CN113035260A - 一种动态随机存储器的测试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种动态随机存储器的测试方法及系统，具体包括以下步骤：步骤一、准备操作；步骤二、数据测试；步骤三、问题诊断；步骤四、中值选定；步骤五、问题定位；步骤六、展示记录；本发明涉及存储器测试技术领域。该动态随机存储器的测试方法及系统，通过划分出N个测试单元模块，并按照顺序将初始存储信息传递到下一个测试单元模块中，所以只需要比较第N个单元数据与第一个单元写入的数据是否一致，就可以判断该存储器的数据是否有损坏，而不需要比较全部的单元，并且采用读取N‑1单元模块数据到N单元模块内的存储方式能提高测试速度，这样不仅可以缩短测试时间，提高测试产能，还可以有效降低测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及存储器测试技术领域，具体为一种动态随机存储器的测试方法及系统。
背景技术
DRAM，即动态随机存取存储器，最为常见的系统内存。DRAM只能将数据保持很短的时间，为了保持数据，DRAM使用电容存储，所以必须隔一段时间刷新一次，如果存储单元没有被刷新，存储的信息就会丢失。
随着集成电路的发展，制成越来越微缩，集成电路的密度越来越高，速度越来越高，与此同时，随着密度和速度提高，集成电路的故障率也随着提高，尤其在动态随机存储器，不能允许1个BIT数据的错误，否者产品运用在手机、平板等设备中会造成系统死机、重启应用程序崩溃等不良现象发生，集成电路wafer除了出厂后的cp测试，还需要做严格的后端测试，在动态随机存储器的测试中，测试时间和测试覆盖率很关键。
基于对上述资料的检索，可以看出现有技术的主要缺陷具体包括：测试算法测试时间长，造成测试成本高，测试中，主要在测试数据比较运算过程，比较花费比较器运算的时间，尽量缩短比较运算的次数，来降低整个测试过程花费的时间，本发明提供一种动态随机存储器的测试方法及系统，缩短测试比较次数，降低测试花费的时间。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种动态随机存储器的测试方法及系统，解决了目前测试算法测试时间长，造成测试成本高的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种动态随机存储器的测试方法，具体包括以下步骤：
步骤一、准备操作：客户端通过无线通讯模块连接测试交互单元后，登录到存储测试系统中后，通过划分确定模块对DRAM空间的划分进行确定，然后通过空间划分单元把DRAM空间划分为N个测试单元模块，然后通过信息输入模块向初始值设定模块中输入初始存储信息，之后通过数据写入模块将初始存储信息存储到一个测试单元模块中，标记为初始模块；
步骤二、数据测试：利用数据写入模块向步骤一中标记的初始模块中写入初始存储信息，之后复制初始模块的中的初始存储信息至第二个测试单元模块中，以此类推，确保将N-1单元模块的数据复制到N单元模块中，直至初始存储信息可以逐次填充到N个单元模块中，其中对于N值，用户通过N值选定模块进行选定；
步骤三、问题诊断：通过数据对比模块对第N个单元模块的数据和初始存储信息进行比较，若第N个单元数据与初始存储信息不一致，就可以判断该存储器的数据有损坏则测试不通过，进入步骤四，反之，数据一致，则测试通过，进入步骤六，直接完成测试；
步骤四、中值选定：利用中值筛分单元将步骤一中的初始模块设定为首尾确定模块中的首端，将检测末端的单元模块作为尾端，对首端到尾端这一段的单元模块进行记录确定，待检测到数据损坏后，原始首端和尾端不变，通过异常标记模块对检测出损坏的单元模块进行标记，作为后段检测的首端，并与原始尾端构成一段新的单元模块检测区域，此时通过中值确定模块对新的单元模块检测区域进行等值划分，然后重复步骤三中的步骤，进行数据测试；
步骤五、问题定位：根据步骤四中的测试的结果，选择数据损坏异常的一组，再次重复步骤四中的操作，直至定位出损坏的单元模块；
步骤六、展示记录：将步骤五中定位出的损坏模块记录信息存储模块中，通过统计分析模块对信息存储模块中存储的损坏位置进行统计分析，并且通过坏点展示模块进行图表详情设定，然后通过展示单元进行图表展示，完成测试。
本发明还公开了一种动态随机存储器的测试系统，所述客户端通过以太网与无线通讯模块实现双向连接，所述无线通讯模块通过以太网与存储测试系统实现双向连接。
