CN101833910A - 显示装置及其阵列基板的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示装置及其阵列基板的测试方法，所述显示装置包括：阵列基板；所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线；与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆；冗余端子，通过连线与至少一根短路杆连接；当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，至少一个所述冗余端子，仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。所述的液晶显示装置，在安装驱动IC后，利用冗余端子作为驱动IC的输入端子或输出端子，则，冗余端子和短路杆两端的电性测试端子可以用来向驱动IC输入信号或测试驱动IC输出端的输出信号，因此，不必另外制作驱动IC的测试端子，能够简化制作过程，有利于提高产能、降低成本。

Description

显示装置及其阵列基板的测试方法

技术领域

本发明涉及平板显示技术领域，特别涉及一种显示装置及其阵列基板的测试方法。

背景技术

液晶显示器作为平板显示器的一种已被广泛的应用在各个领域中。通常，液晶显示器具有两个含有用于产生电场的电极的基板，以及设置在两基板之间的液晶层，并通过两基板上的电极控制施加到该液晶层的电场强度来控制入射光的透射率，从而实现对显示像素单元亮与暗的控制。

所述两个含有电极的基板分别为薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列基板和滤光片基板，其中薄膜晶体管阵列基板上具有控制像素单元的TFT器件的阵列。在液晶显示装置的生产过程中，为避免静电放电(Electrostatic Discharge，ESD)对TFT器件的破坏，通过设置于非显示区域的短路杆(Shorting Bar)或短路环(Shorting Ring)，将TFT阵列基板中显示区域内的扫描线和/或数据线短路连接，同时，所述短路杆或短路环还用于在安装驱动电路模块(IC)前对TFT阵列基板进行电性测试(Visual Test，VT)。

例如，图1所示为现有技术中一种液晶显示装置的TFT阵列基板，用来进行电性测试与防静电损伤的短路杆4、5、6、7、8，TFT阵列基板的扫描线位于水平方向，数据线位于竖直方向；其中，第奇数条扫描线均连接到短路杆4，第偶数条扫描线均连接到短路杆5，数据线(也即信号线)分为三组：R、G、B，所有的R信号线连接到短路杆6，所有G信号线连接到短路杆7，所有的B信号线连接到短路杆8；所有短路杆两端均连接有测试端子(Pad)G/O、G/E、D/R、D/G、D/B，用于输入电性测试的信号。图中冗余端子11通过连线连接于所述短路杆的中间位置，其作用是当短路杆4、5、6、7、8局部断线时作为备用的VT端子，从而避免断线影响正常的电性测试。当电性测试完成后，沿图1中虚线13、14用激光切断扫描线和/或数据线与短路杆的连接，此时，短路杆6、7、8的测试端子D/R、D/G、D/B，短路杆4、5的测试端子G/O、G/E以及冗余端子11都不再起任何作用，然后再进行驱动电路模块10的安装工艺。

然而问题在于，当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，冗余端子11与短路杆的连接也被切断，被废弃闲置，而对驱动电路模块10进行功能测试时，还需要制作新的测试端子，导致制造过程复杂，不利于降低成本。

另外，冗余端子11及其与短路杆的连线均位于驱动IC的安装位置之外，占据了TFT阵列基板上一定的空间，这不利于实现紧凑的结构布局而减小液晶显示装置的尺寸；而且，冗余端子11及其连线还需要额外制作步骤，提高了制造成本。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种显示装置，能够简化制作过程，降低生产成本。

本发明解决的又一问题是提供一种显示装置，其中冗余端子及其与短路杆连线的结构，有利于实现紧凑的结构布局而减小显示装置的尺寸。

本发明解决的另一问题是提供上述显示装置阵列基板的测试方法，有利于提高产能、降低成本。

为解决上述问题，本发明提供一种显示装置，包括：

阵列基板，

所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线，

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆，

冗余端子，通过连线与至少一根所述短路杆连接；其特征在于，

当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，至少一个所述冗余端子，仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。还包括位于驱动电路模块安装位置的驱动电路模块，所述冗余端子是所述驱动电路模块的输入端子或输出端子。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆位于所述阵列基板的同一侧。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述数据线一起形成。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述数据线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述扫描线一起形成。

