CN113470725A - 一种动态随机存储器的测试方法及装置 - Google Patents

一种动态随机存储器的测试方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN113470725A
CN113470725A CN202110722149.0A CN202110722149A CN113470725A CN 113470725 A CN113470725 A CN 113470725A CN 202110722149 A CN202110722149 A CN 202110722149A CN 113470725 A CN113470725 A CN 113470725A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
page
random access
access memory
dynamic random
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110722149.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113470725B (zh
Inventor
谢登煌
宋文杰
刘孜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Jingcun Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Jingcun Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Jingcun Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Jingcun Technology Co ltd
Priority to CN202110722149.0A priority Critical patent/CN113470725B/zh
Publication of CN113470725A publication Critical patent/CN113470725A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113470725B publication Critical patent/CN113470725B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

本发明涉及一种动态随机存储器的测试方法,包括:擦除动态随机存储器的待测区域中的数据(S101);在所擦除的待测区域中再写入数据,其中,将待测区域平均分页,在首页中写入数据,通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域(S102);读取所写满数据的待测区域中首页和尾页的数据,并且确定所述首页的数据和尾页的数据不一致时,标记相应的动态随机存储器的待测区域已损坏(S103)。还涉及一种动态随机存储器的测试装置,包括:记录单元、查询单元、数据写入单元、读取单元、拼接单元、计算单元、对比单元、分析单元。本发明通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域,直接比对首页和尾页的数据,有效缩短比较器运算消耗的时间,提高检测效率。

