CN106782250B - 一种显示面板、其检测方法及显示装置 - Google Patents
一种显示面板、其检测方法及显示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106782250B CN106782250B CN201710032478.6A CN201710032478A CN106782250B CN 106782250 B CN106782250 B CN 106782250B CN 201710032478 A CN201710032478 A CN 201710032478A CN 106782250 B CN106782250 B CN 106782250B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- display panel
- test
- control
- control module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 137
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 101100328957 Caenorhabditis elegans clk-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100113692 Caenorhabditis elegans clk-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150085102 Clk3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
本发明公开了一种显示面板、其检测方法及显示装置，由于包括至少一个测试端子，且每个测试端子至少与两条信号线电性连接，其中，测试端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中，驱动栅极驱动电路工作，使显示面板保持一直点亮状态，再通过分析显示面板的画面以检测筛查出不良位置。因此可以通过较少的测试端子实现显示面板的检测过程，从而可以减小测试端子占用显示面板的空间，从而适用于小尺寸产品。当然由于大尺寸产品的显示面板的空间较大，因此也适用于大尺寸的产品。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板、其检测方法及显示装置。
背景技术
随着显示技术的飞速发展，显示面板越来越向着高集成度和低成本的方向发展。其中，阵列基板行驱动(Gate Driver on Array，GOA)技术将薄膜晶体管(Thin FilmTransistor，TFT)栅极开关电路集成在显示面板的阵列基板上以形成对显示面板的扫描驱动。在上述显示面板的工艺制备流程中，在将显示面板母板切割后会形成多个显示面板，为了防止显示面板出货不良以及防止贵重元件的损耗，在组装驱动芯片IC等元件之前需要对显示面板进行检测。一般待检测的显示面板至少包括：栅极驱动电路、多条信号线以及与每条信号线分别连接的测试端子。其中，栅极驱动电路，如图1所示，一般包括级联的N个级联的移位寄存器单元GOA(n)，其中，N为大于或等于1的整数，n为大于或等于1且小于或等于N的整数；第一级移位寄存器单元GOA(1)的输入信号端Input用于接收帧触发信号STV；除第一级移位寄存器单元GOA(1)之外，其余各级移位寄存器单元GOA(n)的输入信号端Input分别与其连接的上一级移位寄存器单元GOA(n-1)的驱动信号输出端Output_n-1相连，用于接收上一级移位寄存器单元GOA(n-1)的驱动信号输出端Output_n-1输出的扫描信号Gate_n-1；除最后一级移位寄存器单元GOA(N)之外，其余各级移位寄存器单元GOA(n)的复位信号端Reset分别与其连接的下一级移位寄存器单元GOA(n+1)的驱动信号输出端Output_n+1相连，用于接收下一级移位寄存器单元GOA(n+1)的驱动信号输出端Output_n+1输出的扫描信号Gate_n+1；并且各级移位寄存器单元GOA(n)的时钟信号端Clk用于接收时钟信号CLK1、CLK2、CLK3、CLK4中对应的时钟信号，高电位直流电压信号端Vgh用于接收高电位直流电压信号VGH，低电位直流电压信号端Vgl用于接收低电位直流电压信号VGL，从而使栅极驱动电路依次向显示面板上的各行栅线输入扫描信号。
目前，在上述显示面板的检测过程中，当对栅极驱动电路进行检测时，一般采用治具探针与显示面板上的各测试端子连接以向栅极驱动电路输入所需的信号，使栅极驱动电路中的各级移位寄存器单元输出扫描信号，已将显示面板点亮，并通过分析显示面板的画面筛查出不良位置。一般为了不造成信号干扰，每条信号线分别对应一个测试端子。然而由于栅极驱动电路在工作时需要输入的信号较多，因此导致需要设计多个测试端子，并且为了保证治具探针与测试端子能够良好接触，测试端子不能设置太小，一般设为0.8mm×0.8mm，从而造成测试端子占用显示面板的空间较大，进而应用于智能穿戴等小尺寸产品时可能会受到限制，导致不适用于小尺寸产品。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板、其检测方法及显示装置，用以通过较少的测试端子即可实现对显示面板中栅极驱动电路的检测。
因此，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：栅极驱动电路以及多条用于向所述栅极驱动电路输入不同控制信号的信号线，还包括：至少一个测试端子，且各所述测试端子至少与两条所述信号线电性连接；
所述测试端子用于仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，还包括：导通控制信号输入端子以及与各所述信号线一一对应的控制模块；其中，各所述控制模块的输入端与对应的信号线连接的测试端子相连，控制端与所述导通控制信号输入端子相连，输出端分别与对应的信号线相连；
