CN111858210A - Wwan测试设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种WWAN测试设备,WWAN测试设备用于封装M.2,其中,设备包括:与测试板对应设置第一连接组件,与主机设备对应设置的第二连接组件,第二连接组件与第一连接组件相连;测试组件,用于将M.2 WWAN模组放置于第一连接组件相连的测试板上进行测试,和/或通过主机设备进行联调,得到WWAN测试结果。由此,有效解决相关技术中M.2 WWAN转接板无法直接连接主机设备的M.2接口使用,从而导致M.2 WWAN模组在和主机设备联调时非常不便的技术问题,大大提升了测试的便捷性。
Description
技术领域
本申请涉及测试技术领域,特别涉及一种WWAN(Wireless Wide Area Network,无线广域网)测试设备。
背景技术
由于M.2WWAN的应用领域越来越广,设计调试也越来越复杂,尤其在笔记本设备上,需要连接笔记本设备来进行调试,而不仅仅再像以前那样将M.2WWAN模组单独放在测试板来调试。
然而,相关技术中的M.2WWAN转接板一般都无法直接连接主机设备的M.2接口使用,从而导致M.2WWAN设备在和主机设备联调时非常不便,亟待解决。
申请内容
本申请提供一种WWAN测试设备,有效解决相关技术中M.2WWAN转接板无法直接连接主机设备的M.2接口使用,从而导致M.2WWAN模组在和主机设备联调时非常不便的技术问题,大大提升了测试的便捷性。。
本申请第一方面实施例提供一种WWAN测试设备,所述WWAN测试设备用于封装M.2(M2接口),其中,所述设备包括:
与测试板对应设置第一连接组件,
与主机设备对应设置的第二连接组件,所述第二连接组件与所述第一连接组件相连;以及
测试组件,用于将M.2WWAN模组放置于所述第一连接组件相连的测试板上进行测试,和/或通过所述主机设备进行联调,得到WWAN测试结果。
可选地,上述的WWAN测试设备,还包括:
连接组件,用于将所述第二连接组件与所述第一连接组件相连。
可选地,所述连接组件为FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)排线。
可选地,所述第一连接组件包括:
用于信号测试的多个信号接口。
可选地,所述信号接口包括SMA接口(Small A Type,SMA接口)和SIM(SubscriberIdentity Module,用户识别卡)卡信号接口中的任意一个或者多个。
可选地,所述信号测试包括信号质量测试和信号时序测试。
可选地,所述第一连接组件设置有与M.2金手指上所有管脚对应的测试点。
可选地,所述测试点用于测试所述M.2金手指上所有管脚的电平状态和所述M.2WWAN模组的功耗。
可选地,上述的WWAN测试设备,还包括:
供电组件,以根据当前需求选择对应的供电方式为所述设备进行供电。
可选地,上述的WWAN测试设备,还包括:
串口组件,用于测试抓取log,以进行软件分析。
该WWAN测试设备,不仅可以将M.2WWAN模组单独放在测试板上测试,也可以通过主机设备对M.2WWAN模组进行调试,从而得到M.2WWAN模组在和主机设备互连状态下的高速信号质量、开机时序、管脚状态以及功耗,同时还可以通过串口抓取log做软件分析,从而有效解决相关技术中M.2WWAN转接板无法直接连接主机设备的M.2接口使用,从而导致M.2WWAN模组在和主机设备联调时非常不便的技术问题,大大提升了测试的便捷性。本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为根据本申请实施例提供的一种WWAN测试设备的结构示意图;
图2为根据本申请一个具体实施例提供的WWAN测试设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
下面参考附图描述本申请实施例的WWAN测试设备。
具体而言,图1为本申请实施例所提供的一种WWAN测试设备的结构示意图。该实施例中,WWAN测试设备用于封装M.2。
如图1所示,该WWAN测试设备10包括:第一连接组件100、第二连接组件200和测试组件。
其中,第一连接组件100与测试板101对应设置。第二连接组件200与主机设备201对应设置,第二连接组件200与第一连接组件100相连。测试组件用于将M.2WWAN模组放置于第一连接组件100相连的测试板101上进行测试,和/或通过主机设备202进行联调,得到WWAN测试结果。其中,主机设备可以为笔记本电脑。
可选地,在一些实施例中,如图1所示,第一连接组件100包括:用于信号测试的多个信号接口。其中,多个信号接口可以设置在测试板101上,信号接口可以包括SMA接口和SIM卡信号接口中的任意一个或者多个。例如,如图2所示,测试板101上面可以设置有2个SIM卡槽和两个SMA接口,其中,SMA接口可以用来测试PCIe(peripheral componentinterconnect express,高速串行计算机扩展总线标准)和USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)。进一步地,在一些实施例中,信号测试包括信号质量测试和信号时序测试。也就是说,本申请实施例的WWAN测试设备10可以对PCIe、USB、SIM卡的信号质量、时序,其中,可以通过示波器进行显示测试的结果。
可选地,在一些实施例中,第一连接组件100设置有与M.2金手指上所有管脚对应的测试点。
进一步地,在一些实施例中,测试点用于测试M.2金手指上所有管脚的电平状态和M.2WWAN模组的功耗。
可以理解的是,本申请实施例可以通过测试点测试M.2WWAN金手指上各个管脚的电平状态,同时还可以测试M.2WWAN单设备的功耗,从而有效解决M.2WWAN模组在主机设备202上联调时无法测试功耗的问题。
由此,本申请实施例可以通过两种方式实现对M.2WWAN模组进行测试:(1)本申请实施例可直接将M.2WWAN模组放在测试板101上,对其PCIe、USB、SIM卡的信号质量、时序进行测试,以及通过测试点测试M.2WWAN模组金手指上各个管脚的电平状态,同时可以测试M.2WWAN模组的单设备的功耗;(2)本申请实施例将M.2WWAN模组放在测试板101上,通过将第二连接组件200与第一连接组件100相连,通过主机设备201对M.2WWAN模组进行测试,即可以测试M.2WWAN在和主机设备201互连状态下的高速信号质量、开机时序、管脚状态以及功耗。即本申请可将M.2WWAN模组放置于第一连接组件100相连的测试板101上进行测试,或者通过主机设备202进行联调,得到WWAN测试结果,并且通过联调的方式还可以有效避免在设计调试时反复在主机设备201上插拔的情况,避免静电损坏等风险。
可选地,在一些实施例中,如图2所示,上述的WWAN测试设备10,还包括:连接组件300。其中,连接组件300用于将第二连接组件200与第一连接组件100相连。
可选地,在一些实施例中,连接组件300可以为FPC排线。
可以理解的是,FPC排线为柔性电路板,即软排线,可以用于传输信号和供电。需要说明的是,上述示例仅为示例性的,不作为对本申请的限制,本领域技术人员还可以根据实际情况选择其他连接组件,在此不做具体限定。
可选地,在一些实施例中,如图2所示,上述的WWAN测试设备10,还包括:供电组件400。其中,供电组件400可以根据当前需求选择对应的供电方式为设备进行供电。
可以理解的是,本申请实施例在通过主机设备202进行联调时,主机设备202可以为M.2WWAN模组进行供电,因此,可以不需要外部电源;而通过将M.2WWAN模组放置于第一连接组件100相连的测试板101上进行测试时,由于没有供电电源,此时可以通过供电组件400进行供电,从而有效解决供电问题。
可选地,在一些实施例中,如图2所示,上述的WWAN测试设备10,还包括:串口组件500。其中,串口组件500用于测试抓取log,以进行软件分析。
可以理解的是,本申请实施例还可以通过串口组件500抓取log做软件分析。其中,log是指系统日志,通常是系统或者某些软件对已完成的某种处理的记录,有效的log可以记录你操作全过程和系统相应信息,工程师分析log后便可以知道问题发生的环境及原因,有利于问题的解决。
根据本申请实施例提出的WWAN测试设备,不仅可以将M.2WWAN模组单独放在测试板上测试,也可以通过主机设备对M.2WWAN模组进行调试,从而得到M.2WWAN模组在和主机设备互连状态下的高速信号质量、开机时序、管脚状态以及功耗,同时还可以通过串口抓取log做软件分析,从而有效解决相关技术中M.2WWAN转接板无法直接连接主机设备的M.2接口使用,从而导致M.2WWAN模组在和主机设备联调时非常不便的技术问题,大大提升了测试的便捷性。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或N个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中,“N个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更N个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或N个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,N个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如,如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本申请的限制,本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种WWAN测试设备,其特征在于,所述WWAN测试设备用于封装M.2,其中,所述设备包括:
与测试板对应设置第一连接组件,
与主机设备对应设置的第二连接组件,所述第二连接组件与所述第一连接组件相连;以及
测试组件,用于将M.2WWAN模组放置于所述第一连接组件相连的测试板上进行测试,和/或通过所述主机设备进行联调,得到WWAN测试结果。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,还包括:
连接组件,用于将所述第二连接组件与所述第一连接组件相连。
3.根据权利要求2所述的设备,其特征在于,所述连接组件为FPC排线。
4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一连接组件包括:
用于信号测试的多个信号接口。
5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述信号接口包括SMA接口和SIM卡信号接口中的任意一个或者多个。
6.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述信号测试包括信号质量测试和信号时序测试。
7.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述第一连接组件设置有与M.2金手指上所有管脚对应的测试点。
8.根据权利要求7所述的设备,其特征在于,所述测试点用于测试所述M.2金手指上所有管脚的电平状态和所述M.2WWAN模组的功耗。
9.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,还包括:
供电组件,以根据当前需求选择对应的供电方式为所述设备进行供电。
10.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,还包括:
串口组件,用于测试抓取log,以进行软件分析。
Priority Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022222440A1 (zh) * | 2021-04-21 | 2022-10-27 | 西安广和通无线软件有限公司 | 无线模组的时序分析方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050288056A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | Bajikar Sundeep M | System including a wireless wide area network (WWAN) module with an external identity module reader and approach for certifying the WWAN module |
CN1794686A (zh) * | 2004-12-23 | 2006-06-28 | 微软公司 | 新网络连接的自动检测和测试 |
CN102469472A (zh) * | 2010-11-03 | 2012-05-23 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种wwan测试方法和测试系统 |
CN208172783U (zh) * | 2018-04-03 | 2018-11-30 | 深圳市广和通无线通信软件有限公司 | M.2无线模块的测试装置及系统 |
-
2020
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050288056A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | Bajikar Sundeep M | System including a wireless wide area network (WWAN) module with an external identity module reader and approach for certifying the WWAN module |
CN1794686A (zh) * | 2004-12-23 | 2006-06-28 | 微软公司 | 新网络连接的自动检测和测试 |
CN102469472A (zh) * | 2010-11-03 | 2012-05-23 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种wwan测试方法和测试系统 |
CN208172783U (zh) * | 2018-04-03 | 2018-11-30 | 深圳市广和通无线通信软件有限公司 | M.2无线模块的测试装置及系统 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022222440A1 (zh) * | 2021-04-21 | 2022-10-27 | 西安广和通无线软件有限公司 | 无线模组的时序分析方法、装置、计算机设备和存储介质 |
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