与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线平行，与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线平行。

与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述扫描线一起形成；与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述数据线一起形成。

与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

与所述扫描线连接的短路杆分两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

与所述扫描线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组扫描线分别相连。

与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

所述冗余端子是所述驱动电路模块的起支撑作用的空白端子或与驱动电路模块无关的端子。

与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

与所述扫描线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

与所述扫描线连接的短路杆按像素单元的基色分为红、绿、蓝三基色，并且每一基色分为奇偶两组，即，与所述扫描线连接的短路杆共分为六组。

与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆具有n个冗余部，所述冗余部将短路杆分为n+1个分支段，n为自然数。

至少两个短路杆中全部或部分具有冗余部。

所述冗余部为“U”形、圆弧形、“V”形、“ㄩ”形或倒S形。

所述冗余部位于驱动电路模块的安装位置内。

所述冗余部的全部或部分跨过切割位置线。

所述每个分支段通过连线与至少一个冗余端子连接。

所述阵列基板上还包括公共电极线，以及与所述公共电极线连接的短路杆。

可选的，所述扫描线和/或数据线与短路杆是通过晶体管相连接的。

可选的，所述扫描线和/或数据线与短路杆是直接相连接的。

优选的，所述冗余端子位于驱动电路模块的安装位置内。

相应的，还提供一种显示装置阵列基板的检测方法，包括以下步骤：

安装驱动电路模块之后，以冗余端子为驱动电路模块的输入端子或输出端子，利用与冗余端子连接的短路杆两端的电性测试端子对驱动电路模块进行功能测试。

在安装驱动电路模块之前，所述检测方法还可以包括：

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线，当短路杆未发生断线时，用短路杆两端的电性测试端子测试显示区像素单元的工作情况；当短路杆发生断线时，利用与断线的短路杆连接的冗余端子测试显示区像素单元的工作情况。

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线之后还包括沿切割位置线切断数据线和扫描线。

与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：

所述的液晶显示装置，当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，至少一个所述冗余端子，仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接，这样以来，在安装驱动IC后，利用冗余端子作为驱动IC的输入端子或输出端子，则，冗余端子和短路杆两端的电性测试端子可以用来向驱动IC输入信号或测试驱动IC输出端的输出信号，因此，不必另外制作驱动IC的测试端子，能够简化制作过程，有利于提高产能、降低成本。

此外，其TFT阵列基板上的冗余端子及其与短路杆的连线均位于驱动IC的安装位置之内，没有占据额外的空间，有利于实现紧凑的结构布局而减小液晶显示装置的尺寸；而且，冗余端子及其连线与扫描线或数据线在同一层中形成，不需要额外制作步骤，能够降低制造成本。

电性测试端子通过短路杆和连线与冗余端子连接，可以通过电性测试端子输入测试信号对驱动IC进行测试，这样就不必再额外的专门制作更多的驱动IC测试端子，有利于提高产能、降低成本；换言之，利用电性测试端子，作为额外的驱动IC测试端子，更多的驱动电路IC功能被测试出来，更好地为我们的分析提供依据。

安装驱动电路模块之后，上述检测方法可以通过电性测试端子输入测试信号对驱动IC进行测试，这样就不必再额外的专门制作更多的驱动IC测试端子，有利于提高产能、降低成本；换言之，利用电性测试端子，作为额外的驱动IC测试端子，更多的驱动电路IC功能被测试出来，更好地为我们的分析提供依据。

附图说明

通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1为现有技术中一种液晶显示装置的TFT阵列基板的示意图；

图2为现有技术中另一液晶显示装置的TFT阵列基板的示意图；

图3为实施方案一中显示装置的示意图；

图4至图6为图3中阵列基板的非显示区域的示意图；

图7至图9为实施方案二中显示装置阵列基板的非显示区域的示意图；

图10为实施方案二中另一显示装置阵列基板的非显示区域的示意图；

图11为实施方案三中显示装置阵列基板测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示装置结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

