KR102367826B1 - 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법 - Google Patents

터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102367826B1
KR102367826B1 KR1020170136807A KR20170136807A KR102367826B1 KR 102367826 B1 KR102367826 B1 KR 102367826B1 KR 1020170136807 A KR1020170136807 A KR 1020170136807A KR 20170136807 A KR20170136807 A KR 20170136807A KR 102367826 B1 KR102367826 B1 KR 102367826B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch
layer
electrode
electrodes
connection
Prior art date
Application number
KR1020170136807A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20190044407A (ko
Inventor
김태환
이은혜
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020170136807A priority Critical patent/KR102367826B1/ko
Priority to US16/165,714 priority patent/US10854691B2/en
Priority to CN201811220509.1A priority patent/CN109696988B/zh
Publication of KR20190044407A publication Critical patent/KR20190044407A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102367826B1 publication Critical patent/KR102367826B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412Digitisers structurally integrated in a display
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04164Connections between sensors and controllers, e.g. routing lines between electrodes and connection pads
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0443Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/02Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
    • H01L27/323
    • H01L27/3258
    • H01L51/0018
    • H01L51/5203
    • H01L51/5237
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/40OLEDs integrated with touch screens
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/20Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
    • H10K71/231Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers
    • H10K71/233Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers by photolithographic etching
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04103Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04111Cross over in capacitive digitiser, i.e. details of structures for connecting electrodes of the sensing pattern where the connections cross each other, e.g. bridge structures comprising an insulating layer, or vias through substrate
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04112Electrode mesh in capacitive digitiser: electrode for touch sensing is formed of a mesh of very fine, normally metallic, interconnected lines that are almost invisible to see. This provides a quite large but transparent electrode surface, without need for ITO or similar transparent conductive material
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/1201Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals

Abstract

본 출원은 별도의 마스크 공정을 추가로 수행하지 않고도 연결 전극과 터치 전극들을 연결할 수 있는 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법에 관한 것이다. 본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치는 제 1 기판 상에 배치된 제 1 전극, 제 1 전극 상에 배치된 발광층, 발광층 상에 배치된 제 2 전극을 포함하는 발광 소자층 및 발광 소자층 상에 배치된 터치 센싱층을 구비하고, 터치 센싱층은 제 1 및 제 2 터치 전극층들 및 그들 사이에 배치된 터치 절연막을 포함하며, 제 1 터치 전극층은 제 1 및 제 2 터치 전극을 이루고, 제 2 터치 전극층은 연결 전극을 이루고, 제 2 터치 전극층은 상기 터치 절연막에 마련된 컨택 홀을 채우도록 형성되어 제 1 터치 전극층과 연결된다.

Description

터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법{DISPLAY DEVICE WITH INTEGRATED TOUCH SCREEN AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME}
본 출원은 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시 장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있다. 이에 따라, 최근에는 액정표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마 표시 장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광 표시 장치(OLED: Organic Light Emitting Display)와 같은 여러 가지 표시 장치가 활용되고 있다. 이들 중에서 유기발광 표시 장치는 저전압 구동이 가능하고, 박형이며, 시야각이 우수하고, 응답속도가 빠른 특성이 있다.
유기발광 표시 장치는 데이터 라인들, 스캔 라인들, 데이터 라인들과 스캔 라인들의 교차부에 형성된 다수의 화소들을 구비하는 표시 패널, 스캔 라인들에 스캔 신호들을 공급하는 스캔 구동부, 및 데이터 라인들에 데이터 전압들을 공급하는 데이터 구동부를 포함한다. 화소들 각각은 유기발광소자, 게이트 전극의 전압에 따라 유기발광소자에 공급되는 전류의 양을 조절하는 구동 트랜지스터(transistor), 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인의 데이터 전압을 구동랜지스터의 게이트 전극에 공급하는 공급하는 스캔 트랜지스터를 포함한다.
최근에 표시 장치는 사용자의 터치를 인식할 수 있는 터치 스크린 패널을 포함하는 터치 스크린 일체형 표시 장치로 형성된다. 이 경우, 표시 장치는 터치 스크린 장치로 기능하게 된다. 최근에 터치 스크린 장치는 네비게이션(navigation), 산업용 단말기, 노트북 컴퓨터, 금융 자동화기기, 게임기 등과 같은 모니터, 스마트폰, 태블릿, 휴대전화기, MP3, PDA, PMP, PSP, 휴대용 게임기, DMB 수신기, 태블릿 PC 등과 같은 휴대용 단말기, 및 냉장고, 전자 레인지, 세탁기 등과 같은 가전제품 등에 적용되고 있다. 또한, 터치 스크린 장치는 누구나 쉽게 조작할 수 있는 장점으로 인해 적용이 점차 확대되고 있다.
터치 스크린 일체형 표시 장치는 표시 패널 내에 제 1 터치 전극들, 제 2 터치 전극들, 및 제 1 터치 전극들 또는 제 2 터치 전극들을 서로 연결하기 위한 연결 전극(bridge electrode)들을 형성한다. 제 1 터치 전극들은 Tx 전극들이고, 제 2 터치 전극들은 Rx 전극들일 수 있다.
터치 스크린 일체형 표시 장치의 연결 전극과 제 1 및 제 2 터치 전극들은 서로 다른 층에 형성된다. 이에 따라, 연결 전극과 제 1 및 제 2 터치 전극들을 서로 연결하기 위해서는 별도의 마스크 공정을 추가로 수행하여야 한다.
본 출원은 별도의 마스크 공정을 추가로 수행하지 않고도 연결 전극과 터치 전극들을 연결할 수 있는 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법을 제공하고자 한다.
본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치는 제 1 기판 상에 배치된 제 1 전극, 제 1 전극 상에 배치된 발광층, 발광층 상에 배치된 제 2 전극을 포함하는 발광 소자층 및 발광 소자층 상에 배치된 터치 센싱층을 구비하고, 터치 센싱층은 제 1 및 제 2 터치 전극층들 및 그들 사이에 배치된 터치 절연막을 포함하며, 제 1 터치 전극층은 제 1 및 제 2 터치 전극을 이루고, 제 2 터치 전극층은 연결 전극을 이루고, 제 2 터치 전극층은 상기 터치 절연막에 마련된 컨택 홀을 채우도록 형성되어 제 1 터치 전극층과 연결된다.
본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법은 제 1 기판 상에 박막 트랜지스터층, 발광 소자층, 및 봉지층을 형성하는 단계, 봉지층 상에 연결 전극들을 포함하는 제 2 터치 전극층을 형성한 후, 제 2 터치 전극층 상에 터치 무기막과 터치 유기막을 포함하는 터치 절연막을 형성하는 단계, 터치 절연막 상에 제 1 터치 전극들과 제 2 터치 전극들 포함하는 제 1 터치 전극층을 형성하고, 포토레지스터층을 형성한 후 노광하는 단계, 터치 절연막, 제 1 터치 전극층, 및 제 2 터치 전극층을 식각하는 단계, 및 연결 전극을 성장시켜 제 1 터치 전극층과 연결시키는 단계를 포함한다.
본 출원은 별도의 마스크 공정을 추가로 수행하지 않고도 연결 전극과 터치 전극들을 연결할 수 있는 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치를 보여주는 사시도이다.
도 2는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치를 보여주는 블록도이다.
도 3은 도 2의 표시 패널의 일 측 단면도이다.
도 4는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제 1 및 제 2 터치 전극들, 연결 전극들, 및 제 1 및 제 2 터치 라인들을 보여주는 평면도이다.
도 5는 도 4의 A 영역의 일 예를 상세히 보여주는 확대도이다.
도 6은 도 4의 Ⅰ-Ⅰ'의 일 예를 보여주는 단면도이다.
도 7은 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 일 예를 보여주는 단면도이다.
도 8은 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 보여주는 흐름도이다.
도 9 내지 도 12는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다.
본 출원의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 일 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 출원은 이하에서 개시되는 일 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 출원의 일 예들은 본 출원의 개시가 완전하도록 하며, 본 출원이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 출원은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 출원의 일 예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 출원이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 출원을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 출원의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
제 1, 제 2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성요소는 본 출원의 기술적 사상 내에서 제 2 구성요소일 수도 있다.
"제 1 수평 축 방향", "제 2 수평 축 방향" 및 "수직 축 방향"은 서로 간의 관계가 수직으로 이루어진 기하학적인 관계만으로 해석되어서는 아니 되며, 본 출원의 구성이 기능적으로 작용할 수 있는 범위 내에서보다 넓은 방향성을 가지는 것을 의미할 수 있다.
"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다.
본 출원의 여러 예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하에서는 본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법 의 바람직한 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다.
도 1은 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치를 보여주는 사시도이다. 도 2는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치를 보여주는 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치는 표시 패널(110), 스캔 구동부(120), 데이터 구동부(130), 타이밍 컨트롤러(160), 호스트 시스템(170), 터치 구동부(180), 및 터치 좌표 산출부(190)를 포함한다.
본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display, FED), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel, PDP), 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display, OLED), 전기 영동 표시 장치(Electrophoresis, EPD) 등의 평판 표시 장치로 구현될 수 있다. 이하에서는 본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치가 유기 발광 표시 장치로 구현된 것을 중심으로 설명하지만, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.
표시 패널(110)은 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112)을 포함한다. 제 2 기판(112)은 봉지 기판일 수 있다. 제 1 기판(111)은 플라스틱 필름(plastic film) 또는 유리 기판(glass substrate)일 수 있다. 제 2 기판(112)은 플라스틱 필름, 유리 기판, 또는 봉지 필름(보호 필름)일 수 있다.
