CN111949538A - 数据分析方法、设备及系统 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种数据分析方法，包括：数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；其中，所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳；向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析。本申请实施例还同时提供了一种数据分析系统和设备。

Description

数据分析方法、设备及系统

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，涉及但不限定于数据分析方法、设备及系统。

背景技术

随着芯片的功能和性能的要求越来越高，复杂度也越来越高，对功耗的要求也面临很多挑战。如果没有一个方便高效的功耗分析方法，后续的开发调试和优化将会非常困难。

发明内容

本申请实施例提供一种数据分析方法、设备及系统。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供一种数据分析方法，包括：

数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；

在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；其中，所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳；

向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析。

第二方面，本申请实施例提供一种数据分析方法，包括：

上位机接收数据采集卡发送的待处理数据；其中，所述待处理数据为带有时间信息的待测芯片的性能数据；

接收所述待测芯片发送的跟踪文件；其中，所述跟踪文件至少包括所述数据采集卡向所述待测芯片发送的同步信号对应的第一时间戳；所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；

以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据和所述跟踪文件进行数据分析。

第三方面，本申请实施例提供一种数据分析系统，包括：

数据采集卡，用于采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；向所述上位机发送所述待处理数据；

其中，所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳；

上位机，用于配置所述待测芯片产生所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳；接收所述数据采集卡发送的待处理数据；接收所述待测芯片发送的跟踪文件；以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据和所述跟踪文件进行数据分析。

第四方面，本申请实施例提供一种数据分析设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述数据采集卡侧数据分析方法中的步骤；或者，实现上述上位机侧数据分析方法中的步骤。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

在本申请实施例中，首先，数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；其次，在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；最后，向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析；如此，数据采集卡在采集待测芯片的性能数据的同时，将采集数据的时间精确地同步到待测芯片输出的跟踪文件(trace)的时间基准，使得上位机获得的待处理数据与跟踪文件能够时间同步，能够提高分析问题的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1为相关技术中芯片的跟踪文件和电流/功耗的测试系统框图；

图2为本申请实施例提供的一种数据分析方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种数据分析方法的交互流程图；

图4为本申请实施例提供的芯片的跟踪文件和电流/功耗的测试系统框图；

图5为本申请实施例提供的同步信号的信号流示意图；

图6A为本申请实施例提供的功耗测试方法的逻辑流程图；

图6B为本申请实施例提供的同步信号产生的跟踪文件格式；

图6C为本申请实施例提供的测试系统的同步时序图；

图6D为本申请实施例提供的生成硬件跟踪文件的示意图；

图6E为本申请实施例提供的组件状态波形和电流波形示意图；

图7为本申请实施例提供的一种数据分析设备的硬件实体示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。以下实施例用于说明本申请，但不用来限制本申请的范围。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

需要指出，本申请实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请实施例所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。

目前方案在测试芯片电流/功耗时，输出电流/功耗波形不能和跟踪文件进行同步；测试电流/功耗使用的数据采集卡输出的实时数据和芯片输出的跟踪文件由于没有相同时间基点，跟踪工具(Trace Tool)在后续处理时很难精确同步，所以在分析功耗问题时不能将两者有效结合起来。

图1是相关技术中芯片的跟踪文件和电流/功耗的测试系统框图，如图1所示，该测试系统包括仪表11、上位机12、数据采集卡13和待测芯片14。其中：

上位机12中安装跟踪工具121，通过第一总线与数据采集卡13相连，跟踪工具121向数据采集卡13发送采集数据命令，跟踪工具121读取或接收采集的电流/功耗数据；同时上位机12通过第二总线与待测芯片14相连，跟踪工具121配置待测芯片14产生的跟踪文件，跟踪工具121接收待测芯片14发送的跟踪文件。

数据采集卡13通过测量线缆和待测芯片14连接，数据采集卡13用于采集待测芯片14的性能数据。

仪表11与待测芯片14连接，仪表11用于发射和接收信号。上位机12配置仪表11输出特定功率的信号，以使待测芯片14在统一的测试环境下测试。

在测试过程中，数据采集卡13将采集到电流/功耗数据发送到跟踪工具，同时跟踪工具配置跟踪文件完成之后也开始接收待测芯片14发送的跟踪文件。跟踪工具虽然知道什么时间发送的采集命令，但是从发送命令到数据采集卡13输出电流/功耗数据，再到跟踪工具接收处理数据之间有很多不确定的延时。另外，跟踪工具接收的跟踪文件使用的是芯片内部的时间基准，很难和接收到的电流/功耗数据的时间同步。

