CN102469472A - 一种wwan测试方法和测试系统 - Google Patents

一种wwan测试方法和测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN102469472A
CN102469472A CN2010105363361A CN201010536336A CN102469472A CN 102469472 A CN102469472 A CN 102469472A CN 2010105363361 A CN2010105363361 A CN 2010105363361A CN 201010536336 A CN201010536336 A CN 201010536336A CN 102469472 A CN102469472 A CN 102469472A
Authority
CN
China
Prior art keywords
antenna
wwan
terminal
nfs
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010105363361A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102469472B (zh
Inventor
吴昊
于洪俊
赵秀强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201010536336.1A priority Critical patent/CN102469472B/zh
Priority to US13/287,384 priority patent/US8976889B2/en
Publication of CN102469472A publication Critical patent/CN102469472A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102469472B publication Critical patent/CN102469472B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04W—WIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W24/00—Supervisory, monitoring or testing arrangements
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/29—Performance testing
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/30—Monitoring; Testing of propagation channels
    • H04B17/309—Measuring or estimating channel quality parameters
    • H04B17/345—Interference values
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04W—WIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W24/00—Supervisory, monitoring or testing arrangements
    • H04W24/10—Scheduling measurement reports ; Arrangements for measurement reports
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04W—WIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W28/00—Network traffic management; Network resource management
    • H04W28/02—Traffic management, e.g. flow control or congestion control
    • H04W28/04—Error control
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04W—WIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W84/00—Network topologies
    • H04W84/02—Hierarchically pre-organised networks, e.g. paging networks, cellular networks, WLAN [Wireless Local Area Network] or WLL [Wireless Local Loop]
    • H04W84/04—Large scale networks; Deep hierarchical networks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明实施例提供一种WWAN测试方法和测试系统，涉及通信领域，适用于产品研发阶段，能够得出NFS测试结果和OTA测试结果之间的定量数据关系。WWAN测试方法为：以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)；测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense；得到所述终端天线的效率值，记为AE；则OTA测量结果TIS值为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。本发明实施例用于NFS测试。

