KR20070056248A

KR20070056248A - 표시 기판과, 이의 검사 방법

Info

Publication number: KR20070056248A
Application number: KR1020050114641A
Authority: KR
Inventors: 전상진
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2005-11-29
Filing date: 2005-11-29
Publication date: 2007-06-04
Also published as: KR101148206B1; US7692443B2; US20070120790A1; CN1982952A; CN1982952B

Abstract

검사 공정의 간단화 및 검출력을 향상시키기 위한 표시 기판과, 이의 검사 방법이 개시된다. 표시 기판은 복수의 게이트 배선들, 복수의 데이터 배선들, 게이트신호 입력부, 제1 검사부 및 제1 더미 스위칭부를 포함한다. 복수의 게이트 배선들은 제1 방향으로 연장된다. 복수의 데이터 배선들은 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된다. 게이트신호 입력부는 게이트 배선들의 일단부에 형성되어 게이트 배선들에 게이트 신호들을 인가한다. 제1 검사부는 게이트 배선들의 타단부에 형성되어 제1 검사신호가 인가된다. 제1 더미 스위칭부는 게이트신호 입력부와 제1 검사부 사이에 형성되어, 제1 검사신호를 상기 게이트 배선들에 전달한다. 이에 따라, 어레이 검사와 비쥬얼 검사가 하나의 검사배선으로 가능함에 따라서 검사 공정의 간단화 및 검출력 향상을 도모할 수 있다.

어레이 검사, 비쥬얼 검사, 2G2D

Description

표시 기판과, 이의 검사 방법{DISPLAY SUBSTRATE AND METHOD FOR TESTING THE SAME}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.

도 2는 도 1에 도시된 게이트신호 입력부에 대한 상세한 블록도이다.

도 3은 도 1에 도시된 어레이 기판의 일부분에 대한 확대도이다.

도 4는 도 3의 I-I'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 5는 도 1에 도시된 어레이 기판의 다른 부분에 대한 확대도이다.

도 6은 도 5의 II-II'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 7은 도 1에 도시된 표시 패널에 대한 등가회로도이다.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따를 표시 패널의 평면도이다.

도 9는 도 8에 도시된 어레이 기판의 부분 확대도이다.

도 10은 도 8에 도시된 표시 패널에 대한 등가회로도이다.

도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

100 : 어레이 기판 200 : 컬러필터 기판

110 : 게이트신호 입력부 120 ; 데이터신호 입력부

130 : 정전기 다이오드부 140 : 제1 더미 스위칭부

150 : 제1 검사부 160 : 제2 더미 스위칭부

170 : 제2 검사부

본 발명은 표시 기판과, 이의 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사 공정의 간단화 및 검출력을 향상시키기 위한 표시 기판과, 이의 검사 방법에 관한 것이다.

일반적으로 액정표시패널 모듈은 액정표시패널과, 상기 액정표시패널과 전기적으로 연결되어 상기 액정표시패널을 구동시키는 구동장치를 포함한다.

상기 액정표시패널은 어레이 기판, 상기 어레이 기판과 마주하는 상부 기판, 및 상기 어레이 기판과 상기 상부 기판과의 사이에 개재된 액정층으로 이루어진다. 상기 액정표시패널의 제조 공정에 있어서, 파티클에 의한 결함은 제조 수율 저하의 가장 큰 요인이다. 특히 파티클에 의한 배선의 단선(OPEN) 및 단락(SHORT) 불량은 직접적인 수율 저하의 주요인이다.

이러한 배선 불량을 검출하기 위한 검사 방법은, 상기 어레이 기판을 제조 공정시 배선들에 전기적인 신호를 인가하여 어레이 검사(ARRAY TEST)를 수행한다. 다음, 어레이 기판과 칼라필터기판이 결합된 표시 패널에 액정을 주입한 후 전기적인 신호와 백라이트(또는 프론트 라이트)를 제공하여 비쥬얼 검사(Visual Inspection)를 수행한다.

일반적으로 상기 어레이 검사는 모기판 상에서 표시 셀의 바깥쪽에 어레이 검사배선을 형성하여 어레이 검사를 수행하는 것으로, 어레이 검사 후 상기 모기판은 표시 셀 단위로 커팅된다.

따라서, 상기 비쥬얼 검사를 위해 상기 표시 셀 내에는 별도의 비쥬얼 검사를 위한 비쥬얼 검사배선이 형성되며, 이를 통해 액정 주입 후의 표시 패널의 배선 불량 및 화소 불량 등을 검출한다. 또한, 비쥬얼 검사는 배선 별로 서로 다른 신호를 인가하는 방식으로 배선 불량은 물론 표시 불량을 검출한다.

이와 같은 검사 공정 과정은 상기 어레이 검사를 위해 모기판 상에 어레이 검사배선을 형성해야 하고, 또한, 비쥬얼 검사를 위해 표시 셀 내에 비쥬얼 검사배선을 형성해야 하는 번거로운 문제점을 갖는다.

이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 검사 공정의 간단화 및 검출력 향상을 위한 표시 기판을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 상기 표시 기판의 검사 방법을 제공하는 것이다.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 표시 기판은 복수의 게이트 배선들, 복수의 데이터 배선들, 게이트신호 입력부, 제1 검사부 및 제1 더미 스위칭부를 포함한다. 상기 복수의 게이트 배선들은 제1 방향으로 연장된다. 상기 복수의 데이터 배선들은 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된다. 상 기 게이트신호 입력부는 상기 게이트 배선들의 일단부에 형성되어 상기 게이트 배선들에 게이트 신호들을 인가한다. 상기 제1 검사부는 상기 게이트 배선들의 타단부에 형성되어 제1 검사신호가 인가된다. 상기 제1 더미 스위칭부는 상기 게이트신호 입력부와 상기 제1 검사부 사이에 형성되어, 상기 제1 검사신호를 상기 게이트 배선들에 전달한다.

상기한 본 발명의 다른 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 데이터 배선들의 일단부에 형성되어 상기 데이터 배선들에 데이터 신호들을 인가하는 데이터 입력패드들과, 상기 게이트 배선들의 일단부에 형성되어 상기 게이트 배선들에 게이트 신호들을 인가하는 게이트신호 입력부와, 상기 게이트 배선들의 타단부에 형성된 제1 검사부 및 상기 게이트신호 입력부와 상기 제1 검사부 사이에 형성된 제1 더미 스위칭부를 포함하는 표시 기판의 검사 방법은 상기 제1 더미 스위칭부를 턴-온시키는 제1 제어신호와, 상기 게이트 배선들을 활성화시키는 제1 검사신호를 상기 제1 더미 스위칭부 및 제1 검사부에 각각 인가하는 단계 및 상기 데이터 입력패드들에 제2 검사신호를 인가하는 단계를 포함한다.

