JP2006178030A - 電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】 駆動装置の実装後の検査を可能として検査の結果の有効性を向上させる。
【解決手段】 データ線駆動回路２００は、各々がデータ線１０３に接続されるｍ個の出力端子Ｔoutと、各画素について指定された階調に応じてデータ信号Ｘ1ないしＸnを生成する信号生成回路２５と、各データ線１０３における電流のリークを検出するための検出用配線３０とを具備し、検出モードまたは駆動モードにて動作する。検出モードにおいては、各出力端子Ｔoutが順次に検出用配線３０に接続され、この検出用配線３０に流れる電流に応じた補正データＤHが生成される。一方、駆動モードにおいては、検出モードにて生成された補正データに基づいて、信号生成回路２５が各データ線１０３について生成するデータ信号Ｘjが補正される。
【選択図】 図４

Description

本発明は、ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）素子などの電気光学素子を備えた電気光学装置、この種の電気光学装置を駆動する方法および装置、ならびに電気光学装置を備えた電子機器に関する。

この種の電気光学装置は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して基板上に配列された複数の画素を有し、各データ線に供給されるデータ信号に応じて画素の階調が制御される。この構成においては、何らかの欠陥に起因してデータ線に電流のリークが発生する場合がある。この場合には各画素に所期の階調を表示させることができず縦方向の表示ムラが発生する。このような問題を解決するために、データ線や走査線の欠陥の有無を検査するための技術が従来から提案されている。例えば特許文献１に開示された技術においては、検査用の端子を走査線やデータ線の端部に接触させたうえで所定の信号を供給することによって各画素を駆動し、これにより表示された画像に基づいて欠陥の有無が検査される。
特開平９−１３８４２２号公報（図１）

しかしながら、特許文献１に開示された技術においては、データ線や走査線に信号を供給するための駆動装置（例えばＩＣチップ）が実装される前に欠陥の有無が検査されるため、この検査を実施してからＩＣチップが実装されるまでに発生した欠陥を検出することはできない。本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、駆動装置の実装後の検査を可能として検査の結果の有効性を向上させることを解決課題とする。

この課題を解決するために、本発明に係る駆動装置（例えば図１におけるデータ線駆動回路２００）は、複数のデータ線の各々に画素が接続された電気光学装置を駆動する装置であって、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号をデータ線ごとに生成する信号生成回路と、信号生成回路が生成したデータ信号を出力端子に供給する駆動モードと複数の出力端子の各々を順次に検出用配線に接続する検出モードとを切り替える切替手段（例えば実施形態におけるスイッチ群２７および切替部２９）と、検出モードにおいて検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに取得し、この補正データに基づいて、信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
この構成によれば、駆動装置の動作モードとして検出モードが選定されるから、この駆動装置を電気光学装置に実装した後の段階においても各データ線における電流のリークを検出することができる。すなわち、駆動装置が実装される工程やその直前にて発生した欠陥も検出される。したがって、検査の結果の有効性を向上させることができる。さらに、この検出モードにおける検出の結果に基づいてデータ信号が補正されるから、各データ線にて電流のリークが発生している場合であっても、このリークを補償して良好な表示品位が実現される。なお、本発明において、検出モードにおける検出の結果に応じた補正データは記憶手段（例えば不揮発性のメモリ）に記憶される。この記憶手段は、駆動装置の内部および外部の何れに配置されていてもよい。

検出モードにおいては、検出用配線に対して所定の電圧が印加される。この電圧（実施形態における検査用電圧Ｖe）は、検査装置など外部の機器から印加されるものであってもよいが、駆動装置に供給される電源に応じた電圧を利用してもよい。例えば、電源電位が供給される電源端子を具備し、信号生成回路が、電源端子に供給された電源電位に基づいてデータ信号を生成する構成のもとでは、検出モードにおいて、電源端子に供給された電源電位に応じた電位が検出用配線および出力端子を介してデータ線に供給されるようにしてもよい。この構成によれば、検出モードにおいてデータ線に印加される電圧の発生源を駆動装置の電源と別個に用意する必要がないから、検査に要するコストを低減することができる。この構成の具体例は第２実施形態（図１１）として後述される。
なお、この構成のもとで検出モードが選択されているときに信号駆動回路がデータ信号の生成を実行するとすれば、この生成に連動するように電源が変動して正確なリーク電流の検出が妨げられるという問題が生じ得る。そこで、本発明の望ましい態様においては、検出モードにおいて信号生成回路によるデータ信号の生成を停止させる手段（例えば図１１に示されるスイッチング素子２５７）がさらに設けられる。この態様によれば、検出モードにおける電源電位の変動を防止することができるから、この電源電位を利用した検査の精度を向上させることができる。

本発明において、補正手段は、信号生成回路が実際に生成したデータ信号（データ線に出力される直前のデータ信号）を補正データに基づいて補正してもよいし、信号生成回路が画像データに基づいてデータ信号を生成する構成においては、この画像データを補正データに基づいて補正してもよい。

また、本発明の望ましい態様においては、データ信号を生成するための要素と動作モードを切り替えるための要素とが共用される。例えば、パルス信号を順次にシフトして出力するシフトレジスタを具備し、信号生成回路が、シフトレジスタから出力される各パルス信号によってサンプリングされた画像データに基づいてデータ信号を生成する構成においては、切替手段が、検出モードにおいて、シフトレジスタから出力されるパルス信号に対応した出力端子を順次に検出用配線に接続する。この構成によれば、駆動装置の回路規模が低減されるという利点がある。もっとも、本発明においては、動作モードを切り替えるための要素とデータ信号を生成するための要素とが別個に配設された構成も採用される。

本発明に係る電気光学装置は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配置された複数の画素と、各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、駆動装置は、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号をデータ線ごとに生成する信号生成回路と、信号生成回路が生成したデータ信号を出力端子に供給する駆動モードと複数の出力端子の各々を順次に検出用配線に接続する検出モードとを切り替える切替手段と、検出モードにおいて検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに取得し、この補正データに基づいて、信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正する補正手段とを具備することを特徴とする。この構成によっても、本発明の駆動装置と同様の理由によって検査の信頼性を向上させることができる。

本発明に係る電気光学装置の望ましい態様においては、データ線ごとに補正データを記憶する記憶手段が設けられ、補正手段は、各データ線に対応する補正データを記憶手段から取得する。
この態様において、記憶手段は、複数の階調の各々について、当該階調に対応したデータ信号が駆動モードにて供給されたときの各データ線の電位が検出用配線に供給された場合に検出モードにて当該検出用配線から検出される電流に応じた補正データを各階調と対応付けて記憶し、補正手段は、記憶手段に記憶された複数の補正データのうち各画素について指定される階調に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する。各データ線にて電流がリークする程度は、そのデータ線に印加される電圧に応じて変動するところ、本態様によれば、階調に応じた補正データに基づいてデータ信号が補正されるから、何れの階調が指定された場合であっても適切な補正を実行して良好な表示品位を維持することができる。なお、この態様の具体例は第３実施形態として後述される。
別の態様において、当該電気光学装置またはその周囲の温度を測定する温度測定手段（例えば図１６に示される温度センサ５５）を具備し、記憶手段は、複数の温度の各々のもとで検出モードにて検出用配線から検出される電流に応じた補正データを各温度と対応付けて記憶し、補正手段は、記憶手段に記憶された複数の補正データのうち温度測定手段による測定の結果に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する。各データ線にて電流がリークする程度は、そのデータ線の温度に応じて変動するところ、本態様によれば、温度に応じて選択された補正データに基づいてデータ信号が補正されるから、電気光学装置が使用される環境の温度に拘わらず適切な補正を実現して良好な表示品位が維持される。なお、この態様の具体例は第４実施形態として後述される。

本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。このような電子機器としては、例えば、パーソナルコンピュータや携帯電話機がある。本発明に係る電気光学装置は、典型的には画像を表示する表示装置として使用されるが、このほかにも例えば光書込み型の画像形成装置（例えばプリンタ）におけるラインヘッドとしても使用され得る。

