CN105825898B - 动态存储器测试装置及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种动态存储器的测试装置及测试方法。动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测试程序码并借助执行存储器测试程序码以对动态存储器执行测试操作。
Description
技术领域
本发明涉及一种动态存储器测试装置及测试方法，且特别是涉及一种利用系统整合式芯片进行外部动态存储器测试的测试装置及测试方法。
背景技术
请参见图1，图1绘示公知技术的动态存储器测试装置的方块。在图1中，控制器110耦接至动态存储器120，并针对动态存储器120执行测试操作。控制器110是系统整合式芯片。在此架构下，当控制器110针对外部的动态存储器进行测试时，控制器110会由动态存储器120来读取测试程序码121，并通过执行测试程序码121来对动态存储器120进行测试操作。
由上述的说明可以得知，图1绘示的公知技术的动态存储器测试装置中，由于测试程序码121被储存在动态存储装置120，因此，动态存储器120中用来储存测试程序码121的存储区块的内容不可以被破坏，也因此，要针对储存测试程序码121的存储区块进行测试是不可能的。也就是说，这样的架构并无法针对动态存储器120进行完整的测试操作。
再者，在动态存储装置120储存测试程序码121的存储区块无法被测试的前提下，一旦储存测试程序码121的存储区块有损坏的现象发生时，所储存的测试程序码121也必然是不正确的数据。当控制器110执行错误的测试程序码121时，将无法有效执行测试操作，严重的还可能会造成系统死机或是重新开机的可能。
发明内容
本发明提供一种动态存储器测试装置及测试方法，可提升动态存储器的测试效能。
本发明的动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测试程序码并借助执行存储器测试程序码以对动态存储器执行测试操作。
在本发明的一实施例中，动态存储器测试装置还包括连接接口。连接接口耦接至内嵌式存储装置，其中，内嵌式存储装置借助连接接口耦接外部储存单元，并由外部储存单元读取存储器测试程序码。
在本发明的一实施例中，上述的连接接口包括内部系统总线接口及通用串行总线接口的至少其中之一。
在本发明的一实施例中，上述的控制单元包括中央处理单元以及动态存储器控制器。动态存储器控制器耦接中央处理单元，其中，中央处理单元执行存储器测试程序码以通过动态存储器控制器对动态存储器执行测试操作。
在本发明的一实施例中，上述的内嵌式存储装置包括静态存储器以及静态存储器控制器。静态存储器用以储存存储器测试程序码。静态存储器控制器耦接静态存储器，静态存储器控制器接收存储器测试程序码，并将存储器测试程序码储存于静态存储器中，并由静态存储器读取存储器测试程序码以提供存储器测试程序码至中央处理单元。
在本发明的一实施例中，上述的静态存储器还包括储存动态存储器的初始化信息以及动态存储器的测试模式启动信息。
本发明提出的动态存储器的测试方法，包括：提供系统整合式芯片，并使存储器测试程序码储存于系统整合式芯片的内嵌式存储装置中；由内嵌式存储装置读取存储器测试程序；以及，执行存储器测试程序以对动态存储器执行测试操作。
基于上述，本发明将测试程序码放置在受测的动态存储器的外部，如此一来，动态存储器可以完整的被测试，且系统整合式芯片所执行的测试程序码也不会有可能发生错误的状态，使动态存储器的测试操作，可以无风险地有效被执行。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文列举实施例，并配合附图做详细说明如下。
附图说明
图1绘示的公知技术的动态存储器测试装置。
图2绘示本发明一实施例的动态存储器测试装置的示意图。
图3绘示本发明另一实施例的动态存储器测试装置的示意图。
图4绘示本发明实施例的系统式整合芯片400的一实施方式。
图5绘示本发明实施例中静态存储器的储存内容的示意图。
图6绘示本发明实施例的动态存储器测试装置的逻辑地址配置的示意图。
