CN209911501U - 一种高压继电器测试装置及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型具体涉及一种高压继电器测试装置及系统，包括：输入模块、控制模块、显示模块、驱动模块、检测模块、高压电源模块以及时钟模块，通过控制模块根据输入信号生成控制信号控制驱动模块驱动被测继电器通断，同时通过检测模块根据被测继电器通断生成触点检测信号和周期检测信号并反馈给控制模块，再通过控制模块对控制信号、触点检测信号以及周期检测信号进行分析处理生成测试结果并传输给上位机，通过时钟模块对开始测试时间和故障发生时间进行记录，并通过显示模块将测试结果进行显示，实现对高压继电器在未失效和未分解的状态下进行测试以了解高压继电器的电气寿命，以便选择合适的高压继电器应用于所需要的设计项目中。

Description

一种高压继电器测试装置及系统

技术领域

本实用新型属于电力元器件测试技术领域，具体涉及一种高压继电器测试装置及系统。

背景技术

高压继电器是具有隔离作用的自动开关元件，广泛应用于遥控、遥测、通讯、自动控制、机电一体化及电力电子设备中，是最重要的控制元件之一，比如高压直流继电器就是新能源汽车的核心部件。作为新能源汽车配电系统以及高压配电系统的核心零部件，高压继电器选型的好坏，直接关系到系统的安全可靠运行。但是目前在选用高压继电器这类零部件时，只能依照器件规格书进行选型。从质量保障方面来说，仅参照规格书进行选型，而无法确切地知道高压继电器实际的循环使用寿命，这将会导致配电系统的开发人员没有办法对设计质量进行把控。另外，由于高压继电器的触点系统属于真空密封状态，在测试实验中不能分解来观察其使用寿命中的状态，只能在继电器测试失效后再进行解剖分析测试。再者，传统的技术方案中多是对普通继电器的使用寿命进行测试，对应高压继电器这类特殊应用的继电器没有合适的测试设备以及检验手段。

因此，传统的技术方案中存在选用高压继电器时没有合适的设备对高压继电器的使用寿命进行测试以确保选用的高压继电器质量，以及不能在高压继电器未失效和未分解时进行测试以了解其使用寿命的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种高压继电器测试装置及系统，旨在解决传统的技术方案中存在的选用高压继电器时没有合适的设备对高压继电器的使用寿命进行测试以确保选用的高压继电器质量，以及不能在高压继电器未失效和未分解时进行测试以了解其使用寿命的问题。

本实用新型实施例的第一方面提供了一种高压继电器测试装置，包括：

用于根据按键输入生成输入信号的输入模块。

与所述输入模块连接，用于根据所述输入信号生成控制信号，以及根据所述控制信号和触点检测信号以及周期检测信号生成测试结果并输出至上位机的控制模块。

与所述控制模块连接，用于根据所述控制信号生成驱动信号以驱动被测继电器通断的驱动模块。

与所述被测继电器连接，用于根据所述被测继电器的通断生成所述触点检测信号和所述周期检测信号的检测模块。

可选的，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述检测模块连接，用于根据输入直流电生成第一电源以对所述被测继电器的触点供电的高压电源模块。

可选的，所述触点检测信号包括第一触点检测电平和第二触点检测电平，所述周期检测信号包括第一周期检测电平和第二周期检测电平，所述检测模块包括：

与所述控制模块和所述被测继电器连接，当所述被测继电器关断时，导通所述第一电源以生成所述第一触点检测电平和所述第一周期检测电平，当所述被测继电器导通时，关断所述第一电源以生成所述第二触点检测电平和所述第二周期检测电平的检测单元。

与所述高压电源模块、所述被测继电器以及所述检测单元连接，用于当所述被测继电器导通时，根据所述第一电源进行储能以使所述检测单元关断所述第一电源的高压储能单元。

可选的，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述控制模块连接，用于显示所述被测继电器的测试状态的显示模块。

可选的，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述控制模块连接，用于记录开始测试时间以及在发生故障时记录故障时间的时钟模块。

可选的，所述驱动模块包括：第一电阻、第二电阻、第一二极管、第一电容、第一三极管以及第一光耦。

所述第一电阻的第一端和所述第二电阻的第一端与第二电源连接。

所述第一电阻的第二端和所述第一电容的第一端与所述第一光耦的正极连接，所述第一电容的第二端与所述第一光耦的负极连接，所述第一电容的第二端与所述第一光耦的负极共同构成为所述驱动模块的输入端。