Description

一种WWAN测试方法和测试系统
技术领域
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种WWAN测试方法和测试系统。
背景技术
近些年来，随着笔记本电脑无线功能的日益强大，尤其3G上网应用的普及，原本不受关注的笔记本电脑内部各个部件的对于无线领域产生影响的问题被提了出来。较为典型的即是WWAN(WirelessWide Area Network，无线广域网)无线测试。
一般地，无线功能应用的最终评价手段和方法是OTA(Over TheAir，以无线方式)测试，如图1所示，即通过实际的模拟通信的方法对产品的无线通信功能进行测试。但是这种最终方案条件复杂，成本很高，而且测试时间很长，测试时需要很大的电磁屏蔽室，不适合于产品研发阶段的应用。
在产品研发阶段采用的方法多是扫描天线干扰的无线WWAN测试方法，即使用NFS(Noise Floor System，杂讯底层值系统)测试，如图2所示，这种方法成本相对较低，而且测试时间较短，只需要很小的电磁屏蔽室即可，方便在实验室中配备，适合用于产品研发过程中的debug调试。
但基于目前理论上的理解和认识，这两种测试之间只是存在着定性的关系，例如在NFS测试结果中如果某个频率段出现较大的噪音Noise，则OTA测试中得出的该频段对应也会出现噪音Noise，但是一直都没有方法能够定量地找到两者之间的数据间的联系，这样就无法确定二者之间的数据差异，容易出现数据判断上的误差。例如在产品研发过程中一般以NFS测试结果为准，如果无法确知NFS测试结果和最终的OTA测试结果之间的差异，就有可能在最终的产品检测OTA测试中出现问题。而如果在研发过程中直接采用OTA测试，则又面临着成本高、占地面积大、测试速度慢等不适合研发过程中使用的问题。
发明内容
本发明的实施例提供一种WWAN测试方法和测试系统，适用于产品研发阶段，能够得出NFS测试结果和OTA测试结果之间的定量数据关系。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
一种WWAN测试方法，包括：
以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)；
测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense；
得到所述终端天线的效率值，记为AE；
则OTA测量结果TIS值为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。
一种WWAN测试系统，包括：
频谱分析仪，与待测终端的天线有线连接，用于测量所述天线接收到的所述终端自身各个部件的杂讯功率值，记为D(NFS)；测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense；
基站模拟器，与所述待测终端的WWAN模块有线连接，用于接收所述WWAN模块发送的所述天线接收到的所述杂讯功率值；
控制装置，与所述频谱分析仪和所述基站模拟器连接，用于控制所述频谱分析仪和所述基站模拟器；根据所述频谱分析仪得到的所述杂讯功率值D(NFS)、功率衰减值D-sense，以及设置的天线效率值AE，利用公式TIS＝D(NFS)+D-sense-AE计算OTA测量结果TIS值。
本发明实施例提供的WWAN测试方法及测试系统，在以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)之后，再测量得到终端WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense，得到天线效率值，记为AE后，则OTA测量结果TIS值即为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。由此得到了NFS测试结果和OTA测试结果之间的定量数据关系。因而可以在产品研发阶段的NFS测试之后便可推知最终的OTA测试结果，从而保证了产品的设计质量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有OTA测试的结构示意图；
图2为现有NFS测试的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的WWAN测试方法的流程框图；
图4为本发明另一实施例提供的WWAN测试方法所利用的测试系统结构示意图一；
图5为本发明另一实施例提供的WWAN测试方法所利用的测试系统结构示意图二；
图6为本发明实施例提供的WWAN测试系统的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的WWAN测试系统的另一结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供的WWAN测试方法，如图3所示，其步骤包括：
S301、以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)。
具体的，可以在一较小的电磁屏蔽室内以现有的NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值。由于待测终端位于电磁屏蔽室内，因此其天线接收到的杂讯功率值即为终端自身各个部件的杂讯功率。
另外，由于采用的是NFS测试方式，即利用了较小的电磁屏蔽室，且成本低，测试时间短，因此适用于产品的研发阶段。
S302、测量得到该终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense。
具体的，可以先测量WWAN模块在连接有负载的情况下的基础感度功率值，再测量WWAN模块将天线接收到的杂讯功率值发送到模拟基站时的接触感度功率值，测得的两次功率值之差即为WWAN模块到天线的路径的功率衰减值。
S303、得到该终端天线的效率值，记为AE。
一般的，厂商在天线的资料里都会提供天线的效率值，可以直接得到。
S304、则OTA测量结果TIS值为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。
本发明实施例提供的WWAN测试方法，在以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)之后，再测量得到终端WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense，得到天线效率值，记为AE后，则OTA测量结果TIS值即为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。由此得到了NFS测试结果和OTA测试结果之间的定量数据关系。因而可以在产品研发阶段的NFS测试之后便可推知最终的OTA测试结果，从而保证了产品的设计质量。
本发明另一实施例提供的WWAN测试方法，其测试过程中的设备如图4、5所示。
在图4中，有一较小的电磁屏蔽室4，在该电磁屏蔽室4内可以设有待测终端40、第一单刀双掷开关41、第二单刀双掷开关42、负载电阻43、和放大器44。在本实施例中假设待测终端40为笔记本电脑40，负载电阻43为50Ω的电阻。其具体的连接结构为：
笔记本电脑40的天线401与第一单刀双掷开关41有线电连接，笔记本电脑40的WWAN模块402与第二单刀双掷开关42有线电连接。具体的：天线401与第一单刀双掷开关41的动触点411有线电连接，第一单刀双掷开关41的第一静触点触点412与放大器44电连接，第一单刀双掷开关41的第二静触点触点413与第二单刀双掷开关42的第一静触点422电连接；WWAN模块402与第二单刀双掷开关42的动触点421有线电连接，第二单刀双掷开关42的第一静触点422与第一单刀双掷开关41的第二静触点413电连接，第二单刀双掷开关42的第二静触点423与负载电阻43电连接。
在电磁屏蔽室4外，还设有频谱分析仪45、基站模拟器46、以及控制装置47。其中频谱分析仪45与位于电磁屏蔽室4内的放大器44有线电连接，基站模拟器46与位于电磁屏蔽室4内的笔记本电脑40的WWAN模块402有线电连接，控制装置47分别与频谱分析仪45和基站模拟器46连接，以便控制该频谱分析仪45和基站模拟器46，从频谱分析仪45中进行读数、计算等。
进行测试时，如图4所示，首先将第一单刀双掷开关41的闸刀调到第一静触点412，即笔记本电脑40的天线401通过放大器44与频谱分析仪45有线电连接。同时将第二单刀双掷开关42的闸刀调到第二静触点423，即笔记本电脑40的WWAN模块402与负载电阻43有线电连接。
此时，通过频谱分析仪45读取笔记本电脑40天线401接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)。由于笔记本电脑40位于电磁屏蔽室4内，因此其天线401接收到的即是该笔记本电脑40自身各个部件的杂讯功率值。这一过测试程与现有的NFS测试方式类似。
由于笔记本电脑40的WWAN模块402与负载电阻43电连接，相当于连接了单位负载，同时，调整频谱分析仪45，通过天线401读取得到测试环境内存在的功率值，在此将其定义为基础感度(Conducted sensitivity)功率值，记为C1。
然后，如图5所示，将第一单刀双掷开关41的闸刀调到第二静触点413，将第二单刀双掷开关42的闸刀调到第一静触点422，即笔记本电脑40的天线401与WWAN模块402有线连接，同时WWAN模块402与位于电磁屏蔽室4外的基站模拟器46有线电连接。
此时，天线401通过WWAN模块402将接收到的杂讯功率值D(NFS)传送到基站模拟器46中，模拟实际的工作状态，通过调整频谱分析仪45，用天线401读取到测试环境内存在的功率值并经过WWAN模块402处理和传输出来的功率值，在此将其定义为接触感度功率值，记为C2。本实施例的这种测试模式与OTA测试模式的主要不同是此时是纯接触的有线方法，而OTA测试是无线通信。
两次测试的功率差表示从WWAN模块402到天线401这段路径的功率衰减值，记为D-sense，则D-sense＝|C1-C2|。
从厂商提供的资料中获取到笔记本电脑40的天线401的效率，记为AE(Antenna Efficiency)。
则由以上测试可以推算出OTA测试的结果TIS值为：
TIS＝D(NFS)+D-sense-AE    (公式1)
在公式1中，D-sense是WWAN模块到天线的路径的衰减，实际上发现笔记本系统之间的差异并不大，因此本次测试中得到的D-sense可以作为估计值推广，同理天线效率AE之间的差异也不大，也可以进行推广，这两个值通过一次测试得到后，在以后的NFS测试中，测试结果D(NFS)和OTA测试的结果TIS之间就建立起了稳定的数量联系。
上述数据杂讯功率值D(NFS)、功率衰减值D-sense、以及天线效率值AE传输到控制装置47后，经过控制装置47计算，就可以在每次测得D(NFS)值的同时，能够得到TIS值的大小。从而实现了两种不同的测试方法间定量的联系，进而能够以更小的成本、更快的速度在产品研发阶段的NFS测试之后便可推知最终的OTA测试结果，从而保证了产品的设计质量。
本发明实施例提供的WWAN测试系统，如图6所示，包括：
频谱分析仪601，与待测终端的天线有线连接，用于测量该天线接收到的该终端自身各个部件的杂讯功率值，记为D(NFS)；测量得到该终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense。
具体的，频谱分析仪601在终端WWAN模块连接有负载电阻的情况下，通过天线读取到周围环境内的基础感度功率值，记为C1；在终端天线通过WWAN模块后处理得到的杂讯功率值D(NFS)传送到有线连接的基站模拟器602中，此时得到的接触感度功率值，记为C2；则WWAN模块到天线这段路径的功率衰减值，为|C1-C2|，记为D-sense。