为突出本发明的特点，附图中没有给出与本发明的发明点必然直接相关的部分，例如，TFT阵列、像素电极等

传统的液晶显示装置中，TFT阵列基板上作为防止短路杆断线的备用测试端子，即冗余端子，及其与短路杆的连线均位于驱动IC的安装位置之外，占据了TFT阵列基板上一定的空间，这不利于实现紧凑的结构布局而减小液晶显示装置的尺寸；而且，冗余端子及其连线还需要额外制作步骤，提高了制造成本。

基于此，本发明提供一种显示装置，本质上，将冗余端子及其与短路杆的连线设置于驱动IC的安装位置之内，从而能够充分利用TFT阵列基板上的空间，而且这种结构还可以使短路杆与数据线或扫描线的连接被切断后，与短路杆连接的测试端子能够用于驱动IC的测试。具体的，所述显示装置包括：

阵列基板，

所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线，

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆，

冗余端子，通过连线与至少一根所述短路杆连接；其特征在于，

当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，至少一个所述冗余端子，仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。

还包括位于驱动电路模块安装位置的驱动电路模块，所述冗余端子是所述驱动电路模块的输入端子或输出端子。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆位于所述阵列基板的同一侧。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述数据线一起形成。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述数据线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述扫描线一起形成。

与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线平行，与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线平行。

与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述扫描线一起形成；与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述数据线一起形成。

与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

与所述扫描线连接的短路杆分两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

与所述扫描线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组扫描线分别相连。

与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

所述冗余端子是所述驱动电路模块的起支撑作用的空白端子或与驱动电路模块无关的端子。

与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

与所述扫描线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

与所述扫描线连接的短路杆按像素单元的基色分为红、绿、蓝三基色，

并且每一基色分为奇偶两组，即，与所述扫描线连接的短路杆共分为六组。

与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆具有n个冗余部，所述冗余部将短路杆分为n+1个分支段，n为自然数。

至少两个短路杆中全部或部分具有冗余部。

所述冗余部为“U”形、圆弧形、“V”形、“ㄩ”形或倒S形。

所述冗余部位于驱动电路模块的安装位置内。

所述冗余部的全部或部分跨过切割位置线。

所述每个分支段通过连线与至少一个冗余端子连接。

所述阵列基板上还包括公共电极线，以及与所述公共电极线连接的短路杆。

可选的，所述扫描线和/或数据线与短路杆是通过晶体管相连接的。

可选的，所述扫描线和/或数据线与短路杆是直接相连接的。

优选的，所述冗余端子位于驱动电路模块的安装位置内。

相应的，还提供一种显示装置阵列基板的检测方法，包括以下步骤：

安装驱动电路模块之后，以冗余端子为驱动电路模块的输入端子或输出端子，利用与冗余端子连接的短路杆两端的电性测试端子对驱动电路模块进行功能测试。

在安装驱动电路模块之前，所述检测方法还可以包括：

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线，当短路杆未发生断线时，用短路杆两端的电性测试端子测试显示区像素单元的工作情况；当短路杆发生断线时，利用与断线的短路杆连接的冗余端子测试显示区像素单元的工作情况。

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线之后还包括沿切割位置线切断数据线和扫描线。

以下结合附图对本发明的一个实施例详细说明。

实施方案一

图3为本发明的一种实施例的显示装置阵列基板的示意图；图4为图3中阵列基板非显示区域的示意图。本发明的显示装置可以是液晶显示装置、x光敏显示装置、有机发光二极管显示装置等，只要显示装置包含起测试作用的短路杆便可以采用本发明的结构和方法。为突出本发明的特点，所有图中均未示出阵列基板的开关元件、像素电极等。所述开关元件可以是薄膜晶体管、二极管、或其他种类的三极管。

如图3所示，所述显示装置阵列基板100包括：位于所述阵列基板100上的相互交叠的扫描线(或称栅极线)G1～Gn和数据线D1～Dn。(这里所说的“交叠”是指扫描线与数据线交叉，但是两者不在同一层上，而且两者之间还具有绝缘介质层；以下提到的“交叠”的含义类似。)所述扫描线和所述数据线分隔出多个有序排列的像素单元110。

所述扫描线之间可以平行排列也可以不平行排列，所述数据线之间可以平行排列也可以不平行排列，只要保证扫描线之间不相交，数据线之间不相交，扫描线和数据线交叠即可。

每个像素单元110至少包括一个开关元件，所述开关元件可以是薄膜晶体管或二极管(图中未示出)，以薄膜晶体管为例，所述薄膜晶体管的栅极与所述扫描线连接，所述薄膜晶体管的源极与所述数据线连接，所述薄膜晶体管的漏极与所述像素单元110中的像素电极(图中未示出)连接，当所述扫描线的电压为高电平时，薄膜晶体管被打开，所述数据线给像素电极充电，像素电极对液晶层施加电场。

在本实施例中，如图3所示，多个有序排列的像素单元110的阵列组成显示区域A，所述阵列基板100上位于所述显示区域A之外的部分为非显示区域B，所述扫描线G1～Gn和数据线D1～Dn延伸至非显示区域B内。

如图3和图4所示，在非显示区域B内，所述显示装置的阵列基板还包括：与扫描线G1～Gn连接的短路杆101和数据线D1～Dn连接的短路杆101，通过连线112与短路杆101连接的冗余端子111。

本发明的一种实施例中，如图4所示，扫描线G1～Gn均与短路杆101d连接，数据线D1～Dn按照RGB(R为红色、G为绿色、B为蓝色)像素单元分为三组分别与短路杆101a、101b、101c连接；短路杆101的两端均具有电性测试端子(电性测试端子)103，例如，短路杆101a、101b、101c两端分别具有电性测试端子103a、103b、103c，短路杆101d两端分别具有电性测试端子103d，另外，非显示区域B内还包括短路杆(公共电位短路杆)101e，该短路杆101e与公共电极线(图中未示出)连接，用于测试公共电极的电信号。本实施例中，同一列像素单元为同一种颜色，同一行像素单元的颜色排布依次为红、绿、蓝周期排布，当然，可以包括其他颜色，如白色。像素单元的颜色采用这种排列方式，扫描线数量较少，扫描周期较短，相应地，与扫描线连接的短路杆的数量比较少，扫描线短路杆两端的测试端子也比较少。

在本发明的另一个实施例中，像素单元的颜色还可以是：同一行像素为同一颜色，同一列像素的颜色排布依次为红、绿、蓝周期排布，也可以包括其他颜色，如白色。因此，扫描线可以按照RGB信号分为三组，分别与不同的短路杆连接，所有的数据线均连接到同一根短路杆；每根短路杆两端都设置有测试端子。像素单元的颜色采用这种排列方式，数据线的数量可以减少为上一个实施例中数据线数量的三分之一，而扫描线的数量增加为上一个实施例的三倍，从而，驱动数据线的数据驱动电路模块的面积和数量可以减少，驱动扫描线的扫描驱动电路模块的面积和数量增加，由于数据驱动电路模块与扫描驱动电路模块相比，数据驱动电路模块的成本高且结构复杂，所以可以降低整个显示装置的成本和面积，而且与数据线连接的短路杆的数量也相对变少。

值得提出的是，所数据线也可以按照红、绿、蓝、白像素单元分成四组，甚至可以根据需要，再把每一组基色像素单元分成奇偶两组，即将数据线分成六组或八组，相应的，对应数据线的短路杆为六条或八条；所扫描线也可以按照红、绿、蓝、白像素单元分成四组，甚至可以根据需要，再把每一组基色像素单元分成奇偶两组，即将扫描线分成六组或八组，相应的，对应扫描线的短路杆为六条或八条。

图3中，与扫描线连接的短路杆和与数据线连接的短路杆均与扫描线平行，并且均位于阵列基板100的同一侧S2(见图3)。但是，这并不是唯一选择，例如，与扫描线连接的短路杆和与数据线连接的短路杆也可以均与数据线平行，均位于阵列基板100的同一侧S1；或者，与扫描线连接的短路杆与扫描线平行，位于阵列基板100的S1侧，与数据线连接的短路杆与数据线平行，位于阵列基板100的S2侧。所有短路杆均位于同一侧，可以增加阵列基板的紧凑程度，有利于节省空间，尤其对于小尺寸的显示装置比较适合。与扫描线连接的短路杆和与数据线连接的短路杆分别位于阵列基板的不同侧(即分别位于S1和S2侧)，可以有足够的空间设置短路杆、测试端子、以及各种驱动电路，对于大尺寸的显示装置比较适合。

如图4所示，虚线框104表示驱动IC的安装位置，在此驱动IC的安装位置104内的扫描线G1～Gn和数据线D1～Dn上均具有驱动IC绑定端子102，该绑定端子102用于在安装驱动IC时与驱动IC的引脚固定连接，同时也与驱动IC电性连接以由此向扫描线G1～Gn和数据线D1～Dn输出信号。

在本发明的阵列基板的外围区域B内，还设置有冗余端子111，所述冗余端子111通过连线112与短路杆101连接，参照图3所示。所述连线112和冗余端子111也位于上述驱动IC的安装位置104内。具体地，如图4所示，冗余端子111a通过连线112与短路杆101a连接，同样的，冗余端子111b、111c分别连接短路杆101b、101c。当然还可以包括与扫描线的短路杆101d连接的冗余端子或与公共电极线的短路杆101e连接的冗余端子(图中未示出)。

与每条短路杆101连接的冗余端子111的数量没有限定，可以根据需要设置。所述冗余端子可以是所述驱动电路模块的起支撑作用的空白端子或与驱动电路模块无关的端子。

所述冗余端子111可以是驱动IC的输入端子，可以是驱动IC的输出端子，可以是驱动IC的起支撑作用的空白端子，还可以是与驱动IC无关的端子(另外制作的端子)，还可以是以上各种可能的组合，优选的，是将驱动IC的输入端子、驱动IC的输出端子、起支撑作用的空白端子全部用作冗余端子，即，将这些端子通过连线与短路杆连接起来。

所述冗余端子111及所述冗余端子111与短路杆101的连线112，均位于驱动电路模块的安装位置104内，驱动电路模块安装后，将所有冗余端子111和连线112覆盖，不需要额外的占有空间。并且冗余端子111、连线112、与和所述冗余端子和连线112连接的短路杆可以与数据线或扫描线在同一层中形成，例如：冗余端子111a、和所述冗余端子111a连接的连线112，与短路杆103a与数据线在同一层中一起形成；冗余端子111b、和所述冗余端子111b连接的连线112与数据线在同一层中一起形成，短路杆103b与扫描线在同一层中一起形成。

优选的，如果所述短路杆平行于扫描线设置，则每个所述冗余端子和连接该冗余端子的连线与数据线一起形成，所有所述短路杆与扫描线一起形成，其中，处于非显示区最外侧短路杆可以与数据线一起形成；如果所述短路杆平行于数据线设置，则每个所述冗余端子和连接该冗余端子的连线与扫描线一起形成，所有所述短路杆与数据线一起形成，其中，处于非显示区最外侧短路杆可以与扫描线一起形成。总之，只要满足不同的短路杆、连线、冗余端子只与应该连接的部分连接，并且不增加阵列基板的制作综艺工艺步骤就可以。

所述冗余端子111及所述冗余端子111与短路杆101的连线112可以作为防止短路杆断线的备用电性测试端子，例如，如图5所示，当短路杆101c在105处发生断路时，短路杆101c被分为两部分，则不能通过短路杆101c左端的电性测试端子103c输入信号，为避免电性测试中断，那么这时可以利用冗余端子111c提供测试信号给短路杆101c输入信号，使得电性测试正常进行。对于其他的短路杆出现类似的断路时，也可以利用所述冗余端子111作为备用电性测试端子进行电性测试。如果每条短路杆出现断路的地方较多，设置较多的冗余端子111显得尤其重要。

本发明所述的显示装置，其阵列基板上的冗余端子及所述冗余端子与短路杆的连线均位于驱动IC的安装位置之内，没有占据额外的空间，有利于实现紧凑的结构布局而减小液晶显示装置的尺寸；而且，冗余端子、连线、与和所述冗余端子和连线所连接的短路杆可以与数据线或扫描线在同一层中形成，不需要增加额外制作步骤，能够降低制造成本。