所述第二电阻的第二端与所述第一光耦的集电极连接，所述第一光耦的发射极与所述第一三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与电源地连接，所述第一三极管的集电极与所述第一二极管的正极连接，所述第一二极管的负极与第三电源连接。

所述第一二极管的负极为所述驱动模块的第一输出端，所述第一二极管的正极为所述驱动模块的第二输出端。

可选的，所述高压储能单元包括：第二电容和第四电阻。

所述第二电容的第一端和所述第四电阻的第一端共同构成为所述高压储能单元的输入端，所述第二电容的第一端与所述第四电阻的第一端连接。

所述第二电容的第二端和所述第四电阻的第二端共同构成为所述高压储能单元的输出端，所述第二电容的第二端与所述第四电阻的第二端连接。

可选的，所述控制模块包括微处理器。

本实用新型实施例的第二方面提供了一种高压继电器测试系统，所述高压继电器测试系统包括如上述任一所述的高压继电器测试装置。

上述的高压继电器测试装置及系统通过控制模块根据输入信号生成控制信号控制驱动模块驱动被测继电器通断，同时通过检测模块根据被测继电器的通断生成触点检测信号和周期检测信号并传输给控制模块，再通过控制模块对控制信号、触点检测信号和周期检测信号进行分析处理生成测试结果并输出至上位机，通过显示模块将测试结果进行显示，实现对高压继电器在未失效和未分解的状态下对其处于封闭状态的触点系统进行测试以了解高压继电器的电气寿命，以及为选用高压继电器提供合适的测试装置及系统，以便选择合适的高压继电器应用于所需要的设计项目中，从而更加全面的提高设计出来的产品的可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例提供的高压继电器测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型一实施例提供的高压继电器测试装置的另一结构示意图；

图3为本实用新型一实施例提供的高压继电器测试装置的另一结构示意图；

图4为本实用新型一实施例提供的高压继电器测试装置的电路原理图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1，本实用新型实施例(第一实施例)提供的高压继电器测试装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：

在一实施例中，一种高压继电器测试装置100包括输入模块101、控制模块102、驱动模块104、被测继电器105、检测模块106。

输入模块101，用于根据按键输入生成输入信号。

具体应用中，输入模块101包括键盘输入和按键输入以及触屏输入中的至少一种，输入信号包括被测继电器105的目标测试寿命，比如10万次，以及被测继电器105每一次的关断周期参数，比如一个关断周期内，被测继电器105 导通T1秒，关断T2秒。

控制模块102，与输入模块101连接，用于根据输入信号生成控制信号，以及根据控制信号和触点检测信号以及周期检测信号生成测试结果并输出至上位机。

具体应用中，测试结果包括被测继电器105的触点故障信息、被测继电器 105故障信息以及测试设备故障信息等等。上位机对测试结果进行存储，具体应用中，还可以利用上位机对测试结果进行显示，上位机可通过无线通讯与控制模块102通讯。

驱动模块104，与控制模块102连接，用于根据控制信号生成驱动信号以驱动被测继电器105通断。

具体应用中，被测继电器105为高压继电器，比如高电压直流继电器，高压直流继电器是新能源汽车以及高压配电系统等的核心部件。

检测模块106，与被测继电器105连接，用于根据被测继电器105的通断生成触点检测信号和周期检测信号。

具体应用中，触点检测信号包括被测继电器105触点粘连和触点开路以及触点正常吸合中的至少一种状态信息，周期检测信号包括被测继电器105完成一个周期的通断检测或者未完成一个周期的通断检测的状态信息。

本实施例通过控制模块根据输入模块输入的输入信号生成控制信号控制驱动模块驱动被测继电器通断，再通过检测模块根据被测继电器的通断生成触点检测信号和周期检测信号并将触点检测信号和周期检测信号反馈给控制模块，最后由控制模块根据控制信号和触点检测信号以及周期检测信号生成测试结果并输出至上位机，实现对高压继电器在未失效和未分解的状态下对其处于封闭状态的触点系统进行测试以了解高压继电器的电气寿命，为高压继电器的选用提供参考依据。