本発明に係る駆動方法は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、各データ線を介して画素にデータ信号を供給する駆動装置とを具備し、駆動回路が、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、検出用配線とを有する電気光学装置の駆動方法であって、検出モードにおいては、複数の出力端子の各々を順次に検出用配線に接続し、このときに検出用配線から検出される電流に応じた補正データをデータ線ごとに生成して記憶手段に書き込み、駆動モードにおいては、記憶手段に記憶された各データ線の補正データに基づいて、信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正し、この補正後のデータ信号を各出力端子に供給することを特徴としている。この駆動方法によっても、本発明の駆動装置と同様の理由により、検査の信頼性を向上させるとともにリーク電流に起因した表示品位の低下を抑制することができる。

本発明の望ましい態様（第３実施形態）において、検出モードにおいては、複数の階調の各々について、当該階調に応じたデータ信号が駆動モードにて供給されたときの各データ線の電位を検出用配線に供給し、このときに当該検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに各階調と対応付けて記憶手段に書き込み、駆動モードにおいては、記憶手段に記憶された複数の補正データのうち各画素について指定される階調に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する。この態様によれば、何れの階調が指定された場合であっても適切な補正を実行して良好な表示品位を維持することができる。
さらに他の態様（第４実施形態）において、当該電気光学装置またはその周囲の温度を測定する一方、検出モードにおいては、複数の温度の各々のもとで検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに各温度と対応付けて記憶手段に書き込み、駆動モードにおいては、記憶手段に記憶された複数の補正データのうち測定した温度に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する。この態様によれば、電気光学装置が使用される環境の温度に拘わらず適切な補正を実現して良好な表示品位が維持される。

＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。同図においては、電気光学装置１を検査するための検査装置６０が併せて図示されている。図１に示されるように、電気光学装置１は、電気光学パネルＡＡと走査線駆動回路１００とデータ線駆動回路２００とを備える。電気光学パネルＡＡには画素領域Ａが形成される。この画素領域Ａには、Ｘ方向（行方向）に延在するｍ本の走査線１０１と、各走査線１０１に対をなしてＸ方向に延在するｍ本の発光制御線１０２とが形成される（ｍは自然数）。また、画素領域Ａには、Ｘ方向と直交するＹ方向（列方向）に延在するｎ本のデータ線１０３が形成される（ｎは自然数）。そして、走査線１０１および発光制御線１０２の対とデータ線１０３との各交差に対応して画素回路４００が配置される。したがって、これらの画素回路４００は、画素領域Ａ内においてＸ方向およびＹ方向にわたってマトリクス状に配列する。各画素回路４００は電流駆動型の自発光素子たるＯＬＥＤ素子４２０を含む。

走査線駆動回路１００およびデータ線駆動回路２００は、電気光学パネルＡＡにＣＯＧ（Chip On Glass）技術によって実装されたＩＣチップである。このうち走査線駆動回路１００は、ｍ本の走査線１０１の各々を順次に選択する回路である。より具体的には、走査線駆動回路１００は、水平走査期間ごとに順番にアクティブレベル（Ｈレベル）となる走査信号Ｙa1、Ｙa2、…、Ｙamを各走査線１０１に対して出力するとともに、これらの論理レベルを反転した発光制御信号Ｙb1、Ｙb2、…、Ｙbmを各発光制御線１０２に出力する。走査信号Ｙai（ｉは１≦ｉ≦ｍを満たす整数）がアクティブレベルになると第ｉ行が選択されたことを意味する。

一方、データ線駆動回路２００は、走査線駆動回路１００が選択した走査線１０１に接続された各画素回路４００に対してデータ信号Ｘ1、Ｘ2、…、Ｘnを供給する。データ信号Ｘj（ｊは１≦ｊ≦ｎを満たす整数）は第ｊ列目の画素回路４００の輝度（階調）を指定する電流信号である。なお、走査線駆動回路１００やデータ線駆動回路２００が電気光学パネルＡＡの外部（例えば電気光学パネルＡＡに実装された配線基板上）に実装された構成としてもよい。

次に、図２を参照して画素回路４００の構成を説明する。同図においては、第ｉ行目に属する第ｊ列目のひとつの画素回路４００のみが図示されているが、その他の画素回路４００も同様の構成である。本実施形態における画素回路４００は、データ信号Ｘjの電流値に応じてＯＬＥＤ素子４２０の輝度（階調）が制御される電流駆動型（いわゆる電流プログラミング方式）の回路である。

図２に示されるように、画素回路４００は、４個のトランジスタ（例えば薄膜トランジスタ）Ｔr1ないしＴr4と、キャパシタＣと、ＯＬＥＤ素子４２０とを有する。トランジスタＴr1の導電型はｐチャネル型であり、トランジスタＴr2ないしＴr4の導電型はｎチャネル型である。このうちトランジスタＴr1のソース電極は電源の高位側電位（以下「電源電位」という）Ｖddが供給される電源線に接続され、そのドレイン電極は、トランジスタＴr2のソース電極と、トランジスタＴr3のドレイン電極と、トランジスタＴr4のドレイン電極とに接続される。

キャパシタＣは、一端がトランジスタＴr1のソース電極に接続されるとともに、他端がトランジスタＴr1のゲート電極とトランジスタＴr2のドレイン電極とに接続される。トランジスタＴr3は、そのゲート電極がトランジスタＴr2のゲート電極とともに走査線１０１に接続され、そのソース電極はデータ線１０３に接続される。一方、トランジスタＴr4のゲート電極は発光制御線１０２に接続され、そのソース電極はＯＬＥＤ素子４２０の陽極に接続される。ＯＬＥＤ素子４２０の陰極は電源の低位側電位（以下「接地電位」という）Ｇndが供給される接地線に接続される。

各垂直走査期間のうち第ｉ番目の水平走査期間にて走査信号Ｙaiがアクティブレベルになると、トランジスタＴr2がオン状態となってトランジスタＴr1がダイオード接続されるとともにトランジスタＴr3もオン状態となる。したがって、データ信号Ｘjに応じた電流が、電源線→トランジスタＴr1→トランジスタＴr3→データ線１０３という経路で流れ、このときにトランジスタＴr1のゲート電極の電位に応じた電荷がキャパシタＣに蓄積される。

次いで、第ｉ番目の水平走査期間が終了して走査信号Ｙaiが非アクティブレベル（Ｌレベル）になると、トランジスタＴr2およびＴr3はともにオフ状態となる。このとき、トランジスタＴr1のゲート・ソース間の電圧はその直前の水平走査期間における電圧に保持される。そして、発光制御信号Ｙbiがアクティブレベルに遷移すると、トランジスタＴr4がオン状態となり、トランジスタＴr1のソース・ドレイン間にはそのゲート電圧に応じた電流（すなわちデータ信号Ｘjに応じた電流）が電源線から流れ込み、この電流の供給によってＯＬＥＤ素子４２０が発光する。

ところで、以上に説明した電気光学装置１においては、各データ線１０３において電流がリークする可能性がある。このリークの原因のひとつとして、データ線１０３に接続された何らかの回路の不具合が考えられる。例えば、図３には、各画素回路４００を静電気から保護するための回路（以下「静電保護回路」という）がデータ線１０３やデータ線駆動回路２００の出力端子Ｔoutに接続された構成が例示されている。データ線１０３に接続された静電保護回路３５１および出力端子Ｔoutに接続された静電保護回路３５２の各々は、陰極が電源線に接続されたダイオードＤ1と、陽極が接地線に接続されたダイオードＤ2とを直列に接続した構成となっている。ダイオードＤ1の陽極とダイオードＤ2の陰極とはデータ線１０３または出力端子Ｔoutに対して共通に接続される。

この種の静電保護回路３５に欠陥があると、データ線１０３や出力端子ＴoutからダイオードＤ1およびＤ2を介して電流（逆方向の電流）がリークする場合がある。なお、実際には、静電保護回路３５１および３５２の各々におけるダイオードＤ1およびＤ2はＭＯＳ型のトランジスタによっても構成される。この場合には、トランジスタがオフ状態にあるときのリーク電流やドレイン電極に流れるリーク電流がデータ線１０３における電流のリークとなり得る。また、データ線１０３におけるリークの原因としては、この他にも、データ線１０３に接続された各種のトランジスタにおけるリークやデータ線１０３と交差するように形成された各電源線におけるリークが考えられる。

