CN117130838A - 硬盘测试方法、装置及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了硬盘测试方法、装置及介质，其中，方法包括：对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区；将第一样本数据写入第一固定区，并基于测试序列对第一临时区进行循环测试；在执行每个测试进程的过程中，对第一临时区进行掉电测试；当第一临时区通过掉电测试，对第一固定区进行数据校验；在第一固定区通过数据校验的情况下，减少第一临时区的容量，并对第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区；将预设的第二样本数据写入第二固定区，并根据测试序列对第二临时区进行循环测试，直至满足预设的测试结束条件。根据本申请的技术方案，能够提供多种测试进程对硬盘进行测试，能够实现对硬盘的自动测试，提高测试效率。
Description
技术领域
本申请涉及数据处理技术领域，尤其是一种硬盘测试方法、装置及介质。
背景技术
随着半导体技术的发展，计算机设备已经成为当今人们最具备生产力的实用工具，固态硬盘(Solid State Drive，SSD)由于具备读写速度快、低功耗、无噪音、抗振动、低热量、体积小、工作温度范围大等特点，已被广泛应用于军事、车载、工业、医疗、航空等领域。因此对SSD产品的质量有着极高的要求，在传统技术中，对固态硬盘的异常掉电测试通常都是在黑盒的系统下进行测试的，目前的测试方法为：先由测试人员将数据写入到SSD中，然后再对SSD进行掉电操作，最后在SSD恢复上电并接入操作系统后，再验证写入数据是否正确。但是该测试方法实现的执行方式效率低下，如果需要测试多个不同指令下的异常掉电，则需要测试人员手动切换，并且覆盖点少，导致对产品质量的监控存在风险。
发明内容
本申请实施例提供了一种硬盘测试方法、装置及介质，提供多种测试进程对硬盘进行测试，能够实现对硬盘的自动测试，提高测试效率。
第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘测试方法，包括：对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区；
将预设的第一样本数据写入所述第一固定区，并基于预设的测试序列对所述第一临时区进行循环测试，其中，所述测试序列包括多个测试进程；
在执行每个所述测试进程的过程中，对所述第一临时区进行掉电测试；
当所述第一临时区通过掉电测试，根据所述第一样本数据对所述第一固定区进行数据校验；
在所述第一固定区通过数据校验的情况下，减少所述第一临时区的容量，并对所述第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区；
将预设的第二样本数据写入所述第二固定区，并根据所述测试序列对所述第二临时区进行循环测试，直至满足预设的测试结束条件。
在一些实施例中，所述对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区，包括：
对所述待测硬盘进行容量测试，确定所述待测硬盘的真实物理容量；
基于预设的分区容量对所述待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区，其中，所述第一固定区的容量大于等于所述第一临时区的容量。
在一些实施例中，所述测试序列由如下步骤生成：
设置多个测试进程；
对于每个所述测试进程，基于预设的进程标识对所述测试进程进行标注；
根据所述进程标识对所述测试进程进行排序，生成所述测试序列。
在一些实施例中，所述在执行每个所述测试进程的过程中，对所述第一临时区进行掉电测试，包括：
在当前测试进程对所述第一临时区进行测试的过程中，对所述第一临时区进行断电操作，并在断电操作后，对所述第一临时区进行上电操作；
对上电操作后的第一临时区进行数据校验；
在所述第一临时区通过数据校验的情况下，获取当前测试进程的进程标识；
根据所述进程标识触发所述测试序列中的下一个测试进程对所述第一临时区进行测试，直至满足预设的循环结束条件。
在一些实施例中，所述根据所述进程标识触发所述测试序列中的下一个测试进程对所述第一临时区进行测试，包括：
根据所述进程标识在所述测试序列中确定与所述进程标识对应的下一个目标标识；
调用与所述目标标识对应的测试进程对所述第一临时区进行测试。
在一些实施例中，所述根据所述第一样本数据对所述第一固定区进行数据校验，包括：
获取所述第一固定区在所述第二临时区通过掉电测试后的区域数据；
当所述区域数据与所述第一样本数据一致，对所述第一固定区进行随机读写测试。
在一些实施例中，所述减少所述第一临时区的容量，并对所述第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区，包括：
减少所述第一临时区的容量，并将所述容量添加至所述第一固定区以得到第二固定区和第二临时区，其中，所述第二固定区以及所述第二临时区的容量总和等于所述待测硬盘的真实物理容量。
在一些实施例中，还包括：
在所述第一固定区未通过数据校验的情况下，重新对待测硬盘进行分区操作，得到第三固定区以及第三临时区；