Description

一种动态随机存储器的测试方法及装置
技术领域
本发明涉及计算机系统验证技术领域,尤其涉及一种动态随机存储器的测试方法及装置。
背景技术
随着集成电路的发展,制成越来越微缩,集成电路的密度越来越高,速度越来越快,与此同时,随着密度和速度提高,集成电路的故障率也随着提高,尤其在动态随机存储器,不能允许1个BIT数据的错误,否者产品运用在手机、平板等设备中会造成系统死机、重启应用程序崩溃等不良现象发生。集成电路wafer除了出厂后的芯片探针(CP,Chip Probe)测试,还需要做严格的后端测试(FT,Final Test),在动态随机存储器的测试中,测试时间和测试覆盖率较为关键。
动态随机存储器的测试实际主要是测试数据比较运算的一个过程,比较器运算消耗大量时间。因此需要尽量缩短比较运算的次数,来降低整个测试过程花费的时间。
发明内容
本发明提供一种动态随机存储器的测试方法及装置,旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
本发明的技术方案的第一方面为一种动态随机存储器的测试方法,所述方法包括以下步骤:擦除动态随机存储器的待测区域中的数据;在所擦除的待测区域中再写入数据,其中,将待测区域平均分页,在首页中写入数据,通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域;读取所写满数据的待测区域中首页和尾页的数据,并且确定所述首页的数据和尾页的数据不一致时,标记相应的动态随机存储器的待测区域已损坏。
在一些实施例中,所述擦除动态随机存储器的待检测区域之后,还包括:动态随机存储器的待测区域被划分为N个分页,其中N为大于2的整数。
在一些实施例中,所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,在所擦除的待测区域中再写入数据包括:在第一个分页中写入数据;读取第n-1个分页的数据到第n个分页内,直至全部写满N个分页,其中n为大于等于2且小于等于N的整数。
在一些实施例中,各个分页的首地址及大小被记录在一张分页表中,尾地址通过首地址与分页的大小计算等到。
在一些实施例中,所述数据只有0和1两种状态,并且数据是随机分布的。
在一些实施例中,通过拷贝相邻页中数据的方式填满整个待测区域,包括以下步骤:获取第n-1个分页的首地址和大小,获取第n个分页的首地址和大小;若两者大小相同,则读取第n-1个分页的数据到第n个分页内;若两者大小不相同,从首地址逐个读取第n-1个分页的数据,直至读取到的数据大小刚好等于第n个分页的大小,将读取到的数据写入到第n个分页内。
在一些实施例中,所述读取所述分页中的数据,包括以下步骤:若N个分页的大小均相同,直接读取第N个分页的数据;若N个分页的大小不相同,找到第N-1个分页的首地址,从指定地址开始读取第N-1个分页的数据,将从第N-1个分页中读取到的数据拼接到从第N个分页读取到的数据下面,组成完整的读取数据。
在一些实施例中,所述指定地址通过第N-1个分页的首地址与第N个分页的大小计算得到,具体的,指定地址等于第N-1个分页的首地址加上第N个分页的大小。
本发明的技术方案的第二方面为一种动态随机存储器的测试装置,包括:记录单元,用于保存一张分页表,该分页表记录各个分页的首地址及大小;查询单元,用于从分页记录表中找到分页信息;数据写入单元,用于将待写入的数据写入到指定分页内;读取单元,用于读取分页中的数据;拼接单元,用于将读取到的不同页面的数据进行拼接,组成完整的读取数据;计算单元,用于计算指定地址;对比单元,用于计算待比对的数据;分析单元,用于分析对比结果,判定动态随机存储器的待检测区域正常与否。
本发明的有益效果如下:
如果比较运算一个单元的时间y秒,总共划分N个单元,其他方法需要的比较次数,是N次,总共比较运算的时间是N*y,该发明的的测试时间只需要做一次比较运算时间,相对其他测试方法,该发明方法,缩短了(N-1)*y时间,随着存储器的存储容量越大,同样划分为N个单元,单个单元的测试时间y就越长,故随着存储器的容量越来越大,该方案对测试时间减少越明显。
附图说明
图1为根据本发明的动态随机存储器的测试方法的总体流程图。
图2为根据本发明的动态随机存储器的测试的实施例方法流程图。
图3为根据本发明的动态随机存储器的测试方法中存储器分页示意图。
图4为根据本发明的动态随机存储器的测试方法中拼接示意图。
具体实施方式
以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述,以充分地理解本发明的目的、方案和效果。
需要说明的是,如无特殊说明,当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征,它可以直接固定、连接在另一个特征上,也可以间接地固定、连接在另一个特征上。本文所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。此外,除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与本技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例,而不是为了限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的组合。
应当理解,尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种元件,但这些元件不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的元件彼此区分开。例如,在不脱离本公开范围的情况下,第一元件也可以被称为第二元件,类似地,第二元件也可以被称为第一元件。本文所提供的任何以及所有实例或示例性语言(“例如”、“如”等)的使用仅意图更好地说明本发明的实施例,并且除非另外要求,否则不会对本发明的范围施加限制。
目前的FT测试算法中动态随机存储器的测试将每个bit位都参与了比较,测试时间长,造成测试成本高。本发明的主要解决动态随机存储器(DRAM)测试中,在保证测试覆盖率的前提下缩短测试时间的方法。通过优化测试方法,缩短测试过程中比较运算的次数,来缩短测试时间,同时可以模拟DRAM存储器在实际使用场景中读写操作方式,OS系统在对内存操作中主要安全采用内存块的拷贝搬运,并非一个一个字节的读写操作。
下面以具体实施例的方式具体描述本发明实施例提供的一种动态随机存储器的测试方法,如图1所示,包括步骤:
S101,擦除动态随机存储器的待测区域中的数据;