所述导通控制信号输入端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的信号输入各所述控制模块；
所述控制模块用于仅在测试时在所述导通控制信号输入端子的信号的控制下导通所述控制模块对应的信号线与所述对应的信号线连接的测试端子。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述控制模块包括：开关晶体管；其中，
所述开关晶体管的栅极为所述控制模块的控制端，源极为所述控制模块的输入端，漏极为所述控制模块的输出端。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所有所述开关晶体管为N型开关晶体管，所述导通控制信号输入端子接收到的信号为具有高电位的直流电压信号；或者，
所有所述开关晶体管为P型开关晶体管，所述导通控制信号输入端子接收到的信号为具有低电位的直流电压信号。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述导通控制信号输入端子与所有所述测试端子中的一个测试端子为同一个端子。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，还包括：栅极驱动芯片，与连接于各所述信号线与所述栅极驱动芯片之间的第一连接线；其中，
所述栅极驱动芯片用于在各所述信号线与其连接的测试端子断开后在显示时分别向各所述信号线输入对应的控制信号。
优选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，在所述显示面板还包括：导通控制信号输入端子以及与各所述信号线一一对应的控制模块时，所述显示面板还包括：连接于所述栅极驱动芯片与各所述控制模块的控制端之间的第二连接线；其中，
所述栅极驱动芯片还用于在显示时向各所述控制模块输入截止控制信号；
各所述控制模块还用于在显示时在所述截止控制信号的控制下断开对应的信号线以及与所述对应的信号线连接的测试端子。
相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述任一种显示面板。
相应地，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种显示面板的检测方法，包括：将各外部治具探针与对应的测试端子导通，向所述对应的测试端子输入测试信号。
优选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在向所述对应的测试端子输入测试信号之后，还包括：
将各所述测试端子与各所述测试端子连接的信号线断路；
分别通过各所述第一连接线向断路后的信号线输入对应的控制信号。
本发明有益效果如下：
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置，由于包括至少一个测试端子，且每个测试端子至少与两条信号线电性连接，其中，测试端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中，驱动栅极驱动电路工作，使显示面板保持一直点亮状态，再通过分析显示面板的画面以检测筛查出不良位置。因此可以通过较少的测试端子实现显示面板的检测过程，从而可以减小测试端子占用显示面板的空间，从而适用于小尺寸产品。当然由于大尺寸产品的显示面板的空间较大，因此也适用于大尺寸的产品。
附图说明
图1为现有技术中的栅极驱动电路的结构示意图；
图2a为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之一；
图2b为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之二；
图3a为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之三；
图3b为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之四；
图3c为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之五；
图3d为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之六；
图3e为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之七；
图3f为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之八；
图4a为图3a所示的显示面板的具体结构示意图之一；
图4b为图3b所示的显示面板的具体结构示意图；
图4c为图3c所示的显示面板的具体结构示意图之一；
图4d为图3d所示的显示面板的具体结构示意图；
图5a为图3a所示的显示面板的具体结构示意图之二；
图5b为图3c所示的显示面板的具体结构示意图之二；
图6为本发明实施例提供的显示面板的检测方法的流程图；
图7为图4c所示显示面板的在检测过程中的工作示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
附图中各元件的形状、大小等均不反映显示面板的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。
本发明实施例提供了一种显示面板，如图2a和图2b(图2a以包括一个测试端子且测试端子与所有的信号线连接为例；图2b以包括两个测试端子且其中一个测试端子与三条信号线相连，另一个测试端子与四条信号线连接为例)所示，包括：栅极驱动电路100以及多条用于向栅极驱动电路100输入不同控制信号的信号线200，还包括：至少一个测试端子300，且各测试端子300至少与两条信号线200电性连接；
测试端子300用于仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线200中。
