CN101546774B

CN101546774B - 有源元件阵列基板

Info

Publication number: CN101546774B
Application number: CN 200810088355
Authority: CN
Inventors: 仇翊溱; 刘梦骐; 黄金海
Original assignee: Chunghwa Picture Tubes Ltd
Current assignee: Chunghwa Picture Tubes Ltd
Priority date: 2008-03-28
Filing date: 2008-03-28
Publication date: 2012-05-09
Anticipated expiration: 2028-03-28
Also published as: CN101546774A

Abstract

本发明提出一种有源元件阵列基板，至少包括一基板、多个像素单元、多条第一信号线、一第一连接导线、多个第一开关元件、多条第二信号线。像素单元配置于有源区内。此外，两相邻第一信号线的一端分别连接至一第一测试导线与一第二测试导线。两相邻第一信号线的另一端共同连接至第一开关元件。另外，第一连接导线与第一开关元件电性连接。两相邻第二信号线的一端分别连接至一第三测试导线与一第四测试导线。

Description

有源元件阵列基板

技术领域

本发明是有关于一种有源元件阵列基板，且特别是有关于一种具有检测电路的有源元件阵列基板。

背景技术

现今社会多媒体技术相当发达，多半受惠于半导体元件与显示装置的进步。就显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示面板已逐渐成为市场的主流。为了提升液晶显示面板的良率，液晶显示面板的检测技术也就日益受到重视。

一般而言，液晶显示面板的检测技术通常都是针对显示区来进行检测。在检测过程中，当显示区内有亮线(line defect)产生时，便可以得知位于显示区内的扫描线(scan line)或数据线(data line)有断线的问题发生。值得注意的是，当液晶显示面板的周边线路区内的电路发生断线时，却无法通过传统的检测技术而得知。如此一来，外部驱动电路板无法通过周边线路区内的电路，而有效地将信号传送至显示区内。这会造成液晶显示面板发生显示异常的现象，且制造良率也无法有效提升。

发明内容

本发明提供一种有源元件阵列基板，其具有检测周边线路区内电路是否异常的功效。

本发明提出一种有源元件阵列基板，其具有一有源区与一围绕有源区的周边线路区。本发明的有源元件阵列基板包括一基板、多个像素单元、多条第一信号线、一第一连接导线、多个第一开关元件、多条第二信号线、多个第二开关元件与一汇流导线。其中，像素单元配置于基板上的有源区内，且第一信号线与第二信号线分别与对应的像素单元电性连接。本发明的第一信号线配置于有源区内且向外延伸至周边线路区内。此外，位于周边线路区内两相邻第一信号线的一端分别连接至一第一测试导线与一第二测试导线，而两相邻第一信号线的另一端共同连接至一第一开关元件。另外，第一连接导线配置于周边线路区内，并与第一开关元件电性连接。本发明的第二信号线配置于有源区内且向外延伸至周边线路区内。两相邻第二信号线的一端分别连接至一第三测试导线与一第四测试导线。上述的第二开关元件，配置于周边线路区的第一信号线与第二信号线上。此外，汇流导线电性连接第二开关元件。

在本发明的一实施例中，上述第一信号线为扫描线。

在本发明的一实施例中，上述第二信号线为数据线。

在本发明的一实施例中，上述两相邻第二信号线的另一端共同连接至一第三开关元件。

在本发明的一实施例中，上述的有源元件阵列基板还包括一第二连接导线，其与第三开关元件电性连接。

在本发明的一实施例中，上述的有源元件阵列基板还包括多个接垫，其分别电性连接至第一测试导线、第二测试导线、第三测试导线与第四测试导线的一端。

在本发明的一实施例中，上述的有源元件阵列基板还包括多个接垫，其与第一信号线电性连接，且第一开关元件位于接垫与第一连接导线之间。

在本发明的一实施例中，上述的有源元件阵列基板还包括多个接垫，其与第二信号线电性连接，且第三开关元件位于接垫与第二连接导线之间。

在本发明的一实施例中，上述的第一开关元件包括薄膜晶体管。

在本发明的一实施例中，上述各第一开关元件包括一第一栅极、一第一源极与一第一漏极，第一栅极与第一连接导线电性连接，而第一源极与第一漏极分别与两相邻第一信号线的末端连接。

在本发明的一实施例中，上述的第二开关元件包括薄膜晶体管。

在本发明的一实施例中，上述各第二开关元件包括一第二栅极、一第二源极与一第二漏极，第二栅极与汇流导线电性连接，且第一信号线会与部分第二开关元件的第二源极与第二漏极其中之一电性连接，而第二信号线会与部分第二开关元件的第二源极与第二漏极其中之一电性连接。

在本发明的一实施例中，上述的第三开关元件包括薄膜晶体管。

在本发明的一实施例中，上述各第三开关元件包括一第三栅极、一第三源极与一第三漏极，第三栅极电性连接至第二连接导线，而第三源极与第三漏极分别与两相邻第二信号线的末端连接。

在本发明的一实施例中，上述有源元件阵列基板还包括一第五测试导线，三条相邻第一信号线的一端分别连接至第一测试导线、第二测试导线与第五测试导线，而三条相邻第一信号线的另一端分别连接至相邻两第一开关元件。

在本发明的一实施例中，上述有源元件阵列基板更包括一第六测试导线，三条相邻第二信号线的一端分别连接至第三测试导线、第四测试导线与第六测试导线，而三条相邻第二信号线的另一端分别连接至相邻两第三开关元件。

本发明的有源元件阵列基板在周边线路区内，以两相邻第一信号线的末端共同连接至一第一开关元件来形成测试电路，借以测试周边线路区内的电路是否异常。此外，位于周边线路区内两相邻第二信号线的末端也可共同连接至一第三开关元件，以形成另一测试电路。因此，本发明的有源元件阵列基板通过此测试电路的测试便可得知周边线路区内的电路是否异常。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1是本发明第一实施例的有源元件阵列基板的电路示意图。

图2A是本发明第一实施例的有源元件阵列基板有线缺陷的示意图。

图2B是本发明第一实施例的周边线路区内的电路进行测试的示意图。

图3是本发明第二实施例的有源元件阵列基板的电路示意图。

主要元件符号说明：

100、100：有源元件阵列基板

110：基板

120：像素单元

130、130、130：第一信号线

131：第一测试导线

132：第二测试导线

133：第五测试导线

140、140’、140”：第二信号线

141：第三测试导线

142：第四测试导线

143：第六测试导线

A：有源区

B：周边线路区

BS：汇流导线

C1：第一连接导线

C2：第二连接导线

D1：第一漏极

D2：第二漏极

D3：第三漏极

G1：第一栅极

G2：第二栅极

G3：第三栅极

P：接垫

S1：第一源极

S2：第二源极

S3：第三源极

T1：第一开关元件

T2：第二开关元件

T3：第三开关元件

X1、X2：断线处

具体实施方式

图1是本发明第一实施例的有源元件阵列基板的电路示意图。请参考图1，本发明的有源元件阵列基板100具有一有源区A与一围绕有源区A的周边线路区B。详细地说，本发明有源元件阵列基板100至少包括一基板110、多个像素单元120、多条第一信号线130、多条第二信号线140、多个第一开关元件T1、多个第二开关元件T2、一第一连接导线C1与一汇流导线(bus line)BS。其中，像素单元120阵列配置于基板110上的有源区A内。此外，本发明的第一信号线130与第二信号线140交错配置于有源区A内，且两者皆向外延伸至周边线路区B内。在有源区A内，第一信号线130与第二信号线140会分别与对应的像素单元120电性连接。在一实施例中，上述第一信号线130可为扫描线(scan line)，而第二信号线140为数据线(data line)。

值得注意的是，两相邻第一信号线130与130’延伸至周边线路区B内的一端，分别连接至一第一测试导线131与一第二测试导线132。特别的是，两相邻第一信号线130与130’延伸至周边线路区B内的另一端共同连接至一第一开关元件T1。具体而言，本发明的第一开关元件T1可包括薄膜晶体管，其主要是由一第一栅极G1、一第一源极S1与一第一漏极D1所构成。其中，各个第一开关元件T1的第一栅极G1会与第一连接导线C1电性连接，而第一源极S1与第一漏极D1分别与两相邻第一信号线130与130’的末端连接。另一方面，两相邻第二信号线140与140’延伸至周边线路区B内的一端，分别连接至一第三测试导线141与一第四测试导线142。

本发明的第二开关元件T2分别配置于周边线路区B的第一信号线130与第二信号线140上。上述的第二开关元件T2可包括薄膜晶体管，其主要是由一第二栅极G2、一第二源极S2与一第二漏极D2所构成。值得注意的是，汇流导线BS会电性连接这些第二开关元件T2的第二栅极G2。

另一方面，部分的第二开关元件T2会通过第二源极S2与第二漏极D2，而电性连接于第一信号线130与第一测试导线131之间。部分的第二开关元件T2会通过第二源极S2与第二漏极D2，而电性连接于第一信号线130与第二测试导线132之间。类似地，部分的第二开关元件T2会电性连接于第二信号线140与第三测试导线141之间，而部分的第二开关元件T2会电性连接于第二信号线140与第四测试导线142之间。

上述至此，本发明的有源元件阵列基板100已大致介绍完。接着将在下文中举例说明，如何对本发明有源元件阵列基板100的有源区A与周边线路区B进行测试。当然，所属技术领域中具有通常知识者可视测试的目的而选择采用不同的测试方式，在此仅举例说明并不刻意局限。值得注意的是，本发明的有源元件阵列基板100在进行测试时，已与彩色滤光基板组装完成。为了附图的简明，在下述图式与说明中将省略彩色滤光基板的部分。若本发明的有源元件阵列基板100采用COA(color filter on array)技术，则本发明的有源元件阵列基板100与透光的基板组装即可。

在一实施例中，当本发明的有源元件阵列基板100需要对有源区A进行测试时，第一开关元件T1为关闭状态。另一方面，通过汇流导线BS传递一信号至第二栅极G2，以将各个第二开关元件T2开启。接着，第一测试导线131与第二测试导线132传递一开关信号至各个像素单元120中。另一方面，第三测试导线141与第四测试导线142传递一显示信号，而使各个像素单元120显示。

图2A是本发明第一实施例的有源元件阵列基板有显示亮线的示意图。请参考图2A，以常态白画面(normally white)的设定而言，当显示画面于X1处之后的一列像素单元120呈现出一亮线(line defect)时，这意味着第一信号线130的X1处有断线的现象。另一方面，当显示画面于X2处之后的一行像素单元120呈现出一亮线时，这意谓着第二信号线140的X2处有断线的现象。操作人员便可针对此断线处(X1、X2处)进行激光修补(laser repair)。

若本发明有源元件阵列基板100的有源区A进行测试后为正常状态时，接着可对周边线路区B内的电路进行测试。请参考图2B，此时第一连接导线C1可传递一信号，而将第一开关元件T1开启。在第一开关元件T1开启的状态下，理想上相邻的第一信号线130与130’应会相互导通。以常态白画面(normallywhite)的设定而言，若第一信号线130传递信号至像素单元120中，而能使与第一信号线130’电性连接的像素单元120能正常显示(如图2B所示的黑色区块)。这意味着周边线路区B内的电路为正常状态。反之，周边线路区B内的电路即为断线。如此一来，有源区A或周边线路区B内的电路都可借由上述的检测方式，而得知是否有异常的问题发生。

为了进一步对不同位置的周边线路区B内的电路进行检测，两相邻第二信号线140与140’延伸至周边线路区B内的另一端也可共同连接至一第三开关元件T3。这些第三开关元件T3可借由一第二连接导线C2而电性连接。详细地说，第三开关元件T3包括薄膜晶体管，其主要是由一第三栅极G3、一第三源极S3与一第三漏极D3所构成。其中，第三栅极G3电性连接至第二连接导线C2，而第三源极S3与第三漏极D3分别与两相邻第二信号线140与140’的末端连接。

此外，本发明的有源元件阵列基板100还可包括多个接垫P。这些接垫P可分别电性连接至第一测试导线131、第二测试导线132、第三测试导线141与第四测试导线142的一端。如图1所示，部分的接垫P也可与第一信号线130电性连接，且第一开关元件T1位于接垫P与第一连接导线C1之间。另一方面，部分的接垫P可与第二信号线140电性连接，且第三开关元件T3位于接垫P与第二连接导线C2之间。

第二实施例

第二实施例与第一实施例类似，两者主要不同之处在于：第一开关元件T1与第一信号线130电性连接的方式以及第三开关元件T3与第二信号线140电性连接的方式。图3是本发明第二实施例的有源元件阵列基板的电路示意图。请参考图3，本发明的有源元件阵列基板100’大致与第一实施例有源元件阵列基板100的布局(lay out)类似，于此不多加赘述。特别的是，第二实施例有源元件阵列基板100’上接垫P与测试导线的数目会与第一实施例不同。

详言之，本实施例的有源元件阵列基板100’还包括一第五测试导线133与一第六测试导线143。其中，三条相邻第一信号线130、130’、130”的一端分别连接至第一测试导线131、第二测试导线132与第五测试导线133，而此三条相邻第一信号线130、130’、130”的另一端分别连接至相邻两第一开关元件T1。

另一方面，三条相邻第二信号线140、140’、140”的一端分别连接至第三测试导线141、第四测试导线142与第六测试导线143，而三条相邻第二信号线140、140’、140”的另一端分别连接至相邻两第三开关元件T3。换言之，两相邻的第一开关元件T1可通过接垫P，而连接相同的第一信号线130。此外，两相邻的第三开关元件T3亦可通过接垫P，而连接相同的第二信号线140。第二实施例的有源元件阵列基板100’同样具有第一实施例有源元件阵列基板100的功效。

综上所述，本发明三相邻第一信号线延伸至周边线路区内的一端共同连接至二第一开关元件来形成测试电路，进而可测试周边线路区内的电路是否异常。此外，三相邻第二信号线延伸至周边线路区内的一端亦可共同连接至二第三开关元件，以形成另一测试电路。因此，本发明的有源元件阵列基板通过此测试电路的测试便可得知周边线路区内的电路是否异常。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

Claims

1.一种有源元件阵列基板，具有一有源区与一围绕该有源区的周边线路区，该有源元件阵列基板包括：

一基板；

多个像素单元，配置于该基板上的该有源区内；

多条第一信号线，配置于该有源区内且向外延伸至该周边线路区内，其中位于该周边线路区内两相邻第一信号线的一端分别连接至一第一测试导线与一第二测试导线，而两相邻第一信号线的另一端共同连接至一第一开关元件；

一第一连接导线，配置于该周边线路区内，并与该些第一开关元件电性连接；

多条第二信号线，配置于该有源区内且向外延伸至该周边线路区内，且该些第一信号线与该些第二信号线分别与对应的像素单元电性连接，其中两相邻第二信号线的一端分别连接至一第三测试导线与一第四测试导线；

多个第二开关元件，配置于该周边线路区的该些第一信号线与该些第二信号线上；以及

一汇流导线，电性连接该些第二开关元件。

2.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，该第一信号线为扫描线。

3.如权利要求2所述的有源元件阵列基板，其特征在于，该第二信号线为数据线。

4.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，两相邻第二信号线的另一端共同连接至一第三开关元件。

5.如权利要求4所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括一第二连接导线，电性连接所述第三开关元件。

6.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括多个接垫，分别电性连接至该第一测试导线、该第二测试导线、该第三测试导线与该第四测试导线的一端。

7.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括多个接垫，与该些第一信号线电性连接，且该些第一开关元件位于该些接垫与该第一连接导线之间。

8.如权利要求5所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括多个接垫，与该些第二信号线电性连接，且该些第三开关元件位于该些接垫与该第二连接导线之间。

9.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，该些第一开关元件包括薄膜晶体管。

10.如权利要求9所述的有源元件阵列基板，其特征在于，各该第一开关元件包括一第一栅极、一第一源极与一第一漏极，该第一栅极与该第一连接导线电性连接，而该第一源极与该第一漏极分别与两相邻第一信号线的末端连接。

11.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，该些第二开关元件包括薄膜晶体管。

12.如权利要求11所述的有源元件阵列基板，其特征在于，各该第二开关元件包括一第二栅极、一第二源极与一第二漏极，该第二栅极会与该汇流导线电性连接，而该第一信号线会与部分第二开关元件的该第二源极与该第二漏极其中之一电性连接，该第二信号线会与部分第二开关元件的该第二源极与该第二漏极其中之一电性连接。

13.如权利要求4所述的有源元件阵列基板，其特征在于，该些第三开关元件包括薄膜晶体管。

14.如权利要求13所述的有源元件阵列基板，其特征在于，各该第三开关元件包括一第三栅极、一第三源极与一第三漏极，该第三栅极电性连接至一第二连接导线，而该第三源极与该第三漏极分别与两相邻第二信号线的末端连接。

15.如权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括一第五测试导线，三条相邻第一信号线的一端分别连接至该第一测试导线、该第二测试导线与该第五测试导线，而三条相邻第一信号线的另一端分别连接至相邻两第一开关元件。

16.如权利要求4所述的有源元件阵列基板，其特征在于，还包括一第六测试导线，三条相邻第二信号线的一端分别连接至该第三测试导线、该第四测试导线与该第六测试导线，而三条相邻第二信号线的另一端分别连接至相邻两第三开关元件。