图7绘示本发明一实施例的动态存储器测试的流程图。
附图符号说明
110：控制器
120：动态存储器
121：测试程序码
200：动态存储器测试装置
300：动态存储器测试装置
210：系统整合式芯片
310：系统整合式芯片
400：系统整合式芯片
220、320：动态存储器
211、311、410：控制单元
TCODE：存储器测试程序码
D3：存储器测试程序码
212：内嵌式存储装置
312：内嵌式存储装置
313：连接接口
330：外部储存单元
411：中央处理单元
412：动态存储器控制器
420：内嵌式存储装置
422：静态存储器
D1：初始化信息
D2：测试模式启动信息
S710～S730：存储器测试步骤
具体实施方式
请参照图2，图2绘示本发明一实施例的动态存储器测试装置的示意图。动态存储器测试装置200包括系统整合式芯片210。其中，系统整合式芯片210耦接动态存储器220并可对动态存储器220进行测试操作。动态存储器220可以是动态随机存储器(DynamicRandom Access Memory,DRAM)。
系统整合式芯片210包括控制单元211以及内嵌式存储装置212。控制单元211耦接至动态存储器220，内嵌式存储装置212则耦接至控制单元211。其中，关于动态存储器220的测试方面，内嵌式存储装置212可储存存储器测试程序码TCODE，而当动态存储器220的测试操作要进行时，控制单元211可由内嵌式存储装置212读取其所储存的存储器测试程序码TCODE，并通过执行存储器测试程序码TCODE来进行对动态存储器220的测试操作。
在本实施例中，存储器测试程序码TCODE可以由系统整合式芯片210外部的元件来提供，其中，内嵌式存储装置212可以由外部元件来接收存储器测试程序码TCODE，并将其储存在内嵌式存储装置212中。当控制单元211要执行动态存储器220的测试操作时，内嵌式存储装置212则可提供其所储存的存储器测试程序码TCODE至控制单元211以供控制单元211执行相对应的动态存储器220的测试操作。
值得注意的是，本发明实施例存储器测试程序码TCODE并非由受测的动态存储器220所提供。也就是说，存储器测试程序码TCODE并不会占去动态存储器220的部分存储区域。当控制单元211对动态存储器220进行测试操作时，可以完整地对动态存储器220的所有的存储区域进行测试。另外，本发明实施例存储器测试程序码TCODE可以由可靠的(测试过的)外部元件来提供，因此，存储器测试程序码TCODE可以确定是正确无误的测试程序码。控制单元211执行存储器测试程序码TCODE可正确地执行动态存储器220的测试操作，系统整合式芯片210不至于会有发生死机会重新开机的可能。
请参照图3，图3绘示本发明另一实施例的动态存储器测试装置的示意图。动态存储器测试装置300包括系统整合式芯片310。其中，系统整合式芯片310耦接动态存储器320并可对动态存储器320进行测试操作。
系统整合式芯片310包括控制单元311、内嵌式存储装置312以及连接接口313。与前述实施例不相同的，本实施例的内嵌式存储装置312还耦接至连接接口313，且通过连接接口313连接至外部储存单元330。外部储存单元330是不同于动态存储器320的另一个储存元件。外部储存单元330中预先存有存储器测试程序码，并通过连接接口313将存储器测试程序码提供给内嵌式存储装置312。
附带一提的，连接接口313可以是内部系统总线(Internal System Bus)或通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口，而外部储存单元330可以例如是快闪存储器。此外，在本实施例中，系统整合式芯片310与动态存储器320可以与外部储存单元330架构在相同或不同的电路板上。
连接接口313可以是系统式整合芯片310的内部系统总线接口形式，外部储存单元330(可以是NAND或是NOR型式的快闪存储器所建构)中的存储器测试程序码直接读取并存放于系统式整合芯片310的内嵌式存储装置312，并提供控制单元311执行。在这样的架构下，在本实施例的系统整合式芯片310、动态存储器320以及外部储存单元330都可以架构在相同的电路板上。
另外，连接接口313也可以是耦接至外部USB接口形式，通过USB OTG(On-The-Go)接口将存储器测试程序码传输至系统式整合芯片310的内嵌式存储装置312中，并提供控制器311来执行。值得一提的是，在这样的架构下，外部的USB形式的连接接口313可连接至不设置在同一电路板上的外部储存单元330。
当然，连接接口313也可以同时包括内部系统总线接口以及外部USB接口，使用者可以依据需求来选择所需的接口进行连接。
以下请参照图4，图4绘示本发明实施例的系统式整合芯片400的一实施方式。系统式整合芯片400包括控制单元410以及内嵌式存储装置420。控制单元410包括中央处理单元411以及动态存储器控制器412。内嵌式存储装置420则包括静态存储器控制器421以及静态存储器422。
静态存储器控制器421可由外部读取存储器测试程序码TCODE，并将存储器测试程序码TCODE储存在静态存储器422中。当中央处理单元411要进行外部的动态存储器进行测试时，中央处理单元411可通过静态存储器控制器421由静态存储器422中读出存储器测试程序码TCODE，中央处理单元411并可借助执行存储器测试程序码TCODE来对外部的动态存储器进行测试。
另外，当动态存储器测试时，动态存储器控制器412可依据存储器测试程序码TCODE的执行操作来对受测的动态存储器进行测试操作，例如对受测的动态存储器执行地址设定、数据写入以及数据读出等相关操作。
值得注意的是，本实施例中对应存储器测试程序码TCODE的存储器测试操作可以是本领域技术人员所熟知的动态存储器测试操作，没有特定的限制。
此外，请参照图5，图5绘示本发明实施例中静态存储器的储存内容的示意图。其中，静态存储器422除可储存存储器测试程序D3外，尚可储存关于动态存储器的初始化信息D1以及关于动态存储器的测试模式启动信息D2等。
由图5可以得知，当中央处理单元411要进行动态存储器的测试操作时，可以先由静态存储器422中读取初始化信息D1，借此，中央处理单元411可先对受测的动态存储器进行初始化的操作。接着，中央处理单元411再读取静态存储器422中的动态存储器的测试模式启动信息D2，并借助测试模式启动信息D2来启动受测的动态存储器的测试操作。最后，中央处理单元411读取存储器测试程序D3，并借此对受测的动态存储器进行测试操作。
值得一提的，本发明实施例中，除可以对受测的动态存储器进行数据写入以及数据读出的验证操作以测试动态存储器外，还可以通过初始化信息D1来改变受测的动态存储器内部的存取的时间信息(例如改变位线均衡延迟时间(BLEQ Delay Time(Bit lineequalization Delay Time))，和/或改变动态存储器的核心电压(core voltage)来进行测试。如此一来，动态存储器的测试时间可以缩短，另外，还可利用不同电压进行动态存储器的测试操作。
接着请参照图6，图6绘示本发明实施例的动态存储器测试装置的逻辑地址配置的示意图。在图6中，逻辑地址0x4000_0000以上的区域可以配置为其中的输入输出装置(I/O)所使用的存储地址，介于逻辑地址0x4000_0000至0x3000_0000间则可对应至受测的动态存储器的实体地址；介于逻辑地址0x3000_0000至0x1000_0000间则配置给输入输出装置(I/O)以及介于逻辑地址0x1000_0000至0x0001_0000间配置为只读存储器所使用的存储地址。另外，介于逻辑地址0x0001_0000至0x0000_0000间则配置为内嵌式存储装置中的静态存储器所使用的地址。
在图6的地址配置方式中，逻辑地址0x0001_0000至0x0000_0000间可用于对应静态存储器中储存存储器测试程序码的实体地址。在当要对外部的动态存储器进行测试时，可依据存储器测试程序码来将逻辑地址设定在逻辑地址0x4000_0000至0x3000_0000间，并借此对应至受测的动态存储器的实体地址，并借此对受测的动态存储器进行测试操作。
