CN109658855A - 阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示模组难以(尤其在PPI较高时)设置测试区的问题。本发明的阵列基板包括多个用于连接驱动单元的连接区，以及多个用于连接测试头的测试区；每个连接区中设有多个连接端，每个连接端连接引线；每个测试区中设有多个测试端，任意两连接区中测试端的数量和排布方式均相同；测试区分为独立测试区和共享测试区；每个独立测试区对应一个连接区，其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接；每个共享测试区对应多个连接区，其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接。

Description

阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板。
背景技术
参照图1，在将阵列基板与对盒基板(如彩膜基板)组成显示模组后，可先进行测试，之后再将覆晶薄膜(COF)等驱动单元与阵列基板的各连接区2连接，得到显示面板。
每个连接区2中有多个连接端，每个连接端连接一条引线3(如数据线、公共电极线)，其中部分连接端(如与数据线相连的连接端)还可通过短路环相互连接以释放制备过程的静电(短路环后续会被切断)。每个连接区2两侧均设有测试区1，每个测试区1中有一组测试端(Pad)，测试端与连接区2的连接端电连接。测试时，将多个测试头9(PU)分别连接各测试区1(如每个测试头9与一个连接区2两侧的测试区1相连)，使测试头9上的探针与测试区1的测试端接触，以通过测试端向引线3提供测试信号。
随着像素密度(PPI)的提高，连接区2间的间距越来越小，导致没有足够空间设置测试区1，影响测试。
发明内容
本发明至少部分解决现有的显示模组难以(尤其在PPI较高时)设置测试区的问题，提供一种阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板。
本发明的一个方面提供一种阵列基板，包括多个用于连接驱动单元的连接区，以及多个用于连接测试头的测试区；每个连接区中设有多个连接端，每个连接端连接引线；每个测试区中设有多个测试端，任意两连接区中测试端的数量和排布方式均相同；
所述测试区分为独立测试区和共享测试区；每个所述独立测试区对应一个连接区，其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接；每个所述共享测试区对应多个连接区，其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接。
可选的，每个所述共享测试区对应两个连接区。
可选的，所述测试端分为与连接端电连接的有效测试端，以及与连接端绝缘的冗余测试端；
每个所述独立测试区中的全部测试端均为有效测试端；
每个所述共享测试区中同时具有冗余测试端和多个有效测试端。
可选的，至少部分所述连接区中，有多个连接端通过短路环相互电连接；
至少部分所述测试端通过短路环同时与多个连接端电连接。
可选的，与通过所述短路环相互电连接的连接端相连的引线为数据线。
可选的，所述阵列基板还包括栅极驱动电路，所述引线包括用于为栅极驱动电路提供驱动信号的栅极驱动线；其中，
与所述独立测试区对应的连接区中的至少部分连接端与栅极驱动线相连；
与所述共享测试区对应的连接区中的所有连接端均与栅极驱动线绝缘。
可选的，多个所述连接区和测试区沿第一方向排成一排；其中，所述共享测试区位于相邻连接区之间的间隔中，且每个所述间隔中最多有一个共享测试区，每个共享测试区与其两侧的两个连接区对应。
可选的，所述独立测试区的数量为两个，分别位于所述排的两端。
可选的，所述连接区的数量为4的整数倍；
在第一方向上，除最中间的两个连接区之间的间隔外，其它任意两个相邻连接区间的间隔中均设有一个共享测试区。
可选的，至少部分连接区中有至少部分连接端同时与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接；
和/或，
至少部分连接区中有至少部分连接端分别与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接。
本发明的另一个方面提供一种显示模组，其包括：
上述的阵列基板；
与所述阵列基板对盒的对盒基板。
本发明的另一个方面提供一种上述显示模组测试方法，其包括：
将多个结构相同的测试头分别于与各测试区连接；每个测试头上设有至少一个探针区，每个探针区中设有多个探针，每个探针区中探针的数量和排布方式与一个测试区中测试端的数量和排布方式对应；其中，每个探针区与一个测试区对应，每个探针与一个测试端接触；
通过探针向测试端引入测试信号。
可选的，对连接区数量为4的整数倍的阵列基板，每个所述测试头上有两个间隔设置的探针区，两个探针区分别与位于同一个连接区两侧的两个测试区对应。
本发明的另一个方面提供一种示面板，其包括：
上述的显示模组；
与所述连接区连接的驱动单元。
可选的，所述驱动单元包括覆晶薄膜或驱动芯片。
附图说明
图1为现有的一种阵列基板的连接区和测试区处的结构示意图；
图2为本发明实施例的一种阵列基板连接区和测试区处的结构示意图；
图3为图2中A区域的局部结构示意图；
图4为图2中B区域的局部结构示意图；
其中，附图标记为：1、测试区；11、测试端；118、有效测试端；119、冗余测试端；18、共享测试区；19、独立测试区；2、连接区；21、连接端；22、短路环；3、引线；31、数据线；32、公共电极线；33、栅极驱动线；4、栅极驱动电路；9、测试头。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
可以理解的是，此处描述的具体实施例和附图仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。
可以理解的是，在不冲突的情况下，本发明中的各实施例及实施例中的各特征可相互组合。
可以理解的是，为便于描述，本发明的附图中仅示出了与本发明相关的部分，而与本发明无关的部分未在附图中示出。
实施例1：
参照图2至图4，本发明实施例提供一种阵列基板，包括多个用于连接驱动单元的连接区2，以及多个用于连接测试头9的测试区1；每个连接区2中设有多个连接端21，每个连接端21连接引线3；每个测试区1中设有多个测试端11，任意两连接区2中测试端11的数量和排布方式均相同；
测试区1分为独立测试区19和共享测试区18；每个独立测试区19对应一个连接区2，其中所有测试端11均与其对应的连接区2中的连接端21电连接；每个共享测试区18对应多个连接区2，其中有多个测试端11分别与其所对应的多个连接区2中的连接端21电连接。
阵列基板的一个侧边处设有多个连接区2，用于连接覆晶薄膜(COF)等驱动单元，连接区2中的每个连接端21连接(如通过过孔连接，具体不再详细描述)一条引线3(如数据线31、公共电极线32、栅极驱动线33)，用于将驱动信号引入引线3以进行显示。阵列基板上还有多个测试区1，测试区1中有多个测试端11(Pad)，当测试区1与测试头9(PU，即测试制具的接头)连接时，各测试端11与测试头9上的探针接触，接收来自测试头9的测试信号，并将测试信号经连接端21引入引线3，实现测试。
基于设备统一的考虑，同一测试设备的多个测试头9(PU)结构一样(即探针数量和排布方式相同)，相应的，各测试区1中测试端11的数量和排布方式也要相同。
不同连接区2中所需的信号数可能不一样，故如果每个测试区1均对应一个连接区2，则不同测试区1中实际需要的测试端11数量也不同，为保证所有测试区1中测试端11数量相同，故可能需要在部分测试区1中设置无用的冗余测试端119(dummy Pad)，但这样会增大测试区1所占的面积，导致没有足够空间设置测试区1(尤其对高PPI的阵列基板)。
参照图2，本发明实施例的阵列基板中，测试区1分为独立测试区19和共享测试区18两种，每个独立测试区19中所有测试端11均与一个连接区2中的连接端21电连接；而每个共享测试区18中有多个测试端11分别与多个(如两个)连接区2中的连接端21电连接。也就是说，每个独立测试区19仅用于给一个连接区2供电，其测试端11数量等于该连接区2所需的信号数；而每个共享测试区18用于给多个连接区2供电，其中测试端11的数量最多可等于多个连接区2中所需信号数的和。
可见，共享测试区18实际相当于由与多个连接区2对应的多个测试区1“合并”而成，或者说其被多个连接区2“共用”。由此，共享测试区18中原本的冗余测试端119可替换为对应其它连接区2的有效测试端118，从而使冗余测试端119的数量减少甚至为零，降低测试区1所占的总面积，使测试区1可用于更高PPI的产品中，扩大适用范围；同时，通过调节测试区1的位置、“共用”方式等，还可使不同PPI的产品采用统一的测试头9，从而降低成本，提高产能。
可选的，每个共享测试区18对应两个连接区2。
从便于布线等角度考虑，优选是每个共享测试区18被两个连接区2“共用”。
可选的，测试端11分为与连接端21电连接的有效测试端118，以及与连接端21绝缘的冗余测试端119；
每个独立测试区19中的全部测试端11均为有效测试端118；
每个共享测试区18中同时具有冗余测试端119和多个有效测试端118。
虽然通过“共用”可减少冗余测试端119，但并不能保证将所有的冗余测试端119均消除。因此，参照图3，本发明实施例的阵列基板的共享测试区18中，仍然可能同时存在冗余测试端119和有效测试端118。当然，每个共享测试区18中的有效测试端118应分别连接多个连接区2中的连接端21，而每个独立测试区19中所有的测试端11必然都是有效测试端118，且均连接同一个连接区2中的连接端21。
可选的，至少部分连接区2中，有多个连接端21通过短路环22相互电连接；至少部分测试端11通过短路环22同时与多个连接端21电连接。