本发明实施例提供的上述显示面板，由于包括至少一个测试端子，且每个测试端子至少与两条信号线电性连接，其中，测试端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中，驱动栅极驱动电路工作，使显示面板保持一直点亮状态，再通过分析显示面板的画面以检测筛查出不良位置。因此可以通过较少的测试端子实现显示面板的检测过程，从而可以减小测试端子占用显示面板的空间，从而适用于小尺寸产品。当然由于大尺寸产品的显示面板的空间较大，因此也适用于大尺寸的产品。
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，在栅极驱动电路输出的扫描信号的有效脉冲信号为高电位时，测试端子接收到的测试信号为具有高电位的直流电压信号。或者，在栅极驱动电路输出的扫描信号的有效脉冲信号为低电位时，测试端子接收到的测试信号为具有低电位的直流电压信号。
需要说明的是，在本发明实施例提供的上述显示面板中，栅极驱动电路与现有技术相同，因此当栅极驱动电路中的各移位寄存器的各信号端接收的信号均为高电位时，在显示一帧的时间内，各移位寄存器输出的扫描信号的电位为高电位。或者，当当栅极驱动电路中的各移位寄存器的各信号端接收的信号均为低电位时，在显示一帧的时间内，各移位寄存器输出的扫描信号的电位为低电位。
在具体实施时，为了使测试端子可以重复被利用，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图3a和图3b所示，还包括：导通控制信号输入端子400以及与各信号线200一一对应的控制模块500；其中，各控制模块500的输入端与对应的信号线200连接的测试端子300相连，控制端与导通控制信号输入端子400相连，输出端分别与对应的信号线200相连；
导通控制信号输入端子400仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的信号输入各控制模块500；
控制模块500用于仅在测试时在导通控制信号输入端子400的信号的控制下导通控制模块500对应的信号线200与对应的信号线200连接的测试端子300。
为了进一步减小测试端子占用显示面板中的空间，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，导通控制信号输入端子与所有测试端子中的一个测试端子为同一个端子。例如，如图3c所示，所有的控制模块500的控制端均与同一个对应所有信号线200的测试端子300相连。或者，如图3d所示，所有的控制模块500的控制端均与同一个对应3条信号线200的测试端子300相连。这样将导通控制信号输入端子与测试端子中的一个测试端子共用，可以不用额外的设置导通控制信号输入端子，从而降低显示面板的占用面积，并且还可以简化制备工艺，降低生产成本。
一般对显示面板进行检测时，通过治具探针与测试端子连接将测试信号输入栅极驱动电路点亮显示面板。在显示面板检测确认为良品时，需要进行栅极驱动芯片等元件的组装，向栅极驱动电路提供所需的控制信号，以实现显示面板的显示功能。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图3a至图5b所示，还包括：栅极驱动芯片IC，与连接于各信号线200与栅极驱动芯片IC之间的第一连接线600；其中，
栅极驱动芯片IC用于在各信号线200与其连接的测试端子300断开后在显示时分别向各信号线200输入对应的控制信号。在实际应用中，栅极驱动芯片IC的具体结构以及向各信号线200输入对应的控制信号的具体实施方式与现有技术相同，为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做详述，也不应作为对本发明的限制。
具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图3a和图3b所示，在显示面板还包括：导通控制信号输入端子400以及与各信号线200一一对应的控制模块500时，显示面板还包括：连接于栅极驱动芯片IC与各控制模块500的控制端之间的第二连接线700；其中，
栅极驱动芯片IC还用于在显示时向各控制模块500输入截止控制信号；
各控制模块500还用于在显示时在截止控制信号的控制下断开对应的信号线200以及与对应的信号线200连接的测试端子300。这样在显示面板与栅极驱动芯片IC组装完成之后，可以将IC功能停用以采用测试端子进一步检测显示面板与栅极驱动芯片IC组装的过程中是否对栅极驱动电路造成不良影响，从而可以重复利用测试端子。
进一步地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，在显示面板还包括：导通控制信号输入端子400以及与各信号线200一一对应的控制模块500且导通控制信号输入端子与所有测试端子300中的一个测试端子为同一个端子时，如图3c和图3d所示，显示面板还包括：连接于栅极驱动芯片IC与各控制模块500的控制端之间的第二连接线700；其中，
栅极驱动芯片IC还用于在显示时向各控制模块500输入截止控制信号；
各控制模块500还用于在显示时在截止控制信号的控制下断开对应的信号线200以及与对应的信号线200连接的测试端子300。
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图4a至图5b所示，控制模块500具体可以包括：开关晶体管M0；其中，
开关晶体管M0的栅极为控制模块500的控制端，源极为控制模块500的输入端，漏极为控制模块500的输出端。在具体实施中，这些开关晶体管的源极和漏极根据开关晶体管类型以及各端的信号的不同，其功能可以互换，在此不做具体区分。
具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图4a和图4b所示，所有开关晶体管M0可以为N型开关晶体管，导通控制信号输入端子400接收到的信号为具有高电位的直流电压信号，并且截止控制信号为具有低电位的电压控制信号。
或者，如图5a所示，所有开关晶体管M0可以为P型开关晶体管，导通控制信号输入端子400接收到的信号为具有低电位的直流电压信号，并且截止控制信号为具有高电位的电压控制信号，在此不作限定。
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，在导通控制信号输入端子与所有测试端子300中的一个测试端子为同一个端子时，如图4c和图4d所示，所有开关晶体管M0可以为N型开关晶体管，测试端子300接收到的信号为具有高电位的直流电压信号，并且截止控制信号为具有低电位的电压控制信号。
或者，如图5b所示，所有开关晶体管M0可以为P型开关晶体管，测试端子300接收到的信号为具有低电位的直流电压信号，并且截止控制信号为具有高电位的电压控制信号，在此不作限定。
具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，在组装栅极驱动芯片等元件之前，可以采用激光切割直接将信号线与其连接的测试端子断路，如图3e和图3f所示，显示面板还包括：在检测完成之后，对各信号线200与其连接的测试端子300进行激光切割形成断路的切割区域800。这样可能导致不能重复利用测试端子，但是可以简化制备工艺。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种显示面板的检测方法，如图6所示，包括：
S601、将各外部治具探针与对应的测试端子导通，向对应的测试端子输入测试信号。
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在向对应的测试端子输入测试信号之后，还包括：
将各测试端子与各测试端子连接的信号线断路；
分别通过各第一连接线向断路后的信号线输入对应的控制信号。
下面以图4c所示的显示面板为例对本发明提供的显示面板的检测方法进行说明。在图4c所示的移位寄存器中所有开关晶体管M0均为N型开关晶体管，检测方法包括如下步骤：
(1)将各外部治具探针与测试端子300导通，向测试端子300输入测试信号。
具体地，如图7所示，在显示面板组装栅极驱动芯片IC之前或者在显示面板组装栅极驱动芯片IC之后且栅极驱动芯片IC功能关闭。将外部治具探针Probe与测试端子300导通，向测试端子300输入具有高电位的直流电压信号的测试信号。由于测试端子300上的测试信号为具有高电位的直流电压信号，因此所有开关晶体管M0均导通，从而使测试端子300以及与其连接的信号线200导通，以将测试端子300上的测试信号通过连接的信号线200输入栅极驱动电路100中，使栅极驱动电路100输出相同的驱动信号Gate_n，并且，各驱动信号Gate_n的有效脉冲信号的电位均为高电位，从而可以点亮显示面板，并且使显示面板一直处于点亮状态，以通过分析显示面板的画面筛查出不良位置。
(2)将各测试端子与各测试端子连接的信号线断路。
具体地，在显示面板组装栅极驱动芯片IC之后且栅极驱动芯片IC功能开启。栅极驱动芯片IC向各开关晶体管M0输入具有低电位的截止控制信号，使得各开关晶体管M0均截止，从而使得各信号线200以及与其连接的测试端子300断路。这样可以避免测试端子300对其连接的各信号线200的信号干扰。
(3)分别通过各第一连接线600向断路后的信号线200输入对应的控制信号。
具体地，在显示面板组装栅极驱动芯片IC之后且栅极驱动芯片IC功能开启。栅极驱动芯片IC分别通过各第一连接线600向断路后的信号线200输入对应的控制信号。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述任一种显示面板。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置，由于包括至少一个测试端子，且每个测试端子至少与两条信号线电性连接，其中，测试端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中，驱动栅极驱动电路工作，使显示面板保持一直点亮状态，再通过分析显示面板的画面以检测筛查出不良位置。因此可以通过较少的测试端子实现显示面板的检测过程，从而可以减小测试端子占用显示面板的空间，从而适用于小尺寸产品。当然由于大尺寸产品的显示面板的空间较大，因此也适用于大尺寸的产品。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种显示面板，包括：栅极驱动电路以及多条用于向所述栅极驱动电路输入不同控制信号的信号线，其特征在于，还包括：至少一个测试端子，且各所述测试端子至少与两条所述信号线电性连接；
所述测试端子用于仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的测试信号输入连接的信号线中；
所述测试信号包括具有高电位的直流电压信号；或，
所述测试信号包括具有低电位的直流电压信号；
还包括：导通控制信号输入端子以及与各所述信号线一一对应的控制模块；其中，各所述控制模块的输入端与对应的信号线连接的测试端子相连，控制端与所述导通控制信号输入端子相连，输出端分别与对应的信号线相连；
所述导通控制信号输入端子仅在测试时与对应的外部治具探针连接，将接收到的信号输入各所述控制模块；
所述控制模块用于仅在测试时在所述导通控制信号输入端子的信号的控制下导通所述控制模块对应的信号线与所述对应的信号线连接的测试端子；
所述导通控制信号输入端子与所有所述测试端子中的一个测试端子为同一个端子。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述控制模块包括：开关晶体管；其中，
所述开关晶体管的栅极为所述控制模块的控制端，源极为所述控制模块的输入端，漏极为所述控制模块的输出端。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所有所述开关晶体管为N型开关晶体管，所述导通控制信号输入端子接收到的信号为具有高电位的直流电压信号；或者，
所有所述开关晶体管为P型开关晶体管，所述导通控制信号输入端子接收到的信号为具有低电位的直流电压信号。
4.如权利要求1-3任一项所述的显示面板，其特征在于，还包括：栅极驱动芯片，与连接于各所述信号线与所述栅极驱动芯片之间的第一连接线；其中，
所述栅极驱动芯片用于在各所述信号线与其连接的测试端子断开后在显示时分别向各所述信号线输入对应的控制信号。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，在所述显示面板还包括：导通控制信号输入端子以及与各所述信号线一一对应的控制模块时，所述显示面板还包括：连接于所述栅极驱动芯片与各所述控制模块的控制端之间的第二连接线；其中，
所述栅极驱动芯片还用于在显示时向各所述控制模块输入截止控制信号；
各所述控制模块还用于在显示时在所述截止控制信号的控制下断开对应的信号线以及与所述对应的信号线连接的测试端子。
6.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的显示面板。
7.一种如权利要求1-5任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，包括：将各外部治具探针与对应的测试端子导通，向所述对应的测试端子输入测试信号。
8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，在向所述对应的测试端子输入测试信号之后，还包括：
将各所述测试端子与各所述测试端子连接的信号线断路；
分别通过各第一连接线向断路后的信号线输入对应的控制信号。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710032478.6A CN106782250B (zh) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710032478.6A CN106782250B (zh) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106782250A CN106782250A (zh) | 2017-05-31 |
| CN106782250B true CN106782250B (zh) | 2020-11-27 |
Family
ID=58945966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710032478.6A Expired - Fee Related CN106782250B (zh) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106782250B (zh) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111261055B (zh) * | 2020-01-21 | 2022-02-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示屏及oled显示装置 |
| CN112885275B (zh) * | 2021-01-15 | 2022-09-23 | 云谷（固安）科技有限公司 | 显示面板的检测电路及方法 |
| CN113568199B (zh) * | 2021-07-12 | 2024-07-23 | 信利(仁寿)高端显示科技有限公司 | 一种goa面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法 |
| CN113487970A (zh) * | 2021-07-21 | 2021-10-08 | 武汉华星光电技术有限公司 | 显示面板及其裂纹检测方法、移动终端 |
| CN114333677A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-12 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板、驱动方法和显示装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1982952B (zh) * | 2005-11-29 | 2010-12-15 | 三星电子株式会社 | 显示基板和测试该显示基板的方法 |
| CN102629440A (zh) * | 2011-05-06 | 2012-08-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示器面板测试方法及装置 |
| CN105575301A (zh) * | 2015-12-18 | 2016-05-11 | 上海天马微电子有限公司 | 阵列基板、信号线检测方法、显示面板及显示装置 |
| CN106066560A (zh) * | 2016-08-17 | 2016-11-02 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板的测试电路及液晶显示器 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100460934C (zh) * | 2007-01-11 | 2009-02-11 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示器面板的测试方法 |
| CN104916242B (zh) * | 2014-03-14 | 2018-11-13 | 群创光电股份有限公司 | 显示装置及其测试垫 |
| TWI537903B (zh) * | 2014-12-12 | 2016-06-11 | 友達光電股份有限公司 | 顯示面板以及顯示面板的測試方法 |
| CN106023867B (zh) * | 2016-07-29 | 2019-12-31 | 上海中航光电子有限公司 | 一种阵列基板和显示面板 |
| CN106157858B (zh) * | 2016-08-31 | 2020-02-07 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法 |
-
2017
- 2017-01-16 CN CN201710032478.6A patent/CN106782250B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1982952B (zh) * | 2005-11-29 | 2010-12-15 | 三星电子株式会社 | 显示基板和测试该显示基板的方法 |
| CN102629440A (zh) * | 2011-05-06 | 2012-08-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示器面板测试方法及装置 |
| CN105575301A (zh) * | 2015-12-18 | 2016-05-11 | 上海天马微电子有限公司 | 阵列基板、信号线检测方法、显示面板及显示装置 |
| CN106066560A (zh) * | 2016-08-17 | 2016-11-02 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板的测试电路及液晶显示器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN106782250A (zh) | 2017-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106782250B (zh) | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 | |
| US10241145B2 (en) | Gate driving circuit and method for detecting same, array substrate and display apparatus | |
| US11087655B2 (en) | Gate driving signal detection circuit, detection method, and display device | |
| CN107424577B (zh) | 一种显示驱动电路、显示装置及其驱动方法 | |
| CN107068033B (zh) | 移位寄存器单元、栅极驱动电路、测试方法及显示装置 | |
| CN105575301B (zh) | 阵列基板的信号线检测方法 | |
| US10152939B2 (en) | Gate driving circuit, method for driving the same, and display device | |
| CN108877632B (zh) | 一种栅极驱动电路、阵列基板、显示面板及显示装置 | |
| WO2017161720A1 (zh) | 移位寄存器单元及其驱动方法和驱动装置、栅极驱动电路 | |
| CN105632383B (zh) | 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置 | |
| CN107093414B (zh) | 一种移位寄存器、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置 | |
| CN111081180B (zh) | 一种阵列基板、其检测方法及显示装置 | |
| US12062304B2 (en) | Array substrate and testing method thereof | |
| US20200394960A1 (en) | Shift register and driving method thereof, gate driving circuit, array substrate, and display device | |
| US9298055B2 (en) | Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device | |
| CN107038985B (zh) | 用于显示面板的驱动模块、显示面板及显示装置 | |
| CN106782399A (zh) | 一种移位寄存器、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置 | |
| US11200819B2 (en) | Display substrate and manufacturing method thereof, display panel, display motherboard and testing method thereof, and display device | |
| US20200320947A1 (en) | Gate driver circuit based on igzo manufacturing process and liquid crystal display panel | |
| US9311878B2 (en) | Display panel and scanning circuit | |
| CN111292660B (zh) | Oled驱动背板、其检测方法及显示装置 | |
| JP4624109B2 (ja) | 半導体装置の検査回路 | |
| US11250784B2 (en) | Shift register, driving method thereof, gate drive circuit, array substrate and display device | |
| CN111402778A (zh) | 一种移位寄存器、其驱动方法、驱动电路及显示装置 | |
| CN108648685B (zh) | 移位寄存器单元及其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20201127 Termination date: 20220116 |