TWI507696B

TWI507696B - 輸入資料的測試系統及其測試方法

Info

Publication number: TWI507696B
Application number: TW101133167A
Authority: TW
Inventors: Janhong Guo
Original assignee: Wistron Corp
Priority date: 2012-09-05
Filing date: 2012-09-11
Publication date: 2015-11-11
Also published as: US9342442B2; TW201411146A; CN103679105B; CN103679105A; US20140068151A1

Description

輸入資料的測試系統及其測試方法

本發明係指一種用於一測試系統輸入資料的方法及其測試系統，尤指一種可降低輸入資料所需的工作人員數量，以節省人力資源之用於一測試系統輸入資料的方法及其測試系統。

近年來，愈來愈多公司投入生產電子產品的領域，大量的公司相互競爭下，除了對產品品質要求愈來愈高之外，如何降低產品開發的成本也成為一大挑戰。因此，如何以低成本及高效率的方式生產出高品質的產品，成為每一間公司最重要的課題。

在產品開發的過程中，為求品質及穩定性，往往需要進行大量測試，因此，習知技術通常透過多個不同測試站進行不同的測試項目。同時，為了提升測試效率，在每一測試站中，係利用條碼槍來讀取條碼，將待測裝置的產品識別碼及測試資訊輸入測試站中的電腦裝置。在此情形下，每一測試站都需要一名工作人員，利用條碼槍進行讀取條碼的動作，以輸入與產品識別碼對應的序號。以第1圖為例，第1圖為習知一測試系統10之示意圖。測試系統10包含有N個測試站TS₁ ~TS_N 及複數個待測裝置，複數個待測裝置中每一待測裝置由左而右，依序進入每一測試站中進行產品識別碼比對及處理。測試站TS₁ ~TS_N 中的每一個測試站都需要一名工作人員，利用條碼槍讀取條碼以輸入序號。讀取條碼以輸入序號之方式可參考第2圖，第2圖為習知一人工測試站TS_A 之示意圖。於第2圖中，一工作人員202使用一條碼槍204讀取條碼，將一序號SN之資訊輸入人工測試站TS_A 中的電腦裝置206。人工測試站TS_A 另包含有一轉接裝置210，當一待測裝置220被傳送至人工測試站TS_A 時，轉接裝置210以接觸的方式連結電腦裝置206及待測裝置220。如第2圖所示，每一人工測試站TS_A 皆需要一名工作人員202來進行讀取條碼的動作，因此，N個人工測試站總共需要N個工作人員來完成此項工作。

如上所述，當一測試系統包含有N個測試站時，必須透過N個工作人員利用條碼槍來讀取條碼。然而，現今的電子產品日益複雜，所需要進行的測試項目可能數以百計，當測試站的數目增加，執行讀取條碼的工作人員也會隨之而增加，造成人力資源的大量消耗。因此，實有必要提出一種自動輸入序號的方法，可降低輸入資料所需的工作人員數量，以節省人力資源。

因此，本發明之主要目的即在於提供一種用於一測試系統輸入資料的方法及其測試系統，以降低輸入資料所需的工作人員數量，從而節省人力資源及提高測試效率。

本發明揭露一種用於一測試系統輸入資料的方法，包含有將一資訊暫存器耦接至一待測裝置；將該待測裝置依序傳送至複數個測試站；以及於個別該複數個測試站之一者，取得該資訊暫存器所儲存之複數個產品識別碼。

本發明另揭露一種測試系統，該測試系統包含有一待測裝置；一資訊暫存器，以可插拔方式耦接於該待測裝置，該資訊暫存器係用來儲存資料；複數個測試站，每一測試站包含有一轉接裝置，用來於該待測裝置進入該每一測試站時，以接觸方式連結該資訊暫存器；以及一電腦裝置，耦接於該轉接裝置，用來透過該轉接裝置讀取複數個產品識別碼。

請參考第3圖，第3圖為本發明實施例一測試系統30之示意圖。測試系統30包含有N個測試站TS₁ ’~TS_N ’，用以測試複數個待測裝置，每一待測裝置由左而右，依序進入每一測試站中進行產品識別碼比對及處理。其中，每一產品識別碼皆對應於一序號。比較第1圖之測試系統10與第3圖之測試系統30可知，測試系統30與測試系統10之架構類似，主要不同之處在於測試系統30中每一待測裝置僅於測試站TS₁ ’中進行讀取序號的動作，換言之，僅需一個工作人員即可完成序號輸入，而測試系統10需要N個工作人員來進行序號輸入。也就是說，不論測試系統30包含多少個測試站(即N值的大小)，透過本發明實施例，僅需要將第一個測試站為前測試站，往後實施例敘述前測試站為人工測試站TS₁ ’，其餘測試站在往後實施例敘述為自動測試站TS₂ ’~TS_N ’，序號僅需於人工測試站TS₁ ’透過一工作人員來輸入，而自動測試站TS₂ ’~TS_N ’中則不需要任何工作人員，因此於整個測試系統中，僅需要一個工作人員即可完成序號輸入。

人工測試站TS₁ ’之實施方式請參考第4圖。如第4圖所示，人工測試站TS₁ ’之架構與第2圖之人工測試站TS_A 類似，因此作用相似之元件以相同符號表示。人工測試站TS₁ ’與人工測試站TS_A 不同之處在於人工測試站TS₁ ’另包含一資訊暫存器430，此外，為表示人工測試站TS₁ ’中所讀取的序號資訊與人工測試站TS_A 中所讀取的序號SN不同，在此將人工測試站TS₁ ’中的序號標示為SN’。資訊暫存器430以可插拔方式耦接於待測裝置220，可用來儲存資料。資訊暫存器430的架構如第5圖所示，其包含有一記憶體502、至少一接觸式接點504及一傳輸介面506。記憶體502係用來儲存於人工測試站TS₁ ’中所讀取的序號SN’，其可為一可電抹除可程式唯讀記憶體(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，EEPROM)，或其它記憶體等可快速讀取及寫入資料之記憶體，而不限於此。接觸式接點504耦接於記憶體502，用來以接觸方式連結轉接裝置210。傳輸介面506耦接於待測裝置220及接觸式接點504，用來透過接觸式接點504輸出待測裝置220之資訊。

於人工測試站TS₁ ’中，一工作人員202使用一條碼槍204來讀取條碼，將序號SN’之資訊輸入測試站TS₁ ’中的一電腦裝置206。人工測試站TS₁ ’中同樣包含有一轉接裝置210，以接觸的方式連結電腦裝置206。詳細來說，人工測試站TS₁ ’中的轉接裝置210可包含一轉接治具212及一轉換模組214。轉接治具212用來以接觸方式連結資訊暫存器430，當待測裝置220被傳送至人工測試站TS₁ ’時，轉接治具212會接觸資訊暫存器430，因此資訊可於轉接治具212以及資訊暫存器430之間傳送，並以此類推。當任一待測裝置被傳送至人工測試站TS₁ ’時，與該待測裝置連接之資訊暫存器皆可與轉接治具212連結，以傳送序號資訊。轉換模組214耦接於電腦裝置206及轉接治具212之間，用來於不同傳輸介面之間的轉換或交換訊號。常見的電腦裝置傳輸介面包含通用序列匯流排(Universal Serial Bus，USB)，而常見的轉接治具之傳輸介面包含內部積體電路匯流排(Inter-Integrated Circuit，I² C)，在此情況下，轉換模組214可為用來轉換通用序列匯流排及內部積體電路匯流排的硬體架構，如此一來，由條碼槍206所讀取之序號SN’先傳送至電腦裝置206後，再透過轉換模組214傳送至轉接治具212，再由轉接治具212接觸資訊暫存器430，並將序號SN’之資訊儲存於資訊暫存器430中的記憶體502。

當上述流程進行完畢之後，待測裝置220及其所對應的資訊暫存器430會一同被傳送至一自動測試站TS_A ’。請參考第6圖，第6圖為本發明實施例一人工測試站TS₁ ’及一自動測試站TS_A ’之示意圖。自動測試站TS_A ’的架構與人工測試站TS₁ ’相似，於此不再贅述。人工測試站TS₁ ’及自動測試站TS_A ’之主要差別在於自動測試站TS_A ’中不包含條碼槍及使用條碼槍的工作人員。由於序號SN’之資訊已儲存於資訊暫存器430中，並隨著待測裝置220一同被傳送至自動測試站TS_A ’，在此情況下，於自動測試站TS_A ’中不需要進行讀取條碼的動作，因而不需要使用條碼槍的工作人員，進而降低輸入資料所需的工作人員數量，以節省人力資源。

需注意的是，於自動測試站TS_A ’中，序號SN’之資訊仍必須傳送至電腦裝置606。如上所述，自動測試站TS_A ’的架構與人工測試站TS₁ ’的架構相似，因此，自動測試站TS_A ’同樣也具有一轉接裝置610。同樣地，轉接裝置610可能包含有一轉接治具612及一轉換模組614，其功能皆與人工測試站TS₁ ’中的轉接治具412及轉換模組 414相同，於此不再贅述。當待測裝置220及其所對應的資訊暫存器430一同被傳送至自動測試站TS_A ’時，自動測試站TS_A ’中的轉接治具612會與資訊暫存器430中的接觸式接點504接觸，因此序號SN’可由記憶體502中讀取出來，並透過接觸式接點504傳送至轉接治具612，再經由轉換模組614來轉換不同介面之間的信號，將序號SN’傳送至電腦裝置606。

此外，值得注意的是，第4圖中的序號SN’與第2圖中的序號SN不相同。在第2圖中，序號SN僅對應於待測裝置220在人工測試站TS_A 中的測試資訊，因此於每一人工測試站TS_A 中，都必須透過讀取條碼，來接收對應於待測裝置220在該測試站中的資訊。在此情況下，每一測試站都需要一個工作人員，利用條碼槍來進行讀取條碼的動作。相較之下，在第4圖中，工作人員於人工測試站TS₁ ’進行讀取條碼的動作，以取得序號SN’並將其儲存於資訊暫存器430中，由於序號SN’會跟隨待測裝置220及其所對應的資訊暫存器430傳送至後續每一自動測試站TS₂ ’~TS_N ’，因此，序號SN’除了包含對應於待測裝置220在人工測試站TS₁ ’中的測試資訊之外，仍需包含對應於待測裝置220在其它自動測試站TS₂ ’~TS_N ’中所需的測試資訊。如此一來，當待測裝置220及其所對應的資訊暫存器430一同被傳送至每一自動測試站TS₂ ’~TS_N ’時，皆可藉由資訊暫存器中的接觸式接點接觸自動測試站TS₂ ’~TS_N ’中的轉接治具，將序號資訊傳送至自動測試站TS₂ ’~TS_N ’中的電腦裝置，以進行後續的資料處理，進而降低輸入資料所需的工作人員數量，以節省人力資源。

本發明之主要精神之一在於可降低輸入資料所需的工作人員數量，以節省人力資源。本領域具通常知識者當可據以進行修飾或變化，而不限於此。舉例來說，於人工測試站TS₁ ’中，使用條碼槍讀取序號僅為輸入資料方式的其中一種，亦可透過鍵盤、滑鼠或螢幕觸控等其它方式將資料輸入至電腦裝置中，而不限於此。此外，本發明實施例將測試系統30之其中一測試站TS₁ ’設定為人工測試站，其它測試站皆設定為自動測試站，於其它實施例中，若需輸入的資料量較龐大，亦可設定二或三個以上的人工測試站，而不限於此。

除此之外，轉換模組214、614之實施方式亦不限於通用序列匯流排及內部積體電路匯流排之間轉換的硬體架構，亦可為提供任何通訊介面之間轉換的模組，或可由轉接治具直接連結電腦裝置，而由電腦裝置實現轉換模組之功能。另外，第3圖所示之測試系統30僅為一實施例，本領域具通常知識者當可根據不同待測裝置所需的測試項目，調整測試系統30中的測試站數目及架構，而不限於此。舉例來說，當待測裝置220為一螢幕時，連接於待測裝置220及接觸式接點504之間的傳輸介面506可能為一視訊圖形陣列(Video Graphics Array，VGA)介面；而當待測裝置220為一電腦時，傳輸介面506可能為一通用序列匯流排介面，而不限於此。

上述測試系統之運作方式可歸納為一輸入序號流程70，如第7圖所示。輸入序號流程70包含以下步驟：

步驟700：開始。

步驟702：將資訊暫存器430耦接至待測裝置220。

步驟704：於測試系統30之人工測試站TS₁ ’，讀取對應於待測裝置220之序號SN’，並將序號SN’儲存於資訊暫存器430。

步驟706：將待測裝置220依序傳送至測試系統30之自動測試站TS₂ ’~TS_N ’。

步驟708：於自動測試站TS₂ ’~TS_N ’之每一自動測試站中，取得資訊暫存器430所儲存之序號SN’。

步驟710：結束。

關於輸入序號流程70之詳細操作可參考上述說明，於此不贅述。

在習知技術中，當待測裝置傳送至一測試站時，該測試站的工作人員利用條碼槍進行讀取條碼的動作以輸入序號，因此每一測試站都需要一名工作人員。相較之下，不論測試站的數量多寡，本發明之測試系統僅需將其中一個測試站設定為人工測試站，其它測試站可設定為自動測試站，而序號僅需於人工測試站透過一工作人員來輸入，而自動測試站則不需要任何工作人員，換言之，僅需要一個工作人員即可完成序號輸入。

因此，本發明可有效降低輸入資料所需的工作人員數量，從而節省人力資源及提高測試效率。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

10‧‧‧測試系統

TS₁ ~TS_N ‧‧‧測試站

TS_A ‧‧‧人工測試站

SN‧‧‧序號

202‧‧‧工作人員

204‧‧‧條碼槍

206‧‧‧電腦裝置

210‧‧‧轉接裝置

212‧‧‧轉接治具

214‧‧‧轉換模組

220‧‧‧待測裝置

30‧‧‧測試系統

TS₁ ’~TS_N ’‧‧‧測試站

SN’‧‧‧序號

430‧‧‧資訊暫存器

502‧‧‧記憶體

504‧‧‧接觸式接點

506‧‧‧傳輸介面

TS₁ ’‧‧‧人工測試站

TS_A ’‧‧‧自動測試站

606‧‧‧電腦裝置

610‧‧‧轉接裝置

612‧‧‧轉接治具

614‧‧‧轉換模組

70‧‧‧流程

702~710‧‧‧步驟

第1圖為習知一測試系統之示意圖。

第2圖為習知一人工測試站之示意圖。

第3圖為本發明實施例一測試系統之示意圖。

第4圖為本發明實施例一人工測試站之示意圖。

第5圖為本發明實施例一資訊暫存器之示意圖。

第6圖為本發明實施例一人工測試站及一自動測試站之示意圖。

第7圖為本發明實施例一輸入序號流程之示意圖。