目前的方案由于跟踪文件和电流/功耗数据不能实时同步，在分析功耗问题造成了极大不便，降低了分析问题的效率。

本申请实施例提供一种数据分析方法，图2为本申请实施例提供的一种数据分析方法的流程示意图，如图2所示，所述方法至少包括以下步骤：

步骤S210，数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据。

这里，数据采集是指对设备被测的模拟或数字信号，自动采集并送到上位机或其他终端中进行分析、处理。数据采集卡，即实现数据采集功能的计算机扩展卡，可以通过通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)、外围组件互连(Peripheral ComponentInterconnection，PCI)、面向仪器系统的PCI扩展(PCI extensions forInstrumentation，PXI)、PCI总线(PCI Express，PCI-E)、232总线、以太网、各种无线网络等总线接入计算机。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

这里，所述待测芯片为芯片功耗板，用于调制解调仪表或基站发送的信号。

这里，所述待测芯片的性能数据可以为电流、电压、功耗等形式的数据。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

需要说明的是，本申请实施例提供的数据分析方法同样适用于包含待测芯片的终端，只是在测试过程中，需要进行拆机和走飞线处理。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

这里，所述带有时间信息的待处理数据表示采集到的性能数据携带时间戳。

需要说明的是，在实施过程中需要由上位机或其他终端给数据采集卡发送数据采集命令，并设定数据采样频率。也就是说，每个采样点之间具有固定的时间间隔，所以采集到的待处理数据是一段携带时间戳的数据信号。

步骤S220，数据采集卡在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号。

这里，所述同步信号用于将采集待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步。所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳。

需要说明的是，数据采集卡与待测芯片之间通过测试线缆连接，数据采集卡采集到第一个数据的同时发出同步信号，待测芯片通过特定的硬件接口探测到同步信号。在操作过程中以第几个数据作为起始点可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

值得注意的是，数据采集卡产生的同步信号可以携带时间戳，也可以不携带时间戳，是否带有时间戳可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

步骤S230，数据采集卡向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析。

这里，数据采集卡将采集到的待测芯片的性能数据发送给上位机，同时上位机会接收到来自待测芯片的跟踪文件，从而能够将待处理数据和跟踪文件进行对比分析。

这里，所述上位机可以为直接发出操控命令的电子设备，本申请实施例中操控命令用于配置待测芯片生成哪些模块或哪些代码段的跟踪文件。上位机一般是个人计算机(Personal Computer，PC)、主机、手持终端等，屏幕上显示各种信号变化(电流、电压、功耗等)。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

在本申请实施例中，首先，数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；其次，在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；最后，向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析；如此，数据采集卡在采集待测芯片的性能数据的同时，将采集数据的时间精确地同步到待测芯片输出跟踪文件的时间基准，使得上位机获得的待处理数据与跟踪文件能够时间同步，能够提高分析问题的效率。

在一些可能的实施例中，通过上位机中安装的跟踪工具实现所述上位机侧数据分析方法的功能，图3为本申请实施例提供的一种数据分析方法的交互流程图，如图3所示，所述方法至少包括以下步骤：

步骤S301，跟踪工具配置待测芯片产生同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳。

这里，所述同步信号为数据采集卡开始采集数据的时候向待测芯片发送的，用于将采集待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步。

这里，所述第一时间戳用于标记数据采集卡采集到待测芯片的性能数据的时间。

步骤S302，跟踪工具配置待测芯片产生每一所述组件的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳。

需要说明的是，待测芯片内部每个组件各自的电源和时钟支持不同的控制状态，例如：电源开关打开与闭合，时钟选择，状态机的状态，CPU的空闲与激活等。待测芯片根据跟踪工具的配置实时检测内部N个组件的状态变化信息，将每一所述组件的每一次状态变化，都生成对应的第二事件ID和第二时间戳。其中，所述N为大于或等于1的整数。

值得注意的是，在开机启动后待测芯片的内部跟踪系统就会实时生成跟踪文件，以便于后续进行调试或跟踪软件或硬件的行为。可以通过上位机中安装的跟踪工具对要进行调试或跟踪的模块进行配置，这样在软件运行过程中就会自动生成符合期望的跟踪文件。

步骤S303，跟踪工具向数据采集卡发送数据采集命令。

这里，跟踪工具与数据采集卡通过USB或PCI-E连接，并向数据采集卡发送指令指示数据采集卡开始采集待测芯片的性能数据。

步骤S304，数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据。

这里，所述待测芯片的性能数据可以为电流、电压、功耗等形式的数据。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

步骤S305，在开始采集所述待处理数据的同时，数据采集卡通过与待测芯片连接的特定通用输入输出端口，向待测芯片发送同步信号。

这里，所述同步信号用于将采集待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步。

需要说明的是，待测芯片通过特定的硬件接口如通用输入输出(General-purposeinput/output，GPIO)端口探测到同步信号，与该GPIO口相连的内部硬件如全局时间戳会自动产生一个事件跟踪记录，该事件跟踪记录可以包括同步信号对应的事件ID和时间戳。

这里，生成同步信号的事件跟踪记录的过程可以通过以下方式实现：

方式一：响应于所述同步信号，通过所述待测芯片内部的全局时间戳(GlobalTime Stamp，GTS)生成所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳；将所述第一事件ID和所述第一时间戳，作为所述同步信号的事件跟踪记录。

方式二：所述同步信号携带第三时间戳，响应于所述同步信号，确定所述同步信号对应的第一事件ID；根据所述第一时间戳，确定与所述跟踪文件的时间基准同步的第二时间戳；将所述第一事件ID和所述第一时间戳，作为所述同步信号的事件跟踪记录。

这里，根据第一时间戳确定第三时间戳根据可以通过第一时间戳加上同步信号的传输延时确定，可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

上述方式一适用于同步信号不携带时间戳的情况，直接由GTS产生第二时间戳；上述方式二适用于同步信号携带第三时间戳的情况，待测芯片需要将第一时间戳转换为自身时间基准下的第一时间戳。

步骤S306，数据采集卡向跟踪工具发送待处理数据。

步骤S307，跟踪工具接收待测芯片内部的系统跟踪处理单元发送的跟踪文件。

这里，所述跟踪文件至少包括数据采集卡向所述待测芯片发送的同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳，以及每一所述组件的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳。

步骤S308，跟踪工具根据每一所述第二事件ID的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳，生成每一所述第二事件ID对应的状态波形。

这里，跟踪工具按照第二时间戳，将第二事件ID的状态变化信息绘制成每一所述第二事件ID对应的状态波形。

步骤S309，跟踪工具以所述第一时间戳为时间基准，根据待处理数据带有的时间信息，生成待处理数据对应的电信号的波形。

这里，所述电信号的波形的起始时刻为所述第一时间戳。其中，所述电信号的波形可以是电流波形图，也可以是功耗波形图。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

步骤S310，跟踪工具将电信号的波形与每一所述第二事件ID对应的状态波形进行对比分析。

这里，跟踪工具通过第一时间戳将待处理数据和跟踪文件进行时间同步，并结合跟踪文件中跟踪的软件或硬件的行为以及时序，对采集的待处理数据进行功耗分析。

需要说明的是，状态波形图能够和电流/功耗的波形图相对应。将电流/功耗的波形与每一所述第二事件ID对应的状态波形分别进行对比分析，哪一路或者哪一个组件的行为对电流/功耗的影响将会一目了然。

在本申请实施例中，跟踪工具根据接收的数据采集卡发送的带有时间信息的待处理数据，生成对应的电流/功耗波形图；还根据接收的待测芯片发送的内部各个组件的状态事件和时间戳，生成每个状态事件对应的状态波形；从而以第一时间戳为时间基准，将状态信息波形图能够和电流/功耗的波形图相对应。跟踪工具能够在分析功耗问题时将数据采集卡采集到的待测芯片的性能数据和跟踪文件有效地结合起来，从而更好地服务于后续的开发调试和性能优化。哪一路或者哪一个组件的行为对电流/功耗的影响将会一目了然。这为开发和调试电流/功耗问题提供了极大的便捷，为后续的优化以及下一代芯片提供了有力的数据支撑，也为芯片功耗的模型提供了校准依据。

下面结合一个具体实施例对上述数据分析方法进行说明，然而值得注意的是，该具体实施例仅是为了更好地说明本申请，并不构成对本申请的不当限定。

目前的方案由于跟踪文件和电流/功耗数据不能实时同步，在分析功耗问题造成了极大不便，降低了分析问题的效率。在调试这类问题时往往需要添加或者打开更多的跟踪文件去跟踪软件或者硬件的行为以及时序，而且不能直观地观察到芯片行为的变化对电流/功耗的影响。

本方案提出使用硬件信号同步技术把数据采集卡产生数据的时间统一到与芯片的跟踪文件相同的时间基准。图4是本申请实施例提供的芯片的跟踪文件和电流/功耗的测试系统框图，如图4所示，该测试系统包括仪表41、上位机42、数据采集卡43和待测芯片44。其中：

上位机42中安装跟踪工具421，通过第一总线与数据采集卡43相连，跟踪工具421向数据采集卡43发送开始采集数据的命令，跟踪工具421读取或接收采集的电流/功耗数据；同时上位机42通过第二总线与待测芯片44相连，跟踪工具421配置待测芯片44产生的跟踪文件，跟踪工具421接收芯片功耗板发送的跟踪文件。

数据采集卡43通过测量线缆和待测芯片44连接，数据采集卡13用于采集待测芯片44的性能数据。

仪表41与待测芯片44连接，用于发射和接收信号。上位机42配置仪表41输出特定功率的信号，以使待测芯片44在统一的测试环境下测试。

在数据采集卡43和待测芯片44之间增加了硬件同步信号，数据采集卡采集43到第一个数据的同时发出同步信号，如图5所示，待测芯片44利用一个GPIO口探测到同步信号之后，与之相连的全局时间戳441会自动产生一个带有有时间戳的事件ID，并通过待测芯片44的系统跟踪处理单元442把带有时间戳的事件ID输出到跟踪工具421。这样数据采集卡43采集数据的时间就能够精确的同步到待测芯片44输出跟踪文件的时间基准。

图6A为本申请实施例提供的一种功耗测试方法的逻辑流程图，如图6A所示，所述方法至少包括以下步骤：

步骤S601，跟踪工具421设置待测芯片44产生跟踪文件的配置参数。

步骤S602，跟踪工具421向数据采集卡43发送数据采集命令。

这里，数据采集命令为计算机指令，可以指示采样频率、采样时间等。具体的可根据实际情况进行确定，本申请实施例对此不作限定。

步骤S603，数据采集卡43采集到数据时向待测芯片44发出同步信号。

步骤S604，待测芯片44根据接收到的同步信号产生事件ID和相应的时间戳。

如图6B所示，同步信号产生的跟踪记录的格式包括事件ID 6001和时间戳6002。

步骤S605，跟踪工具421接收到带有事件ID和时间戳的跟踪文件。

步骤S606，跟踪工具421接收到数据采集卡发送的性能数据。

步骤S607，跟踪工具421关联跟踪文件和性能数据，进行功耗分析。

图6C为本申请实施例提供的测试系统的同步时序图，如图6E所示，a信号表示跟踪工具发送跟踪配置信息的时序，b信号表示跟踪工具发送开始数据采集命令的时序，c信号表示数据采集卡向待测芯片发出一个硬件触发同步信号的时序，此时待测芯片内部硬件同时产生时间戳，d信号表示产生第一个电流数据的时序，e信号表示标记第一个电流数据的时间。这里，信号c、d和e之间的时序不是绝对的时间对齐，会有若干纳秒或者微妙的延迟，依赖于数据采集卡和待测芯片内部逻辑的延迟。f信号表示跟踪工具接收电流/功耗数据的时序，g信号表示跟踪工具接收跟踪文件的时序，可以看出这两个时序不同步。

跟踪工具有了统一的时间基准就会很方便的做后续处理，比如跟踪工具把电流/功耗数据绘制成图形，并实时和跟踪文件同步，电流增大或者减小的原因就会很容易通过跟踪文件被识别。

为了能够更精确的知道待测芯片内部组件的行为对功耗的影响，本方案还引入硬件跟踪技术，相比于软件输出的跟踪文件，硬件跟踪更实时，能够把待测芯片内部的状态更精确的跟踪到，比如一个电源域的开/关(ON/OFF)，时钟的选择开/关，中央处理器的空闲/激活状态，以及硬件加速器中状态机的状态等。如图6D所示，组件1至3的状态信息能够通过硬件的连接，把状态信号通过待测芯片内部的系统跟踪处理单元输出像软件一样的跟踪文件到跟踪工具。

每个状态发生变化时都会都记录自己的时间戳，这样跟踪工具在后续处理时能够生成每个状态信号的波形图，而且状态信息波形图能够和电流/功耗的波形图相对应。哪一路或者哪一个组件的行为对电流/功耗的影响将会一目了然。这为开发和调试电流/功耗问题提供了极大的便捷，为后续的优化以及下一代待测芯片提供了有力的数据支撑，也为待测芯片功耗的模型提供了校准依据。

下面举个例子，假如待测芯片内部的三个组件分别有各自的电源和时钟，下表1列举了组件1、组件2和组件3各自的电源和时钟所支持的控制状态。如图6E所示，如果各个组件的行为能通过系统跟踪处理单元输出跟踪文件到跟踪工具，利用本方案提出的跟踪文件和电流同步技术，能够非常实时地知道每个组件的行为以及消耗了多少电流/功耗。

表1组件电源和时钟所支持的状态

各组件根据使用场景的不同，工作在各自的状态，不同的电源和时钟状态会消耗不同的电流，如图6E所示，跟踪工具根据接收到的硬件状态信息生成每个组件对应的电源和时钟状态的状态波形，同时跟踪工具根据数据采集卡发来的数据生成对应的电流波形，这样就可以直观地从波形图上进行对比，得知哪一个组件的哪一状态对电流产生了影响。

通过数据采集卡发送同步信号到待测芯片，待测芯片通过内部硬件产生时间戳，使采集到电流/功耗数据的时间基准与待测芯片输出的跟踪文件保持一致，利用统一的时间基准，将待测芯片输出的跟踪文件和数据采集卡输出的电流/功耗波形进行实时同步；基于上述信号同步技术，引入硬件状态信息的跟踪文件，能够更精确更实时地跟踪待测芯片内部硬件的行为对电流/功耗的影响；跟踪工具将电流/功耗数据和硬件状态信息生成同步波形，更直观地和跟踪文件相对应。

本申请实施例产生的有益效果包括以下几个方面：对开发和调试功耗相关问题的分析提供了极大的方便，提高了效率；为优化功耗提供了有力的调试手段和更精确的数据支撑；跟踪文件和电流/功耗波形的同步，能够更直观地观察待测芯片的行为，为挖掘功耗优化的潜力提供了基础；为下一代待测芯片的开发提供了更多的数据和经验；为待测芯片功耗模型提供了更精确的验证和校准。

需要说明的是，本申请实施例中，如果以软件功能模块的形式实现上述数据分析方法，并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得终端(可以是具有摄像头的智能手机、平板电脑等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。这样，本申请实施例不限制于任何特定的硬件和软件结合。

对应地，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中任一所述数据分析方法中的步骤。

对应地，本申请实施例中，还提供了一种芯片，所述芯片包括可编程逻辑电路和/或程序指令，当所述芯片运行时，用于实现上述实施例中任一所述数据分析方法中的步骤。

对应地，本申请实施例中，还提供了一种计算机程序产品，当该计算机程序产品被终端的处理器执行时，其用于实现上述实施例中任一所述数据分析方法中的步骤。

基于同一技术构思，本申请实施例提供一种数据分析设备，用于实施上述方法实施例记载的数据分析方法。图7为本申请实施例提供的一种数据分析设备的硬件实体示意图，如图7所示，所述设备700包括存储器710和处理器720，所述存储器710存储有可在处理器720上运行的计算机程序，所述处理器1020执行所述程序时实现本申请实施例任一所述数据分析方法中的步骤。

存储器710配置为存储由处理器720可执行的指令和应用，还可以缓存待处理器720以及终端中各模块待处理或已经处理的数据(例如，图像数据、音频数据、语音通信数据和视频通信数据)，可以通过闪存(FLASH)或随机访问存储器(Random Access Memory，RAM)实现。

处理器720执行程序时实现上述任一项的数据分析方法的步骤。处理器1020通常控制设备700的总体操作。

上述处理器可以为特定用途集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、数字信号处理装置(Digital Signal Processing Device，DSPD)、可编程逻辑装置(Programmable LogicDevice，PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)、中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种。可以理解地，实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它，本申请实施例不作具体限定。

上述计算机存储介质/存储器可以是只读存储器(Read Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、磁性随机存取存储器(Ferromagnetic Random Access Memory，FRAM)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)等存储器；也可以是包括上述存储器之一或任意组合的各种终端，如移动电话、计算机、平板设备、个人数字助理等。

这里需要指出的是：以上存储介质和设备实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本申请实施例方案的目的。

另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

或者，本申请上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得设备自动测试线执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本申请所提供的几个方法实施例中所揭露的方法，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例。

本申请所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例或设备实施例。

以上所述，仅为本申请的实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种数据分析方法，其特征在于，所述方法包括：

数据采集卡采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；

在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；其中，所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳；

向上位机发送所述待处理数据，以使所述上位机以所述第一时间戳为基准，根据接收的所述待处理数据和所述待测芯片发送的所述跟踪文件进行数据分析。

2.如权利要求1所述的方法，所述在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号，包括：

在开始采集所述待处理数据的同时，通过与所述待测芯片连接的特定通用输入输出端口，向所述待测芯片发送同步信号。

3.一种数据分析方法，其特征在于，所述方法包括：

上位机接收数据采集卡发送的待处理数据；其中，所述待处理数据为带有时间信息的待测芯片的性能数据；

接收所述待测芯片发送的跟踪文件；其中，所述跟踪文件至少包括所述数据采集卡向所述待测芯片发送的同步信号对应的第一时间戳；所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；

以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据和所述跟踪文件进行数据分析。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法由所述上位机中安装的跟踪工具执行。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述上位机接收所述数据采集卡发送的待处理数据之前，所述方法还包括：

所述跟踪工具配置所述待测芯片产生所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述跟踪工具配置所述待测芯片产生所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳，包括：

所述跟踪工具通过所述待测芯片内部的全局时间戳GTS生成所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳。

7.如权利要求4至6任一项所述的方法，其特征在于，所述接收所述待测芯片发送的跟踪文件，包括：

所述跟踪工具接收所述待测芯片内部的系统跟踪处理单元STPU发送的跟踪文件。

8.如权利要求4至6任一项所述的方法，其特征在于，所述待测芯片内包括N个组件，N为大于或等于1的正整数，所述方法还包括：所述跟踪工具配置所述待测芯片产生每一所述组件的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳；

所述跟踪工具以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据和所述跟踪文件进行数据分析，包括：

所述跟踪工具根据每一所述组件的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳，生成每一所述第二事件ID对应的状态波形；

所述跟踪工具以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据带有的时间信息，生成所述待处理数据对应的电信号的波形；

所述跟踪工具将所述电信号的波形与每一所述第二事件ID对应的状态波形进行对比分析。

9.一种数据分析系统，包括数据采集卡和上位机，其中：

所述数据采集卡，用于采集待测芯片的性能数据，得到带有时间信息的待处理数据；在开始采集所述待处理数据的同时，向所述待测芯片发送同步信号；向所述上位机发送所述待处理数据；

其中，所述同步信号用于将采集所述待处理数据的时间基准和所述待测芯片产生的跟踪文件的时间基准同步；所述跟踪文件至少包括所述同步信号对应的第一时间戳；

所述上位机，用于配置所述待测芯片产生所述同步信号对应的第一事件ID和第一时间戳；接收所述数据采集卡发送的待处理数据；接收所述待测芯片发送的跟踪文件；以所述第一时间戳为时间基准，根据所述待处理数据和所述跟踪文件进行数据分析。

10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，通过所述上位机中安装的跟踪工具实现所述上位机的功能；

所述待测芯片内包括N个组件，N为大于或等于1的正整数，

所述跟踪工具，还用于配置所述待测芯片产生每一所述组件的状态变化信息对应的第二事件ID和第二时间戳。

11.一种数据分析设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1或2所述方法中的步骤；或者，实现权利要求3至8任一项所述方法中的步骤。

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