在现有技术中，激光切断数据线或扫描线后，短路杆以及所述短路杆两端的电性测试端子就没有其他作用了。此外，在现有技术中安装驱动IC之后，对驱动IC进行测试，需要额外制作驱动IC测试端子。如图2所示，驱动IC10安装后，如果要测试驱动IC的信号，需制作测试端子8以和驱动IC的输入端子7(也可以是输出端子7)连接，才可以向驱动IC输入测试信号(或测试IC的输出端子输出的信号)。

而本发明中，如果冗余端子是驱动IC的输入端子或输出端子，则，冗余端子和短路杆两端的电性测试端子可以用来向驱动IC输入信号或测试驱动IC输出端的输出信号。所以，本发明可以省去现有技术中驱动IC的测试端子，节省阵列基板非显示区B的面积，并且在本发明的一个实施例中，每个短路杆有两个电性测试端子，这样，在其中一个测试端子出现不良的情况下，仍可以利用另一个测试端子完成测试功能，有利于提高产能、降低成本。如图6所示，电性测试完成后，沿着切割位置线A-A采用激光切断数据线和扫描线，短路杆101与扫描线和数据线之间的连接被切断，将驱动IC的输出端子(图中未示出)与绑定端子102连接，则驱动IC固定于安装位置104上。

在本发明的其他实施例中，所述扫描线和/或数据线与各自的短路杆之间是通过晶体管相连接的，电性测试完成后，则不需要对数据线和扫描线进行切割，只需将连接扫描线和/或数据线与各自的短路杆的晶体管关闭，便起到了使扫描线和/或数据线与各自的短路杆之间电性被切断的作用。

以下详细说明本发明的另一种更为优选的实施方案，能够利用更多电性测试端子测试更多的驱动IC的功能。

实施方案二

图7至图9为本发明显示装置中阵列基板非显示区域的一种实施例的示意图。为突出本实施例的特点，仅示出了非显示区域具有短路杆的一侧。

如图7至图9所示，本实施例所述显示装置阵列基板与实施方案一中的实施例的区别在于，阵列基板上的短路杆201(包括201M、201N两部分)具有冗余部206，以冗余部为界，短路杆201分为两个分支段201M、201N，每个短路杆的两个分支段通过连线212各与至少一个冗余端子211连接，例如，短路杆201a的分支段201M连接冗余端子211a，分支段201N连接冗余端子211a’，依此类推，不再赘述。

本实施例中，所述冗余部206的个数为一个，所述冗余部206的形状为“ㄩ”形，在本发明的其他实施例中，所述冗余部206的个数可以是多个，例如还可以由两个冗余部将短路杆分为三个分支段，n个冗余部将短路杆分为(n+1)个分支段，其中n为自然数。

并且，所述冗余部206的形状可以为弧形、U形、V形、倒S形中的一种或至少两种的组合。本领域技术人员应当可以很容易推出，凡是能够跨过所述切割位置线A-A的其他形状的冗余部，当然也在本发明的保护范围之内。

本实施例中，与扫描线连接的短路杆和与数据线连接的短路杆均设置有冗余部，在本发明的其他实施例中，可以采用与扫描线连接的短路杆和与数据线连接的短路杆中的部分短路杆设置冗余部。

如图8所示，所述冗余部206跨过切割位置线A-A，在后续工艺中，切断短路杆201和扫描线或数据线的连接时，沿所述切割位置线A-A切割扫描线或数据线，这样以来，也将冗余部206切断，可见，短路杆201不仅与扫描线G1～Gn和数据线D1～Dn断开，而且自身也被断开为两部分，即被分割成分支段201M和分支段201N。

在本发明的其他实施例中，所述扫描线和/或数据线与各自的短路杆之间是通过晶体管相连接的，电性测试完成后，则不需要对数据线和扫描线进行切割，只需将连接扫描线和/或数据线与各自的短路杆的晶体管关闭，便起到了使扫描线和/或数据线与各自的短路杆之间的电性被切断的作用；则只需对冗余部进行切割，不需要对扫描线或数据线进行切割。

本实施例中，所述冗余部206全部跨过切割位置线A-A，在本发明的其他实施例中，也可以采用所述冗余部206的部分跨过切割位置线A-A，或者多个冗余部206的全部或部分跨过切割位置线A-A。

与实施方案一中的实施例的阵列基板相比，本实施例中，相当于增加一倍的驱动IC测试端子，例如，分支段201M连接的冗余端子211a、分支段201N连接的冗余端子211a’可以分别与驱动IC的输入端子或输出端子(图中未示出)连接，分支段201M连接的电性测试端子203a、分支段201N连接的电性测试端子203a’可以作为驱动IC的测试端子，而绑定端子202仍然连接驱动IC的输出端子。驱动IC固定于安装位置204上，将冗余部206和冗余端子211及连线212均覆盖。

这样以来，有更多的电性测试端子被用来测试驱动IC的性能，使得更多的驱动IC功能被检测，所述驱动IC功能例如包括：VR-控制红色电压、VG-控制绿色电压、VB-控制蓝色电压、VCC-控制IC的工作电压、VGH-控制开关元件的开电压、VGL-控制开关元件的关电压、CLOCK-时钟信号、U-D-控制图像上下翻转、STV-控制U-D、L-F-控制图像左右反转、STH-控制L-F、OE-使能信号等。

另外，当短路杆在多处发生断路时，更多的冗余端子211可以作为备用电性测试端子，能够确保电性测试顺利进行。如图9所示，当短路杆201a在205两处发生断路时，短路杆201a被分为三部分，则不能通过短路杆201a两端的电性测试端子203a、203a’输入信号，为避免电性测试中断，那么这时可以利用冗余端子211a和211a’提供测试信号给短路杆201a的中间部分输入信号，使得电性测试正常进行。

优选的，所述冗余部206位于驱动电路模块的安装位置204内，不需要额外占据基板的额外空间，有利于实现紧凑的结构布局而减小显示装置的尺寸。

在本发明的另一实施例的显示装置阵列基板中，扫描线分成奇偶两组分别连接两个短路杆，如图10所示，第奇数条扫描线G1、G3......连接短路杆301a，第偶数条扫描线G2、G4......连接短路杆301b，该显示装置阵列基板中的其他结构，如冗余部306、冗余端子311及其连线312、驱动电路模块的安装位置304等均与前述实施例相同，在此不再赘述。

本发明的所有实施例各自包含的特征可以任意组合，形成新的实施方案。

本发明还提供一种包含以上任意实施例所述显示装置阵列基板的显示装置。

以下实施例说明本发明提供的显示装置的检测方法。

实施方案三

图11为本发明一个实施例的所述检测方法的流程图。

安装驱动电路模块之后，以冗余端子为驱动IC的输入端子或输出端子，利用与冗余端子连接的短路杆两端的电性测试端子对驱动IC进行功能测试。

上述检测方法可以通过电性测试端子输入测试信号对驱动IC进行测试，这样就不必再额外的专门制作更多的驱动IC测试端子，有利于提高产能、降低成本；换言之，利用电性测试端子，作为额外的驱动IC测试端子，更多的驱动电路IC功能被测试出来。

本发明的另一实施例中，在安装驱动电路模块之前，所述检测方法还可以包括：

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线，当短路杆未发生断线时，用短路杆两端的电性测试端子测试显示区像素单元的工作情况；当短路杆发生断线时，利用与断线的短路杆连接的冗余端子测试显示区像素单元的工作情况。

这样，在短路杆有断线的情况下，仍能对显示区的像素单元进行正常测试。

具体的，如图11所示，在显示装置可以采用如下检测方法，包括以下步骤：

步骤S1：检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生短线，当短路杆未发生断线时，用短路杆两端的电性测试端子测试显示区像素的工作情况；当短路杆发生断线时，利用与断线的短路杆连接的冗余端子测试显示区像素的工作情况。

步骤S2：沿切割位置线A-A切断数据线和扫描线。

步骤S3：将驱动IC安装到安装位置，对驱动IC进行功能测试。

也即，当冗余端子是驱动IC的输入端子或输出端子时，步骤S3所述的功能测试包括：利用短路杆两端的电性测试端子对驱动IC进行功能测试。

在步骤S2中，沿切割位置线A-A切断数据线和扫描线时，还包括：切断短路杆的冗余部跨过切割位置线A-A的部分。这样在步骤三中，如果是利用短路杆两端的电性测试端子对驱动IC进行功能测试，则可以测试出更多的驱动IC的功能。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。

虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (29)

1.一种显示装置，包括：

阵列基板；

所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线；

与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆；

冗余端子，通过连线与至少一根短路杆连接；其特征在于，

当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时，至少一个所述冗余端子，仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，还包括位于驱动电路模块安装位置的驱动电路模块，所述冗余端子是所述驱动电路模块的输入端子或输出端子。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆位于所述阵列基板的同一侧。

4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述数据线一起形成。

5.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆与所述数据线一起形成，所述冗余端子和所述连线与所述扫描线一起形成。

6.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线平行，与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线平行。

7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆与所述数据线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述扫描线一起形成；与所述数据线连接的短路杆与所述扫描线一起形成，与该短路杆连接的冗余端子和连线与所述数据线一起形成。

8.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

9.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆分两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

10.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组扫描线分别相连。

11.根据权利要求10所述的显示装置，其特征在于，与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

12.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述冗余端子是所述驱动电路模块的起支撑作用的空白端子或与驱动电路模块无关的端子。

13.根据权利要求12所述的显示装置，其特征在于，与所述数据线连接的短路杆分为三组，与对应红、绿、蓝像素单元的三组数据线分别相连。

14.根据权利要求13所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条扫描线组和第偶数条扫描线组相连。

15.根据权利要求12所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线连接的短路杆按像素单元的基色分为红、绿、蓝三基色，并且每一基色分为奇偶两组，即，与所述扫描线连接的短路杆共分为六组。

16.根据权利要求15所述的显示装置，其特征在于，与所述数据线连接的短路杆分为两组，分别与第奇数条数据线组和第偶数条数据线组相连。

17.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆具有n个冗余部，所述冗余部将短路杆分为n+1个分支段，n为自然数。

18.根据权利要求17所述的显示装置，其特征在于，至少两个短路杆中全部或部分具有冗余部。

19.根据权利要求18所述的显示装置，其特征在于，所述冗余部为“U”形、圆弧形、“V”形、“ㄩ”形或倒S形。

20.根据权利要求18所述的显示装置，其特征在于，所述冗余部位于驱动电路模块的安装位置内。

21.根据权利要求18所述的显示装置，其特征在于，所述冗余部的全部或部分跨过切割位置线。

22.根据权利要求17所述的显示装置，其特征在于，所述每个分支段通过连线与至少一个冗余端子连接。

23.根据权利要求1-22中任一项所述的显示装置，其特征在于，所述阵列基板上还包括公共电极线，以及与所述公共电极线连接的短路杆。

24.根据权利要求1-22中任一项所述的显示装置，其特征在于，所述扫描线和/或数据线与短路杆是通过晶体管相连接的。

25.根据权利要求1-22中任一项所述的显示装置，其特征在于，所述扫描线和/或数据线与短路杆是直接相连接的。

26.根据权利要求1-22中任一项所述的显示装置，其特征在于，所述冗余端子位于驱动电路模块的安装位置内。

27.一种显示装置阵列基板的测试方法，包括以下步骤：

安装驱动电路模块之后，以冗余端子为驱动电路模块的输入端子或输出端子，利用与冗余端子连接的短路杆两端的电性测试端子对驱动电路模块进行功能测试。

28.根据权利要求27所述的测试方法，其特征在于，在安装驱动电路模块之前，所述检测方法还可以包括：

检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线，当短路杆未发生断线时，用短路杆两端的电性测试端子测试显示区像素单元的工作情况；当短路杆发生断线时，利用与断线的短路杆连接的冗余端子测试显示区像素单元的工作情况。

29.根据权利要求28所述的测试方法，其特征在于，检测阵列基板非显示区的短路杆是否发生断线之后还包括沿切割位置线切断数据线和扫描线。

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