CN113093446A - 检测电路、阵列基板及其检测方法、电子纸及检测工具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及显示技术领域，提出一种检测电路、阵列基板及其检测方法、电子纸及检测工具。检测电路包括第一输入电路和第一输出电路。第一输入电路包括多个第一开关单元，每个第一开关单元的第一端连接第一电源信号端，第二端连接与其对应的第一信号线的第一端，控制端连接第一控制信号端；第一输出电路包括级连的多个第二开关单元，上一级第二开关单元的第二端连接相邻下一级第二开关单元的第一端，每个第二开关单元的控制端连接与其对应的第一信号线的第二端，且第一极第二开关单元的第一端连接与其对应的第一信号线的第二端，最后一级第二开关单元的第二端连接第一检测端。该检测电路能够检测第一信号线是否断路。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路、阵列基板及其检测方法、电子纸及检测工具。
背景技术
电子纸是一种类似纸张的电子显示器。电子纸既可以带来和纸一样舒适的视觉显示，也可以实现普通显示器的显示功能。电子纸同普通显示器一样具有阵列基板，阵列基板上集成有信号线，例如栅线和数据线等。相比于刚性阵列基板的电子纸，柔性阵列基板的电子纸由于基板材料的热收缩等原因，柔性阵列基板电子纸上的信号线容易发生断裂等不良，从而造成电子纸有良率下降。
需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测电路、阵列基板及其检测方法、电子纸及检测工具。该检测电路能够检测电子纸中信号线的断裂状态，，从而解决相关技术中电子纸有良率较低的技术问题。
本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。
根据本发明的一个方面，提供一种检测电路，用于检测阵列基板的多条第一信号线，所述检测电路包括第一输入电路和第一输出电路，第一输入电路包括多个第一开关单元，所述第一开关单元与所述第一信号线一一对应设置，每个所述第一开关单元的第一端连接第一电源信号端，第二端连接与其对应的所述第一信号线的第一端，控制端连接第一控制信号端；第一输出电路包括级连的多个第二开关单元，所述第二开关单元与所述第一信号线一一对应设置，上一级所述第二开关单元的第二端连接相邻下一级所述第二开关单元的第一端，每个所述第二开关单元的控制端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，且第一极所述第二开关单元的第一端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，最后一级所述第二开关单元的第二端连接第一检测端。
本发明的一种示例性实施例中，所述阵列基板还包括多条第二信号线，所述检测电路还包括第二输入电路和第二输出电路，第二输入电路包括多个第三开关单元，所述第三开关单元与所述第二信号线一一对应设置，每个所述第三开关单元的第一端连接第二电源信号端，第二端连接与其对应的所述第二信号线的第一端，控制端连接第二控制信号端；第二输出电路包括级连的多个第四开关单元，所述第四开关单元与所述第二信号线一一对应设置，上一级所述第四开关单元的第二端连接所述下一级所述第四开关单元的第一极，每个所述第四开关单元的控制端连接与其对应的所述第二信号线的第二端，且第一极所述第四开关单元的第一端连接与其对应的所述第二信号线的第二端，最后一级所述第四开关单元的第二端连接第二检测端。
本发明的一种示例性实施例中，所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线。
本发明的一种示例性实施例中，所述第一信号线为数据线，第二信号线为栅线。
本发明的一种示例性实施例中，所述第一开关单元、第二开关单元、第三开关单元、第四开关单元为N型晶体管或P型晶体管。
本发明的一种示例性实施例中，所述第一控制信号端共用所述第一电源信号端，所述第二控制信号端共用所述第二电源信号端。
根据本发明的一个方面，提供一种阵列基板，该阵列基板包括上述的检查电路。
本发明的一种示例性实施例中，所述阵列基板包括显示区和位于显示区周围的走线区，所述检测电路集成于所述走线区。
本发明的一种示例性实施例中，包括第一探针垫和第二探针垫，第一探针垫设置于所述阵列基板的表面，连接第一电源信号端、第一控制信号端；第二探针垫设置于所述阵列基板的表面，连接第一检测端。
本发明的一种示例性实施例中，包括第三探针垫和第四探针垫，第三探针垫设置于所述阵列基板的表面，连接所述第二电源信号端、所述第二控制信号端；第四探针垫设置于所述阵列基板的表面，连接第二检测端。
本发明的一种示例性实施例中，所述第一探针垫共用所述第三探针垫。
根据本发明的一个方面，提供一种阵列基板检测方法，用于检测上述的阵列基板，该阵列基板检测方法包括：
向第一控制信号端输入有效电平信号以导通第一开关单元；
向第一电源信号端输入有效信号；
检测第一检测端的电平状态，并根据第一检测端的电平状态判断第一信号线的断裂状态；
其中，当第一检测端的电平为有效电平信号时，第一信号线均未断裂，当第一检测端的电平为无效电平信号时，至少部分第一信号线断裂。
根据本发明的一个方面，提供一种电子纸，该电子纸包括上述阵列基板。
根据本发明的一个方面，提供一种检测工具，该检测工具包括第一与非门和第一发光单元，第一与非门的第一输入端连接高电平信号端，第二输入端用于连接第一检测端；第一发光单元连接于所述第一与非门的输出端和接地端之间。
本发明的一种示例性实施例中，该检测工具还包括第二与非门和第二发光单元，第二与非门的第一输入端连接所述高电平信号端，第二输入端用于连接第二检测端；第二发光单元连接于所述第二与非门的输出端和接地端之间。
根据本发明的一个方面，提供一种检测工具，该检测工具包括第一或非门和第三发光单元。第一或非门的第一输入端连接低电平信号端，第二输入端用于连接第一检测端；第三发光单元连接于所述第一或非门的输出端和高电平信号端之间。
本发明的一种示例性实施例中，该检测工具还包括第二或非门和第四发光单元，第二或非门的第一输入端连接所述低电平信号端，第二输入端用于连接第二检测端；第四发光单元连接于所述第二或非门的输出端和高电平信号端之间。
本公开提供一种检测电路、阵列基板及其检测方法、电子纸及检测工具，该检测电路用于检测阵列基板的多条第一信号线，所述检测电路包括第一输入电路和第一输出电路，第一输入电路包括多个第一开关单元，所述第一开关单元与所述第一信号线一一对应设置，每个所述第一开关单元的第一端连接第一电源信号端，第二端连接与其对应的所述第一信号线的第一端，控制端连接第一控制信号端；第一输出电路包括级连的多个第二开关单元，所述第二开关单元与所述第一信号线一一对应设置，上一级所述第二开关单元的第二端连接相邻下一级所述第二开关单元的第一端，每个所述第二开关单元的控制端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，且第一极所述第二开关单元的第一端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，最后一级所述第二开关单元的第二端连接第一检测端。本公开提供的检测电路能够通过向第一控制信号端输入有效电平以导通第一开关单元，同时向第一电源信号端输入有效电平，当所有第一信号线均未断裂时，第二开关单元均导通，第一检测端的电平为有效电平，当任意第一信号线断裂时，与该断裂的第一信号线对应的第二开关单元关断，第一检测端的电平为非有效电平。因此，本公开可以通过检测第一检测端的电平检测第一信号线是否发生断裂。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图；
图2为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；
图3为本公开阵列基板一种示例性实施例的结构示意图；
图4为本公开阵列基板一种示例性实施例中显示区的电路结构图；
图5为本公开检测工具一种示例性实施例的结构示意图；
图6为本公开检测工具一种示例性实施例的结构示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。
虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。
用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。
本示例性实施例首先提供一种检测电路，如图1所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图。该检测电路用于检测阵列基板的多条第一信号线L1，所述检测电路包括第一输入电路11和第一输出电路21，第一输入电路11包括多个第一开关单元T1，所述第一开关单元T1与所述第一信号线L1一一对应设置，每个所述第一开关单元T1的第一端连接第一电源信号端V1，第二端连接与其对应的所述第一信号线L1的第一端，控制端连接第一控制信号端CN1；第一输出电路21包括级连的多个第二开关单元T2，所述第二开关单元T2与所述第一信号线L1一一对应设置，上一级所述第二开关单元T2的第二端连接相邻下一级所述第二开关单元T2的第一端，每个所述第二开关单元T2的控制端连接与其对应的所述第一信号线L1的第二端，且第一极所述第二开关单元T2的第一端连接与其对应的所述第一信号线L1的第二端，最后一级所述第二开关单元T2的第二端连接第一检测端TS1。
本示例性实施例提供的检测电路能够通过向第一控制信号端输入有效电平以导通第一开关单元，同时向第一电源信号端输入有效电平，当所有第一信号线均未断裂时，第二开关单元均导通，第一检测端的电平为有效电平；当任意第一信号线断裂时，与该断裂的第一信号线对应的第二开关单元关断，第一检测端的电平为非有效电平。因此，本示例性实施例可以通过检测第一检测端的电平检测第一信号线是否发生断裂。
本示例性实施例中，如图2所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图。所述阵列基板还可以包括多条第二信号线L2，其中，第二信号线L2可以与第一信号线L1相交，所述检测电路还可以包括第二输入电路12和第二输出电路22，第二输入电路12包括多个第三开关单元T3，所述第三开关单元T3与所述第二信号线L2一一对应设置，每个所述第三开关单元T3的第一端连接第二电源信号端V2，第二端连接与其对应的所述第二信号线L2的第一端，控制端连接第二控制信号端CN2；第二输出电路包括级连的多个第四开关单元T4，所述第四开关单元T4与所述第二信号线L2一一对应设置，上一级所述第四开关单元T4的第二端连接所述下一级所述第四开关单元T4的第一极，每个所述第四开关单元T4的控制端连接与其对应的所述第二信号线L2的第二端，且第一极所述第四开关单元T4的第一端连接与其对应的所述第二信号线L2的第二端，最后一级所述第四开关单元T4的第二端连接第二检测端TS2。
本示例性实施例提供的检测电路能够通过向第二控制信号端输入有效电平以导通第三开关单元，同时向第二电源信号端输入有效电平，当所有第二信号线均未断裂时，第四开关单元均导通，第二检测端的电平为有效电平；当任意第二信号线断裂时，与该断裂的第二信号线对应的第四开关单元关断，第二检测端的电平为非有效电平。因此，本示例性实施例可以通过检测第二检测端的电平检测第二信号线是否发生断裂。
本示例性实施例中，所述第一信号线可以为栅线，第二信号线可以为数据线。应该理解的是，在其他示例性实施例中，所述第一信号线也可以为数据线，第二信号线也可以为栅线。其中，栅线可以包括沿阵列基板横向延伸的信号线，例如，栅线可以为用于向像素驱动电路提供栅极驱动信号的信号线；数据线可以包括延阵列基板列方向延伸的信号线，例如，数据线可以为用于向像素驱动电路提供数据信号的信号线。
本示例性实施例中，如图1、2所示，所述第一开关单元T1、第二开关单元T2、第三开关单元T3、第四开关单元T4为N型晶体管或P型晶体管。当第二开关单元为N型晶体管时，第一电源信号端的信号可以为高电平信号，当第一信号线L1均未断裂时，写入第一检测端TS1的信号为高电平信号；当第二开关单元为P型晶体管时，第一电源信号端的信号可以为低电平信号，当第一信号线L1均未断裂时，写入第一检测端TS1的信号为低电平信号。同理，当第四开关单元T4为N型晶体管时，第二电源信号端V2的信号可以为高电平信号，当第二信号线L2均未断裂时，写入第二检测端TS2的信号为高电平信号；当第四开关单元为P型晶体管时，第二电源信号端V2的信号可以为低电平信号，当第二信号线L2均未断裂时，写入第二检测端TS2的信号为低电平信号。
本示例性实施例中，第一开关单元T1和第二开关单元T2可以同为N型晶体管或同为P型晶体管，当第一开关单元T1和第二开关单元T2可以同为N型晶体管或同为P型晶体管时，由于第一开关单元T1和第二开关单元T2的导通电平逻辑相同，因此，所述第一控制信号端CN1可以共用所述第一电源信号端V1。同理，第三开关单元T3和第四开关单元T4可以同为N型晶体管或同为P型晶体管，由于第三开关单元T3和第四开关单元T4的导通电平逻辑相同，因此，所述第二控制信号端CN2可以共用所述第二电源信号端V2。
本示例性实施例还提供一种阵列基板，该阵列基板包括上述的检查电路。
本示例性实施例中，如图3所示，为本公开阵列基板一种示例性实施例的结构示意图，所述阵列基板可以包括显示区AA和位于显示区AA周围的走线区，所述检测电路可以集成于所述走线区。
本示例性实施例中，如图3所示，第一输入电路11和第一输出端电路21可以分别设置于阵列基板显示区AA的相对两侧，第二输入电路12和第二输出电路22可以设置于阵列基板显示区AA的另一相对两侧。
本示例性实施例中，如图4所示，为本公开阵列基板一种示例性实施例中显示区的电路结构图。该阵列基板显示区内包括有阵列分布的多个像素驱动电路，如图4所示，该像素驱动电路可以包括晶体管T，存储电容Cst、像素电容Cx。其中，本示例性实施例中，第一信号线L1可以为用于向像素驱动电路提供栅极驱动信号的信号线；第二信号线L2可以为用于向像素驱动电路提供数据信号的信号线。本示例性实施例中，为简化阵列基板制作工艺，检测电路中的晶体管可以与显示区内的晶体管同层设置。
本示例性实施例中，如图3所示，该阵列基板还可以包括第一探针垫31和第二探针垫32，第一探针垫31可以设置于所述阵列基板的表面，且连接第一电源信号端V1、第一控制信号端CN1；第二探针垫32可以设置于所述阵列基板的表面，且连接第一检测端TS1。当需要检测第一信号线L1时，可以通过第一探针垫31向检测电路的第一电源信号端V1和第一控制信号端CN1输入有效信号，从而能够通过检测第二探针垫32上的电平判断第一信号线是否发生断裂。具体检测方法上述内容已经做出详细的说明，此处不再赘述。其中，第一探针垫和第二探针垫为导电材料，且具有较大的接触面积，从而便于外部检测装置通过探针垫向检查电路输入相应的信号。第一探针垫和第二探针垫可以通过阵列基板上的过孔与对应的信号端连接。
本示例性实施例中，如3所示，该阵列基板还可以包括第三探针垫33和第四探针垫34，第三探针垫33设置于所述阵列基板的表面，且连接所述第二电源信号端V2、所述第二控制信号端CN2；第四探针垫34设置于所述阵列基板的表面，且连接第二检测端TS2。当需要检测第二信号线L2时，可以通过第三探针垫33向检测电路的第二电源信号端V2和第二控制信号端CN2输入有效信号，从而能够通过检测第四探针垫34上的电平判断第二信号线是否发生断裂。具体检测方法上述内容已经做出详细的说明，此处不再赘述。
本示例性实施例中，所述第一探针垫可以共用所述第三探针垫。第一信号线和第二信号线可以同时进行检查。应该理解的是，在其他示例性实施例中，第一信号线和第二信号线也可以分别进行检查，第一电源信号端V1和第一控制信号端CN1可以分别连接一探针垫，第二电源信号端V2和所述第二控制信号端CN2可以分别连接一探针垫，这些都属于本公开的保护范围。
本示例性实施例提供一种阵列基板检测方法，用于检测上述的阵列基板，该阵列基板检测方法包括：
向第一控制信号端输入有效电平信号以导通第一开关单元；
向第一电源信号端输入有效信号；
检测第一检测端的电平状态，并根据第一检测端的电平状态判断第一信号线的断裂状态；
其中，当第一检测端的电平为有效电平信号时，第一信号线均未断裂，当第一检测端的电平为无效电平信号时，至少部分第一信号线断裂。
该检测方法上述内容已经做出详细说明，此处不再赘述。
本示例性实施例还提供一种电子纸，该电子纸包括上述阵列基板。
该电子纸与上述的阵列基板具有相同的技术特征和工作原理，上述内容已经做出详细说明，此处不再赘述。
本示例性实施例还提供一种检测工具，如图5所示，为本公开检测工具一种示例性实施例的结构示意图。当上述检测电路中第一电源信号端为高电平时，本实施例提供的检查工具能够检测第一信号线是否发生断裂。该检测工具包括第一与非门NAG1和第一发光单元PL1，第一与非门NAG1的第一输入端连接高电平信号端VGH，第二输入端用于连接第一检测端TS1；第一发光单元PL1连接于所述第一与非门NAG1的输出端和接地端GND之间。其中，第一与非门NAG1的第二输入端可以通过第二探针垫连接第一检测端。当第一信号线均未发生断裂时，第一检测端的电平为高电平，此时第一与非门NAG1的输出端为低电平，由于接地端GND也为低电平，因而第一发光单元PL1不发光；当任意一根第一信号线发生断裂时，第一检测端的电平为低电平，此时第一与非门NAG1的输出端为高电平，第一发光单元PL1发光。从而该检测工具能够通过第一发光单元的发光状态判断第一信号线是否发生断裂。
本示例性实施例中，如图5所示，该检测工具还包括第二与非门NAG2和第二发光单元PL2，第二与非门NAG2的第一输入端连接所述高电平信号端VGH，第二端用于连接第二检测端TS2；第二发光单元PL2连接于所述第二与非门NAG2的输出端和接地端GND之间。当上述检测电路中第二电源信号端为高电平时，本实施例提供的检查工具能够检测第二信号线是否发生断裂。其中，第二与非门NAG2的第二输入端可以通过第四探针垫连接第二检测端。当第二信号线均未发生断裂时，第二检测端的电平为高电平，此时第二与非门NAG2的输出端为低电平，由于接地端GND也为低电平，因而发光单元PL2不发光；当任意一根第二信号线发生断裂时，第二检测端的电平为低电平，此时第二与非门NAG2的输出端为高电平，第二发光单元PL2发光。从而该检测工具能够通过第二发光单元PL2的发光状态判断第一信号线是否发生断裂。
本示例性实施例还提供一种检测工具，如图6所示，为本公开检测工具一种示例性实施例的结构示意图。当上述检测电路中第一电源信号端为低电平时，本示例性实施例提供的检查工具能够检测第一信号线是否发生断裂。该检测工具包括第一或非门NOG1和第三发光单元PL3。第一或非门NOG1的第一输入端连接低电平信号端VGL，第二输入端用于连接第一检测端TS1；第三发光单元PL3连接于所述第一或非门NOG1的输出端和高电平信号端VGH之间。其中，第一或非门NOG1的第二输入端可以通过第二探针垫连接第一检测端TS1。当第一信号线均未发生断裂时，第一检测端的电平为低电平，此时第一或非门NOG1的输出端为高电平，因而第三发光单元PL3不发光；当任意一根第一信号线发生断裂时，第一检测端的电平为高电平，此时第一或非门NOG1的输出端为低电平，第三发光单元PL3发光。从而该检测工具能够通过第三发光单元的发光状态判断第一信号线是否发生断裂。
本示例性实施例中，如图6所示，该检测工具还可以包括第二或非门NOG2和第四发光单元PL4，第二或非门NOG1的第一输入端连接所述低电平信号端VGL，第二输入端用于连接第二检测端TS2；第四发光单元PL4连接于所述第二或非门NOG2的输出端和高电平信号端VGH之间。其中，第二或非门NOG2的第二输入端可以通过第四探针垫连接第二检测端TS2。当第二信号线均为发生断裂时，第二检测端的电平为低电平，此时第二或非门NOG2的输出端为高电平，因而第四发光单元PL4不发光；当任意一根第二信号线发生断裂时，第二检测端的电平为高电平，此时第二或非门NOG2的输出端为低电平，第四发光单元PL4发光。从而该检测工具能够通过第四发光单元的发光状态判断第二信号线是否发生断裂。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。
Claims (17)
1.一种检测电路，用于检测阵列基板的多条第一信号线，其特征在于，所述检测电路包括：
第一输入电路，包括多个第一开关单元，所述第一开关单元与所述第一信号线一一对应设置，每个所述第一开关单元的第一端连接第一电源信号端，第二端连接与其对应的所述第一信号线的第一端，控制端连接第一控制信号端；
第一输出电路，包括级连的多个第二开关单元，所述第二开关单元与所述第一信号线一一对应设置，上一级所述第二开关单元的第二端连接相邻下一级所述第二开关单元的第一端，每个所述第二开关单元的控制端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，且第一极所述第二开关单元的第一端连接与其对应的所述第一信号线的第二端，最后一级所述第二开关单元的第二端连接第一检测端。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述阵列基板还包括多条第二信号线，所述检测电路还包括：
第二输入电路，包括多个第三开关单元，所述第三开关单元与所述第二信号线一一对应设置，每个所述第三开关单元的第一端连接第二电源信号端，第二端连接与其对应的所述第二信号线的第一端，控制端连接第二控制信号端；
第二输出电路，包括级连的多个第四开关单元，所述第四开关单元与所述第二信号线一一对应设置，上一级所述第四开关单元的第二端连接所述下一级所述第四开关单元的第一极，每个所述第四开关单元的控制端连接与其对应的所述第二信号线的第二端，且第一极所述第四开关单元的第一端连接与其对应的所述第二信号线的第二端，最后一级所述第四开关单元的第二端连接第二检测端。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线。
4.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一信号线为数据线，第二信号线为栅线。
5.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一开关单元、第二开关单元、第三开关单元、第四开关单元为N型晶体管或P型晶体管。
6.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一控制信号端共用所述第一电源信号端，所述第二控制信号端共用所述第二电源信号端。
7.一种阵列基板，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的检查电路。
8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区和位于显示区周围的走线区，所述检测电路集成于所述走线区。
9.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，包括：
第一探针垫，设置于所述阵列基板的表面，连接第一电源信号端、第一控制信号端；
第二探针垫，设置于所述阵列基板的表面，连接第一检测端。
10.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，包括：
第三探针垫，设置于所述阵列基板的表面，连接所述第二电源信号端、所述第二控制信号端；
第四探针垫，设置于所述阵列基板的表面，连接第二检测端。
11.根据权利要求10所述的阵列基板，其特征在于，所述第一探针垫共用所述第三探针垫。
12.一种阵列基板检测方法，用于检测权利要求7-11任一项所述的阵列基板，其特征在于，包括：
向第一控制信号端输入有效电平信号以导通第一开关单元；
向第一电源信号端输入有效信号；
检测第一检测端的电平状态，并根据第一检测端的电平状态判断第一信号线的断裂状态；
其中，当第一检测端的电平为有效电平信号时，第一信号线均未断裂，当第一检测端的电平为无效电平信号时，至少部分第一信号线断裂。
13.一种电子纸，其特征在于，包括权利要求7-11任一项所述阵列基板。
14.一种检测工具，其特征在于，包括：
第一与非门，第一输入端连接高电平信号端，第二输入端用于连接第一检测端；
第一发光单元，连接于所述第一与非门的输出端和接地端之间。
15.根据权利要求14所述的检测工具，其特征在于，还包括：
第二与非门，第一输入端连接所述高电平信号端，第二输入端用于连接第二检测端；
第二发光单元，连接于所述第二与非门的输出端和接地端之间。
16.一种检测工具，其特征在于，包括：
第一或非门，第一输入端连接低电平信号端，第二输入端用于连接第一检测端；
第三发光单元，连接于所述第一或非门的输出端和高电平信号端之间。
17.根据权利要求16所述的检测工具，其特征在于，还包括：
第二或非门，第一输入端连接所述低电平信号端，第二输入端用于连接第二检测端；
第四发光单元，连接于所述第二或非门的输出端和高电平信号端之间。
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