基站模拟器602，与待测终端的WWAN模块有线连接，用于接收该WWAN模块发送的天线接收到的杂讯功率值。
控制装置603，与频谱分析仪601和基站模拟器602连接，用于控制频谱分析仪601和基站模拟器602；根据频谱分析仪601得到的杂讯功率值D(NFS)、功率衰减值D-sense，以及设置的天线效率值AE，利用公式TIS＝D(NFS)+D-sense-AE计算OTA测量结果TIS值。
在本实施例中，待测终端位于电磁屏蔽室内。
本发明实施例提供的WWAN测试系统，利用频谱分析仪在以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)之后，再在利用基站模拟器的情况下通过频谱分析仪测量得到WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense，得到天线效率值，记为AE后，根据公式TIS＝D(NFS)+D-sense-AE计算OTA测量结果TIS值。由此在每次测得D(NFS)值的同时，就能够得到TIS值的大小。因而可以在产品研发阶段的NFS测试之后便可推知最终的OTA测试结果，从而保证了产品的设计质量。
进一步地，如图7所示，该WWAN测试系统还包括：
负载电阻604，在利用频谱分析仪601测量WWAN模块的基础感度功率值时与WWAN模块电连接。
设置在天线和频谱分析仪601之间的放大器605。
第一单刀双掷开关606，其动触点与待测终端的天线有线电连接，其第一静触点通过放大器605与频谱分析仪601电连接，其第二静触点与第二单刀双掷开关607的第一静触点电连接。
第二单刀双掷开关607，其动触点与待测终端的WWAN模块有线电连接，其第一静触点与第一单刀双掷开关606的第二静触点电连接，其第二静触点与负载电阻电连接604。
通过两个单刀双掷开关，可以在一次测试中方便地进行切换，有利于测试的快速进行，方便测试工序。
在本实施例中，负载电阻可以为50Ω的电阻。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种WWAN测试方法，其特征在于，包括：
以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值，记为D(NFS)；
测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense；
得到所述终端天线的效率值，记为AE；
则OTA测量结果TIS值为：TIS＝D(NFS)+D-sense-AE。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以NFS测试方式测得待测终端天线接收到的杂讯功率值包括：
通过与待测终端天线有线连接的频谱分析仪读取所述天线接收到的所述终端自身各个部件的杂讯功率值。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值包括：
在所述终端的WWAN模块连接有负载的情况下，通过与所述天线有线连接的频谱分析仪读取所述WWAN模块的基础感度功率值，记为C1；
在所述WWAN模块将所述天线接收到的所述杂讯功率值传输到与所述WWAN模块有线连接的基站模拟器上时，通过所述频谱分析仪取所述WWAN模块的接触感度功率值，记为C2；
则所述WWAN模块到所述天线的路径的功率衰减值为|C1-C2|。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述负载为50Ω的电阻。
5.一种WWAN测试系统，其特征在于，包括：
频谱分析仪，与待测终端的天线有线连接，用于测量所述天线接收到的所述终端自身各个部件的杂讯功率值，记为D(NFS)；测量得到所述终端的WWAN模块到天线的路径的功率衰减值，记为D-sense；
基站模拟器，与所述待测终端的WWAN模块有线连接，用于接收所述WWAN模块发送的所述天线接收到的所述杂讯功率值；
控制装置，与所述频谱分析仪和所述基站模拟器连接，用于控制所述频谱分析仪和所述基站模拟器；根据所述频谱分析仪得到的所述杂讯功率值D(NFS)、功率衰减值D-sense，以及设置的天线效率值AE，利用公式TIS＝D(NFS)+D-sense-AE计算OTA测量结果TIS值。
6.根据权利要求5所述的WWAN测试系统，其特征在于，所述系统还包括：
负载电阻，在利用所述频谱分析仪测量所述WWAN模块的基础感度功率值时与所述WWAN模块电连接。
7.根据权利要求5或6所述的WWAN测试系统，其特征在于，所述系统还包括：
设置在所述天线和所述频谱分析仪之间的放大器。
8.根据权利要求7所述的WWAN测试系统，其特征在于，所述系统还包括：
第一单刀双掷开关，其动触点与所述待测终端的天线有线电连接，其第一静触点通过所述放大器与所述频谱分析仪电连接，其第二静触点与第二单刀双掷开关的第一静触点电连接；
第二单刀双掷开关，其动触点与所述待测终端的WWAN模块有线电连接，其第一静触点与所述第一单刀双掷开关的第二静触点电连接，其第二静触点与所述负载电阻电连接。
9.根据权利要求6或8所述的WWAN测试系统，其特征在于，所述负载电阻为50Ω的电阻。
CN201010536336.1A 2010-11-03 2010-11-03 一种wwan测试方法和测试系统 Active CN102469472B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010536336.1A CN102469472B (zh) 2010-11-03 2010-11-03 一种wwan测试方法和测试系统
US13/287,384 US8976889B2 (en) 2010-11-03 2011-11-02 Wireless wide area network test method and test system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010536336.1A CN102469472B (zh) 2010-11-03 2010-11-03 一种wwan测试方法和测试系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102469472A true CN102469472A (zh) 2012-05-23
CN102469472B CN102469472B (zh) 2016-03-23

Family

ID=45996686

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010536336.1A Active CN102469472B (zh) 2010-11-03 2010-11-03 一种wwan测试方法和测试系统

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8976889B2 (zh)
CN (1) CN102469472B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103326794A (zh) * 2013-05-16 2013-09-25 太仓市同维电子有限公司 一种家庭网关类通信终端未能通过辐射发射骚扰试验的调整方法
CN107483127A (zh) * 2017-07-28 2017-12-15 北京小米移动软件有限公司 Tis测试方法与装置
CN109541329A (zh) * 2018-09-29 2019-03-29 上海与德科技有限公司 一种天线测试方法及装置、天线测试设备和存储介质
CN111858210A (zh) * 2020-07-10 2020-10-30 合肥移瑞通信技术有限公司 Wwan测试设备

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9890835B2 (en) 2015-04-24 2018-02-13 Allison Transmission, Inc. Multi-speed transmission
US10148368B1 (en) * 2017-05-30 2018-12-04 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg System and method for over the air analyzing
CN115314074B (zh) * 2021-07-28 2024-05-17 南京新频点电子科技有限公司 一种tr组件性能综合测试方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5530412A (en) * 1993-09-03 1996-06-25 Emc Science Center, Inc. Enhanced mode stirred test chamber
US20020044597A1 (en) * 1997-12-31 2002-04-18 Shively Richard Robert Spread spectrum bit allocation algorithm
CN101087450A (zh) * 2006-06-09 2007-12-12 日立通讯技术株式会社 无线基站试验装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5515365A (en) * 1994-10-03 1996-05-07 Motorola, Inc. Method and apparatus for reducing interference in a time division duplex communication system
US8249187B2 (en) * 2002-05-09 2012-08-21 Google Inc. System, method and apparatus for mobile transmit diversity using symmetric phase difference
US7109932B2 (en) * 2004-06-18 2006-09-19 Centurion Wireless Technologies, Inc. Antenna efficiency test device
US7773964B2 (en) * 2004-10-25 2010-08-10 Qualcomm Incorporated Systems, methods and apparatus for determining a radiated performance of a wireless device
DE102006046190B4 (de) * 2006-09-29 2016-09-01 Intel Deutschland Gmbh Schaltungsanordnung, Verfahren zum Betreiben einer Schaltungsanordnung und Verfahren zum Betreiben eines Dual-Mode-UMTS/GSM-Mobiltelefons
KR101180624B1 (ko) * 2008-12-19 2012-09-06 한국전자통신연구원 포터블 무선 채널 및 다중 안테나 상관도 측정 장치 및 그 운용 방법
US7995968B2 (en) * 2009-02-11 2011-08-09 Sony Ericsson Mobile Communications Ab Measuring absolute total isotropic sensitivity of wireless communication devices in scattered field chambers
WO2011023211A1 (en) * 2009-08-28 2011-03-03 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Apparatus and method for wireless testing of a plurality of transmit paths and a plurality of receive paths of an electronic device
US20110206097A1 (en) * 2010-02-19 2011-08-25 Sony Ericsson Mobile Communications Ab Terminals and antenna systems with a primary radiator line capacitively excited by a secondary radiator line

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5530412A (en) * 1993-09-03 1996-06-25 Emc Science Center, Inc. Enhanced mode stirred test chamber
US20020044597A1 (en) * 1997-12-31 2002-04-18 Shively Richard Robert Spread spectrum bit allocation algorithm
CN101087450A (zh) * 2006-06-09 2007-12-12 日立通讯技术株式会社 无线基站试验装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103326794A (zh) * 2013-05-16 2013-09-25 太仓市同维电子有限公司 一种家庭网关类通信终端未能通过辐射发射骚扰试验的调整方法
CN103326794B (zh) * 2013-05-16 2015-03-25 太仓市同维电子有限公司 一种家庭网关类通信终端未能通过辐射发射骚扰试验的调整方法
CN107483127A (zh) * 2017-07-28 2017-12-15 北京小米移动软件有限公司 Tis测试方法与装置
CN107483127B (zh) * 2017-07-28 2020-11-27 北京小米移动软件有限公司 Tis测试方法与装置
CN109541329A (zh) * 2018-09-29 2019-03-29 上海与德科技有限公司 一种天线测试方法及装置、天线测试设备和存储介质
CN111858210A (zh) * 2020-07-10 2020-10-30 合肥移瑞通信技术有限公司 Wwan测试设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN102469472B (zh) 2016-03-23
US8976889B2 (en) 2015-03-10
US20120106382A1 (en) 2012-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102469472A (zh) 一种wwan测试方法和测试系统
CN103856272A (zh) Mimo无线终端的无线性能测试方法
CN102621488B (zh) 航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法
US7797132B1 (en) Benchmarking and testing GPS performance on communication devices
CN103906091B (zh) 一种wifi中无线ap性能检测方法及检测系统
CN107911833B (zh) 一种无线干扰测试方法和系统
CN102148649B (zh) 实现多天线设备空间射频性能测试的方法及系统
CN104569635A (zh) 无线终端天线性能测试系统
CN107872827A (zh) 一种无线干扰测试方法和系统
CN102749539A (zh) 一种具有量化电磁干扰的电磁兼容快速测试诊断系统
CN111432425B (zh) 一种3g/4g路由器的网络模式优选的测试系统及测试方法
CN203422434U (zh) 一种辐射发射测试系统
CN110058147A (zh) 基于fpga的芯片测试系统及方法
CN108541010A (zh) 一种多模通信系统模拟外场测试方法
CN111008128B (zh) 一种自动测试系统、方法及存储介质
CN106412953A (zh) 多探头法测试系统及其校准方法和装置
CN113242100B (zh) 车辆中无线模块的c-v2x无线性能测试方法及系统
CN111277466A (zh) 移动智能终端连接移动网络性能检测方法及设备
CN206432996U (zh) 无线终端射频性能测试系统
CN100468068C (zh) 一种手机辐射自动测试系统与方法
CN110673075A (zh) 一种特高频局部放电检测仪抗电磁干扰性能的评价方法
CN102546054A (zh) 测试功耗电流的方法及系统
CN105425060B (zh) 一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统
CN101179808B (zh) 高速移动条件下智能天线性能测试方法
CN114553331B (zh) 针对无线电监测站实现系统自检的方法、装置及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant