CN109308162A - 闪存的优化装置、优化方法及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种闪存的优化装置、优化方法及设备。所述优化装置包括：环境信息获取模块，用于获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；测试结果记录模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；参数设置调整模块，用于根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。通过本发明的技术方案，能够提高测试效率，降低测试成本，使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
Description
技术领域
本发明实施例涉及闪存技术，尤其涉及一种闪存的优化装置、优化方法及设备。
背景技术
闪存FLASH作为一种非易失性半导体存储器，其在生产过程中，需要进行一系列测试，以训练FLASH的性能。
传统测试FLASH的方法是采用测试机台，并使用相同的测试流程和数据形式对FLASH进行测试，不仅效率低、成本高，而且测试完成后的FLASH并不能在不同的应用场合下的使用性能都达到最优。
发明内容
本发明实施例提供一种闪存的优化装置、优化方法及设备，以实现提高测试效率，降低测试成本，使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
第一方面，本发明实施例提供了一种闪存的优化装置，该装置包括：
环境信息获取模块，用于获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；
测试结果记录模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；
参数设置调整模块，用于根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
进一步的，还包括：
对应记录模块，用于在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
进一步的，所述使用环境信息包括：环境温度信息和/或操作频率信息。
进一步的，所述测试结果记录模块具体用于：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对所述测试数据进行收集与分析，记录与所述测试数据对应的测试结果。
进一步的，还包括：
测试流程优化模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果之前，根据所述使用环境信息对测试流程进行优化，其中，所述测试流程包括测试顺序和/或测试参数。
第二方面，本发明实施例还提供了一种闪存的优化方法，包括：
获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；
在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；
根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
进一步的，在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，还包括：
对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
进一步的，所述使用环境信息包括：环境温度信息和/或操作频率信息。
进一步的，所述在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果包括：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对所述测试数据进行收集与分析，记录与所述测试数据对应的测试结果。
进一步的，在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果之前，还包括：
根据所述使用环境信息对测试流程进行优化，其中，所述测试流程包括测试顺序和/或测试参数。
第三方面，本发明实施例还提供了一种终端设备，该设备包括：本发明实施例中任一所述的闪存的优化装置。
本发明实施例提供了一种闪存的优化装置，利用其包括的环境信息获取模块、测试结果记录模块以及参数设置调整模块，获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息，并在每种使用环境下基于该使用环境信息对闪存进行测试，最后根据记录的测试结果调整闪存的参数设置，直到该测试结果达到该使用环境对应的目标结果，利用了直接获取的至少一种使用环境信息以及基于该使用环境信息测试的结果能够快捷化、自动化、全面化地调整闪存参数设置的优点，解决了现有技术中因采用传统测试机台人工进行闪存测试的方式而导致的测试效率低、成本高、性能无法达到最优的问题，实现了提高测试效率，降低测试成本，使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的一种闪存的优化装置的结构示意图；
图2是本发明实施例二提供的一种闪存的优化方法的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种闪存的优化装置的结构示意图。参考图1，闪存的优化装置包括：环境信息获取模块110、测试结果记录模块120以及参数设置调整模块130，下面对各模块进行具体说明。
环境信息获取模块110，用于获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息。
其中，使用环境可以是典型的闪存使用环境，例如，典型的闪存使用环境可以包括：高速读取环境、高速缓存环境、连续读取环境、低功耗环境等。示例性的，可通过MCU(Single Chip Microcomputer，单片机)搭建的测试系统模拟至少一种使用环境，例如，可使用单片机并通过编程实现使用环境的模拟示范功能。可选的，使用环境信息可以是用于表征不同使用环境特征的参数值。
优选的，使用环境信息包括但不限于：环境温度信息和/或操作频率信息。
示例性的，环境温度信息可以是指当前闪存所处的环境温度，操作频率信息可以是指对闪存的读、写、擦等操作的频率。
获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息的目的在于，将使用环境进行量化，以方便在测试过程中精确测试环境，从而提高对闪存测试的准确性，有助于更好地测试不同使用环境下的闪存性能。
