CN105511136A - 具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法，其可以防止可能在点灯测试中出现的块暗。该液晶显示装置包括在触摸面板的非显示区中的公共电压探针焊盘，该公共电压探针焊盘连接至公共电压输出焊盘并且比公共电压输出焊盘大。

Description

具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法
相关申请的交叉引用
本申请要求于2014年10月14日提交的韩国专利申请第10-2014-0138381号的权益，其通过引用合并到本文中如同在本文中完全阐述一样。
技术领域
本发明涉及具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法，并且更具体地涉及可以防止在点灯测试中可能出现块暗(blockdim)的具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法。
背景技术
近年来，除了显示图像的功能之外的许多功能已经被添加至液晶显示装置。例如具有触摸屏的液晶显示装置已经得到积极研究。
触摸屏已经应用于工业终端、笔记本电脑、银行自动柜员机、游戏机、监视器、移动电话等，并且由于触摸屏可以被任何人容易地操作，因此触摸屏已经得到更广泛使用。
根据感测方法可以将触摸屏分为电阻型、电容型和红外型。近来，具有轻薄优点的内嵌触摸型已经得到广泛使用。在这一点上，本发明的申请人已经提出了如下系统：在内嵌触摸型液晶显示装置中，在触摸感测周期内使用多个触摸电极作为触摸电极，并且在显示周期内使用多个触摸电极作为施加公共电压Vcom的公共电极。
在根据相关技术制造液晶显示装置的过程中，在液晶面板制造之后实施将驱动集成电路(IC)与挠性印刷电路(FPC)接合的模块步骤。在模块步骤之前实施点灯测试。根据相关技术的液晶显示装置包括在液晶面板的非显示区中的用于点灯测试的点灯测试开关元件TR，并且对数据线、栅极线和触摸布线实施点灯测试。例如，如图1中所示，在液晶面板中的其上安装有驱动IC的区(DIC区)设置有经由触摸布线5连接至触摸电极的焊盘PD、以及连接至焊盘PD的点灯测试开关元件TR。在点灯测试中，使点灯测试开关元件TR导通以响应于施加至其的使能信号EN，并且该点灯测试开关元件TR向焊盘PD提供公共电压Vcom。
上述具有触摸屏的液晶显示装置具有下面的问题。
第一，由于点灯测试开关元件TR的寄生电容而导致在测试公共电压Vcom中出现噪声，并且由于噪声导致出现块暗。
第二，仅对于实施点灯测试来说需要点灯测试开关元件TR，而在产品完成之后的显示周期内无需点灯测试开关元件TR。在产品完成之后，可能出现经由点灯测试开关元件TR的漏电流，而这可能导致公共电压Vcom的畸变并且由于公共电压的畸变而导致显示故障。
第三，可以考虑使用激光切割将焊盘PD与点灯测试开关元件TR断开的方法来防止经由点灯测试开关元件TR的漏电流，但是该方法具有如下问题：由于添加了步骤导致成本增加，以及当在随后的步骤中发现缺陷时，不能再次执行点灯测试。
发明内容
本发明旨在解决上述问题，并且本发明的一个目的是提供一种具有触摸屏的显示装置以及触摸面板的测试方法，其可以有助于对触摸布线进行点灯测试并且可以通过使得无需点灯测试开关元件来防止由于公共电压的畸变导致的块暗。
为了实现上述目的，根据本发明一个方面的具有触摸屏的液晶显示装置包括在触摸面板的非显示区中的公共电压探针焊盘，该公共电压探针焊盘连接至公共电压输出焊盘并且比公共电压输出焊盘大。
根据本发明另一方面的触摸面板的测试方法包括：制备触摸面板，该触摸面板具有在非显示区中的公共电压探针焊盘，该公共电压探针焊盘连接至公共电压输出焊盘并且比公共电压输出焊盘大；以及使夹具杆接触公共电压探针焊盘，并且向公共电压探针焊盘施加测试信号。
