CN110569158A - 测试ssd随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备 - Google Patents

测试ssd随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备 Download PDF

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CN110569158A CN201910817016.4A CN201910817016A CN110569158A CN 110569158 A CN110569158 A CN 110569158A CN 201910817016 A CN201910817016 A CN 201910817016A CN 110569158 A CN110569158 A CN 110569158A
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Abstract

本发明涉及测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备，方法包括：将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。本方案通过随机生成一随机数，来自动根据随机数切换SSD进入对应的测试场景中进行掉电测试，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。

Description

测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备
技术领域
本发明涉及SSD领域，更具体地说是指一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备。
背景技术
目前的SSD异常掉电测试场景，多数是单一场景下循环做异常掉电。例如一种场景是在测试平台做Idle测试时进行PDU装置上下电1000次，另一种场景是测试平台做BuinIn读写测试时进行PDU装置上下电1000次。这两种场景对于目前的异常掉电测试中需要搭建两套环境，或者在前者执行完成后手动操作继续执行后者。这种测试场景下不仅没有完全模拟用户在任意场景下发生异常掉电的可能，而且在执行效率下大打折扣。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法，包括以下步骤：
将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；
搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；
随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；
通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
其进一步技术方案为：所述随机生成一随机数的步骤，包括：
通过随机函数产生随机数。
其进一步技术方案为：所述通过自动测试脚本发送控制指令，控制对应的PDU装置为处于具体测试场景的SSD上下电的步骤，包括：
通过PDU装置控制测试平台掉电；
判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况；
若出现异常情况，则结束测试；
若未出现异常情况，则判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电；
判断掉电次数是否大于设定值；
若否，则返回所述随机生成一随机数步骤；
若是，则结束测试。
其进一步技术方案为：所述测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。
本发明还提出了一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置，包括：
控制接入单元，用于将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；
环境搭建单元，用于搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；
场景进入单元，用于随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；
测试单元，用于通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
其进一步技术方案为：所述场景进入单元包括随机生成模块，用于通过随机函数产生随机数。
其进一步技术方案为：所述测试单元包括：
掉电控制模块，用于通过PDU装置控制测试平台掉电；
异常判断模块，用于判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况，在出现异常情况时，结束测试；
上电控制模块，在未出现异常情况时，判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电；
完成判断模块，用于判断掉电次数是否大于设定值，在掉电次数小于设定时，随机生成一随机数，在掉电次数大于等于设定时，结束测试。
其进一步技术方案为：所述测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。
本发明还提出了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的方法。
本发明还提出了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现如上任一项所述的方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：本方案通过随机生成一随机数，来自动根据随机数切换SSD进入对应的测试场景中进行掉电测试，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的具体应用系统框架示意图；
图2为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的子流程示意图；
图4为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置的示意性框图；
图5为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置的场景进入单元的示意性框图；
图6为本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置的测试单元的示意性框图；
图7为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的具体应用系统框架示意图；
请参阅图1和图2，图1为本发明实施例提供的测试SSD随机场景下异常掉电的方法的具体应用系统框架示意图。图2为一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的流程示意图。
图2是本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法的流程示意图。如图2所示，该方法包括以下步骤S110至S140。
S110、将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台。
在本实施例中，本发明包括硬件部分和软件部分。
如图1所示，上述硬件部分包括PDU装置和测试平台。具体的，在本实施例中，测试平台为待测SSD测试平台，PDU装置包括PDU设备控制系统主机和PDU插座。PDU插座用于控制SSD上下电，测试平台用于每次掉电之后上电执行自动测试脚本随机选择测试场景。
具体的，PDU设备控制系统主机用于控制PDU掉电频率和次数，PDU设备控制系统主机需安装Windows server操作系统，与PDU插座组成局域网系统。PDU设备控制系统主机根据自动测试脚本输出的控制指令控制PDU插座上下电，进而控制连接于PDU插座的测试平台的上下电。测试平台用于安装并连接待测SSD，测试平台的电源接入控制异常掉电的PDU插座中。在一具体实施例中，该测试平台为具有上电自启动功能的台式机或笔记本电脑等智能终端。
具体的，将待测SSD安装到测试平台中，并将测试平台的BIOS设置为上电自启动系统，并将测试平台电源接入PDU插座。
上述的软件系统包括读写测试软件和自动测试脚本，自动测试脚本用于实现测试平台自启动、随机选择测试场景和具体测试场景运行。具体的自启动是用于保证在SSD异常掉电之后再上电之后，自动测试脚本和读写测试软件可以自启动继续对SSD进行下一个测试。随机选择测试场景是指在多个测试场景中选择其中一种测试场景，模拟用户日常行为对SSD进行异常掉电测试。
具体的，在本实施例中，测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。具体的的，执行对应的测试场景时，测试过程中生成实时日志，以用于后续查询测试过程。
S120、搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本。
在本实施例中，搭建自动测试控制环境是指搭建PDU控制环境，具体将PDU设备控制系统主机安装操作系统，进而PDU设备控制系统主机与PDU插座组成局域网，并运行控制PDU插座上下电频率和次数的自动测试脚本。更进一步地，自动测试脚本运行于测试平台的系统中，可以输出控制指令控制PDU插座上下电。
S130、随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景。
在本实施例中，运行自动测试脚本，通过随机函数随机生成一随机数，每个随机数都对应一种测试场景，根据随机数的具体值来确定进行的测试场景，进而实现在不同场景下测试SSD异常掉电，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
在一实施例中，产生随机数的方式为，先随机生成一个随机自然数，并将该随机自然数除以5得到的余数作为随机数，该余数即为0～4的自然数，上述5个随机数都一一对应关联一种测试场景。例如，0关联trim测试场景，1关联大文件复制测试场景，2关联BurnIn读写测试场景，3关联磁盘分区格式化测试场景，4关联Idle测试场景。在得到0～4任一随机数时，则进入对应的测试场景。
应该理解的是，随着测试场景的增加，与之对应的随机数也会对应增加，并不局限于上述的0～4。
在一实施例中，步骤S130具体包括步骤S131：通过随机函数产生随机数。
S140、通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
在本实施例中，在执行随机场景测试过程中，PDU装置根据自动测试脚本的控制指令进行异常掉电，测试平台掉电一段时间后，PDU装置自动为SSD上电，测试平台的操作系统自启动，操作系统启动后自动测试脚本自启动，又开始随机选择异常掉电的具体测试场景。此过程自动化反复循环测试，直到测试达到设置的异常掉电次数，即随机场景下异常掉电测试完成，全过程无需人工干预，高效稳定的自动化测试。
参阅图3，在一实施例中，步骤S140包括步骤S141-S14：
S141、通过PDU装置控制测试平台掉电。
在一实施例中，PDU装置能够控制测试平台上下电，上下电具体包括掉电和上电。
S142、判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况，若出现异常情况，则执行步骤S146结束测试。
在一实施例中，异常情况可以为是否出现丢盘，或者蓝屏等等无法正常使用SSD的情况。
S143、若未出现异常情况，则判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电。
在一实施例中，PDU装置能够控制测试平台上下电，上下电具体包括掉电和上电。在掉电过程中，如果SSD和测试平台未出现任何异常，则代表在具体的测试场景下，该次测试无问题，完全正常。
S144、判断掉电次数是否大于设定值。
S145、若否，则返回所述随机生成一随机数步骤。
S146、若是，则结束测试。
在一实施例中，预设定一个掉电循环次数，在此掉电循环次数范围内循环对接入SSD做随机场景异常掉电测试，当实际掉电循环次数大于该预设值时，自动停止，完成随机场景异常掉电测试。通过自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试，可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
本方案通过随机生成一随机数，来自动根据随机数切换SSD进入对应的测试场景中进行掉电测试，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
图5是本发明实施例提供的一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置的示意性框图。如图5所示，对应于以上测试SSD随机场景下异常掉电的方法，本发明还提供一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置。该测试SSD随机场景下异常掉电的装置包括用于执行上述测试SSD随机场景下异常掉电的方法的单元，该装置可以被配置于台式电脑、平板电脑、手提电脑、等终端中。具体地，请参阅图5，该测试SSD随机场景下异常掉电的装置包括控制接入单元10、环境搭建单元20、场景进入单元30以及测试单元40。
控制接入单元10，用于将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台。
在本实施例中，本发明包括硬件部分和软件部分。
如图1所示，上述硬件部分包括PDU装置和测试平台。具体的，在本实施例中，测试平台为待测SSD测试平台，PDU装置包括PDU设备控制系统主机和PDU插座。PDU插座用于控制SSD上下电，测试平台用于每次掉电之后上电执行自动测试脚本随机选择测试场景。
具体的，PDU设备控制系统主机用于控制PDU掉电频率和次数，PDU设备控制系统主机需安装Windows server操作系统，与PDU插座组成局域网系统。PDU设备控制系统主机根据自动测试脚本输出的控制指令控制PDU插座上下电，进而控制连接于PDU插座的测试平台的上下电。测试平台用于安装并连接待测SSD，测试平台的电源接入控制异常掉电的PDU插座中。在一具体实施例中，该测试平台为具有上电自启动功能的台式机或笔记本电脑等智能终端。
具体的，将待测SSD安装到测试平台中，并将测试平台的BIOS设置为上电自启动系统，并将测试平台电源接入PDU插座。
上述的软件系统包括读写测试软件和自动测试脚本，自动测试脚本用于实现测试平台自启动、随机选择测试场景和具体测试场景运行。具体的自启动是用于保证在SSD异常掉电之后再上电之后，自动测试脚本和读写测试软件可以自启动继续对SSD进行下一个测试。随机选择测试场景是指在多个测试场景中选择其中一种测试场景，模拟用户日常行为对SSD进行异常掉电测试。
具体的，在本实施例中，测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。具体的的，执行对应的测试场景时，测试过程中生成实时日志，以用于后续查询测试过程。
环境搭建单元20，用于搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本。
在本实施例中，搭建自动测试控制环境是指搭建PDU控制环境，具体将PDU设备控制系统主机安装操作系统，进而PDU设备控制系统主机与PDU插座组成局域网，并运行控制PDU插座上下电频率和次数的自动测试脚本。更进一步地，自动测试脚本运行于测试平台的系统中，可以输出控制指令控制PDU插座上下电。
场景进入单元30，用于随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景。
在本实施例中，运行自动测试脚本，通过随机函数随机生成一随机数，每个随机数都对应一种测试场景，根据随机数的具体值来确定进行的测试场景，进而实现在不同场景下测试SSD异常掉电，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
在一实施例中，产生随机数的方式为，先随机生成一个随机自然数，并将该随机自然数除以5得到的余数作为随机数，该余数即为0～4的自然数，上述5个随机数都一一对应关联一种测试场景。例如，0关联trim测试场景，1关联大文件复制测试场景，2关联BurnIn读写测试场景，3关联磁盘分区格式化测试场景，4关联Idle测试场景。在得到0～4任一随机数时，则进入对应的测试场景。
应该理解的是，随着测试场景的增加，与之对应的随机数也会对应增加，并不局限于上述的0～4。
场景进入单元30包括随机生成模块31，用于通过随机函数产生随机数。
测试单元40，用于通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
在本实施例中，在执行随机场景测试过程中，PDU装置根据自动测试脚本的控制指令进行异常掉电，测试平台掉电一段时间后，PDU装置自动为SSD上电，测试平台的操作系统自启动，操作系统启动后自动测试脚本自启动，又开始随机选择异常掉电的具体测试场景。此过程自动化反复循环测试，直到测试达到设置的异常掉电次数，即随机场景下异常掉电测试完成，全过程无需人工干预，高效稳定的自动化测试。
参阅图6，在一实施例中，测试单元40包括：掉电控制模块41，异常判断模块42，上电控制模块43和完成判断模块44。
掉电控制模块41，用于通过PDU装置控制测试平台掉电。
在一实施例中，PDU装置能够控制测试平台上下电，上下电具体包括掉电和上电。
异常判断模块42，用于判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况，在出现异常情况时，结束测试。
在一实施例中，异常情况可以为是否出现丢盘，或者蓝屏等等无法正常使用SSD的情况。
上电控制模块43，在未出现异常情况时，判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电。
在一实施例中，PDU装置能够控制测试平台上下电，上下电具体包括掉电和上电。在掉电过程中，如果SSD和测试平台未出现任何异常，则代表在具体的测试场景下，该次测试无问题，完全正常。
完成判断模块44，用于判断掉电次数是否大于设定值，在掉电次数小于设定时，随机生成一随机数，在掉电次数大于等于设定时，结束测试。
在一实施例中，预设定一个掉电循环次数，在此掉电循环次数范围内循环对接入SSD做随机场景异常掉电测试，当实际掉电循环次数大于该预设值时，自动停止，完成随机场景异常掉电测试。通过自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试，可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
本方案通过随机生成一随机数，来自动根据随机数切换SSD进入对应的测试场景中进行掉电测试，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。
请参阅图7，图7是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图。该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图7，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序。所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法，其特征在于，包括以下步骤：
将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；
搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；
随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；
通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
2.根据权利要求1所述的测试SSD随机场景下异常掉电的方法，其特征在于，所述随机生成一随机数的步骤，包括：
通过随机函数产生随机数。
3.根据权利要求1所述的测试SSD随机场景下异常掉电的方法，其特征在于，所述通过自动测试脚本发送控制指令，控制对应的PDU装置为处于具体测试场景的SSD上下电的步骤，包括：
通过PDU装置控制测试平台掉电；
判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况；
若出现异常情况，则结束测试；
若未出现异常情况，则判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电；
判断掉电次数是否大于设定值；
若否，则返回所述随机生成一随机数步骤；
若是，则结束测试。
4.根据权利要求1所述的测试SSD随机场景下异常掉电的方法，其特征在于，所述测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。
5.一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置，其特征在于，包括：
控制接入单元，用于将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；
环境搭建单元，用于搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；
场景进入单元，用于随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；
测试单元，用于通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。
6.如权利要求5所述的测试SSD随机场景下异常掉电的装置，其特征在于，所述场景进入单元包括随机生成模块，用于通过随机函数产生随机数。
7.如权利要求5所述的测试SSD随机场景下异常掉电的装置，其特征在于，所述测试单元包括：
掉电控制模块，用于通过PDU装置控制测试平台掉电；
异常判断模块，用于判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况，在出现异常情况时，结束测试；
上电控制模块，在未出现异常情况时，判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电；
完成判断模块，用于判断掉电次数是否大于设定值，在掉电次数小于设定时，随机生成一随机数，在掉电次数大于等于设定时，结束测试。
8.如权利要求5所述的测试SSD随机场景下异常掉电的装置，其特征在于，所述测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4中任一项所述的方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现如权利要求1至4中任一项所述的方法。
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