CN103679105B - 用于测试系统输入数据的方法及测试系统 - Google Patents

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Abstract

一种用于测试系统输入数据的方法及测试系统。该用于测试系统输入数据的方法包括将一信息缓存器耦接至一待测装置；将该待测装置依序传送至多个测试站；以及在个别该多个测试站之一，取得该信息缓存器所储存的多个产品识别码。本发明能降低输入数据所需的工作人员数量，从而节省人力资源及提高测试效率。

Description

用于测试系统输入数据的方法及测试系统
技术领域
本发明指一种用于测试系统输入数据的方法及测试系统，尤指一种可降低输入数据所需的工作人员数量，以节省人力资源的用于一测试系统输入数据的方法及其测试系统。
背景技术
近年来，愈来愈多公司投入生产电子产品的领域，大量的公司相互竞争下，除了对产品质量要求愈来愈高之外，如何降低产品开发的成本也成为一大挑战。因此，如何以低成本及高效率的方式生产出高质量的产品，成为每一间公司最重要的课题。
在产品开发的过程中，为求质量及稳定性，往往需要进行大量测试，因此，公知技术通常通过多个不同测试站进行不同的测试项目。同时，为了提升测试效率，在每一测试站中，是利用条码枪来读取条码，将待测装置的产品识别码及测试信息输入测试站中的计算机装置。在此情形下，每一测试站都需要一名工作人员，利用条码枪进行读取条码的动作，以输入与产品识别码对应的序号。以图1为例，图1为公知一测试系统10的示意图。测试系统10包含有N个测试站TS1～TSN及多个待测装置，多个待测装置中每一待测装置由左而右，依序进入每一测试站中进行产品识别码比对及处理。测试站TS1～TSN中的每一个测试站都需要一名工作人员，利用条码枪读取条码以输入序号。读取条码以输入序号的方式可参考图2，图2为公知一人工测试站TSA的示意图。在图2中，一工作人员202使用一条码枪204读取条码，将一序号SN的信息输入人工测试站TSA中的计算机装置206。人工测试站TSA还包含有一转接装置210，当一待测装置220被传送至人工测试站TSA时，转接装置210以接触的方式连结计算机装置206及待测装置220。如图2所示，每一人工测试站TSA皆需要一名工作人员202来进行读取条码的动作，因此，N个人工测试站总共需要N个工作人员来完成此项工作。
如上所述，当一测试系统包含有N个测试站时，必须通过N个工作人员利用条码枪来读取条码。然而，现今的电子产品日益复杂，所需要进行的测试项目可能数以百计，当测试站的数目增加，执行读取条码的工作人员也会随之而增加，造成人力资源的大量消耗。因此，实有必要提出一种自动输入序号的方法，可降低输入数据所需的工作人员数量，以节省人力资源。
因此，需要提供一种用于测试系统输入数据的方法及测试系统以解决上述问题。
发明内容
因此，本发明的主要目的即在于提供一种用于一测试系统输入数据的方法及其测试系统，以降低输入数据所需的工作人员数量，从而节省人力资源及提高测试效率。
本发明公开一种用于测试系统输入数据的方法，该方法包括将一信息缓存器耦接至一待测装置；将该待测装置依序传送至多个测试站；以及在个别该多个测试站之一，取得该信息缓存器所储存的多个产品识别码。
本发明还公开一种测试系统，该测试系统包括一待测装置；一信息缓存器，该信息缓存器以可插拔方式耦接于该待测装置，该信息缓存器用来储存数据；以及多个测试站，每一测试站包括一转接装置，用来在该待测装置进入该每一测试站时，以接触方式连结该信息缓存器；以及一计算机装置，该计算机装置耦接于该转接装置，用来通过该转接装置读取多个产品识别码。
本发明能降低输入数据所需的工作人员数量，从而节省人力资源及提高测试效率。
附图说明
图1为公知一测试系统的示意图。
图2为公知一人工测试站的示意图。
图3为本发明实施例一测试系统的示意图。
图4为本发明实施例一人工测试站的示意图。
图5为本发明实施例一信息缓存器的示意图。
图6为本发明实施例一人工测试站及一自动测试站的示意图。
图7为本发明实施例一输入序号流程的示意图。
主要组件符号说明：
10 测试系统
TS1～TSN 测试站
TSA 人工测试站
SN 序号
202 工作人员
204 条码枪
206 计算机装置
210 转接装置
212 转接器
214 转换模块
220 待测装置
30 测试系统
TS1′～TSN' 测试站
SN’ 序号
430 信息缓存器
502 存储器
504 接触式接点
506 传输接口
TS1' 人工测试站
TSA' 自动测试站
606 计算机装置
610 转接装置
612 转接器
614 转换模块
70 流程
702～710 步骤
具体实施方式
请参考图3，图3为本发明实施例一测试系统30的示意图。测试系统30包含有N个测试站TS1'～TSN'，用以测试多个待测装置，每一待测装置由左而右，依序进入每一测试站中进行产品识别码比对及处理。其中，每一产品识别码皆对应于一序号。比较图1的测试系统10与图3的测试系统30可知，测试系统30与测试系统10的架构类似，主要不同之处在于测试系统30中每一待测装置仅在测试站TS1′中进行读取序号的动作，换言之，仅需一个工作人员即可完成序号输入，而测试系统10需要N个工作人员来进行序号输入。也就是说，不论测试系统30包含多少个测试站（即N值的大小），通过本发明实施例，仅需要将第一个测试站为前测试站，往后实施例叙述前测试站为人工测试站TS1'，其余测试站在往后实施例叙述为自动测试站TS2'～TSN'，序号仅需在人工测试站TS1'通过一工作人员来输入，而自动测试站TS2'～TSN'中则不需要任何工作人员，因此在整个测试系统中，仅需要一个工作人员即可完成序号输入。
人工测试站TS1'的实施方式请参考图4。如图4所示，人工测试站TS1'的架构与图2的人工测试站TSA类似，因此作用相似的组件以相同符号表示。人工测试站TS1'与人工测试站TSA不同之处在于人工测试站TS1'还包含一信息缓存器430，此外，为表示人工测试站TS1′中所读取的序号信息与人工测试站TSA中所读取的序号SN不同，在此将人工测试站TS1′中的序号标示为SN'。信息缓存器430以可插拔方式耦接于待测装置220，可用来储存数据。信息缓存器430的架构如图5所示，其包含有一存储器502、至少一接触式接点504及一传输接口506。存储器502用来储存在人工测试站TS1'中所读取的序号SN'，其可为一电可擦除可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，EEPROM），或者其他存储器等可快速读取及写入数据的存储器，而不限于此。接触式接点504耦接于存储器502，用来以接触方式连结转接装置210。传输接506耦接于待测装置220及接触式接点504，用来通过接触式接点504输出待测装置220的信息。
在人工测试站TS1'中，一工作人员202使用一条码枪204来读取条码，将序号SN'的信息输入测试站TS1′中的一计算机装置206。人工测试站TS1′中同样包含有一转接装置210，以接触的方式连结计算机装置206。详细来说，人工测试站TS1′中的转接装置210可包含一转接器（转接治具）212及一转换模块214。转接器212用来以接触方式连结信息缓存器430，当待测装置220被传送至人工测试站TS1'时，转接器212会接触信息缓存器430，因此信息可在转接器212以及信息缓存器430之间传送，并以此类推。当任一待测装置被传送至人工测试站TS1'时，与该待测装置连接的信息缓存器皆可与转接器212连结，以传送序号信息。转换模块214耦接于计算机装置206及转接器212之间，用来在不同传输接口之间的转换或交换信号。常见的计算机装置传输接口包含通用串行总线（Universal Serial Bus，USB），而常见的转接器的传输接口包含内部集成电路总线（Inter-Integrated Circuit，I2C），在此情况下，转换模块214可为用来转换通用串行总线及内部集成电路总线的硬件架构，如此一来，由条码枪206所读取的序号SN'先传送至计算机装置206后，再通过转换模块214传送至转接器212，再由转接器212接触信息缓存器430，并将序号SN'的信息储存于信息缓存器430中的存储器502。
当上述流程进行完毕之后，待测装置220及其所对应的信息缓存器430会一同被传送至一自动测试站TSA'。请参考图6，图6为本发明实施例一人工测试站TS1'及一自动测试站TSA'的示意图。自动测试站TSA'的架构与人工测试站TS1′相似，在此不再赘述。人工测试站TS1′及自动测试站TSA'的主要差别在于自动测试站TSA'中不包含条码枪及使用条码枪的工作人员。由于序号SN'的信息已储存于信息缓存器430中，并随着待测装置220一同被传送至自动测试站TSA'，在此情况下，在自动测试站TSA'中不需要进行读取条码的动作，因而不需要使用条码枪的工作人员，进而降低输入资料所需的工作人员数量，以节省人力资源。
需注意的是，在自动测试站TSA′中，序号SN'的信息仍必须传送至计算机装置606。如上所述，自动测试站TSA'的架构与人工测试站TS1'的架构相似，因此，自动测试站TSA'同样也具有一转接装置610。同样地，转接装置610可能包含有一转接器612及一转换模块614，其功能皆与人工测试站TS1'中的转接器412及转换模块414相同，在此不再赘述。当待测装置220及其所对应的信息缓存器430一同被传送至自动测试站TSA'时，自动测试站TSA'中的转接器612会与信息缓存器430中的接触式接点504接触，因此序号SN'可由存储器502中读取出来，并通过接触式接点504传送至转接器612，再经由转换模块614来转换不同接口之间的信号，将序号SN'传送至计算机装置606。
此外，值得注意的是，图4中的序号SN'与图2中的序号SN不相同。在图2中，序号SN仅对应于待测装置220在人工测试站TSA中的测试信息，因此在每一人工测试站TSA中，都必须通过读取条码，来接收对应于待测装置220在该测试站中的信息。在此情况下，每一测试站都需要一个工作人员，利用条码枪来进行读取条码的动作。相比较之下，在图4中，工作人员在人工测试站TS1'进行读取条码的动作，以取得序号SN'并将其储存于信息缓存器430中，由于序号SN'会跟随待测装置220及其所对应的信息缓存器430传送至后续每一自动测试站TS2'～TSN'，因此，序号SN'除了包含对应于待测装置220在人工测试站TS1′中的测试信息之外，仍需包含对应于待测装置220在其他自动测试站TS2'～TSN'中所需的测试信息。如此一来，当待测装置220及其所对应的信息缓存器430一同被传送至每一自动测试站TS2'～TSN'时，皆可藉由信息缓存器中的接触式接点接触自动测试站TS2'～TSN'中的转接器，将序号信息传送至自动测试站TS2'～TSN'中的计算机装置，以进行后续的数据处理，进而降低输入数据所需的工作人员数量，以节省人力资源。
本发明的主要精神之一在于可降低输入数据所需的工作人员数量，以节省人力资源。本领域普通技术人员应当可据以进行修饰或变化，而不限于此。举例来说，在人工测试站TS1'中，使用条码枪读取序号仅为输入数据方式的其中一种，亦可通过键盘、鼠标或屏幕触控等其他方式将数据输入至计算机装置中，而不限于此。此外，本发明实施例将测试系统30的其中一测试站TS1'设定为人工测试站，其他测试站皆设定为自动测试站，在其他实施例中，若需输入的数据量较庞大，亦可设定二或三个以上的人工测试站，而不限于此。
除此之外，转换模块214、614的实施方式亦不限于通用串行总线及内部集成电路总线之间转换的硬件架构，亦可为提供任何通信接口之间转换的模块，或者可由转接器直接连结计算机装置，而由计算机装置实现转换模块的功能。另外，图3所示的测试系统30仅为一实施例，本领域普通技术人员应当可根据不同待测装置所需的测试项目，调整测试系统30中的测试站数目及架构，而不限于此。举例来说，当待测装置220为一屏幕时，连接于待测装置220及接触式接点504之间的传输接口506可能为一视频图形阵列（Video GraphicsArray，VGA）接口；而当待测装置220为一计算机时，传输接口506可能为一通用串行总线接口，而不限于此。
上述测试系统的运作方式可归纳为一输入序号流程70，如图7所示。输入序号流程70包含以下步骤：
步骤700：开始。
步骤702：将信息缓存器430耦接至待测装置220。
步骤704：在测试系统30的人工测试站TS1'，读取对应于待测装置220的序号SN'，并将序号SN'储存于信息缓存器430。
步骤706：将待测装置220依序传送至测试系统30的自动测试站TS2′～TSN'。
步骤708：在自动测试站TS2'～TSN'的每一自动测试站中，取得信息缓存器430所储存的序号SN'。
步骤710：结束。
关于输入序号流程70的详细操作可参考上述说明，在此不赘述。
在公知技术中，当待测装置传送至一测试站时，该测试站的工作人员利用条码枪进行读取条码的动作以输入序号，因此每一测试站都需要一名工作人员。相比较之下，不论测试站的数量多寡，本发明的测试系统仅需将其中一个测试站设定为人工测试站，其他测试站可设定为自动测试站，而序号仅需在人工测试站通过一工作人员来输入，而自动测试站则不需要任何工作人员，换言之，仅需要一个工作人员即可完成序号输入。
因此，本发明可有效降低输入数据所需的工作人员数量，从而节省人力资源及提高测试效率。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡是根据本发明权利要求书的范围所作的等同变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (18)

1.一种用于测试系统输入数据的方法，该方法包括：
将一信息缓存器耦接至一待测装置；
在一前测试站，读取对应于该待测装置的多个产品识别码，并将该多个产品识别码储存于该信息缓存器；
将该待测装置依序传送至多个测试站；以及
在个别该多个测试站之一，将该测试站以接触方式连结该信息缓存器，以取得该信息缓存器所储存的该多个产品识别码。
2.如权利要求1所述的方法，其中读取对应于该待测装置的该多个产品识别码利用一输入装置，读取对应于该待测装置的该多个产品识别码。
3.如权利要求2所述的方法，其中该输入装置为一条码枪。
4.如权利要求1所述的方法，其中将该多个产品识别码储存于该信息缓存器的步骤，包括：
利用一转接装置连接一计算机装置及该信息缓存器；
将该多个产品识别码存入该计算机装置；以及
由该计算机装置通过该转接装置将该多个产品识别码传输至该信息缓存器。
5.如权利要求1所述的方法，其中在个别该多个测试站之一，取得该信息缓存器所储存的该多个产品识别码的步骤，包括：
在个别该多个测试站之一中利用一转接装置连接一计算机装置及该信息缓存器；以及由该计算机装置通过该转接装置读取该信息缓存器所储存的该多个产品识别码。
6.如权利要求1所述的方法，其中该多个产品识别码中每一产品识别码对应于一序号。
7.一种测试系统，该测试系统包括：
一待测装置；
一信息缓存器，该信息缓存器以可插拔方式耦接于该待测装置，该信息缓存器用来储存数据；
多个测试站，每一测试站包括：
一第一转接装置，用来在该待测装置进入该每一测试站时，以接触方式连结该信息缓存器；以及
一第一计算机装置，该第一计算机装置耦接于该第一转接装置，用来通过该第一转接装置读取多个产品识别码；以及
一前测试站，该前测试站包括：
一输入装置，用来读取该多个产品识别码。
8.如权利要求7所述的系统，该前测试站还包括：
一第二转接装置，该第二转接装置以接触方式连结该信息缓存器；以及
一第二计算机装置，该第二计算机装置耦接于该输入装置及该第二转接装置，用来通过该第二转接装置，将该输入装置所读取的该多个产品识别码传输至该信息缓存器，以将该多个产品识别码储存于该信息缓存器。
9.如权利要求7所述的系统，其中该信息缓存器包括：
一存储器；
至少一接触式接点，该至少一接触式接点耦接于该存储器，用来以接触方式连结该第一转接装置；以及
一传输接口，该传输接口耦接于该待测装置及该至少一接触式接点，用来通过该至少一接触式接点输出该待测装置的信息。
10.如权利要求9所述的系统，其中该存储器为一电可擦除可编程只读存储器。
11.如权利要求9所述的系统，其中该传输接口为一视频图形阵列接口。
12.如权利要求7所述的系统，其中该待测装置为一液晶显示器。
13.如权利要求8所述的系统，其中该输入装置为一条码枪。
14.如权利要求8所述的系统，其中该第二转接装置包括：
一连接接口，用来连接该第二计算机装置；
一转接器，该转接器以接触方式连结该信息缓存器；以及
一转换模块，该转换模块耦接于该连接接口与该转接器之间，用来交换该连接接口与该转接器的信号。
15.如权利要求14所述的系统，其中该连接接口选自一通用串行总线或一内部集成电路总线。
16.如权利要求7所述的系统，其中该第一转接装置包括：
一连接接口，用来连接该第一计算机装置；
一转接器，该转接器以接触方式连结该信息缓存器；以及
一转换模块，该转换模块耦接于该连接接口与该转接器之间，用来交换该连接接口与该转接器的信号。
17.如权利要求16所述的系统，其中该连接接口选自一通用串行总线或一内部集成电路总线。
18.如权利要求7所述的系统，其中该多个产品识别码中每一产品识别码对应于一序号。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI833181B (zh) * 2022-03-23 2024-02-21 英業達股份有限公司 依貼片機事件管控識別資料以匹配電路板之系統及方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW572266U (en) * 2002-01-11 2004-01-11 Shinewave Int Inc Apparatus for automatically generating and reading machine serial number
CN101576603A (zh) * 2008-05-07 2009-11-11 环隆电气股份有限公司 测试装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7114656B1 (en) * 2000-01-27 2006-10-03 Ecr Software Corporation Fixed self-checkout station with cradle for communicating with portable self-scanning units
TWI264551B (en) 2005-05-04 2006-10-21 Univ Tsinghua System for probing integrated circuit devices
WO2007077976A1 (ja) * 2006-01-03 2007-07-12 Ssd Company Limited リモートコードリーダシステム、ローカルコードリーダ、ホストコンピュータ、広告支援方法、入力装置、及び記録媒体
US20080061145A1 (en) * 2006-03-20 2008-03-13 Mcgushion Kevin D Identifier Scanning Joinder Tools
TW200849078A (en) 2007-06-08 2008-12-16 Tatung Co Ltd Portable extended display identification data recording device
TW200849079A (en) 2007-06-08 2008-12-16 Tatung Co Ltd Method of writing extended display identification data without using a computer
TWI344006B (en) * 2007-09-07 2011-06-21 Ensky Technology Co Ltd Apparatus and method for testing electronic apparatus
TWI381176B (zh) * 2008-12-05 2013-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電子裝置測試裝置及測試方法
US20120091206A1 (en) * 2010-10-15 2012-04-19 Symbol Technologies, Inc. Method and apparatus for capturing images with variable sizes
CN202305749U (zh) * 2011-10-21 2012-07-04 泰金宝电子(苏州)有限公司 电路板总成测试装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW572266U (en) * 2002-01-11 2004-01-11 Shinewave Int Inc Apparatus for automatically generating and reading machine serial number
CN101576603A (zh) * 2008-05-07 2009-11-11 环隆电气股份有限公司 测试装置

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TWI507696B (zh) 2015-11-11

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