请参照图7，图7绘示本发明一实施例的动态存储器测试的流程图。首先，在步骤S710中，提供系统整合式芯片，并使存储器测试程序码储存于系统整合式芯片的内嵌式存储装置中，并且，当要对待测的动态存储器进行测试时，在步骤S720中由内嵌式存储装置读取存储器测试程序，并在步骤S730中，依据执行存储器测试程序来对动态存储器进行测试操作。
关于本发明实施例中的实施细节，在前述的实施例及实施方式中已有详尽的说明，以下恕不多赘述。
值得一提的是，通过上述实施例所说明的动态存储器的测试方式，这种系统端的测试装置及测试方法，在当发现动态存储器有错误的情况发生时，可以即时的通过动态存储器中的电子熔丝(e-Fuse)进行动态存储器的修复操作，提升动态存储器的妥善率。
综上所述，本发明借助非受测动态存储器作为储存媒介来提供存储器测试程序码，并将存储器测试程序码储存在系统整合式芯片中的内嵌式存储装置中。在要进行外部的动态存储器的测试操作时，则使系统整合式芯片中的控制单元执行存储器测试程序码，就可对受测的动态存储器进行完整的测试操作。重点在于，受测的动态存储器不需要提供部分的储存区域来储存存储器测试程序码，所有的动态存储器的储存区域都可以在测试过程中被测试到。另外，存储器测试程序码来自于可靠的储存媒介，系统整合式芯片不会有因为执行不可靠的存储器测试程序码而发生死机或重新启动的风险。
Claims (8)
1.一种动态存储器测试装置，包括：
一系统整合式芯片，耦接至该动态存储器，包括：
一控制单元，耦接至该动态存储器；以及
一内嵌式存储装置，储存一存储器测试程序码，
其中，该控制单元读取该存储器测试程序码并借助执行该存储器测试程序码以对该动态存储器执行测试操作，
其中，该测试操作包括通过该动态存储器的初始化信息来改变该动态存储器内部的存取的时间信息及该动态存储器的核心电压的至少其中一个。
2.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，还包括：
一连接接口，耦接至该内嵌式存储装置，
其中，该内嵌式存储装置借助该连接接口耦接一外部储存单元，并由该外部储存单元读取该存储器测试程序码。
3.如权利要求2所述的动态存储器测试装置，其中该连接接口包括内部系统总线接口及通用串行总线接口的至少其中之一。
4.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，其中该控制单元包括：
一中央处理单元；以及
一动态存储器控制器，耦接该中央处理单元，
其中，该中央处理单元执行该存储器测试程序码以通过该动态存储器控制器对该动态存储器执行测试操作。
5.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，其中该内嵌式存储装置包括：
一静态存储器，用以储存该存储器测试程序码；以及
一静态存储器控制器，耦接该静态存储器，该静态存储器控制器接收该存储器测试程序码，并将该存储器测试程序码储存于该静态存储器中，该静态存储器控制器并从该静态存储器读取该存储器测试程序码以提供该存储器测试程序码至中央处理单元。
6.如权利要求5所述的动态存储器测试装置，其中该静态存储器还包括储存该动态存储器的初始化信息以及该动态存储器的测试模式启动信息。
7.一种动态存储器的测试方法，包括：
提供一系统整合式芯片，并使一存储器测试程序码储存于该系统整合式芯片的一内嵌式存储装置中；
由该内嵌式存储装置读取该存储器测试程序码；以及
执行该存储器测试程序码以对该动态存储器执行测试操作，
其中，该测试操作包括通过该动态存储器的初始化信息来改变该动态存储器内部的存取的时间信息及该动态存储器的核心电压的至少其中一个。
8.如权利要求7所述的动态存储器的测试方法，其中使该存储器测试程序码储存于该系统整合式芯片的该内嵌式存储装置中的步骤包括：
将该存储器测试程序码储存于该系统整合式芯片外的一外部储存单元中；
通过该系统整合式芯片由该外部储存单元读取该存储器测试程序码，并将该存储器测试程序码储存于该内嵌式存储装置中。
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