TWI588502B - 觸控面板、具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法 - Google Patents

觸控面板、具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法 Download PDF

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Description

觸控面板、具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法
本發明係關於一種具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法，特別是一種可避免照明測試（lighting test）中出現暗塊（block dim）之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法。
近年來，除影像之顯示功能以外的各種功能已被加入液晶顯示裝置。舉個例子，業界已經主動研究具有觸控螢幕之液晶顯示裝置。
觸控螢幕已經越來越多地被應用到工業終端、膝上型電腦、銀行自動化機器、競賽機、監視器、行動電話等，因為觸控螢幕可方便地被任何人操縱，所以已經被使用地更加廣泛。
觸控螢幕可根據感測方法被分類為電阻式、電容式與紅外式。近年來，內嵌觸控式（in-cell touch type）因為具有薄的優點已經被廣泛使用。就這一點而言，本發明提出一種系統，在內嵌觸控式液晶顯示裝置中，在觸控感測週期中使用複數個觸控電極作為觸控電極，以及在顯示週期中使用複數個觸控電極作為被施加共同電壓Vcom之共同電極。
習知技術之液晶顯示裝置之製造製程中，在製造液晶面板以後，進行接合驅動積體電路與撓性印刷電路之模組步驟（module step）。在此模組步驟前進行照明測試。習知技術之液晶顯示裝置包含照明測試開關元件TR，位於液晶面板之非顯示區域中用於照明測試，在資料線、閘極線與觸控選路線上進行照明測試。舉個例子，如第1圖所示，液晶顯示面板中其上裝設有驅動積體電路之驅動積體電路區域具有經由觸控選路線5連接觸控電極的墊PD以及與墊PD連接的照明測試開關元件TR。照明測試開關元件TR被打開以回應照明測試中施加於此的賦能訊號EN，以及供應共同電壓Vcom至墊PD。
具有觸控螢幕之上述液晶顯示裝置存在以下問題。
首先，由於照明測試開關元件TR的寄生電容的緣故，共同電壓Vcom的測試中出現雜訊，由於此雜訊的緣故出現暗塊。
第二，僅僅在進行照明測試時需要照明測試開關元件TR，完成產品以後在顯示週期中不需要照明測試開關元件TR。完成產品以後，可能出現經由照明測試開關元件TR的泄露電流，導致共同電壓Vcom的畸變，以及由於共同電壓Vcom的畸變所導致的顯示故障。
第三，可考慮使用雷射切割將墊PD與照明測試開關元件TR斷開連接之方法，以避免經由照明測試開關元件TR之泄露電流，但是這種方法存在問題，因為增加步驟導致成本增加，以及當在後續步驟中發現缺陷時無法再次執行照明測試。
本發明係用於解決上述問題，其目的在於提供一種具有觸控螢幕之顯示裝置與觸控面板之測試方法，可便於觸控選路線上的照明測試，以及透過使得照明測試開關元件不必要而避免共同電壓之畸變所導致的暗塊。
為了獲得上述目的，本發明一方面的具有觸控螢幕的液晶顯示裝置包含位於觸控面板的非顯示區域中的共同電壓探針墊，與共同電壓輸出墊連接且大於共同電壓輸出墊。
本發明另一方面之觸控面板之測試方法包含︰準備觸控面板，觸控面板具有位於非顯示區域中的共同電壓探針墊，共同電壓探針墊連接共同電壓輸出墊且比共同電壓輸出墊大；以及使得架導條接觸共同電壓探針墊且施加測試訊號至共同電壓探針墊。
本發明提供以下優點。
本發明具有觸控螢幕之液晶顯示裝置包含共同電壓探針墊，與共同電壓輸出墊連接且比共同電壓輸出墊大。液晶顯示裝置包含架導條作為將共同電壓施加到共同電壓輸出墊的工具。透過將架導條與共同電壓探針墊直接接觸，可將共同電壓施加到觸控選路線。因此，可能方便觸控選路線的照明測試，以及使得用於開關元件的特定開關元件不必要。結果，可能避免開關元件所導致的共同電壓的畸變與共同電壓的畸變所導致的暗塊。
除上述優點以外，以下描述本發明的其他特徵與優點，或者本領域之技術人員從描述與解釋中可清楚地理解本發明的其他特徵與優點。
本說明書中描述的術語應該理解如下。除非異常提及，單數術語應該理解為可能包含兩個或多個元件。術語例如「第一」與「第二」可用於將一個元件與另一元件區分開來，以及本發明的範圍不應該受到這些術語的限制。應該理解的是術語例如「包含」與「具有」不排除存在或添加一或多個其他不同特徵、數目、步驟、作業、元件、部件或其組合之可能性。還應該理解的是術語「至少一個」包含一或多個相關項之全部可能組合。舉個例子，表述「第一項、第二項與第三項至少其一」意味著第一項、第二項與第三項之兩個或多個以及第一項、第二項與第三項之每一個的全部可能組合。術語「…之上」包含兩者之間插入第三元件的情況以及一個元件直接形成於另一元件上的情況。
以下，將結合附圖詳細描述本發明代表性實施例之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置與觸控面板之測試方法。
第2圖為本發明實施例之液晶顯示裝置之配置之示意圖。
請參考第2圖，本發明實施例之液晶顯示裝置包含液晶面板10作為觸控面板。就是說，液晶面板10具有建立於其中的觸控面板，以下描述中液晶面板10意味著觸控面板。
液晶面板10包含形成於兩塊基板之間的液晶層。基板為玻璃基板、塑膠基板、膜基板等。
黑色矩陣、彩色濾光片等形成於液晶面板10之上基板之上。偏光板被接合到液晶面板10的上基板與下基板，以及用於設定液晶的傾斜角的配向層形成於內表面中接觸液晶層。用於維持液晶盒之盒間隙（cell gap）之間隔物形成於液晶面板10的上基板與下基板間。形成於液晶面板10的下基板上的畫素陣列包含資料線、與資料線交叉的閘極線以及排列為矩陣形式的畫素。畫素陣列更包含形成於資料線與閘極線的交叉處的複數個薄膜電晶體、與薄膜電晶體連接的畫素電極PXL，以及與畫素電極PXL連接以維持畫素電壓之儲存電容器。根據施加到畫素電極PXL的資料電壓與施加到觸控電極20的共同電壓，每一畫素中包含的液晶盒調整透射的入射光的數量。
液晶面板10的觸控電極20還用作共同電極。就是說，觸控電極20在顯示週期中被供應共同電壓以驅動液晶盒，以及在觸控感測週期中被供應驅動脈衝以感測使用者之觸碰。因此，以下描述中觸控電極20意味著顯示週期中被供應共同電壓Vcom的共同電極。因此，本發明未提供一些特定的觸控電極，由此可減少液晶面板的厚度。
如第2圖所示，觸控電極20被放置於液晶面板10的下基板上，以與畫素電極PXL重疊。每一觸控電極20的大小比每一畫素的面積大。觸控電極20以一對一的方式連接複數條觸控選路線30以及連接驅動積體電路（IC）40。
驅動積體電路40被裝設於液晶面板10的非顯示區域上以驅動液晶面板10。驅動積體電路40包含驅動資料線的資料驅動電路、驅動閘極線的閘極驅動電路、控制資料驅動電路與閘極驅動電路的時序控制電路、驅動觸控選路線30以感測使用者的觸碰的觸控感測電路，以及電源電路。
本案申請人所提出的韓國專利申請公開號10-2013-0129620、韓國專利申請公開號10-2013-0132061、韓國專利申請公開號10-2013-0132197以及韓國專利號10-1330320中揭露了驅動積體電路40的觸控感測電路感測觸碰的配置與方法，因此不再重複其詳細描述。
另一方面，墊部份被放置於液晶面板10的非顯示區域中。墊部份包含放置於液晶面板10的周邊區域中的輸入墊部份與放置於驅動積體電路40的安裝區域中的凸塊墊部份，從而接觸驅動積體電路40的輸入與輸出凸塊（bump）。
以下特別描述與驅動積體電路40的凸塊接觸的凸塊墊部份。
第3圖為液晶面板10之非顯示區域中裝設驅動積體電路40的區域的平面示意圖。第4圖為第3圖所示的驅動積體電路40之裝設區域之配置之示意圖。