本发明提供了以下优点。
根据本发明的具有触摸屏的液晶显示装置包括公共电压探针焊盘，该公共电压探针焊盘连接至公共电压输出焊盘并且比公共电压输出焊盘大。液晶显示装置包括夹具杆，该夹具杆作为用于向公共电压输出焊盘施加公共电压的工具。可以通过使夹具杆直接接触公共电压探针焊盘来向触摸布线施加公共电压。因此，可以有助于触摸布线的点灯测试，并且使得无需用于点灯测试的具体开关元件。因此，可以防止由于开关元件导致的公共电压的畸变以及由于公共电压的畸变导致的块暗。
除了上述优点之外，下面将描述本发明的其他特征和优点，或者根据描述和说明，本领域技术人员可以清楚理解本发明的其他特征和优点。
附图说明
本申请包括附图以提供对本发明的进一步理解并且附图被并入本申请中并构成本申请的一部分，附图示出本发明的实施方案，并且与描述一起用于说明本发明的原理。在附图中：
图1是示出根据相关技术的触摸布线的点灯测试方法的图；
图2是示出根据本发明一个实施方案的液晶显示装置的配置的图；
图3是示出液晶面板的非显示区中的其上安装有驱动IC的区的平面图；
图4是示意性示出图3中所示的驱动IC的安装区的配置的图；
图5是示意性示出图3和图4中所示的公共电压输出焊盘部和公共电压点灯测试部的平面图；
图6是沿图2中的线A-A′和图5中的线B-B′截取的触摸面板的截面图；
图7是示出布置在驱动IC的安装区外部的第二焊盘的图；
图8是示出根据本发明一个实施方案的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图；
图9是示意性示出根据本发明另一实施方案的公共电压输出焊盘部和公共电压点灯测试部的平面图；
图10是示出图9中所示的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图；以及
图11是示出图9中所示的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图。
具体实施方式
本说明书中所述的术语应当理解如下。应理解，单数的术语可以包括两个或更多个元件，除非被不同地描述。诸如“第一”和“第二”的术语可以用于区分一个元件与另一个元件，并且本发明的范围不应当受限于这些术语。应当理解，诸如“包括”和“具有”的术语没有排除一个或更多个其他不同的特征、数目、步骤、操作、元件、部件、或其组合的存在或添加的可能性。还应理解，术语“至少一个”包括一个或更多个相关项的所有可能组合。例如，表达“第一项、第二项和第三项中的至少之一”表示来自第一项、第二项和第三项中的两个或更多个的项所有可能组合以及第一项、第二项和第三项中的每个项。术语“在...上”包括第三元件介于其间的情况以及一个元件直接形成在另一元件上的情况。
在下文中，将参照附图详细描述根据本发明的示例性实施方案的具有触摸屏的液晶显示装置以及触摸面板的测试方法。
图2是示出根据本发明一个实施方案的液晶显示装置的配置的图。
参照图2，根据本发明的实施方案的液晶显示装置包括作为触摸面板的液晶面板10。即，液晶面板10具有形成在其中的触摸面板，并且在下面的描述中液晶面板10表示触摸面板。
液晶面板10包括形成在两个基板之间的液晶层。基板可以是玻璃基板、塑料基板、膜基板等。
液晶面板10的上基板上形成有黑色矩阵、滤色器等。液晶面板10的上基板和下基板附接有偏振片，并且在将与液晶层接触的内表面中形成有用于设定液晶预倾角的对准层。在液晶面板10的上基板和下基板之间形成有用于保持液晶盒的盒间隙的间隔物。形成在液晶面板10的下基板上的像素阵列包括数据线、与数据线交叉的栅极线、以及布置成矩阵形状的像素。像素阵列还包括形成在数据线与栅极线的交叉部处的多个薄膜晶体管(TFT)、以及连接至TFT的像素电极PXL、以及连接至像素电极PXL以保持像素电压的存储电容器。包括在每个像素中的液晶盒根据施加至像素电极PXL的数据电压以及施加至公共电极20的公共电压来调节入射光的透射量。
液晶面板10的公共电极20还用作触摸电极。即，公共电极20提供有公共电压以在显示周期内驱动液晶盒，并且提供有驱动脉冲以在触摸感测周期内感测用户的触摸。因此，在下面描述中的触摸电极20表示在显示周期内提供有公共电压Vcom的公共电极。因此，本发明没有提供任何特定的触摸电极，并且因此可以减小液晶面板的厚度。
如图2中所示，触摸电极20设置在液晶面板10的下基板上以与像素电极PXL交叠。每个触摸电极20的尺寸可以比每个像素的面积大。触摸电极20以一对一的方式连接至多个触摸布线30，并且连接至驱动集成电路(IC)40。
驱动IC40安装在液晶面板10的非显示区上以驱动液晶面板10。驱动IC40包括：驱动数据线的数据驱动电路、驱动栅极线的栅极驱动电路、控制数据驱动电路和栅极驱动电路的定时控制电路、驱动触摸布线30以感测用户的触摸的触摸感测电路、以及供电电路。
在由本发明的申请人已提出的韩国专利特开公报第10-2013-0129620号、韩国专利特开公报第10-2013-0132061号、韩国专利特开公报第10-2013-0132197号、以及韩国专利第10-1330320号中公开了驱动IC40的触摸感测电路感测触摸的配置和方法，因此将不重复其详细描述。
另一方面，在液晶面板10的非显示区中设置有焊盘部。焊盘部包括设置在液晶面板10的周边区中的输入焊盘部和设置在驱动IC40的安装区中以与驱动IC40的输入凸起和输出凸起接触的凸起焊盘部。
下面将具体描述将与驱动IC40的凸起接触的凸起焊盘部。
图3是示出液晶面板10的非显示区中的其中安装有驱动IC40的区域的平面图。图4是示意性示出图3中所示的驱动IC40的安装区的配置的图。
参照图3和图4，在液晶面板10中的驱动IC40的安装区130包括输入焊盘部IPP和输出焊盘部OPP。
输入焊盘部IPP包括设置在驱动IC40的安装区130的一侧上并且接触驱动IC40的输入凸起的多个输入焊盘IP。所述多个输入焊盘IP经由多条连接线(未示出)连接至输入焊盘，并且将来自FPCB的信号提供至驱动IC40。在此，所述多个输入焊盘IP可以以预定间隔平行布置或者可以布置成具有之字形的多个列。
输出焊盘部OPP包括设置在驱动IC40的安装区130的另一侧上并且接触驱动IC40的输出凸起的多个输出焊盘部。所述多个输出焊盘部包括第一栅极输出焊盘部GOPP1、数据输出焊盘部DOPP、公共电压输出焊盘部COPP、以及第二栅极输出焊盘部GOPP2。在此，构成输出焊盘部OPP的焊盘可以以预定间隔平行布置或者可以布置成具有之字形的多个列。
第一栅极输出焊盘部GOPP1包括多个第一栅极输出焊盘GOP1。第一栅极输出焊盘GOP1电连接至与形成在下基板上的所述多条栅极线中的一半栅极线对应的第一栅极线组。第一栅极输出焊盘GOP1电连接至形成在驱动IC40中的多个栅极输出凸起(未示出)，并且将来自驱动IC40的栅极信号输出提供至第一栅极线组。
第二栅极输出焊盘部GOPP2包括多个第二栅极输出焊盘GOP2。第二栅极输出焊盘GOP2电连接至形成在下基板上的栅极线中的第二栅极线组而不是第一栅极线组。第二栅极输出焊盘GOP2电连接至形成在驱动IC40中的多个栅极输出凸起(未示出)，并且将来自驱动IC40的栅极信号输出提供至第二栅极线组。
数据输出焊盘部DOPP设置在第一栅极输出焊盘部GOPP1和第二栅极输出焊盘部GOPP2之间，并且包括多个数据输出焊盘DOP。数据输出焊盘DOP电连接至形成在下基板上的数据线。数据输出焊盘DOP电连接至形成在驱动IC40中的多个数据输出凸起(未示出)，并且将来自驱动IC40的数据信号输出提供至数据线。
公共电压输出焊盘部COPP包括设置在第二栅极输出焊盘部GOPP2和数据输出焊盘部DOPP之间的多个公共电压输出焊盘PD1。公共电压输出焊盘PD1电连接至形成在下基板上的所述多个触摸布线30。公共电压输出焊盘PD1电连接至形成在驱动IC40中的多个公共电压输出焊盘(未示出)，并且将公共电压或者来自驱动IC40的触摸驱动信号输出提供至触摸布线30。
另一方面，栅极线、用于检验数据线故障的发光检测部140、以及触摸布线设置在输入焊盘部IPP和输出焊盘部OPP之间。点灯测试部140包括：用于对栅极线执行点灯测试的栅极点灯测试部A、用于对数据线执行点灯测试的数据点灯测试部B、以及用于对数据线执行点灯测试的公共电压点灯测试部C。
栅极点灯测试部A包括多个栅极TFTGT。所述多个栅极TFTGT被切换以在点灯测试步骤中响应于第一栅极使能信号和第二栅极使能信号，以使得有选择地将第一栅极测试信号至第四栅极测试信号提供至栅极线GL1至栅极线GLm，并且使形成在显示区110中的像素的TFT导通。为了这个目的，栅极TFTGT连接至多个栅极自动探针焊盘152并且向第一栅极输出焊盘部GOPP1和第二栅极输出焊盘部GOPP2提供由栅极自动探针焊盘提供的栅极测试信号。
栅极自动探针焊盘152包括设置在驱动IC40的安装区130外部的第一至第六栅极探针焊盘152a、152b、152c、152d、152e和152f。第一栅极探针焊盘152a和第二栅极探针焊盘152b在点灯测试步骤中向栅极TFTGT提供来自测试夹具的栅极使能信号。第三至第六栅极探针焊盘152c、152d、152e和152f向栅极TFTGT提供在点灯测试步骤中由测试夹具提供的栅极测试信号。
数据点灯测试部B包括多个数据TFTDT。数据TFTDT被切换以在点灯测试步骤中响应于与栅极TFTGT的切换同步的数据使能信号，以使得向数据线提供数据测试信号以检验像素的驱动。为了这个目的，数据TFTDT连接至多个数据自动探针焊盘154，并且向数据输出焊盘部DOPP提供由数据自动探针焊盘154提供的数据测试信号。
数据自动探针焊盘154包括设置在驱动IC40的安装区130外部的第一至第四数据探针焊盘154a、154b、154c和154d。第一数据探针焊盘154a向数据TFTDT提供在点灯测试步骤中由测试夹具提供的数据使能信号。第二至第四探针焊盘154b、154c和154d向数据TFTDT提供在点灯测试步骤中由测试夹具提供的不同的数据测试信号。
公共电压点灯测试部C包括设置在公共电压输出焊盘部COPP和输入焊盘部IPP之间的多个公共电压探针焊盘PD2。公共电压探针焊盘PD2向公共电压输出焊盘PD1提供在点灯测试步骤中由测试夹具提供的公共电压。
具体地，如图3中所示，本发明的特征在于公共电压探针焊盘PD2比公共电压输出焊盘PD1大。例如，在每个公共电压输出焊盘PD1的水平长度D1为14.7μm并且每个公共电压输出焊盘PD1的垂直长度D2为95μm的情况下，每个公共电压探针焊盘PD2的水平长度D3可以为38μm并且每个公共电压探针焊盘PD2的垂直长度D4为140μm。
根据本发明，可以将夹具杆JB设置为用于向公共电压输出焊盘PD1施加公共电压的工具，并且可以使夹具杆JB直接接触公共电压探针焊盘PD2。因此，根据本发明，可以有助于对触摸布线的点灯测试并且使得无需用于对触摸布线进行点灯测试的特定开关元件。因此，可以防止由于开关元件导致的公共电压的畸变以及由于公共电压的畸变导致的块暗。
下面将从触摸面板的角度具体描述用于点灯测试的配置以及使用该配置的点灯测试方法。为了方便说明的目的，公共电压输出焊盘PD1称为第一焊盘PD1，并且公共电压探针焊盘PD2称为第二焊盘PD2。
图5是示意性示出图3和图4中所示的公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C的平面图。
参照图5，触摸布线30在驱动IC40的安装区中延伸，并且触摸布线30连接至第一焊盘PD1。即，第一焊盘PD1经由触摸布线30连接至触摸电极20。
另一方面，第二焊盘PD2设置为在驱动IC40的安装区内部的公共电压点灯测试部C。在此，第二焊盘PD2比第一焊盘PD1大。这是为了在点灯测试步骤中通过使夹具杆JB直接接触第二焊盘PD2向触摸布线30施加公共电压。
第二焊盘PD2经由触摸布线30的延伸部50电连接至第一焊盘PD1。下面将更具体地描述第一焊盘PD1和第二焊盘PD2的连接结构。
图6是沿图2中的线A-A′和图5中的线B-B′截取的液晶面板的截面图。
参照图6，液晶面板10的每个像素设置有连接至相应的栅极线和相应的数据线的TFT。
TFT包括连接至栅极线的栅电极G、连接至数据线的源电极S、以及与源电极S分离的漏电极D。TFT包括在源电极S与漏电极D之间形成沟道的有源层ACT、以及设置在源电极S与有源层ACT之间、以及漏电极D与有源层ACT之间的欧姆层OHM。
使TFT导通以响应于向栅电极G提供的栅极信号，并且向相应的像素电极PXL提供在导通时由数据线提供的数据信号。
像素电极PXL形成在覆盖TFT的第二保护层58上。像素电极PXL经由穿透第二保护层58的像素接触孔连接至漏电极D。
在像素电极PXL上形成有覆盖像素电极PXL的第一绝缘膜60，并且触摸布线30形成在第一绝缘膜60上。在触摸布线30上形成有覆盖触摸布线30的第二绝缘膜62，并且触摸电极20形成在第二绝缘膜62上。触摸电极20经由穿透第二绝缘膜的公共电压接触孔电连接至触摸布线30。
另一方面，下面将基于液晶面板10的堆叠结构来描述公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C。
首先，在公共电压输出焊盘部COPP中设置有触摸布线30，触摸布线30设置在第一绝缘膜60上并且从像素延伸出。触摸布线30延伸以与第一焊盘PD1交叠，进一步从与第一焊盘PD1的交叠部延伸出并与第二焊盘PD2交叠。即，触摸布线30延伸以与第一焊盘PD1和第二焊盘PD2交叠。
第一焊盘PD1设置在第二绝缘膜62上并且经由穿透第二绝缘膜62的第一接触孔电连接至触摸布线30。第二焊盘PD2设置在第二绝缘膜62上并且经由穿透第二绝缘膜62的第二接触孔电连接至触摸布线30。
在上述实施方案中，第二焊盘PD2设置在驱动lC40的安装区内部，但是第二焊盘PD2可以设置在驱动IC40的安装区外部，如图7中所示。在这种情况下，可以将第二焊盘PD2设计成更大，并因此有助于点灯测试步骤。相反地，在如上述实施方案中第二焊盘PD2设置在驱动lC40的安装区内部的情况下，可以减小非显示区的面积，并且因此有助于窄边框的设计。
图8是示出根据本发明一个实施方案的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图。具体地，图8示出根据本发明实施方案的公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C。
参照图8，根据实施方案的点灯测试方法包括下面的步骤。
首先，制备包括有在驱动IC40的安装区中的公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C的触摸面板。
随后，在公共电压点灯测试部C的第二焊盘PD2上方设置测试夹具杆JB。此时，测试夹具杆JB设置为与所述多个第二焊盘PD2交叠。
然后，降低夹具杆JB以使夹具杆JB接触第二焊盘PD2，并且经由夹具杆JB向所述多个第二焊盘PD2施加作为测试信号的公共电压。
在这种情况下，可以以混合型来施加公共电压。即，在本发明中，可以通过经由夹具杆JB向所述多个第二焊盘PD2施加公共电压并且使多个夹具销JP(其以一对一的方式与所述多个第一焊盘PD1对应)接触所述多个第一焊盘PD1来经由夹具销JP施加公共电压。在这种情况下，由于对触摸布线30进行的点灯测试步骤在公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C中同时执行，因此可以更精确地执行该测试。
图9是示意性示出根据本发明另一实施方案的公共电压输出焊盘部COPP和公共电压点灯测试部C的平面图。图10是示出图9中所示的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图。图11是示出图9中所示的触摸面板的点灯测试方法的触摸面板的立体图。
参照图9，在根据本发明另一实施方案的触摸面板中，形成有多个第一焊盘PD1并分为第一组B1和第二组B2。形成有多个第二焊盘PD2并分为第三组B3和第四组B4。
即，在本发明中，第一焊盘PD1可以分为第一组B1和第二组B2，并且在点灯测试步骤中可以向第一组B1和第二组B2施加不同的公共电压。这是为了检验邻近的触摸布线30之间的短路以及触摸布线30之间的断开。为了这个目的，第一组B1至第四组B4配置为如下。
第一焊盘PD1的第一组B1可以包括设置在第一焊盘PD1中的奇数编号的位置处的多个第一输出焊盘PD1a。第一组B1电连接至与触摸布线30的一半对应的第一触摸布线组。
第一焊盘PD1的第二组B2可以包括设置在第一焊盘PD1中的偶数编号的位置处的多个第二输出焊盘PD2a。第二组B2电连接至在触摸布线30中的第二触摸布线组而不是第一触摸布线组。
参照图9和图10，第二焊盘PD2的第三组B3可以包括设置在第二焊盘PD2中的第一列中的多个第一测试焊盘PD2a。第三组B3以一一对应的方式连接至第一组B1，并且向第一组B1提供在点灯测试步骤中由第一夹具杆JB1提供的第一公共电压。此时，以混合方式，多个夹具销JP可以直接接触第一组B1，并且第一公共电压可以经由夹具销JP提供至第一组B1。
参照图9和图10，第二焊盘PD2的第四组B4可以包括设置在第二焊盘PD2中的第二列中的多个第二测试焊盘PD2b。第四组B4以一一对应的方式连接至第二组B2，并且向第二组B2提供在点灯测试步骤中由第二夹具杆JB2提供的第二公共电压。此时，以混合方式，多个夹具销JP可以直接接触第二组B2，并且第二公共电压可以经由夹具销JP提供至第二组B2。
如以上详细描述的，在本发明中，形成了连接至公共电压输出焊盘PD1并且比公共电压输出焊盘PD1大的公共电压探针焊盘PD2。在本发明中，可以将夹具杆JB设置为用于在点灯测试步骤中向公共电压输出焊盘PD1施加公共电压的工具，并且可以通过使夹具杆JB直接接触公共电压探针焊盘PD2来向触摸布线施加公共电压。因此，可以有助于对触摸布线的点灯测试并且使得无需用于对触摸布线进行点灯测试的开关元件。因此，可以防止由于开关元件导致的公共电压的畸变以及由于公共电压的畸变导致的块暗。
虽然上面已经参照附图描述了本发明的实施方案，但是本发明不限于所述实施方案，并且本发明可以在不脱离本发明的技术精神的情况下以各种方式进行修改。因此，所提供的本发明的上述实施方案不是用于限定本发明的技术精神，而是用于说明本发明的技术精神，并且本发明的范围不限于所述实施方案。因此，应当理解，上述实施方案从所有角度来看均是示例性的并且不是限制性的。应当理解，本发明的范围仅由所附权利要求来限定，并且等同于所附权利要求的所有技术构思包括在本发明的范围内。

Claims (14)

1.一种触摸面板，包括：
设置在基板上的触摸电极；
经由触摸布线连接至所述触摸电极的第一焊盘；以及
经由所述触摸布线的延伸部连接至所述第一焊盘的第二焊盘，
其中所述第二焊盘比所述第一焊盘大。
2.根据权利要求1所述的触摸面板，还包括安装在所述基板上的驱动集成电路(IC)，
其中所述第一焊盘连接至所述驱动IC的输出凸起，以及所述第二焊盘设置在所述驱动IC的安装区内部。
3.根据权利要求1所述的触摸面板，还包括安装在所述基板上的驱动集成电路(IC)，
其中所述第一焊盘连接至所述驱动IC的输出凸起，以及所述第二焊盘设置在所述驱动IC的安装区外部。
4.根据权利要求1所述的触摸面板，其中设置有多个所述第一焊盘并且所述多个第一焊盘分为第一组和第二组；以及
其中设置有多个所述第二焊盘并且所述多个第二焊盘分为连接至所述第一组的第三组和连接至所述第二组的第四组。
5.一种具有触摸屏的液晶显示装置，包括：
连接至设置在基板上的TFT的像素电极；
设置在所述像素电极上的触摸电极；
经由触摸布线连接至所述触摸电极的第一焊盘；以及
经由所述触摸布线的延伸部连接至所述第一焊盘的第二焊盘，
其中所述第二焊盘比所述第一焊盘大。
6.根据权利要求5所述的具有触摸屏的液晶显示装置，还包括安装在所述基板上的驱动集成电路(IC)，
其中所述第一焊盘连接至所述驱动IC的输出凸起，以及所述第二焊盘设置在所述驱动IC的安装区内部。
7.根据权利要求5所述的具有触摸屏的液晶显示装置，还包括安装在所述基板上的驱动集成电路(IC)，
其中所述第一焊盘连接至所述驱动IC的输出凸起，以及所述第二焊盘设置在所述驱动IC的安装区外部。
8.根据权利要求5所述的具有触摸屏的液晶显示装置，其中设置有多个所述第一焊盘并且所述多个第一焊盘分为第一组和第二组；以及
其中设置有多个所述第二焊盘并且所述多个第二焊盘分为连接至所述第一组的第三组和连接至所述第二组的第四组。
9.根据权利要求7或8所述的具有触摸屏的液晶显示装置，其中所述驱动IC在显示周期内向所述第一焊盘施加公共电压，以及
其中所述驱动IC在触摸感测周期内向所述第一焊盘施加触摸驱动信号。
10.根据权利要求5所述的具有触摸屏的液晶显示装置，其中所述触摸布线和所述触摸布线的所述延伸部设置在覆盖所述像素电极的第一绝缘膜上，以及
其中所述触摸电极以及所述第一和第二焊盘设置在覆盖所述第一绝缘膜的第二绝缘膜上。
11.一种触摸面板的点灯测试方法，包括：
制备触摸面板，所述触摸面板包括设置在基板上的触摸电极、经由触摸布线连接至所述触摸电极的第一焊盘、以及经由所述触摸布线的延伸部连接至所述第一焊盘的第二焊盘，并且其中所述第二焊盘比所述第一焊盘大；
在所述第二焊盘上方设置夹具杆；以及
使所述夹具杆接触所述第二焊盘并且向所述第二焊盘施加测试信号。
12.根据权利要求11所述的点灯测试方法，还包括：
在所述第一焊盘上设置夹具销；以及
使所述夹具销接触所述第一焊盘并且向所述第一和第二焊盘施加相同的测试信号。
13.根据权利要求11所述的点灯测试方法，其中使所述夹具杆接触所述第二焊盘包括使所述夹具杆接触多个所述第二焊盘。
14.根据权利要求11所述的点灯测试方法，其中所述制备触摸面板包括：形成多个所述第一焊盘，以将所述多个所述第一焊盘分为第一组和第二组；以及形成多个所述第二焊盘，以将所述多个所述第二焊盘分为连接至所述第一组的第三组和连接至所述第二组的第四组，以及
其中所述向所述第二焊盘施加测试信号包括：使第一夹具杆接触所述第三组的所述第二焊盘，向所述第二焊盘施加第一测试信号，使第二夹具杆接触所述第四组的所述第二焊盘；以及向所述第二焊盘施加第二测试信号。
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