CN109147633A - 显示面板检测电路及检测方法、阵列基板 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示器技术领域，提出一种显示面板检测电路，该检测电路包括多级第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。每一级第一开关晶体管的第一端与对应的栅线连接；第一控制线与第2Nx+2y+1级第一开关晶体管的控制端连接；第二控制线与第2Nx+2y+2级第一开关晶体管的控制端连接；第三控制线与第N(2x+1)+2y+1级第一开关晶体管的控制端连接；第四控制线与第N(2x+1)+2y+2级第一开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；第一信号线与第2Mx+y级第一开关晶体管第二端连接；第二信号线与第M(2x+1)+y级第一开关晶体管第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。本公开提供的检测电路可以快速定位故障栅线。

Description

显示面板检测电路及检测方法、阵列基板

技术领域

本公开涉及显示器技术领域，尤其涉及一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板。

背景技术

在液晶显示器领域，成盒工序为生产中承前启后重要的一环，成盒工序是将TFT基板与彩膜基板合二为一，并切割为单个的液晶盒，液晶盒经过偏光片贴附等后续工序，形成最终产品。液晶盒工序完成以后，需要对液晶盒进行检查，常见的不良主要包含线不良。线不良一般包括栅线、数据线断路以及栅线和数据线短路。

相关技术中，为了方便快速的检查，通常在阵列基板上布置检查电路，然而，相关技术中布置的检测电路只能检测是否出现线不良，并不能对线不良的位置进行定位。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板，进而至少在一定程度上克服相关技术中，不能对线不良的位置进行定位的技术问题。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板检测电路，设置于阵列基板上，所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线，该检测电路包括多级第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。多级第一开关晶体管与多行所述栅线对应设置，每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接；第一控制线与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；第二控制线与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接；第三控制线与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；第四控制线与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；第一信号线与第2Mx+y级所述第一开关晶体管的第二端连接；第二信号线与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。

在本发明的一种示例性实施例中，该检测电路还包括多级第二开关晶体管、第五控制线、第六控制线、第七控制线、第八控制线、第三信号线、第四信号线。多级第二开关晶体管与多列所述数据线对应设置，每一级所述第二开关晶体管的第一端与对应的所述数据线连接；第五控制线与第2Ax+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第六控制线与第2Ax+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接；第七控制线与第A(2x+1)+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第八控制线与第A(2x+1)+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤A；第三信号线与第2Bx+y级所述第二开关晶体管的第二端连接；第四信号线与第B(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤B。

在本发明的一种示例性实施例中，N为M的整数倍，A是B的整数倍。

在本发明的一种示例性实施例中，N等于12、M等于3，A等于12、B等于3。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板检测方法，应用上述的显示面板检测电路，该检测方法包括：

向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹；

根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。

在本发明的一种示例性实施例中，所述向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，根据所述第一条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数包括：

向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹；

查找所述第一条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m1；

向所述第一控制线、所述第二控制线、所述第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号，或者向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹；

查找所述第二条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m2，则故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间；

向所述第一控制线、所述第三控制线、所述第一信号线、所述第二信号线输入导通信号，向所述第二控制线、所述第四控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障栅线位于奇数行或是偶数行。

在本发明的一种示例性实施例中，所述根据是否出现问题条纹判断故障栅线位于奇数行或是偶数行包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行。

在本发明的一种示例性实施例中，该检测方法还包括：

向所述第五控制线、所述第六控制线、所述第三信号线、所述第四信号线输入导通信号，向所述第七控制线、所述第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线、第四信号线输入导通信号，向所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多列第三条纹；

查找所述第三条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m3；

向所述第五控制线、所述第六控制线、所述第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、所述第七控制线、所述第八控制线输入关断信号，或者向所述第五控制线、第六控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、第七控制线、第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得第m3列所述第三条纹所在位置出现明暗相间的多列第四条纹；

查找所述第四条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m4，则故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间；

向所述第五控制线、所述第七控制线、所述第三信号线、所述第四信号线输入导通信号，向所述第六控制线、所述第八控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障数据线位于奇数列或是偶数列。

在本发明的一种示例性实施例中，所述根据是否出现问题条纹判断故障数据线位于奇数列或是偶数列包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列。

根据本发明的一个方面，提供一种阵列基板，该阵列基板包括上述的显示面板检测电路。

本发明提供一种显示面板检测电路及检测方法，该检测电路在显示面板的阵列基板上设置多个第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。通过向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹；根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。一方面，该检测电路可以对故障栅线进行定位，从而提高检修效率；另一方面该设置结构简单，成本较低。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为相关技术中显示面板检测电路的结构示意图；

图2为相关技术中信号线和控制线的时序图；

图3为本公开显示面板检测电路一种示例性实施例的结构示意图；

图4为本公开显示面板检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图5为本公开显示面板检测电路一种示例性实施例的结构示意图；

图6为本公开显示面板检测方法一种示例性实施例的流程图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。

相关技术中，如图1所示，为相关技术中显示面板检测电路的结构示意图，相关技术中，显示面板的阵列基板包括多条栅线Gate line和多条数据线Data line。在每条栅线Gate line的一侧设置有一个开关晶体管T1，开关晶体管T1的第一端与对应行的栅线Gateline连接，该开关晶体管T1的控制端与一控制线GS连接，奇数行开关晶体管T1的第二端与信号线GO连接，偶数行开关晶体管T1的第二端与信号线GE连接。在每条数据线Data line的一侧设置有一个开关晶体管T2，开关晶体管T2的第一端与对应列的数据线Data line连接，该开关晶体管T2的控制端与一控制线DS连接，R子像素所在列的开关晶体管T2的第二端与信号线DR连接，G子像素所在列的开关晶体管T2的第二端与信号线DG连接，B子像素所在列的开关晶体管T2的第二端与信号线DB连接。相关技术中，如图2所述，为相关技术中信号线和控制线的时序图。对显示面板进行检测时，控制线GS和DS为高电平，开关晶体管T1和T2导通，当信号线GO和GE向栅线Gate line发送栅极驱动信号时的同时信号线DR、DG、DB向数据线发送数据信号，从而使得显示面板发光。通过观察显示面板上是否出现亮线或者暗线(当栅线断路时会出现行方向的暗线，当数据线断路时会出现列方向的暗线，当栅线和数据线短路时会出现列方向的亮线)判断显示面板是否出现线不良。然而，相关技术中的检测电路不能定位导致线不良的栅线或者数据线的位置。

基于此，本示例性实施例首先提供一种显示面板检测电路，该检测电路可以设置于阵列基板上，如图3所示，为本公开显示面板检测电路一种示例性实施例的结构示意图。所述阵列基板包括多行栅线Gate line和多列数据线Data line，该检测电路包括多级第一开关晶体管T3、第一控制线S1、第二控制线S2、第三控制线S3、第四控制线S4、第一信号线G1、第二信号线G2。多级第一开关晶体管T3与多行所述栅线对应设置，每一级所述第一开关晶体管T3的第一端与对应的所述栅线Gate line连接；第一控制线S1与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管T3的控制端连接；第二控制线S2与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管T3的控制端连接；第三控制线S3与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管T3的控制端连接；第四控制线S4与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管T3的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；第一信号线G1与第2Mx+y级所述第一开关晶体管T3的第二端连接；第二信号线G2与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管T3的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。

本发明提供一种显示面板检测电路及检测方法，该检测电路在显示面板的阵列基板上设置多个第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。通过向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹；根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。一方面，该检测电路可以对故障栅线进行定位，从而提高检修效率；另一方面该设置结构简单，成本较低。

本示例性实施例中，如图3所示，每条数据线Data line的一侧可以设置有开关晶体管T4，开关晶体管T4的第一端与数据线Data line连接，开关晶体管T4的第二端与信号线DA连接，开关晶体管T4的控制端与控制线DST连接，当上述的检测电路对显示面板进行检测时，控制线DST向开关晶体管T4输入导通信号，用以将信号线DA的信号传输到数据线Dataline上。

栅线发生故障一般具有两种情况：栅线断路和栅线与数据线短路。栅线断路时，向故障栅线输入栅极驱动信号，故障栅线所在行的像素不发光而出现暗线；栅线与数据线短路时，不向栅线输入栅极驱动信号，故障栅线所在行也会发光，从而出现亮线。基于此，本示例性实施例提供的显示面板检测电路实现故障栅线定位的具体方法如下：

首先，可以向所述第一控制线S1、第二控制线S2、第一信号线G1、第二信号G2线输入导通信号，向所述第三控制线S3、所述第四控制线S4输入关断信号；或者向所述第三控制线S3、第四控制线S4、第一信号线G1、第二信号线G2输入导通信号，向所述第一控制线S1、第二控制线S2输入关断信号。

当向所述第一控制线S1、第二控制线S2、第一信号线G1、第二信号线G2输入导通信号，向所述第三控制线S3、所述第四控制线S4输入关断信号时，与第一控制线S1连接的第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管T3导通，与第二控制线S2连接的第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管T3导通，信号线GA和GB向第2Nx+2y+1行和第2Nx+2y+1行栅线传输栅极驱动信号，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N。即第一信号线G1和第二信号线G2向第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……栅线传输栅极驱动信号，位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……的像素区形成第一亮条纹。与第三控制线S3连接的第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管T3关断，与第四控制线S4连接的第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管T3关断，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N。即第一信号线G1和第二信号线G2不向第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……栅线传输栅极驱动信号，位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的像素区形成第一暗条纹。从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹。此时位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……栅线出现断路时，位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……的第一亮条纹会出现暗线；位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……栅线与数据线出现短路时，位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的第一暗条纹会出现亮线。

同理，当向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第一控制线、第二控制线输入关断信号时，位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……的像素区形成第一暗条纹，位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的像素区形成第一亮条纹。从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹。此时位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……栅线出现短路时，位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……的第一暗条纹会出现亮线；位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……栅线与数据线出现断路时，位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的第一亮条纹会出现暗线。其中，N的取值应该为一足够大的值，以便人眼可以分辨出第一条纹。

然后，可以查找上述第一条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m1。其中问题条纹是指暗条纹中出现亮线或者亮条纹中出现暗线。当问题条纹出现在第m1行时，即可将故障栅线锁定于第N*(m1-1)+1行～N*m1行之间。

进而可以再向所述第一控制线、所述第二控制线、所述第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号，或者向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹。

当第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……像素区形成的第一亮条纹出现暗线时，向所述第一控制线、所述第二控制线、所述第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号。第一信号线G1向与其连接的第2Mx+y级第一开关晶体管T3传输栅极驱动信号，第二信号线G2不向与其连接的第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管T3传输栅极驱动信号，其中，0≤x，0＜y≤M。即在第1-N行、2N-3N行、4N-5N行像素区范围内，第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……像素区域形成第二亮条纹，第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……像素区域形成第二暗条纹，从而使得第m1行所述第一亮条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹。当故障线位于第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……时，可以在第二亮条纹中观察到上述暗线，并记录该暗线所处第二条纹的行数m2(m2是指在第m1行所述第一条纹中问题条纹所在的行数)。当故障线位于第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……时，暗线位于第二暗条纹区而不能被观察到，此时可以向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号。从而第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……像素区域形成第二暗条纹，第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……像素区域形成第二亮条纹。继而记录该暗线所处第二条纹的行数m2。

当位于第1-N行、2N-3N行、4N-5N行……的第一暗条纹出现亮线时，向所述第一控制线、所述第二控制线、所述第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号。第一信号线向与其连接的第2Mx+y级第一开关晶体管传输栅极驱动信号，第二信号线不向与其连接的第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管T3传输栅极驱动信号，其中，0≤x，0＜y≤M。即在第1-N行、2N-3N行、4N-5N行像素区范围内，第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……像素区域形成第二亮条纹，第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……像素区域形成第二暗条纹，从而使得第m1行所述第一暗条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹。当故障线位于第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……时，可以在第二暗条纹中观察到上述亮线，记录该亮线所处第二条纹的行数m2(m2是指在第m1行所述第一条纹中问题条纹所在的行数)。当故障线位于第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……时，亮线位于第二亮条纹区而不能被观察到，此时可以向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号。从而第1-M行、2M-3M行、4M-5M行……像素区域形成第二暗条纹，第M-2M行、3M-4M行、5M-6M行……像素区域形成第二亮条纹。继而记录该亮线所处第二条纹的行数m2。

同理，当位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的第一亮条纹出现暗线或者位于第N-2N行、3N-4N行、5N-6N行……的第一暗条纹会出现亮线时，可以向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹。并记录问题条纹所在行数m2。

根据上述记录的m1和m2可以将故障栅线定位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间。其中，M的取值应该为一足够大的值，以便人眼可以分辨出第一条纹。N应该是M的倍数，以便根据第二条纹中问题条纹的行数计算故障栅线的行数。本示例性实施例中，N可以取值为12，M可以取值为3，应该理解的是，在其他示例性实施例中，M、N还可以有其他的取值。

最后，向所述第一控制线、所述第三控制线、所述第一信号线、所述第二信号线输入导通信号，向所述第二控制线、所述第四控制线输入关断信号；根据是否出现问题条纹判断所述故障栅线位于奇数行或是偶数行。向所述第一控制线、所述第三控制线、所述第一信号线、所述第二信号线输入导通信号，向所述第二控制线、所述第四控制线输入关断信号后，位于奇数行的像素区发光，位于偶数行的像素区不发光，从而在显示面板上形成明暗相间的条纹。出现问题条纹时，肉眼虽然不能观察到问题条纹位于哪一行，但是可以观察到问题条纹是否存在。因此，当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行；当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行。

上述显示面板检测电路通过上述的检测方法可以将问题栅线定位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行或者第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行。从而实现了对故障栅线的快速定位。

本示例性实施例中，如图4所示，为本公开显示面板检测电路另一种示例性实施例的结构示意图。该检测电路还可以包括多级第二开关晶体管T5、第五控制线S5、第六控制线S6、第七控制线S7、第八控制线S8、第三信号线D1、第四信号线D2。多级第二开关晶体管与多列所述数据线对应设置，每一级所述第二开关晶体管的第一端与对应的所述数据线连接；第五控制线S5与第2Ax+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第六控制线S6与第2Ax+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接；第七控制线S7与第A(2x+1)+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第八控制线S8与第A(2x+1)+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤A；第三信号线D1与第2Bx+y级所述第二开关晶体管的第二端连接；第四信号线D2与第B(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤B。

数据线发生故障一般具有两种情况：数据线断路和栅线与数据线短路。数据线断路时，向故障数据线输入数据信号，故障数据线所在列的像素不发光而出现暗线；栅线与数据线短路时，不向数据线输入数据信号，故障数据线所在列也会发光，从而出现亮线。

数据线的检测方法同理栅极的检测方法如下：

首先，向所述第五控制线S5、所述第六控制线S6、所述第三信号线D1、所述第四信号线D2输入导通信号，向所述第七控制线S7、所述第八控制线S8输入关断信号，或者向所述第七控制线S7、第八控制线S8、第三信号线D1、第四信号线D2输入导通信号，向所述第五控制线S5、第六控制线S6输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多列第三条纹；

然后，查找所述第三条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m3；

进而，向所述第五控制线S5、所述第六控制线S6、所述第三信号线D1输入导通信号，向所述第四信号线D2、所述第七控制线S7、所述第八控制线S8输入关断信号，或者向所述第五控制线S5、第六控制线S6、第四信号线D2输入导通信号，向所述第三信号线D1、第七控制线S7、第八控制线S8输入关断信号，或者向所述第七控制线S7、第八控制线S8、第三信号线D1输入导通信号，向所述第四信号线D2、所述第五控制线S5、第六控制线S6输入关断信号，或者向所述第七控制线S7、第八控制线S8、第四信号线D2输入导通信号，向所述第三信号线D1、所述第五控制线S5、第六控制线S6输入关断信号，从而使得第m3列所述第三条纹所在位置出现明暗相间的多列第四条纹；

然后，查找所述第四条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m4，则故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间；

最后，向所述第五控制线S5、所述第七控制线S7、所述第三信号线D1、所述第四信号线D2输入导通信号，向所述第六控制线S6、所述第八控制线S8输入关断信号；根据是否出现问题条纹判断所述故障数据线位于奇数列或是偶数列。

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列。

本示例性实施例提供的显示面板检测电路根据上述的检测方法可以通过所述第五控制线S5、所述第六控制线S6、所述第七控制线S7、所述第八控制线S8、第三信号线D1、第四信号线D2以及第二开关晶体管T5将故障数据线定位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列或者第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列，从而实现了快速定位故障数据线。其中，A、B的取值应该为一足够大的值，以便人眼可以分辨出第三条纹和第四条纹。A应该是B的倍数，以便根据第四条纹中问题条纹的列数计算故障栅线的列数。本示例性实施例中，A可以取值为12，B可以取值为3，应该理解的是，在其他示例性实施例中，A、B还可以有其他的取值。

在其他示例性实施例中，如图5所示，为本公开显示面板检测电路一种示例性实施例的结构示意图。当只对数据线进出检测时，阵列基板上可以只设置上述的第五控制线S5、第六控制线S6、第七控制线S7、第八控制线S8以及第二开关晶体管T5。栅线的一侧设置开关晶体管T6、与开关晶体管T6控制端连接的控制线GS以及与开关晶体管T6一端连接信号线GA。信号线GA用于在数据线检测阶段通过开关晶体管T6向栅线传输栅极驱动信号。检测方法与上述检测方法相同，此处不再赘述。

本示例性实施例还提供一种显示面板检测方法，应用上述的显示面板检测电路，如图6所示，为本公开显示面板检测方法一种示例性实施例的流程图。该检测方法包括：

步骤S1：向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹；

步骤S2：根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。

本示例性实施例中，所述向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，根据所述第一条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数可以包括：

向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹；

查找所述第一条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m1；

向所述第一控制线、所述第二控制线、所述第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第三控制线、所述第四控制线输入关断信号，或者向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹；

查找所述第二条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m2，则故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间；

向所述第一控制线、所述第三控制线、所述第一信号线、所述第二信号线输入导通信号，向所述第二控制线、所述第四控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障栅线位于奇数行或是偶数行。

在本发明的一种示例性实施例中，所述根据是否出现问题条纹判断故障栅线位于奇数行或是偶数行可以包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行。

本示例性实施例中，该检测方法还可以包括：

向所述第五控制线、所述第六控制线、所述第三信号线、所述第四信号线输入导通信号，向所述第七控制线、所述第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线、第四信号线输入导通信号，向所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多列第三条纹；

查找所述第三条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m3；

向所述第五控制线、所述第六控制线、所述第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、所述第七控制线、所述第八控制线输入关断信号，或者向所述第五控制线、第六控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、第七控制线、第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得第m3列所述第三条纹所在位置出现明暗相间的多列第四条纹；

查找所述第四条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m4，则故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间；

向所述第五控制线、所述第七控制线、所述第三信号线、所述第四信号线输入导通信号，向所述第六控制线、所述第八控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障数据线位于奇数列或是偶数列。

在本发明的一种示例性实施例中，所述根据是否出现问题条纹判断故障数据线位于奇数列或是偶数列可以包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列。

本示例性实施例提供的显示面板检测方法在上述内容中已经做出详细说明，此处不再赘述。

本示例性实施例还提供一种阵列基板，该阵列基板包括上述的显示面板检测电路。

本示例性实施例提供的阵列基板与上述显示面板检测电路具有相同的技术特征和工作原理，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里发明的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由所附的权利要求指出。

上述所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中，如有可能，各实施例中所讨论的特征是可互换的。在上面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本发明的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组件、材料等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本发明的各方面。

Claims (10)

1.一种显示面板检测电路，设置于阵列基板上，所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线，其特征在于，包括：

多级第一开关晶体管，与多行所述栅线对应设置，每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接；

第一控制线，与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；

第二控制线，与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接；

第三控制线，与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；

第四控制线，与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；

第一信号线，与第2Mx+y级所述第一开关晶体管的第二端连接；

第二信号线，与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测电路，其特征在于，还包括：

多级第二开关晶体管，与多列所述数据线对应设置，每一级所述第二开关晶体管的第一端与对应的所述数据线连接；

第五控制线，与第2Ax+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；

第六控制线，与第2Ax+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接；

第七控制线，与第A(2x+1)+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；

第八控制线，与第A(2x+1)+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤A；

第三信号线，与第2Bx+y级所述第二开关晶体管的第二端连接；

第四信号线，与第B(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤B。

3.根据权利要求2所述的显示面板检测电路，其特征在于，N为M的整数倍，A是B的整数倍。

4.根据权利要求2所述的显示面板检测电路，其特征在于，N等于12、M等于3，A等于12、B等于3。

5.一种显示面板检测方法，应用权利要求1-4任一项所述的显示面板检测电路，其特征在于，包括：

向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹；

根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。

6.根据权利要求5所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号，根据所述第一条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数包括：

向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹；

查找所述第一条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m1；

向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号，向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号，向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号，从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹；

查找所述第二条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的行数m2，则故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间；

向所述第一控制线、第三控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号，向所述第二控制线、第四控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障栅线位于奇数行或是偶数行。

7.根据权利要求6所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述根据是否出现问题条纹判断故障栅线位于奇数行或是偶数行包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的奇数行，若没有出现问题条纹，则所述故障栅线位于第N(m1-1)+M(m2-1)+1行到第N(m1-1)+Mm2行之间的偶数行。

8.根据权利要求5所述的显示面板检测方法，其特征在于，还包括：

向所述第五控制线、第六控制线、第三信号线、第四信号线输入导通信号，向所述第七控制线、第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线、第四信号线输入导通信号，向所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得所述显示面板出现明暗相间的多列第三条纹；

查找所述第三条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m3；

向所述第五控制线、第六控制线、第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、第七控制线、第八控制线输入关断信号，或者向所述第五控制线、第六控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、第七控制线、第八控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第三信号线输入导通信号，向所述第四信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，或者向所述第七控制线、第八控制线、第四信号线输入导通信号，向所述第三信号线、所述第五控制线、第六控制线输入关断信号，从而使得第m3列所述第三条纹所在位置出现明暗相间的多列第四条纹；

查找所述第四条纹中的问题条纹，并记录所述问题条纹所在的列数m4，则故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间；

向所述第五控制线、第七控制线、第三信号线、第四信号线输入导通信号，向所述第六控制线、第八控制线输入关断信号；

根据是否出现问题条纹判断所述故障数据线位于奇数列或是偶数列。

9.根据权利要求8所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述根据是否出现问题条纹判断故障数据线位于奇数列或是偶数列包括：

当所述问题条纹为暗条纹中出现亮线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列；

当所述问题条纹为亮条纹中出现暗线时，若出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的奇数列，若没有出现问题条纹，则所述故障数据线位于第A(m3-1)+B(m4-1)+1列到第A(m3-1)+Bm4列之间的偶数列。

10.一种阵列基板，其特征在于，包括权利要求1-4任一项所述的显示面板检测电路。