CN111782446A - Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对SSD进行数据随机写操作；向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；对SSD上电初始化；判断SSD上电初始化是否成功；对SSD写入的数据进行数据校验；判断数据校验是否匹配。本发明弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷。

Description

SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及SSD正常掉电测试技术领域，更具体地说是指SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
在PCIe NVMe SSD(以下简称SSD)产品开发阶段的初期，通常需要对其一些关键特性或功能进行快速评估，以检验相应设计是否存在缺陷。其中，对SSD进行正常掉电测试十分重要。所谓正常掉电是相对异常掉电而言的，即在对SSD掉电前，主机先对SSD发送正常掉电通知命令，然后再对SSD掉电。目前，在对消费级SSD进行正常掉电测试的方法中，通常利用第三方的掉电测试软件(例如，sleeper)和读写测试软件(例如，BurnIn Test)在Windows下，先对SSD读写一段时间，然后再对整机进行休眠或冷启动操作来实现对SSD的正常掉电，这种测试方法的优点是在操作上简单方便。然而，这种方法存在以下两个缺点：
1、上述方法所采用的第三方掉电测试软件，在对SSD下发了正常掉电通知命令后，并不会等待SSD是否已完成该命令(根据NVMe 1.3协议规定，主机在下发了正常掉电通知命令后，至少要等待1s或以上再进行其他操作)，如此一来，也就无法判断SSD是否已完成该命令，而直接对SSD掉电；若出现这种情况，对SSD而言，这在某些时候属于一次异常掉电测试，与本该对SSD进行正常掉电测试的意图相违背，从而有可能漏掉某些在正常掉电测试下才会出现的SSD产品缺陷(例如处理正常掉电通知命令超时)；
2、上述方法所采用的第三方读写测试软件，不会在SSD下一个上电周期里，对上一个上电周期已写入的数据进行校验，这样有可能会漏掉SSD在正常掉电后仍有可能出现数据不一致相关的缺陷。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
SSD正常掉电的测试方法，包括以下步骤：
对SSD进行数据随机写操作；
向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
若不是，则进行脚本报错，停止测试；
若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
对SSD上电，并进行初始化；
判断SSD上电初始化是否成功；
若不成功，则进行脚本报错，停止测试；
若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；
判断数据校验是否匹配；
若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；
若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。
其进一步技术方案为：所述步骤“对SSD进行数据随机写操作”中，写操作的数据模式为0x5a。
其进一步技术方案为：所述步骤“等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值”中，N大于等于1。
其进一步技术方案为：所述步骤“若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒”中，X为3-10。
SSD正常掉电的测试装置，包括：写单元，下发设置单元，等待读取单元，第一判断单元，掉电单元，上电初始化单元，第二判断单元，校验单元，第三判断单元，返回单元，及报错停止单元；
所述写单元，用于对SSD进行数据随机写操作；
所述下发设置单元，用于向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
所述等待读取单元，用于等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
所述第一判断单元，用于判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
所述掉电单元，用于对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
所述上电初始化单元，用于对SSD上电，并进行初始化；
所述第二判断单元，用于判断SSD上电初始化是否成功；
所述校验单元，用于对SSD写入的数据进行数据校验；
所述第三判断单元，用于判断数据校验是否匹配；
所述返回单元，用于返回执行“对SSD进行数据随机写操作”；
所述报错停止单元，用于进行脚本报错，停止测试。
其进一步技术方案为：所述写单元中，写操作的数据模式为0x5a。
其进一步技术方案为：所述等待读取单元中，N大于等于1。
其进一步技术方案为：所述掉电单元中，X为3-10。
一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的SSD正常掉电的测试方法。
一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的SSD正常掉电的测试方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内(N秒)正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，以及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷，能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的SSD正常掉电的测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的SSD正常掉电的测试装置的示意性框图；
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1到图3所示的具体实施例，其中，请参阅图1所示，本发明公开了一种SSD正常掉电的测试方法，包括以下步骤：
S1，对SSD进行数据随机写操作；
其中，在本实施例中，对SSD进行数据随机写操作M秒，M≥1，例如：M＝3,5，或7等，M的值可根据实际情况而设定，以满足不同的需求。
其中，写操作的数据模式为0x5a，采用十六进制。
S2，向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
S3，等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
其中，N大于等于1，例如：N＝2,3,5，或7等，N的值可根据实际情况而设定，以满足不同的需求。
S4，判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；若不是，则进入S10，进行脚本报错，停止测试；
S5，若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
其中，X为3-10，例如：X＝3,5，或7等，在其他实施例中，X的值也可以为1,2，或大于10，X的值可根据实际情况而设定，以满足不同的需求。
S6，对SSD上电，并进行初始化；
S7，判断SSD上电初始化是否成功；若不成功，则进入S10，进行脚本报错，停止测试；
S8，若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；
S9，判断数据校验是否匹配；若不匹配，则进入S10，进行脚本报错，停止测试；若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”，重复执行步骤S1-S10，Y个循环(Y的值可根据实际情况而定)。
其中，本发明通过利用Ulink公司的DriveMaster 2015测试软件，根据NVMe1.3协议的相关规则，编写测试脚本。该脚本主要通过将SSD主控配置寄存器(ControllerConfiguration Register，以下简称CC)bit 15:14(为该寄存器的“ShutdownNotification(关机通知)”字段，以下简称CC.SHN(SSD主控配置寄存器关机通知))的值设置为01b来实现对SSD下发正常掉电通知命令，并在等待N秒后，通过读取SSD主控状态寄存器(Controller Status，以下简称CSTS)的bit 03:02(为该寄存器的“Shutdown Status(关机状态)”字段，以下简称CSTS.SHST(SSD主控配置寄存器关机状态))的值是否为10b来判断SSD是否已完成正常掉电通知命令；且在下一个上电周期里，对上一个上电周期内写入的数据进行校验。
本发明弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内(N秒)正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，以及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷，能够更好地满足需求。
请参阅图2所示，本发明还公开了一种SSD正常掉电的测试装置，包括：写单元10，下发设置单元20，等待读取单元30，第一判断单元40，掉电单元50，上电初始化单元60，第二判断单元70，校验单元80，第三判断单元90，返回单元100，及报错停止单元110；
所述写单元10，用于对SSD进行数据随机写操作；
所述下发设置单元20，用于向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
所述等待读取单元30，用于等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
所述第一判断单元40，用于判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
所述掉电单元50，用于对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
所述上电初始化单元60，用于对SSD上电，并进行初始化；
所述第二判断单元70，用于判断SSD上电初始化是否成功；
所述校验单元80，用于对SSD写入的数据进行数据校验；
所述第三判断单元90，用于判断数据校验是否匹配；
所述返回单元100，用于返回执行“对SSD进行数据随机写操作”；
所述报错停止单元110，用于进行脚本报错，停止测试。
其中，所述写单元10中，写操作的数据模式为0x5a。
其中，所述等待读取单元30中，N大于等于1。
其中，所述掉电单元50中，X为3-10。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述SSD正常掉电的测试装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述SSD正常掉电的测试装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图3，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种SSD正常掉电的测试方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种SSD正常掉电的测试方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的SSD正常掉电的测试方法。
所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本发明的实施方式仅限于此，任何依本发明所做的技术延伸或再创造，均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (10)

1.SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
对SSD进行数据随机写操作；
向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
若不是，则进行脚本报错，停止测试；
若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
对SSD上电，并进行初始化；
判断SSD上电初始化是否成功；
若不成功，则进行脚本报错，停止测试；
若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；
判断数据校验是否匹配；
若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；
若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。
2.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“对SSD进行数据随机写操作”中，写操作的数据模式为0x5a。
3.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值”中，N大于等于1。
4.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒”中，X为3-10。
5.SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，包括：写单元，下发设置单元，等待读取单元，第一判断单元，掉电单元，上电初始化单元，第二判断单元，校验单元，第三判断单元，返回单元，及报错停止单元；
所述写单元，用于对SSD进行数据随机写操作；
所述下发设置单元，用于向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；
所述等待读取单元，用于等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；
所述第一判断单元，用于判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；
所述掉电单元，用于对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；
所述上电初始化单元，用于对SSD上电，并进行初始化；
所述第二判断单元，用于判断SSD上电初始化是否成功；
所述校验单元，用于对SSD写入的数据进行数据校验；
所述第三判断单元，用于判断数据校验是否匹配；
所述返回单元，用于返回执行“对SSD进行数据随机写操作”；
所述报错停止单元，用于进行脚本报错，停止测试。
6.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述写单元中，写操作的数据模式为0x5a。
7.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述等待读取单元中，N大于等于1。
8.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述掉电单元中，X为3-10。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD正常掉电的测试方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD正常掉电的测试方法。
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