KR20200043580A - 표시 장치 - Google Patents

표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20200043580A
KR20200043580A KR1020180123908A KR20180123908A KR20200043580A KR 20200043580 A KR20200043580 A KR 20200043580A KR 1020180123908 A KR1020180123908 A KR 1020180123908A KR 20180123908 A KR20180123908 A KR 20180123908A KR 20200043580 A KR20200043580 A KR 20200043580A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display area
resistance
display device
area
inspection
Prior art date
Application number
KR1020180123908A
Other languages
English (en)
Inventor
조연제
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020180123908A priority Critical patent/KR20200043580A/ko
Priority to US16/520,168 priority patent/US11379172B2/en
Priority to CN201910981705.9A priority patent/CN111063707A/zh
Publication of KR20200043580A publication Critical patent/KR20200043580A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/14—Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units
    • G06F3/1423—Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units controlling a plurality of local displays, e.g. CRT and flat panel display
    • G06F3/1431—Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units controlling a plurality of local displays, e.g. CRT and flat panel display using a single graphics controller
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L28/00—Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L28/20—Resistors
    • H01L27/32—
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • H01L51/0031—
    • H01L51/52—
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00—Organic light-emitting devices
    • H10K50/80—Constructional details
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/04—Display protection
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/06—Handling electromagnetic interferences [EMI], covering emitted as well as received electromagnetic radiation
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0254—High voltage adaptations; Electrical insulation details; Overvoltage or electrostatic discharge protection ; Arrangements for regulating voltages or for using plural voltages
    • H05K1/0257—Overvoltage protection
    • H05K1/0259—Electrostatic discharge [ESD] protection
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0277—Bendability or stretchability details
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007—Types of components
    • H05K2201/10128—Display

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드, 상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 개시는 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 정전기 유입 방지용 저항이 위치하는 표시 장치에 관한 것이다.
표시 장치는 발광 방식에 따라 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD), 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display, OLED display), 플라즈마 표시 장치(plasma displaypanel, PDP) 및 전기 영동 표시 장치(electrophoretic display) 등으로 분류된다.
유기 발광 표시 장치의 화소는 두 개의 전극과 그 사이에 위치하는 유기 발광층을 포함하며, 두 개의 전극 중 하나인 캐소드로부터 주입된 전자(electron)와 애노드로부터 주입된 정공(hole)이 유기 발광층에서 결합하여 여기자(exciton)를 형성하고, 여기자가 에너지를 방출하면서 발광한다.
표시 장치의 외부에서 정전기가 유입될 수 있으며, 이러한 정전기가 표시 패널로 유입될 경우 표시 소자가 손상될 수 있다.
실시예들은 정전기 유입으로 인한 표시 장치의 손상을 방지한 표시 장치에 관한 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드, 상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치한다.
상기 저항은 상기 복수개의 검사용 패드 모두에 위치할 수 있다.
상기 저항은 다결정 실리콘을 포함할 수 있다.
상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 가질 수 있다.
상기 비표시 영역에 위치하는 가요성 인쇄 회로 기판을 더 포함하고, 상기 검사용 패드는 상기 가요성 인쇄 회로 기판을 사이에 두고 양쪽에 위치할 수 있다.
본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드를 포함하고, 상기 검사용 패드는 서로 이격된 복수의 가로부 및 상기 가로부를 연결하는 세로부를 포함하고, 상기 세로부는 상기 가로부의 일 가장자리에 번갈아 위치한다.
상기 검사용 패드의 복수의 가로부 및 세로부는 하나의 선으로 연결되어 있으며, 직사각형의 평면 형상을 이룰 수 있다.
상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치할 수 있다.
상기 저항은 다결정 실리콘을 포함할 수 있다.
상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 가질 수 있다.
본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드를 포함하고, 상기 검사용 패드는 통판 영역 및 미세선 영역을 포함하고, 상기 미세선 영역은 서로 이격된 복수의 가로부 및 상기 가로부를 연결하는 세로부를 포함하고, 상기 세로부는 상기 가로부의 일 가장자리에 번갈아 위치한다.
상기 통판 영역은 상기 미세선 영역과 상기 표시 영역 사이에 위치할 수 있다.
상기 통판 영역에 신호 인가용 프로브가 접촉할 수 있다.
상기 미세선 영역의 일 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리 및 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치할 수 있다.
상기 저항은 다결정 실리콘을 포함할 수 있다.