请参阅图2，在一实施例中，高压继电器测试装置100还包括显示模块103。

显示模块103，与控制模块102连接，用于显示被测继电器105的测试状态。

具体应用中，通过显示模块103可以及时显示被测继电器105在测试过程中的状态信息。测试状态信息包括测试完成数量、故障信息以及预计完成测试时间等。通过显示模块103能够及时了解被测继电器105的相关测试信息，便于设计者选用合适的高压继电器应用于所需要的设计项目中，提高设计出来的产品的可靠性。

请参阅图2，在一实施例中，高压继电器测试装置100还包括时钟模块108。

时钟模块108，与控制模块102连接，用于记录开始测试时间以及在发生故障时记录故障时间。

具体应用中，时钟模块108可采用时钟芯片，时钟芯片内部自带有万年历，, 即准确的年、月、日、时间、星期等信息，通过时钟芯片可以记录被测继电器 105开始测试时间和在发生故障时记录故障时间，并将记录的开始测试时间和故障时间传输给控制模块102，控制模块102控制显示模块103对开始测试时间和故障时间进行显示。

通过时钟模块108可以准确记录被测继电器105开始测试时间和在发生故障时记录故障时间等信息，便于对被测继电器105的测试数据进行分析了解，也便于后期对测试数据的复查，避免需要人工时刻关注和记录被测继电器的测试状态，实现自动化测试。

请参阅图3，在一实施例中，高压继电器测试装置100还包括高压电源模块107。

高压电源模块107，与检测模块106连接，用于根据输入直流电生成第一电源以对被测继电器105的触点供电。

具体应用中，输入直流电为输入高压直流电，高压电源模块107根据输入高压直流电生成第一电源+HV为被测继电器105的触点供电。

进一步的，触点检测信号包括第一触点检测电平和第二触点检测电平，周期检测信号包括第一周期检测电平和第二周期检测电平。

检测模块106包括检测单元1061和高压储能单元1062。

检测单元1061与控制模块102和被测继电器105连接，当被测继电器105 关断时，检测单元1061导通第一电源+HV以生成第一触点检测电平和第一周期检测电平；当被测继电器105导通时，关断第一电源以生成第二触点检测电平和第二周期检测电平。

高压储能单元1062，与高压电源模块107、被测继电器105以及检测单元 1061连接，用于当被测继电器105导通时，根据第一电源进行储能以使检测单元1061关断第一电源。

具体应用中，高压储能单元1062还用于模拟冲击性负载对被测继电器105 进行测试。

具体应用中，可选的，控制信号为高电平时，被测继电器105处于关断状态，控制信号为低电平时，被测继电器105处于导通状态。被测继电器105正常吸合导通时，触点检测信号(第一触点检测信号)为高电平；不正常吸合导致关断时，触点检测信号(第二触点检测信号)为低电平。被测继电器105开始一个周期测试前，处于关断状态，周期检测信号(第一周期检测信号)为高电平，开始测试后，当被测继电器105处于导通状态，周期检测信号(第二周期检测信号)为低电平，结束一个周期测试，被测继电器105恢复关断状态，周期检测信号转为第一周期检测信号，恢复为高电平。

通过高低电平信号便于实现控制、检测以及分析判断，也便于控制模块102 根据控制信号、触点检测信号以及周期检测信号的高低电平对被测继电器105 的测试状态进行统一分析处理生成测试结果。

在一实施例中，控制模块102包括微处理器。微处理器是由一片或少数几片大规模集成电路组成的中央处理器，能够执行控制和算术逻辑计算的功能，能完成取指令、执行指令，以及与外界存储器和逻辑部件交换信息等操作，是微型计算机的运算控制部分。

参见图4，具体应用中，微处理器可采用型号为ATMEGA16A-AU的AVR 单片机。AVR单片机具备了百万条指令每秒/兆赫兹(1MIPS/MHz)的高速处理能力，可以满足所需的控制、运算、分析处理等要求。

请参阅图4，在一实施例中，驱动模块104包括第一电阻R1、第二电阻 R2、第一二极管D1、第一电容C1、第一三极管Q1以及第一光耦U2。

第一电阻R1的第一端和第二电阻R2的第一端与第二电源+5V连接。

第一电阻R1的第二端和第一电容C1的第一端与第一光耦U2的正极连接，第一电容C1的第二端与第一光耦U2的负极连接，第一电容C1的第二端与第一光耦U2的负极共同构成为驱动模块104的输入端。