このようにデータ線１０３において電流がリークすると、所期の電流値のデータ信号Ｘjを画素回路４００に供給することができないため、各画素回路４００のＯＬＥＤ素子４２０を所期の階調にて発光させることができず、画素領域ＡにＹ方向の表示ムラが発生するという問題がある。そこで、本実施形態におけるデータ線駆動回路２００は、データ信号Ｘjを各データ線１０３から画素回路４００に供給して画素領域Ａに画像を表示させる電気光学装置１の本来的な動作モード（以下「駆動モード」という）のほか、各データ線１０３における電流のリークを検出するための動作モード（以下「検出モード」という）にて動作するようになっている。駆動モードにおいては、検出モードにて検出されたリーク電流に応じてデータ信号Ｘjが補正される。

図４は、データ線駆動回路２００の具体的な構成を示すブロック図である。同図に示されるように、データ線駆動回路２００は、外部の制御装置（例えば電気光学装置１が搭載される電子機器のＣＰＵ）から各種の信号が入力される複数の入力端子Ｔinと、電源電位Ｖddおよび接地電位Ｇndがそれぞれ電源回路（図示略）から供給される電源端子Ｔp1およびＴp2と、データ線１０３の総本数に相当するｎ個の出力端子Ｔoutと、電気光学装置１の検査に利用される接続端子Ｔd1ないしＴd3とを有する。図１や図４に示されるように、各出力端子Ｔoutは、これに対応するデータ線１０３に接続される。また、検出モードにおいては、図１に示されるように、データ線駆動回路２００の接続端子Ｔd1ないしＴd3に検査装置６０が接続される（検査装置６０の具体的な構成については後述する）。

図４に示されるシフトレジスタ２１は、データ線１０３の総本数に相当するｎビットのシフトレジスタであり、各水平走査期間の最初に入力端子Ｔinを介して供給されるスタートパルスＤＸをドットクロックＣＬに同期して順次にシフトすることによりサンプリング信号Ｓ1、Ｓ2、…、Ｓnとして出力する。これらのサンプリング信号Ｓ1、Ｓ2、…、Ｓnは、シフトレジスタ２１の後段に配置されたサンプリング回路２２と、データ線駆動回路２００の動作モードを切り替えるための切替部２９とに対して並列に供給される。

メモリＭは、接続端子Ｔd2を介して入力される補正データＤHを記憶する手段（例えば不揮発性のメモリ）である。補正データＤHは、データ信号Ｘjを補正するためのデータであり、検査装置６０によって検出された各データ線１０３におけるリーク電流の大小に応じて生成される。一方、入力端子Ｔinには画像データＤが入力される。この画像データＤは、各画素回路４００の階調を指定する８ビットのデジタルデータである。図４に示される補正回路５１は、入力端子Ｔinから供給される画像データＤを、メモリＭに記憶された補正データＤHに基づいて補正して新たな画像データＤnewを生成する手段である。補正回路５１から出力された画像データＤnewはサンプリング回路２２に供給される。なお、メモリＭや補正回路５１の具体的な構成については後述する。

図４に示されるサンプリング回路２２は、サンプリング信号Ｓjがアクティブレベルに遷移するタイミングにて第ｊ列目の画素回路４００の階調を指定する画像データＤnewjをサンプリングして出力する。ラッチ回路２３は、ある水平走査期間にてサンプリング回路２２がサンプリングした１行分の画素回路４００の画像データＤnew（Ｄnew1ないしＤnewn）を、次の水平走査期間の始点にて入力端子Ｔinから入力されるラッチパルスＬＰによって一斉にラッチする。信号生成回路２５は、ラッチ回路２３から出力された画像データＤnewに基づいてデータ信号Ｘ1、Ｘ2、…、Ｘnを生成する回路であり、ひとつの電圧生成回路２５１と、データ線１０３の総本数に相当するｎ個の処理ユニット２５３とを有する。

図５は、信号生成回路２５の具体的な構成を示す回路図である。なお、同図においては第ｊ段目の処理ユニット２５３の構成のみが詳細に図示されているが、その他の処理ユニット２５３の構成も同様である。電圧生成回路２５１は、データ信号Ｘ1ないしＸnの電流値の基準となる電圧Ｖrefを生成するための回路であり、図５に示されるように、ｐチャネル型のトランジスタＴa1およびＴa2と、ｎチャネル型のトランジスタＴa3およびＴa4とを有する。このうちトランジスタＴa1のドレイン電極はそのゲート電極に接続（すなわちダイオード接続）される。トランジスタＴa1とトランジスタＴa2とは各々のゲート電極が接続されてカレントミラー回路を構成する。トランジスタＴa1およびＴa2の各々のソース電極は、電源端子Ｔp1から電源電位Ｖddが供給される電源線に接続される。

トランジスタＴa3のドレイン電極はトランジスタＴa1のドレイン電極に接続される。また、トランジスタＴa3のソース電極は、電源端子Ｔp2から接地電位Ｇndが供給される接地線に接続される。このトランジスタＴa3のゲート電極には入力端子Ｔinから制御信号Ｖcが印加される。一方、トランジスタＴa4は、ドレイン電極がトランジスタＴa2のドレイン電極に接続されるとともにソース電極が接地線に接続される。また、トランジスタＴa4のゲート電極は、そのドレイン電極とともにゲート線２５５に接続される。以上の構成において、トランジスタＴa1とトランジスタＴa2とはカレントミラー回路を構成しているから、制御信号Ｖcの電圧値に応じた電流Ｉrefが電源線からトランジスタＴa1およびＴa3を経由して接地線に流れると、トランジスタＴa2およびＴa4にもこれに等しい電流Ｉrefが流れる。このときゲート線２５５は電流Ｉrefに応じた電圧Ｖrefとなる。すなわち、図５の構成においては、制御信号Ｖcを調整することによってゲート線２５５の電圧Ｖrefを任意に制御することができる。

一方、各処理ユニット２５３は、画像データＤnewに応じたデータ信号Ｘjを生成するＤ／Ａ変換器であり、画像データＤnewのビット数に相当する８個のトランジスタＴb（Ｔb1ないしＴb8）と、各々のドレイン電極がトランジスタＴbのソース電極に接続された８個のトランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）とを有する。ひとつの処理ユニット２５３に属するトランジスタＴb1ないしＴb8のドレイン電極は端子ａに対して共通に接続される。また、トランジスタＴb1ないしＴb8の各々のゲート電極には、ラッチ回路２３から出力された画像データＤnewの各ビットが供給される。一方、トランジスタＴc1ないしＴc8の各々は、そのゲート電極がゲート線２５５に対して共通に接続され、ソース電極が接地線に接続される。トランジスタＴc1ないしＴc8の特性（特に利得係数）は、各々のゲート電極に共通の電圧Ｖrefが印加されたときに各トランジスタＴcに流れる電流Ｉ1ないしＩ8の比が「Ｉ1：Ｉ2：Ｉ3：Ｉ4：Ｉ5：Ｉ6：Ｉ7：Ｉ8＝１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８」となるように選定されている。すなわち、これらのトランジスタＴc1ないしＴc8は、各々が別個の重み値にて重み付けされた複数の電流（Ｉ1ないしＩ8）を生成する電流源として機能する。

以上の構成において、８個のトランジスタＴb1ないしＴb8のうち画像データＤnewに応じたトランジスタＴbが選択的にオン状態とされる。このとき、端子ａが出力端子Ｔoutを介してデータ線１０３に接続されているとすれば、オン状態となったトランジスタＴbに対応した１以上のトランジスタＴcに電流Ｉ（Ｉ1ないしＩ8のなかから選択された１以上の電流）が流れ、これらの電流を加算した信号がデータ信号Ｘjとして端子ａおよび第ｊ列目のデータ線１０３に流れる。

図４および図５に示されるように、信号生成回路２５の後段にはスイッチ群２７が配置される。このスイッチ群２７は、データ線１０３の総本数に相当するｎ個のスイッチング素子２７１を含む。各スイッチング素子２７１は、出力端子Ｔout（さらにはデータ線１０３）に接続された端子ｃを有する。また、各スイッチング素子２７１は、その前段の処理ユニット２５３に接続された端子ａのほかに端子ｂを有する。総てのスイッチング素子２７１の端子ｂは検出用配線３０に接続される。この検出用配線３０は、各データ線１０３における電流のリークを検出するための配線であり、その端部には接続端子（以下では特に「検出端子」という）Ｔd1が形成されている。

