该特定测试项目包括效能测试、稳定性测试及省电测试等测试项目的至少其中之一；

步骤235：测试结果是否成功？若是，则进行步骤240，反之，则进行步骤255；

步骤240：记录参数设定值与相关的测试结果；

步骤245：是否已完成所有参数设定值的测试？若是，进行步骤250，反之，进行步骤215；

步骤250：对于每一参数设定，由多个不同测试结果中挑选符合步骤230中之测试项目的一特定测试结果，并以该特定测试结果所对应的参数设定值来作为存取数据储存组件105的相关设定；

步骤255：记录此次测试失败的参数设定值，并再次进行步骤215；以及

步骤260：结束。

需注意的是，在步骤215中，决定自动测试时的参数设定值在每次执行时可仅决定一单一参数设定值的数值，例如可仅决定出讯号脉波宽度的大小数值，然而，在实作上该步骤在每次执行时亦可决定多个参数设定值的数值以供后续测试项目的测试，例如步骤215分别决定讯号脉波宽度、时钟频率、讯号电压、讯号电流与讯号稳定时间之测试时的数值；而此亦符合本发明的精神。此外，在步骤225中，确认数据储存组件105为何种类型之内存组件的操作系为了在自动测试完成之后可将数据储存组件105的型号与相关的存取设定记录于数据储存控制器110中，因此，若下次使用者欲立即使用数据储存装置100，则可直接依据型号来获知相关的参数设定值，而不需再次执行该自动化测试程序。而本发明之数据储存装置100的另一优势在于，即便日后温度、电压、使用环境或其它因素造成原先依据该自动化测试程序所决定的参数设定值已不合用，处理单元1105仍可再执行该自动化测试程序来取得存取数据储存组件105时适合的参数设定值，因此，一般使用者(并非数据储存控制器110的制造商)亦可自行对数据储存组件105进行测试，并依据测试结果设定存取数据储存组件105的各种参数，因而可使用具备省电、高效能及高稳定性优势的数据储存装置100，故在使用上与先前记忆卡相较，更具便利性。

此外，本发明之上述实施例可应用于使数据储存装置的制造商制造更符合客制化需求的产品，举例来说，若客户所要求的产品着眼于同时具有高效能与低成本优势的数据储存装置，则在数据储存装置100出厂前，数据储存控制器110可利用自动化测试程序针对不同类型的内存组件进行自动测试，以便从中找出通过效能测试且具备高效能优势的多个内存组件及相对应的参数设定值，接着再由该些内存组件选择具有低成本优势的内存组件作为数据储存组件105，换言之，本发明图2a与图2b所示之流程步骤可扩展应用于对各式各样的内存组件(例如各种NAND型的闪存组件)进行自动测试，因此，出厂后的数据储存装置100可更贴近客户的需求。

甚至，在数据储存装置100封装之后，即便封装之前未得知数据储存组件105的规格或型号，数据储存控制器110可于数据储存装置100开机启动时执行该自动化测试程序先对数据储存组件105进行测试，而在该自动化测试程序完成测试后，即可获知存取数据储存组件105的相关设定，故本发明在封装之前未得知数据储存组件105的规格或型号下仍可运作。

以上所述仅为本发明之较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做之均等变化与修饰，皆应属本发明之涵盖范围。

Claims (25)

1.一种用以控制一数据储存组件之每一笔数据存取之数据储存控制器，其特征在于包含有：

一处理单元，用来执行一自动化测试程序以对该数据储存组件进行自动化测试；以及

一储存单元，耦接于该处理单元，用来储存该自动化测试程序。

2.如权利要求1所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该数据储存组件系一闪存组件。

3.如权利要求1所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该处理单元系执行该自动化测试程序来对该数据储存组件分别进行复数个不同参数设定值之测试，以得出复数个测试结果，以及依据该复数个测试结果中一特定测试结果所对应之一特定参数设定值来决定该数据储存控制器存取该数据储存组件时之设定。

4.如权利要求3所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该复数个不同参数设定值系讯号脉波宽度、时钟频率(clock frequency)、讯号电压、讯号电流及讯号稳定时间(setup/hold time)中至少其一之不同参数值。

5.如权利要求3所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该处理单元系先对该数据储存组件进行一预定参数设定值之测试，再调整该预定参数设定值以得出至少一调整后参数设定值并对该数据储存组件进行该至少一调整后参数设定值之测试。

6.如权利要求3所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该处理单元系分别依据复数个不同测试项目执行该自动化测试程序来对该数据储存组件进行该复数个参数设定值之测试，其中该复数个不同测试项目包含有稳定性测试、效能测试或省电测试。

7.如权利要求1所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该处理单元系先由一外部电子装置下载该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于该储存单元中。

8.如权利要求1所述的数据储存控制器，其特征在于：其中该处理单元系先由该数据储存组件中取得该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于该储存单元中。

9.一种数据储存装置，其特征在于包含有：

一数据储存组件；以及

一数据储存控制器，耦接于该数据储存组件，用来控制该数据储存组件之每一笔数据存取，并执行一自动化测试程序(automated testing procedure)来对该数据储存组件进行自动化测试。

10.如权利要求9所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器另储存有一自动化测试程序，并执行所储存之该自动化测试程序来对该数据储存组件进行自动化测试。

11.如权利要求10所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器系由一外部电子装置中下载该自动化测试程序以进行该自动化测试程序。

12.如权利要求10所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器系由该数据储存组件中取得该自动化测试程序以进行该自动化测试程序。

13.如权利要求9所述的数据储存装置，其特征在于：另包含有一壳体，其中该数据储存组件与该数据储存控制器系设置于该壳体内。

14.如权利要求9所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存组件系一闪存组件。

15.如权利要求9所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器系执行该自动化测试程序来对该数据储存组件分别进行复数个不同参数设定值之测试，以得出复数个测试结果，以及依据该复数个测试结果中一特定测试结果所对应之一特定参数设定值来决定该数据储存控制器存取该数据储存组件时之设定。

16.如权利要求15所述的数据储存装置，其特征在于：其中该复数个不同参数设定值系讯号脉波宽度、时钟频率(clock frequency)、讯号电压、讯号电流与讯号稳定时间(setup/hold time)中至少其一之不同参数值。

17.如权利要求15所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器系先对该数据储存组件进行一预定参数设定值之测试，再调整该预定参数设定值以得出至少一调整后参数设定值并对该数据储存组件进行该至少一调整后参数设定值之测试。

18.如权利要求15所述的数据储存装置，其特征在于：其中该数据储存控制器系分别依据复数个不同测试项目执行该自动化测试程序来对该数据储存组件进行该复数个参数设定值之测试，其中该复数个不同测试项目包含有稳定性测试、效能测试或省电测试。

19.一种利用一数据储存控制器对一数据储存组件进行一自动化测试之方法，其特征在于：其中该数据储存组件之每一笔数据存取系由该数据储存控制器所控制，该方法包含有：

将一自动化测试程序储存于该数据储存控制器；以及

使用该数据储存控制器执行该自动化测试程序以对该数据储存组件进行该自动化测试。

20.如权利要求19所述的方法，其特征在于：其中对该数据储存组件进行该自动化测试之步骤包含有：

执行该自动化测试程序来对该数据储存组件分别进行复数个不同参数设定值之测试，以得出复数个测试结果；以及

依据该复数个测试结果中一特定测试结果所对应之一特定参数设定值来决定存取该数据储存组件时之设定。

21.如权利要求20所述的方法，其特征在于：其中该复数个不同参数设定值系讯号脉波宽度、时钟频率(clock frequency)、讯号电压、讯号电流与讯号稳定时间(setup/hold time)中至少其一之不同参数值。

22.如权利要求20所述的方法，其特征在于：其中对该数据储存组件分别进行该复数个不同参数设定值之测试的步骤包含有：

对该数据储存组件进行一预定参数设定值之测试；

调整该预定参数设定值以得出至少一调整后参数设定值；以及

对该数据储存组件进行该至少一调整后参数设定值之测试。

23.如权利要求20所述的方法，其特征在于：其中对该数据储存组件分别进行该复数个不同参数设定值之测试的步骤包含有：

分别依据复数个不同测试项目执行该自动化测试程序来对该数据储存组件进行该复数个参数设定值之测试，其中该复数个不同测试项目包含有稳定性测试、效能测试或省电测试。

24.如权利要求19所述的方法，其特征在于：其中将该自动化测试程序储存于该数据储存控制器的步骤包含有：

由一外部电子装置下载该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于该数据储存控制器中。

25.如权利要求19所述的方法，其特征在于：其中将该自动化测试程序储存于该数据储存控制器的步骤包含有：

先由该数据储存组件中取得该自动化测试程序，再将该自动化测试程序暂存于该数据储存控制器中。

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