표시 패널(110)은 서브 화소(SP)들이 마련되어 화상을 표시하는 영역인 표시 영역을 포함한다. 표시 패널(110)에는 데이터 라인들(D1~Dm, m은 2 이상의 양의 정수)과 스캔 라인들(S1~Sn, n은 2 이상의 양의 정수)이 형성된다. 데이터 라인들(D1~Dm)은 스캔 라인들(S1~Sn)과 교차되도록 형성될 수 있다. 서브 화소(SP)들은 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차 구조에 의해 정의되는 영역에 형성될 수 있다.
표시 패널(110)의 서브 화소(SP)들 각각은 데이터 라인들(D1~Dm) 중 어느 하나와 스캔 라인들(S1~Sn) 중 어느 하나에 접속될 수 있다. 표시 패널(110)의 서브 화소(SP)들 각각은 게이트 전극에 인가된 데이터 전압에 따라 드레인-소스 사이의 전류를 조정하는 구동 트랜지스터(transistor), 스캔 라인의 스캔 신호에 의해 턴-온되어 데이터 라인의 데이터 전압을 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 공급하는 스캔 트랜지스터, 구동 트랜지스터의 드레인-소스 사이의 전류에 따라 발광하는 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode), 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극의 전압을 저장하기 위한 커패시터(capacitor)를 포함할 수 있다. 이로 인해, 서브 화소(SP)들 각각은 유기 발광 다이오드에 공급되는 전류에 따라 발광할 수 있다.
스캔 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(160)로부터 스캔 제어신호(GCS)를 입력받는다. 스캔 구동부(120)는 스캔 제어신호(GCS)에 따라 스캔 신호들을 스캔 라인들(S1~Sn)에 공급한다.
스캔 구동부(120)는 표시 패널(110)의 표시 영역의 일 측 또는 양 측 바깥쪽의 비표시 영역에 GIP(gate driver in panel) 방식으로 형성될 수 있다. 또는, 스캔 구동부(120)는 구동 칩으로 제작되어 연성필름에 실장되고 TAB(tape automated bonding) 방식으로 표시 패널(110)의 표시 영역의 일 측 또는 양 측 바깥쪽의 비표시 영역에 부착될 수도 있다.
데이터 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(160)로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 데이터 제어신호(DCS)를 입력받는다. 데이터 구동부(130)는 데이터 제어신호(DCS)에 따라 디지털 비디오 데이터(DATA)를 아날로그 정극성/부극성 데이터 전압으로 변환하여 데이터 라인들에 공급한다. 즉, 스캔 구동부(120)의 스캔 신호들에 의해 데이터 전압들이 공급될 화소들이 선택되며, 선택된 화소들에 데이터 전압들이 공급된다.
데이터 구동부(130)는 도 1과 같이 복수의 소스 드라이브 IC(131)들을 포함할 수 있다. 복수의 소스 드라이브 IC(131)들 각각은 COF(chip on film) 또는 COP(chip on plastic) 방식으로 연성필름(140)에 실장될 수 있다. 연성필름(140)은 이방성 도전 필름(antisotropic conducting film)을 이용하여 표시 패널(110)의 비표시 영역에 마련된 패드들 상에 부착되며, 이로 인해 복수의 소스 드라이브 IC(131)들은 패드들에 연결될 수 있다.
회로보드(150)는 연성필름(140)들에 부착될 수 있다. 회로보드(150)는 구동 칩들로 구현된 다수의 회로들이 실장될 수 있다. 예를 들어, 회로보드(150)에는 타이밍 컨트롤러(160)가 실장될 수 있다. 회로보드(150)는 인쇄회로보드(printed circuit board) 또는 연성 인쇄회로보드(flexible printed circuit board)일 수 있다.
타이밍 컨트롤러(160)는 호스트 시스템(170)으로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호들을 입력받는다. 타이밍 신호들은 수직 동기 신호(vertical synchronization signal), 수평 동기 신호(horizontal synchronization signal), 데이터 인에이블 신호(data enable signal), 도트 클럭(dot clock) 등을 포함할 수 있다. 수직 동기 신호는 1 프레임 기간을 정의하는 신호이다. 수평 동기 신호는 표시 패널(DIS)의 1 수평 라인의 화소들에 데이터 전압들을 공급하는데 필요한 1 수평 기간을 정의하는 신호이다. 데이터 인에이블 신호는 유효한 데이터가 입력되는 기간을 정의하는 신호이다. 도트 클럭은 소정의 짧은 주기로 반복되는 신호이다.
타이밍 컨트롤러(160)는 스캔 구동부(120)와 데이터 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위해, 타이밍 신호들에 기초하여 데이터 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)와 스캔 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 스캔 제어신호(GCS)를 발생한다. 타이밍 컨트롤러(160)는 스캔 구동부(120)에 스캔 제어신호(GCS)를 출력하고, 데이터 구동부(130)에 디지털 비디오 데이터(DATA)와 데이터 제어신호(DCS)를 출력한다.
호스트 시스템(170)은 네비게이션 시스템, 셋톱박스, DVD 플레이어, 블루레이 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 방송 수신기, 폰 시스템(Phone system) 등으로 구현될 수 있다. 호스트 시스템(170)은 스케일러(scaler)를 내장한 SoC(System on chip)을 포함하여 입력 영상의 디지털 비디오 데이터(DATA)를 표시 패널(110)에 표시하기에 적합한 포맷으로 변환한다. 호스트 시스템(170)는 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호들을 타이밍 컨트롤러(160)로 전송한다.
표시 패널(110)에는 데이터 라인들(D1~Dm)과 스캔 라인들(S1~Sn) 이외에 제 1 및 제 2 터치 전극들이 형성될 수 있다. 제 1 터치 전극들은 제 2 터치 전극들과 교차되도록 형성될 수 있다. 제 1 터치 전극들은 제 1 터치 라인들(T1~Tj, j는 2 이상의 양의 정수)을 통해 제 1 터치 구동부(181)에 연결될 수 있다. 제 2 터치 전극들은 제 2 터치 라인들(R1~Ri, i는 2 이상의 양의 정수)을 통해 제 2 터치 구동부(182)에 연결될 수 있다. 제 1 터치 전극들과 제 2 터치 전극들의 교차부들 각각에는 터치 센서가 형성될 수 있다. 본 출원에서는 터치 센서가 상호 용량(mutual capacitance)으로 구현된 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 제 1 및 제 2 터치 전극들의 배치에 대한 자세한 설명은 도 4 및 도 5를 결부하여 후술한다.
터치 구동부(180)는 제 1 터치 라인들(T1~Tj)을 통해 제 1 터치 전극들에 구동펄스를 공급하고 제 2 터치 라인들(R1~Ri)을 통해 터치 센서들 각각의 차지 변화량을 센싱한다. 즉, 도 2에서는 제 1 터치 라인들(T1~Tj)이 구동 펄스를 공급하는 Tx 라인들이고, 제 2 터치 라인들(R1~Ri)이 터치 센서들 각각의 차지 변화량을 센싱하는 Rx 라인들인 것을 중심으로 설명하였다.
터치 구동부(40)는 제 1 터치 구동부(181), 제 2 터치 구동부(182), 및 터치 컨트롤러(183)를 포함한다. 제 1 터치 구동부(181), 제 2 터치 구동부(182), 및 터치 컨트롤러(183)는 하나의 ROIC(Read-out IC) 내에 집적될 수 있다.
제 1 터치 구동부(181)는 터치 컨트롤러(183)의 제어 하에 구동펄스를 출력할 제 1 터치 라인을 선택하고, 선택된 제 1 터치 라인에 구동펄스를 공급한다. 예를 들어, 제 1 터치 구동부(181)는 제 1 터치 라인들(T1~Tj)에 순차적으로 구동펄스들을 공급할 수 있다.
제 2 터치 구동부(182)는 터치 컨트롤러(183)의 제어 하에 터치 센서들의 차지 변화량들을 수신할 제 2 터치 라인들을 선택하고, 선택된 제 2 터치 라인들을 통해 터치 센서들의 차지 변화량들을 수신한다. 제 2 터치 구동부(182)는 제 2 터치 라인들(R1~Ri)을 통해 수신된 터치 센서들의 차지 변화량들을 샘플링하여 디지털 데이터인 터치 로우 데이터(touch raw data, TRD)로 변환한다.
터치 컨트롤러(183)는 제 1 터치 구동부(181)에서 구동펄스가 출력될 제 1 터치 라인을 설정하기 위한 Tx 셋업 신호와, 제 2 터치 구동부(182)에서 터치 센서 전압을 수신할 제 2 터치 라인을 설정하기 위한 Rx 셋업 신호를 발생할 수 있다. 또한, 터치 컨트롤러(183)는 제 1 터치 구동부(181)와 제 2 터치 구동부(182)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.
터치 좌표 산출부(190)는 터치 구동부(180)로부터 터치 로우 데이터(TRD)를 입력받는다. 터치 좌표 산출부(190)는 터치 좌표 산출방법에 따라 터치 좌표(들)를 산출하고, 터치 좌표(들)의 정보를 포함하는 터치 좌표 데이터(HIDxy)를 호스트 시스템(170)으로 출력한다.
터치 좌표 산출부(190)는 MCU(Micro Controller Unit, MCU)로 구현될 수 있다. 호스트 시스템(170)은 터치 좌표 산출부(190)로부터 입력되는 터치 좌표 데이터(HIDxy)를 분석하여 사용자에 의해 터치가 발생한 좌표와 연계된 응용 프로그램(application program)을 실행한다. 호스트 시스템(170)은 실행된 응용 프로그램에 따라 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호들을 타이밍 컨트롤러(160)로 전송한다.
터치 구동부(180)는 소스 드라이브 IC(131)들에 포함되거나 또는 별도의 구동 칩으로 제작되어 회로 보드(150) 상에 실장될 수 있다. 또한, 터치 좌표 산출부(190)는 구동 칩으로 제작되어 회로 보드(150) 상에 실장될 수 있다.
도 3은 도 2의 표시 패널의 일 측 단면도이다.