상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 가질 수 있다.
실시예들에 따르면, 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 저항이 위치함으로써 외부 정전기 유입에 의한 표시 장치의 손상을 방지한 표시 장치를 제공한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 간략하게 도시한 것이다.
도 2는 도 1에서 A 영역으로 도시된 부분을 따로 도시한 것이다.
도 3은 표시 장치를 도시한 것이다.
도 4는 본 발명 비교예에 따른 표시 장치에서 표시 장치의 검사용 패드를 도시한 것이다.
도 5는 본 발명 비교예에 따른 표시 장치의 검사용 패드를 도시한 것이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사용 패드를 도시한 것이다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다.
도 8은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다.
도 9는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다.
도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을나타낸 것이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이다.
도 12는 도 11의 표시 장치를 XII- XII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 단면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.
또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한, 기준이 되는 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 하는 것은 기준이 되는 부분의 위 또는 아래에 위치하는 것이고, 반드시 중력 반대 방향 쪽으로 "위에" 또는 "상에" 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
또한, 명세서 전체에서, "평면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 위에서 보았을 때를 의미하며, "단면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 수직으로 자른 단면을 옆에서 보았을 때를 의미한다.
그러면 이하에서 도면을 참고로 하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 간략하게 도시한 것이다. 도 2는 도 1에서 A 영역으로 도시된 부분을 따로 도시한 것이다. 도 1 및 도 2를 참고로 하면 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)을 포함하고, 비표시 영역(NDA)에 위치하는 복수개의 검사용 패드(700) 및 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항(500)을 포함한다.
저항(500)은 검사용 패드(700)의 가장자리, 즉 비표시 영역(NDA)의 가장자리에 위치하며 정전기가 표시 영역(DA)내로 유입되는 것을 막는다. 본 실시예에서, 저항(500)은 비표시 영역(NDA)의 최외곽 가장자리에 인접하여 위치한다. 따라서 검사용 패드(700)에 프로브 등으로 인가된 검사용 신호는 저항(500)을 통과하지 않고 표시 영역(DA)으로 전달된다. 그러나 외부에서 유입되는 정전기는 비표시 영역(NDA)의 가장자리를 통해 유입되는바. 저항(500)에 의해 차단된다.
저항(500)은 다결정 실리콘으로 이루어질 수 있다. 그러나 이는 일 예시일 뿐이며, 저항(500)의 구체적인 물질은 이에 한정되는 것은 아니다. 저항(500)은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 가질 수 있다.
검사용 패드(700)는 표시 영역(DA)의 점등 검사를 위한 패드로서, 표시 장치가 제조된 후 검사용 패드(700)에 신호를 인가하여 표시 장치의 정상 동작 여부를 확인한다. 이러한 검사용 패드(700)는 표시 장치의 모듈 제작 후에도 노출되어 있다. 도 1에서는 편의상 복수개의 검사용 패드(700) 중 일부만 도시하였으나, 표시 장치에서 검사용 패드(700)는 20개 이상일 수 있다. 일례로, 검사용 패드(700)를 통해 다수의 CLK 신호, Vint, VGL, VGH, Gate 신호, Data 신호 등이 전달되며 각각의 신호는 각각의 패드를 통해 전달될 수 있다.
도 1을 참고로 하면, 검사용 패드(700)는 FPCB 패드부(1000)를 사이에 두고 양쪽에 위치할 수 있다. 그러나 이는 일 예시일 뿐이며, 검사용 패드(700)의 위치는 도 1의 기재에 한정되지 않는다.
도 1에서, FPCB 패드부(1000)는 인쇄 회로 기판 또는 COP와 연결될 수 있다. 즉 도 1에서 FPCB 패드부(1000)는 인쇄 회로 기판 또는 COP와 접촉, 연결되는 영역이다. 인쇄 회로 기판은 게이트 구동부 또는 데이터 구동부 등을 포함할 수 있다.
검사용 패드(700)는 표시 장치의 제조 과정 중 FPCB가 부착되기 전, cell 단계에서 점등 검사를 하기 위한 패드이다. 따라서 도 1에 도시된 바와 같이 검사용 패드(700)는 FPCB와 연결되어 있지 않으며. 표시 영역(DA)과 연결되어 있다.
