JPH11167129A - 静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法 - Google Patents
静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶表示装置の静電気保護能力を高め、表示
品質試験の検出力を高めることにある。 【解決手段】 透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形
成された多数のデータ線と、前記基板上に横に形成され
た多数のゲート線と、前記多数のゲート線の一端と前記
多数のデータ線の両端を横切る第１接地線と、前記第１
接地線に平行に配置されている第２接地線と、前記第１
接地線から前記データ線の一端に逆方向に連結された第
１ダイオードと、前記第２接地線から前記データ線の一
端に正方向に連結された第２ダイオードとを含む。
品質試験の検出力を高めることにある。 【解決手段】 透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形
成された多数のデータ線と、前記基板上に横に形成され
た多数のゲート線と、前記多数のゲート線の一端と前記
多数のデータ線の両端を横切る第１接地線と、前記第１
接地線に平行に配置されている第２接地線と、前記第１
接地線から前記データ線の一端に逆方向に連結された第
１ダイオードと、前記第２接地線から前記データ線の一
端に正方向に連結された第２ダイオードとを含む。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置に係
り、特に静電気保護回路を有する液晶表示装置と液晶表
示装置の表示品質を試験する方法に関する。
り、特に静電気保護回路を有する液晶表示装置と液晶表
示装置の表示品質を試験する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】平板表示装置の一種である液晶表示装置
は、電圧によって光の透過度が変化する液晶の特性を利
用したものであって、低い電圧で駆動することができ、
電力の使用量が少ないため、広く利用されている。この
ような液晶表示装置の製作工程の大部分はガラス基板上
で遂行される。ガラス基板は不導体であるので瞬間的に
発生する電荷が基板下に分散されないため、静電気に極
めて弱い。従って、ガラス基板に形成された絶縁膜や素
子などが静電気によって損傷する可能性が高くなり、結
局液晶表示装置の不良を起こしてしまうこととなる。
は、電圧によって光の透過度が変化する液晶の特性を利
用したものであって、低い電圧で駆動することができ、
電力の使用量が少ないため、広く利用されている。この
ような液晶表示装置の製作工程の大部分はガラス基板上
で遂行される。ガラス基板は不導体であるので瞬間的に
発生する電荷が基板下に分散されないため、静電気に極
めて弱い。従って、ガラス基板に形成された絶縁膜や素
子などが静電気によって損傷する可能性が高くなり、結
局液晶表示装置の不良を起こしてしまうこととなる。
【０００３】前記のような静電気による問題点を解決す
るために、ガラス基板上のすべての金属配線をショート
・バー（short bar ）を形成して結ぶ方法と、非線形素
子を利用した静電気防止回路を利用する方法とが広く使
用されている。ショート・バーを形成する方法は、スク
ライビング工程以降にメタルがガラス周縁にそのまま現
われる問題点がある。これを解決するためには、ガラス
周縁に非伝導性の接着剤を薄く塗るという追加的工程が
必要で、接着剤の均一性の制御が難しいという問題点も
依然として残っている。
るために、ガラス基板上のすべての金属配線をショート
・バー（short bar ）を形成して結ぶ方法と、非線形素
子を利用した静電気防止回路を利用する方法とが広く使
用されている。ショート・バーを形成する方法は、スク
ライビング工程以降にメタルがガラス周縁にそのまま現
われる問題点がある。これを解決するためには、ガラス
周縁に非伝導性の接着剤を薄く塗るという追加的工程が
必要で、接着剤の均一性の制御が難しいという問題点も
依然として残っている。
【０００４】静電気防止回路を利用する方法について、
図１および図２を参照して説明する。図１は、従来の液
晶表示基板の配線図であって、ショート・バーの構造を
示す。図１に示したように、静電気を防止するために、
基板１０上にゲート線２０とデータ線３０とが横及び縦
方向に多数個形成されており、これらは基板１０の一側
縁でショート・バー４０、４１によってすべて連結され
ている。この時、データ線３０を連結するショート・バ
ー４０とゲート線２０を連結するショート・バー４１と
を連結線４２によって連結することもある。ショート・
バー４０の端には検査信号印加のための検査用パッド６
０が連結されている。
図１および図２を参照して説明する。図１は、従来の液
晶表示基板の配線図であって、ショート・バーの構造を
示す。図１に示したように、静電気を防止するために、
基板１０上にゲート線２０とデータ線３０とが横及び縦
方向に多数個形成されており、これらは基板１０の一側
縁でショート・バー４０、４１によってすべて連結され
ている。この時、データ線３０を連結するショート・バ
ー４０とゲート線２０を連結するショート・バー４１と
を連結線４２によって連結することもある。ショート・
バー４０の端には検査信号印加のための検査用パッド６
０が連結されている。
【０００５】液晶表示基板の製造過程では、ショート・
バー４０を接地させてデータ線３０またはゲート線２０
から発生した静電気をショート・バー４０を通して分散
させることにより、静電気による被害を減らす。このよ
うなショート・バー４０は、液晶表示基板内の表示の欠
陥などを検査するのにも使用され得る。
バー４０を接地させてデータ線３０またはゲート線２０
から発生した静電気をショート・バー４０を通して分散
させることにより、静電気による被害を減らす。このよ
うなショート・バー４０は、液晶表示基板内の表示の欠
陥などを検査するのにも使用され得る。
【０００６】すなわち、ショート・バー４０、４１に一
定の信号を印加すると、すべての画素が同時にオンの状
態となるが、データ線３０、ゲート線２０または薄膜ト
ランジスタに欠陥のある画素には信号が伝達されないた
め、画素が黒く現われる。一方、静電気を効果的に放電
するために、静電気保護用ダイオード５０をデータ線３
０またはゲート線２０の一端または両端に追加的に接続
し得る。
定の信号を印加すると、すべての画素が同時にオンの状
態となるが、データ線３０、ゲート線２０または薄膜ト
ランジスタに欠陥のある画素には信号が伝達されないた
め、画素が黒く現われる。一方、静電気を効果的に放電
するために、静電気保護用ダイオード５０をデータ線３
０またはゲート線２０の一端または両端に追加的に接続
し得る。
【０００７】図２は、図１に形成されている静電気保護
用ダイオードを示した回路図であって、静電気保護用ダ
イオードの接地線と連結された状態が詳細に示されてい
る。図１及び図２に示したように、それぞれのデータ線
３０及びゲート線２０に対して正方向と逆方向とにダイ
オードＤ１、Ｄ２が連結されており、かかるダイオード
５０は同一の接地線５１に連結されている。従って、ダ
イオードＤ１、Ｄ２のみならずデータショート・バー４
０及びゲートショート・バー４１が互いに連結される。
用ダイオードを示した回路図であって、静電気保護用ダ
イオードの接地線と連結された状態が詳細に示されてい
る。図１及び図２に示したように、それぞれのデータ線
３０及びゲート線２０に対して正方向と逆方向とにダイ
オードＤ１、Ｄ２が連結されており、かかるダイオード
５０は同一の接地線５１に連結されている。従って、ダ
イオードＤ１、Ｄ２のみならずデータショート・バー４
０及びゲートショート・バー４１が互いに連結される。
【０００８】静電気保護用ダイオード５０がさらに設け
られているこのような液晶表示基板において、任意の一
つのデータ線３０から静電気が発生する場合、データ線
３０に連結されたダイオードＤ１がターンオンされなが
ら電荷が接地線５１の側に移動し、接地線５１に沿って
移動した電荷は隣接データ線３０のダイオードＤ２をタ
ーンオンして隣接データ線３０に沿って移動する。局部
的に発生した電荷はこのような方式で他のところに移動
しながら次第に消滅する。
られているこのような液晶表示基板において、任意の一
つのデータ線３０から静電気が発生する場合、データ線
３０に連結されたダイオードＤ１がターンオンされなが
ら電荷が接地線５１の側に移動し、接地線５１に沿って
移動した電荷は隣接データ線３０のダイオードＤ２をタ
ーンオンして隣接データ線３０に沿って移動する。局部
的に発生した電荷はこのような方式で他のところに移動
しながら次第に消滅する。
【０００９】基板上の表示検査は、前述と同一の方式で
なされる。液晶表示監査を終えた後、基板１０の周縁に
形成されているショート? バー４０、４１は切断線Ｃ／
Ｌに沿ってグラインディング（grinding）で除去する。
しかし、集積回路（integrated circuit:IC ）が基板１
０上に形成されるＣＯＧ（chip on glass ）方式の場
合、ショート・バー４０、４１が集積回路の反対側に形
成されるため、ショート・バー４０、４１をグラインデ
ィングではなくカッティング工程で除去しなければなら
ないので工程が増加する。
なされる。液晶表示監査を終えた後、基板１０の周縁に
形成されているショート? バー４０、４１は切断線Ｃ／
Ｌに沿ってグラインディング（grinding）で除去する。
しかし、集積回路（integrated circuit:IC ）が基板１
０上に形成されるＣＯＧ（chip on glass ）方式の場
合、ショート・バー４０、４１が集積回路の反対側に形
成されるため、ショート・バー４０、４１をグラインデ
ィングではなくカッティング工程で除去しなければなら
ないので工程が増加する。
【００１０】また、このような静電気防止回路を利用す
る方法は、すべてのデータ線に同一の電圧が印加される
ため、データ線とデータ線とが短絡する場合に検出がで
きなくなる問題点がある。
る方法は、すべてのデータ線に同一の電圧が印加される
ため、データ線とデータ線とが短絡する場合に検出がで
きなくなる問題点がある。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】このように検出力が落
ちるため、実際にパネルを駆動して不良を検出する工程
を経ることとなり、これによって工程に大きな時間と労
働力が投入されて費用が上昇するという問題点がある。
本発明は、前記に鑑みてなされたもので、その目的は、
液晶表示装置の静電気保護能力を高め、表示品質試験の
検出力を高めることにある。
ちるため、実際にパネルを駆動して不良を検出する工程
を経ることとなり、これによって工程に大きな時間と労
働力が投入されて費用が上昇するという問題点がある。
本発明は、前記に鑑みてなされたもので、その目的は、
液晶表示装置の静電気保護能力を高め、表示品質試験の
検出力を高めることにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、データ線の両端と重なる接地線と第２接
地線とを有し、ダイオードはデータ線の一端から第１接
地線に正方向に、第２接地線には逆方向に連結されてい
る。正方向のダイオードと逆方向のダイオードが互いに
並列に連結されており、二つの接地線間に挿入されてい
るダイオード回路をさらに含むことができる。
に、本発明は、データ線の両端と重なる接地線と第２接
地線とを有し、ダイオードはデータ線の一端から第１接
地線に正方向に、第２接地線には逆方向に連結されてい
る。正方向のダイオードと逆方向のダイオードが互いに
並列に連結されており、二つの接地線間に挿入されてい
るダイオード回路をさらに含むことができる。
【００１３】また、偶数番目及び奇数番目のデータ線が
異なる接地線に連結されるようにすることも可能であ
る。ゲート線の一端が第１接地線に逆方向に、第２接地
線に正方向に連結されることが好ましい。また、偶数番
目及び奇数番目のゲート線が異なる接地線に連結される
ようにすることも可能である。
異なる接地線に連結されるようにすることも可能であ
る。ゲート線の一端が第１接地線に逆方向に、第２接地
線に正方向に連結されることが好ましい。また、偶数番
目及び奇数番目のゲート線が異なる接地線に連結される
ようにすることも可能である。
【００１４】このような配線構造及び静電気保護回路を
有する液晶表示装置の表示品質検査方法においては、接
地線に検査電圧を印加してデータ線に沿って一側方向の
みに選択的に信号を印加する。二つの接地線にそれぞれ
高電圧と低電圧を印加してダイオード間に電位差を形成
することも可能である。
有する液晶表示装置の表示品質検査方法においては、接
地線に検査電圧を印加してデータ線に沿って一側方向の
みに選択的に信号を印加する。二つの接地線にそれぞれ
高電圧と低電圧を印加してダイオード間に電位差を形成
することも可能である。
【００１５】隣接した画素間の配線短絡を検査するため
には、偶数番目、奇数番目のデータ線に対してそれぞれ
異なる接地線に異なる電圧を印加することで、隣接した
データ線に異なる検査電圧が印加されるようにすること
が好ましい。このような検査電圧としては一定の大きさ
のクロックパルスを印加することができ、奇数番目及び
偶数番目のゲート線と、奇数番目及び偶数番目のデータ
線にそれぞれ反転したクロックパルスを印加することが
できる。
には、偶数番目、奇数番目のデータ線に対してそれぞれ
異なる接地線に異なる電圧を印加することで、隣接した
データ線に異なる検査電圧が印加されるようにすること
が好ましい。このような検査電圧としては一定の大きさ
のクロックパルスを印加することができ、奇数番目及び
偶数番目のゲート線と、奇数番目及び偶数番目のデータ
線にそれぞれ反転したクロックパルスを印加することが
できる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面に基づいて詳細に説明する。本発明の第１実施例につ
いて説明する。図３は本発明の第１実施例による液晶表
示装置の静電気保護回路を示した配線図であり、図４は
図３の静電気保護回路を詳細に示した回路図である。図
３及び図４に示したように、基板１０上にゲート線２０
とデータ線とが横及び縦方向に多数個形成されており、
ゲート線２０とデータ線３０とにゲート信号及びデータ
信号を印加する駆動素子７０がＣＯＧ実装方式で形成さ
れてゲート線２０とデータ線３０とにそれぞれ連結され
ている。
面に基づいて詳細に説明する。本発明の第１実施例につ
いて説明する。図３は本発明の第１実施例による液晶表
示装置の静電気保護回路を示した配線図であり、図４は
図３の静電気保護回路を詳細に示した回路図である。図
３及び図４に示したように、基板１０上にゲート線２０
とデータ線とが横及び縦方向に多数個形成されており、
ゲート線２０とデータ線３０とにゲート信号及びデータ
信号を印加する駆動素子７０がＣＯＧ実装方式で形成さ
れてゲート線２０とデータ線３０とにそれぞれ連結され
ている。
【００１７】静電気から素子を保護するために、ゲート
線２０とデータ線３０には静電気保護用ダイオードｄ
１、ｄ２がそれぞれ正方向及び逆方向に連結されている
が、それぞれのゲート線２０またはデータ線３０に連結
されている静電気保護用ダイオードは一つ以上が直列に
連結されていることもある。ゲート線２０及びデータ線
３０に正方向及び逆方向に連結されたダイオードｄ１、
ｄ２は、それぞれ別途の接地線５２、５３に結ばれてお
り、接地線５２、５３の端にパッド２２０、２３０が形
成されている。
線２０とデータ線３０には静電気保護用ダイオードｄ
１、ｄ２がそれぞれ正方向及び逆方向に連結されている
が、それぞれのゲート線２０またはデータ線３０に連結
されている静電気保護用ダイオードは一つ以上が直列に
連結されていることもある。ゲート線２０及びデータ線
３０に正方向及び逆方向に連結されたダイオードｄ１、
ｄ２は、それぞれ別途の接地線５２、５３に結ばれてお
り、接地線５２、５３の端にパッド２２０、２３０が形
成されている。
【００１８】図４のように、正方向のダイオードｄ３，
ｄ４と逆方向のダイオードｄ５，ｄ６とを並列に連結
し、接地線５２、５３間に挿入することもできる。この
ように、接地線５２、５３間に双方向に並列連結された
ダイオードｄ３，ｄ４，ｄ５，ｄ６を接続することによ
り、二つの接地線５２、５３が互いに連結されて静電気
防止性能が増加する。すなわち、任意の一つのデータ線
３０に静電気が発生すると、データ線３０に正方向に結
ばれている正方向ダイオードｄ１を経て接地線５２に電
荷が移動した後、接地線５２、５３間に並列に連結され
たダイオードのうちの正方向に結ばれたダイオードを通
して他の接地線５３に移動し、この接地線５３と連結さ
れているダイオードｄ２を通してすべてのデータ線３０
に広がって、消滅する。
ｄ４と逆方向のダイオードｄ５，ｄ６とを並列に連結
し、接地線５２、５３間に挿入することもできる。この
ように、接地線５２、５３間に双方向に並列連結された
ダイオードｄ３，ｄ４，ｄ５，ｄ６を接続することによ
り、二つの接地線５２、５３が互いに連結されて静電気
防止性能が増加する。すなわち、任意の一つのデータ線
３０に静電気が発生すると、データ線３０に正方向に結
ばれている正方向ダイオードｄ１を経て接地線５２に電
荷が移動した後、接地線５２、５３間に並列に連結され
たダイオードのうちの正方向に結ばれたダイオードを通
して他の接地線５３に移動し、この接地線５３と連結さ
れているダイオードｄ２を通してすべてのデータ線３０
に広がって、消滅する。
【００１９】静電気は瞬間的な電位は高いが電荷量は小
さい特性があって、電荷が移動できる経路が充分に長く
なるため、前記のような経路を経る間に静電気の電位が
低くなり、中間経路の抵抗などの成分によって静電気が
移動しながら消滅するようになる。かかる過程によって
従来のショート・バーの構造がなくても静電気を効果的
に防止することができる。
さい特性があって、電荷が移動できる経路が充分に長く
なるため、前記のような経路を経る間に静電気の電位が
低くなり、中間経路の抵抗などの成分によって静電気が
移動しながら消滅するようになる。かかる過程によって
従来のショート・バーの構造がなくても静電気を効果的
に防止することができる。
【００２０】本実施例の液晶表示装置の表示品質は、次
の通り行える。接地線５２、５３のパッド２２０、２３
０に異なる信号を印加することで、別途のショート・バ
ーなしで液晶表示装置のモジュールの組立前に液晶パネ
ルの表示検査を行うことができる。すなわち、接地線５
２、５３間に一定の電位を形成してデータ線３０に検査
信号を印加し、液晶パネルの表示状態を検査して液晶パ
ネルの不良の有無を判断することができる。
の通り行える。接地線５２、５３のパッド２２０、２３
０に異なる信号を印加することで、別途のショート・バ
ーなしで液晶表示装置のモジュールの組立前に液晶パネ
ルの表示検査を行うことができる。すなわち、接地線５
２、５３間に一定の電位を形成してデータ線３０に検査
信号を印加し、液晶パネルの表示状態を検査して液晶パ
ネルの不良の有無を判断することができる。
【００２１】次に、本発明の第２実施例について説明す
る。図５は本発明の第２実施例による液晶表示装置の配
線図であって、静電気保護用ダイオードが基板の上、下
部に二重に設けられいる。このように、ダイオード５０
が基板１０の上、下部に設けられている場合には、静電
気が速く消滅し得るので、静電気防止機能が強化され
る。
る。図５は本発明の第２実施例による液晶表示装置の配
線図であって、静電気保護用ダイオードが基板の上、下
部に二重に設けられいる。このように、ダイオード５０
が基板１０の上、下部に設けられている場合には、静電
気が速く消滅し得るので、静電気防止機能が強化され
る。
【００２２】但し、上、下部ダイオードを通してデータ
線３０の上下から信号が印加されるので、データ線３０
の断線の欠陥がなかなか見出せない。図６は、このよう
な問題を解決するために、接地線に対して上側及び下側
でのダイオードの方向が異なるように連結した構造の回
路図であって、接地線に信号を印加してデータ線の断線
の欠陥を検出する原理を示す。
線３０の上下から信号が印加されるので、データ線３０
の断線の欠陥がなかなか見出せない。図６は、このよう
な問題を解決するために、接地線に対して上側及び下側
でのダイオードの方向が異なるように連結した構造の回
路図であって、接地線に信号を印加してデータ線の断線
の欠陥を検出する原理を示す。
【００２３】図６に示したように、下側の静電気保護用
ダイオードｄ７、ｄ８はデータ線３０の一端にそれぞれ
正方向及び逆方向に連結されており、正方向に連結され
ているダイオードｄ７は０V が印加される接地線５３に
結ばれており、逆方向に連結されたダイオードｄ８は１
０V が印加される接地線５２に結ばれている。また、上
側の静電気防止用ダイオードｄ９、ｄ１０はデータ線３
０の他端にそれぞれ正方向及び逆方向に連結されてお
り、正方向に連結されているダイオードｄ９は１０V が
印加される接地線５２に、逆方向に連結されているダイ
オードｄ１０は０V が印加される接地線５３に連結され
ている。
ダイオードｄ７、ｄ８はデータ線３０の一端にそれぞれ
正方向及び逆方向に連結されており、正方向に連結され
ているダイオードｄ７は０V が印加される接地線５３に
結ばれており、逆方向に連結されたダイオードｄ８は１
０V が印加される接地線５２に結ばれている。また、上
側の静電気防止用ダイオードｄ９、ｄ１０はデータ線３
０の他端にそれぞれ正方向及び逆方向に連結されてお
り、正方向に連結されているダイオードｄ９は１０V が
印加される接地線５２に、逆方向に連結されているダイ
オードｄ１０は０V が印加される接地線５３に連結され
ている。
【００２４】データ線３０の断線の欠陥を検査するため
に、一つの接地線５２には１０V の電圧を印加し、残り
の接地線５３には０V の電圧を印加すると、データ線３
０に対して正方向及び逆方向に連結されている下部のダ
イオードｄ７、ｄ８がターンオンされ、ダイオードｄ
７、ｄ８間に５Ｖの電位差が発生する。従って、５Ｖに
よる電流がそれぞれデータ線の一端から印加される。但
し、上部のダイオードｄ９、ｄ１０は下部のダイオード
ｄ７、ｄ８が接地線に連結された方向と違う方向に連結
されていてターンオンされないため、データ線３０の反
対側の端からは電圧が印加されない。
に、一つの接地線５２には１０V の電圧を印加し、残り
の接地線５３には０V の電圧を印加すると、データ線３
０に対して正方向及び逆方向に連結されている下部のダ
イオードｄ７、ｄ８がターンオンされ、ダイオードｄ
７、ｄ８間に５Ｖの電位差が発生する。従って、５Ｖに
よる電流がそれぞれデータ線の一端から印加される。但
し、上部のダイオードｄ９、ｄ１０は下部のダイオード
ｄ７、ｄ８が接地線に連結された方向と違う方向に連結
されていてターンオンされないため、データ線３０の反
対側の端からは電圧が印加されない。
【００２５】すなわち、検査のための信号電圧がデータ
線３０の一側方向からのみ印加されるので、データ線３
０の断線発生地点Ｐの向い側には信号が伝達されず、容
易にデータ線３０の断線の欠陥を検出することができ
る。次に、第３実施例について説明する。図７は、第３
実施例の液晶表示装置を示したものである。データ線の
奇数番目の線と偶数番目の線とに分けてダイオードを連
結した構造を示す。図７に示したように、四つの接地線
５２、５３、５４、５５がデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、
Ｄ４及びゲート線２０の端付近で重なるように形成され
ており、図３乃至図６で述べられていた方式でダイオー
ドがデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に連結されてい
る。但し、偶数番目のデータ線Ｄ２、Ｄ４は第１及び第
２接地線５２、５３に連結されており、奇数番目のデー
タ線Ｄ１、Ｄ３は第３及び第４接地線５４、５５に連結
されている。
線３０の一側方向からのみ印加されるので、データ線３
０の断線発生地点Ｐの向い側には信号が伝達されず、容
易にデータ線３０の断線の欠陥を検出することができ
る。次に、第３実施例について説明する。図７は、第３
実施例の液晶表示装置を示したものである。データ線の
奇数番目の線と偶数番目の線とに分けてダイオードを連
結した構造を示す。図７に示したように、四つの接地線
５２、５３、５４、５５がデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、
Ｄ４及びゲート線２０の端付近で重なるように形成され
ており、図３乃至図６で述べられていた方式でダイオー
ドがデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に連結されてい
る。但し、偶数番目のデータ線Ｄ２、Ｄ４は第１及び第
２接地線５２、５３に連結されており、奇数番目のデー
タ線Ｄ１、Ｄ３は第３及び第４接地線５４、５５に連結
されている。
【００２６】本実施例における静電気の発生の際の保護
動作は次の通りである。データ線Ｄ１に静電気が発生す
ると、静電気はデータ線Ｄ１と接地線５５との間に正方
向に連結されたダイオードｄ１１を通して流れ、次いで
接地線５５から接地線５４に正方向に連結されたダイオ
ードｄ１９、ｄ２０を通して接地線５４に流れ、次いで
接地線５４からデータ線Ｄ１、Ｄ３に正方向に連結され
たダイオードｄ１２、ｄ１６を通して流れる。このよう
な経路を通して静電気が流れる間に静電気の電位は低く
なりつつ消滅する。このような動作によって、静電気が
発生しても液晶表示装置を保護することができる。
動作は次の通りである。データ線Ｄ１に静電気が発生す
ると、静電気はデータ線Ｄ１と接地線５５との間に正方
向に連結されたダイオードｄ１１を通して流れ、次いで
接地線５５から接地線５４に正方向に連結されたダイオ
ードｄ１９、ｄ２０を通して接地線５４に流れ、次いで
接地線５４からデータ線Ｄ１、Ｄ３に正方向に連結され
たダイオードｄ１２、ｄ１６を通して流れる。このよう
な経路を通して静電気が流れる間に静電気の電位は低く
なりつつ消滅する。このような動作によって、静電気が
発生しても液晶表示装置を保護することができる。
【００２７】このような構造では、隣接したデータ線Ｄ
１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に検査信号電圧を異なるように印
加することができ、隣接画素間の短絡などの欠陥を検出
することができる。すなわち、接地線５２、５３、５
４、５５に連結されたパッド２４０、２５０とパッド２
６０、２７０とに互いに相違する電位を印加すると、隣
接するデータ線の電位は相違する。従って、隣接するデ
ータ線が短絡している場合には画素上に白色の欠陥（ｗ
ｈｉｔｅｄｅｆｅｃｔ）が現われて隣接する画素間の欠
陥の有無を検出することができる。
１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に検査信号電圧を異なるように印
加することができ、隣接画素間の短絡などの欠陥を検出
することができる。すなわち、接地線５２、５３、５
４、５５に連結されたパッド２４０、２５０とパッド２
６０、２７０とに互いに相違する電位を印加すると、隣
接するデータ線の電位は相違する。従って、隣接するデ
ータ線が短絡している場合には画素上に白色の欠陥（ｗ
ｈｉｔｅｄｅｆｅｃｔ）が現われて隣接する画素間の欠
陥の有無を検出することができる。
【００２８】次に、本発明の第４実施例について説明す
る。図８は、本実施例の静電気保護回路が含まれた液晶
表示装置を示したものである。図９には、ゲート線とデ
ータ線とをそれぞれ４つ連結した静電気保護回路３００
を詳細に示した。図８及び図９に示したように、本発明
の実施例は絶縁基板１００、ＣＯＧＩＣ２００、パッド
４１０、４２０、４３０、４４０、接地線４５０、４６
０、４７０、４８０、多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ
３、．．．Ｇｎ、多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ
３、．．．Ｄｍ、静電気保護回路３００から構成されて
いる。
る。図８は、本実施例の静電気保護回路が含まれた液晶
表示装置を示したものである。図９には、ゲート線とデ
ータ線とをそれぞれ４つ連結した静電気保護回路３００
を詳細に示した。図８及び図９に示したように、本発明
の実施例は絶縁基板１００、ＣＯＧＩＣ２００、パッド
４１０、４２０、４３０、４４０、接地線４５０、４６
０、４７０、４８０、多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ
３、．．．Ｇｎ、多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ
３、．．．Ｄｍ、静電気保護回路３００から構成されて
いる。
【００２９】本実施例は絶縁基板１００の上に多数のゲ
ート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎが横に置かれてお
り、ゲート線に垂直に多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ
３、．．．Ｄｍが絶縁基板上に縦に置かれており、多数
のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎとデータ線Ｄ
１、Ｄ２、Ｄ３、．．．ＤｍはＣＯＧＩＣ２００に連結
され、接地線４５０、４６０、４７０、４８０が多数の
ゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎと多数のＤ１、
Ｄ２、Ｄ３、．．．Ｄｍとを横切って置かれており、接
地線の端にパッド４１０、４２０、４３０、４４０が連
結される。
ート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎが横に置かれてお
り、ゲート線に垂直に多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ
３、．．．Ｄｍが絶縁基板上に縦に置かれており、多数
のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎとデータ線Ｄ
１、Ｄ２、Ｄ３、．．．ＤｍはＣＯＧＩＣ２００に連結
され、接地線４５０、４６０、４７０、４８０が多数の
ゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎと多数のＤ１、
Ｄ２、Ｄ３、．．．Ｄｍとを横切って置かれており、接
地線の端にパッド４１０、４２０、４３０、４４０が連
結される。
【００３０】図９に示したように、静電気保護回路３０
０は、ダイオードｄ４１、ｄ４５、ｄ５９、ｄ６３がそ
れぞれ接地線４５０からデータ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線
Ｇ２、Ｇ４とに正方向に連結され、ダイオードｄ４２、
ｄ４６、ｄ６０、ｄ６４が接地線４６０からデータ線Ｄ
１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４とに逆方向に連結され
る。また、ダイオードｄ４３、ｄ４７、ｄ５７、ｄ６１
は接地線４７０からデータ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線Ｇ
１、Ｇ３とに正方向に連結され、ダイオードｄ４４、ｄ
４８、ｄ５８、ｄ６２は接地線４８０からデータ線Ｄ
２、Ｄ４とゲート線Ｇ１、Ｇ３とに逆方向に連結され
る。そして、ダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線４６０
から接地線４５０に正方向に直列に連結され、ダイオー
ドｄ５１、ｄ５２は接地線４６０から接地線４５０に逆
方向に直列に連結され、ダイオードｄ５３、ｄ５４は接
地線４７０から接地線４８０に逆方向に直列に連結さ
れ、ダイオードｄ５５、ｄ５６は接地線４７０から接地
線４８０に正方向に直列に連結される。
０は、ダイオードｄ４１、ｄ４５、ｄ５９、ｄ６３がそ
れぞれ接地線４５０からデータ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線
Ｇ２、Ｇ４とに正方向に連結され、ダイオードｄ４２、
ｄ４６、ｄ６０、ｄ６４が接地線４６０からデータ線Ｄ
１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４とに逆方向に連結され
る。また、ダイオードｄ４３、ｄ４７、ｄ５７、ｄ６１
は接地線４７０からデータ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線Ｇ
１、Ｇ３とに正方向に連結され、ダイオードｄ４４、ｄ
４８、ｄ５８、ｄ６２は接地線４８０からデータ線Ｄ
２、Ｄ４とゲート線Ｇ１、Ｇ３とに逆方向に連結され
る。そして、ダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線４６０
から接地線４５０に正方向に直列に連結され、ダイオー
ドｄ５１、ｄ５２は接地線４６０から接地線４５０に逆
方向に直列に連結され、ダイオードｄ５３、ｄ５４は接
地線４７０から接地線４８０に逆方向に直列に連結さ
れ、ダイオードｄ５５、ｄ５６は接地線４７０から接地
線４８０に正方向に直列に連結される。
【００３１】以下、上記のような構造からなる静電気保
護回路が含まれた液晶表示装置の静電気保護回路の動作
について図１０を参照して説明する。データ線Ｄ１に静
電気が発生した場合を例に挙げて静電気保護回路の動作
について説明する。データ線Ｄ１に静電気が発生する
と、データ線Ｄ１に連結された電流の流れの通路のう
ち、ダイオードｄ４２を通して図５の経路 に沿って流
れるようになる。なぜならば、ダイオードｄ４１はデー
タ線から接地線に逆方向に連結されているため電流が流
れることができず、ダイオードｄ４２はデータ線Ｄ１か
ら接地線４６０に正方向に連結されているため接地線４
６０に静電気が流れるからである。
護回路が含まれた液晶表示装置の静電気保護回路の動作
について図１０を参照して説明する。データ線Ｄ１に静
電気が発生した場合を例に挙げて静電気保護回路の動作
について説明する。データ線Ｄ１に静電気が発生する
と、データ線Ｄ１に連結された電流の流れの通路のう
ち、ダイオードｄ４２を通して図５の経路 に沿って流
れるようになる。なぜならば、ダイオードｄ４１はデー
タ線から接地線に逆方向に連結されているため電流が流
れることができず、ダイオードｄ４２はデータ線Ｄ１か
ら接地線４６０に正方向に連結されているため接地線４
６０に静電気が流れるからである。
【００３２】経路を通して流れる静電気は、ダイオー
ドｄ４６、ｄ６０、ｄ６４は接地線４６０に対して逆方
向に連結されているため、ダイオードｄ４６、ｄ６０、
ｄ６４を通しては流れることができず、直列に連結され
たダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線に対して正方向に
連結されているため、経路に沿って流れる。経路を
通して流れた静電気は、正方向に連結されたダイオード
ｄ５９、ｄ６３に経路を通して接地線４５０から流れ
る。
ドｄ４６、ｄ６０、ｄ６４は接地線４６０に対して逆方
向に連結されているため、ダイオードｄ４６、ｄ６０、
ｄ６４を通しては流れることができず、直列に連結され
たダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線に対して正方向に
連結されているため、経路に沿って流れる。経路を
通して流れた静電気は、正方向に連結されたダイオード
ｄ５９、ｄ６３に経路を通して接地線４５０から流れ
る。
【００３３】経路を通して流れた静電気は、ゲート線
Ｇ２、Ｇ４を通して流れ、ゲート線Ｇ２、Ｇ４から接地
線４６０に正方向に連結されたダイオードｄ６０、ｄ６
４を通して経路に沿って流れる。経路を通して流れ
た静電気は、接地線４６０から接地線４５０に正方向に
連結されたダイオードｄ４９、ｄ５０を通して経路に
沿って流れる。
Ｇ２、Ｇ４を通して流れ、ゲート線Ｇ２、Ｇ４から接地
線４６０に正方向に連結されたダイオードｄ６０、ｄ６
４を通して経路に沿って流れる。経路を通して流れ
た静電気は、接地線４６０から接地線４５０に正方向に
連結されたダイオードｄ４９、ｄ５０を通して経路に
沿って流れる。
【００３４】経路に沿って流れた静電気は、接地線４
５０からデータ線Ｄ１に正方向に連結されたダイオード
ｄ４１を通して経路に沿ってデータ線Ｄ１に流れる。
データ線Ｄ１から発生した静電気は、前記で説明した経
路を通してデータ線Ｄ１に戻る。静電気は電荷量は小さ
いが瞬間的な電位が高い特性を有しており、上記の経路
を通して流れる間に電荷量が消耗して電位が低くなる。
従って、静電気が局部的に発生してもパネル内部に流入
して素子を破壊することを防止するようになる。
５０からデータ線Ｄ１に正方向に連結されたダイオード
ｄ４１を通して経路に沿ってデータ線Ｄ１に流れる。
データ線Ｄ１から発生した静電気は、前記で説明した経
路を通してデータ線Ｄ１に戻る。静電気は電荷量は小さ
いが瞬間的な電位が高い特性を有しており、上記の経路
を通して流れる間に電荷量が消耗して電位が低くなる。
従って、静電気が局部的に発生してもパネル内部に流入
して素子を破壊することを防止するようになる。
【００３５】以下、本実施例を利用した液晶表示装置の
表示品質検査方法について図面を参照して説明する。ま
た、以下では、画素４つの動作を説明することによって
全体液晶表示装置の検査動作を説明する。本実施例の液
晶表示装置は、表示品質検査用として使用され、この
時、図８及び図９に示したパッド４１０、４２０、４３
０、４４０には一定の信号を入力する。
表示品質検査方法について図面を参照して説明する。ま
た、以下では、画素４つの動作を説明することによって
全体液晶表示装置の検査動作を説明する。本実施例の液
晶表示装置は、表示品質検査用として使用され、この
時、図８及び図９に示したパッド４１０、４２０、４３
０、４４０には一定の信号を入力する。
【００３６】図１２には本実施例の表示品質検査用の入
力信号と画素の出力電圧とを示した。図１２に示したよ
うに、パッド４１０、４２０とパッド４３０、４４０と
にはそれぞれ同一の検査用信号を入力する。図１２に示
したように、パッド４１０、４２０に同一の信号が入力
されるため、データ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４
には同時に同一の信号が入力され、パッド４３０、４４
０には同一の信号が入力されるため、データ線Ｄ２、Ｄ
４とゲートＧ１、Ｇ３には同一の信号が入力される。
力信号と画素の出力電圧とを示した。図１２に示したよ
うに、パッド４１０、４２０とパッド４３０、４４０と
にはそれぞれ同一の検査用信号を入力する。図１２に示
したように、パッド４１０、４２０に同一の信号が入力
されるため、データ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４
には同時に同一の信号が入力され、パッド４３０、４４
０には同一の信号が入力されるため、データ線Ｄ２、Ｄ
４とゲートＧ１、Ｇ３には同一の信号が入力される。
【００３７】パッド４１０、４２０に入力される信号
は、図１２に示したように、１０Ｖと−１０Ｖとをスイ
ッチングするクロックパルスを印加する。パッド４３
０、４４０に入力される信号は、図１２に示したよう
に、パッド４１０、４２０の入力信号が反転した信号で
ある。このようにパッド４１０、４２０とパッド４３
０、４４０とに入力信号が互いに反転した信号を入力す
る方法でパッドにインバータを連結することができ、こ
れを図１１に示した。
は、図１２に示したように、１０Ｖと−１０Ｖとをスイ
ッチングするクロックパルスを印加する。パッド４３
０、４４０に入力される信号は、図１２に示したよう
に、パッド４１０、４２０の入力信号が反転した信号で
ある。このようにパッド４１０、４２０とパッド４３
０、４４０とに入力信号が互いに反転した信号を入力す
る方法でパッドにインバータを連結することができ、こ
れを図１１に示した。
【００３８】ここで、１０Ｖと−１０ＶはＶｃｏｍ電圧
によって変更することができる。本実施例はＶｃｏｍを
０Ｖと仮定した場合である。データ線Ｄ１、Ｄ３とゲー
ト線Ｇ２、Ｇ４に入力される信号は、図１２に示したよ
うに、パッド４１０、４２０に入力される信号と同一形
態のパルス信号であり、データ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線
Ｇ１、Ｇ３に入力される信号は、パッド４３０、４４０
に入力される信号と同一形態のパルス信号である。
によって変更することができる。本実施例はＶｃｏｍを
０Ｖと仮定した場合である。データ線Ｄ１、Ｄ３とゲー
ト線Ｇ２、Ｇ４に入力される信号は、図１２に示したよ
うに、パッド４１０、４２０に入力される信号と同一形
態のパルス信号であり、データ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線
Ｇ１、Ｇ３に入力される信号は、パッド４３０、４４０
に入力される信号と同一形態のパルス信号である。
【００３９】このような検査用信号がパッドに入力され
る時、画素の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは下記の
通りである。画素ａの出力電圧Ｖａは次の通りである。
画素ａのゲート線Ｇ１の電圧が１０Ｖの時には画素ａの
データＤ１の電圧は−１０Ｖであり、画素ａのゲートＧ
１の電圧が−１０Ｖの時には画素ａのデータＤ１の電圧
は１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ａのＴＦ
Ｔはターンオンされるが、データ入力電圧が−１０Ｖで
あるので、図１２に示したように画素ａの電圧Ｖａは−
１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ａのＴＦＴが
ターンオフされるので、画素ａの電圧Ｖａは画素ａのキ
ャパシタＣａに維持されていた電荷が放電されながら−
１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰
返されながら画素ａの電圧Ｖａは図１２に示したように
なる。
る時、画素の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは下記の
通りである。画素ａの出力電圧Ｖａは次の通りである。
画素ａのゲート線Ｇ１の電圧が１０Ｖの時には画素ａの
データＤ１の電圧は−１０Ｖであり、画素ａのゲートＧ
１の電圧が−１０Ｖの時には画素ａのデータＤ１の電圧
は１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ａのＴＦ
Ｔはターンオンされるが、データ入力電圧が−１０Ｖで
あるので、図１２に示したように画素ａの電圧Ｖａは−
１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ａのＴＦＴが
ターンオフされるので、画素ａの電圧Ｖａは画素ａのキ
ャパシタＣａに維持されていた電荷が放電されながら−
１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰
返されながら画素ａの電圧Ｖａは図１２に示したように
なる。
【００４０】画素ｂの出力電圧Ｖｂは次の通りである。
画素ｂのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｂのデ
ータＤ１の電圧は１０Ｖであり、画素ｂのゲートＧ２の
電圧が−１０Ｖの時には画素ｂのデータＤ１の電圧は−
１０Ｖとなる。従って、前者の場合は画素ｂのＴＦＴは
ターンオンされ、データ入力電圧が１０Ｖであるので、
図１２に示したように画素ｂの電圧Ｖｂが１０Ｖ程度を
維持し、後者の場合画素ｂのＴＦＴがターンオフされる
ので、画素ｂの電圧Ｖｂは画素ｂのキャパシタＣｂに維
持されていた電荷が放電されながら１０Ｖより低い電圧
に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ｂ
の電圧Ｖｂは、図１２に示したようになる。
画素ｂのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｂのデ
ータＤ１の電圧は１０Ｖであり、画素ｂのゲートＧ２の
電圧が−１０Ｖの時には画素ｂのデータＤ１の電圧は−
１０Ｖとなる。従って、前者の場合は画素ｂのＴＦＴは
ターンオンされ、データ入力電圧が１０Ｖであるので、
図１２に示したように画素ｂの電圧Ｖｂが１０Ｖ程度を
維持し、後者の場合画素ｂのＴＦＴがターンオフされる
ので、画素ｂの電圧Ｖｂは画素ｂのキャパシタＣｂに維
持されていた電荷が放電されながら１０Ｖより低い電圧
に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ｂ
の電圧Ｖｂは、図１２に示したようになる。
【００４１】画素ｃの出力電圧Ｖｃは次の通りである。
画素ｃのゲートＧ１の電圧が１０Ｖの時には画素ｃのデ
ータＤ２の電圧は１０Ｖであり、画素ｃのゲートＧ１の
電圧が−１０Ｖの時には画素ｃのデータＤ２の電圧は−
１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｃのＴＦＴ
はターンオンされ、データＤ２の入力電圧が１０Ｖであ
るので、図１２に示したように画素ｃの電圧Ｖｃは１０
Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｃのＴＦＴがター
ンオフされるので、画素ｃの電圧Ｖｃは画素ｃのキャパ
シタＣｃに維持されていた電荷が放電されながら１０Ｖ
より低い電圧に変化する。前記のような動作が繰返され
ながら画素ｃの電圧Ｖｃは、図１２に示したようにな
る。
画素ｃのゲートＧ１の電圧が１０Ｖの時には画素ｃのデ
ータＤ２の電圧は１０Ｖであり、画素ｃのゲートＧ１の
電圧が−１０Ｖの時には画素ｃのデータＤ２の電圧は−
１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｃのＴＦＴ
はターンオンされ、データＤ２の入力電圧が１０Ｖであ
るので、図１２に示したように画素ｃの電圧Ｖｃは１０
Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｃのＴＦＴがター
ンオフされるので、画素ｃの電圧Ｖｃは画素ｃのキャパ
シタＣｃに維持されていた電荷が放電されながら１０Ｖ
より低い電圧に変化する。前記のような動作が繰返され
ながら画素ｃの電圧Ｖｃは、図１２に示したようにな
る。
【００４２】画素ｄの出力電圧Ｖｄは次の通りである。
画素ｄのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｄのデ
ータＤ２の電圧は−１０Ｖであり、画素ｄのゲートＧ２
の電圧が−１０Ｖの時には画素ｄのデータＤ２の電圧は
１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｄのＴＦＴ
はターンオンされるが、データＤ２の入力電圧が−１０
Ｖであるので、図１２に示したように画素ｄの電圧Ｖｄ
は−１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｄのＴＦ
Ｔがターンオフされるので、画素ｄの電圧Ｖｄは画素ｄ
のキャパシタに維持されていた電荷が放電されながら−
１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰
返されながら画素ｄの電圧Ｖｄは、図１２に示したよう
になる。
画素ｄのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｄのデ
ータＤ２の電圧は−１０Ｖであり、画素ｄのゲートＧ２
の電圧が−１０Ｖの時には画素ｄのデータＤ２の電圧は
１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｄのＴＦＴ
はターンオンされるが、データＤ２の入力電圧が−１０
Ｖであるので、図１２に示したように画素ｄの電圧Ｖｄ
は−１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｄのＴＦ
Ｔがターンオフされるので、画素ｄの電圧Ｖｄは画素ｄ
のキャパシタに維持されていた電荷が放電されながら−
１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰
返されながら画素ｄの電圧Ｖｄは、図１２に示したよう
になる。
【００４３】パッドに入力された電圧が図１２のように
なると、画素電圧の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは
図１２に示したようになる。すなわち、画素ａの出力電
圧Ｖａは−１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｂの出力電圧
Ｖｂは１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｃの出力電圧Ｖｃ
は１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｄの出力電圧Ｖｄは−
１０Ｖ程度を維持し続けるようになる。従って、隣接画
素の出力電圧は反転した値となる。すなわち、画素ａと
ｂ、画素ｂとｃ、画素ｃとｄはそれぞれ反転した出力電
圧を示す。
なると、画素電圧の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは
図１２に示したようになる。すなわち、画素ａの出力電
圧Ｖａは−１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｂの出力電圧
Ｖｂは１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｃの出力電圧Ｖｃ
は１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｄの出力電圧Ｖｄは−
１０Ｖ程度を維持し続けるようになる。従って、隣接画
素の出力電圧は反転した値となる。すなわち、画素ａと
ｂ、画素ｂとｃ、画素ｃとｄはそれぞれ反転した出力電
圧を示す。
【００４４】従って、画素間の隣接ラインが正常であれ
ば、Ｖｃｏｍ電圧が０Ｖである場合、画素ａとｃ、画素
ｂとｄは同色を現す。しかし、もし隣接画素のライン
（データ線またはゲート線）が短絡したら、画素の出力
電圧は０Ｖに近い電圧を有するようになり、画素の出力
電圧とＶｃｏｍ電圧との差が殆どなくなって白色の欠陥
が現われる。
ば、Ｖｃｏｍ電圧が０Ｖである場合、画素ａとｃ、画素
ｂとｄは同色を現す。しかし、もし隣接画素のライン
（データ線またはゲート線）が短絡したら、画素の出力
電圧は０Ｖに近い電圧を有するようになり、画素の出力
電圧とＶｃｏｍ電圧との差が殆どなくなって白色の欠陥
が現われる。
【００４５】従って、画素間のデータ線とゲート線の短
絡の有無が容易にわかる。本発明の実施例は接地線が四
つの場合を表しているが、これに限られるわけではな
い。また、本発明のダイオードの個数も多様に変化する
ことができる。
絡の有無が容易にわかる。本発明の実施例は接地線が四
つの場合を表しているが、これに限られるわけではな
い。また、本発明のダイオードの個数も多様に変化する
ことができる。
【００４６】
【発明の効果】本発明によれば、液晶表示装置の静電気
保護能力を高め、表示品質試験の検出力を高めることが
できる。
保護能力を高め、表示品質試験の検出力を高めることが
できる。
【図１】従来のショート・バーを利用した液晶表示装置
の基板を示した図である。
の基板を示した図である。
【図２】図１の静電気保護ダイオードを示した図であ
る。
る。
【図３】本発明の第１実施例による液晶表示装置を示し
た図である。
た図である。
【図４】図３の静電気保護回路の詳細図である。
【図５】本発明の第２実施例による液晶表示装置を示し
た図である。
た図である。
【図６】図５の静電気保護回路の連結状態を示した回路
図である。
図である。
【図７】本発明の第３実施例による静電気保護回路を示
した回路図である。
した回路図である。
【図８】本発明の第４実施例による液晶表示装置を示し
た図である。
た図である。
【図９】図８の静電気保護回路の詳細図である。
【図１０】第４実施例の静電気の流れの経路を示した図
である。
である。
【図１１】第４実施例のパッド形成方法を変化させた液
晶表示装置の静電気保護回路である。
晶表示装置の静電気保護回路である。
【図１２】第４実施例の検査用入力クロックパルスと画
素の出力電圧を示した図である。
素の出力電圧を示した図である。
３００ 静電気保護回路 ｄ４１〜ｄ６４ ダイオード ４５０、４６０、４７０、４８０ 接地線 Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４ データ線 Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４ ゲート線 ５０ 静電気保護用ダイオード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０５Ｆ 3/02 Ｈ０５Ｆ 3/02 Ｌ
Claims (15)
- 【請求項１】透明な絶縁基板と、 前記基板上に縦に形成された多数のデータ線と、 前記基板上に横に形成された多数のゲート線と、 前記多数のゲート線の一端と前記多数のデータ線の両端
を横切る第１接地線と、 前記第１接地線に平行に配置されている第２接地線と、 前記第１接地線から前記データ線の一端に逆方向に連結
された第１ダイオードと、 前記第２接地線から前記データ線の一端に正方向に連結
された第２ダイオードとを含む液晶表示装置。 - 【請求項２】前記第１接地線から第２接地線に正方向に
連結されて静電気の流れの通路を形成する第３ダイオー
ドと、 前記第１接地線から第２接地線に逆方向に連結されて静
電気の流れの通路を形成する第４ダイオードとをさらに
含む請求項１に記載の液晶表示装置。 - 【請求項３】前記第１、第２、第３、第４ダイオード
は、それぞれ二つ以上のダイオードが直列に連結されて
いる請求項２に記載の液晶表示装置。 - 【請求項４】前記多数のゲート線の一端と前記多数のデ
ータ線の両端を横切る第３接地線と、 前記第３接地線に平行に配置されている第４接地線と、 前記第３接地線から前記データ線のうちの第１データ線
に正方向に連結された第５ダイオードと、 前記第４接地線から前記第１データ線に逆方向に連結さ
れた第６ダイオードとをさらに含み、前記第１、２ダイ
オードは前記データ線のうちの前記第１データ線と異な
る第２データ線に連結された請求項２に記載の液晶表示
装置。 - 【請求項５】前記第１データ線は偶数番目のデータ線で
あり、 前記第２データ線は奇数番目のデータ線である請求項４
に記載の液晶表示装置。 - 【請求項６】前記第１、２、３、４接地線の一端にそれ
ぞれ第１、２、３、４パッドが設けられている請求項４
に記載の液晶表示装置。 - 【請求項７】前記第１接地線から前記ゲート線に正方向
に連結された第７ダイオードと、 前記第２接地線から前記ゲート線に逆方向に連結された
第８ダイオードと、 前記第３接地線から前記ゲート線に正方向に連結された
第９ダイオードと、 前記第４接地線から前記ゲート線に逆方向に連結された
第１０ダイオードとを含む請求項４に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項８】前記第７ダイオードは、前記第１接地線か
ら前記ゲート線中の第１ゲート線に正方向に連結され、 前記第８ダイオードは、前記第２接地線から前記ゲート
線中の第１ゲート線に逆方向に連結され、 前記第９ダイオードは、前記第３接地線から前記ゲート
線中の第２ゲート線に正方向に連結され、 前記第１０ダイオードは、前記第４接地線から前記ゲー
ト線中の第２ゲート線に逆方向に連結されている、請求
項７に記載の液晶表示装置。 - 【請求項９】前記第１ゲート線は偶数番目のゲート線で
あり、 前記第２ゲート線は奇数番目のゲート線である請求項８
に記載の液晶表示装置。 - 【請求項１０】透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形
成された多数のデータ線と、前記データ線の両端である
第１及び第２端とに同時に重なる第１接地線及び第２接
地線と、前記第1 接地線と連結されて前記データ線の第
１端付近で前記データ線と正方向に連結されている第１
ダイオードと、前記第２接地線と連結されて前記データ
線の第１端付近で前記データ線と逆方向に連結されてい
る第２ダイオードとを含む液晶表示装置において、 前記第１及び第２接地線にそれぞれ異なる信号を入力す
る液晶表示装置の表示検査方法。 - 【請求項１１】前記第１、２接地線に入力する信号は、
電位が異なる信号を入力することで前記第１ダイオード
と前記第２ダイオードとの間に電位差を形成する請求項
１０に記載の液晶表示装置の表示検査方法。 - 【請求項１２】前記第１、２接地線に平行に置かれた第
３、４接地線と、前記第３接地線から前記第１、２接地
線に連結された第１データ線に隣接する第２データ線に
正方向に連結された第３ダイオードと、前記第３接地線
から前記第２データ線に逆方向に連結された第４ダイオ
ードとをさらに含み、 前記第１、２接地線と前記第３、４接地線とにそれぞれ
異なる信号を印加する請求項１０に記載の液晶表示装置
の表示検査方法。 - 【請求項１３】前記第１データ線は奇数番目のデータ線
であり、前記第２データ線は偶数番目のデータ線である
請求項１２に記載の液晶表示装置の表示検査方法。 - 【請求項１４】前記第３接地線から第１ゲート線に正方
向に連結された第５ダイオードと、前記第４接地線から
第１ゲート線に逆方向に連結された第６ダイオードと、
前記第１接地線から第２ゲート線に正方向に連結された
第７ダイオードと、前記第２接地線から第２ゲート線に
逆方向に連結された第８ダイオードとをさらに含む液晶
表示装置において、 前記第１、２接地線と前記第３、４接地線とにそれぞれ
異なる信号を入力する請求項１２に記載の液晶表示装置
の表示検査方法。 - 【請求項１５】前記第１、２接地線にクロックパルスを
印加し、前記第３、４接地線に反転したクロックパルス
を印加する請求項１２または１４に記載の液晶表示装置
の表示検査方法。
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|---|---|---|---|
| KR1019970048777A KR100495810B1 (ko) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 정전기보호회로를갖는액정표시장치 |
| KR1019980020792A KR100646777B1 (ko) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | 정전기 보호 회로를 가지는 액정 표시 장치 및 정전기 보호 회로를 이용한 표시검사 방법 |
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| KR1019980038209A KR100552299B1 (ko) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | 액정 표시 장치 및 이의 검사 방법 |
| KR1998P38209 | 1998-09-16 | ||
| KR1997P48777 | 1998-09-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11167129A true JPH11167129A (ja) | 1999-06-22 |
| JP4260250B2 JP4260250B2 (ja) | 2009-04-30 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP27175898A Expired - Fee Related JP4260250B2 (ja) | 1997-09-25 | 1998-09-25 | 静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法 |
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|---|---|
| US (1) | US5936687A (ja) |
| JP (1) | JP4260250B2 (ja) |
| TW (1) | TW446831B (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001021918A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2002229056A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | 表示装置用電極基板及びその検査方法 |
| JP2006163222A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置および電子機器 |
| JP2006178030A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 |
| JP2006178029A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 |
| JP2006517678A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-07-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 静電放電保護回路を有する電子装置 |
| JP2010198023A (ja) * | 2010-03-25 | 2010-09-09 | Toshiba Mobile Display Co Ltd | 液晶表示装置及びその検査方法 |
| JP2016015123A (ja) * | 2014-06-12 | 2016-01-28 | 三菱製紙株式会社 | 光透過性導電材料 |
| JP2021063912A (ja) * | 2019-10-15 | 2021-04-22 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電子機器および電気光学装置の検査方法 |
Families Citing this family (53)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100244182B1 (ko) * | 1996-11-29 | 2000-02-01 | 구본준 | 액정표시장치 |
| US6337722B1 (en) * | 1997-08-07 | 2002-01-08 | Lg.Philips Lcd Co., Ltd | Liquid crystal display panel having electrostatic discharge prevention circuitry |
| KR100271038B1 (ko) * | 1997-09-12 | 2000-11-01 | 구본준, 론 위라하디락사 | 전기적 특성 검사를 위한 단락 배선의 제조 방법 및 그 단락 배선을 포함하는 액티브 기판의 구조(a method for manufacturing a shorting bar probing an electrical state and a structure of an lcd comprising the shorting bar) |
| US6587160B2 (en) * | 1997-10-14 | 2003-07-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal displays |
| JP3396620B2 (ja) * | 1998-03-20 | 2003-04-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板およびその検査方法 |
| GB2342213B (en) * | 1998-09-30 | 2003-01-22 | Lg Philips Lcd Co Ltd | Thin film transistor substrate with testing circuit |
| TW436630B (en) * | 1999-06-05 | 2001-05-28 | Ind Tech Res Inst | The circuit testing method of a reflective-type liquid crystal projector and the testing method of the panel pixel area |
| KR100598735B1 (ko) * | 1999-09-21 | 2006-07-10 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 정전기 방지회로 |
| KR100346045B1 (ko) * | 1999-10-25 | 2002-07-24 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 박막트랜지스터 액정표시장치용 어레이기판 제조방법 |
| KR100628254B1 (ko) * | 2000-04-12 | 2006-09-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 표시 장치 |
| US6504508B2 (en) * | 2000-05-04 | 2003-01-07 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc | Printed circuit variable impedance transmission line antenna |
| JP3591713B2 (ja) * | 2000-05-08 | 2004-11-24 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
| KR100363095B1 (ko) * | 2000-12-06 | 2002-12-05 | 삼성전자 주식회사 | 정전기 방전 보호를 위한 액정 표시 장치 드라이버 회로 |
| KR100386849B1 (ko) * | 2001-07-10 | 2003-06-09 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 박막 트랜지스터 표시장치의 정전방전 방지회로 |
| GB0119299D0 (en) | 2001-08-08 | 2001-10-03 | Koninkl Philips Electronics Nv | Electrostatic discharge protection for pixellated electronic device |
| KR100400270B1 (ko) * | 2001-10-15 | 2003-10-01 | 엘지전자 주식회사 | 이동통신단말기에서 액정표시화면의 록크 업 방지장치 및그 방법 |
| DE10227332A1 (de) * | 2002-06-19 | 2004-01-15 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Ansteuervorrichtung mit verbesserten Testeneigenschaften |
| JP4188728B2 (ja) * | 2003-03-07 | 2008-11-26 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示回路の保護回路 |
| US7297979B2 (en) * | 2003-12-18 | 2007-11-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel for a display |
| US7319335B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
| US20060038554A1 (en) * | 2004-02-12 | 2006-02-23 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system stage |
| US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
| US6833717B1 (en) * | 2004-02-12 | 2004-12-21 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system with integrated substrate transfer module |
| JP4207858B2 (ja) | 2004-07-05 | 2009-01-14 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置、表示装置及び電子機器 |
| JP2006065284A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-03-09 | Seiko Epson Corp | 発光装置及び電子機器 |
| US7429970B2 (en) * | 2005-01-11 | 2008-09-30 | Tpo Displays Corp. | Method for testing drive circuit, testing device and display device |
| US7429984B2 (en) * | 2005-02-04 | 2008-09-30 | Philip Morris Usa Inc. | Display management system |
| US7535238B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-05-19 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
| TWI281569B (en) * | 2005-06-13 | 2007-05-21 | Au Optronics Corp | Display panels |
| KR101197054B1 (ko) * | 2005-11-14 | 2012-11-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| CN102353890B (zh) * | 2006-03-14 | 2014-09-24 | 应用材料公司 | 减小多个柱状电子束测试系统中的串扰的方法 |
| US7602199B2 (en) * | 2006-05-31 | 2009-10-13 | Applied Materials, Inc. | Mini-prober for TFT-LCD testing |
| US7786742B2 (en) * | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
| TWI354967B (en) * | 2006-10-27 | 2011-12-21 | Chimei Innolux Corp | Liquid crystal display |
| US7795684B2 (en) * | 2006-11-24 | 2010-09-14 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Active device array substrate |
| TW200828232A (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-01 | Au Optronics Corp | Data transmission circuit and LCD thereof |
| TWI402594B (zh) * | 2007-04-27 | 2013-07-21 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | 主動元件陣列基板 |
| DE102008019897A1 (de) * | 2008-04-21 | 2009-12-31 | Siemens Aktiengesellschaft | Gradientenspule |
| JP5306784B2 (ja) | 2008-11-18 | 2013-10-02 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
| CN101697052B (zh) * | 2009-09-18 | 2011-08-10 | 友达光电股份有限公司 | 主动元件阵列母基板及其制作方法 |
| TWI401492B (zh) | 2010-05-17 | 2013-07-11 | Au Optronics Corp | 主動元件陣列基板及其修補方法 |
| KR20120139411A (ko) * | 2011-06-17 | 2012-12-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 집적 회로 칩 실장 필름 및 이를 포함하는 액정 표시 장치 |
| US20130083457A1 (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Apple Inc. | System and method for manufacturing a display panel or other patterned device |
| KR101985921B1 (ko) | 2012-06-13 | 2019-06-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
| TWI512380B (zh) * | 2013-03-21 | 2015-12-11 | Au Optronics Corp | 顯示裝置和其操作方法 |
| CN103728515B (zh) * | 2013-12-31 | 2017-01-18 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 |
| CN104112426B (zh) * | 2014-06-30 | 2016-08-24 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种oled像素驱动电路、静电释放保护电路及检测方法 |
| CN104483796A (zh) | 2015-01-04 | 2015-04-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其制备方法、显示面板及显示装置 |
| CN105759472A (zh) * | 2016-05-06 | 2016-07-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 面板检测单元、阵列基板及液晶显示装置 |
| CN109841181B (zh) * | 2017-11-24 | 2022-08-19 | 上海和辉光电股份有限公司 | 阵列基板、显示面板和显示装置 |
| JP2019117315A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | シャープ株式会社 | 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。 |
| KR20200043580A (ko) | 2018-10-17 | 2020-04-28 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| CN109377933B (zh) * | 2018-12-26 | 2022-01-14 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板的驱动方法、显示面板和显示装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5852480A (en) * | 1994-03-30 | 1998-12-22 | Nec Corporation | LCD panel having a plurality of shunt buses |
| US5668032A (en) * | 1995-07-31 | 1997-09-16 | Holmberg; Scott H. | Active matrix ESD protection and testing scheme |
| KR100242437B1 (ko) * | 1996-08-07 | 2000-02-01 | 윤종용 | 액정 모듈 및 그 제조 방법 |
-
1998
- 1998-09-25 JP JP27175898A patent/JP4260250B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-09-25 US US09/160,186 patent/US5936687A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-09-25 TW TW087115974A patent/TW446831B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001021918A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2002229056A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | 表示装置用電極基板及びその検査方法 |
| JP2006517678A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-07-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 静電放電保護回路を有する電子装置 |
| JP2006163222A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置および電子機器 |
| JP2006178030A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 |
| JP2006178029A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 |
| JP2010198023A (ja) * | 2010-03-25 | 2010-09-09 | Toshiba Mobile Display Co Ltd | 液晶表示装置及びその検査方法 |
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