도 3를 참조하면, 표시 패널(110)은 제 1 기판(111), 제 2 기판(112), 제 1 및 제 2 기판들(111, 112) 사이에 배치된 박막 트랜지스터층(10), 발광 소자층(20), 봉지층(30), 터치 센싱층(40), 및 접착층(50)을 포함할 수 있다.
제 1 기판(111)은 플라스틱 필름 또는 유리 기판일 수 있다.
제 1 기판(111) 상에는 박막 트랜지스터층(10)이 형성된다. 박막 트랜지스터층(10)은 스캔 라인들, 데이터 라인들, 및 박막 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 박막 트랜지스터들 각각은 게이트 전극, 반도체층, 소스 및 드레인 전극들을 포함한다. 스캔 구동부가 GIP(gate driver in panel) 방식으로 형성되는 경우, 스캔 구동부는 박막 트랜지스터층(10)와 함께 형성될 수 있다. 박막 트랜지스터층(10)에 대한 자세한 설명은 도 6 및 도 7을 결부하여 후술한다.
박막 트랜지스터층(10) 상에는 발광 소자층(20)이 형성된다. 발광 소자층(20)은 제 1 전극들, 발광층, 제 2 전극, 및 뱅크들을 포함한다. 발광층은 유기 물질을 포함하는 유기 발광층일 수 있다. 이 경우, 발광층은 정공 수송층(hole transporting layer), 유기 발광층(organic light emitting layer), 및 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다. 제 1 전극과 제 2 전극에 전압이 인가되면 정공과 전자가 각각 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기 발광층으로 이동되며, 유기 발광층에서 서로 결합하여 발광하게 된다. 발광 소자층(20)은 화소들이 형성되는 화소 어레이층일 수 있으며, 이로 인해 발광 소자층(20)이 형성된 영역은 표시 영역으로 정의될 수 있다. 표시 영역의 주변 영역은 비표시 영역으로 정의될 수 있다. 발광 소자층(20)에 대한 자세한 설명은 도 6 및 도 7을 결부하여 후술한다.
발광 소자층(20) 상에는 봉지층(30)이 형성된다. 봉지층(30)은 발광 소자층(20)에 산소 또는 수분이 침투되는 것을 방지하는 역할을 한다. 봉지층(30)은 적어도 하나의 무기막과 적어도 하나의 유기막을 포함할 수 있다. 봉지층(30)의 단면 구조에 대한 자세한 설명은 도 6 및 도 7을 결부하여 후술한다.
봉지층(30) 상에는 터치 센싱층(40)이 형성된다. 터치 센싱층(40)은 사용자의 터치를 센싱하기 위한 제 1 및 제 2 터치 전극층들을 포함할 수 있다. 제 1 터치 전극층은 제 1 터치 라인들(T1~Tj)에 연결된 제 1 터치 전극들과 제 2 터치 라인들(R1~Ri)에 연결된 제 2 터치 전극들을 포함할 수 있다. 제 2 터치 전극층은 제 1 터치 전극들 또는 제 2 터치 전극들을 서로 연결하는 연결 전극들을 포함할 수 있다. 본 발명의 실시예는 사용자의 터치를 센싱하기 위한 터치 센싱층을 봉지층(30) 상에 형성함으로써, 터치 스크린 장치를 표시 장치 위에 따로 부착할 필요가 없다. 터치 센싱층(40)의 평면 구조는 도 4 및 도 5을 결부하여 후술한다. 또한, 터치 센싱층(40)의 단면 구조는 도 6 및 도 7을 결부하여 후술한다.
터치 센싱층(40) 상에는 접착층(50)이 형성된다. 접착층(50)은 박막 트랜지스터층(10), 발광 소자층(20), 봉지층(30), 및 터치 센싱층(40)이 마련된 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112)을 접착한다. 접착층(50)은 투명한 접착 레진층(optically clear resin layer, OCR) 또는 투명한 접착 레진 필름(optically clear adhesive film, OCA)일 수 있다.
제 2 기판(112)은 제 1 기판(110)을 덮는 커버(cover) 기판 또는 커버 윈도우(window)와 같은 역할을 한다. 제 2 기판(112)은 플라스틱 필름, 유리 기판, 또는 봉지 필름(보호 필름)일 수 있다.
도 4는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제 1 및 제 2 터치 전극들, 연결 전극들, 및 제 1 및 제 2 터치 라인들을 보여주는 평면도이다.
도 4를 참조하면, 제 1 터치 전극(TE)들은 제 1 방향(x축 방향)으로 배열되며, 제 2 터치 전극(RE)들은 제 1 방향(x축 방향)과 교차되는 제 2 방향(y축 방향)으로 배열될 수 있다. 제 1 방향(x축 방향)은 스캔 라인들(S1~Sn)과 나란한 방향이고, 제 2 방향(y축 방향)은 데이터 라인들(D1~Dm)과 나란한 방향일 수 있다. 또는, 제 1 방향(x축 방향)은 데이터 라인들(D1~Dm)과 나란한 방향이고, 제 2 방향(y축 방향)은 스캔 라인들(S1~Sn)과 나란한 방향일 수 있다. 도 4에서는 제 1 터치 전극(TE)들과 제 2 터치 전극(RE)들이 다이아몬드 형태의 평면 구조를 갖는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.
제 1 터치 전극(TE)들과 제 2 터치 전극(RE)들이 그들의 교차 영역들에서 서로 단락되는 것을 방지하기 위해, 제 1 방향(x축 방향)으로 서로 인접한 제 1 터치 전극(TE)들은 연결 전극(BE)을 통해 전기적으로 연결될 수 있다. 제 1 터치 전극(TE)과 제 2 터치 전극(RE)의 교차 영역에는 터치 센서에 해당하는 상호 용량(mutual capacitance)이 형성될 수 있다.
또한, 제 1 방향(x축 방향)으로 연결된 제 1 터치 전극(TE)들 각각은 제 2 방향(y축 방향)으로 이웃하는 제 1 터치 전극(TE)들과 이격되어 있으므로, 전기적으로 절연된다. 제 2 방향(y축 방향)으로 연결된 제 2 터치 전극(RE)들 각각은 제 1 방향(x축 방향)으로 이웃하는 제 2 터치 전극(RE)들과 이격되어 있으므로, 전기적으로 절연된다.
제 1 방향(x축 방향)으로 서로 연결된 제 1 터치 전극들(TE) 중 일 측 끝에 배치된 제 1 터치 전극(TE)은 제 1 터치 라인(TL)과 연결될 수 있다. 제 1 터치 라인(TL)은 제 1 터치 패드(TP)를 통해 제 1 터치 구동부(181)에 연결될 수 있다. 따라서, 제 1 방향(x축 방향)으로 서로 연결된 제 1 터치 전극(TE)들은 제 1 터치 라인(TL)을 통해 제 1 터치 구동부(181)로부터 터치 구동 신호를 입력받을 수 있다.
제 2 방향(y축 방향)으로 서로 연결된 제 2 터치 전극(RE)들 중 일 측 끝에 배치된 제 2 터치 전극(RE)은 제 2 터치 라인(RL)과 연결될 수 있다. 제 2 터치 라인(RL)은 제 2 터치 패드(RP)를 통해 제 2 터치 구동부(182)에 연결될 수 있다. 따라서, 제 2 터치 구동부(182)는 제 2 방향(y축 방향)으로 서로 연결된 제 2 터치 전극(TE2)들의 터치 센서들의 차지 변화량들을 입력받을 수 있다.
도 5는 도 4의 A 영역의 일 예를 상세히 보여주는 확대도이다.
도 5를 참조하면, 화소(P)들은 펜타일(pentile) 구조로 형성될 수 있다. 화소(P)들 각각은 복수의 서브 화소(SP)들을 포함하며, 예를 들어 도 5와 같이 하나의 적색 화소(R), 두 개의 녹색 화소(G)들, 및 하나의 청색 화소(B)를 포함할 수 있다. 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 및 청색 화소(B)는 팔각형의 평면 형태로 형성될 수 있다. 또한, 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 및 청색 화소(B) 중에서 청색 화소(B)의 크기가 가장 크며, 녹색 화소(G)의 크기가 가장 작을 수 있다. 도 5에서는 화소(P)들이 펜타일 구조로 형성된 것을 예시하였으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.
제 1 터치 전극(TE)들과 제 2 터치 전극(RE)들은 화소(P)들 각각의 적색 화소(R), 녹색 화소(G)들, 및 청색 화소(B)와 중첩되는 것을 방지하기 위해 메쉬 구조로 형성될 수 있다. 즉, 제 1 터치 전극(TE)들과 제 2 터치 전극(RE)들은 적색 화소(R), 녹색 화소(G)들, 및 청색 화소(B) 사이에 마련된 뱅크 상에 형성될 수 있다.
제 1 방향(x축 방향)으로 서로 인접한 제 1 터치 전극(TE)들은 복수의 연결 전극(BE)들을 통해 전기적으로 연결될 수 있다. 연결 전극(BE)들 각각은 제 1 터치 전극(TE1)들을 노출시키는 제 1 연결부(CNT1)들을 통해 서로 인접한 제 1 터치 전극(TE)들에 접속될 수 있다. 연결 전극(BE)은 제 1 터치 전극(TE) 및 제 2 터치 전극(RE)과 중첩될 수 있다. 연결 전극(BE)은 적색 화소(R), 녹색 화소(G)들, 및 청색 화소(B) 사이에 마련된 뱅크 상에 형성될 수 있다.
제 1 터치 전극(TE)들은 제 2 터치 전극(RE)들과 동일한 층에 형성될 수 있으며, 연결 전극(BE)은 제 1 터치 전극(TE)들 및 제 2 터치 전극(RE)들과 서로 다른 층에 형성될 수 있다.
도 6은 도 4의 Ⅰ-Ⅰ'의 일 예를 보여주는 단면도이다. 도 7은 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 일 예를 보여주는 단면도이다.
도 6에는 제 2 터치 라인(RL)과 제 2 터치 패드(RP)의 접속 구조가 상세히 나타나 있으며, 도 7에는 연결 전극(BE) 및 제 1 터치 전극(TE)들 간의 접속 구조가 상세히 나타나 있다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 제 1 기판(111) 상에는 박막 트랜지스터층(110)이 형성된다. 박막 트랜지스터층(110)은 박막 트랜지스터(210)들, 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP), 게이트 절연막(220), 층간 절연막(230), 보호막(240), 및 평탄화막(250)을 포함한다.
제 1 기판(111)의 일 면 상에는 제 1 버퍼막이 형성될 수 있다. 제 1 버퍼막은 투습에 취약한 제 1 기판(111)을 통해 침투하는 수분으로부터 박막 트랜지스터(220)들과 유기발광소자(260)들을 보호하기 위해 제 1 기판(111)의 일 면 상에 형성된다. 제 1 기판(111)의 일 면은 제 2 기판(112)과 마주보는 면일 수 있다. 제 1 버퍼막은 교번하여 적층된 복수의 무기막들로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제 1 버퍼막은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), SiON 중 하나 이상의 무기막이 교번하여 적층된 다중막으로 형성될 수 있다. 제 1 버퍼막은 생략될 수 있다.
제 1 버퍼막 상에는 박막 트랜지스터(210)가 형성된다. 박막 트랜지스터(210)는 액티브층(211), 게이트 전극(212), 소스 전극(213) 및 드레인 전극(214)을 포함한다. 도 7에서는 박막 트랜지스터(210)가 게이트 전극(212)이 액티브층(211)의 상부에 위치하는 상부 게이트(탑 게이트, top gate) 방식으로 형성된 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 박막 트랜지스터(210)들은 게이트 전극(212)이 액티브층(211)의 하부에 위치하는 하부 게이트(보텀 게이트, bottom gate) 방식 또는 게이트 전극(212)이 액티브층(211)의 상부와 하부에 모두 위치하는 더블 게이트(double gate) 방식으로 형성될 수 있다.
제 1 버퍼막 상에는 액티브층(211)이 형성된다. 액티브층(211)은 실리콘계 반도체 물질 또는 산화물계 반도체 물질로 형성될 수 있다. 제 1 버퍼막과 액티브층(211) 사이에는 액티브층(211)으로 입사되는 외부광을 차단하기 위한 차광층이 형성될 수 있다.
액티브층(211) 상에는 게이트 절연막(220)이 형성될 수 있다. 게이트 절연막(220)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
게이트 절연막(220) 상에는 게이트 전극(212)과 게이트 라인이 형성될 수 있다. 게이트 전극(212)과 게이트 라인은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
게이트 전극(212)과 게이트 라인 상에는 층간 절연막(230)이 형성될 수 있다. 층간 절연막(230)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
층간 절연막(230) 상에는 소스 전극(213), 드레인 전극(214), 데이터 라인, 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP)이 형성될 수 있다. 소스 전극(213)과 드레인 전극(214) 각각은 게이트 절연막(220)과 층간 절연막(230)을 관통하는 콘택홀을 통해 액티브층(211)에 접속될 수 있다. 소스 전극(213), 드레인 전극(214), 데이터 라인, 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
소스 전극(213), 드레인 전극(214), 데이터 라인, 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP) 상에는 박막 트랜지스터(220)를 절연하기 위한 보호막(240)이 형성될 수 있다. 보호막(240)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
보호막(240) 상에는 박막 트랜지스터(210)로 인한 단차를 평탄하게 하기 위한 평탄화막(250)이 형성될 수 있다. 평탄화막(250)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 형성될 수 있다.
박막 트랜지스터층(10) 상에는 발광 소자층(20)이 형성된다. 발광 소자층(20)은 발광 소자들과 뱅크(270)를 포함한다.
발광 소자들과 뱅크(270)는 평탄화막(250) 상에 형성된다. 발광 소자들 각각은 제 1 전극(261), 유기 발광층(262), 및 제 2 전극(263)을 포함한다. 제 1 전극(261)은 애노드 전극이고, 제 2 전극(263)은 캐소드 전극일 수 있다.
제 1 전극(261)은 평탄화막(250) 상에 형성될 수 있다. 제 1 전극(261)은 보호막(240)과 평탄화막(250)을 관통하는 콘택홀을 통해 박막 트랜지스터(210)의 소스 전극(213)에 접속된다. 제 1 전극(261)은 알루미늄과 티타늄의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금, 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO)과 같은 반사율이 높은 금속물질로 형성될 수 있다. APC 합금은 은(Ag), 팔라듐(Pd), 및 구리(Cu)의 합금이다.
뱅크(270)는 서브 화소(SP)들을 정의하는 화소 정의막으로 역할을 하기 위해 평탄화막(250) 상에서 제 1 전극(261)을 구획하도록 형성될 수 있다. 뱅크(270)는 제 1 전극(261)의 가장자리를 덮도록 형성될 수 있다.
서브 화소(P)들 각각은 애노드 전극에 해당하는 제 1 전극(261), 발광층(262), 및 캐소드 전극에 해당하는 제 2 전극(263)이 순차적으로 적층되어 제 1 전극(261)으로부터의 정공과 제 2 전극(263)으로부터의 전자가 발광층(262)에서 서로 결합되어 발광하는 영역을 나타낸다.
제 1 전극(261)과 뱅크(270) 상에는 발광층(262)이 형성된다. 발광층(262)은 유기 물질을 포함하여 소정의 색을 발광하는 유기 발광층일 수 있다. 발광층(262)은 백색 광을 발광하는 백색 발광층인 경우 화소(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다. 이 경우, 발광층(262)은 2 스택(stack) 이상의 탠덤 구조로 형성될 수 있다. 스택들 각각은 정공 수송층(hole transporting layer), 적어도 하나의 발광층(light emitting layer), 및 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다.
또한, 스택들 사이에는 전하 생성층이 형성될 수 있다. 전하 생성층은 하부 스택과 인접하게 위치하는 n형 전하 생성층과 n형 전하 생성층 상에 형성되어 상부 스택과 인접하게 위치하는 p형 전하 생성층을 포함할 수 있다. n형 전하 생성층은 하부 스택으로 전자(electron)를 주입해주고, p형 전하 생성층은 상부 스택으로 정공(hole)을 주입해준다. n형 전하 생성층은 전자수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 Li, Na, K, 또는 Cs와 같은 알칼리 금속, 또는 Mg, Sr, Ba, 또는 Ra와 같은 알칼리 토금속이 도핑된 유기층일 수 있다. p형 전하 생성층은 정공수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 도펀트가 도핑된 유기층일 수 있다.
제 2 전극(263)은 발광층(262) 상에 형성된다. 제 2 전극(263)은 발광층(262)을 덮도록 형성될 수 있다. 제 2 전극(263)은 화소(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다.
제 2 전극(263)은 광을 투과시킬 수 있는 ITO, IZO와 같은 투명한 금속물질(TCO, Transparent Conductive Material), 또는 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금과 같은 반투과 금속물질(Semi-transmissive Conductive Material)로 형성될 수 있다. 제 2 전극(263)이 반투과 금속물질로 형성되는 경우, 마이크로 캐비티(micro cavity)에 의해 출광 효율이 높아질 수 있다. 제 2 전극(263) 상에는 캡핑층(capping layer)이 형성될 수 있다.
발광 소자층(260) 상에는 봉지층(30)이 형성된다. 봉지층(30)은 봉지막(280)을 포함한다.
제 2 전극(263) 상에는 봉지막(280)이 배치된다. 봉지막(280)은 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 산소 또는 수분이 침투되는 것을 방지하기 위해 적어도 하나의 무기막과 적어도 하나의 유기막을 포함할 수 있다. 예를 들어, 봉지막(280)은 도 6 및 도 7과 같이 제 1 및 제 2 무기막들(281, 283)과 제 1 및 제 2 무기막들(281, 283) 사이에 개재된 유기막(282)를 포함할 수 있다. 제 1 및 제 2 무기막들(281, 283) 각각은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 또는 티타늄 산화물로 형성될 수 있다. 유기막(282)은 이물들(particles)이 봉지막(280)을 뚫고 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 투입되는 것을 방지하기 위해 충분한 두께, 예를 들어 대략 7~8㎛로 형성될 수 있다.
유기막(282)은 댐(300)에 의해 흐름이 차단되므로, 댐(300)보다 안쪽으로 형성될 수 있다. 이에 비해, 제 1 및 제 2 무기막들(281, 283)은 댐(300)보다 바깥쪽으로 형성될 수 있다. 또한, 제 1 및 제 2 무기막들(281, 283)은 제 1 및 제 2 터치 패드(RP)들을 덮지 않도록 형성될 수 있다.
봉지층(30) 상에는 제 2 버퍼막(31)이 형성된다. 제 2 버퍼막(31)은 봉지막(280)과 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP)을 덮도록 형성될 수 있다. 제 2 버퍼막(31)은 무기막 또는 유기막으로 형성될 수 있다. 제 2 버퍼막(31)이 무기막으로 형성되는 경우, 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
제 2 버퍼막(31) 상에는 터치 센싱층(40)이 형성된다. 터치 센싱층(40)은 제 1 터치 전극층(41), 제 2 터치 전극층(42), 및 터치 절연막(43)을 포함한다.
제 1 터치 전극층(41)은 제 1 및 제 2 터치 전극들(291, 292)을 포함한다. 즉, 제 1 및 제 2 터치 전극들(291, 292)은 동일한 층에 배치될 수 있다. 제 1 및 제 2 터치 전극들(291, 292)은 서로 이격되어 있으며, 서로 전기적으로 절연된다. 제 2 터치 전극층(42)은 연결 전극(293)들을 포함한다. 터치 절연막(43)은 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함한다.
구체적으로, 제 2 버퍼막(31) 상에 연결 전극(293)들이 형성될 수 있다. 연결 전극(293)들은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
연결 전극(293)들 상에는 터치 무기막(294)이 형성될 수 있다. 터치 무기막(294)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
터치 무기막(294) 상에는 터치 유기막(295)이 형성될 수 있다. 봉지막(280)의 유기막(282)은 이물들(particles)이 봉지막(280)을 뚫고 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 투입되는 것을 방지하기 위한 이물 커버층(paticle cover layer)인데 비해, 터치 유기막(295)은 제 1 터치 전극층(41)과 제 2 터치 전극층(42)을 소정의 거리만큼 이격하기 위한 층이다. 그러므로, 터치 유기막(295)은 봉지막(280)의 유기막(282)에 비해 얇은 두께로 형성될 수 있다. 예를 들어, 터치 유기막(295)은 대략 2㎛로 형성될 수 있다. 또한, 봉지막(280)의 유기막(282)에는 콘택홀들이 형성되지 않으므로 봉지막(280)의 유기막(282)은 감광 물질을 포함하지 않아도 된다. 이에 비해, 터치 유기막(295)에는 콘택홀들이 형성되므로 감광 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 터치 유기막(295)은 감광 물질을 포함하는 포토 아크릴(photo acrylate)로 형성될 수 있다.
터치 유기막(295) 상에는 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들이 형성될 수 있다. 제 1 터치 전극(291)들은 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 관통한 컨택 홀 속으로 연결 전극(293)을 이루는 금속이 플레이팅(plating)되도록 성장한 제 1 연결부(CT1)를 통해 연결 전극(293)과 접속될 수 있다. 이로 인해, 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들의 교차 영역들에서 연결 전극(293)들을 이용하여 제 1 터치 전극(291)들을 연결하므로, 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들은 서로 단락되지 않는다.
제 1 터치 라인(TL)은 제 1 터치 전극(291)으로부터 연장되고, 제 2 터치 라인(RL)은 제 2 터치 전극(292)으로부터 연장될 수 있다. 제 1 터치 라인(TL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통한 컨택 홀 속으로 제 1 터치 패드(TP)를 이루는 금속이 플레이팅되도록 성장한 제 2 연결부(CT2)를 통해 제 1 터치 패드(TP)에 접속될 수 있다. 제 2 터치 라인(RL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하여 제 2 터치 패드(RP)를 이루는 금속이 플레이팅되도록 성장한 제 3 연결부(CT3)를 통해 제 2 터치 패드(RP)에 접속될 수 있다.
제 1 터치 전극(291)들, 제 2 터치 전극(292)들, 제 1 터치 라인(TL)들, 및 제 2 터치 라인(RL)들은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들 상에는 제 1 터치 전극(291)들, 제 2 터치 전극(292)들, 및 연결 전극(293)들로 인한 단차를 평탄화하기 위한 오버코트층(296)이 형성될 수 있다.
한편, 도 6에서는 제 2 버퍼막(31) 상에 제 2 터치 전극층(42)이 형성되고, 제 2 터치 전극층(42) 상에 터치 절연막(43)이 형성되며, 터치 절연막(43) 상에 제 1 터치 전극층(41)이 형성되는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 즉, 제 2 버퍼막(31) 상에 제 1 터치 전극층(41)이 형성되고, 제 1 터치 전극층(41) 상에 터치 절연막(43)이 형성되며, 터치 절연막(43) 상에 제 2 터치 전극층(42)이 형성될 수 있다.
터치 센싱층(40) 상에는 컬러필터층이 형성될 수 있다. 컬러필터층은 서브 화소(SP)들과 중첩되게 배치되는 컬러필터들과 뱅크(270)와 중첩되게 배치되는 블랙 매트릭스를 포함할 수 있다. 발광층(262)이 적색, 녹색, 및 청색 광을 발광하는 유기 발광층들을 포함하는 경우, 컬러필터층은 생략될 수 있다.
터치 센싱층(40) 상에는 접착층(50)이 형성된다. 접착층(50)은 박막 트랜지스터층(10), 발광 소자층(20), 봉지층(30), 및 터치 센싱층(40)이 마련된 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112)을 접착한다. 접착층(50)은 투명한 접착 레진층(optically clear resin layer, OCR) 또는 투명한 접착 레진 필름(optically clear adhesive film, OCA)일 수 있다.
제 2 기판(112)은 제 1 기판(110)을 덮는 커버(cover) 기판 또는 커버 윈도우(window)와 같은 역할을 한다. 제 2 기판(112)은 플라스틱 필름, 유리 기판, 또는 봉지 필름(보호 필름)일 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 출원의 일 예는 제 1 터치 전극(291)들은 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 관통한 컨택 홀 속으로 연결 전극(293)을 이루는 금속이 플레이팅(plating)되도록 성장한 제 1 연결부(CT1)를 통해 연결 전극(293)과 접속될 수 있고, 제 1 터치 라인(TL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통한 컨택 홀 속으로 제 1 터치 패드(TP)를 이루는 금속이 플레이팅되도록 성장한 제 2 연결부(CT2)를 통해 제 1 터치 패드(TP)에 접속될 수 있고, 제 2 터치 라인(RL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하여 제 2 터치 패드(RP)를 이루는 금속이 플레이팅되도록 성장한 제 3 연결부(CT3)를 통해 제 2 터치 패드(RP)에 접속될 수 있다. 이에 따라, 본 출원의 일 예는 제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)을 각각 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)에 추가적인 마스크의 이용 없이 접속시킬 수 있다.
제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)은 서로 동일한 층에 제 1 금속을 이용하여 마련된다. 또한, 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)는 서로 동일한 층에 제 2 금속을 이용하여 마련된다. 이에 따라 순차적으로 제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)을 형성하고 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)와 접속시키는 경우, 컨택 홀 공정 이후 별도의 마스크 공정이 필요하다.
본 출원의 성장은 연결부(CT1~CT3)의 측벽을 통한 메탈 플레이팅으로 이루어진다. 본 출원의 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)를 형성하는 제 2 금속은 메탈 플레이팅을 통한 성장이 가능한 금속이다. 메탈 플레이팅을 통한 성장이 가능한 금속은 니켈(Ni), 구리(Cu) 등이 있다. 메탈 플레이팅을 통한 성장을 할 수 있는 금속을 이용하여 하부에 금속층을 형성하는 경우, 별도의 마스크를 이용한 공정 없이도 하부의 금속층이 컨택 홀 또는 경사면을 타고 올라가서 상부의 금속층과 전기적으로 연결될 수 있다.
본 출원의 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)는 컨택 홀 속에서 제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)과 동일한 높이까지 배치된다. 이에 따라, 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)는 컨택 홀 속 전체를 채운다.
본 출원의 제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)들은 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)와 연결되는 부분에서 분리되도록 배치된다. 이는 본 출원의 제 1 터치 전극(291)들, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)들이 먼저 형성된 후, 컨택 홀의 형성 시에 터치 무기막(294) 및 터치 유기막(295), 또는 보호막(240) 및 버퍼막(31)과 같이 관통된 후, 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)를 이루는 금속이 메탈 플레이팅 성질을 이용하여 컨택 홀 속으로 성장하기 때문이다.
이렇게 하는 경우, 메탈 플레이팅 성질을 이용하지 않고 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)를 먼저 형성하고, 제 1 터치 라인(TL), 및 제 2 터치 라인(RL)들을 형성할 때보다 공정 시 사용하는 마스크의 개수를 1개 감소시킬 수 있다. 이에 따라, 본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치는 제조 비용을 감소시킬 수 있다.
도 8은 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 보여주는 흐름도이다. 도 9 내지 도 12는 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 도 9 내지 도 12에는 도 7에 도시된 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도들을 도시하였음에 주의하여야 한다.
이하에서는 도 8 내지 도 12를 결부하여 본 출원의 일 예에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 상세히 설명한다.
첫 번째로, 도 9와 같이 제 1 기판(111) 상에 박막 트랜지스터층(10), 발광 소자층(20), 및 봉지층(30)을 형성한다. (S201)
구체적으로, 박막 트랜지스터를 형성하기 전에 기판(100)을 통해 침투하는 수분으로부터 제 1 기판(111) 상에 제 1 버퍼막을 형성할 수 있다. 제 1 버퍼막은 투습에 취약한 제 1 기판(111)을 통해 침투하는 수분으로부터 박막 트랜지스터(210)와 유기발광소자(260)를 보호하기 위한 것으로, 교번하여 적층된 복수의 무기막들로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제 1 버퍼막은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), SiON 중 하나 이상의 무기막이 교번하여 적층된 다중막으로 형성될 수 있다. 제 1 버퍼막은 CVD법(Chemical Vapor Deposition)을 이용하여 형성될 수 있다.
이후, 제 1 버퍼막 상에 박막 트랜지스터의 액티브층(211)을 형성한다. 구체적으로, 스퍼터링법(Sputtering) 또는 MOCVD법(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) 등을 이용하여 제 1 버퍼막 상의 전면에 액티브 금속층을 형성한다. 이후, 포토 레지스트 패턴을 이용한 마스크 공정으로 액티브 금속층을 패터닝하여 액티브층(211)을 형성한다. 액티브층(211)은 실리콘계 반도체 물질 또는 산화물계 반도체 물질로 형성될 수 있다.
이후, 액티브층(211) 상에 게이트 절연막(220)을 형성한다. 게이트 절연막(220)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
이후, 게이트 절연막(220) 상에 박막 트랜지스터(210)의 게이트 전극(212)을 형성한다. 구체적으로, 스퍼터링법 또는 MOCVD법 등을 이용하여 게이트 절연막(220) 상의 전면(全面)에 제 1 금속층을 형성한다. 그 다음, 포토 레지스트 패턴을 이용한 마스크 공정으로 제 1 금속층을 패터닝하여 게이트 전극(212)을 형성한다. 게이트 전극(212)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
이후, 게이트 전극(212) 상에 층간 절연막(230)을 형성한다. 층간 절연막(230)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
이후, 게이트 절연막(220)과 층간 절연막(230)을 관통하여 액티브층(211)을 노출시키는 콘택홀들을 형성한다.
이후, 층간 절연막(230) 상에 박막 트랜지스터(210)의 소스 및 드레인 전극들(213, 214)을 형성한다. 구체적으로, 스퍼터링법 또는 MOCVD법 등을 이용하여 층간 절연막(230) 상의 전면에 제 2 금속층을 형성한다. 그 다음, 포토 레지스트 패턴을 이용한 마스크 공정으로 제 2 금속층을 패터닝하여 소스 및 드레인 전극들(213, 214)을 형성한다. 소스 및 드레인 전극들(213, 214) 각각은 게이트 절연막(220)과 층간 절연막(230)을 관통하는 콘택홀을 통해 액티브층(211)에 접속될 수 있다. 소스 및 드레인 전극들(213, 214)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
이후, 박막 트랜지스터(210)의 소스 및 드레인 전극들(213, 214) 상에 보호막(240)을 형성한다. 보호막(240)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다. 보호막(240)은 CVD법을 이용하여 형성될 수 있다.
이후, 보호막(240) 상에 박막 트랜지스터(210)로 인한 단차를 평탄화하기 위한 평탄화막(250)을 형성한다. 평탄화막(250)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 형성될 수 있다.
이후, 평탄화막(250) 상에 발광 소자층(20)의 제 1 전극(261)을 형성한다. 구체적으로, 스퍼터링법 또는 MOCVD법 등을 이용하여 평탄화막(280) 상의 전면에 제 3 금속층을 형성한다. 이후, 포토 레지스트 패턴을 이용한 마스크 공정으로 제 3 금속층을 패터닝하여 제 1 전극(261)을 형성한다. 제 1 전극(261)은 보호막(240)과 평탄화막(250)을 관통하는 콘택홀을 통해 박막 트랜지스터(220)의 소스 전극(223)에 접속될 수 있다. 제 1 전극(261)은 알루미늄과 티타늄의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금, 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO)과 같은 반사율이 높은 금속물질로 형성될 수 있다.
이후, 서브 화소(SP)들을 구획하기 위해 평탄화막(250) 상에서 제 1 전극(261)의 가장자리를 덮도록 뱅크(270)를 형성한다. 뱅크(270)는 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 형성될 수 있다.
이후, 제 1 전극(261)과 뱅크(270) 상에 발광층(262)을 형성한다. 발광층(262)은 유기 발광층일 수 있다. 이 경우, 제 1 전극(261)과 뱅크(270) 상에 유기 발광층(262)을 증착 공정 또는 용액 공정으로 형성한다. 유기 발광층(262)은 화소들(P1, P2, P3)에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다. 이 경우, 유기 발광층(262)은 백색 광을 발광하는 백색 발광층으로 형성될 수 있다.
유기 발광층(262)이 백색 발광층인 경우, 2 스택(stack) 이상의 탠덤 구조로 형성될 수 있다. 스택들 각각은 정공 수송층(hole transporting layer), 적어도 하나의 발광층(light emitting layer), 및 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다.
또한, 스택들 사이에는 전하 생성층이 형성될 수 있다. 전하 생성층은 하부 스택과 인접하게 위치하는 n형 전하 생성층과 n형 전하 생성층 상에 형성되어 상부 스택과 인접하게 위치하는 p형 전하 생성층을 포함할 수 있다. n형 전하 생성층은 하부 스택으로 전자(electron)를 주입해주고, p형 전하 생성층은 상부 스택으로 정공(hole)을 주입해준다. n형 전하 생성층은 Li, Na, K, 또는 Cs와 같은 알칼리 금속, 또는 Mg, Sr, Ba, 또는 Ra와 같은 알칼리 토금속으로 도핑된 유기층으로 이루어질 수 있다. p형 전하 생성층은 정공수송능력이 있는 유기물질에 도펀트가 도핑되어 이루어질 수 있다.
이후, 발광층(262) 상에 제 2 전극(263)을 형성한다. 제 2 전극(263)은 서브 화소(SP)들에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다. 제 2 전극(263)은 광을 투과시킬 수 있는 ITO, IZO와 같은 투명한 금속물질(TCO, Transparent Conductive Material)로 형성될 수 있다. 제 2 전극(263)은 스퍼터링법과 같은 물리적 기상 증착법(physics vapor deposition)으로 형성될 수 있다. 제 2 전극(263) 상에는 캡핑층(capping layer)이 형성될 수 있다.
이후, 제 2 전극(263) 상에 봉지막(280)을 형성한다. 봉지막(280)은 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 산소 또는 수분이 침투되는 것을 방지하는 역할을 한다. 이를 위해, 봉지막(280)은 적어도 하나의 무기막(281, 283)을 포함할 수 있다. 적어도 하나의 무기막(281, 283)은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 또는 티타늄 산화물로 형성될 수 있다.
또한, 봉지막(280)은 적어도 하나의 유기막(282)을 더 포함할 수 있다. 유기막(282)은 이물들(particles)이 봉지막(280)을 뚫고 유기 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 투입되는 것을 방지하기 위해 충분한 두께로 형성될 수 있다.
한편, 봉지막의 적어도 하나의 무기막(281, 283)과 유기막(282)을 형성하는 공정은 이미 형성된 발광층(262)이 고온에 의해 손상되는 것을 방지하기 위해 100℃ 이하의 저온 공정으로 행해질 수 있다.
두 번째로, 도 10과 같이 봉지층(30) 상에 제 2 버퍼막(31)을 형성하고, 제 2 버퍼막(31) 상에 연결 전극(293)들을 포함하는 제 2 터치 전극층(42)을 형성한다. (도 8의 S102) 이후, 제 2 터치 전극층(42) 상에 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함하는 터치 절연막(43)을 형성한다. (도 8의 S103)
구체적으로, 제 2 버퍼막(31)은 봉지막(280)과 제 1 및 제 2 터치 패드들(TP, RP)을 덮도록 형성될 수 있다. 제 2 버퍼막(31)은 무기막 또는 유기막으로 형성될 수 있다. 제 2 버퍼막(31)이 무기막으로 형성되는 경우, 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다. 제 2 버퍼막(31)이 유기막으로 형성되는 경우, 제 2 버퍼막(31) 상에 플라즈마 처리하여 제 2 버퍼막(31)의 표면 거칠기(roughness)를 거칠게할 수 있다. 이 경우, 제 1 터치 전극층(41)의 연결 전극(293)들과 접촉하는 제 2 버퍼막(31)의 면적을 늘릴 수 있으므로, 제 2 버퍼막(31)과 제 1 터치 전극층(41)의 연결 전극(293)들의 계면 접착력을 높일 수 있다. 한편, 버퍼막(31)을 형성하는 공정은 이미 형성된 발광층(262)이 고온에 의해 손상되는 것을 방지하기 위해 100℃ 이하의 저온 공정으로 행해질 수 있다.
이후, 스퍼터링법 또는 MOCVD법 등을 이용하여 제 2 버퍼막(31) 상의 전면에 제 4 금속층을 형성한다. 이후, 포토 레지스트 패턴을 이용한 마스크 공정으로 제 4 금속층을 패터닝하여 연결 전극(293)들을 형성한다. 연결 전극(293)들은 복수의 전극을 포함하는 다층 구조로 형성될 수 있으며, 예를 들어 티타늄(Ti)/알루미늄(Al)/티타늄(Ti)의 3층 구조로 형성될 수 있다.
이후, 제 2 터치 전극층(42) 상에 터치 무기막(294)을 형성한다. 터치 무기막(294)은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다.
이후, 터치 무기막(294) 상에 터치 유기막(295)을 형성한다.
봉지막(280)의 유기막(282)은 이물들(particles)이 봉지막(280)을 뚫고 발광층(262)과 제 2 전극(263)에 투입되는 것을 방지하기 위한 이물 커버층(paticle cover layer)인데 비해, 터치 유기막(295)은 제 1 터치 전극층(41)과 제 2 터치 전극층(42)을 소정의 거리만큼 이격하기 위한 층이다. 그러므로, 터치 유기막(295)은 봉지막(280)의 유기막(282)에 비해 얇은 두께로 형성될 수 있다. 예를 들어, 터치 유기막(295)은 대략 2㎛로 형성될 수 있다.
이후, 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 관통하여 연결 전극(293)들을 노출시키는 제 1 연결부(CT1)들을 형성한다. 또한, 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하여 제 1 터치 패드(TP)들을 노출시키는 제 2 연결부(CT2)들을 형성하고, 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하여 제 2 터치 패드(RP)들을 노출시키는 제 3 연결부(CT3)들을 형성한다.
봉지막(280)의 유기막(282)에는 콘택홀들이 형성되지 않으므로 봉지막(280)의 유기막(282)은 감광 물질을 포함하지 않아도 됨에 비해, 터치 유기막(295)에는 콘택홀들이 형성되므로 터치 유기막(295)은 감광 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 터치 유기막(295)은 감광 물질을 포함하는 포토 아크릴로 형성될 수 있다.
한편, 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 형성하는 공정은 이미 형성된 발광층(262)이 고온에 의해 손상되는 것을 방지하기 위해 100℃ 이하의 저온 공정으로 행해질 수 있다.
세 번째로, 도 11과 같이 터치 절연막(43) 상에 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들을 포함하는 제 1 터치 전극층(41) 형성한다. (도 8의 S104) 이후, 포토레지스터층(297)을 형성한 후 노광한다. (도 8의 S105)
구체적으로, 스퍼터링법 또는 MOCVD법 등을 이용하여 터치 절연막(43) 상의 전면에 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들을 형성한다. 제 1 터치 전극(291)들 각각은 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 관통하는 제 1 연결부(CNT1)를 통해 연결 전극(293)에 접속될 수 있다. 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들은 복수의 전극을 포함하는 다층 구조로 형성될 수 있으며, 예를 들어 티타늄(Ti)/알루미늄(Al)/티타늄(Ti)의 3층 구조로 형성될 수 있다.
제 1 터치 라인(TL)은 제 1 터치 전극(291)으로부터 연장되고, 제 2 터치 라인(RL)은 제 2 터치 전극(292)으로부터 연장될 수 있다. 제 1 터치 라인(TL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하는 제 2 연결부(CT2)를 통해 제 1 터치 패드(TP)에 접속될 수 있다. 제 2 터치 라인(RL)은 보호막(240)과 버퍼막(31)을 관통하는 제 3 연결부(CT3)를 통해 제 2 터치 패드(RP)에 접속될 수 있다.
제 1 터치 전극(291)들, 제 2 터치 전극(292)들, 제 1 터치 라인(TL)들, 및 제 2 터치 라인(RL)들은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
또한, 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들 상에는 제 1 터치 전극(291)들, 제 2 터치 전극(292)들, 및 연결 전극(293)들로 인한 단차를 평탄화하기 위한 오버코트층(296)이 형성될 수 있다.
또한, 터치 센싱층(40) 상에는 컬러필터층이 형성될 수 있다. 컬러필터층은 서브 화소(SP)들과 중첩되게 배치되는 컬러필터들과 뱅크(270)와 중첩되게 배치되는 블랙 매트릭스를 포함할 수 있다. 발광층(262)이 적색, 녹색, 및 청색 광을 발광하는 유기 발광층들을 포함하는 경우, 컬러필터층은 생략될 수 있다.
이후, 포토레지스터층(297)을 형성하고 노광한다. 포토레지스터층(297)의 배치 여부에 따라 하부의 층이 식각 여부가 결정된다. 일 예로, 포토레지스터층(297)이 하부의 층이 노광되는 것을 차단하는 역할을 수행하는 경우, 포토레지스터층(297)이 배치된 영역은 하부의 층이 식각되지 않고, 포토레지스터층(297)이 배치되지 않은 영역은 하부의 층이 식각되도록 할 수 있다.
또한, 포토레지스터층(297)을 배치하지 않는 경우, 2차례의 식각 공정을 통해 상부에 배치된 금속층과, 금속층의 하부에 배치된 비금속의 절연층 또는 무기막이 모두 제거된다. 그러나, 포토레지스터층(297)을 하프톤(Halftone)으로 형성하는 경우, 2차례의 식각 공정을 거친 이후에 상부에 배치된 금속층만 제거되고, 금속층의 하부에 배치된 비금속의 절연층 또는 무기막은 유지되도록 할 수 있다.
네 번째로, 도 12와 같이 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함하는 터치 절연막과, 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)을 식각한다. (도 8의 S106) 식각은 건식 식각(Dry Etching)으로 2회 진행된다.
첫 번째로 진행하는 식각은 제 1 연결부(CT1)를 형성하기 위해 컨택 홀을 마련하는 식각이다. 첫 번째로 진행하는 식각에 사용하는 식각액은 포토레지스터층(297), 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함하는 터치 절연막, 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)을 모두 식각할 수 있다. 이에 따라, 첫 번째로 진행하는 식각에서는 포토레지스터층(297)이 형성되지 않은 영역의 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함하는 터치 절연막과, 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)이 모두 식각된다. 포토레지스터층(297)을 하프톤(Halftone)으로 형성한 영역에서는 포토레지스터층(297)이 제거되며, 포토레지스터층(297)을 평균 두께로 형성한 영역은 포토레지스터층(297)이 하프톤(Halftone)으로 잔존한다.
두 번째로 진행하는 식각은 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)을 패터닝하기 위해 진행하는 식각이다. 두 번째로 진행하는 식각에 사용하는 식각액은 포토레지스터층(297)과 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)을 식각할 수 있고, 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)을 포함하는 터치 절연막은 식각하지 않는다. 이에 따라, 두 번째로 진행하는 식각에서는 처음에 포토레지스터층(297)을 하프톤(Halftone)으로 형성한 영역은 포토레지스터층(297)이 제거되어 있어 제 1 및 제 2 터치 전극층(291, 292)이 제거되며, 포토레지스터층(297)을 평균 두께로 형성한 영역은 포토레지스터층(297)이 하프톤(Halftone)으로 잔존하고 있어 포토레지스터층(297)만 제거된다.
결과적으로, 포토레지스터층(297)을 평균 두께로 형성한 영역은 이후의 식각 공정 시 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들 및 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)이 모두 유지된다. 또한, 포토레지스터층(297)을 하프톤(Halftone)으로 형성하는 영역은 이후의 식각 공정 시 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들은 제거되고, 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)은 유지된다. 또한, 포토레지스터층(297)이 배치되지 않은 영역은 이후의 식각 공정 시 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들 및 터치 무기막(294)과 터치 유기막(295)이 모두 제거된다. 이에 따라, 본 출원의 제 1 터치 전극(291)들과 제 2 터치 전극(292)들을 원하는 영역에만 잔존하도록 하거나, 패턴으로 형성할 수 있다.
다섯 번째로, 도 13과 같이 연결 전극(293)을 성장시켜 제 1 터치 전극층(41)과 연결시킨다. (도 8의 S107) 연결 전극(293)의 성장은 메탈 플레이팅(Metal Plating)을 통해 발생한다. 메탈 플레이팅은 컨택 홀 등 1 ㎚ 이상 600 ㎚ 이하의 단위 크기의 벽 또는 공간 내에서 특정 금속들이 벽을 타고 올라갈 수 있는 현상을 의미한다.
본 출원의 연결 전극(293)은 메탈 플레이팅을 통한 성장이 가능한 금속으로 이루어진다. 메탈 플레이팅을 통한 성장이 가능한 금속은 니켈(Ni), 구리(Cu) 등이 있다. 메탈 플레이팅을 통한 성장을 할 수 있는 금속을 이용하여 연결 전극(293)을 형성하는 경우, 별도의 마스크를 이용한 공정 없이도 연결 전극(293)이 컨택 홀 또는 경사면을 타고 올라가서 상부의 제 1 터치 전극(291)과 전기적으로 연결될 수 있다.
연결 전극(293)은 도금을 통해 제 1 연결부(CT1)의 측벽을 타고 올라가면서 성장한다. 연결 전극(293)이 성장하면서 제 1 연결부(CT1)에서 제 1 터치 전극(291)들과 연결될 수 있다. 별도의 증착 과정 없이 연결 전극(293)을 제 1 터치 전극(291)들과 연결시킬 수 있다.
본 출원의 연결 전극(293), 제 1 터치 패드(TP), 및 제 2 터치 패드(RP)는 제 1 연결부(CT1) 속에서 제 1 터치 전극(291)들과 동일한 높이까지 배치된다. 연결 전극(293)은 제 1 연결부(CT) 내부 전체를 채운다.
본 출원의 제 1 터치 전극(291)들은 연결 전극(293)과 연결되는 부분에서 분리되도록 배치된다. 이는 본 출원의 제 1 터치 전극(291)들이 먼저 형성된 후, 제 1 연결부(CT1)의 형성 시 터치 무기막(294) 및 터치 유기막(295)과 같이 관통된 후, 연결 전극(293)을 이루는 금속이 메탈 플레이팅 성질을 이용하여 제 1 연결부(CT1) 내부에서 성장하여 제 1 터치 전극(291)들과 연결되기 때문이다.
이렇게 하는 경우, 메탈 플레이팅 성질을 이용하지 않고 연결 전극(293)을 먼저 형성하고 제 1 터치 전극(291)을 형성할 때보다 공정 시 사용하는 마스크의 개수를 1개 감소시킬 수 있다. 이에 따라, 본 출원에 따른 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법은 제조 비용을 감소시킬 수 있다.
이에 따라, 본 출원은 별도의 마스크 공정을 추가로 수행하지 않고도 연결 전극과 터치 전극들을 연결할 수 있는 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조방법을 제공할 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 이 분야의 통상의 기술자는 본 출원의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 출원의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
100: 터치 스크린 일체형 표시 장치 110: 표시 패널
111: 하부 기판 112: 상부 기판
120: 게이트 구동부 130: 데이터 구동부
131: 소스 드라이브 IC 140: 연성필름
150: 회로보드 160: 타이밍 컨트롤러
170: 호스트 시스템 180: 터치 구동부
181: 제 1 터치 구동부 182: 제 2 터치 구동부
183: 터치 컨트롤러 190: 터치 좌표 산출부
10: 박막 트랜지스터층 20: 발광 소자층
30: 봉지층 31: 버퍼막
40: 터치 센싱층 41: 제 1 터치 전극층
42: 제 2 터치 전극층 43: 터치 절연막
50: 접착층 210: 박막 트랜지스터
211: 액티브층 212: 게이트 전극
213: 소스 전극 214: 드레인 전극
220: 게이트 절연막 230: 층간 절연막
240: 보호막 250: 평탄화막
260: 유기발광소자 261: 제 1 전극
262: 유기 발광층 263: 제 2 전극
270: 뱅크 280: 봉지막
281: 제 1 무기막 282: 유기막
283: 제 2 무기막 291, TE: 제 1 터치 전극
292, RE: 제 2 터치 전극 293, BE: 연결 전극
294: 터치 무기막 295: 터치 유기막
296: 오버코트층 TL: 제 1 터치 라인
RL: 제 2 터치 라인

Claims (12)

  1. 제 1 기판 상에 배치된 제 1 전극, 상기 제 1 전극 상에 배치된 발광층, 상기 발광층 상에 배치된 제 2 전극을 포함하는 발광 소자층; 및
    상기 발광 소자층 상에 배치된 터치 센싱층을 구비하고,
    상기 터치 센싱층은 제 1 및 제 2 터치 전극층들 및 그들 사이에 배치된 터치 절연막을 포함하며,
    상기 제 1 터치 전극층은 제 1 및 제 2 터치 전극을 이루고,
    상기 제 2 터치 전극층은 연결 전극을 이루고,
    상기 제 2 터치 전극층은 상기 터치 절연막에 마련된 제1 컨택 홀을 채우도록 형성되어 상기 제 1 터치 전극층과 연결되고,
    상기 제1 컨택 홀은 상기 제1 터치 전극 및 상기 터치 절연막을 동시에 관통하는 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 터치 전극은 상기 터치 절연막을 이루는 터치 무기막과 터치 유기막을 관통한 상기 제1 컨택 홀 속으로 상기 연결 전극을 이루는 금속이 채워진 제1 연결부를 통해 상기 연결 전극과 접속된 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 터치 전극층은 상기 제1 컨택 홀의 측벽을 통한 메탈 플레이팅을 통한 성장으로 이루어지는 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 연결 전극은 상기 제1 연결부 속에서 상기 제 1 터치 전극층과 동일한 높이까지 배치된 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 터치 전극층은 상기 연결 전극에 의해 상기 제1 연결부에서 분리되어 배치된 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 터치 전극으로부터 연장된 제 1 터치 라인; 및
    상기 제 2 터치 전극으로부터 연장된 제 2 터치 라인을 터 포함하고,
    상기 제 1 터치 라인은 상기 제 1 기판 상에 마련된 제 2 연결부를 통해 제 1 터치 패드에 접속되고,
    상기 제 2 터치 라인은 상기 제 1 기판 상에 마련된 제 3 연결부를 통해 제 2 터치 패드에 접속된 터치 스크린 일체형 표시 장치
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 2 연결부는,
    상기 제 1 기판 상에 마련된 보호막과 버퍼막을 관통한 제2 컨택 홀 속으로 상기 제 1 터치 패드를 이루는 금속이 채워져서 마련되고,
    상기 제 3 연결부는,
    상기 제 1 기판 상에 마련된 보호막과 버퍼막을 관통한 제3 컨택 홀 속으로 상기 제 2 터치 패드를 이루는 금속이 채워져서 마련된 터치 스크린 일체형 표시 장치.
  8. 제 1 기판 상에 박막 트랜지스터층, 발광 소자층, 및 봉지층을 형성하는 단계;
    상기 봉지층 상에 연결 전극들을 포함하는 제 2 터치 전극층을 형성한 후, 상기 제 2 터치 전극층 상에 터치 무기막과 터치 유기막을 포함하는 터치 절연막을 형성하는 단계;
    상기 터치 절연막 상에 제 1 터치 전극들과 제 2 터치 전극들 포함하는 제 1 터치 전극층을 형성하고, 포토레지스터층을 형성한 후 노광하는 단계;
    상기 터치 절연막, 상기 제 1 터치 전극층, 및 상기 제 2 터치 전극층을 식각하는 단계; 및
    상기 연결 전극을 성장시켜 상기 제 1 터치 전극층과 연결시키는 단계를 포함하고,
    상기 성장은 상기 식각에 의해 형성된 제1 연결부의 측벽을 통한 메탈 플레이팅으로 이루어지는 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 터치 전극은 상기 터치 절연막을 관통한 컨택 홀 속으로 상기 연결 전극을 이루는 금속을 상기 제1 연결부 내에서 성장시켜 상기 연결 전극과 접속시킨 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법.
  10. 삭제
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 연결 전극은 상기 제1 연결부 속에서 상기 제 1 터치 전극층과 동일한 높이까지 배치된 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법.
  12. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 터치 전극층은 상기 연결 전극에 의해 상기 제1 연결부에서 분리되어 배치된 터치 스크린 일체형 표시 장치의 제조 방법.
KR1020170136807A 2017-10-20 2017-10-20 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법 KR102367826B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170136807A KR102367826B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법
US16/165,714 US10854691B2 (en) 2017-10-20 2018-10-19 Display apparatus with integrated touch screen and method for fabricating the same
CN201811220509.1A CN109696988B (zh) 2017-10-20 2018-10-19 具有集成触摸屏的显示装置及其制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170136807A KR102367826B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190044407A KR20190044407A (ko) 2019-04-30
KR102367826B1 true KR102367826B1 (ko) 2022-02-24

Family

ID=66170250

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170136807A KR102367826B1 (ko) 2017-10-20 2017-10-20 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10854691B2 (ko)
KR (1) KR102367826B1 (ko)
CN (1) CN109696988B (ko)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10727284B2 (en) * 2018-11-15 2020-07-28 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Method of fabricating organic light-emitting diode touch display screen
KR20200137852A (ko) * 2019-05-31 2020-12-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 디스플레이 장치
KR20210086245A (ko) * 2019-12-31 2021-07-08 엘지디스플레이 주식회사 터치 센서를 포함하는 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그 제조 방법
KR20210117373A (ko) * 2020-03-18 2021-09-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20210157947A (ko) * 2020-06-22 2021-12-30 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
CN112366280B (zh) * 2020-11-06 2023-03-17 京东方科技集团股份有限公司 触控显示面板及显示装置
US20220165995A1 (en) * 2020-11-25 2022-05-26 Applied Materials, Inc. Selective filler patterning by lithography for oled light extraction
CN112542504B (zh) * 2020-12-03 2022-08-05 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Oled显示面板及其制作方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140320761A1 (en) * 2011-09-02 2014-10-30 Sharp Kabushiki Kaisha Touch panel and display apparatus

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101385190B1 (ko) * 2007-02-07 2014-04-15 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 패널 및 이의 제조 방법
US8184256B2 (en) * 2007-12-28 2012-05-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Display panel and method for manufacturing the same
TWI463452B (zh) * 2009-04-21 2014-12-01 Ind Tech Res Inst 觸控式顯示裝置及其製造方法
TW201232099A (en) * 2011-01-25 2012-08-01 Wintek Corp Display having a frame, touch display, and method of manufacturing a frame
TW201243663A (en) * 2011-04-20 2012-11-01 Wintek Corp Touch display panel
TW201327312A (zh) * 2011-12-19 2013-07-01 Wintek Corp 具有靜電防護結構之觸控面板
TW201349033A (zh) * 2012-05-17 2013-12-01 Wintek Corp 觸控顯示面板
KR101453880B1 (ko) * 2012-11-29 2014-10-22 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR102151774B1 (ko) * 2013-05-03 2020-09-03 동우 화인켐 주식회사 터치 스크린 패널의 제조 방법
KR101699405B1 (ko) * 2014-10-14 2017-02-14 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린을 갖는 액정 표시 장치와 터치 패널의 검사 방법
KR102289934B1 (ko) * 2014-11-28 2021-08-13 삼성디스플레이 주식회사 터치 감지 센서를 포함하는 표시 장치
CN104777692B (zh) * 2015-05-08 2018-09-04 厦门天马微电子有限公司 阵列基板及制作方法、触控显示面板
KR102438247B1 (ko) * 2015-09-07 2022-08-30 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR101750428B1 (ko) * 2015-09-24 2017-06-23 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린 일체형 표시장치
KR102394724B1 (ko) * 2015-10-29 2022-05-09 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린 패널
KR20170080314A (ko) * 2015-12-31 2017-07-10 엘지디스플레이 주식회사 터치패널이 내장된 표시장치
JP6620025B2 (ja) * 2016-01-19 2019-12-11 株式会社ジャパンディスプレイ センサ付き表示装置
JP6610949B2 (ja) * 2016-02-11 2019-11-27 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子金具及びコネクタ
KR102567547B1 (ko) * 2016-03-22 2023-08-17 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
TWI607562B (zh) * 2016-07-11 2017-12-01 友達光電股份有限公司 顯示面板
KR20180011924A (ko) * 2016-07-25 2018-02-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN106201106B (zh) * 2016-07-29 2019-03-19 上海天马微电子有限公司 一种触控显示面板
CN106449712B (zh) * 2016-11-07 2019-03-29 上海天马微电子有限公司 一种有机发光显示面板以及有机发光显示装置
CN106654041B (zh) * 2016-12-05 2018-10-26 武汉华星光电技术有限公司 柔性oled显示器及其制作方法
JP2018112859A (ja) * 2017-01-11 2018-07-19 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR20180110924A (ko) * 2017-03-30 2018-10-11 동우 화인켐 주식회사 Oled 패널 및 이를 포함하는 화상 표시 장치
JP2018190331A (ja) * 2017-05-11 2018-11-29 株式会社ジャパンディスプレイ タッチセンサ及びタッチセンサを有する表示装置
CN110231892B (zh) * 2018-03-05 2022-05-31 瀚宇彩晶股份有限公司 触控显示装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140320761A1 (en) * 2011-09-02 2014-10-30 Sharp Kabushiki Kaisha Touch panel and display apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CN109696988B (zh) 2022-10-28
US10854691B2 (en) 2020-12-01
CN109696988A (zh) 2019-04-30
KR20190044407A (ko) 2019-04-30
US20190123113A1 (en) 2019-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102602071B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치
KR102349699B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치와 그의 제조방법
KR102367826B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법
JP6559757B2 (ja) タッチスクリーン一体型表示装置
KR102354925B1 (ko) 표시장치와 그의 제조방법
KR20220080067A (ko) 표시 장치
KR102426269B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치
KR20210093211A (ko) 표시장치
KR20180078669A (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치와 그의 제조방법
KR102387631B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치와 그의 제조방법
KR102376822B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시 장치와 그의 제조방법
KR102413395B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시 장치
KR20190066394A (ko) 터치 스크린 일체형 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant