JP2006178029A - 電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】 駆動装置の実装後の検査を可能として検査の結果の有効性を向上させる。
【解決手段】 データ線駆動回路２００は、各々がデータ線１０３に接続されるｎ個の出力端子Ｔoutと、各画素について指定された階調に応じてデータ信号Ｘ1ないしＸnを生成する信号生成回路２５と、各データ線１０３における電流のリークを検出するための検出用配線３０と、各々が出力端子Ｔoutに接続されたｎ個のスイッチング素子２７１とを有する。各スイッチング素子２７１は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されると、信号生成回路２５が生成したデータ信号Ｘ1ないしＸnを各出力端子Ｔoutに出力する一方、モード選択信号Ｓmodによって検出モードが指定されると、総ての出力端子Ｔoutを検出用配線３０に導通させる。
【選択図】 図４

Description

本発明は、ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）素子などの電気光学素子を備えた電気光学装置、この種の電気光学装置を検査する方法、電気光学装置を駆動する装置、および電気光学装置を備えた電子機器に関する。

この種の電気光学装置は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して基板上に配列された複数の画素を有し、各データ線に供給されるデータ信号に応じて画素の階調が制御される。この構成においては、何らかの欠陥に起因してデータ線に電流のリークが発生する場合がある。この場合には各画素に所期の階調を表示させることができず縦方向の表示ムラが発生する。このような問題を解決するために、データ線や走査線の欠陥の有無を検査するための技術が従来から提案されている。例えば特許文献１に開示された技術においては、検査用の端子を走査線やデータ線の端部に接触させたうえで所定の信号を供給することによって各画素を駆動し、これにより表示された画像に基づいて欠陥の有無が検査される。
特開平９−１３８４２２号公報（図１）

しかしながら、特許文献１に開示された技術においては、データ線や走査線に信号を供給するための駆動装置（例えばＩＣチップ）が実装される前に欠陥の有無が検査されるため、この検査を実施してからＩＣチップが実装されるまでに発生した欠陥を検出することはできない。本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、駆動装置の実装後の検査を可能として検査の結果の有効性を向上させることを解決課題とする。

この課題を解決するために、本発明に係る駆動装置（例えば図１におけるデータ線駆動回路２００）は、複数のデータ線の各々に画素が接続された電気光学装置を駆動する装置であって、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、信号生成回路が生成したデータ信号を各出力端子に供給する駆動モードとデータ線における電流のリークを検出するための検出用配線に各出力端子を接続する検出モードとを切り替える切替手段とを具備することを特徴とする。
この構成によれば、駆動装置の動作モードとして検出モードが選定されるから、この駆動装置を電気光学装置に実装した後の段階においても各データ線における電流のリークを検出することができる。すなわち、駆動装置が実装される工程やその直前にて発生した欠陥も検出される。したがって、検査の結果の有効性を向上させることができる。

本発明の具体的な態様において、切替手段は、駆動モードにおいては信号生成回路と各出力端子とを導通させ、検出モードにおいては検出用配線と各出力端子とを導通させるスイッチング素子（例えば図４に示されるスイッチング素子２７１）である。この態様によれば、切替手段の構成の簡素化や駆動装置の回路規模の縮小が図られる。さらに他の態様は、検出モードにおいてデータ線に電流のリークが発生したときに検出用配線に流れる電流を外部に出力する検出端子を具備する。この態様によれば、リークの検出の結果を外部に出力することによってその結果を有効に利用することができる。

検出モードにおいては、検出用配線に対して所定の電圧が印加される。この電圧（実施形態における検査用電圧Ｖe）は、検査装置など外部の機器から印加されるものであってもよいが、駆動装置に供給される電源に応じた電圧を利用してもよい。例えば、電源電位が供給される電源端子を具備し、信号生成回路が、電源端子に供給された電源電位に基づいてデータ信号を生成する構成のもとでは、検出モードにおいて、電源端子に供給された電源電位に応じた電位が検出用配線および出力端子を介してデータ線に供給されるようにしてもよい。この構成によれば、検出モードにおいてデータ線に印加される電圧の発生源を駆動装置の電源と別個に用意する必要がないから、検査に要するコストを低減することができる。この構成の具体例は第２実施形態（図８）として後述される。
なお、この構成のもとで検出モードが選択されているときに信号駆動回路がデータ信号の生成を実行するとすれば、この生成に連動するように電源が変動して正確なリーク電流の検出が妨げられるという問題が生じ得る。そこで、本発明の望ましい態様においては、検出モードにおいて信号生成回路によるデータ信号の生成を停止させる手段（例えば図８に示されるスイッチング素子２５７）がさらに設けられる。この態様によれば、検出モードにおける電源電位の変動を防止することができるから、この電源電位を利用した検査の精度を向上させることができる。

本発明の望ましい態様において、切替手段は、検出モードにおいて、複数の出力端子のうち第１群に属する各出力端子と、第１群とは異なる第２群に属する各出力端子とを選択的に検出用配線に導通させる（図１１参照）。この態様によれば、第１群の各出力端子に接続されたデータ線と第２群の各出力端子に接続されたデータ線とを別個に検査することができるから、リークが発生するデータ線をより詳細に特定することができる。
また、パルス信号を順次にシフトして出力するシフトレジスタを具備し、信号生成回路は、シフトレジスタから出力される各パルス信号によってサンプリングされた画像データに基づいて各画素のデータ信号を生成する構成においては、切替手段が、検出モードにおいて、シフトレジスタから出力されるパルス信号に対応した出力端子を順次に検出用配線に導通させる構成も採用される（図１２参照）。この構成によれば、各出力端子が時分割にて順番に検出用配線に接続されるから、リークが発生する１本のデータ線を特定することができる。しかも、信号生成回路がデータ信号を生成するためのシフトレジスタを検査に兼用するから、検査のために別個の回路を設けた場合と比較して製造コストの低減や構成の簡素化が図られる。

本発明に係る電気光学装置は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、駆動装置は、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、信号生成回路が生成したデータ信号を各出力端子に供給する駆動モードとデータ線における電流のリークを検出するための検出用配線に各出力端子を接続する検出モードとを切り替える切替手段とを具備することを特徴としている。この構成によっても、本発明に係る駆動装置と同様の理由によって検査の信頼性を向上させることができる。
本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。このような電子機器としては、例えば、パーソナルコンピュータや携帯電話機がある。本発明に係る電気光学装置は、典型的には画像を表示する表示装置として使用されるが、このほかにも例えば光書込み型の画像形成装置（例えばプリンタ）におけるラインヘッドとしても使用され得る。

本発明に係る検査方法は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、駆動装置は、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、検出用配線とを有する電気光学装置を検査する方法であって、駆動装置の動作モードを、信号生成回路が生成したデータ信号を各出力端子に供給する駆動モードから、各出力端子を検出用配線に接続する検出モードに切り替え、この検出モードにて検出用配線に流れる電流に基づいて各データ線における電流のリークを検出することを特徴としている。この方法によれば、本発明の駆動装置について上述した理由によって検査の信頼性を向上させることができる。

本発明の検査方法の望ましい態様において、検出モードにおいては、第１の階調に対応したデータ信号が駆動モードにおいて信号生成回路から供給されたときのデータ線の電位を検出用配線に供給することによって電流のリークを検出し、さらに、第１の階調とは異なる第２の階調に対応したデータ信号が駆動モードにおいて供給されたときのデータ線の電位を検出用配線に供給することによって電流のリークを検出する。この態様によれば、実際に電気光学装置が駆動モードにて駆動されているときに近い状況のもとでリーク電流を検出することができるから、検査の精度をさらに向上させることができる。

＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。同図においては、電気光学装置１を検査するための検査装置６０が併せて図示されている。図１に示されるように、電気光学装置１は、電気光学パネルＡＡと走査線駆動回路１００とデータ線駆動回路２００とを備える。電気光学パネルＡＡには画素領域Ａが形成される。この画素領域Ａには、Ｘ方向（行方向）に延在するｍ本の走査線１０１と、各走査線１０１に対をなしてＸ方向に延在するｍ本の発光制御線１０２とが形成される（ｍは自然数）。また、画素領域Ａには、Ｘ方向と直交するＹ方向（列方向）に延在するｎ本のデータ線１０３が形成される（ｎは自然数）。そして、走査線１０１および発光制御線１０２の対とデータ線１０３との各交差に対応して画素回路４００が配置される。したがって、これらの画素回路４００は、画素領域Ａ内においてＸ方向およびＹ方向にわたってマトリクス状に配列する。各画素回路４００は電流駆動型の自発光素子たるＯＬＥＤ素子４２０を含む。

走査線駆動回路１００およびデータ線駆動回路２００は、電気光学パネルＡＡにＣＯＧ（Chip On Glass）技術によって実装されたＩＣチップである。このうち走査線駆動回路１００は、ｍ本の走査線１０１の各々を順次に選択する回路である。より具体的には、走査線駆動回路１００は、水平走査期間ごとに順番にアクティブレベル（Ｈレベル）となる走査信号Ｙa1、Ｙa2、…、Ｙamを各走査線１０１に対して出力するとともに、これらの論理レベルを反転した発光制御信号Ｙb1、Ｙb2、…、Ｙbmを各発光制御線１０２に出力する。走査信号Ｙai（ｉは１≦ｉ≦ｍを満たす整数）がアクティブレベルになると第ｉ行が選択されたことを意味する。

一方、データ線駆動回路２００は、走査線駆動回路１００が選択した走査線１０１に接続された各画素回路４００に対してデータ信号Ｘ1、Ｘ2、…、Ｘnを供給する。データ信号Ｘj（ｊは１≦ｊ≦ｎを満たす整数）は第ｊ列目の画素回路４００の輝度（階調）を指定する電流信号である。なお、走査線駆動回路１００やデータ線駆動回路２００が電気光学パネルＡＡの外部（例えば電気光学パネルＡＡに実装された配線基板上）に実装された構成としてもよい。

次に、図２を参照して画素回路４００の構成を説明する。同図においては、第ｉ行目に属する第ｊ列目のひとつの画素回路４００のみが図示されているが、その他の画素回路４００も同様の構成である。本実施形態における画素回路４００は、データ信号Ｘjの電流値に応じた階調となるようにＯＬＥＤ素子４２０を制御する電流駆動型（いわゆる電流プログラミング方式）の回路である。

図２に示されるように、画素回路４００は、４個のトランジスタ（例えば薄膜トランジスタ）Ｔr1ないしＴr4と、キャパシタＣと、ＯＬＥＤ素子４２０とを有する。トランジスタＴr1の導電型はｐチャネル型であり、トランジスタＴr2ないしＴr4の導電型はｎチャネル型である。このうちトランジスタＴr1のソース電極は電源の高位側電位（以下「電源電位」という）Ｖddが供給される電源線に接続され、そのドレイン電極は、トランジスタＴr2のソース電極と、トランジスタＴr3のドレイン電極と、トランジスタＴr4のドレイン電極とに接続される。

キャパシタＣは、一端がトランジスタＴr1のソース電極に接続されるとともに、他端がトランジスタＴr1のゲート電極とトランジスタＴr2のドレイン電極とに接続される。トランジスタＴr3は、そのゲート電極がトランジスタＴr2のゲート電極とともに走査線１０１に接続され、そのソース電極はデータ線１０３に接続される。一方、トランジスタＴr4のゲート電極は発光制御線１０２に接続され、そのソース電極はＯＬＥＤ素子４２０の陽極に接続される。ＯＬＥＤ素子４２０の陰極は電源の低位側電位（以下「接地電位」という）Ｇndが供給される接地線に接続される。