可选的，与通过短路环22相互电连接的连接端21相连的引线3为数据线31。
参照图3、图4，为释放制备过程中的静电，故一个连接区2中的部分连接端21(实质是引线3)可通过短路环22相互连接(如通过过孔电连接，具体不再详细描述)在一起。由此，测试区1中的测试端11也可通过短路环22同时与多个连接端21相连，同时向多条引线3输入信号，以减少测试端11数量，简化产品结构。
其中，由于连接区2对应的数据线31数量较多，且在测试时各数据线31可采用相同信号，故短路环22优选是将与不同数据线31对应的连接端21连在一起(图3、图4中以两个短路环22分别将奇数列和偶数列的数据线31连接为例)。
当然，应当理解，为避免影响显示，该短路环22在测试完成后应被切断，在此不再详细描述。
可选的，阵列基板还包括栅极驱动电路4，引线3包括用于为栅极驱动电路4提供驱动信号的栅极驱动线33；其中，
与独立测试区19对应的连接区2中的至少部分连接端21与栅极驱动线33相连；
与共享测试区18对应的连接区2中的所有连接端21均与栅极驱动线33绝缘。
为简化产品结构，可直接在阵列基板上设置用于驱动栅线的栅极驱动电路4(GOA)。栅极驱动电路4由多个级联的移位寄存器构成，每级移位寄存器连接一条栅线，而栅极驱动电路4由多条栅极驱动线33(例如开关线、初始化信号线、时钟线等)控制。因此，部分连接区2中需要设置用于向这些栅极驱动线33提供驱动信号的连接端21，从而其中连接端21数量较多，而与这些连接区2对应的即为独立测试区19。
当然，如果是独立测试区19还用于为其它结构提供驱动信号，也是可行的。
可选的，多个连接区2和测试区1沿第一方向排成一排；其中，共享测试区18位于相邻连接区2之间的间隔中，且每个间隔中最多有一个共享测试区18，每个共享测试区18与其两侧的两个连接区2对应。
参照图2，为便于与驱动单元连接，故通常多个连接区2是在阵列基板边缘排成一排的。相应的，各测试区1也可位于该排(图2中以沿横向的一排为例)中，以减小连接区2和测试区1所占的总面积。且由于测试区1采用“共用”的方式，故在任意相邻的两个连接区2之间，最多只有一个测试区1，且该测试区1为共享测试区18，并对应其左右两侧的两个连接区2。
可选的，独立测试区19的数量为两个，分别位于排的两端。
独立测试区19中多出的测试端11通常是用于为栅极驱动电路4供电的，而栅极驱动电路4通常位于阵列基板的两相对侧部，为便于连接，相应的独立测试区19也可位于以上“排”的两端。
可选的，连接区2的数量为4的整数倍；在第一方向上，除最中间的两个连接区2之间的间隔外，其它任意两个相邻连接区2间的间隔中均设有一个共享测试区18。
参照图2，通常而言，连接区2的数量为4的整数倍(如图2中所示为8个)，且当该排的两端为独立测试区19时，其它共享测试区18则均设于连接区2之间的间隔中，由此，最终连接区2和测试区1分为左右对称的两部分，且每部分中测试区1的总数均为偶数，这样有利于使用现有的测试头9进行测试，后续再详细说明。
可选的，至少部分连接区2中有至少部分连接端21同时与该连接区2两侧的测试区1中的测试端11电连接；
和/或，
至少部分连接区2中有至少部分连接端21分别与该连接区2两侧的测试区1中的测试端11电连接。
参照图3、图4，为改善供电效果，连接区2中的部分连接端21(如对应短路环22的连接端21)可同时与其两侧的测试区1中的测试端11相连。或者，一个连接区2中，也可有部分不同的连接端21(如对应公共电极线32的两个连接端21)分别与其两侧的测试区1中的测试端11相连。
本发明实施例还提供一种显示模组，其包括：
上述的阵列基板；
与阵列基板对盒的对盒基板(如彩膜基板)。
也就是说，可将上述的阵列基板与对盒基板组成显示模组。当然，此时的显示模组还没有组装驱动单元、且其中的短路环22也未被切断。
在显示模组中，阵列基板可在一侧超出对盒基板，而以上连接区2、测试区1等即可位于阵列基板的该超出部分中，以便连接驱动单元、测试头9等。
本发明实施例还提供一种上述显示模组的测试方法，其包括：
将多个结构相同的测试头9分别于与各测试区1连接；每个测试头9上设有至少一个探针区，每个探针区中设有多个探针，每个探针区中探针的数量和排布方式与一个测试区1中测试端11的数量和排布方式对应；其中，每个探针区与一个测试区1对应，每个探针与一个测试端11接触；
通过探针向测试端11引入测试信号。
当组成显示模组后，以上阵列基板的连接区2、测试区1是暴露的，故可将多个结构相同的测试头9(PU)分别与各测试区1连接，使各测试端11与测试头9的探针连接，从而通过“探针-测试端11-连接端21”的路径将测试信号引入引线3，对显示模组进行测试。
可选的，当采用以上连接区2的数量为4的整数倍的阵列基板，时每个测试头9上设有两个间隔设置的探针区，两个探针区分别与位于同一个连接区2两侧的两个测试区1对应。