이러한 표시 기판과, 이의 검사 방법에 의하면, 어레이 검사와 비쥬얼 검사가 하나의 검사배선으로 가능함에 따라서 검사 공정의 간단화 및 검출력 향상을 도모할 수 있다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 표시 패널은 어레이 기판(100)과, 상기 어레이 기판(100)에 대향하여 결합된 컬러필터 기판(200), 및 상기 어레이 기판(100)과 컬러필터 기판(200) 사이에 개재된 액정층(미도시)을 포함한다.

상기 어레이 기판(100)은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸는 제1 주변 영역(PA1), 제2 주변 영역(PA2), 제3 주변 영역(PA3) 및 제4 주변 영역(PA4)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 제1 방향으로 연장된 게이트 배선(GL)들과, 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 데이터 배선(DL)들 및 상기 게이트 배선(GL)들과 상기 데이터 배선(DL)들에 의해 정의된 복수의 화소부(P)들을 포함한다. 각각의 화소부(P)에는 스위칭소자(TFT)와, 액정 캐패시터(CLC)의 화소 전극 및 스토리지 캐패시터(CST)의 공통 전극이 형성된다.

상기 제1 주변 영역(PA1)에는 상기 게이트 배선(GL)들의 일단부와 연결되어 게이트 신호들을 상기 게이트 배선(GL)들에 인가하는 게이트신호 입력부(110)가 형성된다. 상기 게이트신호 입력부(110)는 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 스테이지들이 종속적으로 연결된 쉬프트 레지스터로 상기 제1 주변 영역(PA)에 집적된다. 상기 게이트신호 입력부(110)는 복수의 게이트 제어신호들이 입력되는 입력단자들(111)을 포함한다.

도 2를 참조하면, 상기 쉬프트 레지스터(110)는 n개의 스테이지들(SRC1,SRC2,...,SRCn)과 더미 스테이지(SRCd)로 구성되며, 복수의 스테이지들 (SRC1,SRC2,...,SRCn,SRCd)은 종속적으로 연결된다. 각 스테이지는 복수의 박막트랜지스터들이 집적되어 형성된 것으로, 입력단자들과 출력단자들을 갖는다.

상기 입력단자들은 개시신호인 수직개시신호(STV) 또는 이전 스테이지 출력신호가 입력되는 입력단자(IN)와, 다음 스테이지의 출력신호 또는 더미 스테이지(SRCd)의 출력신호가 입력되는 제어단자(CL), 제1 클럭신호(CKV) 또는 제2 클럭신호(CKVB)가 입력되는 클럭단자(CK)와, 오프 전압(VSS)이 인가되는 전압단자(VSS)를 포함한다. 제1 클럭신호(CKV)는 홀수번째 스테이지들에 제공되고, 제2 클럭신호(CKVB)는 짝수번째 스테이지들에 제공된다. 상기 출력단자는 해당하는 게이트 라인들(GL)과 연결되어 게이트 신호를 출력한다.

상기 제2 주변 영역(PA2)에는 데이터신호 입력부(120)와 정전기 다이오드부(130)가 형성된다. 상기 데이터신호 입력부(120)는 상기 데이터 배선(DL)들에 데이터 신호들을 인가하는 데이터 입력패드(121)들을 포함한다. 상기 데이터 입력패드(121)들은 소스 구동칩의 출력단자들과 전기적으로 접촉되어 상기 소스 구동칩으로부터 출력된 데이터 신호들이 입력된다. 상기 정전기 다이오드부(130)는 데이터 입력패드(121)들로부터 유입된 정전기를 분산시킨다. 이에 따라 상기 정전기로부터 상기 화소부(P)들이 파손되는 것을 방지한다.

상기 제3 주변 영역(PA3)에는 상기 게이트 배선(GL)들의 타단부와 연결된 제1 더미 스위칭부(140)와 상기 제1 더미 스위칭부(140)에 전기적으로 연결된 제1 검사부(150)가 형성된다.

상기 제1 더미 스위칭부(140)는 복수의 제1 더미 스위칭소자들과 상기 제1 더미 스위칭소자들의 동작을 제어하는 제1 제어신호가 입력되는 제1 제어패드(147)를 포함한다. 각각의 제1 더미 스위칭소자는 각 게이트 배선(GL)의 타단부와 연결된다.

상기 제1 검사부(150)는 외부로부터 제1 검사신호를 수신하고, 상기 수신된 제1 검사신호를 제1 더미 스위칭부(140)에 전달한다. 상기 제1 검사부(150)는 상기 제1 검사신호가 입력되는 제1 검사패드부(153)와, 상기 제1 더미 스위칭소자들과 연결된 제1 검사배선부(151)를 포함한다. 상기 제1 검사신호는 상기 제1 더미 스위칭부(140)를 경유하여 상기 게이트 배선(GL)들에 인가된다.

상기 제1 더미 스위칭부(140)는 상기 제1 제어신호에 응답하여 상기 제1 검사신호를 상기 게이트 배선(GL)들에 전달함과 동시에 제조 공정 중에 발생되는 정전기로부터 상기 표시 영역(DA)의 화소부(P)들의 파손을 막는다.

상기 제4 주변 영역(PA4)에는 상기 데이터 배선(DL)들의 타단부에 연결된 제2 더미 스위칭부(160)와 상기 제2 더미 스위칭부(160)에 전기적으로 연결된 제2 검사부(170)가 형성된다.

상기 제2 더미 스위칭부(160)는 복수의 제2 더미 스위칭소자들과 상기 제2 더미 스위칭소자들의 동작을 제어하는 제2 제어신호가 입력되는 제2 제어패드(163)를 포함한다. 각각의 제2 더미 스위칭소자는 각각의 데이터 배선(DL)의 타단부와 연결된다.

상기 제2 검사부(170)는 외부로부터 제2 검사신호를 수신하고, 상기 제2 검사신호는 제2 더미 스위칭부(160)에 전달한다. 상기 제2 검사부(170)는 상기 제2 검사신호가 입력되는 제2 검사패드부(173)와, 상기 제2 더미 스위칭소자들과 연결된 제2 검사배선부(171)를 포함한다.

상기 제2 검사신호는 상기 제2 더미 스위칭부(160)를 경유하여 상기 데이터 배선(DL)들에 인가된다.

상기 제2 더미 스위칭부(160)는 상기 제2 제어신호에 응답하여 상기 제2 검사신호를 상기 데이터 배선(DL)들에 전달함과 동시에 제조 공정 중에 발생되는 정전기로부터 상기 표시 영역(DA)의 화소부(P)들의 파손을 막는다.

도 3은 도 1에 도시된 어레이 기판의 일부분에 대한 확대도이다. 도 4는 도 3의 I-I'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 1, 도 3 및 도 4를 참조하면, 어레이 기판은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)에 인접한 제2 주변 영역(PA2)과 제3 주변 영역(PA3)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 복수의 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 복수의 데이터 배선들(DL-O, DL-E)이 형성된다. 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 데이터 배선들(DL-O, DL-E)에 의해 복수의 화소부들이 정의되며, 각 화소부(P1)에는 스위칭소자(TFT1)와, 상기 스위칭소자(TFT1)에 연결된 화소 전극(PE1)이 형성된다.

구체적으로, 상기 스위칭소자(TFT1)는 게이트 전극(102g), 반도체층(102a), 소스 전극(102s) 및 드레인 전극(102d)을 포함한다. 상기 게이트 전극(102g)은 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 동일한 게이트 금속층으로 형성되고, 상기 게이트 전극(102g) 위에는 게이트 절연층(103)이 형성된다. 상기 소스 및 드레인 전극(102s, 102d)은 상기 데이터 배선들(DL-O, DL-E)과 동일한 소스 금속층으로 형성된 다. 상기 소스 및 드레인 전극(102s, 102d) 위에는 보호 절연층(104)이 형성되고, 상기 드레인 전극(102d) 위에 보호 절연층(104)은 부분적으로 제거되어 상기 드레인 전극(102d)과 화소 전극(PE1)은 전기적으로 연결된다.

상기 제2 주변 영역(PA2)에는 데이터신호 입력부(120)와 정전기 다이오드부(130)가 형성된다. 상기 데이터신호 입력부(120)는 복수의 데이터 입력패드(121)들을 포함한다. 상기 정전기 다이오드부(130)는 상기 데이터 입력패드(121)들과 JSRL적으로 연결된 복수의 정전기 다이오드(131)들을 포함한다. 상기 정전기 다이오드(131)들은 상기 데이터 입력패드(121)들로부터 유입된 정전기에 의해 화소부들이 손상되는 것을 방지한다.

상기 정전기 다이오드(131)는 스토리지 공통배선과 공통으로 연결된 게이트 전극 및 드레인 전극과, 데이터 배선(DL-E)과 연결된 소스 전극을 포함하는 스위칭소자이다.

상기 제3 주변 영역(PA3)에는 제1 더미 스위칭부(140)와 제1 검사부(150)가 형성된다.

상기 제1 더미 스위칭부(140)는 복수의 제1 더미 스위칭소자들(140-O, 140-E)과 상기 제1 더미 스위칭소자들(140-O, 140-E)의 동작을 제어하는 제1 제어신호가 입력되는 제1 제어패드(147)를 포함한다. 제1 더미 스위칭소자들(140-O, 140-E)은 게이트 배선들(GL-O, GL-E)의 타단부와 연결된다.

상기 제1 검사부(150)는 제1 검사패드(153-O), 상기 제1 검사패드(153-O)와 연결된 제1 검사배선(151-O), 제2 검사패드(153-E), 상기 제2 검사패드(153-E)와 연결된 제2 검사배선(151-E)을 포함한다. 바람직하게 상기 제1 및 제2 검사배선(151-O, 151-E)은 상기 게이트 금속층으로 형성되고, 상기 제1 및 제2 검사패드(153-O, 153-E)는 상기 화소 전극(PE1)과 동일한 투명한 도전층으로 형성된다.

상기 제1 검사패드(153-O)로부터 입력된 제1 검사신호는 상기 제1 검사배선(151-O)을 통해 홀수번째 제1 더미 스위칭소자(140-O)에 전달된다. 상기 제2 검사패드(153-E)로부터 입력된 제1 검사신호는 상기 제2 검사배선(151-E)을 통해 짝수번째 제1 더미 스위칭소자(140-E)에 전달된다.

이에 따라서, 상기 제1 검사부(150)는 외부로부터 수신된 제1 검사신호를 상기 제1 더미 스위칭부(140)에 전달된다. 상기 제1 더미 스위칭부(140)는 상기 제1 제어패드(147)로부터 인가되는 제어신호에 응답하여 상기 제1 검사신호를 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)에 인가한다.

홀수번째 제1 더미 스위칭소자(140-O)는 상기 제1 제어패드(147)와 연결된 게이트 전극(141)과, 상기 제1 검사배선(151-O)과 연결된 소스 전극(143) 및 홀수번째 게이트 배선(GL-O)과 연결된 드레인 전극(144)을 포함한다. 짝수번째 제1 더미 스위칭소자(140-E)는 상기 제1 제어패드(147)와 연결된 게이트 전극(141)과, 상기 제2 검사배선(151-E)과 연결된 소스 전극(145) 및 짝수번째 게이트 배선(GL-E)과 연결된 드레인 전극(146)을 포함한다.

예를 들면, 상기 홀수번째 제1 더미 스위칭소자(140-O)의 상기 게이트 전극(141)은 상기 게이트 금속층으로 형성되고, 상기 소스 및 드레인 전극(143, 144)은 상기 소스 금속층으로 형성되며, 상기 게이트 전극(141) 위에는 반도체층(142)이 형성된다.

콘택부들(106, 107)을 통해 게이트 금속층으로 형성된 상기 홀수번째 게이트 배선(GL-O)과 소스 금속층으로 형성된 드레인 전극(144)이 전기적으로 연결되고, 소스 금속층으로 형성된 상기 소스 전극(143)과 게이트 금속층으로 형성된 제1 검사배선(151-O)이 전기적으로 연결된다.

