CN102621488B - 航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法 - Google Patents
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Abstract
航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。它解决了现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题。它包括恒温箱、测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，待测继电器切换电路由多个切换单元组成；测试方法为下位机根据上位机的控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，然后停止控制温度和湿度，测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻。本发明用于测试航天电磁继电器的贮存性能。
Description
技术领域
本发明涉及一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。
背景技术
航天电磁继电器是国防武器装备系统中不可缺少的关键元器件之一，广泛应用于卫星、导弹、运载火箭等设备中，主要完成信号传递、系统配电、电路隔离及负载切换等功能。现代武器装备具有“长期贮存，一次使用”的特点，因此继电器的贮存可靠性直接影响整个国防武器装备系统和宇航系统的可靠性。
航天电磁继电器的贮存环境复杂，贮存过程中会受环境因素，如温度、湿度、腐蚀、氧化、霉变、大气污染等的影响，其各项性能会发生退化，甚至失效报废。为了评估它贮存的性能，在加速退化过程中研究其特性参数的变化情况是非常必要的，因此对处于加速退化中的航天电磁继电器进行接触电阻和时间参数监测，能够为继电器的可靠性乃至系统的可靠性研究奠定基础。
目前，国内外还没有专门的测试仪器用来测量贮存过程中航天电磁继电器的接触电阻和时间参数，由于贮存试验要求测量时不能对继电器的触点造成破坏，会对触点负载电流有严格限制，国军标65B-99要求触点负载电流不大于10mA，而常用的航天电磁继电器测试仪用于贮存试验会存在以下缺点：
1、贮存试验样品多，引线长，磁场耦合干扰和噪声耦合干扰会影响小信号的检测采集，若要保证测量精度，则触点负载电流比较大，无法满足国军标要求。
2、对航天电磁继电器的接触电阻、吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间和吸合稳定时间、释放稳定时间的测量采用几种不同的仪器进行，不能同时测得；
3、测试步骤比较繁琐，需要连续插拔，而且没有采用在模拟恶劣环境下进行加速退化贮存试验来实时连续地测试并保存所测得的参数。
发明内容
本发明是为了解决现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题，提供一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法。
本发明所述航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱，它还包括待测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，所述待测继电器切换电路由多个切换单元组成，所述切换单元的个数与恒温箱的个数相同，
每个恒温箱内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱内的多个待测电磁继电器由一个切换单元轮流控制依次与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，接触电阻测试仪用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；
下位机用于控制每个恒温箱中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪和时间参数测试仪获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机，
上位机用于发送控制信息给下位机，并将接收到的来自下位机的参数进行统计；
所述控制信息包括预设参数，所述参数为每个恒温箱中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，恒温箱内的温度和湿度。
每个切换单元包括一个切换单元使能通路、十个继电器切换通路和计数译码芯片，
切换单元使能通路由第一继电器、第一三极管和两个电阻组成，第一继电器的线圈的一端连接控制电源正极VCC，第一继电器的线圈的另一端连接第一三极管的集电极，第一三极管的发射极接控制电源的电源地，第一三极管的发射极与基极之间串联两个电阻，切换单元使能通路的使能信号输入端连接在所述两个电阻之间，该使能信号输入端连接下位机的一个切换单元信号输出端，第一继电器的开关的一端连接控制电源正极VCC，该第一继电器的开关的另一端与所有继电器切换通路的切换开关的第一控制信号端连接；
每个继电器切换通路由切换开关、第二三极管和两个电阻组成，切换开关包括六个同时动作的常开开关，分别为第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关和第六开关；
切换开关的第二控制信号端连接第二三极管的集电极，第二三极管的发射极接控制电源的电源地，第二三极管发射极与基极之间串联两个电阻，该两个电阻之间连接计数译码芯片的一个控制信号输出端，
所述切换开关在控制信号的作用下同时打开或闭合六路开关；
切换开关每个常开开关的一端为输出端，所有切换开关的第i开关的另一端连接在一起作为待测继电器切换电路的信号输出端Si，i为1、2、3、4、5、6；其中，待测继电器切换电路的信号输出端S1、S2、S3和S4与接触电阻测试仪的四个测试端连接，用于实现对待测电磁继电器的开关的接触电阻四线制测量，待测继电器切换电路的六个信号输出端S1、S2、S3、S4、S5和S6与时间参数测试仪的六个测试端连接，其中待测继电器切换电路的信号输出端S5和S6用于连接待测电磁继电器的控制线圈的两端；
每个切换单元的计数译码芯片的清零信号输入端连接下位机的清零信号CR输出端，每个切换单元的计数时钟信号输入端连接下位机的切换时钟信号CLK输出端，，每个切换单元的计数译码芯片的切换使能信号输入端连接下位机的切换使能信号CLKEN输出端。
每个继电器切换通路的切换开关由三个继电器组成，该三个继电器中的每个继电器带有两个常开触点，该三个继电器的三个线圈并联在一起后，一端作为该继电器切换通路的切换开关的第一控制信号端，其另一端作为该继电器切换通路的切换开关的第二控制信号端。
一种基于上述航天电磁继电器的贮存性能测试系统的测试方法，它包括以下步骤：
步骤一：在上位机中预设置每个恒温箱的温度和湿度，并预设定对待测电磁继电器的加速贮存时间；
步骤二：启动下位机，下位机根据上位机的温度和湿度控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，并持续加速贮存时间，然后停止控制温度和湿度，等待，直到恒温箱的温度和湿度与其所在环境相同，然后执行步骤三；
步骤三：下位机控制待测继电器切换电路，使得待测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，在每次接入一个待测电磁继电器后，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻，上述测试数据通过下位机上传至上位机；然后接入下一个待测电磁继电器继续测试；
步骤四：上位机将接收的测试数据储存在数据库中。
在上位机中用MATLAB引擎调用数据库中存储的测试数据，用Fisher判别准则确定待测电磁继电器的性能退化敏感参数，用回归分析的方法画出敏感参数的退化模型，利用退化模型计算每个待测电磁继电器的外推寿命，并用分布类型参数估计、自助法及可靠性指标计算评估待测电磁继电器的贮存可靠性。
本发明的优点是：本发明用于电磁继电器在贮存过程中的性能分析，它可以模拟恶劣环境，使电磁继电器处于加速老化过程中，进而实时检测恶劣环境下电磁继电器的性能参数，判断其贮存环境的可靠性。
本发明在进行测试时，触点负载电流能够满足国军标要求；根据国家标准中的要求，本发明实现了同时对接触电阻、吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间和吸合稳定时间、释放稳定时间等参数进行实时连续的测试；本发明方法的操作步骤简单，实现了定时连续地测试并保存所测得的待测电磁继电器参数。
附图说明
图1为本发明测试系统的结构示意图；
图2为每个切换单元的电路结构图；
图3为多个切换单元与下位机的连接关系示意图；
图4为四个切换单元的控制信号时序图，其中EN1为第一个切换单元的切换单元使能通路的使能信号，EN2为第二个切换单元的切换单元使能通路的使能信号，EN3为第三个切换单元的切换单元使能通路的使能信号，EN4为第四个切换单元的切换单元使能通路的使能信号；
图5为时间参数测试仪的电路原理图；
图6为接触电阻测试仪的电路原理图；
图7为80℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻变化趋势图；
图8为106℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻变化趋势图；
图9为135℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻变化趋势图；
图10为170℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻变化趋势图。
具体实施方式
具体实施方式一：下面结合图1至图6说明本实施方式，本实施方式所述航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱1，它还包括待测继电器切换电路2、接触电阻测试仪3、时间参数测试仪4、下位机5和上位机6，所述待测继电器切换电路2由多个切换单元2-1组成，所述切换单元2-1的个数与恒温箱1的个数相同，
每个恒温箱1内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱1内的多个待测电磁继电器由一个切换单元2-1轮流控制依次与接触电阻测试仪3和时间参数测试仪4连接，接触电阻测试仪3用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪4用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；
下位机5用于控制每个恒温箱1中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元2-1的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪3和时间参数测试仪4获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机6，
上位机6用于发送控制信息给下位机5，并将接收到的来自下位机5的参数进行统计；
所述控制信息包括预设参数，所述参数为每个恒温箱1中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，恒温箱1内的温度和湿度。
本实施方式中，可通过温度和湿度的设置，在恒温箱1内模拟高温、低温和恶劣的湿度环境，使待测电磁继电器处于加速老化过程中；切换单元2-1能够实现对恒温箱1内设置的待测电磁继电器的轮流切换，使待测电磁继电器与接触电阻测试仪3和时间参数测试仪4分别相连；时间参数测试仪4连接待测电磁继电器，测量其在特定温度的恒温箱1内的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；接触电阻测试仪3连接待测电磁继电器，测量其在特定温度的恒温箱1内的接触电阻；下位机5用于采集时间参数测试仪4所测量获得的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间数据；下位机5还用于采集接触电阻测试仪3所测量的接触电阻数据；下位机5还用于控制恒温箱1中的温度和湿度的变化；下位机5还用于控制待测继电器切换电路2，使待测电磁继电器被轮流切换处于待测状态；上位机6与下位机5相连接，控制下位机5的开启和关闭时间，从而完成在特定时间和特定时间长度下接触电阻、吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间数据的采集，并显示变化趋势和进行可靠性分析。
具体实施方式二：下面结合图2、图3、图5和图6说明本实施方式，本实施方式为对实施方式一的进一步说明，每个切换单元2-1包括一个切换单元使能通路、十个继电器切换通路和计数译码芯片，
切换单元使能通路由第一继电器2-11、第一三极管2-12和两个电阻组成，第一继电器2-11的线圈的一端连接控制电源正极VCC，第一继电器2-11的线圈的另一端连接第一三极管2-12的集电极，第一三极管2-12的发射极接控制电源的电源地，第一三极管2-12的发射极与基极之间串联两个电阻，切换单元使能通路的使能信号输入端连接在所述两个电阻之间，该使能信号输入端连接下位机5的一个切换单元信号输出端，第一继电器2-11的开关的一端连接控制电源正极VCC，该第一继电器2-11的开关的另一端与所有继电器切换通路的切换开关2-13的第一控制信号端连接；
每个继电器切换通路由切换开关2-13、第二三极管2-14和两个电阻组成，切换开关2-13包括六个同时动作的常开开关，分别为第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关和第六开关；
切换开关2-13的第二控制信号端连接第二三极管2-14的集电极，第二三极管2-14的发射极接控制电源的电源地，第二三极管2-14发射极与基极之间串联两个电阻，该两个电阻之间连接计数译码芯片的一个控制信号输出端，
所述切换开关2-13在控制信号的作用下同时打开或闭合六路开关；
切换开关2-13每个常开开关的一端为输出端，所有切换开关2-13的第i开关的另一端连接在一起作为待测继电器切换电路2的信号输出端Si，i为1、2、3、4、5、6；其中，待测继电器切换电路2的信号输出端S1、S2、S3和S4与接触电阻测试仪3的四个测试端连接，用于实现对待测电磁继电器的开关的接触电阻四线制测量，待测继电器切换电路2的六个信号输出端S1、S2、S3、S4、S5和S6与时间参数测试仪4的六个测试端连接，其中待测继电器切换电路2的信号输出端S5和S6用于连接待测电磁继电器的控制线圈的两端；
每个切换单元2-1的计数译码芯片的清零信号输入端连接下位机5的清零信号CR输出端，每个切换单元2-1的计数时钟信号输入端连接下位机5的切换时钟信号CLK输出端，，每个切换单元2-1的计数译码芯片的切换使能信号输入端连接下位机5的切换使能信号CLKEN输出端。
图5中所示的继电器为待测电磁继电器，其中S3连接负载，负载连接负载电源，S1、S2、S4、S6连接时间参数测试仪4中的调理及采集电路，S4通过采样电阻接地，S6通过采样电阻接地，调理及采集电路采集S1、S2的触点压降、S4的触点电流和S6的线圈电流。
本实施方式中所述的待测继电器切换电路2由多个切换单元2-1级联构成，为实现待测电磁继电器的轮流切换，下位机5提供给各个切换单元2-1清零信号CR、切换信号CLK、切换使能信号CLKEN和切换单元使能通路的使能信号EN1至EN4。