請參考第3圖與第4圖，液晶面板10中驅動積體電路40的裝設區域130包含輸入墊部份IPP與輸出墊部份OPP。
輸入墊部份IPP包含複數個輸入墊IP，被放置於驅動積體電路40的裝設區域130的一側上且接觸驅動積體電路40的輸入凸塊。複數個輸入墊IP將從撓性印刷電路板（FPCB）輸出的訊號供應至驅動積體電路40。這裡，複數個輸入墊IP依照預定間隔平行排列或者排列為具有鋸齒形狀的複數欄。
輸出墊部份OPP包含複數個輸出墊部份，被放置於驅動積體電路40的裝設區域130的另一側上且接觸驅動積體電路40的輸出凸塊。複數個輸出墊部份包含第一閘極輸出墊部份GOPP1、資料輸出墊部份DOPP、共同電壓輸出墊部份COPP與第二閘極輸出墊部份GOPP2。這裡，組成輸出墊部份OPP的墊依照預定間隔平行排列或者排列為具有鋸齒形狀的複數欄。
第一閘極輸出墊部份GOPP1包含複數個第一閘極輸出墊GOP1。第一閘極輸出墊GOP1電連接第一閘極線群組，第一閘極線群組對應下基板上形成的複數條閘極線的一半。第一閘極輸出墊GOP1電連接驅動積體電路40中形成的複數個閘極輸出凸塊（圖中未表示），以及將驅動積體電路40輸出的閘極訊號供應到第一閘極線群組。
第二閘極輸出墊部份GOPP2包含複數個第二閘極輸出墊GOP2。第二閘極輸出墊GOP2電連接下基板上形成的閘極線中的第二閘極線群組而非第一閘極線群組。第二閘極輸出墊GOP2電連接驅動積體電路40中形成的複數個閘極輸出凸塊（圖中未表示），以及將驅動積體電路40輸出的閘極訊號供應至第二閘極線群組。
資料輸出墊部份DOPP被放置於第一閘極輸出墊部份GOPP1與第二閘極輸出墊部份GOPP2之間，以及包含複數個資料輸出墊DOP。資料輸出墊DOP電連接下基板上形成的資料線。資料輸出墊DOP電連接驅動積體電路40中形成的複數個資料輸出凸塊（圖中未表示），以及將驅動積體電路40輸出的資料訊號供應至資料線。
共同電壓輸出墊部份COPP包含第一墊PD1（複數個共同電壓輸出墊），被放置於第二閘極輸出墊部份GOPP2與資料輸出墊部份DOPP之間。第一墊PD1電連接下基板上形成的複數個觸控選路線30。第一墊PD1電連接驅動積體電路40中形成的複數個共同電壓輸出凸塊（圖中未表示），以及將驅動積體電路40輸出的共同電壓或觸控驅動訊號供應至觸控選路線30。
另一方面，閘極線、用於檢測資料線之故障之照明測試部份140，以及觸控選路線被放置於輸入墊部份IPP與輸出墊部份OPP之間。照明測試部份140包含閘極照明測試部份A、資料照明測試部份B與共同電壓照明測試部份C，其中閘極照明測試部份A用於完成閘極線上的照明測試，資料照明測試部份B用於完成資料線上的照明測試，以及共同電壓照明測試部份C用於完成觸控選路線上的照明測試。
閘極照明測試部份A包含複數個閘極薄膜電晶體GT。複數個閘極薄膜電晶體GT被開關以回應照明測試步驟中的第一與第二閘極賦能訊號，從而選擇性地供應第一至第四閘極測試訊號至閘極線以及打開顯示區域中形成的畫素的薄膜電晶體。為此目的，閘極薄膜電晶體GT連接複數個閘極自動探針墊152，以及將閘極自動探針墊供應的閘極測試訊號供應至第一閘極輸出墊部份GOPP1與第二閘極輸出墊部份GOPP2。
閘極自動探針墊152包含第一至第六閘極探針墊152a、152b、152c、152d、152e與152f，被放置於驅動積體電路40的裝設區域130外部。在照明測試步驟中，第一閘極探針墊152a與第二閘極探針墊152b將來自測試架（test jig）的閘極賦能訊號供應至閘極薄膜電晶體GT。第三至第六閘極探針墊152c、152d、152e與152f將照明測試步驟中測試架供應的閘極測試訊號供應至閘極薄膜電晶體GT。
資料照明測試部份B包含複數個資料薄膜電晶體DT。資料薄膜電晶體DT被開關以回應照明測試步驟中與閘極薄膜電晶體GT的開關同步的資料賦能訊號，從而將資料測試訊號供應至資料線以檢測畫素的驅動。為此目的，資料薄膜電晶體DT連接複數個資料自動探針墊154，以及將資料自動探針墊154供應的資料測試訊號供應至資料輸出墊部份DOPP。
資料自動探針墊154包含第一至第四資料探針墊154a、154b、154c與154d，被放置於驅動積體電路40之裝設區域130外部。第一資料探針墊154a將照明測試步驟中測試架所供應的資料賦能訊號供應至資料薄膜電晶體DT。第二至第四資料探針墊154b、154c與154d將照明測試步驟中測試架供應的不同資料測試訊號供應至資料薄膜電晶體DT。
共同電壓照明測試部份C包含第二墊PD2（或者複數個共同電壓探針墊），被放置於共同電壓輸出墊部份COPP與輸出墊部份IPP之間。第二墊PD2將照明測試步驟中測試架供應的共同電壓供應至第一墊PD1。
特別地，如第3圖所示，本發明的特徵在於第二墊PD2比第一墊PD1大。舉個例子，當每一第一墊PD1的水平長度D1為14.7微米（mm）且每一第一墊PD1的垂直長度D2為95微米時，每一第二墊PD2的水平長度D3為38微米且每一第二墊PD2的垂直長度D4為140微米。
依照本發明，提供架導條JB（jig bar）作為將共同電壓施加到第一墊PD1的工具，以及使得此架導條JB與第二墊PD2直接接觸。因此，依照本發明，可能促進為觸控選路線上的照明測試，以及使得用於觸控選路線上的照明測試的特定開關元件不再必要。結果可能避免開關元件所導致的共同電壓的畸變與共同電壓的畸變所導致的暗塊。
以下將從觸控面板的視角特別描述用於照明測試的配置與使用此配置的照明測試方法。
第5圖為第3圖與第4圖所示的共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C之平面示意圖。
請參考第5圖，觸控選路線30在驅動積體電路40的裝設區域中延伸，以及觸控選路線30連接第一墊PD1。就是說，第一墊PD1經由觸控選路線30連接觸控電極20。
另一方面，第二墊PD2被放置作為驅動積體電路40之裝設區域內部的共同電壓照明測試部份C。這裡，第二墊PD2比第一墊PD1大。就是說，在照明測試步驟中透過將架導條JB與第二墊PD2直接接觸，將共同電壓施加到觸控選路線30。
第二墊PD2經由觸控選路線30的延伸部50電連接第一墊PD1。以下將更特別地描述第一墊PD1與第二墊PD2的連接結構。
第6圖為液晶面板沿第2圖所示之線A-A’與第5圖所示之線B-B’之剖面示意圖。
請參考第6圖，液晶面板10的每一畫素具有一個薄膜電晶體，連接對應的閘極線與對應的資料線。
薄膜電晶體包含與閘極線連接的閘極G、與資料線連接的源極S以及與源極S分離的汲極D。薄膜電晶體包含主動層ACT與歐姆層OHM，其中主動層ACT形成源極S與汲極D之間的通道，歐姆層OHM被放置於源極S及汲極D與主動層ACT之間。閘極G形成於基板52上。主動層ACT形成於覆蓋閘極G的閘極絕緣層54上。第一保護層56覆蓋薄膜電晶體。
薄膜電晶體被打開以回應被供應至閘極G的閘極訊號，以及將在打開時從資料線供應的資料訊號供應至對應的畫素電極PXL。
畫素電極PXL形成於覆蓋第一保護層56的第二保護層58上。畫素電極PXL經由畫素接觸孔連接汲極D，其中畫素接觸孔穿透第二保護層58與第一保護層56。
覆蓋畫素電極PXL的第一絕緣膜60形成於畫素電極PXL上，以及觸控選路線30形成於第一絕緣膜60上。覆蓋觸控選路線30的第二絕緣膜62形成於觸控選路線30上，以及觸控電極20形成於第二絕緣膜62上。觸控電極20經由共同電極接觸孔電連接觸控選路線30，共同電極接觸孔穿透第二絕緣膜。
另一方面，以下將基於液晶面板10的堆疊結構描述共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C。
首先，放置於第一絕緣膜60上且從畫素延伸的觸控選路線30被放置於共同電壓輸出墊部份COPP中。觸控選路線30延伸以與第一墊PD1重疊，更從與第一墊PD1的重疊部延伸且與第二墊PD2重疊。就是說，觸控選路線30延伸以與第一墊PD1及第二墊PD2重疊。
第一墊PD1被放置於第二絕緣膜62上，且經由穿透第二絕緣膜62的第一接觸孔電連接觸控選路線30。第二墊PD2被放置於第二絕緣膜62上，且經由穿透第二絕緣膜62的第二接觸孔電連接觸控選路線30。
上述實施例中，第二墊PD2被放置於驅動積體電路40的裝設區域內部，但是第二墊PD2可能如第7圖所示被放置於驅動積體電路40的裝設區域外部。這種情況下，可能將第二墊PD2設計得較大，由此方便照明測試步驟。反之，當第二墊PD2如上述實施例被放置於驅動積體電路40之裝設區域內部時，可能減少非顯示區域之面積，由此便於設計窄邊框。
第8圖為表示本發明實施例之觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。特別地，第8圖表示本發明實施例之共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C。
請參考第8圖，實施例之照明測試方法包含以下步驟。
首先，準備一塊觸控面板，包含驅動積體電路40之裝設區域中的共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C。
接下來，測試架導條JB被放置於共同電壓照明測試部份C之第二墊PD2上方。此時，架導條JB被放置為與複數個第二墊PD2重疊。
然後，架導條JB被降低以使得架導條JB接觸第二墊PD2，以及共同電壓作為測試訊號經由架導條JB被施加到複數個第二墊PD2。
這種情況下，可依照混合式施加共同電壓。就是說，本發明中，透過經由架導條JB施加共同電壓至複數個第二墊PD2，以及依照一對一方式使得與複數個第一墊PD1對應的複數架插腳JP與複數個第一墊PD1接觸，可經由架插腳JP施加共同電壓。這種情況下，因為在共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C中同時完成觸控選路線30上的照明測試步驟，可能更加準確地完成此測試。
第9圖為表示本發明另一實施例之共同電壓輸出墊部份COPP與共同電壓照明測試部份C之平面示意圖。第10圖為表示第9圖所示觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。第11圖為表示第9圖所示觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。
請參考第9圖，本發明另一實施例之觸控面板中，複數個第一墊PD1被形成以被劃分為第一群組B1與第二群組B2。複數個第二墊PD2被形成以被劃分為第三群組B3與第四群組B4。
就是說，本發明中，第一墊PD1可被劃分為第一群組B1與第二群組B2，以及在照明測試步驟中，可施加不同的共同電壓至第一群組B1與第二群組B2。這是為了檢測鄰接的觸控選路線30之間的短路與觸控選路線30之間的開路。為此目的，第一群組B1至第四群組B4被配置為如下。
第一墊PD1之第一群組B1可包含複數個第一輸出墊PD1a，被放置於第一墊PD1中的奇數號位置。第一群組B1電連接與觸控選路線30的一半對應的第一觸控選路線群組。
第一墊PD1之第二群組B2可包含複數個第二輸出墊PD1b，被放置於第一墊PD1中的偶數號位置。第二群組B2電連接觸控選路線30中的第二觸控選路線群組，而非第一觸控選路線群組。
請參考第9圖與第10圖，第二墊PD2的第三群組B3可包含複數個第一測試墊PD2a，被放置於第二墊PD2中的第一行中。第三群組B3依照一對一的對應方式連接第一群組B1，以及在照明測試步驟中將第一架導條JB1供應的第一共同電壓供應至第一群組B1。此時，採用混合方式，複數個架插腳JP可與第一群組B1直接接觸，以及第一共同電壓可經由架插腳JP被供應至第一群組B1。
請參考第9圖與第10圖，第二墊PD2的第四群組B4可包含複數個第二測試墊PD2b，被放置於第二墊PD2中的第二行中。第四群組B4採用一對一的對應方式連接第二群組B2，以及在照明測試步驟中將第二架導條JB2供應的第二共同電壓供應至第二群組B2。此時，採用混合的方式，複數個架插腳JP可與第二群組B2直接接觸，以及第二共同電壓可經由架插腳JP被供應至第二群組B2。
詳細如上所述，本發明中，形成第二墊PD2，連接第一墊PD1且比第一墊PD1大。本發明中，提供架導條JB作為在照明測試步驟中向第一墊PD1施加共同電壓的工具，以及透過將架導條JB與第二墊PD2直接接觸，將共同電壓施加到觸控選路線。因此，可能促進觸控選路線上的照明測試，以及使得用於觸控選路線上的照明測試的開關元件不再必要。結果，可能避免開關元件所導致的共同電壓的畸變與共同電壓的畸變所導致的暗塊。
雖然已經結合附圖描述本發明的實施例，但是本發明並非限制於這些實施例，而是可在不脫離本發明的技術精神的情況下以多種形式被修正。因此，提供本發明上述實施例並非用於定義本發明的技術精神，而是用於解釋本發明的技術精神，以及本發明的範圍並非限制於這些實施例。因此，應該理解的是上述實施例從全部視角來看是代表性而非限制性的。應該理解的是，僅僅所附的申請專利範圍定義本發明的範圍，以及本發明的範圍包含與此等同的全部技術概念。
5‧‧‧觸控選路線
PD‧‧‧墊
TR‧‧‧照明測試開關元件
EN‧‧‧賦能訊號
Vcom‧‧‧共同電壓
10‧‧‧液晶面板
20‧‧‧觸控電極
30‧‧‧觸控選路線
40‧‧‧驅動積體電路
50‧‧‧延伸部
52‧‧‧基板
54‧‧‧閘極絕緣層
56‧‧‧第一保護層
58‧‧‧第二保護層
60‧‧‧第一絕緣膜
62‧‧‧第二絕緣膜
OPP‧‧‧輸出墊部份
GOPP1‧‧‧第一閘極輸出墊部份
GOPP2‧‧‧第二閘極輸出墊部份
COPP‧‧‧共同電壓輸出墊部份
DOPP‧‧‧資料輸出墊部份
IPP‧‧‧輸入墊部份
IP‧‧‧輸入墊
PD1‧‧‧第一墊
PD2‧‧‧第二墊
D1‧‧‧水平長度
D1‧‧‧垂直長度
D3‧‧‧水平長度
D4‧‧‧垂直長度
GOP1‧‧‧第一閘極輸出墊
GOP2‧‧‧第二閘極輸出墊
DT‧‧‧資料薄膜電晶體
GT‧‧‧閘極薄膜電晶體
DOP‧‧‧資料輸出墊
130‧‧‧裝設區域
140‧‧‧照明測試部份
152‧‧‧閘極自動探針墊
152a、152b、152c、152d、152e、152f‧‧‧閘極探針墊
154‧‧‧資料自動探針墊
154a、154b、154c、154d‧‧‧資料探針墊
A‧‧‧閘極照明測試部份
B‧‧‧資料照明測試部份
C‧‧‧共同電壓照明測試部份
JB‧‧‧架導條
OHM‧‧‧歐姆層
ACT‧‧‧主動層
PXL‧‧‧畫素電極
D‧‧‧汲極
S‧‧‧源極
G‧‧‧閘極
JP‧‧‧架插腳
B1‧‧‧第一群組
B2‧‧‧第二群組
B3‧‧‧第三群組
B4‧‧‧第四群組
PD1a‧‧‧第一輸出墊
PD1b‧‧‧第二輸出墊
PD2a‧‧‧第一測試墊
PD2b‧‧‧第二測試墊
JB1‧‧‧第一架導條
JB2‧‧‧第二架導條
第1圖為習知技術之觸控選路線之照明測試方法之示意圖。 第2圖為本發明實施例之液晶顯示裝置之配置之示意圖。 第3圖為液晶面板之非顯示區域中其上裝設驅動積體電路的區域的平面示意圖。 第4圖為第3圖所示的驅動積體電路之裝設區域之配置之示意圖。 第5圖為第3圖與第4圖所示的共同電壓輸出墊部份與共同電壓照明測試部份之平面示意圖。 第6圖為觸控面板沿第2圖所示之線A-A’與第5圖所示之線B-B’之剖面示意圖。 第7圖為排列於驅動積體電路的裝設區域外部的第二墊之示意圖。 第8圖為表示本發明實施例之觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。 第9圖為表示本發明另一實施例之共同電壓輸出墊部份與共同電壓照明測試部份之平面示意圖。 第10圖為表示第9圖所示觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。 第11圖為表示第9圖所示觸控面板之照明測試方法之觸控面板之透視圖。
10‧‧‧液晶面板
20‧‧‧觸控電極
30‧‧‧觸控選路線
40‧‧‧驅動積體電路

Claims (14)

  1. 一種觸控面板，包含：一觸控電極，被放置於一基板上；一第一墊，經由一觸控選路線連接該觸控電極；一第二墊，經由該觸控選路線之一延伸部連接該第一墊；以及一驅動積體電路，裝設於該基板上；其中該第二墊比該第一墊大，其中該第一墊與該第二墊皆連接該驅動積體電路之一輸出凸塊。
  2. 如請求項第1項所述之觸控面板，其中該第一墊連接該驅動積體電路之該輸出凸塊以及該第二墊被放置於該驅動積體電路之一裝設區域內部。
  3. 如請求項第1項所述之觸控面板，其中該第一墊連接該驅動積體電路之該輸出凸塊以及該第二墊被放置於該驅動積體電路之一裝設區域外部。
  4. 如請求項第1項所述之觸控面板，其中放置複數個該第一墊，該些第一墊被劃分為一第一群組與一第二群組，以及其中放置複數個該第二墊，該些第二墊被劃分為與該第一群組連接之一第三群組以及與該第二群組連接之一第四群組。
  5. 一種具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，包含：一畫素電極，連接一基板上放置的一薄膜電晶體；一觸控電極，被放置於該畫素電極上；一第一墊，經由一觸控選路線連接該觸控電極；一第二墊，經由該觸控選路線之一延伸部連接該第一墊；以及一驅動積體電路，裝設於該基板上；其中該第二墊比該第一墊大， 其中該第一墊與該第二墊皆連接該驅動積體電路之一輸出凸塊。
  6. 如請求項第5項所述之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，其中該第一墊連接該驅動積體電路之該輸出凸塊以及該第二墊被放置於該驅動積體電路之一裝設區域內部。
  7. 如請求項第5項所述之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，其中該第一墊連接該驅動積體電路之該輸出凸塊以及該第二墊被放置於該驅動積體電路之一裝設區域外部。
  8. 如請求項第5項所述之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，其中放置複數個該第一墊，該些第一墊被劃分為一第一群組與一第二群組，以及其中放置複數個該第二墊，該些第二墊被劃分為與該第一群組連接之一第三群組以及與該第二群組連接之一第四群組。
  9. 如請求項第7項或第8項所述之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，其中該驅動積體電路在一顯示週期中施加一共同電壓至該第一墊，以及其中該驅動積體電路在一觸控感測週期中施加一觸控驅動訊號至該第一墊。
  10. 如請求項第5項所述之具有觸控螢幕之液晶顯示裝置，其中該觸控選路線與該觸控選路線之該延伸部被放置於覆蓋該畫素電極的一第一絕緣膜上，以及其中該觸控電極以及該第一與第二墊被放置於覆蓋該第一絕緣膜的一第二絕緣膜上。
  11. 一種觸控面板之照明測試方法，包含：準備一觸控面板，該觸控面板包含放置於一基板上之一觸控電極、經由一觸控選路線與該觸控電極連接之一第一墊，以及經由該觸控選路線之一延伸部與該第一墊連接之一第二墊，其中該第二墊比該第一墊大； 於該第二墊上方放置一架導條；使得該架導條接觸該第二墊以及施加一測試訊號至該第二墊；以及於該第一墊與該第二墊上放置一架插腳。
  12. 如請求項第11項所述之觸控面板之照明測試方法，更包含：使得該架插腳接觸該第一墊以及施加相同的該測試訊號至該第一墊與該第二墊。
  13. 如請求項第11項所述之觸控面板之照明測試方法，其中使得該架導條接觸該第二墊包含使得該架導條接觸複數個第二墊。
  14. 如請求項第11項所述之觸控面板之照明測試方法，其中準備該觸控面板包含形成複數個該第一墊從而被劃分為一第一群組與一第二群組，以及形成複數個該第二墊從而被劃分為連接該第一群組之一第三群組以及與該第二群組連接之一第四群組，以及其中施加一測試訊號至該第二墊包含使得一第一架導條接觸該第三群組之該些第二墊，施加一第一測試訊號至該第三群組之該些第二墊，使得一第二架導條接觸該第四群組之該些第二墊，以及施加一第二測試訊號至該第四群組之該些第二墊。
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