상기 제1 더미 스위칭부(140) 및 제1 검사부(150)를 이용하여 2G 검사방식으로 게이트 배선들(GL-O, GL-E)에 제1 검사신호를 인가하여 배선 불량 및 화소 불량을 검출한다.

여기서는 게이트 배선들을 홀수번째 및 짝수번째와 같이 두 개의 그룹으로 분리하여 검사하는 2G 검사방식을 예로 설명하였으나, 상기 제3 주변 영역(PA3)의 크기가 허용하는 범위 내에서 3G, 4G,.. 등 다양한 검사방식을 구현할 수 있음은 당연하다.

도 5는 도 1에 도시된 어레이 기판의 다른 부분에 대한 확대도이다. 도 6은 도 5의 II-II'선을 따라 절단한 단면도이다.

도 1, 도 5 및 도 6을 참조하면, 어레이 기판은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)에 인접한 제1 주변 영역(PA1)과 제4 주변 영역(PA4)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 복수의 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 복수의 데이터 배선들(DL-O, DL-E)이 형성된다. 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 데이터 배선들(GL-O, GL-E)에 의해 복수의 화소부들이 정의되며, 각 화소부(P2)에는 스위칭소자(TFT2)와, 상기 스위칭소자(TFT2)에 연결된 화소 전극(PE2)이 형성된다.

상기 제1 주변 영역(PA1)에는 게이트신호 입력부(110)인 쉬프트 레지스터가 형성된다. 상기 쉬프트 레지스터는 상기 게이트 배선(GL)들에 게이트 신호들을 순차적으로 출력한다.

상기 제4 주변 영역(PA4)에는 제2 더미 스위칭부(160)와 제2 검사부(170)가 형성된다.

상기 제2 더미 스위칭부(160)는 복수의 제2 더미 스위칭소자들(160-O, 160-E)과 상기 제2 더미 스위칭소자들(160-O, 160-E)의 동작을 제어하는 제2 제어신호가 입력되는 제2 제어패드(167)를 포함한다. 제2 더미 스위칭소자들(160-O, 160-E)은 데이터 배선들(DL-O, DL-E)의 단부와 연결된다.

상기 제2 검사부(170)는 제3 검사패드(173-O), 상기 제3 검사패드(173-O)와 연결된 제3 검사배선(171-O), 제4 검사패드(173-E), 상기 제4 검사패드(173-E)와 연결된 제4 검사배선(171-E)을 포함한다. 바람직하게 상기 제3 및 제4 검사배선(171-O, 171-E)은 상기 게이트 금속층으로 형성되고, 상기 제3 및 제4 검사패드(173-O, 173-E)는 상기 화소 전극(PE2)과 동일한 투명한 도전층으로 형성된다.

상기 제3 검사패드(173-O)로부터 입력된 제2 검사신호는 상기 제3 검사배선(171-O)을 통해 홀수번째 제2 더미 스위칭소자(160-O)에 전달된다. 상기 제4 검사패드(173-E)로부터 입력된 제2 검사신호는 상기 제4 검사배선(171-E)을 통해 짝수번째 제2 더미 스위칭소자(160-E)에 전달된다.

이에 따라서, 상기 제2 검사부(170)는 외부로부터 수신된 제2 검사신호를 상기 제2 더미 스위칭부(160)에 전달된다. 상기 제2 더미 스위칭부(160)는 상기 제2 제어패드(167)로부터 인가되는 제어신호에 응답하여 상기 제2 검사신호를 상기 데이터 배선들(DL-O, DL-E)에 인가한다.

홀수번째 제2 더미 스위칭소자(160-O)는 상기 제2 제어패드(167)와 연결된 게이트 전극(161)과, 상기 제3 검사배선(171-O)과 연결된 소스 전극(163) 및 홀수번째 데이터 배선(DL-O)과 연결된 드레인 전극(164)을 포함한다. 짝수번째 제2 더미 스위칭소자(160-E)는 상기 제2 제어패드(167)와 연결된 게이트 전극(161)과, 상기 제4 검사배선(171-E)과 연결된 소스 전극(165) 및 짝수번째 데이터 배선(DL-E)과 연결된 드레인 전극(166)을 포함한다.

예를 들면, 상기 홀수번째 제2 더미 스위칭소자(160-O)의 상기 게이트 전극(161)은 상기 게이트 금속층으로 형성되고, 상기 소스 및 드레인 전극(163, 164)은 상기 소스 금속층으로 형성되며, 상기 게이트 전극(161) 위에는 반도체층(162)이 형성된다.

콘택부(108)를 통해 소스 금속층으로 형성된 홀수번째 제2 더미 스위칭소자(160-O)의 드레인 전극(164)과 게이트 금속층으로 형성된 상기 제3 검사배선(171-O)을 전기적으로 연결된다.

상기 제2 더미 스위칭부(160) 및 제2 검사부(170)를 이용하여 2D 검사방식으로 데이터 배선들(DL-O, DL-E)에 제2 검사신호를 인가하여 배선 불량 및 화소 불량을 검출한다.

여기서는 데이터 배선들을 홀수번째 및 짝수번째와 같이 두 개의 그룹으로 분리하여 검사하는 2D 검사방식을 예로 설명하였으나, 상기 제4 주변 영역(PA4)의 크기가 허용하는 범위 내에서 3D, 4D,.. 등 다양한 검사방식을 구현할 수 있음은 당연하다.

도 7은 도 1에 도시된 표시 패널에 대한 등가회로도이다. 이하에서는 도 7을 참조하여 상기 표시 패널을 2G2D 검사 방식으로 검사하는 과정을 설명한다.

도 1 및 도 7을 참조하면, 상기 표시 패널은 제1 더미 스위칭부(140), 제1 검사부(150), 제2 더미 스위칭부(160) 및 제2 검사부(170)를 포함한다.

상기 제1 더미 스위칭부(140)는 복수의 제1 더미 스위칭소자들(140-1, 140-2,... 140-(n-1), 140-n)을 포함하며, 상기 제1 더미 스위칭소자들(140-1, 140-2,... 140-(n-1), 140-n)의 게이트 전극은 제1 제어패드(147)와 전기적으로 연결된다.

상기 제1 검사부(150)는 제1 검사패드(153-0), 상기 제1 검사패드(153-0)와 연결된 제1 검사배선(151-O), 제2 검사패드(153-E) 및 상기 제2 검사패드(153-E)와 연결된 제2 검사배선(151-E)을 포함한다. 상기 제1 검사배선(151-O)은 홀수번째 게이트 배선들(GL1,..GLn-1)과 연결되고 상기 제2 검사배선(151-E)은 짝수번째 게이트 배선들(GL2,..GLn)과 연결된다.