将预设的第三样本数据写入所述第三固定区，并基于所述测试序列对所述第三临时区进行循环测试，直至满足所述测试结束条件。
第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘测试装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘测试方法。
第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘测试方法。
本申请实施例至少有如下有益效果：首先，对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区以及第一临时区，再将第一样本数据写入第一固定区，并基于预设的测试序列对第一临时区进行循环测试，从而能够实现不同分区的对比，将第一固定区作为参考区，第一临时区作为测试区，以便于后续观察不同分区的数据的变化，在执行每个测试进程的过程中，对第一临时区进行掉电测试，当第一临时区通过掉电测试，对第一固定区进行数据校验，从而验证硬盘在掉电情况下的工作表现，避免出现数据缺失的情况，最后，在第一固定区通过数据校验的情况下，减少第一临时区的容量，并对第一固定区进行扩容操作，以扩大第一固定区的大小，得到第二固定区和第二临时区，再将第二样本数据写入第二固定区，并对第二临时区进行循环测试，直至满足测试结束条件，从而能够实现对硬盘的整盘测试，避免出现数据缺失的情况，实现对硬盘的自动测试，提高对硬盘的测试效率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1是本发明一个实施例提供的硬盘测试方法的流程图；
图2是图1中步骤S101的具体方法的流程图；
图3是本发明一个实施例提供的生成测试序列的流程图；
图4是图1中步骤S103的具体方法的流程图；
图5是图4中步骤S404的具体方法的流程图；
图6是图1中步骤S104的具体方法流程图；
图7是图1中步骤S105的具体方法流程图；
图8是本发明另一个实施例提供的硬盘测试方法的流程图；
图9是本申请一个实施例提供的硬盘测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要注意的是，在本发明实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
随着半导体技术的发展，计算机设备已经成为当今人们最具备生产力的实用工具，固态硬盘(Solid State Drive，SSD)由于具备读写速度快、低功耗、无噪音、抗振动、低热量、体积小、工作温度范围大等特点，已被广泛应用于军事、车载、工业、医疗、航空等领域。因此对SSD产品的质量有着极高的要求，在传统技术中，对固态硬盘的异常掉电测试通常都是在黑盒的系统下进行测试的，目前的测试方法为：先由测试人员将数据写入到SSD中，然后再对SSD进行掉电操作，最后在SSD恢复上电并接入操作系统后，再验证写入数据是否正确。但是该测试方法实现的执行方式效率低下，如果需要测试多个不同指令下的异常掉电，则需要测试人员手动切换，并且覆盖点少，导致对产品质量的监控存在风险。
为了解决上述问题，本发明提供了一种硬盘测试方法、装置及介质，首先，对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区以及第一临时区，再将第一样本数据写入第一固定区，并基于预设的测试序列对第一临时区进行循环测试，从而能够实现不同分区的对比，将第一固定区作为参考区，第一临时区作为测试区，以便于后续观察不同分区的数据的变化，在执行每个测试进程的过程中，对第一临时区进行掉电测试，当第一临时区通过掉电测试，对第一固定区进行数据校验，从而验证硬盘在掉电情况下的工作表现，避免出现数据缺失的情况，最后，在第一固定区通过数据校验的情况下，减少第一临时区的容量，并对第一固定区进行扩容操作，以扩大第一固定区的大小，得到第二固定区和第二临时区，再将第二样本数据写入第二固定区，并对第二临时区进行循环测试，直至满足测试结束条件，从而能够实现对硬盘的整盘测试，避免出现数据缺失的情况，实现对硬盘的自动测试，提高对硬盘的测试效率。
下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。
参考图1，图1是本发明一个实施例提供的硬盘测试方法的流程图，该硬盘测试方法包括但不限于有步骤S101至步骤S106。
步骤S101：对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区；
在一些实施例中，通过磁盘管理工具或者分区软件等工具对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区，从而提高数据管理效率，以便于对待测硬盘的维护，提高对硬盘的测试效率。
步骤S102：将预设的第一样本数据写入第一固定区，并基于预设的测试序列对第一临时区进行循环测试；
需要说明的是，测试序列包括多个测试进程。
在一些实施例中，将第一样本数据写入第一固定区，以便于后续参考，模拟待测硬盘的实际使用场景，并基于预设的测试序列对第一临时区进行循环测试，其中，测试序列包括多个测试进程，例如，读写测试、磨损测试、速度测试等等，从而实现对第一临时区的全面测试，提高待测硬盘的测试性能。