优选的，所述存储测试系统与中央处理模块实现双向连接，所述中央处理模块分别与初始值设定模块、数据写入模块、空间划分单元和统计分析模块实现双向连接，所述数据写入模块分别与初始值设定模块和数据对比模块实现双向连接，所述数据写入模块的输出端与空间划分单元的输入端连接，所述空间划分单元分别与数据对比模块和中值筛分单元实现双向连接，所述数据对比模块与中值筛分单元实现双向连接，所述中值筛分单元的输出端与信息存储模块的输入端连接，所述信息存储模块的输出端与统计分析模块的输入端连接，所述统计分析模块的输出端与展示单元的输入端连接。
优选的，所述空间划分单元包括测试划分模块、第一测试单元模块、第二测试单元模块和第N测试单元模块，所述测试划分模块的输出端分别与第一测试单元模块、第二测试单元模块和第N测试单元模块的输入端连接。
优选的，所述测试划分模块以根据待检测的总长度，以单位检测长度做比，得出一定数量的测试单元模块的计算功能。
优选的，所述中值筛分单元包括首尾确定模块、中值确定模块、异常标记模块和异常输出模块，所述首尾确定模块的输出端与中值确定模块的输入端连接，所述中值确定模块的输出端与异常标记模块的输入端连接，所述异常标记模块的输出端分别与首尾确定模块和异常输出模块的输入端连接。
优选的，所述展示单元包括信息接收模块、图表生成模块和信息展示模块，所述信息接收模块的输出端与图表生成模块的输入端连接，所述图表生成模块的输出端与信息展示模块的输入端连接，所述图表生成模块用于生成走势图，信息展示模块为采用LED拼接屏构成的大型展示界面。
优选的，所述测试交互单元包括信息输入模块、N值选定模块、划分确定模块和坏点展示模块等基于界面的对于测试流程进行交互的模块。
(三)有益效果
本发明提供了一种动态随机存储器的测试方法及系统。具备以下有益效果：
(1)、该动态随机存储器的测试方法及系统，通过将空间划分为N个测试单元模块，然后按照顺序将初始存储信息传递到下一个测试单元模块中，因为第N-2、N-1和N单元模块的数据，都是复制第一个单元数据，所以只需要比较第N个单元数据与第一个单元写入的数据是否一致，就可以判断该存储器的数据是否有损坏，而不需要比较全部的单元，并且采用读取N-1单元模块数据到N单元模块内的存储方式能提高测试速度，这样不仅可以缩短测试时间，提高测试产能，还可以有效降低测试成本。
(2)、该动态随机存储器的测试方法及系统，通过中值筛分单元的设置，对异常数据信息进行分割，然后迅速定位出损坏的节点位置，并且通过统计分析模块来实现对损坏处进行统计分析，并以图表的方式进行展示，更加直观的对产品损坏的数据进行统计，从而为后续检修调整提供数据支撑。
附图说明
图1为本发明的系统原理框图；
图2为本发明空间划分单元的系统原理框图；
图3为本发明中值筛分单元的系统原理框图；
图4为本发明展示单元的系统原理框图；
图5为本发明测试的流程示意图；
图6为本发明测试交互单元的系统原理框图。
图中，1、客户端；2、无线通讯模块；3、存储测试系统；4、中央处理模块；5、初始值设定模块；6、数据写入模块；7、空间划分单元；8、统计分析模块；9、数据对比模块；10、中值筛分单元；11、信息存储模块；12、展示单元；13、测试划分模块；14、第一测试单元模块；15、第二测试单元模块；16、第N测试单元模块；17、首尾确定模块；18、中值确定模块；19、异常标记模块；20、异常输出模块；21、信息接收模块；22、图表生成模块；23、信息展示模块；24、测试交互单元；25、信息输入模块；26、N值选定模块；27、划分确定模块；28、坏点展示模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-6，本发明实施例提供一种技术方案：一种动态随机存储器的测试方法，具体包括以下步骤：
步骤一、准备操作：客户端1通过无线通讯模块2连接测试交互单元24后，登录到存储测试系统3中后，通过划分确定模块27对DRAM空间的划分进行确定，然后通过空间划分单元7把DRAM空间划分为N个测试单元模块，然后通过信息输入模块25向初始值设定模块5中输入初始存储信息，之后通过数据写入模块6将初始存储信息存储到一个测试单元模块中，标记为初始模块；
步骤二、数据测试：利用数据写入模块6向步骤一中标记的初始模块中写入初始存储信息，之后复制初始模块的中的初始存储信息至第二个测试单元模块中，以此类推，确保将N-1单元模块的数据复制到N单元模块中，直至初始存储信息可以逐次填充到N个单元模块中，其中对于N值，用户通过N值选定模块26进行选定；
步骤三、问题诊断：通过数据对比模块9对第N个单元模块的数据和初始存储信息进行比较，若第N个单元数据与初始存储信息不一致，就可以判断该存储器的数据有损坏则测试不通过，进入步骤四，反之，数据一致，则测试通过，进入步骤六，直接完成测试；
步骤四、中值选定：利用中值筛分单元10将步骤一中的初始模块设定为首尾确定模块17中的首端，将检测末端的单元模块作为尾端，对首端到尾端这一段的单元模块进行记录确定，待检测到数据损坏后，原始首端和尾端不变，通过异常标记模块19对检测出损坏的单元模块进行标记，作为后段检测的首端，并与原始尾端构成一段新的单元模块检测区域，此时通过中值确定模块18对新的单元模块检测区域进行等值划分，然后重复步骤三中的步骤，进行数据测试；
步骤五、问题定位：根据步骤四中的测试的结果，选择数据损坏异常的一组，再次重复步骤四中的操作，直至定位出损坏的单元模块；
步骤六、展示记录：将步骤五中定位出的损坏模块记录信息存储模块11中，通过统计分析模块8对信息存储模块11中存储的损坏位置进行统计分析，并且通过坏点展示模块28进行图表详情设定，然后通过展示单元12进行图表展示，完成测试，进一步说明，通过将空间划分为N个测试单元模块，然后按照顺序将初始存储信息传递到下一个测试单元模块中，因为第N-2、N-1和N单元模块的数据，都是复制第一个单元数据，所以只需要比较第N个单元数据与第一个单元写入的数据是否一致，就可以判断该存储器的数据是否有损坏，而不需要比较全部的单元，并且采用读取N-1单元模块数据到N单元模块内的存储方式能提高测试速度，这样不仅可以缩短测试时间，提高测试产能，还可以有效降低测试成本。
上述的一种动态随机存储器的测试系统，客户端1通过无线通讯模块2与测试交互单元24实现双向连接，测试交互单元24与存储测试系统3实现双向连接，存储测试系统3与中央处理模块4实现双向连接，中央处理模块4分别与初始值设定模块5、数据写入模块6、空间划分单元7和统计分析模块8实现双向连接，数据写入模块6分别与初始值设定模块5和数据对比模块9实现双向连接，数据写入模块6的输出端与空间划分单元7的输入端连接，空间划分单元7分别与数据对比模块9和中值筛分单元10实现双向连接，数据对比模块9与中值筛分单元10实现双向连接，中值筛分单元10的输出端与信息存储模块11的输入端连接，信息存储模块11的输出端与统计分析模块8的输入端连接，统计分析模块8的输出端与展示单元12的输入端连接。
作为优选方案，空间划分单元7包括测试划分模块13、第一测试单元模块14、第二测试单元模块15和第N测试单元模块16，测试划分模块13的输出端分别与第一测试单元模块14、第二测试单元模块15和第N测试单元模块16的输入端连接，测试划分模块13以根据待检测的总长度，以单位检测长度做比，得出一定数量的测试单元模块的计算功能。
作为优选方案，中值筛分单元10包括首尾确定模块17、中值确定模块18、异常标记模块19和异常输出模块20，首尾确定模块17的输出端与中值确定模块18的输入端连接，中值确定模块18的输出端与异常标记模块19的输入端连接，异常标记模块19的输出端分别与首尾确定模块17和异常输出模块20的输入端连接。
作为优选方案，展示单元12包括信息接收模块21、图表生成模块22和信息展示模块23，信息接收模块21的输出端与图表生成模块22的输入端连接，图表生成模块22的输出端与信息展示模块23的输入端连接，图表生成模块22用于生成走势图，信息展示模块23为采用LED拼接屏构成的大型展示界面。
作为优选方案，测试交互单元24包括信息输入模块25、N值选定模块26、划分确定模块27和坏点展示模块28等基于界面的对于测试流程进行交互的模块，进一步说明，测试交互单元24的设置，可以直接通过客户端1软件对存储器测试时基于界面的对于测试流程的交互。
综上所述，可以看出相对于其他方法，如果比较运算一个单元的时间y秒，总共划分N个单元，其他方法需要的比较次数，是N次，总共比较运算的时间是N*y，该发明的测试时间只需要做一次比较运算时间，相对其他测试方法，该发明方法，缩短了(N-1)*y时间，随着存储器的存储容量越大，同样划分为N个单元，单个单元的测试时间y就越长，故随着存储器的容量越来越大，该方案对测试时间减少越明显。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种动态随机存储器的测试方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
步骤一、准备操作：客户端(1)通过无线通讯模块(2)连接测试交互单元(24)后，登录到存储测试系统(3)中后，通过划分确定模块(27)对DRAM空间的划分进行确定，然后通过空间划分单元(7)把DRAM空间划分为N个测试单元模块，然后通过信息输入模块(25)向初始值设定模块(5)中输入初始存储信息，之后通过数据写入模块(6)将初始存储信息存储到一个测试单元模块中，标记为初始模块；
步骤二、数据测试：利用数据写入模块(6)向步骤一中标记的初始模块中写入初始存储信息，之后复制初始模块的中的初始存储信息至第二个测试单元模块中，以此类推，确保将N-1单元模块的数据复制到N单元模块中，直至初始存储信息可以逐次填充到N个单元模块中，其中对于N值，用户通过N值选定模块(26)进行选定；
步骤三、问题诊断：通过数据对比模块(9)对第N个单元模块的数据和初始存储信息进行比较，若第N个单元数据与初始存储信息不一致，就可以判断该存储器的数据有损坏则测试不通过，进入步骤四，反之，数据一致，则测试通过，进入步骤六，直接完成测试；
步骤四、中值选定：利用中值筛分单元(10)将步骤一中的初始模块设定为首尾确定模块(17)中的首端，将检测末端的单元模块作为尾端，对首端到尾端这一段的单元模块进行记录确定，待检测到数据损坏后，原始首端和尾端不变，通过异常标记模块(19)对检测出损坏的单元模块进行标记，作为后段检测的首端，并与原始尾端构成一段新的单元模块检测区域，此时通过中值确定模块(18)对新的单元模块检测区域进行等值划分，然后重复步骤三中的步骤，进行数据测试；
步骤五、问题定位：根据步骤四中的测试的结果，选择数据损坏异常的一组，再次重复步骤四中的操作，直至定位出损坏的单元模块；
步骤六、展示记录：将步骤五中定位出的损坏模块记录信息存储模块(11)中，通过统计分析模块(8)对信息存储模块(11)中存储的损坏位置进行统计分析，并且通过坏点展示模块(28)进行图表详情设定，然后通过展示单元(12)进行图表展示，完成测试。
2.一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述客户端(1)通过无线通讯模块(2)与测试交互单元(24)实现双向连接，所述测试交互单元(24)与存储测试系统(3)实现双向连接。
3.根据权利要求2所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述存储测试系统(3)与中央处理模块(4)实现双向连接，所述中央处理模块(4)分别与初始值设定模块(5)、数据写入模块(6)、空间划分单元(7)和统计分析模块(8)实现双向连接，所述数据写入模块(6)分别与初始值设定模块(5)和数据对比模块(9)实现双向连接，所述数据写入模块(6)的输出端与空间划分单元(7)的输入端连接，所述空间划分单元(7)分别与数据对比模块(9)和中值筛分单元(10)实现双向连接，所述数据对比模块(9)与中值筛分单元(10)实现双向连接，所述中值筛分单元(10)的输出端与信息存储模块(11)的输入端连接，所述信息存储模块(11)的输出端与统计分析模块(8)的输入端连接，所述统计分析模块(8)的输出端与展示单元(12)的输入端连接。
4.根据权利要求3所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述空间划分单元(7)包括测试划分模块(13)、第一测试单元模块(14)、第二测试单元模块(15)和第N测试单元模块(16)，所述测试划分模块(13)的输出端分别与第一测试单元模块(14)、第二测试单元模块(15)和第N测试单元模块(16)的输入端连接。
5.根据权利要求4所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述测试划分模块(13)以根据待检测的总长度，以单位检测长度做比，得出一定数量的测试单元模块的计算功能。
6.根据权利要求3所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述中值筛分单元(10)包括首尾确定模块(17)、中值确定模块(18)、异常标记模块(19)和异常输出模块(20)，所述首尾确定模块(17)的输出端与中值确定模块(18)的输入端连接，所述中值确定模块(18)的输出端与异常标记模块(19)的输入端连接，所述异常标记模块(19)的输出端分别与首尾确定模块(17)和异常输出模块(20)的输入端连接。
7.根据权利要求3所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述展示单元(12)包括信息接收模块(21)、图表生成模块(22)和信息展示模块(23)，所述信息接收模块(21)的输出端与图表生成模块(22)的输入端连接，所述图表生成模块(22)的输出端与信息展示模块(23)的输入端连接，所述图表生成模块(22)用于生成走势图，信息展示模块(23)为采用LED拼接屏构成的大型展示界面。
8.根据权利要求7所述的一种动态随机存储器的测试系统，其特征在于：所述测试交互单元(24)包括信息输入模块(25)、N值选定模块(26)、划分确定模块(27)和坏点展示模块(28)等基于界面的对于测试流程进行交互的模块。
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