상기 제2 더미 스위칭부(160)는 복수의 제2 더미 스위칭소자들(160-1, 160-2,... 160-(m-1), 160-m)을 포함하며, 상기 제2 더미 스위칭소자들(160-1, 160-2,... 160-(m-1), 160-m)의 게이트 전극은 제2 제어패드(167)와 전기적으로 연결된다.

상기 제2 검사부(170)는 제3 검사패드(173-0), 상기 제3 검사패드(173-0)와 연결된 제3 검사배선(171-O), 제4 검사패드(173-E) 및 상기 제4 검사패드(173-E)와 연결된 제4 검사배선(171-E)을 포함한다. 상기 제3 검사배선(171-O)은 홀수번째 데이터 배선들(DL1,..DLm-1)과 연결되고 상기 제4 검사배선(171-E)은 짝수번째 데이터 배선들(DL2,..DLm)과 연결된다.

상기 표시 패널을 검사하는 방식은 다음과 같다.

상기 제1 제어패드(147)에는 상기 제1 더미 스위칭부(140)를 턴-온시키는 제1 제어신호가 인가되고, 상기 제1 및 제2 검사패드(153-0, 153-E)에는 상기 게이트 배선들(GL1,..,GLn)을 활성화시키는 게이트 신호에 대응하는 제1 검사신호가 인가된다. 예컨대, 상기 제1 검사신호는 대략 -7V 내지 25V 이다.

한편, 상기 제2 더미 스위칭부(160)의 제2 제어패드(167)에는 상기 제2 더미 스위칭부(160)를 턴-온시키는 제2 제어신호가 인가되고, 상기 제2 검사부(170)의 제3 및 제4 검사패드(173-O, 173-E)에는 상기 데이터 배선들(DL1,..,DLm)에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 제2 검사신호가 인가된다. 예컨대, 상기 제2 검사신호는 대략 0V 내지 10V 이다.

상기 제3 및 제4 검사패드(173-O, 173-E)에 인가되는 제2 검사신호는 실질적으로 동일한 계조 레벨의 신호이거나, 또는 서로 다른 계조 레벨의 신호가 인가될 수 있다. 상기 서로 다른 계조 레벨의 신호가 인가되는 경우 홀수번째 데이터 배선에 연결된 화소부와 짝수번째 데이터 배선에 연결된 화소부에서 표시되는 그레이가 서로 다르므로 디스플레이 불량을 검출할 수 있다.

상기와 같은 방식으로 모기판 상에서의 2G2D 방식으로 어레이 검사를 할 수 있으며, 또한, 표시 패널 상에서의 2G2D 방식으로 비쥬얼 검사를 수행할 수 있다.

도 8을 참조하면, 표시 패널은 어레이 기판(300)과, 상기 어레이 기판(300)에 대향하여 결합된 컬러필터 기판(200), 및 상기 어레이 기판(100)과 컬러필터 기판(200) 사이에 개재된 액정층(미도시)을 포함한다.

상기 어레이 기판(300)은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸는 제1 주변 영역(PA1), 제2 주변 영역(PA2) 및 제3 주변 영역(PA3)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 제1 방향으로 연장된 데이터 배선(DL)들과, 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 게이트 배선(GL)들 및 상기 데이터 배선(DL)들과 상기 게이트 배선(GL)들에 의해 정의된 복수의 화소부(P)들을 포함한다. 각각의 화소부(P)에는 스위칭소자(TFT)와, 액정 캐패시터(CLC)의 화소 전극 및 스토리지 캐패시터(CST)의 공통 전극이 형성된다.

상기 제1 주변 영역(PA1)에는 상기 게이트 배선들의 일단부와 연결되어 게이트 신호들을 상기 게이트 배선들에 인가하는 게이트신호 입력부(310)가 형성된다. 상기 게이트신호 입력부(310)는 앞서 설명된 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 스테이지들이 종속적으로 연결된 쉬프트 레지스터로 상기 제1 주변 영역(PA)에 집적된다. 상기 게이트신호 입력부(110)는 복수의 게이트 제어신호들이 입력되는 입력단자들(311)을 포함한다.

상기 제2 주변 영역(PA2)에는 데이터신호 입력부(320)와 정전기 다이오드부(330)가 형성된다. 상기 데이터신호 입력부(320)는 상기 데이터 배선(DL)들에 데이 터 신호들을 인가하는 데이터 입력패드(321)들을 포함한다. 상기 정전기 다이오드부(330)는 상기 데이터 입력패드(321)들로부터 유입된 정전기를 분산시켜 상기 정전기로부터 상기 화소부(P)들이 파손되는 것을 방지한다.

상기 제3 주변 영역(PA3)에는 상기 게이트 배선(GL)들의 단부와 연결된 더미 스위칭부(340)와 상기 더미 스위칭부(340)에 전기적으로 연결된 검사부(350)가 형성된다.

상기 더미 스위칭부(340)는 복수의 더미 스위칭소자들과 상기 더미 스위칭소자들의 동작을 제어하는 제어신호가 입력되는 제어패드(347)를 포함한다. 각각의 더미 스위칭소자는 각 게이트 배선(GL)의 타단부와 연결된다.

상기 검사부(350)는 외부로부터 검사신호를 수신하고, 상기 수신된 검사신호를 더미 스위칭부(340)에 전달한다. 상기 검사부(350)는 상기 검사신호가 입력되는 검사패드부(353)와, 상기 더미 스위칭소자들과 연결된 검사배선부(351)를 포함한다. 상기 검사신호는 상기 더미 스위칭부(340)를 경유하여 상기 게이트 배선(GL)들에 인가된다.

상기 더미 스위칭부(340)는 상기 제어신호에 응답하여 상기 검사신호를 상기 게이트 배선(GL)들에 전달함과 동시에 제조 공정 중에 발생되는 정전기에 의한 화소부(P)들의 불량을 막는다.

도 9는 도 8에 도시된 어레이 기판의 부분 확대도이다.

도 8 및 도 9를 참조하면, 어레이 기판(300)은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)에 인접한 제2 주변 영역(PA2)과 제3 주변 영역(PA3)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 복수의 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 복수의 데이터 배선들(DL-O, DL-E)이 형성된다. 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)과 데이터 배선들(GL-O, GL-E)에 의해 복수의 화소부들이 정의되며, 각 화소부(P)에는 스위칭소자(TFT)와, 상기 스위칭소자(TFT)에 연결된 화소 전극(PE)이 형성된다.

상기 제2 주변 영역(PA2)에는 데이터신호 입력부(320)와 정전기 다이오드부(330)가 형성된다. 상기 데이터신호 입력부(320)는 복수의 데이터 입력패드(321)들을 포함한다. 상기 정전기 다이오드부(330)는 상기 데이터 배선들(DL-O, DL-E)과 각각 연결된 복수의 정전기 다이오드(331)들을 포함한다. 상기 정전기 다이오드(331)는 스토리지 공통배선에 공통으로 연결된 게이트 전극 및 드레인 전극과, 데이터 배선(DL-E)과 연결된 소스 전극을 포함하는 스위칭소자이다.

상기 제3 주변 영역(PA3)에는 더미 스위칭부(340)와 검사부(350)가 형성된다. 상기 더미 스위칭부(340)는 복수의 더미 스위칭소자들(340-O, 340-E)과 상기 더미 스위칭소자들(340-O, 340-E)의 동작을 제어하는 제어신호가 입력되는 제어패드(347)를 포함한다. 더미 스위칭소자들(340-O, 340-E)은 게이트 배선들(GL-O, GL-E)와 연결된다.

상기 검사부(350)는 제1 검사패드(353-O), 상기 제1 검사패드(353-O)와 연결된 제1 검사배선(351-O), 제2 검사패드(353-E), 상기 제2 검사패드(353-E)와 연결된 제2 검사배선(351-E)을 포함한다.

상기 제1 검사패드(353-O)로부터 입력된 검사신호는 상기 제1 검사배선(351-O)을 통해 홀수번째 더미 스위칭소자(340-O)에 전달된다. 상기 제2 검사패드(353- E)로부터 입력된 검사신호는 상기 제2 검사배선(351-E)을 통해 짝수번째 더미 스위칭소자(340-E)에 전달된다.

이에 따라서, 상기 검사부(350)는 외부로부터 수신된 검사신호를 상기 더미 스위칭부(340)에 전달된다. 상기 더미 스위칭부(340)는 상기 제어패드(347)로부터 인가되는 제어신호에 응답하여 상기 검사부(350)로부터 전달된 상기 검사신호를 상기 게이트 배선들(GL-O, GL-E)에 인가한다.

홀수번째 더미 스위칭소자(340-O)는 상기 제어패드(347)와 연결된 게이트 전극(341)과, 상기 제1 검사배선(351-O)과 연결된 소스 전극(343) 및 홀수번째 게이트 배선(GL-O)과 연결된 드레인 전극(344)을 포함한다. 짝수번째 더미 스위칭소자(340-E)는 상기 제어패드(347)와 연결된 게이트 전극(341)과, 상기 제2 검사배선(351-E)과 연결된 소스 전극(345) 및 짝수번째 게이트 배선(GL-E)과 연결된 드레인 전극(346)을 포함한다.

상기 더미 스위칭부(340) 및 검사부(350)를 이용하여 2G 검사방식으로 게이트 배선들(GL-O, GL-E)에 검사신호를 인가하여 배선 불량 및 화소 불량을 검출한다.

한편, 상기 데이터 배선들(DL-O, DL-E)에 검사 신호를 인가하는 방식은 상기 데이터 입력패드(121)들에 대응하여 검사 장치의 프로브 핀을 접촉시켜 검사 신호를 인가하는 방식을 채용한다.

도 10은 도 8에 도시된 표시 패널에 대한 등가회로도이다. 이하에서는 도 10을 참조하여 상기 표시 패널을 검사하는 과정을 설명한다.

도 8 내지 도 10을 참조하면, 상기 표시 패널은 데이터신호 입력부(320), 정전기 다이오드부(330), 더미 스위칭부(340) 및 검사부(350)를 포함한다.

상기 데이터신호 입력부(320)는 복수의 데이터 배선들(DL1, DL2,..,DLm-1, DLm)의 일단부에 형성된 복수의 데이터 입력패드들(321-1, 321-2,... 321-(m-1), 321-m)을 포함한다.

상기 정전기 다이오드부(330)는 복수의 정전기 다이오드들(331-1, 331-2,... 331-(m-1), 331-m)을 포함한다. 상기 정전기 다이오드들(331-1, 331-2,... 331-(m-1), 331-m)의 게이트 전극 및 드레인 전극은 스토리지 공통배선과 전기적으로 연결된 전압패드(VCOM)와 전기적으로 연결되고, 소스 전극은 데이터 입력패드들(321-1, 321-2,... 321-(m-1), 321-m)과 전기적으로 연결된다.

상기 더미 스위칭부(340)는 복수의 더미 스위칭소자들(340-1, 340-2,... 340-(n-1), 340-n)을 포함하며, 상기 더미 스위칭소자들(340-1, 340-2,... 340-(n-1), 340-n)의 게이트 전극은 제어패드(347)와 전기적으로 연결된다.

상기 검사부(350)는 제1 검사패드(353-0), 상기 제1 검사패드(353-0)와 연결된 제1 검사배선(351-O), 제2 검사패드(353-E) 및 상기 제2 검사패드(353-E)와 연결된 제2 검사배선(351-E)을 포함한다. 상기 제1 검사배선(351-O)은 홀수번째 게이 트 배선들(GL1,..GLn-1)과 연결되고 상기 제2 검사배선(351-E)은 짝수번째 게이트 배선들(GL1,..GLn-1)과 연결된다.

상기 표시 패널을 검사하는 방식은 다음과 같다.

상기 제어패드(347)에는 상기 더미 스위칭부(340)를 턴-온시키는 제어신호가 인가되고, 상기 제1 및 제2 검사패드(353-0, 353-E)에는 상기 게이트 배선들(GL1,..GLn)을 활성화시키는 게이트 신호에 대응하는 제1 검사신호가 인가된다. 예컨대, 상기 제1 검사신호는 대략 -7V 내지 25V 이다.

한편, 상기 전압패드(VCOM)에 스토리지 공통전압이 인가되고, 상기 데이터 입력패드들(321-1, 321-2,... 321-(m-1), 321-m)은 제2 검사신호가 인가된다. 상기 제2 검사신호는 핀 접촉 방식을 통해 검사 장치(미도시)의 프로브 핀들과 상기 데이터 입력패드들(321-1, 321-2,... 321-(m-1), 321-m)이 일대일 접촉되어 데이터 배선들(DL1,..,DLm)에 인가된다. 예컨대, 상기 제2 검사신호는 대략 0V 내지 10V 이다.

상기 데이터 입력패드들(321-1, 321-2,... 321-(m-1), 321-m)에 인가되는 제2 검사신호의 전위 레벨을 다르게 하여 그레이 상태의 디스플레이 불량을 검출할 수 있다. 상기와 같은 방식으로 모기판 상에서의 어레이 검사를 할 수 있으며, 또한, 표시 셀 단위로 비쥬얼 검사를 수행할 수 있다.

도 11을 참조하면, 표시 패널은 어레이 기판(400)과, 상기 어레이 기판(400)에 대향하여 결합된 컬러필터 기판(200), 및 상기 어레이 기판(400)과 컬러필터 기 판(200) 사이에 개재된 액정층(미도시)을 포함한다.

상기 어레이 기판(400)은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸는 제1 주변 영역(PA1), 제2 주변 영역(PA2), 제3 주변 영역(PA3) 및 제4 주변 영역(PA4)으로 이루어진다.

상기 표시 영역(DA)에는 복수의 데이터 배선(DL)들과, 복수의 게이트 배선(GL)들 및 복수의 화소부(P)들이 형성된다. 각 화소부(P)에는 스위칭소자(TFT)와, 액정 캐패시터(CLC)의 화소 전극 및 스토리지 캐패시터(CST)의 공통 전극이 형성된다.

상기 제1 주변 영역(PA1)에는 게이트신호 입력부(410)와 제1 정전기 다이오드부(480)가 형성된다.

상기 게이트신호 입력부(410)는 상기 게이트 배선(GL)들의 일단부에 형성된 게이트 입력패드(411)들을 포함한다. 상기 게이트 입력패드(411)들은 게이트 구동칩의 출력단자들과 전기적으로 접촉도어 상기 게이트 구동칩으로부터 출력된 게이트 신호들이 입력된다.

상기 제1 정전기 다이오드부(480)는 상기 게이트 입력패드(411)들과 전기적으로 연결되어, 상기 게이트 입력패드(411)들로부터 유입된 정전기를 분산시킨다. 이에 따라 상기 정전기로부터 상기 화소부(P)들이 파손되는 것을 방지한다.

상기 제2 주변 영역(PA2)에는 데이터신호 입력부(420)와 제2 정전기 다이오드부(430)가 형성된다.

상기 데이터신호 입력부(420)는 상기 데이터 배선(DL)들의 일단부에 형성된 데이터 입력패드(121)들을 포함한다. 상기 데이터 입력패드(421)들은 소스 구동칩의 출력단자들과 전기적으로 접촉되어 상기 소스 구동칩으로부터 출력된 데이터 신호들이 입력된다.

상기 제2 정전기 다이오드부(430)는 상기 데이터 입력패드(421)들과 전기적으로 연결되어, 상기 데이터 입력패드(421)들로부터 유입된 정전기를 분산시킨다. 이에 따라 상기 정전기로부터 상기 화소부(P)들이 파손되는 것을 방지한다.

상기 제3 주변 영역(PA3)에는 상기 게이트 배선(GL)들의 타단부와 연결된 제1 더미 스위칭부(440)와 상기 제1 더미 스위칭부(440)에 전기적으로 연결된 제1 검사부(450)가 형성된다.

상기 제1 더미 스위칭부(440)는 제1 더미 스위칭소자들과 상기 제1 더미 스위칭소자들의 동작을 제어하는 제1 제어신호가 입력되는 제1 제어패드(447)를 포함한다. 상기 제1 검사부(450)는 제1 검사신호가 입력되는 제1 검사패드부(453)와, 상기 제1 더미 스위칭소자들과 연결된 제1 검사배선부(451)를 포함한다. 상기 제1 더미 스위칭부(440) 및 제1 검사부(450)는 도 3 및 도 4에서 설명된 바와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.

상기 제4 주변 영역(PA4)에는 상기 데이터 배선(DL)들의 타단부에 연결된 제2 더미 스위칭부(460)와 상기 제2 더미 스위칭부(460)에 전기적으로 연결된 제2 검사부(470)가 형성된다.

상기 제2 더미 스위칭부(460)는 복수의 제2 더미 스위칭소자(461)들과 상기 제2 더미 스위칭소자(461)들의 동작을 제어하는 제2 제어신호가 입력되는 제2 제어 패드(463)를 포함한다. 상기 제2 검사부(470)는 제2 검사신호가 입력되는 제2 검사패드부(473)와, 상기 제2 더미 스위칭소자들과 연결된 제2 검사배선부(471)를 포함한다. 상기 제2 더미 스위칭부(460) 및 제2 검사부(470)는 도 5 및 도 6에서 설명된 바와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.

상기 표시 패널의 검사 방식은 도 7에 도시된 바와 같이 2G2D 방식으로 이루어지며, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 게이트 신호가 입력되는 게이트신호 입력부와 대향하는 게이트 배선의 일단부에 게이트 배선들에 검사신호를 인가하는 제1 검사부를 형성함으로써 배선 불량 및 화소 불량 등의 검출력을 향상시킬 수 있다.

또한, 데이터 신호가 입력되는 데이터신호 입력부와 대향하는 데이터 배선의 일단부에 데이터 배선들에 검사신호를 인가하는 제2 검사부를 형성함으로서 배선 불량 및 화소 불량 등의 검출력을 향상시킬 수 있다.

또한, 상기 제1 및 제2 검사부를 표시 셀 내에 형성함으로써 어레이 검사 및 비쥬얼 검사를 용이하게 할 수 있다.

이상에서는 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

제1 방향으로 연장된 복수의 게이트 배선들;

제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 복수의 데이터 배선들;

상기 게이트 배선들의 일단부에 형성되어 상기 게이트 배선들에 게이트 신호들을 인가하는 게이트신호 입력부;

상기 게이트 배선들의 타단부에 형성되어 제1 검사신호가 인가되는 제1 검사부; 및

상기 게이트신호 입력부와 상기 제1 검사부 사이에 형성되어, 상기 제1 검사신호를 상기 게이트 배선들에 전달하는 제1 더미 스위칭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제1항에 있어서, 상기 제1 더미 스위칭부는 상기 게이트 배선들과 각각 연결된 복수의 제1 더미 스위칭소자들과, 상기 제1 더미 스위칭소자들에 제어신호를 인가하는 제1 제어패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제2항에 있어서, 각각의 제1 더미 스위칭소자는 상기 제1 제어패드와 연결된 게이트 전극과, 상기 제1 검사부에 연결된 소스 전극 및 상기 게이트 배선에 연결된 드레인 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제2항에 있어서, 상기 제1 검사부는

상기 제1 더미 스위칭소자들을 복수의 그룹들로 묶어 제1 검사신호를 인가하는 복수의 검사배선들과, 상기 복수의 검사배선들에 연결된 복수의 검사패드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제2항에 있어서, 상기 제1 검사부는

홀수번째 제1 더미 스위칭소자들을 묶어 제1 검사신호를 인가하는 제1 검사배선 및 상기 제1 검사배선과 전기적으로 연결된 제1 검사패드와,

짝수번째 제1 더미 스위칭소자들을 묶어 상기 제1 검사신호를 인가하는 제2 검사배선 및 상기 제2 검사배선과 전기적으로 연결된 제2 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제1항에 있어서, 상기 게이트신호 입력부는 게이트 구동칩의 출력단자와 전기적으로 연결되는 게이트 입력패드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제1항에 있어서, 상기 게이트신호 입력부는 복수의 스테이지들이 종속적으로 연결되어 게이트 신호들을 출력하는 쉬프트레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제1항에 있어서, 상기 데이터 배선들의 일단부에 형성되어 상기 데이터 배선 들에 데이터 신호들을 인가하는 데이터신호 입력부;

상기 데이터 배선들의 타단부에 형성되어 상기 데이터 배선들에 제2 검사신호들을 출력하는 제2 검사부; 및

상기 데이터신호 입력부와 상기 제2 검사부 사이에 형성되어, 상기 제2 검사신호를 상기 데이터 배선들에 전달하는 제2 더미 스위칭부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제8항에 있어서, 상기 제2 더미 스위칭부는 상기 데이터 배선들과 각각 연결된 복수의 제2 더미 스위칭소자들과, 상기 제2 더미 스위칭소자들에 제어신호를 인가하는 제2 제어패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제9항에 있어서, 각각의 제2 더미 스위칭소자는 상기 제2 제어패드와 연결된 게이트 전극과, 상기 제2 검사부에 연결된 소스 전극 및 상기 게이트 배선에 연결된 드레인 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제9항에 있어서, 상기 제2 검사부는

상기 제2 더미 스위칭소자들을 복수의 그룹들로 묶어 제2 검사신호를 인가하는 복수의 검사배선들과, 상기 복수의 검사배선들에 연결된 복수의 검사패드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제9항에 있어서, 상기 제2 검사부는

홀수번째 제2 더미 스위칭소자들을 묶어 제2 검사신호를 인가하는 제3 검사배선 및 상기 제3 검사배선과 전기적으로 연결된 제3 검사패드와,

짝수번째 제2 더미 스위칭소자들을 묶어 상기 제2 검사신호를 인가하는 제4 검사배선 및 상기 제4 검사배선과 전기적으로 연결된 제4 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
제8항에 있어서, 상기 데이터신호 입력부는 소스 구동칩의 출력단자와 전기적으로 연결되는 데이터 입력패드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
데이터 배선들의 일단부에 형성되어 상기 데이터 배선들에 데이터 신호들을 인가하는 데이터 입력패드들과, 상기 게이트 배선들의 일단부에 형성되어 상기 게이트 배선들에 게이트 신호들을 인가하는 게이트신호 입력부와, 상기 게이트 배선들의 타단부에 형성된 제1 검사부 및 상기 게이트신호 입력부와 상기 제1 검사부 사이에 형성된 제1 더미 스위칭부를 포함하는 표시 기판의 검사 방법에서,

상기 제1 더미 스위칭부를 턴-온시키는 제1 제어신호와, 상기 게이트 배선들을 활성화시키는 제1 검사신호를 상기 제1 더미 스위칭부 및 제1 검사부에 각각 인가하는 단계; 및

상기 데이터 입력패드들에 제2 검사신호를 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.
제14항에 있어서, 상기 게이트신호 입력부는 복수의 스테이지들이 종속적으로 연결되어 게이트 신호들을 출력하는 쉬프트레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.
제15항에 있어서, 상기 제1 더미 스위칭부는 상기 게이트 배선들과 각각 연결된 복수의 제1 더미 스위칭소자들을 포함하며,

상기 제1 검사부는

홀수번째 제1 더미 스위칭소자들에 상기 제1 검사신호를 인가하는 제1 검사배선 및 상기 제1 검사배선과 연결된 제1 검사패드와,

짝수번째 제1 더미 스위칭소자들에 상기 제1 검사신호를 인가하는 제2 검사배선 및 상기 제2 검사배선과 연결된 제2 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.
제14항에 있어서, 상기 표시 기판은 상기 데이터 입력패드들에 연결된 제2 더미 스위칭부와, 상기 제2 더미 스위칭부에 연결된 제2 검사부를 더 포함하며,

상기 제2 검사신호를 인가하는 단계는,

상기 제2 더미 스위칭부를 턴-온시키는 제2 제어신호와, 상기 데이터 배선들에 인가되는 제2 검사신호를 상기 제2 더미 스위칭부 및 제2 검사부에 각각 인가하는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.
제17항에 있어서, 상기 제2 더미 스위칭부는 상기 데이터 배선들과 각각 연결된 복수의 제2 더미 스위칭소자들을 포함하며,

상기 제2 검사부는

홀수번째 제2 더미 스위칭소자들에 상기 제2 검사신호를 인가하는 제3 검사배선 및 상기 제3 검사배선에 연결된 제3 검사패드와,

짝수번째 제2 더미 스위칭소자들에 상기 제2 검사신호를 인가하는 제4 검사배선 및 상기 제4 검사배선과 연결된 제4 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.
제18항에 있어서, 상기 제3 검사패드와 제4 검사패드에 인가되는 상기 제2 검사신호는 서로 다른 전위 레벨을 갖는 것을 특징으로 하는 표시 기판의 검사 방법.