CN113539085A - 阵列基板、阵列基板的测试方法及显示面板 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供的一种阵列基板、显示面板及测试方法，阵列基板包括：与有效显示区对应的阵列区；位于阵列区一侧的信号短接区，信号短接区包括将阵列区的至少两个数据线短接的短接端点；位于信号短接区一侧的覆晶薄膜连接区，覆晶薄膜连接区包括多个数据信号引脚及多个第一测试信号引脚，数据信号引脚用于与阵列区的数据线连接，第一测试信号引脚用于与短接端点连接。通过设置信号短接区将至少两个数据线短接后接入覆晶薄膜连接区的第一测试信号引脚，如此，在二次切割区被去除后，也能通过覆晶薄膜连接区设置的少数几个第一测试信号引脚显示面板的整体测试，不会占用覆晶薄膜连接区过多空间。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种阵列基板、阵列基板的测试方法及显示面板。
背景技术
为了尽量提高屏占比，在一些显示面板的封装方案中采用了覆晶薄膜(Chip OnFlex，COF)封装方式，将集成电路(IC)芯片固定在柔性的晶粒软膜上，运用软质附加电路板作为IC芯片载体将IC芯片与软性基板电路结合，从而可以将设置IC芯片部分弯折到屏幕模组显示面的背面，避免IC芯片占用显示面的空间。
发明人研究发现，现有的这种封装方式中，后续可能难以通过检测筛选出损坏的显示面板，损坏的显示面板进入后续装配环节后会导致产能和材料的浪费。
发明内容
为了克服上述技术背景中所提及的技术问题，本申请实施例提供一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
与有效显示区对应的阵列区；
位于所述阵列区一侧的信号短接区，所述信号短接区包括将所述阵列区的至少两个数据线短接的短接端点；
位于所述信号短接区一侧的覆晶薄膜连接区，所述覆晶薄膜连接区包括多个数据信号引脚及多个第一测试信号引脚，所述数据信号引脚用于与所述阵列区的数据线连接，所述第一测试信号引脚用于与所述短接端点连接。
在一种可能的实现方式中，所述信号短接区还包括分别与所述至少两个数据线对应的至少两个短接开关单元，所述数据线通过所述短接开关单元与所述短接端点连接。
在一种可能的实现方式中，所述第一测试信号引脚包括与所述短接开关单元连接的第一子引脚以及与所述短接端点连接的第二子引脚。
在一种可能的实现方式中，所述阵列基板为薄膜晶体管阵列基板，所述短接开关单元为薄膜晶体管。
在一种可能的实现方式中，所述信号短接区包括多个所述短接端点，每个所述短接端点用于短接驱动同种颜色的像素的至少两个数据线。
在一种可能的实现方式中，所述多个第一测试信号引脚分别分布于所述多个数据信号引脚两侧。
在一种可能的实现方式中，所述阵列区的数据线通过扇出线连接至所述信号短接区。
在一种可能的实现方式中，所述阵列基板还包括：
位于所述覆晶薄膜连接区远离所述阵列区一侧的二次切割区，所述二次切割区包括第二测试信号引脚及测试驱动电路，所述第二测试信号引脚和测试驱动电路用于获取测试信号并发送至所述阵列区，以对所述阵列区的像素进行测试。
本申请还提供一种显示面板，包括本申请提供的所述阵列基板。
本申请还提供一种测试方法，用于本申请提供的显示面板进行测试，所述方法包括：
通过所述信号短接区的第一测试信号引脚输入测试信号，使所述测试信号经与所述第一测试信号引脚连接所述短接端点传输至短接至所述短接端点的数据线；
检测所述显示面板的整体显示效果。
本申请实施例提供的阵列基板、显示面板及测试方法，通过设置信号短接区将至少两个数据线短接后接入覆晶薄膜连接区的第一测试信号引脚，如此，在二次切割区被去除后，也能通过覆晶薄膜连接区设置的少数几个第一测试信号引脚完成显示面板的整体测试，不会占用覆晶薄膜连接区过多空间。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为现有技术中COF封装的显示面板的示意图；
图2为本申请实施例提供的阵列基板的示意图之一；
图3为本申请实施例提供的阵列基板的示意图之二；
图4为本申请实施例提供的第一测试信号引脚的连接示意图；
图5为本申请实施例提供的测试方法的步骤流程示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的不同特征之间可以相互结合。
基于前述背景技术的描述，请参照图1，显示面板一侧一般需要设置覆晶薄膜连接区910来与设置有IC芯片的柔性线路板连接，该覆晶薄膜连接区910排布有大量的连接引脚。而针对像素密度较高的显示面板，覆晶薄膜连接区910的引脚数量也较大。为了进一步减少覆晶薄膜连接区910占用的空间，在一些COF封装方案中，在显示面板上可以设置二次切割区域920，将用于进行显示面板测试的测试信号引脚911和测试驱动电路922设置在二次切割区域920。在通过测试信号引脚911和测试驱动电路922完成对显示面板的测试后，会去除二次切割区域920，以减少测试信号引脚911和测试驱动电路922占用的空间。
然后，在去除二次切割区域920以后，显示面板还要进行弧形边缘切割、转运、贮藏等生产制作环节，这些生产制作环节都有可能导致显示面板的损坏，但由于测试信号引脚911和测试驱动电路922已经被去除，后续则难以通过检测筛选出损坏的显示显示面板，损坏的显示面板进入后续装配环节后会导致产能和材料的浪费。
基于上述问题，本实施例提供一种显示面板，该显示面板可以包括阵列基板以及位于阵列基板上的阳极层、有机发光材料层、以及阴极层等膜层。
请参照图2，在本实施例中，阵列基板可以包括阵列区110、信号短接区130及覆晶薄膜连接区120。
阵列区110与显示面板的有效显示区(AA区)对应，阵列区110可以包括多个用于驱动发光材料层中各发光单元的驱动单元，多个驱动单元的信号可以来自列方向的多个数据线及行方向的多个扫描线。例如，阵列基板可以为薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板，阵列区110可以包括由多个薄膜晶体管组成的TFT阵列。
覆晶薄膜连接区120可以位于阵列区110的一侧，信号短接区130可以位于阵列区110和覆晶薄膜连接区120之间。覆晶薄膜连接区120可以用于与设置有IC芯片的柔性线路板连接，覆晶薄膜连接区120包括用于与柔性线路板连接的多个数据信号引脚121及多个第一测试信号引脚122。多个数据信号引脚121可以与阵列区110的多个扫描线连接，用于将从柔性线路板获得的信号传输至各扫描线。
在本实施例中，除了与数据信号引脚121连接外，从阵列区110引出的至少两个扫描线还可以在信号短接区130进行短接形成短接端点131(如图4)，短接端点131再连接至覆晶薄膜连接区120的第一测试信号引脚122。
可选地，请参照图3，在某些产品阶段中，阵列基板还可以包括位于覆晶薄膜连接区120远离阵列区110一侧的二次切割区140。二次切割区140包括第二测试信号引脚141及测试驱动电路142，第二测试信号引脚141和测试驱动电路142用于接收测试信号并发送至阵列区110，以对阵列区110的像素进行测试。在通过第二测试信号引脚141和测试驱动电路142对显示面板完成测试以后，二次切割区140可以被切除，从而减少第二测试信号引脚141和测试驱动电路142占用空间。
在本实施例，通过设置信号短接区130，可以将多根数据线短接至一个或少数几个短接端点131，然后和覆晶薄膜连接区120的一个或少数几个第一测试信号引脚122连接。如此，即使在二次切割区140被去除后，还是可以通过一个或少数几个第一测试信号引脚122向短接在一起的数据线统一地施加测试信号，以对显示面板整体性显示功能进行测试。
可以理解的是，通过第二测试信号引脚141和测试驱动电路142，可以对显示面板进行较为详尽的第一次测试，通过了第一次测试的显示面板通常是在细节显示功能上是合格的。通过了第一次测试的显示面板可能还会经历二次切割区140的去除、弧形边缘切割、运输、储藏等生产制作环节，在这些生产制作环节中能够对显示面板造成的损坏通常是整体性的，一般不会仅对单个像素造成损坏。因此，在本实施例中，通过向短接在一起的数据线统一地发送测试信号，可以从整体上检查出存在显示异常的显示面板，从而筛选出存在损坏的显示面板。
在本实施例的一些可能的实现方式中，请参照图4，信号短接区130还包括分别与至少两个数据线111对应的至少两个短接开关单元132，数据线111通过短接开关单元132与短接端点131连接。例如，每个需要与短接端点131连接的数据线111均经过一短接开关单元132后与短接端点131连接。
进一步地，第一测试信号引脚122可以包括与短接开关单元132连接的第一子引脚1221以及与短接端点131连接的第二子引脚1222。通过第一子引脚1221可以控制相应的多个短接开关单元132闭合，从而使对应的多根数据线111与短接端点131连通，实现多根数据线111的短接。然后通过第二子引脚1222可以向短接的数据线111同时发送测试信号。
可选地，在本实施例中，短接开关单元132可以为在阵列基板上形成的薄膜晶体管开关单元。短接开关单元132的栅极可以与第一子引脚1221连接，短接开关单元132的源极和漏极可以分别与短接端点131和数据线111连接。
在测试过程中，可以向第一子引脚1221施加电压，控制各短接开关单元132闭合，从而使得对应的数据线111短接在一起，然后再通过第二子引脚1222向短接在一起的数据线111统一地发送测试信号。在显示面板的常规使用过程中，可以不向第一子引脚1221施加电压，控制各短接开关单元132断开，各数据线111不再短接，从而使得各数据线111可以相互独立地从数据信号引脚121获得信号。
应当理解的是，在本实施例中，覆晶薄膜连接区120还可以包括GIP(Gate inPanel，面板内栅极)信号引脚123、电源信号引脚124等，在测试过程中，根据实际需要可以对GIP信号引脚123和电源信号引脚124施加相应的电压。
在本实施例的一些可能的实现方式中，信号短接区130包括多个短接端点131，每个短接端点131用于短接驱动同种颜色的像素的至少两个数据线111。例如，在本实施例中，可以驱动同种颜色像素的所有数据线111短接至同一个短接端点131，再与一个第一测试信号引脚122连接。如此，可以通过一个第一测试信号引脚122统一地向同种颜色的所有像素发送测试信号，方便对显示面板的显示功能进行检查。
在另一种可能的实现方式中，也可以在信号短接区130将所有的数据线111短接在一起，从而可以通过一个第一测试信号引脚122向所有数据线111统一地发送测试信号。
通常，覆晶薄膜连接区120的引脚是对称分布的，在本实施例的一些可能的实现方式中，多个第一测试信号引脚122可以分别分布于多个数据信号引脚121两侧。例如，以多个数据信号引脚121在排列方向上的对称线作为中心，多个第一测试信号可以分布在数据信号引脚121的两侧，且分布在数据信号引脚121两侧的第一测试信号引脚122的数量相等。
相应地，本实施例还提供一种测试方法，用于对本实施例提供的显示面板进行测试，请参照图5，该测试方法可以包括以下步骤。
步骤S110，通过信号短接区130的第一测试信号引脚122输入测试信号，使测试信号经与第一测试信号引脚122连接的短接端点131传输至被短接端点131短接的数据线111。
可选地，在本实施例中，可以先向第一子引脚1221施加电压，控制相应的短接开关电源闭合，使对应的数据线111短接。再向第二子引脚1222施加测试信号，使短接在一起的数据线111一并获得测试信号。同时，根据实际需要还可以向GIP信号引脚123、电源信号引脚124等施加相应的电压。
步骤S120，检测显示面板的整体显示效果。
由于短接在一起的数据线111统一地获得了测试信号，在本实施例中可以通过光学采集设备或者人工检测的方式，从而确认显示面板是否存在整体上的显示确认，进而筛选出损坏的显示面板。
综上，本申请实施例提供的阵列基板、显示面板及测试方法，通过设置信号短接区将至少两个数据线短接后接入覆晶薄膜连接区的第一测试信号引脚，如此，在二次切割区被去除后，也能通过覆晶薄膜连接区设置的少数几个第一测试信号引脚完成显示面板的整体测试，不会占用覆晶薄膜连接区过多空间。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
与有效显示区对应的阵列区；
位于所述阵列区一侧的信号短接区，所述信号短接区包括将所述阵列区的至少两个数据线短接的短接端点；
位于所述信号短接区一侧的覆晶薄膜连接区，所述覆晶薄膜连接区包括多个数据信号引脚及多个第一测试信号引脚，所述数据信号引脚用于与所述阵列区的数据线连接，所述第一测试信号引脚用于与所述短接端点连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述信号短接区还包括分别与所述至少两个数据线对应的至少两个短接开关单元，所述数据线通过所述短接开关单元与所述短接端点连接。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一测试信号引脚包括与所述短接开关单元连接的第一子引脚以及与所述短接端点连接的第二子引脚。
4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板为薄膜晶体管阵列基板，所述短接开关单元为薄膜晶体管。
5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述信号短接区包括多个所述短接端点，每个所述短接端点用于短接驱动同种颜色的像素的至少两个数据线。
6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多个第一测试信号引脚分别分布于所述多个数据信号引脚两侧。
7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列区的数据线通过扇出线连接至所述信号短接区。
8.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括：
位于所述覆晶薄膜连接区远离所述阵列区一侧的二次切割区，所述二次切割区包括第二测试信号引脚及测试驱动电路，所述第二测试信号引脚和测试驱动电路用于获取测试信号并发送至所述阵列区，以对所述阵列区的像素进行测试。
9.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-8任意一项的阵列基板。
10.一种测试方法，其特征在于，用于对权利要求9所述的显示面板进行测试，所述方法包括：
通过所述信号短接区的第一测试信号引脚输入测试信号，使所述测试信号经与所述第一测试信号引脚连接所述短接端点传输至通过所述短接端点短接的数据线；
检测所述显示面板的整体显示效果。
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