도 1을 참고로 하면, 표시 영역(DA)의 데이터선, 게이트선 등은 각각 하나의 배선으로 연결되어, 비표시 영역(NDA)의 검사용 패드(700)와 연결되어 있다. 즉, 표시 영역(DA)의 게이트선은 검사용 패드(700) 중 게이트선 검사용 패드와, 표시 영역(DA)의 데이터선은 검사용 패드(700) 중 데이트선 검사용 패드와 연결되어 있다.
따라서, 검사용 패드(700)는 표시 장치의 제조 과정 중 FPCB가 부착되기 전에, 표시 장치의 동작을 확인할수 있다.
도 3는 본 발명 비교예에 따른 표시 장치에서 표시 장치의 검사용 패드(800)를 도시한 것이다. 도 3을 참고로 하면, 외부로 노출된 검사용 패드(800)의 가장자리를 통해 정전기(ESD)가 유입된다. 이렇게 유입된 정전기는 검사용 패드(800)와 연결된 다이오드(710)의 손상을 유발한다. 도 3에서 B로 표시된 영역은 손상된 다이오드(710)를 확대하여 도시한 것이다. 도 3을 참고로 하면, 손상된 영역이 어둡게 나타남을 확인할 수 있다. 또한, 도 3에 도시하지 않았으나 표시 영역(DA)으로 유입된 정전기는 발광 소자의 손상을 유발한다.
즉, 도 3을 통해 확인할 수 있는 바와 같이, 검사용 패드(700)는 표시 장치의 모듈화 이후에도 외부로 노출되어 있어 정전기가 유입되며, 이렇게 유입된 정전기는 표시 장치의 손상을 유발한다.
그러나 도 1 및 도 2에서 확인할 수 있는 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 저항(500)이 위치한다. 따라서 저항(500)에 의해 외부 정전기의 유입이 차단되며. 정전기에 의한 표시 장치의 손상을 막을 수 잇다.
또한, 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 저항(500)이 위치하기 때문에, 검사용 패드(700)의 동작시 저항(500)에 의한 RC delay를 막을 수 있다.
도 4는 본 발명 비교예에 따른 표시 장치의 검사용 패드(800)를 도시한 것이다. 도 4를 참고로 하면, 복수개의 검사용 패드(800) 중 일부에만 저항(510)이 위치한다. 또한 이러한 저항(510)은 검사용 패드(800)의 표시 영역(DA)와 가까운 가장자리에 위치한다. 즉, 본 발명 비교예에서 저항(510)은 검사용 패드(800)에 인가된 신호가 전달되는 경로상에 위치한다.
복수개의 검사용 패드(800) 중 일부는 CLK와 같은 고속 신호가 전달되는 패드이다. 이러한 검사용 패드(800)와 표시 영역(DA) 사이에 저항이 위치하면 RC delay가 발생하여 표시 장치의 특성이 저하된다. 따라서, 본 발명 비교예에 따른 표시 장치의 경우, 도 5에서 확인할 수 있는 바와 같이 복수개의 검사용 패드(800) 중 일부에만 저항(510)이 위치한다. 즉 신호 지연이 문제되지 않는 검사용 패드(800)에만 저항(510)이 위치할 수 있다. 따라서, 일부 검사용 패드(800)에는 저항(510)이 위치하지 않으며, 이렇게 저항이 위치하지 않는 검사용 패드(800)를 통해 정전기가 유입될 수 있다.
그러나, 본 실시예에 따른 표시 장치는 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 저항(500)을 위치시킴으로써 모든 검사용 패드(700)에 저항(500)을 형성할 수 있다. 즉, 검사용 패드(700)에 인가된 신호가 전달되는 경로상에는 저항이 위치하지 않는바 신호 지연 없이 외부로부터 유입되는 정전기를 효과적으로 차단할 수 있다.
도 5은 본 실시예에 따른 표시 장치의 검사용 패드(700)를 도시한 것이다. 도 5를 참고로 하면, 저항(500)은 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 위치한다. 따라서 외부로부터 유입되는 정전기를 효과적으로 차단할 수 있다.
검사용 패드(700)의 신호 인가는, 검사용 패드(700)의 중앙에 프로브를 접촉시키는 방법으로 이루어진다. 도 5에 프로브(900)를 예시적으로 도시하였다. 즉, 프로브(900)는 검사용 패드(700)의 중앙에 접촉하여 표시 영역(DA)에 신호를 전달한다. 본 실시예에 따른 표시 장치는 저항(500)이 검사용 패드(700)의 최외곽에 위치하여, 프로브(900)로부터 인가된 신호가 표시 영역(DA)으로 전달되는 경로상에 저항(500)이 위치하지 않는다. 따라서 저항(500)에 의한 RC delay를 예방할 수 있다. 저항(500)에 의한 신호 지연이 문제되지 않기 때문에 모든 검사용 패드(700)에 저항(500)을 위치시킬 수 있고, 정전기를 효과적으로 차단할 수 있다.
