CN105242977B - 一种智能终端的存储访问性能的测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种智能终端的存储访问性能的测试方法及装置。所述智能终端的存储访问性能测试方法包括:获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址;在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。本发明实施例的技术方案提供了一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
Description
技术领域
本发明实施例涉及智能终端存储技术,尤其涉及一种智能终端的存储访问性能的测试方法及装置。
背景技术
随着智能手机等智能终端越来越普及,极大的方便了用户的生活、娱乐和学习。伴随着科技的快速发展,智能终端的更新换代越来越快,人们对智能终端的存储访问性能的要求越来越高。
目前,通常采用专门的测试系统对智能终端的存储访问性能进行测试,测试过程复杂繁琐,便捷性差。
发明内容
本发明提供一种智能终端的存储访问性能的测试方法及装置,以提供一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
第一方面,本发明实施例提供了一种智能终端的存储访问性能的测试方法,所述方法包括:
获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址;
在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;
根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;
根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
第二方面,本发明实施例还提供了一种智能终端的存储访问性能的测试装置,所述装置包括:
存储地址获取模块,用于获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址;
待读地址获取模块,用于在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;
读取次数更新模块,用于根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;
测试结果确定模块,用于根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
本发明实施例根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数,并根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果,简单易操作,解决了现有智能终端的存储访问性能测试过程复杂繁琐,便捷性差的问题,即,本发明提供了一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
附图说明
图1是本发明实施例一中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图;
图2是本发明实施例二中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图;
图3是本发明实施例三中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图;
图4是本发明实施例四中的一种智能终端的存储访问性能的测试装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1是本发明实施例一中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图,该方法可以由智能终端的存储访问性能的测试装置来执行,其中该装置可以由软件和/或硬件实现,该装置通常配置在用户所使用的智能终端中,智能终端可以是诸如手机、平板电脑之类的电子设备。如图1所示,所述方法具体可以包括如下步骤:
步骤110、获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址。
其中,设定的访问性能文件为终端存储中访问频率较高,且最接近终端存储的访问频率的文件,对该文件的类型以及所在的存储位置不做具体限定。所述存储地址包括存储的起始地址和终止地址。具体的可以通过智能终端或PC(Personal Computer,个人计算机)通过相应的读取指令获取所述访问性能文件在智能终端中的存储地址。
步骤120、在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址。
其中,可以在终端的访问存储的接口函数中接收到read(读)命令时产生读取事件,例如read命令可是MMC_READ_MULTIPLE_BLOCK命令和MMC_READ_SINGLE_BLOCK命令。在接收到read命令时,获取待读取文件存储在智能终端中的起始地址和终止地址。
步骤130、根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数。
具体的,若所述待读取文件的存储地址在所述访问性能文件的存储地址范围内,则说明所述待读取文件包含于所述访问性能文件中,即要读取所述访问性能文件的内容;若不在访问性能文件的存储地址范围内,则说明read命令要读取的不是访问性能文件。在所述待读取文件的存储地址在所述待读取文件的存储地址范围内时,对所述访问性能文件的读取次数加一。
步骤140、根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
其中,每种存储器都具有一定的读写次数寿命,其存储访问性能随着其读写次数的增加而逐渐降低。智能终端的存储访问性能可以根据访问性能文件的读取次数,结合智能终端存储的读写次数寿命进行计算。
本实施例的技术方案根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数,并根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果,简单易操作,解决了现有智能终端的存储访问性能测试过程复杂繁琐,便捷性差的问题,即,本实施例提供了一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
实施例二
本实施例以上述实施例为基础提供了一种智能终端的存储访问性能的测试方法,本实施例中获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址,可以包括:获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址;根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
图2是本发明实施例二中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图,如图2所示,所述方法具体可以包括如下步骤:
步骤210、获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
终端存储会划分很多分区,以存放不同的文件,例如手机存储划分了诸如logo(日志),boot(引导),system(系统),data(数据)等分区,每个分区会下载不同的镜像文件,logo分区对应的为动画相关的镜像文件logo.bin,boot分区对应的是操作系统的内核及在引导过程中使用的文件boot.img,system分区对应的为系统文件system.img,data分区对应用户数据文件user data.img,其中大部分分区,如logo分区,boot分区和system分区,是只读分区,也就是数据是不变的,只有个别分区,如data分区,是可写分区,用户的照片、视频等文件都存放data分区,且只是data的一部分。每一分区都有起始地址,终止地址以及分区大小,用户可以看到的信息为剩余空间大小等。具体的可以通过智能终端或PC通过相应的读取指令获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
步骤220、根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
具体的,将所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址分别与所述存储分区在智能终端中的起始地址求和,即可得到所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
步骤230、在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址。
步骤240、根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数。
步骤250、根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
可选的,确定智能终端的存储访问性能的测试结果之后,还包括:显示更新的读取次数和确定的存储访问性能的测试结果。
具体的,可以创建存储文件,如proc/emmc_read/framework_odex,记录读取次数和存储访问性能的测试结果,用户可以通过读取此存储文件,如采用“adb shell catproc/emmc_read/framework_odex”,了解某一段时间内访问终端存储system/framework/framework.odex文件的次数以及存储访问性能的测试结果。
本实施例的技术方案,根据访问性能文件所属存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址,并根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数,还根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果,简单易操作,解决了现有智能终端的存储访问性能测试过程复杂繁琐,便捷性差的问题,即本实施例提供了一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
实施例三
本实施例以上述实施例为基础提供了一种智能终端的存储访问性能的测试方法,本实施例中获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,可以包括:获取所述访问性能文件的索引节点编号;将所述访问性能文件的镜像文件解压为二进制文件;根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
图3是本发明实施例三中的一种智能终端的存储访问性能的测试方法的流程图,如图3所示,所述方法具体可以包括如下步骤:
步骤310、获取所述访问性能文件的索引节点编号。
具体的,以存储于system分区的framework.odex文件作为访问性能文件,以在PC端获取索引节点编号为例,通过命令adb shell ls-i system/framework/framework.odex,即可得到framework.odex文件此时的索引节点编号i_num为1154。
步骤320、将所述访问性能文件的镜像文件解压为二进制文件。
具体的,可以利用simg2img命令将文件framework.odex对应的system.img镜像文件解压为二进制文件system_raw,其转化示例如下:simg2img system.img。
步骤330、根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
具体的,在PC端执行命令debugfs system_raw,接着输入ex<i_num>,即可得到framework.odex文件在system分区中的起始地址为163340,终止地址为163347。
步骤340、根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
步骤350、在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址。
步骤360、根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数。
步骤370、根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
本实施例的技术方案根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址,解决了现有智能终端的存储访问性能测试过程复杂繁琐,便捷性差的问题,提供了一种简单便捷的存储访问性能的测试方式。
实施例四
图4是本发明实施例四中的一种智能终端的存储访问性能的测试装置的结构图,如图4所示,所述装置可以包括:存储地址获取模块410、待读地址获取模块420、读取次数更新模块430、测试结果确定模块440,其中,
存储地址获取模块410,用于获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址;
待读地址获取模块420,用于在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;
读取次数更新模块430,用于根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;
测试结果确定模块440,用于根据更新的所述访问性能文件的读取次数,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
进一步的,所述读取次数更新模块430具体可以用于:
在所述待读取文件的存储地址在所述待读取文件的存储地址范围内时,对所述访问性能文件的读取次数加一。
进一步的,所述存储地址获取模410可以包括:
分区地址获取单元,用于获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址;
存储地址计算单元,用于根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
进一步的,所述分区地址获取单元可以包括:
编号获取子单元,用于获取所述访问性能文件的索引节点编号;
文件解压子单元,用于将所述访问性能文件的镜像文件解压为二进制文件;
起止地址计算子单元,用于根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
进一步的,所述装置还可以包括:
次数与结果更新模块,用于确定智能终端的存储访问性能的测试结果之后,显示更新的读取次数和确定的存储访问性能的测试结果。
本实施例提供的智能终端的存储访问性能的测试装置,与本发明任意实施例所提供的智能终端的存储访问性能的测试方法属于同一发明构思,可执行本发明任意实施例所提供的智能终端的存储访问性能的测试方法,具备执行智能终端的存储访问性能的测试方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例提供的智能终端的存储访问性能的测试方法。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种智能终端的存储访问性能的测试方法,所述存储访问性能为存储器可访问时间,其特征在于,包括:
获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址,其中所述访问性能文件为最接近终端存储的访问频率的文件;
在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;
根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;
根据更新的所述访问性能文件的读取次数和智能终端存储的读写次数寿命,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数,包括:
在所述待读取文件的存储地址在所述待读取文件的存储地址范围内时,对所述访问性能文件的读取次数加一。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址,包括:
获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址;
根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,包括:
获取所述访问性能文件的索引节点编号;
将所述访问性能文件的镜像文件解压为二进制文件;
根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,确定智能终端的存储访问性能的测试结果之后,还包括:
显示更新的读取次数和确定的存储访问性能的测试结果。
6.一种智能终端的存储访问性能的测试装置,所述存储访问性能为存储器可访问时间,其特征在于,包括:
存储地址获取模块,用于获取设定的访问性能文件在智能终端中的存储地址,其中所述访问性能文件为最接近终端存储的访问频率的文件;
待读地址获取模块,用于在监测到读取事件时,获取待读取文件在智能终端中的存储地址;
读取次数更新模块,用于根据所述访问性能文件的存储地址以及所述待读取文件的存储地址,更新所述访问性能文件的读取次数;
测试结果确定模块,用于根据更新的所述访问性能文件的读取次数和智能终端存储的读写次数寿命,确定智能终端的存储访问性能的测试结果。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述读取次数更新模块具体用于:
在所述待读取文件的存储地址在所述待读取文件的存储地址范围内时,对所述访问性能文件的读取次数加一。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述存储地址获取模包括:
分区地址获取单元,用于获取所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址;
存储地址计算单元,用于根据所述存储分区在智能终端中的起始地址,以及访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址,计算所述访问性能文件在智能终端中的起始地址和终止地址。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述分区地址获取单元包括:
编号获取子单元,用于获取所述访问性能文件的索引节点编号;
文件解压子单元,用于将所述访问性能文件的镜像文件解压为二进制文件;
起止地址计算子单元,用于根据获取的索引节点编号和解压得到的二进制文件计算所述访问性能文件在所属存储分区中的存储位置的起始地址和终止地址。
10.根据权利要求6-9任一项所述的装置,其特征在于,还包括:
次数与结果更新模块,用于确定智能终端的存储访问性能的测试结果之后,显示更新的读取次数和确定的存储访问性能的测试结果。
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