所述计数译码芯片的型号为CD4017。
具体实施方式三：下面结合图1说明本实施方式，本实施方式为对实施方式二的进一步说明，每个继电器切换通路的切换开关2-13由三个继电器组成，该三个继电器中的每个继电器带有两个常开触点，该三个继电器的三个线圈并联在一起后，一端作为该继电器切换通路的切换开关2-13的第一控制信号端，其另一端作为该继电器切换通路的切换开关2-13的第二控制信号端。
具体实施方式四：下面结合图1至图6说明本实施方式，本实施方式为基于实施方式一或二所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统的测试方法，它包括以下步骤：
步骤一：在上位机6中预设置每个恒温箱1的温度和湿度，并预设定对待测电磁继电器的加速贮存时间；
步骤二：启动下位机5，下位机5根据上位机6的温度和湿度控制指令，控制每个恒温箱1达到预设定的温度和湿度，并持续加速贮存时间，然后停止控制温度和湿度，等待，直到恒温箱1的温度和湿度与其所在环境相同，然后执行步骤三；
步骤三：下位机5控制待测继电器切换电路2，使得待测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪3和时间参数测试仪4连接，在每次接入一个待测电磁继电器后，通过时间参数测试仪4控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪3采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻，上述测试数据通过下位机5上传至上位机6；然后接入下一个待测电磁继电器继续测试；
步骤四：上位机6将接收的测试数据储存在数据库中。
具体实施方式五：下面结合图1至图10说明本实施方式，本实施方式为对实施方式四的进一步说明，在上位机6中用MATLAB引擎调用数据库中存储的测试数据，用Fisher判别准则确定待测电磁继电器的性能退化敏感参数，用回归分析的方法画出敏感参数的退化模型，利用退化模型计算每个待测电磁继电器的外推寿命，并用分布类型参数估计、自助法及可靠性指标计算评估待测电磁继电器的贮存可靠性。
下面根据实验给出一组航天电磁继电器可靠性测试分析的实例如下：
选用桂林航天电子有限公司的2JT5-2航天电磁继电器，将航天电磁继电器分为四组，并用长绝热线接入到四个恒温箱中，以便加入温度应力。绝热线通过待测继电器切换电路2连接到接触电阻测试仪3和时间参数测试仪4接受测试。测量步骤如下：
步骤一：启动四个恒温箱1，上位机6分别设置温度和湿度，等待恒温箱1显示温度和湿度达到设置的值，进入航天电磁继电器加速贮存状态。
步骤二：在上位机6界面中设置四个温度应力下的航天电磁继电器的测试编号、样品型号、样品种类和测量时间间隔。
步骤三：在加速贮存时间到达时，上位机6等待恒温箱1回复室温后再进行参数测试，共得到40个航天电磁继电器在加速贮存过程中接触电阻和全部时间参数的数据。
步骤四：测量结束时，上位机6控制恒温箱1返回加速贮存温度，进入加速贮存状态。
步骤五：测试完成后，用上位机中MATLAB引擎调用Access数据库，用Fisher判别准则确定性能退化敏感参数，用回归分析的方法画出敏感参数的退化模型，利用退化模型计算每个航天电磁继电器的外推寿命，并用分布类型参数估计、自助法及可靠性指标计算等方法评估航天电磁继电器的贮存可靠性。
下面给出根据实验获得的四个待测电磁继电器性能参数的表格。
表1：80℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻和时间参数数据
表2：106℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻和时间参数数据
表3：135℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻和时间参数数据
表4：170℃的温度应力下待测电磁继电器0到48天的接触电阻和时间参数数据
Claims (5)
1.一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱（1），其特征在于：它还包括待测继电器切换电路（2）、接触电阻测试仪（3）、时间参数测试仪（4）、下位机（5）和上位机（6），所述待测继电器切换电路（2）由多个切换单元（2-1）组成，所述切换单元（2-1）的个数与恒温箱（1）的个数相同，
每个恒温箱（1）内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱（1）内的多个待测电磁继电器由一个切换单元（2-1）轮流控制工作,使每个待测电磁继电器依次与接触电阻测试仪（3）和时间参数测试仪（4）连接，接触电阻测试仪（3）用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪（4）用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；
下位机（5）用于控制每个恒温箱（1）中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元（2-1）的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪（3）和时间参数测试仪（4）获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机（6），