그러면 이하에서 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에 대하여 설명한다. 도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다.
도 6을 참고로 하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 패드(700)는 통판이 아닌 미세선이 지그재그로 반복된 형상을 갖는다. 구체적으로, 도 6을 참고로 하면 검사용 패드(700)는 복수개의 가로부(700a) 및 가로부(700a)를 연결하는 세로부(700b)를 포함한다. 세로부(700b)는 서로 이웃하는 가로부(700a)의 일 가장자리에만 위치하며, 다른 가장자리에는 위치하지 않는다. 즉 세로부(700b)는 가로부(700a)의 양 가장자리에 번갈아 위치하여 가로부(700a)를 서로 연결한다. 따라서 검사용 패드(700)는 하나로 연결된 선이 좌우로 반복하는 형태를 갖는다.
즉, 도 6의 검사용 패드(700)는 통판에 비하여 신호가 전달되는 경로가 길어진다. 저항은 도전체의 길이에 비례하는바, 신호가 전달되는 경로가 길어지면서 검사용 패드(700) 자체가 저항으로 기능한다. 따라서 별도의 저항 없이도 외부 정전기의 유입을 차단할 수 있다. 따라서 공정이 경제적이며, 구조를 단순화할 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다. 도 7을 참고로 하면 본 실시예에 따른 표시 장치는 검사용 패드(700)의 일 가장자리에 저항(500)이 위치한다는 점을 제외하고는 도 6의 실시예에 따른 표시 장치와 유사하다. 동일한 구성요소에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
도 7의 실시예에 따른 표시 장치는, 검사용 패드(700)가 통판이 아닌 미세선이 지그재그로 반복된 형상이며, 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 저항(500)이 위치한다. 외부 정전기는 저항(500)에 의해 한번 차단되고, 미처 차단되지 못한 정전기는 검사용 패드(700) 자체가 저항으로 기능하는바 검사용 패드(700)에 의해 다시 차단된다. 따라서 정전기가 표시 영역(DA)으로 유입되는 것을 보다 효과적으로 예방할 수 있다. 즉 본 실시예에 따른 표시 장치는 정전기가 저항(500)에 의해 1차 차단되고, 검사용 패드(700)에 의해 2차로 차단되는바 정전기 유입 방지 효과가 크다.
도 8은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다. 도 8은 검사용 패드(700)가 통판 영역(701) 및 미세선 영역(702)을 포함한다는 점을 제외하고는 도 8의 실시예에 따른 표시 장치와 유사하다. 동일한 구성요소에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 도 8을 참고로 하면, 본 실시예에 따른 표시 장치에서 검사용 패드(700)는 통판 영역(701) 및 미세선 영역(702)을 포함한다.
도 8의 실시예에 따른 표시 장치의 경우 검사용 패드(700)의 일부는 통판 영역(701)이고 일부는 미세선 영역(702)이다. 통판 영역(701)은 표시 영역(DA)에 가깝게 위치하고, 미세선 영역(702)은 비표시 영역(NDA)의 가장자리와 인접하여 위치한다. 즉 통판 영역(701)은 미세선 영역(702)과 표시 영역(DA) 사이에 위치한다.
검사용 패드(700)의 신호 인가를 위한 프로브(900)는 통판 영역(701)에 접촉한다. 따라서 표시 영역(DA)으로 전달되는 신호는 저항에 의한 지연 없이 표시 영역(DA)으로 전달될 수 있다. 따라서, 신호가 미세선 영역(702)을 통과하면서 지연되는 문제를 예방할 수 있으며, 신호가 짧은 경로를 따라 전달되는바 바람직하다.
도 8에서, 외부에서 유입되는 정전기는 미세선 영역(702)을 통과하여야 한다. 길이가 긴 미세선 영역(702) 자체가 저항으로 기능하기 때문에, 표시 영역(DA)으로의 정전기의 유입을 효과적으로 차단할 수 있다.
즉, 본 실시예에 따른 표시 장치는 신호 지연 없이 표시 영역(DA)내로 신호를 전달할 수 있으며, 동시에 외부 정전기의 유입을 효과적으로 차단할 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치를 도시한 것이다. 도 9의 실시예에 따른 표시 장치는 검사용 패드(700)의 일 가장자리에 저항(500)이 위치한다는 점을 제외하고는 도 8의 실시예에 따른 표시 장치와 유사하다. 동일한 구성요소에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
즉 도 9의 실시예에 따른 표시 장치의 검사용 패드는 통판 영역(701) 및 미세선 영역(702)을 포함하고, 미세선 영역(702)의 일 가장자리에 저항(500)이 위치한다.
도 9의 실시예는 도 8의 실시예에 부가하여 저항(500)을 더 포함함으로써, 외부 정전기의 유입을 보다 효과적으로 차단할 수 있다. 즉, 검사용 패드(700)의 통판 영역(701)을 통해 신호 지연 없이 표시 영역(DA)내로 신호를 전달할 수 있으며, 검사용 패드(700)의 미세선 영역(702) 및 저항(500)을 통해 외부 정전기의 유입을 효과적으로 차단할 수 있다.
도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 장치에서, 도 2와 동일한 영역을 나타낸 것이다. 도 10을 참고로 하면 본 발명의 일 실시에에 따른 표시 장치의 검사용 패드(700)는 제1 영역(703) 및 제2 영역(704)을 포함하고, 제1 영역(703)이 표시 장치의 가장자리에 인접하여 위치한다. 즉, 제2 영역(704)은 제1 영역(703)과 표시 영역(미도시) 사이에 위치한다.
제1 영역(703)의 저항은 제2 영역(704)에 비하여 크다. 즉, 도 10의 실시예는 검사용 패드(700) 자체를 서로 저항이 다른 물질로 형성함으로써, 검사용 패드(700)가 영역별로 다른 저항을 갖도록 하였다. 이때, 제1 영역(703)의 저항은 1kΩ 내지 4kΩ일 수 있다.
이렇게 검사용 패드(700)가 영역별로 다른 저항값을 갖고, 검사용 패드(700의 가장자리에 위치하는 제1 영역(703)의 저항값이 더 큼에 따라 외부에서 유입되는 정전기를 효과적으로 차단할수 있다.
그러면 이하에서, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 표시 영역(DA)의 화소 구조에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다. 도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이고, 도 12는 도 11의 표시 장치를 XII- XII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 11 및 도 12을 참고로 하면, 표시 패널(300)은 제1 기판(100) 및 이와 중첩하는 제2 기판(200), 제1 기판(100)과 제2 기판(200) 사이에 위치하는 액정층(3)을 포함한다.
제1 기판(100)에 대하여 먼저 설명한다. 투명한 유리 또는 플라스틱 등으로 만들어진 제1 베이스 기판(110)의 일면에 게이트선(121) 및 게이트 전극(124)을 포함하는 게이트 도전체가 위치한다.
게이트선(121)은 제1 방향으로 뻗을 수 있다. 게이트 도전체는 다양한 금속 또는 도전체를 포함할 수 있으며, 다중막 구조를 가질 수 있다. 게이트 도전체와 액정층(3) 사이에는 게이트 절연막(140)이 위치한다. 게이트 절연막(140)은 무기 절연 물질을 포함할 수 있다.
게이트 절연막(140)의 일면에 반도체층(154)이 위치한다.
데이터선(171)은 반도체층(154)과 액정층(3) 사이에 위치하며, 제2 방향으로 뻗어 게이트선(121)과 교차한다. 소스 전극(173)은 데이터선(171)으로부터 뻗어 나와 게이트 전극(124)과 중첩할 수 있다. 드레인 전극(175)은 데이터선(171)과 분리되어 있고 도 11에 도시한 바와 같이 소스 전극(173)의 중앙을 향하여 연장된 막대 모양일 수 있다.
반도체층(154)의 일부는, 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이 영역에서, 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)과 중첩하지 않을 수 있다. 반도체층(154)은 이러한 미중첩 부분을 제외하고 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)과 실질적으로 동일한 평면 형태를 가질 수 있다.
하나의 게이트 전극(124), 하나의 소스 전극(173) 및 하나의 드레인 전극(175)은 반도체층(154)과 함께 하나의 박막 트랜지스터를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널은 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이의 반도체층(154) 영역이다.
소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)과 액정층(3) 사이에는 보호막(180)이 위치한다. 보호막(180)은 질화 규소나 산화 규소 따위의 무기 절연 물질, 유기 절연 물질, 저유전율 절연 물질 등을 포함할 수 있다.
보호막(180)은 드레인 전극(175)의 일부와 중첩하는 접촉 구멍(185)을 갖는다.
보호막(180)과 액정층(3) 사이에는 제1 전극(191)이 위치한다. 제1 전극(191)은 접촉 구멍(185)을 통하여 드레인 전극(175)과 물리적, 전기적으로 연결되어 있으며, 드레인 전극(175)으로부터 데이터 전압을 인가받는다. 제1 전극(191)은 화소 전극일 수 있다.
제1 전극(191)과 액정층(3) 사이에 제1 배향막(11)이 위치한다.
제2 기판(200)은 제2 베이스 기판(210), 차광 부재(220), 제2 전극(270) 및 제2 배향막(21)을 포함한다.
제2 베이스 기판(210)의 일면에는 제2 전극(270)이 위치한다. 제2 전극(270)은 공통 전극일 수 있다.
제2 베이스 기판(210)과 제2 전극(270) 사이에 차광 부재(220)가 위치한다. 차광 부재(220)는 데이터선(171)과 중첩하여, 제2 방향으로 뻗을 수 있다. 도시하지는 않았으나, 차광 부재는 게이트선(121)과 중첩하여 제1 방향으로 뻗은 가로부를 더 포함할 수도 있다. 다만 차광 부재(220)는 생략될 수 있다. 제2 전극(270)과 액정층(3) 사이에 제2 배향막(21)이 위치한다.
그러나 상기 구조는 일 예시일 뿐으로, 표시 장치의 구조가 도 11 및 도 12의 구조에 한정되는 것은 아니다.
그러면 이하에서, 도 13을 참고로 하여 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시 영역(DA)의 화소 구조에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다. 도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 단면도이다.
도 13을 참고로 하면, 제1 베이스 기판(110)에 산화규소 또는 질화규소 등으로 만들어진 버퍼층(111)이 위치한다.
버퍼층(111) 상에 반도체층(154)이 위치한다. 반도체층(154)은 p형 불순물로 도핑된 소스 영역(153) 및 드레인 영역(155)을 포함하고, 소스 영역(153) 및 드레인 영역(155) 사이에 위치한 채널 영역(151)을 포함한다.
게이트 절연막(140)은 반도체층(154) 및 버퍼층(111) 상에 위치하며 산화규소 또는 질화규소를 포함할 수 있다. 게이트 전극(124)은 반도체층(154)의 채널 영역(151)과 중첩하며, 게이트 절연막(140) 위에 위치한다.
층간 절연막(160)은 게이트 전극(124) 및 게이트 절연막(140) 상에 위치한다. 층간 절연막(160)은 제1 접촉 구멍(165) 및 제2 접촉 구멍(163)을 갖는다.
데이터선(171), 소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)을 포함하는 데이터 도전체는 층간 절연막(160) 상에 위치한다.
드레인 전극(175)은 제1 접촉 구멍(165)을 통하여 드레인 영역(155)에 연결되어 있다. 또한, 소스 전극(173)은 제2 접촉 구멍(163)을 통하여 소스 영역(153)에 연결되어 있다.
보호막(180)은 데이터 도전체(171, 173, 175) 및 층간 절연막(160) 상에 위치하며, 보호막(180)은 접촉 구멍(185)을 갖는다.
제1 전극(191)은 보호막(180) 상에 위치한다. 제1 전극(191)은 화소 전극일 수 있다. 제1 전극(191)은 접촉 구멍(185)을 통하여 드레인 전극(175)과 연결되어 있다. 격벽(361)은 보호막(180) 상에 위치한다. 제1 전극(191)과 중첩하여 발광 소자층(370)이 위치하고, 발광 소자층(370)과 중첩하도록 제2 전극(270)이 위치한다. 제2 전극은(270)은 공통 전극일 수 있다.
이때, 제1 전극(191)은 정공 주입 전극인 애노드일 수 있고, 제2 전극(270)은 전자 주입 전극인 캐소드일 수 있다. 그러나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 표시 장치의 구동 방법에 따라 제1 전극(191)이 캐소드가 되고, 제2 전극(270)이 애노드가 될 수도 있다.
발광 소자층(370)은 발광층, 전자 전달층, 정공 전달층등을 포함할 수 있다.
제2 전극(270)과 중첩하여 봉지층(390)이 위치한다. 봉지층(390)은 유기물 또는 무기물을 포함할 수 있으며, 또는 유기물과 무기물이 번갈아 적층되어 있을 수도 있다. 봉지층(390)은 외부의 수분, 열, 기타 오염으로부터 표시 장치를 보호할 수 있다.
이상과 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 검사용 패드(700)의 최외곽 가장자리에 저항(500)을 위치시킴으로써 신호 지연 없이 정전기 유입을 효과적으로 차단할 수 있다. 또한, 검사용 패드(700)에 미세선 영역을 포함시킴으로써 검사용 패드(700) 자체가 저항으로 기능할 수 있으며, 외부 정전기 유입을 효과적으로 차단하고 이로 인한 표시 장치의 손상을 막을 수 있다.
100: 제1 기판 110: 제1 베이스 기판
111: 버퍼층 121: 게이트선
124: 게이트 전극 140: 게이트 절연막
154: 반도체층 160: 층간 절연막
200: 제2 기판 210: 제1 베이스 기판
220: 차광 부재 270: 제2 전극
DA: 표시 영역 NDA: 비표시 영역
700: 검사용 패드 500: 저항
701: 통판 영역 702: 미세선 영역

Claims (20)

  1. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드;
    상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고,
    상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 저항은 상기 복수개의 검사용 패드 모두에 위치하는 표시 장치.
  3. 제1항에서,
    상기 저항은 다결정 실리콘을 포함하는 표시 장치.
  4. 제1항에서,
    상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 갖는 표시 장치.
  5. 제1항에서,
    상기 비표시 영역에 위치하는 가요성 인쇄 회로 기판을 더 포함하고,
    상기 검사용 패드는 상기 가요성 인쇄 회로 기판을 사이에 두고 양쪽에 위치하는 표시 장치.
  6. 제1항에서,
    상기 검사용 패드는 상기 가요성 인쇄 회로 기판과 연결되어 있지 않으며,
    상기 검사용 패드는 각각 상기 표시 영역의 게이트선 및 데이터선과 연결되는 표시 장치.
  7. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드를 포함하고,
    상기 검사용 패드는 제1 영역 및 제2 영역을 포함하고,
    상기 제2 영역은 상기 제1 영역 및 상기 표시 영역 사이에 위치하며,
    상기 제1 영역은 상기 제2 영역보다 높은 저항을 갖는 표시 장치.
  8. 제7항에서,
    상기 제1 영역의 저항은 1kΩ 내지 4kΩ인 표시 장치.
  9. 제7항에서,
    상기 제1 영역의 일 가장자리는 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  10. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드를 포함하고,
    상기 검사용 패드는 서로 이격된 복수의 가로부 및 상기 가로부를 연결하는 세로부를 포함하고,
    상기 세로부는 상기 가로부의 일 가장자리에 번갈아 위치하는 표시 장치.
  11. 제10항에서,
    상기 검사용 패드의 복수의 가로부 및 세로부는 하나의 선으로 연결되어 있으며, 직사각형의 평면 형상을 이루는 표시 장치.
  12. 제10항에서,
    상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고,
    상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  13. 제12항에서,
    상기 저항은 다결정 실리콘을 포함하는 표시 장치.
  14. 제12항에서,
    상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 갖는 표시 장치.
  15. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수개의 검사용 패드를 포함하고,
    상기 검사용 패드는 통판 영역 및 미세선 영역을 포함하고,
    상기 미세선 영역은 서로 이격된 복수의 가로부 및 상기 가로부를 연결하는 세로부를 포함하고,
    상기 세로부는 상기 가로부의 일 가장자리에 번갈아 위치하는 표시 장치.
  16. 제15항에서,
    상기 통판 영역은 상기 미세선 영역과 상기 표시 영역 사이에 위치하는 표시 장치.
  17. 제16항에서,
    상기 통판 영역에 신호 인가용 프로브가 접촉하는 표시 장치.
  18. 제15항에서,
    상기 미세선 영역의 일 가장자리에 위치하는 저항을 포함하고,
    상기 저항은 상기 검사용 패드를 사이에 두고 상기 표시 영역과 이격되어 상기 상기 검사용 패드의 최외곽 가장자리 및 상기 비표시 영역의 최외곽 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  19. 제18항에서,
    상기 저항은 다결정 실리콘을 포함하는 표시 장치.
  20. 제18항에서,
    상기 저항은 1kΩ 내지 4kΩ의 저항값을 갖는 표시 장치.
KR1020180123908A 2018-10-17 2018-10-17 표시 장치 KR20200043580A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180123908A KR20200043580A (ko) 2018-10-17 2018-10-17 표시 장치
US16/520,168 US11379172B2 (en) 2018-10-17 2019-07-23 Display device including a plurality of inspection pads
CN201910981705.9A CN111063707A (zh) 2018-10-17 2019-10-16 显示设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180123908A KR20200043580A (ko) 2018-10-17 2018-10-17 표시 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200043580A true KR20200043580A (ko) 2020-04-28

Family

ID=70280802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180123908A KR20200043580A (ko) 2018-10-17 2018-10-17 표시 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11379172B2 (ko)
KR (1) KR20200043580A (ko)
CN (1) CN111063707A (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210039529A (ko) * 2019-10-01 2021-04-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN112785959A (zh) * 2021-02-05 2021-05-11 厦门天马微电子有限公司 反相器及其驱动方法、驱动电路和显示面板
TWI814263B (zh) * 2022-03-01 2023-09-01 友達光電股份有限公司 用於驅動顯示器像素之驅動電路
CN117008382A (zh) * 2022-04-29 2023-11-07 南京京东方显示技术有限公司 阵列基板、显示装置及显示母板

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4260250B2 (ja) 1997-09-25 2009-04-30 三星電子株式会社 静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法
KR100870663B1 (ko) 2002-06-28 2008-11-26 엘지디스플레이 주식회사 Ｃｏｇ 방식 액정표시패널의 정전기 보호장치
KR100555301B1 (ko) 2002-08-13 2006-03-03 엘지.필립스 엘시디 주식회사 정전기 방지를 위한 액정패널
TW591592B (en) 2003-05-09 2004-06-11 Toppoly Optoelectronics Corp Display device having electrostatic discharge protection function and panel thereof
KR100514180B1 (ko) * 2003-08-13 2005-09-13 삼성에스디아이 주식회사 평판표시장치의 전류공급라인구조
KR20110054725A (ko) 2009-11-18 2011-05-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
KR101901869B1 (ko) 2011-11-10 2018-09-28 삼성전자주식회사 Ｅｓｄ 보호 기능을 강화한 디스플레이 구동 장치 및 디스플레이 시스템
JP2015141555A (ja) * 2014-01-29 2015-08-03 シナプティクス・ディスプレイ・デバイス合同会社 タッチ検出回路及びそれを備える半導体集積回路
KR102230298B1 (ko) * 2014-02-20 2021-03-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법
US10041989B2 (en) * 2016-03-09 2018-08-07 Panasonic Liquid Crystal Display Co., Ltd. Circuit board with inspection terminals
KR102484450B1 (ko) * 2018-03-19 2023-01-05 삼성디스플레이 주식회사 평판표시장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN111063707A (zh) 2020-04-24
US20200125314A1 (en) 2020-04-23
US11379172B2 (en) 2022-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11315454B2 (en) Display device
KR101970068B1 (ko) 표시 장치
KR20200043580A (ko) 표시 장치
KR100911962B1 (ko) 유기전계발광 표시 장치
CN107919067B (zh) 平板显示器
US11782542B2 (en) Display device
KR102113616B1 (ko) 유기발광표시장치 및 그의 제조방법
US20170155245A1 (en) Display drive chip
CN110187575B (zh) 阵列基板及阵列基板母板
KR100884463B1 (ko) 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법
US8987989B2 (en) Organic light-emitting display device and input pad thereof
KR20070106151A (ko) 디스플레이 장치
KR100632662B1 (ko) 유기 전계 발광 패널
KR102389177B1 (ko) 표시 장치
EP2677542B1 (en) Organic light-emitting display device
US11087699B1 (en) Display device
KR20070115068A (ko) 유기전계발광 표시 장치
US20220399380A1 (en) Display device
KR102069190B1 (ko) 표시장치
CN113611235A (zh) 栅极检查部和包括栅极检查部的显示装置
KR20190036198A (ko) 유기발광 표시장치
CN104658465A (zh) 显示装置
KR20070077265A (ko) 디스플레이장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application