CN104678982A - 使用独立控制模块进行测试的测试装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种使用独立控制模块进行测试的测试装置及其方法，其通过在测试装置上设置取代主控端的控制模块，控制模块在接收到主控端所传送的测试命令后，可以产生相对应的控制命令，并传送到相对应的可编程逻辑元件，接收到控制命令的可编程逻辑元件可以依据控制命令控制所包含的通用输入输出接口来对测试目标进行测试的技术手段，可以减少测试时间，并达成让主控端可以在测试的同时进行其他工作的技术功效。

Description

使用独立控制模块进行测试的测试装置及其方法

技术领域

本发明涉及一种测试装置及其方法，特别是指一种使用独立控制模块进行测试的测试装置及其方法。

背景技术

在电子产品的生产过程中，通常都需要对电子产品的输出入引脚（pin）进行连通性的测试。

目前进行测试的一种方法是使用专用的测试装置，在每次测试时，先由主控端在测试装置上设定一项测试的预定结果，接着由主控端控制测试装置对电子产品（测试目标）的输出入引脚的连通性进行该项测试，直到所有的测试项目都完成为止。

然而，上述的方法会完全占用主控端，导致主控端无法进行其他的测试工作。因此，上述的方法仅适合对少量的输出入引脚的装置进行引脚连通性的测试，一旦电子产品的输出入引脚数量多，主控端被占用的时间也会跟着增加，如此便增加了测试的时间。

另外，上述的方法中，每一项测试都需要在测试装置上设定预定结果，但事实上，设定预定结果的速度非常慢，一旦电子产品的输出入引脚数量增加，则表示需要进行测试的项目也会跟着增加，因此，也会增加测试的时间。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在输出入引脚多的电子产品的测试时间过长的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在输出入引脚多的电子产品的测试时间过长的问题，本发明遂揭露一种使用独立控制模块进行测试的测试装置及其方法，其中：

本发明所揭露的使用独立控制模块进行测试的测试装置，至少包含：控制模块，用以接收主控端所传送的测试命令，及依据测试命令产生相对应的控制命令，并依序传送控制命令；可编程逻辑元件（Programmable LogicDevice,PLD），每一可编程逻辑元件包含多个通用输入输出（General PurposeI/O,GPIO）接口，用以依据控制模块所传送的控制命令控制通用输入输出接口，藉以对测试目标进行测试。

本发明所揭露的使用独立控制模块进行测试的方法，其步骤至少包括：主控端传送测试命令至测试装置，测试装置包含控制模块及可编程逻辑元件；控制模块依据测试命令产生相对应的控制命令，并依序传送控制命令至相对应的可编程逻辑元件；可编程逻辑元件依据所接收到的控制命令控制所包含的通用输入输出接口，藉以对测试目标进行测试。

本发明所揭露的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过在测试装置上设置取代主控端的控制模块，控制模块在接收到主控端所传送的测试命令后，可以产生相对应的控制命令，并传送到相对应的可编程逻辑元件，接收到控制命令的可编程逻辑元件可以依据控制命令控制所包含的通用输入输出接口来对测试目标进行测试，藉以解决现有技术所存在的问题，并可以达成让主控端可以在对测试目标进行测试的同时进行其他工作的技术功效。

附图说明

图1为本发明所提的使用独立控制模块进行测试的元件示意图。

图2为本发明所提的可编程逻辑元件的示意图。

图3为本发明所提的使用独立控制模块进行测试的方法流程图。

【符号说明】

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，藉此实现本发明可达成的功效。

本发明提供包含可独立运作的控制模块的测试装置，当该测试装置接收到主控端所传送的测试命令时，控制模块可以执行与所接收到的测试命令对应的测试流程，并依据测试流程控制测试装置所包含的通用输入输出（General Purpose I/O,GPIO）接口（port），藉以对测试目标进行测试。

以下先以「图1」本发明所提的使用独立控制模块进行测试的测试装置的元件示意图来说明本发明的运作过程。如「图1」所示，本发明的测试装置100含有可编程逻辑元件（Programmable Logic Device,PLD）110以及控制模块130。

可编程逻辑元件110包含多个通用输入输出接口。可编程逻辑元件110负责接收控制模块130所传送的控制命令，并依据所接收到的控制命令控制一个或多个通用输入输出接口。一般而言，可编程逻辑元件110会依据所接收到的控制命令，控制一个或多个通用输入输出接口输出测试信号到测试目标400上的相对应的输入引脚（pin），及/或控制一个或多个通用输入输出接口接收测试目标400上的相对应的输出入引脚上的回应信号。

值得一提的是，由于可编程逻辑元件110包含了大量的通用输出入接口，因此，特别适合用来对具有大量输出入引脚的测试目标400进行输出入引脚的信号的测试，同时，由于通用输出入接口的信号切换速度快，也非常适合用来对输出入引脚（pin）的信号变化速度快的测试目标进行测试。

另外，可编程逻辑元件110还可以如「图2」所示，包含缓存器（register）116，缓存器116可以提供可编程逻辑元件110控制通用输入输出接口118输出测试信号到测试目标400，例如，可编程逻辑元件110可以设定缓存器116a为高电位（High）或低电位（Low），如此，与被设定的缓存器116a连接的通用输入输出接口118a便会输出高电位或低电位的测试信号至测试目标400的对应输入引脚；可编程逻辑元件110也可以通过缓存器116与通用输入输出接口118获得测试目标400上与通用输入输出接口118相对应的输出入引脚上的回应信号，例如，在通用输入输出接口118b获得测试目标400的特定输出入引脚上的回应信号后，缓存器116b会被通用输入输出接口118b所获得的高电位或低电位的回应信号设定为高电位或低电位，可编程逻辑元件110便可以藉由缓存器116b的电位高低获得回应信号为高电位或低电位。

控制模块130负责接收主控端200所传送的测试命令。主控端200会依据不同的测试需求（例如，测试不同的测试目标，测试同一测试目标的不同部分）传送不同的测试命令到测试装置100，使得控制模块130随着所接收到的不同测试命令进行不同的测试流程。

控制模块130也负责产生与所接收到的测试命令对应的控制命令，控制模块130所产生的与测试命令对应的控制命令可能只有一个，也可能有多个，本发明并没有特别的限制。由于控制模块130所进行的测试流程会随着所接收到的测试命令不同而有不同，因此，控制模块130所产生的用来进行测试的控制命令也会随着测试命令不同而有不同。

控制模块130也负责将所产生的控制命令依序传送到与控制命令对应的一个或多个可编程逻辑元件110。其中，控制模块130可以依据测试流程传送控制命令到相对应的可编程逻辑元件110，使得测试装置100上的部分或全部的可编程逻辑元件110以一定的顺序执行控制命令，藉以对测试目标400进行输出入引脚的连通性的测试。

值得一提的是，在公知技术中，主控端对测试目标400进行测试的过程中，主控端会持续的被占用，直到对测试目标400的测试完成为止，但在本发明中，控制模块130取代了公知技术中主控端的用途，也就是说，主控端200仅需要在开始对测试目标400进行测试时，传送测试命令给控制模块130，由控制模块130进行完整的测试流程，同时，在控制模块130进行测试时，主控端200可以执行其他的功能，例如，对其他的测试项目进行测试等，如此，对于主控端200而言，便是同时对测试目标400的输出入引脚以及其他测试项目进行测试，明显的可以减少测试的总时间。但在控制模块130进行测试时，主控端200所执行其他的功能并不以上述为限。

在部分的实施例中，控制模块130可以读取测试装置100上的各个可编程逻辑元件110所获取到的回应信号，并比对读取自各个可编程逻辑元件110的回应信号及与所接收到的控制命令对应的预定数据（，甚至，控制模块130可以先将所读取到的回应信号由类比信号转换为数位数据后，再与预定数据进行比对，但本发明并不以此为限），并在比对各个回应信号后产生相对应的测试结果，例如，回应信号与预定数据完全相符，或是回应信号中的一个或多个与预定数据不符等，但本发明所提的测试结果并不以此为限，凡可以理解回应信号不与预定数据完全相同的数据都可以做为本发明所提的测试数据。其中，控制模块130用来与回应信号比对的预定数据可以包含在所接收到的控制命令中，也可以预先被储存在测试装置100上，控制模块130会在接收到控制命令后，依据控制命令读取相对应的预定数据。

控制模块130也可以在接收到主控端200所传送的收集指令后，传送所产生的测试结果至主控端200。其中，控制模块130可以在完成测试后，也就是读取到所有需比对的回应信号后，主动传送通知信号给主控端200，使得主控端200传送收集指令给控制模块130，控制模块130也可以被动的等待主控端200轮询（Polling），也就是等待接收主控端200所传送的询问信息，并在接收到主控端200所传送的询问信息后，传送确认信息给主控端，使得主控端200传送收集指令给控制模块130。

另外，为了避免测试装置100同时对测试目标400的输出入引脚进行测试的通用输入输出接口不足，控制模块130与可编程逻辑元件110之间会通过串行外设接口（Serial Peripheral Interface,SPI）连接，由于串行外设接口可以轻易的让控制模块130连接多个可编程逻辑元件110，因此，便可以轻易的扩充测试装置100所能对测试目标400进行输出入引脚的测试的输入输出接口的数量。同时，由于串行外设接口的数据传输速度（16M）与公知的测试过程所使用的数据传输速度（100K）相比，具有更快的数据传输速度，因此，在对测试目标400的大量的输出入引脚进行测试时，控制模块130可以以更短的时间取得所有的回应信号。但控制模块130与可编程逻辑元件110之间的连接方式并不以使用串行外设接口为限。

接着以一个实施例来解说本发明的运作系统与方法，并请参照「图3」本发明所提的使用独立控制模块进行测试的方法流程图。在本实施例中，假设控制模块130为微控制单元（Micro Control Unit,MCU），可编程逻辑元件110为复杂可编程逻辑装置（Complex Programmable Logic Device,CPLD），但本发明并不以此为限。

首先，主控端200可以传送测试命令到测试装置100（步骤310），接着，主控端200便可以进行其他项目的测试。在本实施例中，假设主控端200与测试装置100通过内置集成电路（Inter-Integrated Circuit，IIC）连接，则测试命令便会包含在内置集成电路封包的数据段中。

测试装置100的控制模块130可以在测试装置100接收到主控端200所传送的内置集成电路封包后，解开内置集成电路封包，藉以取得包含在内置集成电路封包测试命令，并可以产生与所接收到的测试命令对应的控制命令（步骤320）。在本实施例中，假设控制模块130会依据测试命令判断与测试命令对应的测试流程，并依据所判断出的测试流程产生可以完成所判断出的测试流程的控制命令。

在测试装置100的控制模块130产生控制命令后，控制模块130可以将所产生的控制命令依序传送到与将被传送的控制命令对应的可编程逻辑元件110（步骤330）。在本实施例中，假设控制模块130与可编程逻辑元件110通过串行外设接口连接，控制模块130会使用串行外设接口协定传送控制命令给可编程逻辑元件110。

在测试装置100的可编程逻辑元件110接收到测试装置100的控制模块130所传送的控制命令后，可以依据所接收到的控制命令控制所包含的通用输入输出接口118，藉以对测试目标400进行测试（步骤350）。如此，通过本发明，主控端200便可以通过包含可以独立进行测试的控制模块130的测试装置100完成对测试目标400的测试，不会再进行测试目标400的测试时被占用。

在本实施例中，假设控制模块130产生了三组控制命令，其中，第一组控制命令会让接收到该控制命令的某个可编程逻辑元件110控制所包含的某个通用输入输出接口118将测试信号输出到测试目标400的对应输入引脚，而其他的所有通用输入输出接口118则会获取测试目标400的所有输出入引脚上的回应信号；另一组控制命令会让接收到该控制命令的某个可编程逻辑元件110控制所包含的多个特定的通用输入输出接口118输出测试信号，其他的所有通用输入输出接口118同样会获取测试目标400的所有输出入引脚上的回应信号；最后一组控制命令则会让接收到控制命令的多个可编程逻辑元件110分别控制其所包含的一个或多个通用输入输出接口118输出测试信号，同样的，而其他的所有通用输入输出接口118会获取测试目标400的所有输出入引脚上的回应信号。

接着，测试装置100的控制模块130可以使用串行外设接口协定传送读取数据的读取指令给各个可编程逻辑元件110，各个可编程逻辑元件110在接收到读取指令后，同样会使用串行外设接口协定将各个通用输入输出接口118所获取到的回应信号传回控制模块130，控制模块130在接收到所有的通用输入输出接口118所传回的回应信号后，可以将所接收到的回应信号与所产生的控制指令对应的预定数据进行比对，并在比对后产生测试结果（步骤370）。在本实施例中，由于控制模块130产生了三组控制命令，因此，控制模块130也会在每一次传送控制命令后传送一次读取指令到各个可编程逻辑元件110，并比对各个可编程逻辑元件110所传回的回应信号以及与被传送的控制命令对应的预定数据，其中，当所有回应信号与预定数据都相同时，控制模块130可以产生表示为没有错误的测试结果，而若当有任何一个回应信号与预定数据不同时，控制模块130可以记录获取到与预定数据不同的回应信号的通用输入输出接口的识别数据，甚至记录测试信号与回应信号的电位高低。

另外，测试装置100的控制模块130也可以在完成对测试目标400的测试后，接收主控端200所传送的收集指令，并将所产生的测试结果传回主控端200（步骤390），使得主控端200可以将控制模块130所产生的测试结果提供给测试者参考。在本实施例中，假设主控端200会以轮询的方式，在每一段间隔后，使用内置集成电路封包询问控制模块130是否完成测试，当控制模块130完成测试后，同样可以使用内置集成电路封包传回确认信号给主控端200，主控端200在接收到控制模块130所传送的确认信号后，便可以使用内置集成电路封包传送收集指令到控制模块130，如此，控制模块130便会使用内置集成电路封包将测试结果传回主控端200。

综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有在测试装置上设置取代主控端的控制模块，控制模块在接收到主控端所传送的测试命令后，可以产生相对应的控制命令，并传送到相对应的可编程逻辑元件，接收到控制命令的可编程逻辑元件可以依据控制命令控制所包含的通用输入输出接口来对测试目标进行测试的技术手段，藉由此一技术手段可以解决现有技术所存在输出入引脚多的电子产品的测试时间过长的问题，进而达成让主控端可以在对测试目标进行测试的同时进行其他工作的技术功效。

再者，本发明的使用独立控制模块进行测试的方法，可实现于硬件、软件或硬件与软件的组合中，亦可在计算机系统中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互连的计算机系统的分散方式实现。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作些许的更动润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (10)

1.一种使用独立控制模块进行测试的测试装置，用以与一主控端连接，且与一测试目标连接，其特征在于，该测试装置至少包含：

一控制模块，用以接收该主控端所传送的一测试命令，及依据该测试命令产生相对应的至少一控制命令，并依序传送各该控制命令；及

至少一可编程逻辑元件，每一该可编程逻辑元件包含多个通用输入输出接口，用以依据该控制模块所传送的至少一该控制命令控制至少一该通用输入输出接口，藉以对该测试目标进行测试。

2.如权利要求1所述的使用独立控制模块进行测试的测试装置，其特征在于，每一该可编程逻辑元件更包含一缓存器，用以提供各该可编程逻辑元件控制至少一该通用输入输出接口。

3.如权利要求1所述的使用独立控制模块进行测试的测试装置，其特征在于，每一该可编程逻辑元件是依据所接收到的一该控制命令，控制至少一该通用输入输出接口输出一测试信号至该测试目标，及/或控制至少一该通用输入输出接口接收该测试目标所产生的一回应信号。

4.如权利要求3所述的使用独立控制模块进行测试的测试装置，其特征在于，该控制模块更用以读取该些回应信号，并比对各该回应信号及与该被接收的控制命令对应的一预定数据以产生相对应的一测试结果。

5.如权利要求4所述的使用独立控制模块进行测试的测试装置，其特征在于，该控制模块更用以于接收到该主控端所传送的一收集指令后，传送该测试结果至该主控端。

6.如权利要求5所述的使用独立控制模块进行测试的测试装置，其特征在于，该控制模块更用以输出一通知信号以通知该主控端传送该收集指令。

7.一种使用独立控制模块进行测试的方法，其特征在于，该方法至少包含下列步骤：

一主控端传送一测试命令至一测试装置，该测试装置包含一控制模块及至少一可编程逻辑元件；

该控制模块依据该测试命令产生相对应的至少一控制命令，并依序传送各该控制命令至相对应的至少一该可编程逻辑元件；及

各该可编程逻辑元件依据所接收到的至少一该控制命令控制所包含的至少一通用输入输出接口，藉以对一测试目标进行测试。

8.如权利要求7所述的使用独立控制模块进行测试的方法，其特征在于，各该可编程逻辑元件依据所接收到的该控制命令控制所包含的至少一通用输入输出接口的步骤包含各该可编程逻辑元件依据所接收到的该控制命令，控制至少一该通用输入输出接口输出一测试信号至该测试目标，及/或控制至少一该通用输入输出接口接收该测试目标所产生的一回应信号的步骤。

9.如权利要求8所述的使用独立控制模块进行测试的方法，其特征在于，该方法于各该可编程逻辑元件依据所接收到的该控制命令控制所包含的至少一通用输入输出接口的步骤后，更包含读取该些回应信号，并比对各该回应信号及与该被接收的控制命令对应的一预定数据以产生相对应的一测试结果的步骤。

10.如权利要求9所述的使用独立控制模块进行测试的方法，其特征在于，该方法更包含该控制模块于接收到该主控端所传送的一收集指令后，传送该测试结果至该主控端的步骤。