上位机（6）用于发送控制信息给下位机（5），并将接收到的来自下位机（5）的测试数据进行统计；
所述控制信息包括预设参数，所述预设参数为每个恒温箱（1）中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，以及恒温箱（1）内的温度和湿度。
2.根据权利要求1所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统，其特征在于：每个切换单元（2-1）包括一个切换单元使能通路、十个继电器切换通路和计数译码芯片，
切换单元使能通路由第一继电器（2-11）、第一三极管（2-12）和两个电阻组成，第一继电器（2-11）的线圈的一端连接控制电源正极VCC,第一继电器（2-11）的线圈的另一端连接第一三极管（2-12）的集电极，第一三极管（2-12）的发射极接控制电源的电源地，第一三极管（2-12）的发射极与基极之间串联两个电阻，切换单元使能通路的使能信号输入端连接在所述两个电阻之间，该使能信号输入端连接下位机（5）的一个切换单元信号输出端，第一继电器（2-11）的开关的一端连接控制电源正极VCC，该第一继电器（2-11）的开关的另一端与所有继电器切换通路的切换开关（2-13）的第一控制信号端连接；
每个继电器切换通路由切换开关（2-13）、第二三极管（2-14）和两个电阻组成，切换开关（2-13）包括六个同时动作的常开开关，分别为第1开关、第2开关、第3开关、第4开关、第5开关和第6开关；
切换开关（2-13）的第二控制信号端连接第二三极管（2-14）的集电极，第二三极管（2-14）的发射极接控制电源的电源地，第二三极管（2-14）发射极与基极之间串联两个电阻，该两个电阻之间连接计数译码芯片的一个控制信号输出端，
所述切换开关（2-13）在控制信号的作用下同时打开或闭合六路开关；
切换开关（2-13）每个常开开关的一端为输出端，所有切换开关（2-13）的第i开关的另一端连接在一起作为待测继电器切换电路（2）的信号输出端Si，i为1、2、3、4、5、6；其中，待测继电器切换电路（2）的信号输出端S1、S2、S3和S4与接触电阻测试仪（3）的四个测试端连接，用于实现对待测电磁继电器的开关的接触电阻四线制测量，待测继电器切换电路（2）的六个信号输出端S1、S2、S3、S4、S5和S6与时间参数测试仪（4）的六个测试端连接，其中待测继电器切换电路（2）的信号输出端S5和S6用于连接待测电磁继电器的控制线圈的两端；
每个切换单元（2-1）的计数译码芯片的清零信号输入端连接下位机（5）的清零信号CR输出端，每个切换单元（2-1）的计数时钟信号输入端连接下位机（5）的切换时钟信号CLK输出端，每个切换单元（2-1）的计数译码芯片的切换使能信号输入端连接下位机（5）的切换使能信号CLKEN输出端。
3.根据权利要求2所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统，其特征在于：每个继电器切换通路的切换开关（2-13）由三个继电器组成，该三个继电器中的每个继电器带有两个常开触点，该三个继电器的三个线圈并联在一起后，一端作为该继电器切换通路的切换开关（2-13）的第一控制信号端，其另一端作为该继电器切换通路的切换开关（2-13）的第二控制信号端。
4.一种基于权利要求1所述航天电磁继电器的贮存性能测试系统的测试方法，其特征在于：它包括以下步骤：
步骤一：在上位机（6）中预设置每个恒温箱（1）的温度和湿度，并预设定对待测电磁继电器的加速贮存时间；
步骤二：启动下位机（5），下位机（5）根据上位机（6）的温度和湿度控制指令，控制每个恒温箱（1）达到预设定的温度和湿度，并持续加速贮存时间，然后停止控制温度和湿度，等待，直到恒温箱（1）的温度和湿度与其所在环境相同，然后执行步骤三；
步骤三：下位机（5）控制待测继电器切换电路（2），使得待测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪（3）和时间参数测试仪（4）连接，在每次接入一个待测电磁继电器后，通过时间参数测试仪（4）控制待测电磁继电器动作，同时采集相关测试数据，并通过接触电阻测试仪（3）采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻，上述测试数据通过下位机（5）上传至上位机（6）；然后接入下一个待测电磁继电器继续测试；
步骤四：上位机（6）将接收的测试数据储存在数据库中。
5.根据权利要求4所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统的测试方法，其特征在于：在上位机（6）中用MATLAB引擎调用数据库中存储的测试数据，用Fisher判别准则确定待测电磁继电器的性能退化敏感参数，用回归分析的方法画出敏感参数的退化模型，利用退化模型计算每个待测电磁继电器的外推寿命，并用分布类型参数估计、自助法及可靠性指标计算评估待测电磁继电器的贮存可靠性。
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