测试结果记录模块120，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果。
可选的，在测试过程中可使用不同环境下获取的使用环境信息对闪存进行精确测试，以训练闪存在不同环境下的使用性能。示例性的，使用高速读取环境下获取的读取频率对闪存进行测试，并相应地记录该种读取频率下的测试结果。其中，测试结果可包括闪存的各项性能指标，用以衡量闪存在该种使用环境下的性能表现。
优选的，测试结果记录模块120具体用于：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对所述测试数据进行收集与分析，记录与所述测试数据对应的测试结果。
可选的，一种使用环境可对应于一种环境温度和/或操作频率。示例性的，在不同的使用环境下，分别采用不同的环境温度和操作频率对闪存进行测试，例如在高温高速读取环境中，可采用高温条件和高速读取条件进行对闪存进行连续重复测试，得到一组测试数据，再对这组测试数据进行收集和分析，并记录与该组测试数据对应的测试结果，比如读取闪存所花费的平均时间。
优选的，还包括：
测试流程优化模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果之前，根据所述使用环境信息对测试流程进行优化，其中，所述测试流程包括测试顺序和/或测试参数。
可选的，由于不同的使用环境需要测试的性能的重要程度不同，因此可对应于不同的测试顺序。对于不同的使用环境可根据重要程度设置不同的优先级以决定测试顺序，对测试顺序进行适应性调整，以达到对测试流程进行优化的目的。例如，对于高速读取环境下的测试顺序可设置为首先收集阈值电压分布，即首先测试对读干扰(read disturb)有影响的参数，如读取速度、读取电压等参数。
可选的，测试参数包括但不限于测试温度、测试频率，相应的，对测试参数进行优化，包括根据不同的使用环境信息对测试参数进行相应的调整，以达到对测试流程进行优化的目的。
参数设置调整模块130，用于根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
可选的，可通过分析测试结果与目标结果的对比情况，相应地调整闪存的参数设置，调整后在相同环境条件下继续进行测试，直至最后得到的测试结果能够达到该使用环境对应的目标结果。例如，在高速读取环境下，若读取闪存所花费的平均时间未小于预设的目标时间，则调整闪存的擦写速度，以继续提高闪存的读取速度，降低读取闪存所花费的平均时间，直至测试结果小于预设的目标时间。这样设置的好处在于，可以简化测试流程，无需人工参与即可自动化完成整个测试过程，并将多种环境下的测试集中进行，从而提高了测试效率，降低了测试成本，一个闪存对应于多套环境测试的方式又使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
优选的，还包括：
对应记录模块，用于在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
示例性的，由于每种闪存的性能并不完全一样，因而不同的闪存达到最佳性能时所对应的参数也不尽相同，因此，每当一种使用环境下的测试结果达到该使用环境所对应的目标结果时，都需要记录当前测试结果所对应的闪存最终设置的参数，使得每种环境下均有一个最佳性能参数，以使该闪存在使用过程中能根据需要及时调取该记录，在不同的使用环境下均能够根据相应的参数记录达到最优性能。
本发明实施例提供了一种闪存的优化装置，利用其包括的环境信息获取模块、测试结果记录模块以及参数设置调整模块，获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息，并在每种使用环境下基于该使用环境信息对闪存进行测试，最后根据记录的测试结果调整闪存的参数设置，直到该测试结果达到该使用环境对应的目标结果，利用了直接获取的至少一种使用环境信息以及基于该使用环境信息测试的结果能够快捷化、自动化、全面化地调整闪存参数设置的优点，解决了现有技术中因采用传统测试机台人工进行闪存测试的方式而导致的测试效率低、成本高、性能无法达到最优的问题，实现了提高测试效率，降低测试成本，使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的一种闪存的优化方法的流程示意图。该方法可适用于对闪存进行优化的情况，该方法可以由闪存的优化装置来执行，该装置可由硬件和/或软件组成，并一般可集成在闪存以及所有包含存储功能的终端设备中。具体包括如下：
S210、获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息。
其中，使用环境可以是典型的闪存使用环境，例如，典型的闪存使用环境可以包括：高速读取环境、高速缓存环境、连续读取环境、低功耗环境等。示例性的，可通过MCU搭建的测试系统模拟至少一种使用环境，例如，可使用单片机并通过编程实现使用环境的模拟示范功能。可选的，使用环境信息可以是用于表征不同使用环境特征的参数值。
优选的，使用环境信息包括：环境温度信息和/或操作频率信息。
示例性的，环境温度信息可以是指当前闪存所处的环境温度，操作频率信息可以是指对闪存的读、写、擦等操作的频率。
获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息的目的在于，将使用环境进行量化，以方便在测试过程中精确测试环境，从而提高对闪存测试的准确性，有助于更好地训练不同使用环境下的闪存性能。
S220、在每种使用环境下基于使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果。
可选的，在测试过程中可使用不同环境下获取的使用环境信息对闪存进行精确测试，以训练闪存在不同环境下的使用性能。示例性的，使用高速读取环境下获取的读取频率对闪存进行测试，并相应地记录该种读取频率下的测试结果。其中，测试结果可包括闪存的各项性能指标，用以衡量闪存在该种使用环境下的性能表现。
优选的，在每种使用环境下基于使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果包括：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对测试数据进行收集与分析，记录与测试数据对应的测试结果。
可选的，一种使用环境可对应于一种环境温度和/或操作频率。示例性的，在不同的使用环境下，分别采用不同的环境温度和操作频率对闪存进行测试，例如在高温高速读取环境中，可采用高温条件和高速读取条件进行对闪存进行连续重复测试，得到一组测试数据，再对这组测试数据进行收集和分析，并记录与该组测试数据对应的测试结果，比如读取闪存所花费的平均时间。
优选的，在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果之前，还包括：