一方、図４に示される切替部２９には接続端子Ｔd3からモード選択信号Ｓmodが供給される。このモード選択信号Ｓmodは、データ線駆動回路２００の動作モードを駆動モードおよび検出モードの何れかに選定するための信号である。この切替部２９は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されているときにはシフトレジスタ２１とスイッチ群２７との電気的な接続を遮断する。一方、モード選択信号Ｓmodによって検出モードが指定されている場合、切替部２９は、シフトレジスタ２１から出力されるサンプリング信号Ｓ1ないしＳnを通過させてスイッチ群２７のスイッチング素子２７１に供給する。すなわち、検出モードにおいては、シフトレジスタ２１から出力されたサンプリング信号Ｓjが、スイッチ群２７を構成する第ｊ番目のスイッチング素子２７１に供給される。

各スイッチング素子２７１は、切替部２９から供給されるサンプリング信号Ｓjに応じて端子ａおよび端子ｂの何れかを選択的に端子ｃに接続する手段である。図６に示されるように、スイッチング素子２７１はトランスミッションゲートＧ1とトランスミッションゲートＧ2とを備える。この構成において、サンプリング信号Ｓjが非アクティブレベルであればトランスミッションゲートＧ1がオン状態となって端子ａが端子ｃに接続される一方、サンプリング信号Ｓjがアクティブレベルを維持する期間においてはトランスミッションゲートＧ2がオン状態となって端子ｂが端子ｃに接続される。なお、スイッチング素子２７１の構成は図６に示したものに限られない。例えば、ゲート電極にモード選択信号Ｓmodが供給されるトランジスタによってスイッチング素子２７１を構成してもよい。

以上の構成のもと、駆動モードにおいては、切替部２９からの出力は常に非アクティブレベルとなるから、スイッチング素子２７１の端子ａは端子ｃに接続される。したがって、各処理ユニット２５３から出力されたデータ信号Ｘjは、第ｊ番目のスイッチング素子２７１の端子ａおよび端子ｃとその後段の出力端子Ｔoutとを介して第ｊ列目のデータ線１０３に出力される。一方、検出モードにおいては、各スイッチング素子２７１に切替部２９から供給されるサンプリング信号Ｓ1ないしＳnが順番にアクティブレベルとなるから、ｎ個のスイッチング素子２７１の端子ｃは第１番目から第ｎ番目に向かって順番に端子ｂに接続される。すなわち、検出モードにおいては、ｎ本のデータ線１０３の各々が第１列目から第ｎ列目に向かって順番に検出用配線３０に接続されることになる。このように、切替部２９およびスイッチ群２７は、データ線駆動回路２００の動作モードを切り替える手段（本発明における切替手段）として機能する。

次に、図７を参照して、検出モードにてデータ線１０３のリークを検出する検査装置６０の構成を説明する。同図に示されるように、検査装置６０は、接続端子Ｔg1ないしＴg3を有する。電気光学装置１を検査するとき、図１に示されるように、接続端子Ｔg1はデータ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1に接続され、接続端子Ｔg2はデータ線駆動回路２００の接続端子Ｔd2に接続され、接続端子Ｔg3はデータ線駆動回路２００の接続端子Ｔd3に接続される。

図７に示されるように、検査装置６０は、制御部６１とリーク電流検出部６２と電圧印加部６３と補正データ生成部６４とを有する。このうち制御部６１は、モード選択信号Ｓmodを生成して接続端子Ｔg3に出力する手段である。さらに詳述すると、制御部６１は、操作子（図示略）への操作によって検出モードへの移行が指示されるとモード選択信号ＳmodをＨレベルに遷移させる一方、駆動モードへの移行が指示されるとモード選択信号ＳmodをＬレベルに遷移させる。

リーク電流検出部６２は、データ線１０３における電流のリークを検出するための手段である。本実施形態におけるリーク電流検出部６２は、接続端子Ｔg1と電圧印加部６３との間に介挿された抵抗素子を有する。一方、電圧印加部６３は、接続端子Ｔg1に対して所定の電圧（以下「検査用電圧」という）Ｖeを印加するための手段である。検出モードにおいては各データ線１０３が順番（点順次）に検出用配線３０に接続されるから、データ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1と検査装置６０の接続端子Ｔg1とが接続された状態においては、電圧印加部６３によって生成された検査用電圧Ｖeが検出用配線３０を介して１本のデータ線１０３に印加される。何れかのデータ線１０３にて電流のリークが発生している場合には、この検査用電圧Ｖeの印加によって、データ線１０３から検出端子Ｔd1および接続端子Ｔg1を介してリーク電流検出部６２の抵抗素子に電流が流れる。本実施形態においてはｎ本のデータ線１０３の各々が順番（点順次）に検出用配線３０に接続されるから、リーク電流検出部６２においては、ｎ本のデータ線１０３の各々にて発生するリーク電流が順番に検出される。なお、検査用電圧Ｖeは、例えば、画素回路４００にデータ信号Ｘjを供給するときのデータ線１０３の電圧として設計上において想定される電圧値に設定される。あるいは、実際にデータ信号Ｘjが供給されたときのデータ線１０３の電圧値を測定し、これを検査用電圧Ｖeとして選定してもよい。すなわち、例えば、何れかの走査線１０１（表示に寄与しないダミーの走査線であってもよい）に供給される走査信号Ｙiをリークの検査前にアクティブレベルとしたうえで特定の階調に対応する電流値のデータ信号Ｘjをデータ線１０３に試験的に供給し、このときのデータ線１０３の電圧値を測定する。そして、検査用電圧Ｖeの電圧値をこの測定した電圧値に設定するのである。ただし、本発明において検査用電圧Ｖeの設定の方法は任意である。例えば、後述する第３および第４実施形態のように、各画素回路４００が表示すべき各階調や電気光学装置１が使用される環境の温度に応じて検査用電圧Ｖeが選定される構成としてもよい。

一方、補正データ生成部６４は、リーク電流検出部６２にて検出されたリーク電流に応じてデータ線１０３ごとに補正データＤHを生成する手段である。この補正データＤHは、データ線駆動回路２００の補正回路５１が画像データＤを補正するためのデータであり、各データ線１０３における電流のリークが補償されるように各々の数値が選定される。より具体的には、補正データ生成部６４は、各データ線１０３にて大きいリーク電流が検出されるほど大きい数値の補正データＤHを生成する。データ線１０３に電流のリークが発生していない場合、補正データＤHが示す数値はゼロとなる。この補正データ生成部６４によって生成された補正データＤHは接続端子Ｔg2からデータ線駆動回路２００の接続端子Ｔd2に供給されてメモリＭに格納される。図８は、メモリＭによる記憶の内容を示す図である。同図に示されるように、メモリＭは、ｎ本の各データ線１０３の各々を識別する番号（例えば列番号）と各データ線１０３について生成された補正データＤH1ないしＤHnとが対応付けられたテーブルTBLaを記憶する。

次に、図９は、補正回路５１の構成をメモリＭとともに示すブロック図である。同図に示されるように、補正回路５１はアドレスカウンタ５０１と加算器５０２とを有する。このうちアドレスカウンタ５０１には、ドットクロックＣＬとスタートパルスＤＸとが入力端子Ｔinから供給される。アドレスカウンタ５０１は、ドットクロックＣＬの立ち上がりを計数するとともにスタートパルスＤＸの立ち上がりのタイミングにて計数値ＡＤをリセットするカウンタである（図１０参照）。このアドレスカウンタ５０１による計数値ＡＤはアドレスを指定する数値としてメモリＭに供給される。メモリＭは、テーブルTBLaに含まれる補正データＤH1ないしＤHnのうち計数値ＡＤによって指定されるものを加算器５０２に出力する。したがって、各水平走査期間においては、図１０に示されるように、第１列目のデータ線１０３に対応する補正データＤH1から第ｎ列目のデータ線１０３に対応する補正データＤHnの各々がドットクロックＣＬに同期してこの順番に加算器５０２に供給される。

一方、図１０に示されるように、加算器５０２には各画素の画像データＤ（Ｄ1、Ｄ2、…、Ｄn）がドットクロックＣＬに同期して入力される。加算器５０２は、この画像データＤ1ないしＤnとメモリＭから読み出された補正データＤH1ないしＤHnとをそれぞれ加算し、この加算値を画像データＤnew1（＝Ｄ1＋ＤH1）、Ｄnew2（＝Ｄ2＋ＤH2）、…、Ｄnewn（Ｄn＋ＤHn）としてサンプリング回路２２に出力する。以上の構成によって生成された画像データＤnewは、各データ線１０３における電流のリークを補償する数値となる。したがって、この画像データＤnewに基づいて信号生成回路２５が生成したデータ信号Ｘjは、第ｊ列目のデータ線１０３におけるリークを経て画素回路４００に入力される段階で画像データＤjに応じた電流値となる。

次に、電気光学装置１を作動させる手順について説明する。
まず、接続端子Ｔg1ないし接続端子Ｔg3がデータ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1ないしＴd3にそれぞれ接触するように検査装置６０が配置される。次いで、制御部６１から出力されるモード選択信号Ｓmodが、駆動モードを示すＬレベルから検出モードを示すＨレベルに遷移される。こうしてモード選択信号ＳmodがＨレベルに遷移すると、ｎ本のデータ線１０３の各々がドットクロックＣＬに同期して順番に検出用配線３０に接続される。このとき、電圧印加部６３によって接続端子Ｔg1に検査用電圧Ｖeが印加される。この検査用電圧Ｖeは、検出用配線３０と各スイッチング素子２７１とを介してｎ本のデータ線１０３の各々に順番に印加される。そして、補正データ生成部６４は、このときのリーク電流検出部６２における抵抗素子の両端の電圧に応じてリーク電流の大きさを測定し、この測定の結果に応じた補正データＤHを生成する。この補正データＤHは接続端子Ｔg2と接続端子Ｔd2とを介してデータ線駆動回路２００に供給されてデータ線１０３ごとにメモリＭに書き込まれる。一方、駆動モードにおいては、データ線駆動回路２００に入力された画像データＤがメモリＭの補正データＤHに基づいて補正され、この補正後の画像データＤnewに応じたデータ信号Ｘjが信号生成回路２５の各処理ユニット２５３によって生成されて各データ線１０３に出力される。

以上に説明したように、本実施形態においては、データ線駆動回路２００の動作モードとして検出モードが選定されるから、データ線駆動回路２００を電気光学パネルＡＡに実装した後の段階においても各データ線１０３における電流のリークが検出される。すなわち、電気光学パネルＡＡが完成した直後に発生した欠陥だけでなくその完成からデータ線駆動回路２００が実装されるまでに発生した欠陥も検出することができる。したがって、検査の結果の有効性を向上させることができる。さらに、本実施形態においては、検出モードにおける検出の結果に基づいてデータ信号Ｘjが補正されるから、各データ線１０３にて発生する電流のリークを補償して良好な表示品位が実現される。

また、本実施形態においては、各出力端子Ｔoutを選択的に検出用配線３０に接続するための各スイッチング素子２７１がシフトレジスタ２１からの出力信号（サンプリング信号Ｓ1ないしＳn）によって制御されるから、各スイッチング素子２７１を制御するための信号が独立に生成される構成と比較してデータ線駆動回路２００の回路規模を縮小することができる。

＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置１の構成を説明する。第１実施形態においては、各データ線１０３に対して検査装置６０の電圧印加部６３から検査用電圧Ｖeを印加する構成を例示した。これに対し、本実施形態に係る電気光学装置１においては、電源端子Ｔp1からデータ線駆動回路２００に供給される電源電位Ｖddに応じた電圧が検出モードにおいて各データ線１０３に印加される構成となっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態と同様の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。

図１１は、本実施形態における信号生成回路２５およびスイッチ群２７の構成を示す回路図である。同図に示されるように、信号生成回路２５を構成する電圧生成回路２５１および各処理ユニット２５３の構成は第１実施形態と同様である。一方、電圧生成回路２５１を構成するトランジスタＴa3のゲート電極はスイッチング素子２５７に接続される。スイッチング素子２５７の動作はモード選択信号Ｓmodに応じて制御される。さらに詳述すると、スイッチング素子２５７は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されているときにはトランジスタＴa3のゲート電極を制御信号Ｖcの入力端子Ｔinに接続し、検出モードが指定されているときにはトランジスタＴa3のゲート電極を接地線に接続する。

また、電圧生成回路２５１の後段にはスイッチング素子２５８が設けられる。スイッチング素子２５７および２５８は、例えば図６に示したスイッチング素子２７１と同様の構成である。スイッチング素子２５８の動作はスイッチング素子２５７と同様にモード選択信号Ｓmodに応じて制御される。すなわち、スイッチング素子２５８は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されているときにはゲート線２５５をトランジスタＴa4のドレイン電極に接続し、検出モードが指定されているときにはゲート線２５５を接地線に接続する。

以上の構成において、駆動モードにおいては電圧生成回路２５１に制御信号Ｖcが供給されるとともにゲート線２５５が電圧生成回路２５１に接続されるから、各処理ユニット２５３は画像データＤnewに応じたデータ信号Ｘjを生成する。一方、検出モードにおいては電圧生成回路２５１への制御信号Ｖcの供給が停止されてトランジスタＴa3はオフ状態となり、さらにゲート線２５５の電圧は各トランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）をオフ状態とするレベルに低下するから、電圧生成回路２５１が電圧Ｖrefを生成する動作や各処理ユニット２５３がデータ信号Ｘjを生成する動作は停止する。このように、スイッチング素子２５７および２５８は、検出モードにおいて信号生成回路２５の動作を停止させるための手段として機能する。

また、図１１に示されるように、本実施形態においては、各データ線１０３における電流のリークを検出するためのリーク電流検出部３８とその検出の結果に応じて補正データＤHを生成する補正データ生成部３９とがデータ線駆動回路２００に設置されている。同図に示されるように、リーク電流検出部３８は、電源端子Ｔp1から電源電位Ｖddが供給される電源線と、各スイッチング素子２７１の端子ｂに接続された検出用配線３０との間に介挿される。リーク電流検出部３８は、第１実施形態のリーク電流検出部６２と同様に抵抗素子を有する。一方、補正データ生成部３９は、第１実施形態の補正データ生成部６４と同様の手順にて補正データＤHを生成してメモリＭに出力する。

この構成において、モード選択信号Ｓmodによって検出モードへの移行が指示されると、ｎ本のデータ線１０３の各々が順番に電源線に接続される。したがって、これらのデータ線１０３には順次に電源電位Ｖddが供給される。そして、このときの各データ線１０３におけるリーク電流に応じて補正データＤH（ＤH1、ＤH2、…、ＤHn）が生成されてメモリＭに格納される。以後の手順は第１実施形態と同様である。なお、ここでは電源電位Ｖddがデータ線１０３に供給される構成を例示したが、これ以外の電位がデータ線１０３に供給される構成としてもよい。例えば、電源端子Ｔp1から供給される電源電位Ｖddを変圧した電位を検出用配線３０から各データ線１０３に印加する構成も採用される。

以上に説明したように、本実施形態においては、データ線駆動回路２００にて利用される電源電位Ｖddがリーク電流の測定のために共用されるようになっている。このような構成において、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５が駆動モードと同様に動作してこれに応じた電流が電源線に流れるとすれば、検出モードにて検出用配線３０に流れる電流は、実際にデータ線１０３に発生しているリーク電流とは相違することになる。したがって、この場合にはデータ線１０３に発生しているリーク電流を正確に測定することができない。これに対し、本実施形態においては、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５の動作が停止するから、検出用配線３０に流れる電流が信号生成回路２５の動作の影響を受けることは回避される。このように、本実施形態によれば、データ線１０３におけるリークに起因した電流以外の電流の影響を排除することができるから、各データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。また、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５の動作は停止するから、検出モードにおいては、電源端子Ｔp1に供給される電源電位Ｖddの変動（特に信号生成回路２５における電力の消費に伴なう電源電位Ｖddの低下）は防止される。すなわち、検出モードにおいて各データ線１０３に所期の電源電位Ｖddを精度よく供給することができるから、検出モードにおいても信号生成回路２５を動作させる構成（この構成においては信号生成回路２５の動作に起因して電源電位Ｖddが変動する）と比較して、各データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。

なお、本実施形態においては、リーク電流検出部３８がデータ線駆動回路２００の内部に配置された構成を例示したが、図１２に示されるように、このリーク電流検出部３８をデータ線駆動回路２００に搭載せず、第１実施形態に示したように検査装置６０のリーク電流検出部６２によってデータ線１０３における電流のリークを検出する構成としてもよい。

また、本実施形態においては、スイッチング素子２７１の端子ｃが択一的に端子ａまたは端子ｂに接続される構成を例示したが、図１３に示されるように、出力端子Ｔoutが動作モードに拘わらず処理ユニット２５３に接続され、かつ、検出モードが選択された場合に限って出力端子Ｔoutがスイッチング素子２７１を介して検出用配線３０に接続される構成としてもよい。ただし、このようにデータ船１０３が常に処理ユニット２５３に接続された構成においては、検出モードにおいてもトランジスタＴb（Ｔb1ないしＴb8）やトランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）に電流が流れる可能性がある。したがって、トランジスタＴa3のゲート電極をスイッチング素子２５７によって接地線に接続したとしても、これらの電流（すなわちデータ線１３０におけるリーク電流以外の電流）が検出用配線３０に流れ、これがデータ線１０３におけるリーク電流の測定の精度を低下させる原因となりかねない。しかしながら、本実施形態のように、検出モードにおいてゲート線２５５がスイッチング素子２５８を介して接地線に接続される構成によれば、各トランジスタＴcを確実にオフ状態に維持することができるから、処理ユニット２５３に流れる電流を確実に停止させ、データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。なお、各トランジスタＴcがｐチャネル型のトランジスタである構成においては、検出モードが選択されたときにゲート線２５５を電源電位Ｖddが印加される電源線に接続する構成とすればよい。

＜Ｃ：第３実施形態＞
次に、本発明の第３実施形態について説明する。第１および第２実施形態においては、各データ線１０３ごとにひとつの補正データＤHがメモリＭに格納される構成を例示した。しかしながら、データ線１０３において電流がリークする程度はそのデータ線１０３に印加される電圧に応じて変動する。一方、駆動モードにおける各データ線１０３の電圧は、そのデータ線１０３の電流値（すなわち各画素の階調）に応じて変化する。したがって、第１および第２実施形態のようにデータ線１０３ごとにひとつの補正データＤHに基づいてデータ信号Ｘjが補正される構成においては、各画素の階調に応じてデータ線１０３の電圧が変動したときにそのデータ線１０３における電流のリークを完全には補償しきれない場合が生じ得る。そこで、本実施形態においては、複数の階調の各々についてデータ線１０３ごとに補正データＤHが生成され、このうち駆動モードにおいて実際に指定された階調に応じた補正データＤHに基づいてデータ信号Ｘjが補正されるようになっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態と同様の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。また、以下では第１実施形態を基礎とした構成を例示するが、第２実施形態に対しても同様の構成が採用される。

図１４は、本実施形態におけるデータ線駆動回路２００のうち補正回路５２の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、この補正回路５２は、図９に示した第１実施形態の要素のほかに階調判定部５０４と補間部５０５とを有する。このうち階調判定部５０４には入力端子Ｔinから入力された画像データＤが供給される。この階調判定部５０４は、画像データＤによって指定される階調が、最低の階調「０」から最高の階調「６３」までの範囲を区分した複数の範囲（以下「階調範囲」という）の何れに含まれるかを判定する手段である。各階調範囲は予め定められた複数の階調（以下「代表階調」という）を境界として区分される。すなわち、第１の階調範囲は、最低の階調である代表階調「０」から中間調である代表階調「３２」までの範囲であり、第２の階調範囲は、代表階調「３２」から最高の階調「６３」までの範囲である。一方、補間部５０５は、実際に画像データＤによって指定された階調に対応する補正データＤHnewを補正データＤHの補間によって算定する手段である（詳細は後述する）。

本実施形態の検出モードにおいては、検査装置６０の電圧印加部６３から検出用配線３０に印加される電圧が代表階調に応じて変動する。すなわち、検査用電圧Ｖeのレベルを代表階調の各々に対応するレベルとして３回にわたるリーク電流の検出が実施され、その各回においてデータ線１０３ごとに補正データＤHが生成される。さらに詳述すると、本実施形態における検出モードにおいて、電圧印加部６３は、代表階調「０」に対応したデータ信号Ｘjが供給されるときのデータ線１０３の電圧Ｖe1を検査用電圧Ｖeとして検出用配線３０から各データ線１０３に印加し、このときのリーク電流検出部６２における検出の結果に応じて補正データ生成部６４がデータ線１０３ごとに補正データＤH[L]（ＤH[L]1、ＤH[L]2、…、ＤH[L]n）を生成する。次いで、代表階調「３２」に対応したデータ信号Ｘjが供給されるときのデータ線１０３の電圧Ｖe2が検査用電圧Ｖeとして各データ線１０３に印加され、このときのリーク電流に応じた補正データＤH[M]（ＤH[M]1、ＤH[M]2、…、ＤH[M]n）が補正データ生成部６４によって生成される。さらに、代表階調「６３」に対応したデータ信号Ｘjが供給されるときのデータ線１０３の電圧Ｖe3が各データ線１０３に印加され、このときのリーク電流に応じた補正データＤH[H]（ＤH[H]1、ＤH[H]2、…、ＤH[H]n）が生成される。なお、電圧Ｖe1ないしＶe3は、例えばリーク電流の検出に先立って電気光学装置１に各代表階調を表示させ、このときの各データ線１０３の電圧を測定することによって求められる。

以上の手順によって各代表階調の各々についてデータ線１０３ごとに生成された補正データＤHは補正データ生成部６４からデータ線駆動回路２００に出力されたうえでメモリＭに格納される。図１５は、このテーブルTBLbの内容を示す図である。同図に示されるように、テーブルTBLbにおいては、複数の代表階調の各々とその代表階調について生成されたデータ線１０３ごとの補正データＤHとが対応付けられる。

以上の構成において、階調判定部５０４は、画像データＤによって指定される階調Ｇが第１の階調範囲（０≦Ｇ＜３２）と第２の階調範囲（３２≦Ｇ≦６４）の何れに含まれるのかを判定してその結果をメモリＭに出力する。メモリＭは、アドレスカウンタ５０１によって指定されるデータ線１０３（ここでは第ｊ列目のデータ線１０３とする）に対応した３種類の補正データＤH[L]j、ＤH[M]j、およびＤH[H]jのうち階調判定部５０４による判定の結果に応じて２つの補正データＤHを選択して補間部５０５に出力する。例えば、画像データＤによって指定される階調が第１の階調範囲に含まれると判定された場合には、代表階調「０」に対応する補正データＤH[L]jと代表階調「３２」に対応する補正データＤH[M]jとが選択されてメモリＭから補間部５０５に出力される。また、画像データＤによって指定される階調が第２の階調範囲に含まれると判定された場合には、代表階調「３２」に対応する補正データＤH[M]jと代表階調「６３」に対応する補正データＤH[H]jが選択されて補間部５０５に出力される。

一方、補間部５０５は、メモリＭから供給される２つの補正データＤHに基づいて画像データＤに応じた新たな補正データＤHnewを生成する。本実施形態における補間部５０５は、メモリＭから読み出された２つの補正データＤHを補間することによって、各代表階調の間の階調Ｇに対応した補正データＤHnewを生成する。ただし、画像データＤによって指定される階調Ｇが代表階調である場合には、その代表階調に対応する補正データＤHをそのまま（すなわち補間を実施することなく）補正データＤHnewとして出力する。そして、加算器５０２は、この補間部５０５から出力された補正データＤHnewと画像データＤとを加算して新たな画像データＤnewを生成する。以後の動作は第１実施形態と同様である。

以上のように、本実施形態においては、各画素の階調に応じた補正データＤHnewに基づいて画像データＤを補正することにより、その階調に応じたデータ線１０３のリーク電流の変動を補償することができるから、画像データＤによって指定される階調の如何に拘わらずリーク電流の影響を低減して良好な表示品位が実現される。

＜Ｄ：第４実施形態＞
次に、本発明の第４実施形態について説明する。第３実施形態においては、複数の代表階調に対応した補正データＤＨをデータ線１０３ごとにメモリＭに格納することにより、階調に応じたデータ線１０３の電圧の変動を補償する構成を例示した。しかしながら、データ線１０３において電流がリークする程度は電気光学装置１が使用される環境の温度によっても変動する。そこで、本実施形態においては、第３実施形態の構成に加えて、複数の温度の各々について補正データＤHが生成され、これらのうち電気光学装置１やその周囲の温度に応じた補正データＤHに基づいてデータ信号Ｘjが補正されるようになっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態ないし第３実施形態と同様の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。また、以下では第３実施形態を基礎とした構成を例示するが、第１および第２実施形態に対しても同様の構成が採用される。

図１６は、本実施形態におけるデータ線駆動回路２００のうち補正回路５３の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、この補正回路５３は、図１４に示した第３実施形態の要素のほかに温度判定部５０７を有する。この温度判定部５０７には温度センサ５５が接続される。温度センサ５５は、電気光学装置１（特にデータ線１０３に近い部位）やその周辺の温度（以下ではこれらを総称して「使用温度」という）を測定してその結果を示す信号Ｓtを出力する手段である。この信号Ｓtは温度判定部５０７および補間部５０５に出力される。

温度判定部５０７は、温度センサ５５によって検出された温度が、予め定められた複数の範囲（以下「温度範囲」という）のうちの何れに属するかを判定する手段である。各温度範囲は予め定められた複数の温度（以下「代表温度」という）を境界として区分される。すなわち、第１の温度範囲は、代表温度ＴLからこれよりも高い代表温度ＴMまでの範囲であり、第２の温度範囲は、代表温度ＴMからこれよりも高い代表温度ＴHまでの範囲である。温度判定部５０７は、信号Ｓtによって示される温度Ｔが第１の温度範囲と第２の温度範囲との何れに含まれるのかを判定してその結果をメモリＭに出力する。

本実施形態の検出モードにおいては、３種類の代表温度の各々のもとでリーク電流の検出が実施され、その各回において第３実施形態と同様の手順によって代表階調ごとの補正データＤHが生成される。ここで生成された補正データＤHはデータ線駆動回路２００のメモリＭに格納される。図１７は、本実施形態におけるメモリＭの記憶内容を示す図である。同図に示されるように、メモリＭは、各々が異なる代表温度に対応した３つのテーブルTBLc（TBLc1ないしTBLc3）を記憶する。すなわち、テーブルTBLc1は、電気光学装置１が代表温度ＴLの環境に設置された状態において第３実施形態のテーブルTBLbと同様にして生成されたテーブルである。同様に、図１７に示されるテーブルTBLc2は代表温度ＴMのもとで生成され、テーブルTBLc3は代表温度ＴHのもとで生成されたものである。

さらに、本実施形態におけるメモリＭは、温度判定部５０７および階調判定部５０４の各々による判定の結果とアドレスカウンタ５０１から出力される計数値ＡＤとに基づいて４種類の補正データＤHを選択して補間部５０５に出力する。すなわち、第１に、温度判定部５０７による判定の結果に応じてテーブルTBLc1ないしTBLc3のなかから２つのテーブルTBLcが選択される。例えば、温度センサ５５によって検出された温度Ｔが第１の温度範囲（ＴL≦Ｔ＜ＴM）に含まれる場合にはテーブルTBLc1とテーブルTBLc2とが選択される一方、温度Ｔが第２の温度範囲（ＴM≦Ｔ≦ＴH）に含まれる場合にはテーブルTBLc2とテーブルTBLc3とが選択される。第２に、ここで選択したテーブルTBLcの各々について、第３実施形態と同様の手順によって、階調判定部５０４による判定の結果と計数値ＡＤとに応じた２つの補正データＤH（したがって合計４つの補正データＤH）が選択されて補間部５０５に出力される。

一方、補間部５０５は、メモリＭから供給される４つの補正データＤHに基づいて新たな補正データＤHnewを生成する。すなわち、各テーブルTBLcから検索された２つの補正データＤHを補間することによって各代表階調の間の階調Ｇに対応した補正データＤH’をテーブルTBLcごとに生成するとともに、各テーブルTBLcに対応する２つの補正データＤH’を補間することによって各代表温度の間の温度Ｔ（すなわち温度センサ５５によって測定された使用温度）に対応した補正データＤHnewを生成する。そして、加算器５０２は、この補間部５０５から出力された補正データＤHnewと画像データＤとを加算することによって新たな画像データＤnewを生成する。以後の動作は第１実施形態と同様である。

以上のように、本実施形態においては、電気光学装置１の使用温度に応じた補正データＤHnewに基づいて画像データＤを補正することにより、その使用温度に応じたデータ線１０３のリーク電流の変動を補償することができるから、使用温度に拘わらずリーク電流の影響を低減して良好な表示品位が実現される。

＜Ｅ：変形例＞
各実施形態に対しては種々の変形が加えられる。具体的な変形の態様を挙げれば以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせた構成も採用される。

（１）各実施形態においてはデータ線駆動回路２００にメモリＭが内蔵された構成を例示したが、このメモリＭがデータ線駆動回路２００の外部に配置された構成も採用される。また、メモリＭは、ＥＥＰＲＯＭなどの書き換え可能なメモリであってもよいしＲＯＭなどの書き換え不能なメモリであってもよい。書き換え不能なメモリを採用した場合には、電気光学装置１の出荷前においてリーク電流の検出が実施されてその結果に応じた補正データＤHがメモリＭに格納されることになる。一方、書き換え可能なメモリを採用した場合には、電気光学装置１の出荷前に限らず、通常の使用状態においても適宜なタイミング（例えば電気光学装置１の電源が投入されたタイミング）においてリーク電流の検出が実施されてその結果に応じた補正データＤHをメモリＭに書き込むことができる。したがって、電気光学装置１の特性が経年変化した場合であっても（第４実施形態においては電気光学装置１の使用温度が変化した場合であっても）、その変化後の特性に適応したリークの補償が実現される。

（２）各実施形態においては、補正データＤH（あるいは補正データＤHnew）に基づいて画像データＤが補正される構成を例示したが、この構成に代えて、信号生成回路２５によって生成されたデータ信号Ｘ1ないしＸnが補正データＤHに基づいて補正される構成も採用される。例えば、各データ線１０３ごとの補正データＤHに応じた電流を生成する回路（Ｄ／Ａ変換器）を各処理ユニット２５３の後段に配置し、この回路が生成した電流とその前段の処理ユニット２５３から出力されるデータ信号Ｘjとを加算したうえで各データ線１０３に出力する構成としてもよい。この構成においても、各実施形態と同様に、各データ線１０３に供給されるデータ信号Ｘjは、そのデータ線１０３における電流のリークを補償し得る電流値に補正されることになる。このように、本発明においては、最終的にデータ線１０３に供給されるデータ信号Ｘjが補正データＤHに応じて補正されたものとなっていれば足り、補正データＤHに基づく補正が実行されるタイミングの如何は不問である。

（３）各実施形態においては、シフトレジスタ２１から出力されるサンプリング信号Ｓ1ないしＳnによってスイッチング素子２７１が制御される構成を例示したが、データ信号Ｘjを生成するための要素（例えばシフトレジスタ２１）とは別個の要素によってスイッチング素子２７１が制御される構成も採用される。例えば、出力端子Ｔoutの総数に相当するｎ系統のモード選択信号Ｓmodをデータ線駆動回路２００に供給し、その各々によって各スイッチング素子２７１の開閉を制御してもよい。

（４）第３実施形態においては画像データＤによって指定され得る階調の範囲を２つの階調範囲に区分した場合（すなわち代表階調が３種類である場合）を例示したが、この階調範囲の総数は任意である。例えば、画像データＤによって指定され得る総ての階調についてデータ線１０３ごとの補正データＤHを生成してもよい。この場合には、補間部５０５による補正データＤHの補間は不要である。同様に、第４実施形態における温度範囲の総数も任意に変更される。例えば、温度センサ５５によって測定され得る総ての温度についてデータ線１０３ごとの補正データＤHを生成する構成としてもよい。また、第４実施形態においては、階調および温度の双方に応じたリーク電流の変動を補償する構成を例示したが、温度に応じたリーク電流の変動のみを補償する構成も採用される。

（５）各実施形態においては、ＯＬＥＤ素子４２０を駆動するためのスイッチング素子（図２におけるトランジスタＴr1ないしＴr4）を備えたアクティブマトリクス方式の電気光学装置を例示したが、画素回路４００がこれらのスイッチング素子を持たないパッシブマトリクス方式の電気光学装置にも本発明は適用される。

（６）各実施形態においては電流駆動型の自発光素子たるＯＬＥＤ素子４２０を利用した電気光学装置１を例示したが、これ以外の電流駆動型の電気光学素子や電圧駆動型の電気光学素子を利用した電気光学装置にも本発明は適用される。例えば、液晶表示装置、無機ＥＬ素子を利用した表示装置、電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ：Field Emission Display）、表面導電型電子放出ディスプレイ（ＳＥＤ：Surface-conduction Electron-emitter Display）、弾道電子放出ディスプレイ（ＢＳＤ：Ballistic electron Surface emitting Display）、発光ダイオードを利用した表示装置、あるいは光書込み型のプリンタや電子複写機の書き込みヘッドといった各種の電気光学装置にも本発明は適用される。

＜Ｆ：応用例＞
次に、本発明に係る電気光学装置を適用した電子機器について説明する。図１８は、実施形態に係る電気光学装置１を表示装置として採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、表示装置としての電気光学装置１と本体部２０１０とを備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１およびキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置１はＯＬＥＤ素子４２０を用いるので、視野角が広く見易い画面を表示できる。

図１９に、実施形態に係る電気光学装置１を適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２、ならびに表示装置としての電気光学装置１を備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置１に表示される画面がスクロールされる。

図２０に、実施形態に係る電気光学装置１を適用した情報携帯端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２、ならびに表示装置としての電気光学装置１を備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光学装置１に表示される。

なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図１８から図２０に示したもののほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。

本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 ひとつの画素回路の構成を示す回路図である。 データ線において電流がリークする原因のひとつを説明するための図である。 データ線駆動回路の構成を示すブロック図である。 データ線駆動回路における信号処理回路の構成を示す回路図である。 データ線駆動回路における各スイッチング素子の構成を示す回路図である。 検査装置の構成を示すブロック図である。 メモリに保持されたテーブルの内容を示す図である。 データ線駆動回路における補正回路の構成を示すブロック図である。 補正回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。 本発明の第２実施形態に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 第２実施形態の他の態様に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 第２実施形態の他の態様に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 本発明の第３実施形態に係る補正回路の構成を示すブロック図である。 メモリに保持されたテーブルの内容を示す図である。 本発明の第４実施形態に係る補正回路の構成を示すブロック図である。 メモリに保持されたテーブルの内容を示す図である。 本発明を適用したパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。 本発明を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。 本発明を適用した携帯型情報端末の構成を示す斜視図である。

符号の説明

１…電気光学装置、ＡＡ…電気光学パネル、Ａ…画素領域、１００…走査線駆動回路、１０１…走査線、１０２…発光制御線、１０３…データ線、２００…データ線駆動回路、２１…シフトレジスタ、２２…サンプリング回路、２３…ラッチ回路、２５…信号生成回路、２５１…電圧生成回路、２５３…処理ユニット、２７…スイッチ群、２７１…スイッチング素子、２９…切替部、３０…検出用配線、４００…画素回路、４２０…ＯＬＥＤ素子、５１，５２，５３…補正回路、５０１…アドレスカウンタ、５０２…加算器、５０４…階調判定部、５０５…補間部、５０７…温度判定部、５５…温度センサ、６０…検査装置、６１…制御部、３８，６２…リーク電流検出部、６３…電圧印加部、３９，６４…補正データ生成部、Ｔin…入力端子、Ｔp1，Ｔp2…電源端子、Ｔout…出力端子、Ｔd1…検出端子、Ｔd2，Ｔd3…接続端子、Ｔg1，Ｔg2，Ｔg3…接続端子、Ｍ…メモリ、Ｓmod…モード選択信号、Ｖe…検査用電圧。

Claims (13)

1. 複数のデータ線の各々に画素が接続された電気光学装置を駆動する装置であって、
   各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、
   各画素について指定された階調に応じたデータ信号をデータ線ごとに生成する信号生成回路と、
   前記信号生成回路が生成したデータ信号を前記出力端子に供給する駆動モードと前記複数の出力端子の各々を順次に検出用配線に接続する検出モードとを切り替える切替手段と、
   前記検出モードにおいて前記検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに取得し、この補正データに基づいて、前記信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正する補正手段と
   を具備する駆動装置。
2. 前記データ線ごとに補正データを記憶する記憶手段を具備し、
   前記補正手段は、補正データを前記記憶手段から取得する
   請求項１に記載の駆動装置。
3. 前記信号生成回路は、各画素の階調を指定する画像データに基づいてデータ信号を生成し、
   前記補正手段は、前記補正データに基づいて画像データを補正する
   請求項１に記載の駆動装置。
4. 前記補正手段は、前記信号生成回路から出力されたデータ信号を補正データに基づいて補正する
   請求項１に記載の駆動装置。
5. パルス信号を順次にシフトして出力するシフトレジスタを具備し、
   前記信号生成回路は、前記シフトレジスタから出力される各パルス信号によってサンプリングされた画像データに基づいてデータ信号を生成し、
   前記切替手段は、前記検出モードにおいて、前記シフトレジスタから出力されるパルス信号に対応した出力端子を順次に前記検出用配線に接続する
   請求項１に記載の駆動装置。
6. 複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配置された複数の画素と、
   前記各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、
   前記駆動装置は、
   各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、
   各画素について指定された階調に応じたデータ信号をデータ線ごとに生成する信号生成回路と、
   前記信号生成回路が生成したデータ信号を前記出力端子に供給する駆動モードと前記複数の出力端子の各々を順次に検出用配線に接続する検出モードとを切り替える切替手段と、
   前記検出モードにおいて前記検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに取得し、この補正データに基づいて、前記信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正する補正手段と
   を具備する電気光学装置。
7. 前記データ線ごとに補正データを記憶する記憶手段を具備し、
   前記補正手段は、各データ線に対応する補正データを前記記憶手段から取得する
   請求項６に記載の電気光学装置。
8. 前記記憶手段は、複数の階調の各々について、当該階調に対応したデータ信号が前記駆動モードにて供給されたときの各データ線の電位が前記検出用配線に供給された場合に前記検出モードにて当該検出用配線から検出される電流に応じた補正データを前記各階調と対応付けて記憶し、
   前記補正手段は、前記記憶手段に記憶された複数の補正データのうち各画素について指定される階調に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する
   請求項７に記載の電気光学装置。
9. 当該電気光学装置またはその周囲の温度を測定する温度測定手段を具備し、
   前記記憶手段は、複数の温度の各々のもとで前記検出モードにて前記検出用配線から検出される電流に応じた補正データを前記各温度と対応付けて記憶し、
   前記補正手段は、前記記憶手段に記憶された複数の補正データのうち前記温度測定手段による測定の結果に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する
   請求項７または請求項８に記載の電気光学装置。
10. 請求項６から請求項９の何れか１項に記載の電気光学装置を具備する電子機器。
11. 複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、前記各データ線を介して画素にデータ信号を供給する駆動装置とを具備し、前記駆動回路が、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、検出用配線とを有する電気光学装置の駆動方法であって、
    検出モードにおいては、
    前記複数の出力端子の各々を順次に前記検出用配線に接続し、
    このときに検出用配線から検出される電流に応じた補正データをデータ線ごとに生成して記憶手段に書き込み、
    駆動モードにおいては、
    前記記憶手段に記憶された各データ線の補正データに基づいて、前記信号生成回路が当該データ線について生成するデータ信号を補正し、
    この補正後のデータ信号を前記各出力端子に供給する
    電気光学装置の駆動方法。
12. 前記検出モードにおいては、
    複数の階調の各々について、当該階調に応じたデータ信号が前記駆動モードにて供給されたときの各データ線の電位を前記検出用配線に供給し、このときに当該検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに前記各階調と対応付けて前記記憶手段に書き込み、
    前記駆動モードにおいては、
    前記記憶手段に記憶された複数の補正データのうち各画素について指定される階調に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する
    請求項１１に記載の電気光学装置の駆動方法。
13. 当該電気光学装置またはその周囲の温度を測定する一方、
    前記検出モードにおいては、
    複数の温度の各々のもとで前記検出用配線に流れる電流に応じた補正データをデータ線ごとに前記各温度と対応付けて前記記憶手段に書き込み、
    前記駆動モードにおいては、
    前記記憶手段に記憶された複数の補正データのうち測定した温度に応じた補正データを取得し、この取得した補正データに基づいてデータ信号を補正する
    請求項１１または請求項１２に記載の電気光学装置の駆動方法。

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