步骤S103：在执行每个测试进程的过程中，对第一临时区进行掉电测试；
在一些实施例中，在执行每个测试进程的过程中，对第一临时区进行掉电测试，从而能够测试硬盘在不可预期掉电情况下的表现，可以了解硬盘的响应速度、数据完整性、损坏程度等信息。
需要说明的是，本实施例在执行每一个测试进程的过程中都会对第一临时区进行异常掉电测试，从而提高硬盘的抗掉电能力。
步骤S104：当第一临时区通过掉电测试，根据第一样本数据对第一固定区进行数据校验；
在一些实施例中，当第一临时区通过掉电测试，还需要根据第一样本数据对第一固定区进行数据校验，从而能够得到硬盘的性能表现，并且判断出硬盘的潜在问题。
步骤S105：在第一固定区通过数据校验的情况下，减少第一临时区的容量，并对第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区；
在一些实施例中，在第一固定区通过数据校验的情况下，则减少第一临时区的容量，并对第一固定区进行扩容操作以增大固定区的大小，得到第二固定区和第二临时区，从而实现对待测硬盘的全面测试，保证数据的完整性，并且提高硬盘的抗掉电能力。
步骤S106：将预设的第二样本数据写入第二固定区，并根据测试序列对第二临时区进行循环测试，直至满足预设的测试结束条件。
在一些实施例中，将预设的第二样本数据写入第二固定区，并根据测试序列对第二临时区进行循环测试，即，重复步骤S101至步骤S102，直至满足预设的测试结束条件，从而实现对待测硬盘的自动测试，实现对待测硬盘的循环测试。
需要说明的是，测试结束条件可以为测试次数满足预设的结束次数、固定区的容量达到预设的容量要求、测试的时间满足预设的测试时间等等，本实施例不做具体限制。
值得注意的是，本实施例中的测试结束条件为固定区等于待测硬盘的真实物理容量，从而实现对待测硬盘的全面测试，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
参照图2，图2是图1中步骤S101的一种具体方法流程图，是对步骤S101的进一步说明，步骤S101包括但不限于步骤S201至步骤S202。
步骤S201：对待测硬盘进行容量测试，确定待测硬盘的真实物理容量；
步骤S202：基于预设的分区容量对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区。
需要说明的是，第一固定区的容量大于等于第一临时区的容量。
在一些实施例中，对待测硬盘进行容量测试，确定待测硬盘的真实物理容量，之后基于分区容量对待测硬盘进行分区操作，将真实物理容量划分为第一固定区和第一临时区，并将第一固定区作为参考区，将第一临时区作为测试区，便于后续对第一固定区和第一临时区的对比。
需要说明的是，在对待测硬盘进行容量测试的过程中，可以基于预设的读写工具对测试分区进行读写校验，例如，读写工具为H2test软件，H2test软件可以用来测试U盘、SD(Secure Digital Memory Card，安全数字存储卡)卡、TF卡、硬盘、SSD等存储设备的读写速度、容量、坏道、以及数据完整性等。
可以理解的是，在根据读写工具对测试数据文件进行数据校验的过程中，还可以测试待测硬盘的读写速度、数据完整性等，从而保障数据的安全，实现对待测硬盘的全面评估，避免因数据损害导致的信息丢失，提高待测硬盘的可靠性。
值得注意的是，分区容量可以根据使用者的需要自行选择，并且分区容量小于真实物理容量，例如，待测硬盘的真实物理容量为20G，使用者可以选取10G作为第一固定区，10G作为第一临时区，或者选取15G作为第一固定区，5G作为第一临时区等等，本实施例不做具体限制。
参照图3，图3是本发明一个实施例提供的生成测试序列的流程图，包括但不限于步骤S301至步骤S303。
步骤S301：设置多个测试进程；
步骤S302：对于每个测试进程，基于预设的进程标识对测试进程进行标注；
步骤S303：根据进程标识对测试进程进行排序，生成测试序列。
在一些实施例中，在生成测试序列的过程中，首先，设置多个测试进程，基于不同的进程标识对测试进程进行标注，从而使得每个测试进程都有与之对应的测试标识，并且每个测试标识均不同，最后，根据进程标识对测试进程进行排序，生成测试序列，从而能够实现对待测硬盘的自动测试，加快对待测硬盘的测试过程，提高对待测硬盘的测试效率。
需要说明的是，在对测试进程进行排序的过程中，可以根据测试进程的重要程度或者优先级进行排序，例如，按照重要程度升序排序或者降序排序，本实施例不做具体限制。
参照图4，图4是图1中步骤S103的一种具体方法流程图，是对步骤S103的进一步说明，步骤S103包括但不限于步骤S401至步骤S404。
步骤S401：在当前测试进程对第一临时区进行测试的过程中，对第一临时区进行断电操作，并在断电操作后，对第一临时区进行上电操作；
在一些实施例中，在当前测试进程对第一临时区进行测试的过程中，设置掉电时间，并对第一临时区进行断电操作，在断电操作后，对第一临时区进行上电操作，以完成对第一临时区的掉电测试。
步骤S402：对上电操作后的第一临时区进行数据校验；
在一些实施例中，对上电操作后的第一临时区进行数据校验，从而判断待测硬盘能否正常运转、存储数据是否出现损坏等，从而能够通过掉电测试来验证硬盘在不可预期的掉电情况下的工作表现。
需要说明的是，在对第一临时区进行数据校验的过程中，可以通过硬盘数据校验工具(如HDDScan、Victoria等)对硬盘上的数据进行校验。具体为选择需要校验的硬盘和校验类型例如，表面扫描、S.M.A.R.T.检测等，并开始校验。校验过程中，会检测硬盘表面的数据是否完好、物理坏道数量、S.M.A.R.T.信息等，以确定硬盘的健康状况。
步骤S403：在第一临时区通过数据校验的情况下，获取当前测试进程的进程标识；
步骤S404：根据进程标识触发测试序列中的下一个测试进程对第一临时区进行测试，直至满足预设的循环结束条件。
在一些实施例中，在第一临时区通过数据校验的情况下，获取当前测试进程的进程标识，再根据进程标识触发测试序列中的下一个测试进程对第一临时区进行测试，直至满足预设的循环结束条件，从而无需人工手动切换，实现对硬盘的自动测试。
需要说明的是，循环结束条件可以为当前循环的次数满足预设的循环次数、确认遍历过测试序列中的全部测试进程、测试时长满足预设的测试时长等等，本实施例不做具体限制。
参照图5，图5是图4中步骤S404的一种具体方法流程图，是对步骤S404的进一步说明，步骤S404包括但不限于步骤S501至步骤S502。
步骤S501：根据进程标识在测试序列中确定与进程标识对应的下一个目标标识；
步骤S502：调用与目标标识对应的测试进程对第一临时区进行测试。
在一些实施例中，在触发下一个测试进程对第一临时区进行测试的过程中，首先根据进程标识在测试序列中确定与进程标识对应的下一个目标标识，之后再调用与目标标识对应的测试进程对第一临时区进行测试，从而实现对待测硬盘的循环测试，加快测试流程。
参照图6，图6是图1中步骤S104的一种具体方法流程图，是对步骤S104的进一步说明，步骤S104包括但不限于步骤S601至步骤S602。
步骤S601：获取第一固定区在第二临时区通过掉电测试后的区域数据；
步骤S602：当区域数据与第一样本数据一致，对第一固定区进行随机读写测试。
在一些实施例中，获取第一固定区在第二临时区通过掉电测试后的区域数据，并将区域数据与之前写入的第一样本数据进行对比，当区域数据与第一样本数据一致，则说明第一固定区的数据没有发生缺失，可以继续对第一固定区进行随机读写测试，从而能够得到硬盘的性能表现，并且判断出硬盘的潜在问题。
需要说明的是，在对第一固定区进行随机读写测试的过程中，可以通过fio(Flexible Input/Output Tester and Benchmark，灵活的输入/输出测试和基准测试工具)软件进行测试，fio可以按照不同的写入的方式对待测硬盘进行数据写入操作，从而便于模拟多种真实环境下硬盘的负载情况，评估待测硬盘的存储性能。
在一些实施例中，当区域数据与第一样本数据不一致，则需要重新对待测硬盘进行分区，重复步骤S101至步骤S103，直至掉电测试后的区域数据与固定区原始存储的数据一致。
参照图7，图7是图1中步骤S105的一种具体方法流程图，是对步骤S105的进一步说明，步骤S105包括但不限于步骤S701。
步骤S701：减少第一临时区的容量，并将容量添加至第一固定区以得到第二固定区和第二临时区。
需要说明的是，第二固定区以及第二临时区的容量总和等于待测硬盘的真实物理容量。
在一些实施例中，在确定第一固定区通过数据校验的情况下，则说明书第一临时区通过异常掉电测试，可以减少第一临时区的容量，并将容量添加至第一固定区以得到第二固定区和第二临时区，从而实现对第一固定区的增大，从而保证数据的完整性，并且提高硬盘的抗掉电能力。
参照图8，图8是本发明另一个实施例提供的硬盘测试方法的流程图，该硬盘测试方法包括但不限于有步骤S801至步骤S802。
步骤S801：在第一固定区未通过数据校验的情况下，重新对待测硬盘进行分区操作，得到第三固定区以及第三临时区；
步骤S802：将预设的第三样本数据写入第三固定区，并基于测试序列对第三临时区进行循环测试，直至满足测试结束条件。
在一些实施例中，在第一固定区未通过数据校验的情况下，则说明在异常掉电测试的过程中，出现了数据丢失或者硬盘损坏，需要重新对待测硬盘进行分区操作，得到第三固定区以及第三临时区，再将预设的第三样本数据写入第三固定区，并基于测试序列对第三临时区进行循环测试，直至满足测试结束条件，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
本申请实施例还提供了一种硬盘测试装置，硬盘测试装置包括：存储器、处理器、存储在存储器上并可在处理器上运行的程序以及用于实现处理器和存储器之间的连接通信的数据总线，程序被处理器执行时实现上述硬盘测试方法。
请参阅图9，图9示意了另一实施例的硬盘测试装置的硬件结构，硬盘测试装置包括：
处理器1001，可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；
存储器1002，可以采用只读存储器(Read Only Memory，ROM)、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的硬盘测试方法；
输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；
通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信；
总线1005，在设备的各个组件(例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004)之间传输信息；
其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。
此外，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述系统实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的硬盘测试方法。
本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，图1-8中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。
Claims (10)
1.一种硬盘测试方法，其特征在于，包括：
对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区；
将预设的第一样本数据写入所述第一固定区，并基于预设的测试序列对所述第一临时区进行循环测试，其中，所述测试序列包括多个测试进程；
在执行每个所述测试进程的过程中，对所述第一临时区进行掉电测试；
当所述第一临时区通过掉电测试，根据所述第一样本数据对所述第一固定区进行数据校验；
在所述第一固定区通过数据校验的情况下，减少所述第一临时区的容量，并对所述第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区；
将预设的第二样本数据写入所述第二固定区，并根据所述测试序列对所述第二临时区进行循环测试，直至满足预设的测试结束条件。
2.根据权利要求1所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述对待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区，包括：
对所述待测硬盘进行容量测试，确定所述待测硬盘的真实物理容量；
基于预设的分区容量对所述待测硬盘进行分区操作，得到第一固定区和第一临时区，其中，所述第一固定区的容量大于等于所述第一临时区的容量。
3.根据权利要求1所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述测试序列由如下步骤生成：
设置多个测试进程；
对于每个所述测试进程，基于预设的进程标识对所述测试进程进行标注；
根据所述进程标识对所述测试进程进行排序，生成所述测试序列。
4.根据权利要求3所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述在执行每个所述测试进程的过程中，对所述第一临时区进行掉电测试，包括：
在当前测试进程对所述第一临时区进行测试的过程中，对所述第一临时区进行断电操作，并在断电操作后，对所述第一临时区进行上电操作；
对上电操作后的第一临时区进行数据校验；
在所述第一临时区通过数据校验的情况下，获取当前测试进程的进程标识；
根据所述进程标识触发所述测试序列中的下一个测试进程对所述第一临时区进行测试，直至满足预设的循环结束条件。
5.根据权利要求4所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述根据所述进程标识触发所述测试序列中的下一个测试进程对所述第一临时区进行测试，包括：
根据所述进程标识在所述测试序列中确定与所述进程标识对应的下一个目标标识；
调用与所述目标标识对应的测试进程对所述第一临时区进行测试。
6.根据权利要求1所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述根据所述第一样本数据对所述第一固定区进行数据校验，包括：
获取所述第一固定区在所述第二临时区通过掉电测试后的区域数据；
当所述区域数据与所述第一样本数据一致，对所述第一固定区进行随机读写测试。
7.根据权利要求2所述的硬盘测试方法，其特征在于，所述减少所述第一临时区的容量，并对所述第一固定区进行扩容操作，得到第二固定区和第二临时区，包括：
减少所述第一临时区的容量，并将所述容量添加至所述第一固定区以得到第二固定区和第二临时区，其中，所述第二固定区以及所述第二临时区的容量总和等于所述待测硬盘的真实物理容量。
8.根据权利要求1所述的硬盘测试方法，其特征在于，还包括：
在所述第一固定区未通过数据校验的情况下，重新对待测硬盘进行分区操作，得到第三固定区以及第三临时区；
将预设的第三样本数据写入所述第三固定区，并基于所述测试序列对所述第三临时区进行循环测试，直至满足所述测试结束条件。
9.一种硬盘测试装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任意一项所述的硬盘测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至8任意一项所述的硬盘测试方法。
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