根据使用环境信息对测试流程进行优化，其中，测试流程包括测试顺序和/或测试参数。
可选的，由于不同的使用环境需要测试的性能的重要程度不同，因此可对应于不同的测试顺序。对于不同的使用环境可根据重要程度设置不同的优先级以决定测试顺序，对测试顺序进行适应性调整，以达到对测试流程进行优化的目的。例如，对于高速读取环境下的测试顺序可设置为首先收集阈值电压分布，即首先测试对读干扰(read disturb)有影响的参数，如读取速度、读取电压等参数。
可选的，测试参数可包括测试温度、测试频率等，相应的，对测试参数进行优化，包括根据不同的使用环境信息对测试参数进行相应的调整，以达到对测试流程进行优化的目的。
S230、根据测试结果调整闪存的参数设置直到测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
可选的，可通过分析测试结果与目标结果的对比情况，相应地调整闪存的参数设置，调整后在相同环境条件下继续进行测试，直至最后得到的测试结果能够达到该使用环境对应的目标结果。例如，在高速读取环境下，若读取闪存所花费的平均时间未小于预设的目标时间，则调整闪存的擦写速度，以继续提高闪存的读取速度，降低读取闪存所花费的平均时间，直至测试结果小于预设的目标时间。这样设置的好处在于，可以简化测试流程，无需人工参与即可自动化完成整个测试过程，并将多种环境下的测试集中进行，从而提高了测试效率，降低了测试成本，一个闪存对应于多套环境测试的方式又使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
优选的，在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，还包括：
对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
示例性的，由于每种闪存的性能并不完全一样，因而不同的闪存达到最佳性能时所对应的参数也不尽相同，因此，每当一种使用环境下的测试结果达到该使用环境所对应的目标结果时，都需要记录当前测试结果所对应的闪存最终设置的参数，使得每种环境下均有一个最佳性能参数，以使该闪存在使用过程中能根据需要及时调取该记录，在不同的使用环境下均能够根据相应的参数记录达到最优性能。
本实施例的技术方案，通过获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息，并在每种使用环境下基于该使用环境信息对闪存进行测试，最后根据记录的测试结果调整闪存的参数设置，直到该测试结果达到该使用环境对应的目标结果，解决了现有技术中因采用传统测试机台人工进行闪存测试的方式而导致的测试效率低、成本高、性能无法达到最优的问题，实现了提高测试效率，降低测试成本，使得经测试后的闪存在不同的使用环境下均能达到最优性能。
实施例三
本发明实施例三还提供了一种终端设备，该终端设备使用如本发明实施例一提供的闪存的优化装置时，可实现如本发明实施例二提供的闪存的优化方法，该方法包括：获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
当然,本发明实施例所提供的一种终端设备,其使用如本发明实施例一提供的闪存的优化装置时不限于实现如上所述的方法操作,还可以实现本发明任意实施例所提供的闪存的优化方法中的相关操作。
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以硬件产品的形式体现出来，该硬件产品可以设置在各种终端设备中，如计算机、手机、智能穿戴设备等，包括若干指令用以使得终端设备执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是，上述闪存的优化装置的实施例中，所包括的各个模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种闪存的优化装置，其特征在于，包括：
环境信息获取模块，用于获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；
测试结果记录模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；
参数设置调整模块，用于根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
2.根据权利要求1所述的优化装置，其特征在于，还包括：
对应记录模块，在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
3.根据权利要求1所述的优化装置，其特征在于，所述使用环境信息包括：环境温度信息和/或操作频率信息。
4.根据权利要求3所述的优化装置，其特征在于，所述测试结果记录模块具体用于：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对所述测试数据进行收集与分析，记录与所述测试数据对应的测试结果。
5.根据权利要求1所述的优化装置，其特征在于，还包括：
测试流程优化模块，用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果之前，根据所述使用环境信息对测试流程进行优化，其中，所述测试流程包括测试顺序和/或测试参数。
6.一种闪存的优化方法，其特征在于，包括：
获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息；
在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果；
根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果。
7.根据权利要求6所述的优化方法，其特征在于，在根据所述测试结果调整所述闪存的参数设置直到所述测试结果达到该使用环境对应的目标结果之后，还包括：
对应记录使用环境和所述闪存在所述使用环境下最终设置的参数。
8.根据权利要求6所述的优化方法，其特征在于，所述使用环境信息包括：环境温度信息和/或操作频率信息。
9.根据权利要求8所述的优化方法，其特征在于，所述在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试，并记录测试结果包括：
在每种使用环境对应的环境温度下使用不同的操作频率对闪存进行测试，得到测试数据；
对所述测试数据进行收集与分析，记录与所述测试数据对应的测试结果。
10.一种终端设备，其特征在于，所述设备包括权利要求1-5中任一项所述的闪存的优化装置。
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