第二电阻R2的第二端与第一光耦U2的集电极连接，第一光耦U2的发射极与第一三极管Q1的基极连接，第一三极管Q1的发射极与电源地GND连接，第一三极管Q1的集电极与第一二极管D1的正极连接，第一二极管D1的负极与第三电源VCC连接。

第一二极管D1的负极为驱动模块104的第一输出端，第一二极管D1的正极为驱动模块104的第二输出端。

具体应用中，第二电源+5V和第三电源VCC可由稳压电源提供。

采用光耦U2、三极管Q1以及单向导通二极管D1构成的驱动模块104，信号为单向传输，同时输入信号和输出信号互相隔离，具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力，使得驱动模块104能够根据控制信号生成驱动信号以稳定驱动被测继电器105通断，提高测试系统的可靠性与稳定性。

参见图4，在一实施例中，高压储能单元1062包括第二电容C2和第四电阻R4。

第二电容C2的第一端和第四电阻R4的第一端共同构成为高压储能单元 1062的输入端，第二电容C2的第一端与第四电阻R4的第一端连接。

第二电容C2的第二端和第四电阻R4的第二端共同构成为高压储能单元 1062的输出端，第二电容C2的第二端与第四电阻R4的第二端连接。

具体应用中，被测继电器105为继电器J1，高压储能单元1062可作为被测继电器J1的模拟冲击性负载对被测继电器J1进行测试。被测继电器J1导通时，第一电源+HV瞬间给第二电容C2大电流充电，第二电容C2和第四电阻 R4形成充电回路；被测继电器J1关断后，第二电容C2与第四电阻R4形成放电回路。利用第二电容C2与第四电阻R4构成的充放电回路，作为被测继电器 J1的模拟冲击性负载进行测试，避免引入外部负载，提高了测试的安全可靠性。

参见图4，具体应用中，AVR单片机U1的模拟信号输入端PA0至模拟信号输入端PA3与输入模块102的四个输入按键S1至S4一一对应连接。AVR 单片机U1的双向数据输入输出端PB0至PB7、AVR单片机U1的第一电源端 VCC和电源地端GND以及AVR单片机U1的双向数据输入输出端PD0至PD6 通过IIC(Inter-Integrated Circuit)总线与显示模块103和时钟模块108连接。

IIC总线是由数据线SDA和时钟线SCL两根线构成的串行总线，可发送和接收数据，使得在中央处理器CPU(Central Processing Unit)与被控IC(Integrated Circuit)芯片之间、IC芯片与IC芯片之间进行双向传送。

具体应用中，显示模块103包括液晶显示模块U5，时钟模块108包括极低功耗的多功能时钟/日历芯片U6，AVR单片机U1的双向数据输入输出端PB0 至PB7和AVR单片机U1的双向数据输入输出端PD0至PD6通过IIC总线与液晶显示模块U5和时钟/日历芯片U6的各功能端口一一对应连接。具体应用中，可选的时钟/日历芯片U6的时钟端CLK串接第六电阻R6后与IIC总线连接，时钟/日历芯片U6的第一晶振端OSC1和时钟/日历芯片U6的第二晶振端之间串联一个晶振C3。

时钟/日历芯片U6内部自带有万年历，即准确的年、月、日、时间、星期等信息，因此，可利用时钟/日历芯片U6记录被测继电器J1开始测试的时间和被测继电器J1发生故障的时间并将记录的时间信息输出给AVR单片机U1， AVR单片机U1控制液晶显示模块U5对时钟/日历芯片U6所记录的开始测试的时间和发生故障的时间进行显示。液晶显示模块U5还可用来显示被测继电器J1的测试状态，包括已完成数量以及预计完成时间等。

具体应用中，AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC5与驱动模块104 的输入端连接，即AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC5与第一电容的第二端和第一光耦U2的负极连接，AVR单片机U1通过双向数据输入输出端PC5 向驱动模块104传输控制信号。

驱动模块104的第一输出端和驱动模块104的第二输出端分别与被测继电器J1的线圈两端1和2连接，被测继电器J1的常开触点3与第二光耦U3的正极连接，被测继电器J1的常闭触点4与第三电阻R3的第一端连接，被测继电器J1的常闭触点4和第三电阻R3的第一端与高压地-HV连接。

第三电阻R3的第二端与第二光耦U3的第二输入端连接，第二光耦U3的集电极与AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC6连接。

第二光耦U3的集电极为检测模块106的触点检测信号输出端。对应的， AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC6为控制模块102的触点检测信号的输入端。

第二光耦U3的发射极和第三光耦U4的发射极与电源地GND连接。

第三光耦U4的集电极与AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC7连接。

第三光耦U4的集电极为检测模块106的周期检测信号输出端。对应的， AVR单片机U1的双向数据输入输出端PC7为控制模块102的周期检测信号输入端。

第三光耦U4的正极与第五电阻R5的第二端连接，第五电阻R5的第一端与第一电源+HV连接，第三光耦U4的负极与高压储能单元1062的输出端连接，即第三光耦U4的负极与第二电容C2的第二端和第四电阻R4的第二端连接。检测单元1061包括第二光耦U3、第三光耦U4、第三电阻R3以及第五电阻R5。

当AVR单片机U1通过双向数据输入输出端口PC5输出高电平，控制被测继电器J1处于关断状态，检测单元1061导通第一电源+HV以生成第一触点检测电平和第一周期检测电平，第一电源+HV经第五电阻R5、第三光耦U4、第二光耦U3以及第三电阻R3后流向高压地-HV；当AVR单片机U1通过双向数据输入输出端口PC5输出低电平，被测继电器J1处于导通状态，被测继电器J1导通瞬间第一电源+HV给第二电容C2充电，第二电容C2和第四电阻R4 形成充电回路，检测单元1061关断第一电源+HV以生成第二触点检测电平和第二周期检测电平。

触点检测信号包括第一触点检测电平和第二触点检测电平，周期检测信号包括第一周期检测电平和第二周期检测电平。

AVR单片机U1根据控制信号、触点检测信号以及周期检测信号对被测继电器J1的测试状态进行统一分析处理生成测试结果。具体可参见下表(1代表高电平、0代表低电平)：

当AVR单片机U1通过双向数据输入输出端口PC5输出高电平控制信号，被测继电器J1处于关断状态，对应的AVR单片机U1的双向数据输入输出端口PC6接收到第一触点检测电平为低电平，AVR单片机U1的双向数据输入输出端口PC7接收到第一周期检测电平为高电平，AVR单片机U1根据高电平控制信号、低电平第一触点检测信号以及高电平第一周期检测信号分析判断被测继电器J1为正常完好状态；当AVR单片机U1通过双向数据输入输出端口PC5 输出低电平控制信号，被测继电器J1处于导通状态，对应的AVR单片机U1 的双向数据输入输出端口PC6接收到第二触点检测信号为高电平，AVR单片机U1的双向数据输入输出端口PC7接收到第二周期检测信号为低电平，AVR 单片机U1根据低电平控制信号、高电平第二触点检测信号以及低电平第二周期检测信号分析判断被测继电器J1为正常完好状态。

被测继电器的其他测试状态由AVR单片机U1根据AVR单片机U1的双向数据输入输出端口PC5输出的电平和AVR单片机U1的双向数据输入输出端口PC6接收到的触点检测电平以及AVR单片机U1的双向数据输入输出端口 PC7接收到的周期检测电平综合判断被测继电器J1的测试状态，被测继电器J1 的测试状态包括被测继电器J1的触点粘连故障、设备故障和开路故障等。

通过本实施例一方面可以对未失效和未分解的高压继电器进行选用前的测试，以便了解高压继电器的电气寿命，确保选用的高压继电器质量，另一方面还可以对被测高压继电器检测过程中状态信息进行及时了解，便于根据测试结果选择合适的继电器来应用于所需要的设计项目中，从而提供设计出来的产品的可靠性。

本发明实施例的第二方面提供了一种高压继电器测试系统，高压继电器测试系统包括上述的高压继电器测试装置100。

通过控制模块102根据输入模块101输入的输入信号生成控制信号控制驱动模块104驱动被测继电器105通断，再通过检测模块106根据被测继电器105 的通断生成触点检测信号和周期检测信号并将触点检测信号和周期检测信号反馈给控制模块102，最后由控制模块102根据控制信号和触点检测信号以及周期检测信号生成测试结果并输出至上位机，并通过时钟模块108对开始测试时间及测试中故障发生时间等进行记录，通过显示模块103对测试结果和测试时间以及故障时间等进行显示，实现对高压继电器在未失效和未分解的状态下对其处于封闭状态的触点系统进行测试以了解高压继电器的电气寿命，为选用高压继电器提供合适的测试装置及系统，以便选择合适的高压继电器应用于所需要的设计项目中，从而更加全面的提高设计出来的产品的可靠性。

在本文对各种器件、电路、装置、系统和/或方法描述了各种实施方式。阐述了很多特定的细节以提供对如在说明书中描述的和在附图中示出的实施方式的总结构、功能、制造和使用的彻底理解。然而本领域中的技术人员将理解，实施方式可在没有这样的特定细节的情况下被实施。在其它实例中，详细描述了公知的操作、部件和元件，以免使在说明书中的实施方式难以理解。本领域中的技术人员将理解，在本文和所示的实施方式是非限制性例子，且因此可认识到，在本文公开的特定的结构和功能细节可以是代表性的且并不一定限制实施方式的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种高压继电器测试装置，其特征在于，包括：

用于根据按键输入生成输入信号的输入模块；

与所述输入模块连接，用于根据所述输入信号生成控制信号，以及根据所述控制信号和触点检测信号以及周期检测信号生成测试结果并输出至上位机的控制模块；

与所述控制模块连接，用于根据所述控制信号生成驱动信号以驱动被测继电器通断的驱动模块；

与所述被测继电器连接，用于根据所述被测继电器的通断生成所述触点检测信号和所述周期检测信号的检测模块。

2.如权利要求1所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述检测模块连接，用于根据输入直流电生成第一电源以对所述被测继电器的触点供电的高压电源模块。

3.如权利要求2所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述触点检测信号包括第一触点检测电平和第二触点检测电平，所述周期检测信号包括第一周期检测电平和第二周期检测电平，所述检测模块包括：

与所述控制模块和所述被测继电器连接，当所述被测继电器关断时，连通所述第一电源以生成所述第一触点检测电平和所述第一周期检测电平，当所述被测继电器导通时，关断所述第一电源以生成所述第二触点检测电平和所述第二周期检测电平的检测单元；

与所述高压电源模块、所述被测继电器以及所述检测单元连接，用于当所述被测继电器导通时，根据所述第一电源进行储能以使所述检测单元关断所述第一电源的高压储能单元。

4.如权利要求1所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述控制模块连接，用于显示所述被测继电器的测试状态的显示模块。

5.如权利要求1所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述高压继电器测试装置还包括：

与所述控制模块连接，用于记录开始测试时间以及在发生故障时记录故障时间的时钟模块。

6.如权利要求1所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述驱动模块包括：第一电阻、第二电阻、第一二极管、第一电容、第一三极管以及第一光耦；

所述第一电阻的第一端和所述第二电阻的第一端与第二电源连接；

所述第一电阻的第二端和所述第一电容的第一端与所述第一光耦的正极连接，所述第一电容的第二端与所述第一光耦的负极连接，所述第一电容的第二端与所述第一光耦的负极共同构成为所述驱动模块的输入端；

所述第二电阻的第二端与所述第一光耦的集电极连接，所述第一光耦的发射极与所述第一三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与电源地连接，所述第一三极管的集电极与所述第一二极管的正极连接，所述第一二极管的负极与第三电源连接；

所述第一二极管的负极为所述驱动模块的第一输出端，所述第一二极管的正极为所述驱动模块的第二输出端。

7.如权利要求3所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述高压储能单元包括：第二电容和第四电阻；

所述第二电容的第一端和所述第四电阻的第一端共同构成为所述高压储能单元的输入端，所述第二电容的第一端与所述第四电阻的第一端连接；

所述第二电容的第二端和所述第四电阻的第二端共同构成为所述高压储能单元的输出端，所述第二电容的第二端与所述第四电阻的第二端连接。

8.如权利要求1所述的高压继电器测试装置，其特征在于，所述控制模块包括微处理器。

9.一种高压继电器测试系统，其特征在于，所述高压继电器测试系统包括如权利要求1至8任一所述的高压继电器测试装置。

Images