各垂直走査期間のうち第ｉ番目の水平走査期間にて走査信号Ｙaiがアクティブレベルになると、トランジスタＴr2がオン状態となってトランジスタＴr1がダイオード接続されるとともにトランジスタＴr3もオン状態となる。したがって、データ信号Ｘjに応じた電流が、電源線→トランジスタＴr1→トランジスタＴr3→データ線１０３という経路で流れ、このときにトランジスタＴr1のゲート電極の電位に応じた電荷がキャパシタＣに蓄積される。

次いで、第ｉ番目の水平走査期間が終了して走査信号Ｙaiが非アクティブレベル（Ｌレベル）になると、トランジスタＴr2およびＴr3はともにオフ状態となる。このとき、トランジスタＴr1のゲート・ソース間の電圧はその直前の水平走査期間における電圧に保持される。そして、発光制御信号Ｙbiがアクティブレベルに遷移すると、トランジスタＴr4がオン状態となり、トランジスタＴr1のソース・ドレイン間にはそのゲート電圧に応じた電流（すなわちデータ信号Ｘjに応じた電流）が電源線から流れ込み、この電流の供給によってＯＬＥＤ素子４２０が発光する。

ところで、以上に説明した電気光学装置１においては、各データ線１０３において電流がリークする可能性がある。このリークの原因のひとつとして、データ線１０３に接続された何らかの回路の不具合が考えられる。例えば、図３は、各画素回路４００を静電気から保護するための回路（以下「静電保護回路」という）がデータ線１０３やデータ線駆動回路２００の出力端子Ｔoutに接続された構成が例示されている。データ線１０３に接続された静電保護回路３５１および出力端子Ｔoutに接続された静電保護回路３５２の各々は、陰極が電源線に接続されたダイオードＤ1と、陽極が接地線に接続されたダイオードＤ2とを直列に接続した構成となっている。ダイオードＤ1の陽極とダイオードＤ2の陰極とはデータ線１０３または出力端子Ｔoutに対して共通に接続される。

この種の静電保護回路３５に欠陥があると、データ線１０３や出力端子ＴoutからダイオードＤ1およびＤ2を介して電流（逆方向の電流）がリークする場合がある。なお、実際には、静電保護回路３５１および３５２の各々におけるダイオードＤ1およびＤ2はＭＯＳ型のトランジスタによっても構成される。この場合には、トランジスタがオフ状態にあるときのリーク電流やドレイン電極に流れるリーク電流がデータ線１０３における電流のリークとなり得る。また、データ線１０３におけるリークの原因としては、この他にも、データ線１０３に接続された各種のトランジスタにおけるリークやデータ線１０３と交差するように形成された各電源線におけるリークが考えられる。

このようにデータ線１０３において電流がリークすると、所期の電流値のデータ信号Ｘjを画素回路４００に供給することができないため、各画素回路４００のＯＬＥＤ素子４２０を所期の階調にて発光させることができず、画素領域ＡにＹ方向の表示ムラが発生するという問題がある。そこで、本実施形態におけるデータ線駆動回路２００は、データ信号Ｘjを各データ線１０３から画素回路４００に供給して画素領域Ａに画像を表示させる電気光学装置１の本来的な動作モード（以下「駆動モード」という）のほか、各データ線１０３における電流のリークを検出するための動作モード（以下「検出モード」という）にて動作するようになっている。

図４は、データ線駆動回路２００の具体的な構成を示すブロック図である。同図に示されるように、データ線駆動回路２００は、外部の制御装置（例えば電気光学装置１が搭載される電子機器のＣＰＵ）から各種の信号が入力される複数の入力端子Ｔinと、電源電位Ｖddおよび接地電位Ｇndがそれぞれ電源回路（図示略）から供給される電源端子Ｔp1およびＴp2と、データ線１０３の総本数に相当するｎ個の出力端子Ｔoutと、電気光学装置１の検査に利用される接続端子Ｔd1およびＴd2とを有する。図１や図４に示されるように、各出力端子Ｔoutは、これに対応するデータ線１０３に接続される。また、検出モードにおいては、図１に示されるように、データ線駆動回路２００の接続端子Ｔd1およびＴd2に検査装置６０が接続される（検査装置６０の具体的な構成については後述する）。

図４に示されるシフトレジスタ２１は、データ線１０３の総本数に相当するｎビットのシフトレジスタであり、各水平走査期間の最初に入力端子Ｔinを介して供給されるスタートパルスＤＸをドットクロックＣＬに同期して順次にシフトすることによりサンプリング信号Ｓ1、Ｓ2、…、Ｓnとしてサンプリング回路２２に出力する。このサンプリング回路２２には入力端子Ｔinを介して画像データＤが供給される。画像データＤは、各画素回路４００の階調を指定する８ビットのデジタルデータである。サンプリング回路２２は、サンプリング信号Ｓjがアクティブレベルに遷移するタイミングにて第ｊ列目の画素回路４００の階調を指定する画像データＤをサンプリングして出力する。ラッチ回路２３は、ある水平走査期間にてサンプリング回路２２がサンプリングした１行分の画素回路４００の画像データＤを、次の水平走査期間の始点にて入力端子Ｔinから入力されるラッチパルスＬＰによって一斉にラッチする。信号生成回路２５は、ラッチ回路２３から出力された画像データＤに基づいてデータ信号Ｘ1、Ｘ2、…、Ｘnを生成する回路であり、ひとつの電圧生成回路２５１と、データ線１０３の総本数に相当するｎ個の処理ユニット２５３とを有する。

図５は、信号生成回路２５の具体的な構成を示す回路図である。なお、同図においては第ｊ段目の処理ユニット２５３の構成のみが詳細に図示されているが、その他の処理ユニット２５３の構成も同様である。電圧生成回路２５１は、データ信号Ｘ1ないしＸnの電流値の基準となる電圧Ｖrefを生成するための回路であり、図５に示されるように、ｐチャネル型のトランジスタＴa1およびＴa2と、ｎチャネル型のトランジスタＴa3およびＴa4とを有する。このうちトランジスタＴa1のドレイン電極はそのゲート電極に接続（すなわちダイオード接続）される。トランジスタＴa1とトランジスタＴa2とは各々のゲート電極が接続されてカレントミラー回路を構成する。トランジスタＴa1およびＴa2の各々のソース電極は、電源端子Ｔp1から電源電位Ｖddが供給される電源線に接続される。

トランジスタＴa3のドレイン電極はトランジスタＴa1のドレイン電極に接続される。また、トランジスタＴa3のソース電極は、電源端子Ｔp2から接地電位Ｇndが供給される接地線に接続される。このトランジスタＴa3のゲート電極には入力端子Ｔinから制御信号Ｖcが印加される。一方、トランジスタＴa4は、ドレイン電極がトランジスタＴa2のドレイン電極に接続されるとともにソース電極が接地線に接続される。また、トランジスタＴa4のゲート電極は、そのドレイン電極とともにゲート線２５５に接続される。以上の構成において、トランジスタＴa1とトランジスタＴa2とはカレントミラー回路を構成しているから、制御信号Ｖcの電圧値に応じた電流Ｉrefが電源線からトランジスタＴa1およびＴa3を経由して接地線に流れると、トランジスタＴa2およびＴa4にもこれに等しい電流Ｉrefが流れる。このときゲート線２５５は電流Ｉrefに応じた電圧Ｖrefとなる。すなわち、図５の構成においては、制御信号Ｖcを調整することによってゲート線２５５の電圧Ｖrefを任意に制御することができる。

一方、各処理ユニット２５３は、画像データＤに応じたデータ信号Ｘjを生成するＤ／Ａ変換器であり、画像データＤのビット数に相当する８個のトランジスタＴb（Ｔb1ないしＴb8）と、各々のドレイン電極がトランジスタＴbのソース電極に接続された８個のトランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）とを有する。ひとつの処理ユニット２５３に属するトランジスタＴb1ないしＴb8のドレイン電極は端子ａに対して共通に接続される。また、トランジスタＴb1ないしＴb8の各々のゲート電極には、サンプリング回路２２から出力された画像データＤの各ビットが供給される。一方、トランジスタＴc1ないしＴc8の各々は、そのゲート電極がゲート線２５５に対して共通に接続され、ソース電極が接地線に接続される。トランジスタＴc1ないしＴc8の特性（特に利得係数）は、各々のゲート電極に共通の電圧Ｖrefが印加されたときに各トランジスタＴcに流れる電流Ｉ1ないしＩ8の比が「Ｉ1：Ｉ2：Ｉ3：Ｉ4：Ｉ5：Ｉ6：Ｉ7：Ｉ8＝１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８」となるように選定されている。すなわち、これらのトランジスタＴc1ないしＴc8は、各々が別個の重み値にて重み付けされた複数の電流（Ｉ1ないしＩ8）を生成する電流源として機能する。

以上の構成において、８個のトランジスタＴb1ないしＴb8のうち画像データＤに応じたトランジスタＴbが選択的にオン状態とされる。このとき、端子ａが出力端子Ｔoutを介してデータ線１０３に接続されているとすれば、オン状態となったトランジスタＴbに対応した１以上のトランジスタＴcに電流Ｉ（Ｉ1ないしＩ8のなかから選択された１以上の電流）が流れ、これらの電流を加算した信号がデータ信号Ｘjとして端子ａおよび第ｊ列目のデータ線１０３に流れる。

図４および図５に示されるように、信号生成回路２５の後段にはスイッチ群２７が配置される。このスイッチ群２７は、データ線１０３の総本数に相当するｎ個のスイッチング素子２７１を含む。各スイッチング素子２７１は、出力端子Ｔout（さらにはデータ線１０３）に接続された端子ｃを有する。また、各スイッチング素子２７１は、その前段の処理ユニット２５３に接続された端子ａのほかに端子ｂを有する。総てのスイッチング素子２７１の端子ｂは検出用配線３０に接続される。この検出用配線３０は、各データ線１０３における電流のリークを検出するための配線であり、その端部には接続端子（以下では特に「検出端子」という）Ｔd1が形成されている。

各スイッチング素子２７１は、接続端子Ｔd2から入力されるモード選択信号Ｓmodに応じて端子ａおよび端子ｂの何れかを選択的に端子ｃに接続する手段である。このモード選択信号Ｓmodは、電気光学装置１の動作モードを駆動モードおよび検出モードの何れかに選定するための信号である。図６に示されるように、スイッチング素子２７１はトランスミッションゲートＧ1とトランスミッションゲートＧ2とを備える。この構成において、モード選択信号Ｓmodが、検出モードを指定するＨレベルであればトランスミッションゲートＧ2がオン状態となって端子ｂが端子ｃに接続される一方、駆動モードを指定するＬレベルであればトランスミッションゲートＧ1がオン状態となって端子ａが端子ｃに接続される。なお、スイッチング素子２７１の構成は図６に示したものに限られない。例えば、ゲート電極にモード選択信号Ｓmodが供給されるトランジスタによってスイッチング素子２７１を構成してもよい。

以上の構成のもと、駆動モードにおいては、各処理ユニット２５３の出力が端子ａおよび端子ｃと出力端子Ｔoutとを介してデータ線１０３に接続されるから、各処理ユニット２５３から出力されたデータ信号Ｘjは第ｊ列目のデータ線１０３を介して画素回路４００に供給される。一方、検出モードにおいては、総てのデータ線１０３が出力端子Ｔoutと端子ｃおよび端子ａと検出用配線３０とを介して検出端子Ｔd1に接続される。

次に、図７を参照して、検出モードにてデータ線１０３のリークを検出するための検査装置６０の構成を説明する。同図に示されるように、検査装置６０は、接続端子Ｔg1およびＴg2を有する。電気光学装置１を検査するとき、図１に示されるように、接続端子Ｔg1はデータ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1に接続され、接続端子Ｔg2はデータ線駆動回路２００の接続端子Ｔd2に接続される。

図７に示されるように、検査装置６０は、制御部６１とリーク電流検出部６２と電圧印加部６３とを有する。このうち制御部６１は、モード選択信号Ｓmodを生成して接続端子Ｔg2に出力する手段である。さらに詳述すると、制御部６１は、操作子（図示略）への操作によって検出モードへの移行が指示されるとモード選択信号ＳmodをＨレベルに遷移させる一方、駆動モードへの移行が指示されるとモード選択信号ＳmodをＬレベルに遷移させる。

リーク電流検出部６２は、データ線１０３における電流のリークを検出するための手段である。本実施形態におけるリーク電流検出部６２は、接続端子Ｔg1と電圧印加部６３との間に介挿された抵抗素子を有する。一方、電圧印加部６３は、接続端子Ｔg1に対して所定の電圧（以下「検査用電圧」という）Ｖeを印加するための手段である。検出モードにおいては総てのデータ線１０３が検出用配線３０に接続されるから、データ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1と検査装置６０の接続端子Ｔg1とが接続された状態においては、電圧印加部６３によって生成された検査用電圧Ｖeが検出用配線３０を介して総てのデータ線１０３に印加される。何れかのデータ線１０３にて電流のリークが発生している場合には、この検査用電圧Ｖeの印加によって、データ線１０３から検出端子Ｔd1および接続端子Ｔg1を介してリーク電流検出部６２の抵抗素子に電流が流れる。したがって、この抵抗素子の両端の電圧を測定することによってデータ線１０３におけるリークの有無やリークした電流の大きさを特定することができる。

次に、検査装置６０を利用した検査の手順について説明する。
第１に、接続端子Ｔg1がデータ線駆動回路２００の検出端子Ｔd1に接触するとともに接続端子Ｔg2が接続端子Ｔd2に接触するように検査装置６０が配置される。第２に、制御部６１から出力されるモード選択信号Ｓmodが、駆動モードを示すＬレベルから検出モードを示すＨレベルに遷移される。こうしてモード選択信号ＳmodがＨレベルに遷移すると、データ線駆動回路２００の総てのスイッチング素子２７１において端子ｃが端子ｂに接続され、この結果として総てのデータ線１０３が検出用配線３０を介して検査装置６０の接続端子Ｔg1に接続される。

第３に、電圧印加部６３によって接続端子Ｔg1に検査用電圧Ｖeを印加させる。この検査用電圧Ｖeは、検出端子Ｔd1と検出用配線３０と出力端子Ｔoutとを介して総てのデータ線１０３に印加される。第４に、この検査用電圧Ｖeの印加を維持したまま、リーク電流検出部６２における抵抗素子の両端の電圧が測定される。この測定された電圧と抵抗素子の抵抗値とからリーク電流（すなわち抵抗素子を流れた電流）の大きさが算定される。そして、リーク電流の大きさが予め定められた閾値を下回る場合には何れの電気光学装置１を良品と判定する一方、この閾値を越える場合には電気光学装置１を不良品と判定する。例えば、画像データＤによって何れかの階調値が指定されたときのデータ信号Ｘjの電流値とその階調値の直近の階調値が指定されたときのデータ信号Ｘjの電流値との差分値（すなわちデータ信号Ｘjの電流値の刻み幅）よりもリーク電流が大きい場合には不良品と判定する。あるいは、リーク電流検出部６２における抵抗素子の電圧と予め定められた閾値との大小に応じて電気光学装置１の良否を判定してもよい。

以上に説明したように、本実施形態においては、データ線駆動回路２００の動作モードとして検出モードが選定されるから、データ線駆動回路２００を電気光学パネルＡＡに実装した後の段階においても各データ線１０３における電流のリークが検出される。すなわち、電気光学パネルＡＡが完成した直後に発生した欠陥だけでなくその完成からデータ線駆動回路２００が実装されるまでに発生した欠陥も検出することができる。したがって、検査の結果の有効性を向上させることができる。

＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置の構成を説明する。第１実施形態においては、各データ線１０３に対して検査装置６０の電圧印加部６３から検査用電圧Ｖeを印加する構成を例示した。これに対し、本実施形態に係る電気光学装置１においては、電源端子Ｔp1からデータ線駆動回路２００に供給される電源電位Ｖddに応じた電圧が検出モードにおいて各データ線１０３に印加される構成となっている。なお、本実施形態のうち第１実施形態と同様の要素については共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。

図８は、本実施形態における信号生成回路２５およびスイッチ群２７の構成を示す回路図である。同図に示されるように、信号生成回路２５を構成する電圧生成回路２５１および各処理ユニット２５３の構成は第１実施形態と同様である。一方、電圧生成回路２５１を構成するトランジスタＴa3のゲート電極はスイッチング素子２５７に接続される。スイッチング素子２５７の動作はモード選択信号Ｓmodに応じて制御される。さらに詳述すると、スイッチング素子２５７は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されているときにはトランジスタＴa3のゲート電極を制御信号Ｖcの入力端子Ｔinに接続し、検出モードが指定されているときにはトランジスタＴa3のゲート電極を接地線に接続する。

一方、電圧生成回路２５１の後段にはスイッチング素子２５８が設けられる。スイッチング素子２５７および２５８は、例えば図６に示したスイッチング素子２７１と同様の構成である。スイッチング素子２５８の動作はスイッチング素子２５７と同様にモード選択信号Ｓmodに応じて制御される。すなわち、スイッチング素子２５８は、モード選択信号Ｓmodによって駆動モードが指定されているときにはトランジスタＴa4のドレイン電極をゲート線２５５に接続し、検出モードが指定されているときにはゲート線２５５を接地線に接続する。

以上の構成において、駆動モードにおいては電圧生成回路２５１に制御信号Ｖcが供給されるとともにゲート線２５５が電圧生成回路２５１に接続されるから、各処理ユニット２５３は画像データＤに応じたデータ信号Ｘjを生成する。一方、検出モードにおいては電圧生成回路２５１への制御信号Ｖcの供給が停止されてトランジスタＴa3はオフ状態となり、さらにゲート線２５５の電圧は各トランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）をオフ状態とするレベルに低下するから、電圧生成回路２５１が電圧Ｖrefを生成する動作や各処理ユニット２５３がデータ信号Ｘjを生成する動作は停止する。このように、スイッチング素子２５７および２５８は、検出モードにおいて信号生成回路２５の動作を停止させるための手段として機能する。

また、本実施形態においてはデータ線駆動回路２００において各データ線１０３における電流のリークが検出されるようになっている。この検出を実現するために、本実施形態におけるデータ線駆動回路２００はリーク電流検出部３８を有する。図８に示されるように、リーク電流検出部３８は、電源端子Ｔp1から電源電位Ｖddが供給される電源線と、各スイッチング素子２７１の端子ｂに接続された検出用配線３０との間に介挿される。リーク電流検出部３８は、第１実施形態のリーク電流検出部６２と同様に抵抗素子を有する。

この構成において、モード選択信号ＳmodがＨレベルに遷移して検出モードへの移行が指示されると、総てのデータ線１０３は出力端子Ｔoutとスイッチング素子２７１と検出用配線３０とリーク電流検出部３８とを介して電源線（さらには電源端子Ｔp1）に接続される。したがって、これらのデータ線１０３には電源電位Ｖddが供給される。こうして電源電位Ｖddが印加されているときにリーク電流検出部３８の抵抗素子の両端の電圧を計測することにより、第１実施形態と同様にデータ線１０３における電流のリークの有無やその電流の大きさが特定される。なお、ここでは電源電位Ｖddがデータ線１０３に供給される構成を例示したが、これ以外の電位がデータ線１０３に供給される構成としてもよい。例えば、電源端子Ｔp1から供給される電源電位Ｖddを変圧した電位を検出用配線３０から各データ線１０３に印加する構成も採用される。

以上に説明したように、本実施形態においては、データ線駆動回路２００にて利用される電源電位Ｖddがリーク電流の測定のために共用されるようになっている。このような構成において、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５が駆動モードと同様に動作してこれに応じた電流が電源線に流れるとすれば、検出モードにて検出用配線３０に流れる電流は、実際にデータ線１０３に発生しているリーク電流とは相違することになる。したがって、この場合にはデータ線１０３に発生しているリーク電流を正確に測定することができない。これに対し、本実施形態においては、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５の動作が停止するから、検出用配線３０に流れる電流が信号生成回路２５の動作の影響を受けることは回避される。このように、本実施形態によれば、データ線１０３におけるリークに起因した電流以外の電流の影響を排除することができるから、各データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。また、検出モードが選択されているときに信号生成回路２５の動作は停止するから、検出モードにおいては、電源端子Ｔp1に供給される電源電位Ｖddの変動（特に信号生成回路２５における電力の消費に伴なう電源電位Ｖddの低下）は防止される。すなわち、検出モードにおいて各データ線１０３に所期の電源電位Ｖddを精度よく供給することができるから、検出モードにおいても信号生成回路２５を動作させる構成（この構成においては信号生成回路２５の動作に起因して電源電位Ｖddが変動する）と比較して、各データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。

なお、本実施形態においては、リーク電流検出部３８がデータ線駆動回路２００の内部に配置された構成を例示したが、図９に示されるように、このリーク電流検出部３８をデータ線駆動回路２００に搭載せず、第１実施形態に示したように検査装置６０のリーク電流検出部６２によってデータ線１０３における電流のリークを検出する構成としてもよい。

また、本実施形態においては、スイッチング素子２７１の端子ｃが択一的に端子ａまたは端子ｂに接続される構成を例示したが、図１０に示されるように、出力端子Ｔoutが動作モードに拘わらず処理ユニット２５３に接続され、かつ、検出モードが選択された場合に限って出力端子Ｔoutがスイッチング素子２７１を介して検出用配線３０に接続される構成としてもよい。ただし、このようにデータ船１０３が常に処理ユニット２５３に接続された構成においては、検出モードにおいてもトランジスタＴb（Ｔb1ないしＴb8）やトランジスタＴc（Ｔc1ないしＴc8）に電流が流れる可能性がある。したがって、トランジスタＴa3のゲート電極をスイッチング素子２５７によって接地線に接続したとしても、これらの電流（すなわちデータ線１３０におけるリーク電流以外の電流）が検出用配線３０に流れ、これがデータ線１０３におけるリーク電流の測定の精度を低下させる原因となりかねない。しかしながら、本実施形態のように、検出モードにおいてゲート線２５５がスイッチング素子２５８を介して接地線に接続される構成によれば、各トランジスタＴcを確実にオフ状態に維持することができるから、処理ユニット２５３に流れる電流を確実に停止させ、データ線１０３におけるリークの有無やその電流の大きさを高い精度にて特定することができる。なお、各トランジスタＴcがｐチャネル型のトランジスタである構成においては、検出モードが選択されたときにゲート線２５５を電源電位Ｖddが印加される電源線に接続する構成とすればよい。

＜Ｃ：変形例＞
各実施形態に対しては種々の変形が加えられる。具体的な変形の態様を挙げれば以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせた構成も採用される。

（１）各実施形態においては、検出モードが指定されると総てのデータ線１０３が検出用配線３０に接続される構成を例示した。この構成においては、何れかのデータ線１０３において電流のリークが発生していることまでは検出することができるものの、不具合が発生しているデータ線１０３を具体的に特定することはできない。そこで、図１１に示される構成を採用することによって各データ線１０３のリークを別個に検出する構成としてもよい。同図に示されるように、本変形例に係るデータ線駆動回路２００には２系統のモード選択信号Ｓmod1およびＳmod2が入力される。一方、スイッチ群２７を構成する奇数番目のスイッチング素子２７１（すなわち奇数列目のデータ線１０３に接続されるスイッチング素子２７１）は、接続端子Ｔd2_1から供給されるモード選択信号Ｓmod1によって制御され、偶数番目のスイッチング素子２７１は、接続端子Ｔd2_2から供給されるモード選択信号Ｓmod2によって制御される。この構成においては、モード選択信号Ｓmod1およびＳmod2の一方を選択的にＨレベルとすることにより、奇数列に属する各データ線１０３での電流のリークと、偶数列に属する各データ線１０３での電流のリークとを別個に検出することができる。したがって、電流のリークが発生しているデータ線１０３が奇数列および偶数列の何れに属するのかを特定することができる。なお、ここではｎ個のスイッチング素子２７１を奇数番目と偶数番目とで２つのグループに区分した場合を例示したが、これらのスイッチング素子２７１をさらに細かく区分してもよい。スイッチング素子２７１を区分した各グループごとにモード選択信号Ｓmodを供給して検査を実施することにより、不具合が存在するデータ線１０３をさらに詳細に特定することができる。

さらに、各データ線１０３を時分割にて順次に検出用配線３０に接続する構成とすれば、何れのデータ線１０３に不具合が発生しているのかを特定することができる。ただし、この構成において、モード選択信号Ｓmodをデータ線１０３の本数に対応した系統数だけ用意するとすれば、検査の工程が煩雑化するといった問題がある。そこで、図１２に示される構成を採用してもよい。この構成においては、シフトレジスタ２１から出力されるサンプリング信号Ｓjが切替部２９を介して第ｊ番目のスイッチング素子２７１に供給されるようになっている。スイッチング素子２７１は、サンプリング信号Ｓjがアクティブレベルを維持する期間に限って端子ｃを端子ｂに接続する（すなわち第ｊ列目のデータ線１０３を検出用配線３０に接続する）。切替部２９には接続端子Ｔd2からモード選択信号Ｓmodが供給される。この切替部２９は、駆動モードが指定されているときにはシフトレジスタ２１とスイッチ群２７とを電気的な接続を遮断する。したがって、駆動モードにおいては各実施形態と同様にデータ線駆動回路２００からデータ信号Ｘ1ないしＸnが出力される。一方、切替部２９は、モード選択信号Ｓmodによって検出モードが指定されているときにはシフトレジスタ２１からのサンプリング信号Ｓ1ないしＳnを通過させてスイッチ群２７に供給する。したがって、検出モードにおいては、検出用配線３０に対する検査用電圧Ｖe（第２実施形態においては電源電圧Ｖdd）の印加が維持されたまま、ｎ本のデータ線１０３が第１列目から第ｎ列目まで順番に検出用配線３０に接続されていく。このときに検出用配線３０に流れる電流をリーク電流検出部６２（第２実施形態においてはリーク電流検出部３８）にて検出することによって何れのデータ線１０３にて電流のリークが発生しているのかを特定することができる。

なお、本変形例のように複数のデータ線１０３を選択的に検出用配線３０に接続する構成により、検出用配線３０に接続されたデータ線１０３とこれに接続されていないデータ線１０３とに別個の電位を供給すれば、データ線１０３に接続された要素（例えば図３に示した静電保護回路３５１または３５２）の欠陥に起因したリークだけでなく、相互に隣接するデータ線１０３の短絡に起因したリークを検出することも可能となる。

（２）各実施形態においては予め定められた検査用電圧Ｖeを検出用配線３０から各データ線１０３に印加する構成を例示したが、この検査用電圧Ｖeのレベルを可変としてもよい。例えば、画像データＤに応じて生成されたデータ信号Ｘjが供給されたときのデータ線１０３の電圧に等しい電圧が検査用電圧Ｖeとして印加される構成としてもよい。例えば、画像データＤによって指定され得る複数の階調のうち低階調Ｇl（例えば最も淡い階調）に応じたデータ信号Ｘjが供給されたときのデータ線１０３の電圧Ｖ1と、これよりも高階調Ｇh（例えば最も濃い階調）に応じたデータ信号Ｘjが供給されたときのデータ線１０３の電圧Ｖ2と、低階調Ｇlから高階調Ｇhまでの中間調Ｇg（例えば灰色に相当する階調）に応じたデータ信号Ｘjが供給されたときのデータ線１０３の電圧Ｖ3とのうちの何れかが検査用電圧Ｖeとして選択される構成としてもよい。例えば、第１実施形態においては、検査装置６０の電圧印加部６３が、操作子（図示略）に対する操作に応じて電圧Ｖ1ないしＶ3の何れかを選択して検出用配線３０に印加する。

何らかの欠陥があるデータ線１０３にて発生するリーク電流の大きさは、そのデータ線１０３に印加される電圧に応じて相違するから、ある電圧を印加したときにはリーク電流の大きさが所定の閾値を下回るとしても、これよりも大きい電圧を印加したときには閾値を越える場合がある。本変形例の構成によれば、電圧Ｖ1ないしＶ3の各々を検査用電圧Ｖeとしたときの検査の結果を総合的に勘案して電気光学装置１の良否を判定することができるから、この判定の有効性をさらに向上させることができる。

（３）各実施形態においては、ＯＬＥＤ素子４２０の階調（輝度）が電流信号たるデータ信号Ｘjによって設定される電流プログラミング方式の画素回路４００を例示したが、画素回路４００の構成は任意に変更される。例えば、ＯＬＥＤ素子４２０の階調がデータ信号Ｘjの電圧によって設定される電圧プログラミング方式の画素回路を採用してもよい。また、ＯＬＥＤ素子４２０を駆動するためのスイッチング素子（図２におけるトランジスタＴr1ないしＴr4）が画素領域Ａに形成されないパッシブマトリクス方式の電気光学装置にも本発明は適用される。

（４）各実施形態においては電流駆動型の自発光素子たるＯＬＥＤ素子４２０を利用した電気光学装置１を例示したが、これ以外の電流駆動型の電気光学素子や電圧駆動型の電気光学素子を利用した電気光学装置にも本発明は適用される。例えば、液晶表示装置、無機ＥＬ素子を利用した表示装置、電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ：Field Emission Display）、表面導電型電子放出ディスプレイ（ＳＥＤ：Surface-conduction Electron-emitter Display）、弾道電子放出ディスプレイ（ＢＳＤ：Ballistic electron Surface emitting Display）、発光ダイオードを利用した表示装置、あるいは光書込み型のプリンタや電子複写機の書き込みヘッドといった各種の電気光学装置にも本発明は適用される。

＜Ｄ：応用例＞
次に、本発明に係る電気光学装置を適用した電子機器について説明する。図１３は、実施形態に係る電気光学装置１を表示装置として採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、表示装置としての電気光学装置１と本体部２０１０とを備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１およびキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置１はＯＬＥＤ素子４２０を用いるので、視野角が広く見易い画面を表示できる。

図１４に、実施形態に係る電気光学装置１を適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２、ならびに表示装置としての電気光学装置１を備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置１に表示される画面がスクロールされる。

図１５に、実施形態に係る電気光学装置１を適用した情報携帯端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２、ならびに表示装置としての電気光学装置１を備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光学装置１に表示される。

なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図１３から図１５に示したもののほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。

本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 ひとつの画素回路の構成を示す回路図である。 データ線において電流がリークする原因のひとつを説明するための図である。 データ線駆動回路の構成を示すブロック図である。 データ線駆動回路における信号処理回路の構成を示す回路図である。 データ線駆動回路における各スイッチング素子の構成を示す回路図である。 検査装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第２実施形態に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 第２実施形態の他の態様に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 第２実施形態の他の態様に係る信号処理回路の構成を示す回路図である。 変形例に係るデータ線駆動回路の部分的な構成を示すブロック図である。 変形例に係るデータ線駆動回路の構成を示すブロック図である。 本発明を適用したパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。 本発明を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。 本発明を適用した携帯型情報端末の構成を示す斜視図である。

符号の説明

１…電気光学装置、ＡＡ…電気光学パネル、Ａ…画素領域、１００…走査線駆動回路、１０１…走査線、１０２…発光制御線、１０３…データ線、２００…データ線駆動回路、２１…シフトレジスタ、２２…サンプリング回路、２３…ラッチ回路、２５…信号生成回路、２５１…電圧生成回路、２５３…処理ユニット、２７…スイッチ群、２７１…スイッチング素子、３０…検出用配線、４００…画素回路、４２０…ＯＬＥＤ素子、６０…検査装置、６１…制御部、６２…リーク電流検出部、６３…電圧印加部、Ｔin…入力端子、Ｔp1，Ｔp2…電源端子、Ｔout…出力端子、Ｔd1…検出端子、Ｔd2…接続端子、Ｔg1，Ｔg2…接続端子、Ｓmod…モード選択信号、Ｖe…検査用電圧。

Claims (11)

1. 複数のデータ線の各々に画素が接続された電気光学装置を駆動する装置であって、
   各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、
   各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、
   前記信号生成回路が生成したデータ信号を前記各出力端子に供給する駆動モードと前記データ線における電流のリークを検出するための検出用配線に前記各出力端子を接続する検出モードとを切り替える切替手段と
   を具備する駆動装置。
2. 前記切替手段は、前記駆動モードにおいては前記信号生成回路と前記各出力端子とを導通させ、前記検出モードにおいては前記検出用配線と前記各出力端子とを導通させるスイッチング素子である
   請求項１に記載の駆動装置。
3. 前記検出モードにおいて前記データ線に電流のリークが発生したときに前記検出用配線に流れる電流を外部に出力する検出端子を具備する請求項１に記載の駆動装置。
4. 電源電位が供給される電源端子を具備し、
   前記信号生成回路は、前記電源端子に供給された電源電位に基づいてデータ信号を生成し、
   前記検出モードにおいては、前記電源端子に供給された電源電位に応じた電位が前記検出用配線および前記出力端子を介してデータ線に供給される
   請求項１に記載の駆動装置。
5. 前記検出モードにおいて前記信号生成回路によるデータ信号の生成を停止させる手段
   を具備する請求項４に記載の駆動装置。
6. 前記切替手段は、前記検出モードにおいて、前記複数の出力端子のうち第１群に属する各出力端子と、前記第１群とは異なる第２群に属する各出力端子とを選択的に前記検出用配線に導通させる
   請求項１に記載の駆動装置。
7. パルス信号を順次にシフトして出力するシフトレジスタを具備し、
   前記信号生成回路は、前記シフトレジスタから出力される各パルス信号によってサンプリングされた画像データに基づいて各画素のデータ信号を生成し、
   前記切替手段は、前記検出モードにおいて、前記シフトレジスタから出力されるパルス信号に対応した出力端子を順次に前記検出用配線に導通させる
   請求項１に記載の駆動装置。
8. 複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、
   前記各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、
   前記駆動装置は、
   各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、
   各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、
   前記信号生成回路が生成したデータ信号を前記各出力端子に供給する駆動モードと前記データ線における電流のリークを検出するための検出用配線に前記各出力端子を接続する検出モードとを切り替える切替手段と
   を具備する電気光学装置。
9. 請求項８に記載の電気光学装置を備えた電子機器。
10. 複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配列された複数の画素と、前記各データ線を介して画素にデータ信号を出力する駆動装置とを具備し、前記駆動装置は、各々がデータ線に接続される複数の出力端子と、各画素について指定された階調に応じたデータ信号を生成する信号生成回路と、検出用配線とを有する電気光学装置を検査する方法であって、
    前記駆動装置の動作モードを、前記信号生成回路が生成したデータ信号を前記各出力端子に供給する駆動モードから、前記各出力端子を前記検出用配線に接続する検出モードに切り替え、
    この検出モードにて前記検出用配線に流れる電流に基づいて前記各データ線における電流のリークを検出する
    電気光学装置の検査方法。
11. 前記検出モードにおいては、第１の階調に対応したデータ信号が前記駆動モードにおいて前記信号生成回路から供給されたときの前記データ線の電位を前記検出用配線に供給することによって電流のリークを検出し、さらに、前記第１の階調とは異なる第２の階調に対応したデータ信号が前記駆動モードにおいて供給されたときの前記データ線の電位を前記検出用配線に供給することによって電流のリークを検出する
    請求項１０に記載の電気光学装置の検査方法。
    

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