参照图2，现有的每个测试头9上实际包括两个间隔设置的探针区，故其可同时与一个连接区2两侧的两个测试区1连接。而由于此时连接区2的数量为4的整数倍，故正好可通过多个测试头9实现对全部测试区1的连接。
实施例2：
本发明实施例提供一种显示面板，其包括：
上述的显示模组；
与连接区连接的驱动单元。
可选的，驱动单元包括驱动芯片(IC)或覆晶薄膜(COF)。
也就是说，可将覆晶薄膜等驱动单元连接在以上显示模组的连接区上，并将短路环切断，从而得到具有显示能力的显示面板。
具体的，该显示装置可为液晶显示(LCD)面板、有机发光二极管(OLED)显示面板、电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种阵列基板，包括多个用于连接驱动单元的连接区，以及多个用于连接测试头的测试区；每个连接区中设有多个连接端，每个连接端连接引线；每个测试区中设有多个测试端，任意两连接区中测试端的数量和排布方式均相同；其特征在于，
所述测试区分为独立测试区和共享测试区；每个所述独立测试区对应一个连接区，其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接；每个所述共享测试区对应多个连接区，其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
每个所述共享测试区对应两个连接区。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
所述测试端分为与连接端电连接的有效测试端，以及与连接端绝缘的冗余测试端；
每个所述独立测试区中的全部测试端均为有效测试端；
每个所述共享测试区中同时具有冗余测试端和多个有效测试端。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
至少部分所述连接区中，有多个连接端通过短路环相互电连接；
至少部分所述测试端通过短路环同时与多个连接端电连接。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，
与通过所述短路环相互电连接的连接端相连的引线为数据线。
6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括栅极驱动电路，所述引线包括用于为栅极驱动电路提供驱动信号的栅极驱动线；其中，
与所述独立测试区对应的连接区中的至少部分连接端与栅极驱动线相连；
与所述共享测试区对应的连接区中的所有连接端均与栅极驱动线绝缘。
7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
多个所述连接区和测试区沿第一方向排成一排；其中，所述共享测试区位于相邻连接区之间的间隔中，且每个所述间隔中最多有一个共享测试区，每个共享测试区与其两侧的两个连接区对应。
8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，
所述独立测试区的数量为两个，分别位于所述排的两端。
9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，
所述连接区的数量为4的整数倍；
在第一方向上，除最中间的两个连接区之间的间隔外，其它任意两个相邻连接区间的间隔中均设有一个共享测试区。
10.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，
至少部分连接区中有至少部分连接端同时与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接；
和/或，
至少部分连接区中有至少部分连接端分别与该连接区两侧的测试区中的测试端电连接。
11.一种显示模组，其特征在于，包括：
权利要求1至10中任意一项所述的阵列基板；
与所述阵列基板对盒的对盒基板。
12.一种显示模组测试方法，其特征在于，所述显示模组为权利要求11所述的显示模组，所述显示模组测试方法包括：
将多个结构相同的测试头分别于与各测试区连接；每个测试头上设有至少一个探针区，每个探针区中设有多个探针，每个探针区中探针的数量和排布方式与一个测试区中测试端的数量和排布方式对应；其中，每个探针区与一个测试区对应，每个探针与一个测试端接触；
通过探针向测试端引入测试信号。
13.根据权利要求12所述的显示模组测试方法，其特征在于，
所述显示模组中的阵列基板为权利要求9所述的阵列基板；
每个所述测试头上有两个间隔设置的探针区，两个探针区分别与位于同一个连接区两侧的两个测试区对应。
14.一种显示面板，其特征在于，包括：
权利要求11所述的显示模组；
与所述连接区连接的驱动单元。
15.根据权利要求14所述的显示面板，其特征在于，
所述驱动单元包括覆晶薄膜或驱动芯片。
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