CN101950109B - 具测试架构的平面显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种具测试架构的平面显示装置，用以避免短路配线设置于外引脚接合区而限缩总线的阵列布线面积。此平面显示装置包含：一基板，包含一可挠性印刷电路板接合区，该可挠性印刷电路板接合区包含多数个连接垫；多数条传输线，设置于该基板上，每一条传输线耦接于该些连接垫的一对应连接垫；多数条信号线，平行地设置于该基板上；多数条短路配线，设置于该基板上；以及多数个晶体管，设置于该基板上，每一个晶体管包含：一第一端，耦接于该些短路配线的一对应短路配线；一第二端，耦接于该些信号线的一对应信号线；以及一栅极端，耦接于该些传输线的一栅极信号传输线；该栅极信号传输线一端耦接对应连接垫，另一端耦接第一测试垫。

Description

具测试架构的平面显示装置

本申请是2008年5月23日申请的发明专利申请“具测试架构的平面显示装置”的分案申请，原申请的申请号为200810098342.6。

技术领域

本发明涉及一种平面显示装置，尤其涉及一种具测试架构的平面显示装置。

背景技术

平面显示装置(Flat Panel Display)为目前主要流行的显示器，其中液晶显示装置更因为具有外型轻薄、省电以及无辐射等特征，而被广泛地应用于计算机屏幕、行动电话、个人数字助理(PDA)、平面电视等电子产品上。液晶显示装置的工作原理是利用改变液晶层两端的电压差来改变液晶层内的液晶分子的排列状态，用以改变液晶层的透光性，再配合背光模块所提供的光源以显示影像。

图1为现有技术的具测试架构的平面显示装置。如图1所示，平面显示装置100包含下基板110及上基板190，液晶层即夹置于下基板110与上基板190之间。上基板190为彩色滤光片，用来使平面显示装置100可显示彩色画面。下基板110包含可挠性印刷电路板(Flexible Printed Circuit Board)接合区160、多数个源极驱动芯片设置区120、多数个栅极驱动芯片设置区140，多数条数据线130、多数条栅极线150、多数条短路配线125、水平总线135、垂直总线155、及影像显示区195。可挠性印刷电路板接合区160包含多数个连接垫165，用以耦接水平总线135及垂直总线155的多数条水平传输线及多数条垂直传输线。源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140分别用以设置源极驱动芯片(未显示)与栅极驱动芯片(未显示)。水平总线135及垂直总线155以阵列布线(Wiring On Array，WOA)型式设置于下基板110的外引脚接合区(Outer Lead Bonding，OLB)。

通常在源极驱动芯片与栅极驱动芯片贴附至源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140之前，会先执行阵列测试(Array Test)及像素测试(Cell Test)，用以检测平面显示装置100是否有阵列布线缺陷或像素异常颜色显示，所以下基板110另设置多数个内部测试垫170，分别耦接于多数条短路配线125，再通过多数条外部信号传输线172分别耦接至多数个外部测试垫175。如图1所示，连接内部测试垫170与外部测试垫175的外部信号传输线172与垂直总线155相互交叉，甚至与水平总线135的部分水平传输线相互交叉，所以可能造成交叉短路使线路工作不正常。此外，由于要在外引脚接合区设置多数阵列内部测试垫170，所以会显著限缩阵列布线的设置空间，因而增加布线阻抗，影响信号传输的准位。

图2为图1所示的源极驱动芯片设置区的内部布局示意图。如图2所示，在源极驱动芯片设置区120中，另设置多数个接合垫121以及至少二个对准标记123。在完成阵列测试及像素测试后，利用激光切割工艺沿着激光切割线124切断短路配线125与数据线130之间的联机，此激光切割工艺利用对准标记123来进行对位。栅极驱动芯片设置区140的内部布局与源极驱动芯片设置区120的内部布局相似，因此不再赘述。完成激光切割工艺后，才将源极驱动芯片与栅极驱动芯片贴附至源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140。然而，在进行激光切割工艺时，会产生微粒污染产品，降低产品输出率，而工艺所需的激光切割机台则会增加生产成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种具测试架构的平面显示装置。

为实现上述目的，依据本发明的实施例，其揭露一种具测试架构的平面显示装置，包含基板、多数条传输线、多数条信号线、多数条短路配线以及多数个晶体管。基板包含可挠性印刷电路板接合区，此可挠性印刷电路板接合区包含多数个连接垫。多数条传输线设置于基板上，每一条传输线耦接于可挠性印刷电路板接合区的对应连接垫。多数条信号线平行地设置于基板上。多数条短路配线设置于基板上。多数个晶体管设置于基板上。每一个晶体管包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应短路配线，第二端耦接于对应信号线，栅极端耦接于多数条传输线的栅极信号传输线。该栅极信号传输线一端耦接对应连接垫，另一端耦接第一测试垫。

较佳的，该基板另包含多数个驱动芯片设置区，该栅极信号传输线经由该些驱动芯片设置区的至少一个驱动芯片设置区耦接于该些连接垫的一对应连接垫。

较佳的，另包含：至少一第二测试垫，设置于该基板上，该第二测试垫耦接于该些短路配线的一对应短路配线。

较佳的，该些信号线为多数条数据线或多数条栅极线。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为现有技术具测试架构的平面显示装置；

图2为图1所示的源极驱动芯片设置区的内部布局示意图；

图3为本发明第一实施例具测试架构的平面显示装置示意图；

图4为本发明第二实施例具测试架构的平面显示装置示意图；

图5为本发明第三实施例具测试架构的平面显示装置示意图；

图6显示图5的平面显示装置的源极驱动芯片设置区的另一实施例内部布局示意图；

图7为本发明第四实施例具测试架构的平面显示装置示意图；

图8为本发明第五实施例具测试架构的平面显示装置示意图。

其中，附图标记：

100、300、400、500、700、800：平面显示装置

110、310、510、810：下基板

120、320、520、820：源极驱动芯片设置区

121、521：接合垫

123：对准标记

124：激光切割线

125、325、525：短路配线

130、330、530、830：数据线

135、335、535、835：水平总线

140、340、540、840：栅极驱动芯片设置区

150、350、550、850：栅极线

155、355、555、855：垂直总线

160、360、560、860：可挠性印刷电路板接合区

165、365、565、865：连接垫

170：内部测试垫

172：外部信号传输线

175：外部测试垫

190、390、590、890：上基板

195、395、595、895：影像显示区

370、570、870：测试垫

526、827：第一晶体管

527、829：第二晶体管

528：第三晶体管

529：第四晶体管

541、841：第一短路配线

542、842：第二短路配线

543、843：第三短路配线

544、844：第四短路配线

546：第五晶体管

具体实施方式

为让本发明更显而易懂，下文依本发明具测试架构的平面显示装置，特举实施例配合所附附图作详细说明，但所提供的实施例并不用以限制本发明所涵盖的范围。

图3为本发明第一实施例具测试架构的平面显示装置示意图。如图3所示，平面显示装置300包含下基板310、上基板390、以及夹置于下基板310与上基板390之间的液晶层(未显示)。上基板390为彩色滤光片，用来使平面显示装置300可显示彩色画面。下基板310包含可挠性印刷电路板接合区360、多数个源极驱动芯片设置区320、多数个栅极驱动芯片设置区340、多数条数据线330、多数条栅极线350、多数条短路配线325、水平总线335、垂直总线355、及影像显示区395。多数条数据线330及多数条栅极线350相互交叉地设置于影像显示区395，用来传输多数个数据信号及多数个栅极信号以显示影像。可挠性印刷电路板接合区360包含多数个连接垫365，而水平总线335及垂直总线355的多数条水平传输线及多数条垂直传输线即分别耦接至多数个对应连接垫365。源极驱动芯片设置区320与栅极驱动芯片设置区340分别用以设置源极驱动芯片(未显示)与栅极驱动芯片(未显示)。水平总线335及垂直总线355以阵列布线型式设置于下基板310的外引脚接合区。

每一条短路配线325设置于对应源极驱动芯片设置区320或对应栅极驱动芯片设置区340。设置于源极驱动芯片设置区320的短路配线325耦接于对应数据线330及水平总线335的对应水平传输线，设置于栅极驱动芯片设置区340的短路配线325耦接于对应栅极线350及垂直总线355的对应垂直传输线。在执行阵列测试或像素测试时，通常需要将多数个第一测试信号及多数个第二测试信号分别馈入至多数条数据线330及多数条栅极线350，用以检测阵列布线缺陷或像素异常颜色显示。因此在具测试架构的平面显示装置300中，多数个第一测试信号即从可挠性印刷电路板接合区360的多数个对应连接垫365馈入，经由水平总线335的多数条对应水平传输线及源极驱动芯片设置区320的多数条短路配线325而传送至多数条对应数据线330。此外，多数个第二测试信号则从可挠性印刷电路板接合区360的多数个对应连接垫365馈入，经由垂直总线355的多数条对应垂直传输线与栅极驱动芯片设置区340的多数条短路配线325而传送至多数条对应栅极线350。

由上述可知，本发明第一实施例具测试架构液的平面显示装置，并不需要设置多数个内部测试垫、多数条外部信号传输线、及多数个外部测试垫，所以在垂直传输线及水平传输线的布线设计中，不会形成与外部信号传输线相互交叉的走线状况，即可避免交叉短路的缺陷。另外，由于在下基板的外引脚接合区不需要设置多数个内部测试垫，所以不会限缩阵列布线的设置空间，即可降低布线阻抗以避免影响信号传输的准位。

图4为本发明第二实施例具测试架构的平面显示装置示意图。如图4所示，平面显示装置400在图3的平面显示装置300的下基板310中，另设置多数个测试垫370。在源极驱动芯片设置区320的每一条短路配线325包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可挠性印刷电路板接合区360的对应连接垫365，第二端耦合于对应测试垫370。同理，在栅极驱动芯片设置区340的每一条短路配线325包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可挠性印刷电路板接合区360的对应连接垫365，第二端耦合于对应测试垫370。所以在执行平面显示装置400的阵列测试或像素测试时，另可利用多数个探针从多数个测试垫370输入多数个第一测试信号及多数个第二测试信号，即每一条短路配线325的二端均馈入测试信号以避免测试信号衰减而影响检测准确性。相较于现有技术中的平面显示装置，本发明第二实施例的平面显示装置只设置少数的测试垫370以辅助测试信号输入，所以并不会显著限缩阵列布线的设置空间。除上述结构差异外，平面显示装置400的其余结构同于平面显示装置300的结构，所以不再赘述。

图5为本发明第三实施例具测试架构的平面显示装置示意图。如图5所示，平面显示装置500包含下基板510、上基板590、以及夹置于下基板510与上基板590之间的液晶层(未显示)。上基板590为彩色滤光片，用来使平面显示装置500可显示彩色画面。下基板510包含可挠性印刷电路板接合区560、多数个源极驱动芯片设置区520、多数个第一晶体管526、多数个第二晶体管527、多数个栅极驱动芯片设置区540、多数个第三晶体管528、多数个第四晶体管529、多数条数据线530、多数条栅极线550、多数条短路配线525、水平总线535、垂直总线555、及影像显示区595。多数条数据线530及多数条栅极线550相互交叉地设置于影像显示区595，用来传输多数个数据信号及多数个栅极信号以显示影像。可挠性印刷电路板接合区560包含多数个连接垫565，而水平总线535及垂直总线555的多数条水平传输线及多数条垂直传输线即分别耦接至多数个对应连接垫565。源极驱动芯片设置区520与栅极驱动芯片设置区540分别用以设置源极驱动芯片(未显示)与栅极驱动芯片(未显示)。水平总线535及垂直总线555以阵列布线型式设置于下基板510的外引脚接合区。

每一个源极驱动芯片设置区520设置多数条短路配线525、多数个第一晶体管526、及多数个第二晶体管527，其中多数条短路配线525包含多数条第一短路配线541及第二短路配线542。第一晶体管526包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第一短路配线541，第二端耦接于水平总线535的对应水平传输线，栅极端耦接于第二短路配线542。第二晶体管527包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第一短路配线541，第二端耦接于对应数据线530，栅极端耦接于第二短路配线542。请注意，多数个源极驱动芯片设置区520由水平总线535所串接，除了串接于最后的源极驱动芯片设置区520，其余源极驱动芯片设置区520的二侧边均设置有多数个第一晶体管526，而串接于最后的源极驱动芯片设置区520只有一侧边设置有多数个第一晶体管526。

每一个栅极驱动芯片设置区540设置多数条短路配线525、多数个第三晶体管528、及多数个第四晶体管529，其中多数条短路配线525包含多数条第三短路配线543及第四短路配线544。第三晶体管528包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第三短路配线543，第二端耦接于垂直总线555的对应垂直传输线，栅极端耦接于第四短路配线544。第四晶体管529包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第三短路配线543，第二端耦接于对应栅极线550，栅极端耦接于第四短路配线544。请注意，多数个栅极驱动芯片设置区540由垂直总线555所串接，除了串接于最后的栅极驱动芯片设置区540，其余栅极驱动芯片设置区540的二侧边均设置有多数个第三晶体管528，而串接于最后的栅极驱动芯片设置区540只有一侧边设置有多数个第三晶体管528。

在执行平面显示装置500的阵列测试或像素测试时，多数个第一测试信号即从可挠性印刷电路板接合区560的多数个对应连接垫565馈入，经由水平总线535的多数条对应水平传输线、多数个第一晶体管526、多数条第一短路配线541、及多数个第二晶体管527而传送至多数条对应数据线530。另有第一测试致能信号经由可挠性印刷电路板接合区560的对应连接垫565、水平总线535的对应水平传输线、及第二短路配线542而馈入至多数个第一晶体管526的栅极及多数个第二晶体管527的栅极，用以致能多数个第一晶体管526及多数个第二晶体管527。

此外，多数个第二测试信号则从可挠性印刷电路板接合区560的多数个对应连接垫565馈入，经由垂直总线555的多数条对应垂直传输线、多数个第三晶体管528、多数条第三短路配线543、及多数个第四晶体管529而传送至多数条对应栅极线550。另有第二测试致能信号经由可挠性印刷电路板接合区560的对应连接垫565、垂直总线555的对应垂直传输线、及第四短路配线544而馈入至多数个第三晶体管528的栅极及多数个第四晶体管529的栅极，用以致能多数个第三晶体管528及多数个第四晶体管529。

在完成阵列测试及像素测试后，贴附多数个源极驱动芯片及多数个栅极驱动芯片以执行影像显示时，第一测试致能信号被设为除能信号，使多数个第一晶体管526及多数个第二晶体管527均切换至截止状态，用以除能多数条第一短路配线541与多数条数据线530之间的信号传输功能，此外第二测试致能信号也被设为除能信号，使多数个第三晶体管528及多数个第四晶体管529均切换至截止状态，用以除能多数条第三短路配线543与多数条栅极线550之间的信号传输功能。因此平面显示装置500可在不受多数条第一短路配线541及多数条第三短路配线543的影响下，而执行正常影像显示操作。由上述可知，在本发明第三实施例平面显示装置的工艺中，并不需要利用激光切割工艺以切断多数条第一短路配线541与多数条数据线530之间的联机，及切断多数条第三短路配线543与多数条栅极线550之间的联机，所以可避免因进行激光切割工艺而产生微粒污染产品导致低产品输出率，此外，现有技术工艺所需的激光切割机台就可省略不用而降低生产成本。

在另一实施例中，图5的平面显示装置500的源极驱动芯片设置区520的内部布局为图6所示的布局。请参考图6，图6显示图5的平面显示装置的源极驱动芯片设置区的另一实施例内部布局示意图。如图6所示，源极驱动芯片设置区520包含多数个第一晶体管526、多数个第二晶体管527、多数条第一短路配线541、第二短路配线542、多数个第五晶体管546、及多数个接合垫521。多数个接合垫521用以耦合水平总线535的多数条对应水平传输线及源极驱动芯片，或用以耦合多数条对应数据线530及源极驱动芯片。第一晶体管526及第二晶体管527的耦接关系同上所述。第五晶体管546包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第一晶体管526的第一端，第二端耦接于水平总线535的对应水平传输线，栅极端耦接于第二短路配线542。同理，图5的平面显示装置500的栅极驱动芯片设置区540的内部布局也可如上述图6的源极驱动芯片设置区520的内部布局，而作均等变更。

在图6所示的实施例中，于执行阵列测试或像素测试时，每一条第一短路配线541可耦接于水平总线535的二条对应水平传输线，即第一测试信号可经由二条对应水平传输线，并行馈入至对应第一短路配线541，用以降低第一测试信号的传输衰减。在另一均等实施例中，于执行阵列测试或像素测试时，每一条第一短路配线541可耦接于水平总线535的多数条对应水平传输线，即第一测试信号可经由多数条对应水平传输线，并行馈入至对应第一短路配线541，用以降低第一测试信号的传输衰减。

图7为本发明第四实施例具测试架构的平面显示装置示意图。如图7所示，平面显示装置700在图5的平面显示装置500的下基板510中，另设置多数个测试垫570。在源极驱动芯片设置区520的每一条短路配线525包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可挠性印刷电路板接合区560的对应连接垫565，第二端耦合于对应测试垫570。同理，在栅极驱动芯片设置区540的每一条短路配线525包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可挠性印刷电路板接合区560的对应连接垫565，第二端耦合于对应测试垫570。此外，串接于最后的源极驱动芯片设置区520的二侧边，如同其余源极驱动芯片设置区520，均设置有多数个第一晶体管526，而串接于最后的栅极驱动芯片设置区540的二侧边，也如同其余栅极驱动芯片设置区540，均设置有多数个第三晶体管528。所以在执行平面显示装置700的阵列测试或像素测试时，另可利用多数个探针从多数个测试垫570输入多数个第一测试信号及多数个第二测试信号，即每一条短路配线525的二端均馈入测试信号以避免测试信号衰减而影响检测准确性。相较于现有技术中的平面显示装置，本发明第四实施例的平面显示装置只设置少数的测试垫570以辅助测试信号输入，所以并不会显著限缩阵列布线的设置空间。除上述结构差异外，平面显示装置700的其余结构同于平面显示装置500的结构，所以不再赘述。

图8为本发明第五实施例具测试架构的平面显示装置示意图。如图8所示，平面显示装置800包含下基板810、上基板890、以及夹置于下基板810与上基板890之间的液晶层(未显示)。上基板890为彩色滤光片，用来使平面显示装置800可显示彩色画面。下基板810包含可挠性印刷电路板接合区860、多数个源极驱动芯片设置区820、多数个第一晶体管827、多数个第二晶体管829、多数个栅极驱动芯片设置区840、多数条数据线830、多数条栅极线850、多数条第一短路配线841、第二短路配线842、多数条第三短路配线843、第四短路配线844、多数个测试垫870、水平总线835、垂直总线855、及影像显示区895。多数条数据线830及多数条栅极线850相互交叉地设置于影像显示区895，用来传输多数个数据信号及多数个栅极信号以显示影像。可挠性印刷电路板接合区860包含多数个连接垫865，而水平总线835及垂直总线855的多数条水平传输线及多数条垂直传输线即分别耦接至多数个对应连接垫865。源极驱动芯片设置区820与栅极驱动芯片设置区840分别用以设置源极驱动芯片(未显示)与栅极驱动芯片(未显示)。水平总线835及垂直总线855以阵列布线型式设置于下基板810的外引脚接合区。

第一晶体管827包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第一短路配线841，第二端耦接于对应数据线830，栅极端耦接于第二短路配线842。第二晶体管829包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应第三短路配线843，第二端耦接于对应栅极线850，栅极端耦接于第四短路配线844。第一短路配线841的两端均耦接于对应测试垫870，第三短路配线843的两端也均耦接于对应测试垫870。第二短路配线842包含第一端及第二端，其中第一端耦接于对应测试垫870，第二端经由垂直总线855的对应垂直传输线耦合于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865，即第二端耦接于栅极驱动芯片设置区840的对应垂直传输线，用以接收可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865所馈入的测试信号。第四短路配线844包含第一端及第二端，其中第一端耦接于对应测试垫870，第二端经由水平总线835的对应水平传输线耦合于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865，即第二端耦接于源极驱动芯片设置区820的对应水平传输线，用以接收可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865所馈入的测试信号。

在一实施例中，第一短路配线841可以只有一端耦接于对应测试垫870，第三短路配线843也可以只有一端耦接于对应测试垫870。第二短路配线842的第二端可以经由水平总线835的对应水平传输线耦合于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865，或直接耦接于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865。第四短路配线844的第二端可以经由垂直总线855的对应垂直传输线耦合于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865，或直接耦接于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865。在另一实施例中，第二短路配线842可以耦接于第四短路配线844，并均经由水平总线835的对应水平传输线或垂直总线855的对应垂直传输线耦合于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865，或均直接耦接于可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865。

在执行平面显示装置800的阵列测试或像素测试时，多数个第一测试信号即从多数个对应测试垫870馈入，经由多数条第一短路配线841及多数个第一晶体管827而传送至多数条对应数据线830。另有第一测试致能信号经由可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865、垂直总线855的对应垂直传输线、及第二短路配线842而馈入至多数个第一晶体管827的栅极，用以致能多数个第一晶体管827。此外，多数个第二测试信号则从多数个对应测试垫870馈入，经由多数条第三短路配线843及多数个第二晶体管829而传送至多数条对应栅极线850。另有第二测试致能信号经由可挠性印刷电路板接合区860的对应连接垫865、水平总线835的对应水平传输线、及第四短路配线844而馈入至多数个第二晶体管829的栅极，用以致能多数个第二晶体管829。

在完成阵列测试及像素测试后，贴附多数个源极驱动芯片及多数个栅极驱动芯片以执行影像显示时，第一测试致能信号被设为除能信号，使多数个第一晶体管827均切换至截止状态，用以除能多数条第一短路配线841与多数条数据线830之间的信号传输功能，此外第二测试致能信号也被设为除能信号，使多数个第二晶体管829均切换至截止状态，用以除能多数条第三短路配线843与多数条栅极线850之间的信号传输功能。因此平面显示装置800可在不受多数条第一短路配线841及多数条第三短路配线843的影响下，而执行正常影像显示操作。

由上述可知，在本发明第五实施例的平面显示装置的工艺中，并不需要利用激光切割工艺以切断多数条第一短路配线841与多数条数据线830之间的联机，及切断多数条第三短路配线843与多数条栅极线850之间的联机，所以可避免因进行激光切割工艺而产生微粒污染产品导致低产品输出率，此外，现有技术工艺所需的激光切割机台就可省略不用而降低生产成本。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (4)

1.一种具测试架构的平面显示装置，其特征在于，包含：

一基板，包含一可挠性印刷电路板接合区，该可挠性印刷电路板接合区包含多数个连接垫；

多数条传输线，设置于该基板上，每一条传输线耦接于该些连接垫的一对应连接垫；

多数条信号线，平行地设置于该基板上；

多数条短路配线，设置于该基板上；以及

多数个晶体管，设置于该基板上，每一个晶体管包含：

一第一端，耦接于该些短路配线的一对应短路配线；

一第二端，耦接于该些信号线的一对应信号线；以及

一栅极端，耦接于该些传输线的一栅极信号传输线；

一第一测试垫，设置于该基板上；

该栅极信号传输线一端耦接对应连接垫，另一端耦接第一测试垫。

2.根据权利要求1所述的平面显示装置，其特征在于，该基板另包含多数个驱动芯片设置区，该栅极信号传输线经由该些驱动芯片设置区的至少一个驱动芯片设置区耦接于该些连接垫的一对应连接垫。

3.根据权利要求1所述的平面显示装置，其特征在于，另包含：至少一第二测试垫，设置于该基板上，该第二测试垫耦接于该些短路配线的一对应短路配线。

4.根据权利要求1所述的平面显示装置，其特征在于，该些信号线为多数条数据线或多数条栅极线。

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