S102,在所擦除的待测区域中再写入数据,其中,将待测区域平均分页,在首页中写入数据,通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域;
S103,读取所写满数据的待测区域中首页和尾页的数据,并且
确定所述首页的数据和尾页的数据不一致时,
标记相应的动态随机存储器的待测区域已损坏。
其中,首页不一定是第一页,尾页不一定是最后一页,首页可以是最后一页,相应的尾页也可以是第一页。
具体地,在步骤S103中,对比单元计算首页的数据和尾页的数据,优选的,在本实施例中,采用异或运算方法进行计算。
具体地,在步骤S103中,分析单元,分析对比结果,若对比结果为0,说明动态随机存储器的待测区域正常,否则,动态随机存储器的待测区域已损坏。
在根据本发明的方法的进一步的实施例中,一种动态随机存储器的测试方法,如图2所示,包括步骤:
S201,动态随机存储器的待测区域被划分为N个分页,N>2的整数,n=2,…,N;
S202,在第一个分页中写入数据;
S203,读取第n-1个分页的数据并将其写入到第n个分页内,直至N个分页全部被写满;
S204,检测第N个分页的数据是否与第一个分页的数据一致;若一致,则通过测试,否则,未通过测试;
具体地,在步骤S201中,如图3所示,动态随机存储器的待检测区域被划分为N个分页,记录单元保存一张分页表,如表1所示,该分页表记录各个分页的首地址及大小,尾地址可以通过首地址与分页的大小计算等到,其中N是大于等于2的整数。
表1分页表
Figure BDA0003136841550000041
具体地,在步骤S202中,数据写入单元将预设的数据写入到第一个分页内,其中预设数据的大小与第一分页的大小一致,即,预设数据将整个第一分页填满;
优选的,在本实施例中,数据只有“0”和“1”两种状态,并且数据是随机分布的,数据“0”的占比和数据“1”的占比均为50%。随机分布的数据能够反映出普遍的闪存的数据存储情况,即在不考虑所存储的数据的特殊性的一般情况下,数据“0”和数据“1”出现的概率基本上是一样的,均为50%。
在根据本发明的方法的进一步的实施例中,读取第n-1个分页并将其写入第n个分页内,直至全部写满N个分页,包括以下步骤:
S301,查询单元从分页表中找到第n-1个和第n个分页的首地址和大小;
S302,若两者大小相同,读取单元直接读取第n-1个分页数据,数据写入单元将数据写入到第n个分页内,否则执行步骤S303;
S303,若两者大小不相同,读取单元从首地址逐个读取第n-1个分页的数据,直至读取到的数据大小刚好等于第n个分页的大小,数据写入单元将读取单元读取到的数据写入到第n个分页内。
在根据本发明的方法的进一步的实施例中,在步骤S204中,还包括如下步骤:
S401,查询单元从分页表中查询到所有分页的首地址和大小;
S402,若N个分页的大小均相同,读取单元直接读取第N个分页的数据,否则执行S403;
S403,若N个分页的大小不相同,即存储器待测区域不能被平均划分,第N个分页大小小于前面N-1个分页的大小,此时,若直接读取第N个分页的数据,然后执行后续步骤,可能得出错误的诊断结果,因为根据局部的数据只能判断待测区域的局部是否正常,而检测整个待测区域是否正常则需要将第N-1个分页的剩余数据与第N个分页的数据进行拼接,具体步骤如下:
S501,读取单元读取第N个分页的数据;
S502,计算单元计算指定地址,读取单元从指定地址读取第N-1个分页的数据,其中指定地址通过第N-1个分页的首地址与第N个分页的大小计算得到,具体的,特定地址=第N-1个分页的首地址+第N个分页的大小;
S503,拼接单元将在第N-1个分页读取到的数据拼接到读取第N个分页的数据下面,组成完整的读取数据,如图4所示。
在一实施例中,根据本发明的用于动态随机存储器的测试的方法,包括:记录单元,用于保存一张分页表,该分页表记录各个分页的首地址及大小;数据写入单元,用于将待写入的数据写入到指定分页内;读取单元,用于读取分页的数据;拼接单元,用于将读取到的不同页面的数据进行拼接,组成完整的读取数据;计算单元,用于计算指定地址;对比单元,用于计算待比对的数据;分析单元,用于分析对比结果,若对比结果为0,说明动态随机存储器的待检测区域正常,否则,动态随机存储器的待检测区域损坏。
应当认识到,本发明实施例中的方法步骤可以由计算机硬件、硬件和软件的组合、或者通过存储在非暂时性计算机可读存储器中的计算机指令来实现或实施。所述方法可以使用标准编程技术。每个程序可以以高级过程或面向对象的编程语言来实现以与计算机系统通信。然而,若需要,该程序可以以汇编或机器语言实现。在任何情况下,该语言可以是编译或解释的语言。此外,为此目的该程序能够在编程的专用集成电路上运行。
此外,可按任何合适的顺序来执行本文描述的过程的操作,除非本文另外指示或以其他方式明显地与上下文矛盾。本文描述的过程(或变型和/或其组合)可在配置有可执行指令的一个或多个计算机系统的控制下执行,并且可作为共同地在一个或多个处理器上执行的代码(例如,可执行指令、一个或多个计算机程序或一个或多个应用)、由硬件或其组合来实现。所述计算机程序包括可由一个或多个处理器执行的多个指令。
进一步,所述方法可以在可操作地连接至合适的任何类型的计算平台中实现,包括但不限于个人电脑、迷你计算机、主框架、工作站、网络或分布式计算环境、单独的或集成的计算机平台、或者与带电粒子工具或其它成像装置通信等等。本发明的各方面可以以存储在非暂时性存储介质或设备上的机器可读代码来实现,无论是可移动的还是集成至计算平台,如硬盘、光学读取和/或写入存储介质、RAM、ROM等,使得其可由可编程计算机读取,当存储介质或设备由计算机读取时可用于配置和操作计算机以执行在此所描述的过程。此外,机器可读代码,或其部分可以通过有线或无线网络传输。当此类媒体包括结合微处理器或其他数据处理器实现上文所述步骤的指令或程序时,本文所述的发明包括这些和其他不同类型的非暂时性计算机可读存储介质。当根据本发明所述的方法和技术编程时,本发明还可以包括计算机本身。
计算机程序能够应用于输入数据以执行本文所述的功能,从而转换输入数据以生成存储至非易失性存储器的输出数据。输出信息还可以应用于一个或多个输出设备如显示器。在本发明优选的实施例中,转换的数据表示物理和有形的对象,包括显示器上产生的物理和有形对象的特定视觉描绘。
以上所述,只是本发明的较佳实施例而已,本发明并不局限于上述实施方式,只要其以相同的手段达到本发明的技术效果,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明保护的范围之内。在本发明的保护范围内其技术方案和/或实施方式可以有各种不同的修改和变化。

Claims (10)

1.一种动态随机存储器的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S101,擦除动态随机存储器的待测区域中的数据;
S102,在所擦除的待测区域中再写入数据,其中,将待测区域平均分页,在首页中写入数据,通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域;
S103,读取所写满数据的待测区域中首页和尾页的数据,并且
确定所述首页的数据和尾页的数据不一致时,
标记相应的动态随机存储器的待测区域已损坏。
2.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,步骤S101之后,还包括:
将动态随机存储器的待测区域划分为N个分页,其中N为大于2的整数。
3.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,步骤S102包括:
在第一个分页中写入数据;
读取第n-1个分页的数据到第n个分页内,直至全部写满N个分页,其中n为大于等于2且小于等于N的整数。
4.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,各个分页的首地址及大小被记录在一张分页表中,尾地址通过首地址与分页的大小计算等到。
5.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,数据只有0和1两种状态,并且数据是随机分布的。
6.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,步骤S2中,通过拷贝相邻分页中数据的方式写满整个待测区域,包括以下步骤:
S301,获取第n-1个分页的首地址和大小,获取第n个分页的首地址和大小;
S302,若两者大小相同,则读取第n-1个分页的数据到第n个分页内,否则执行步骤S303;
S303,若两者大小不相同,从首地址逐个读取第n-1个分页的数据,直至读取到的数据大小刚好等于第n个分页的大小,将读取到的数据写入到第n个分页内。
7.根据权利要求1所述的一种动态随机存储器的测试方法,其中,步骤S3中,读取尾页的数据,包括以下步骤:
S401,若N个分页的大小均相同,直接读取第N个分页的数据,否则执行S402;
S402,若N个分页的大小不相同,找到第N-1个分页的首地址,从指定地址开始读取第N-1个分页的数据;将从第N-1个分页中读取到的数据拼接到从第N个分页读取到的数据下面,组成完整的读取数据。
8.根据权利要求7所述一种动态随机存储器的测试方法,其中,步骤S402中,指定地址由第N-1个分页的首地址与第N个分页的大小计算得到,具体的,指定地址等于第N-1个分页的首地址加上第N个分页的大小。
9.一种动态随机存储器的测试装置,其特征在于,包括:
记录单元,用于保存一张分页表,该分页表记录各个分页的首地址及大小;
查询单元,用于从分页表中找到分页信息;
数据写入单元,用于将待写入的数据写入到指定分页内;
读取单元,用于读取分页中的数据;
拼接单元,用于将读取到的不同页面的数据进行拼接,组成完整的读取数据;
计算单元,用于计算指定地址;
对比单元,用于计算待比对的数据;
分析单元,用于分析对比结果,判定动态随机存储器的待检测区域正常与否。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于该指令被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项权利要求所述的方法的步骤。
CN202110722149.0A 2021-06-28 2021-06-28 一种动态随机存储器的测试方法及装置 Active CN113470725B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110722149.0A CN113470725B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 一种动态随机存储器的测试方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110722149.0A CN113470725B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 一种动态随机存储器的测试方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113470725A true CN113470725A (zh) 2021-10-01
CN113470725B CN113470725B (zh) 2023-05-16

Family

ID=77873424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110722149.0A Active CN113470725B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 一种动态随机存储器的测试方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113470725B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117785071A (zh) * 2024-02-27 2024-03-29 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器及其性能优化方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101996686A (zh) * 2009-08-17 2011-03-30 慧国(上海)软件科技有限公司 数据储存装置及将测试数据写入存储器的方法
CN113035260A (zh) * 2021-03-26 2021-06-25 深圳市晶存科技有限公司 一种动态随机存储器的测试方法及系统

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101996686A (zh) * 2009-08-17 2011-03-30 慧国(上海)软件科技有限公司 数据储存装置及将测试数据写入存储器的方法
CN113035260A (zh) * 2021-03-26 2021-06-25 深圳市晶存科技有限公司 一种动态随机存储器的测试方法及系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117785071A (zh) * 2024-02-27 2024-03-29 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器及其性能优化方法
CN117785071B (zh) * 2024-02-27 2024-05-24 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器及其性能优化方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN113470725B (zh) 2023-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4901987B1 (ja) 記憶装置、電子機器及び誤りデータの訂正方法
US8862953B2 (en) Memory testing with selective use of an error correction code decoder
WO2019174205A1 (zh) 一种垃圾回收的方法、装置及存储设备
KR20060051898A (ko) 비휘발성 컴퓨터 메모리를 독출하기 위한 시스템 및 방법
JP5815388B2 (ja) メモリアクセス制御装置および方法
KR101028901B1 (ko) 메모리 장치, 메모리 관리 장치 및 메모리 관리 방법
US8347052B2 (en) Initializing of a memory area
KR101652936B1 (ko) 전력 손실 복원에 있어서의 솔리드 스테이트 드라이브 관리
CN114356248A (zh) 一种数据处理方法和装置
CN116880782A (zh) 一种内嵌式存储器及其测试方法
CN113470725B (zh) 一种动态随机存储器的测试方法及装置
CN112133357B (zh) 一种eMMC的测试方法及装置
US20110107056A1 (en) Method for determining data correlation and a data processing method for a memory
CN111367710A (zh) 一种eMMC问题还原方法和装置
US8503241B2 (en) Electronic apparatus and data reading method
US9880926B1 (en) Log structured reserved zone for a data storage device
US10754566B2 (en) Data storage device and data storage method
CN112433959A (zh) 实现数据存储处理的方法、装置、计算机存储介质及终端
CN111722855A (zh) 一种基于eMMC的固件烧录系统、方法与集成芯片
US8751770B2 (en) Semiconductor recording apparatus and semiconductor recording system
CN110750215A (zh) 提升固态硬盘随机读性能方法、装置和计算机设备
CN112486849B (zh) 闪存开卡程序的方法、闪存装置的闪存控制器及电子装置
US20100037004A1 (en) Storage system for backup data of flash memory and method for the same
CN115016742B (zh) 一种嵌入式设备的内存扩展方法
US20070179635A1 (en) Method and article of manufacure to persistently deconfigure connected elements

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant