CN111653226B - 检测电路及其驱动方法、显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示技术领域，提出一种检测电路及其驱动方法、显示面板，所述检测电路包括：多个第一检测电路、多个第二检测电路、多个第三检测电路。所述第一检测电路连接所述第一引脚、第一控制信号端、第一检测信号端、与其对应的第一栅线连接；所述第二检测电路连接所述第二引脚、第二控制信号端、第二检测信号端、与其对应的第二栅线连接；所述第三检测电路连接与其对应的第一数据线、与其对应的感测信号线、第三检测信号端、第三控制信号端。该检测电路即能够检测显示面板中第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、源极驱动电路的绑定状态，还能够检测显示子像素的驱动状态。

Description

检测电路及其驱动方法、显示面板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路及其驱动方法、显示面板。

背景技术

显示面板在成盒检测(cell test)后还需要进行其他的工艺流程，例如，栅极驱动电路、源极驱动电路绑定、老化处理、扇形走线区遮光处理、偏光片贴附、点胶、打包等工艺。上述工艺均可能造成显示面板中线缺、点缺等不良。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测电路及其驱动方法、显示面板，该检测电路即能够检测显示面板中第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、源极驱动电路的绑定状态，还能够检测显示子像素的驱动状态。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或区分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，提供一种检测电路，应用于显示面板，所述显示面板包括用于绑定第一栅极驱动电路的第一引脚组、用于绑定第二栅极驱动电路的第二引脚组、用于绑定源极驱动电路的第三引脚组，所述显示面板还包括显示子像素，所述显示子像素的像素驱动电路包括开关晶体管、检测晶体管以及驱动晶体管，所述开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接，所述检测晶体管的第一极与所述驱动晶体管的第二极连接，所述第一栅极驱动电路用于向所述开关晶体管提供栅极驱动信号，所述第二栅极驱动电路用于向检测晶体管提供栅极驱动电信号，所述源极驱动电路用于通过所述开关晶体管向驱动晶体管的栅极提供数据信号，其中，位于同一像素行的所述开关晶体管的栅极通过第一栅线连接，位于同一像素行的检查晶体管的栅极通过第二栅线连接，位于同一像素列的开关晶体管的第一极通过第一数据线连接，位于同一像素列的所述检测晶体管的第二极通过感测信号线连接，所述第一引脚组包括多个第一引脚，所述第二引脚组包括多个第二引脚，所述第三引脚组包括多个第三引脚，所述检测电路包括：多个第一检测电路、多个第二检测电路、多个第三检测电路。所述第一检测电路与所述第一栅线一一对应设置，所述第一检测电路连接所述第一引脚、第一控制信号端、第一检测信号端、与其对应的第一栅线连接，用于响应一控制信号将所述第一引脚的信号传输到所述第一检测信号端，以及用于响应所述第一控制信号端的信号将所述第一检测信号端的信号传输到所述第一栅线；所述第二检测电路与所述第二栅线一一对应设置，所述第二检测电路连接所述第二引脚、第二控制信号端、第二检测信号端、与其对应的第二栅线连接，用于响应一控制信号将所述第二引脚的信号传输到所述第二检测信号端，以及用于响应所述第二控制信号端的信号将所述第二检测信号端的信号传输到所述第二栅线；所述第三检测电路与位于同一像素列的第一数据线、感测信号线一一对应设置，所述第三检测电路连接与其对应的第一数据线、与其对应的感测信号线、第三检测信号端、第三控制信号端，用于响应一控制信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，以及用于响应第三控制信号端的信号将所述第三检测信号端的信号传输到所述感测信号线。

本公开一种示例性实施例中，所述第一检测电路包括第一晶体管、第二晶体管，第一晶体管的第一极连接所述第一引脚，第二极连接所述第一检测信号端，栅极连接所述第一引脚；第二晶体管的第一极连接所述第一检测信号端，第二极连接所述第一栅线，栅极连接所述第一控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述第二检测电路包括第三晶体管、第四晶体管。第三晶体管的第一极连接所述第二引脚，第二极连接所述第二检测信号端，栅极连接所述第二引脚；第四晶体管的第一极连接所述第二检测信号端，第二极连接所述第二栅线，栅极连接所述第二控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述第三检测电路用于响应所述第一数据线的信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，所述第三检测电路包括：第五晶体管、第六晶体管。第五晶体管的第一极连接所述第三引脚，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第一数据线；第六晶体管的第一极连接所述感测信号线，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第三控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述第三检测电路用于响应第四控制信号端的信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，所述第三检测电路包括第五晶体管、第六晶体管。第五晶体管的第一极连接所述第三引脚，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第四控制信号端；第六晶体管的第一极连接所述感测信号线，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第三控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述第一检测电路、第二检测电路、第三检测电路中的一个或多个集成于所述显示面板的虚拟像素区。

本公开一种示例性实施例中，多个所述第一检测电路连接同一所述第一控制信号端；多个所述第二检测电路连接同一所述第二控制信号端；多个所述第三检测电路连接同一所述第三控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述显示面板还包括多个虚拟子像素和多条第二数据线，位于同一列的虚拟子像素通过所述第二数据线连接，多个所述第一检测电路通过同一所述第二数据线连接于同一所述第一控制信号端；多个所述第二检测电路通过同一所述第二数据线连接于同一所述第二控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述显示面板还包括多个虚拟子像素和多条第三栅线，位于同一行的虚拟子像素通过所述第三栅线连接；多个所述第三检测电路通过同一所述第三栅线连接同一所述第三控制信号端。

本公开一种示例性实施例中，所述检测电路还包括检测信号判断模块，检测信号判断模块连接所述第一检测信号端、第二检测信号端、第三检测信号端，用于分别根据所述第一检测信号端、第二检测信号端、第三检测信号端的信号判断所述显示面板的状态。

本公开一种示例性实施例中，所述显示面板包括位于沿所述第一栅线延伸方向一侧的第一走线区，所述显示面板还包括第一连接线，第一连接线位于所述第一走线区，所述第一检测电路通过所述第一连接线与所述第一引脚连接。所述显示面板还包括位于沿所述第一栅线延伸方向另一侧的第二走线区，所述显示面板还包括第二连接线，第二连接线位于所述第二走线区，所述第二检测电路通过所述第二连接线与所述第二引脚连接。所述显示面板还包括位于沿所述第一数据线延伸方向一侧的第三走线区，所述显示面板还包括第三连接线，第三连接线位于所述第三走线区，所述第三检测电路通过所述第三连接线与所述第三引脚连接。

本公开一种示例性实施例中，所述驱动晶体管的第一极连接第一电源端，所述像素驱动电路还包括电容，电容连接于所述驱动晶体管的栅极和第二极之间。

根据本发明的一个方面，提供一种检测电路驱动方法，用于驱动上述的检测电路，该驱动方法包括：

在第一检测阶段：

向第一控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，从而通过第一检测信号端检测第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

向第二控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，从而通过第二检测信号端检测第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

向第三控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测第三引脚组与源极驱动电路的绑定状态；

在第二检测阶段：

向第一控制信号端、第二控制信号端、第三控制信号端输入导通信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测显示子像素的驱动状态。

本公开一种示例性实施例中，所述检测电路包括检测信号判断模块，所述驱动方法包括：

利用所述检测信号判断模块判断第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断显示子像素的驱动状态。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板，该显示面板包括上述的检测电路。

本公开提供一种检测电路及其驱动方法、显示面板，该检测电路应用于显示面板，所述显示面板包括用于绑定第一栅极驱动电路的第一引脚组、用于绑定第二栅极驱动电路的第二引脚组、用于绑定源极驱动电路的第三引脚组，所述显示面板还包括显示子像素，所述显示子像素的像素驱动电路包括开关晶体管、检测晶体管以及驱动晶体管，所述开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接，所述检测晶体管的第一极与所述驱动晶体管的第二极连接，所述第一栅极驱动电路用于向所述开关晶体管提供栅极驱动信号，所述第二栅极驱动电路用于向检测晶体管提供栅极驱动电信号，所述源极驱动电路用于通过所述开关晶体管向驱动晶体管的栅极提供数据信号，其中，位于同一像素行的所述开关晶体管的栅极通过第一栅线连接，位于同一像素行的检查晶体管的栅极通过第二栅线连接，位于同一像素列的开关晶体管的第一极通过第一数据线连接，位于同一像素列的所述检测晶体管的第二极通过感测信号线连接，所述第一引脚组包括多个第一引脚，所述第二引脚组包括多个第二引脚，所述第三引脚组包括多个第三引脚，所述检测电路包括：多个第一检测电路、多个第二检测电路、多个第三检测电路。所述第一检测电路与所述第一栅线一一对应设置，所述第一检测电路连接所述第一引脚、第一控制信号端、第一检测信号端、与其对应的第一栅线连接，用于响应一控制信号将所述第一引脚的信号传输到所述第一检测信号端，以及用于响应所述第一控制信号端的信号将所述第一检测信号端的信号传输到所述第一栅线；所述第二检测电路与所述第二栅线一一对应设置，所述第二检测电路连接所述第二引脚、第二控制信号端、第二检测信号端、与其对应的第二栅线连接，用于响应一控制信号将所述第二引脚的信号传输到所述第二检测信号端，以及用于响应所述第二控制信号端的信号将所述第二检测信号端的信号传输到所述第二栅线；所述第三检测电路与位于同一像素列的第一数据线、感测信号线一一对应设置，所述第三检测电路连接与其对应的第一数据线、与其对应的感测信号线、第三检测信号端、第三控制信号端，用于响应一控制信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，以及用于响应第三控制信号端的信号将所述第三检测信号端的信号传输到所述感测信号线。该检测电路即能够检测显示面板中第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、源极驱动电路的绑定状态，还能够检测显示子像素的驱动状态。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一区分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图；

图2为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图3为本公开一种示例性实施例中像素驱动电路一种驱动方法中各节点的时序图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成区分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成区分/等之外还可存在另外的要素/组成区分/等。

本示例性实施例提供一种检测电路，该检测电路可以应用于显示面板，如图1所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图，所述显示面板可以包括用于绑定第一栅极驱动电路的第一引脚组1、用于绑定第二栅极驱动电路的第二引脚组2、用于绑定源极驱动电路的第三引脚组3，所述第一引脚组1可以包括多个第一引脚11，所述第二引脚组2可以包括多个第二引脚21，所述第三引脚组3可以包括多个第三引脚31。其中，第一栅极驱动电路的输出端可以分别与第一引脚一一对应绑定，第二栅极驱动电路的输出端可以分别与第二引脚一一对应绑定，源极驱动电路的输出端可以分别与第三引脚一一对应绑定。所述显示面板还可以包括多个显示子像素，所述显示子像素的像素驱动电路4可以包括开关晶体管T7、检测晶体管T8以及驱动晶体管DT，所述开关晶体管T7的第二极与所述驱动晶体管DT的栅极连接，所述检测晶体管T8的第一极与所述驱动晶体管DT的第二极连接，所述第一栅极驱动电路用于向所述开关晶体管T7提供栅极驱动信号，所述第二栅极驱动电路用于向检测晶体管T8提供栅极驱动电信号，所述源极驱动电路用于通过所述开关晶体管T7向驱动晶体管DT的栅极提供数据信号。其中，位于同一像素行的所述开关晶体管T7的栅极通过第一栅线51连接，位于同一像素行的检查晶体管T8的栅极通过第二栅线52连接，位于同一像素列的开关晶体管T7的第一极通过第一数据线53连接，第一数据线53可以与第三引脚直接连接，位于同一像素列的所述检测晶体管T8的第二极通过感测信号线54连接，所述检测电路可以包括：多个第一检测电路61、多个第二检测电路62、多个第三检测电路63。所述第一检测电路61与所述第一栅线51一一对应设置，所述第一检测电路61连接所述第一引脚11、第一控制信号端CN1、第一检测信号端SE1、与其对应的第一栅线51连接，用于响应第一引脚11的信号将所述第一引脚11的信号传输到所述第一检测信号端SE1，以及用于响应所述第一控制信号端CN1的信号将所述第一检测信号端SE1的信号传输到所述第一栅线51；所述第二检测电路与所述第二栅线52一一对应设置，所述第二检测电路连接所述第二引脚21、第二控制信号端CN2、第二检测信号端SE2、与其对应的第二栅线52连接，用于响应第二引脚21的信号将所述第二引脚21的信号传输到所述第二检测信号端SE2，以及用于响应所述第二控制信号端CN2的信号将所述第二检测信号端SE2的信号传输到所述第二栅线52；所述第三检测电路与位于同一像素列的第一数据线53、感测信号线54一一对应设置，所述第三检测电路连接与其对应的第一数据线53、与其对应的感测信号线54、第三检测信号端SE3、第三控制信号端CN3，用于响应第三引脚31的信号将所述第三引脚31的信号传输到所述第三检测信号端SE3，以及用于响应第三控制信号端CN3的信号将所述第三检测信号端SE3的信号传输到所述感测信号线54。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第一检测电路61可以包括第一晶体管T1、第二晶体管T2，第一晶体管T1的第一极连接所述第一引脚11，第二极连接所述第一检测信号端SE1，栅极连接所述第一引脚11；第二晶体管T2的第一极连接所述第一检测信号端SE1，第二极连接所述第一栅线51，栅极连接所述第一控制信号端CN1。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第二检测电路62可以包括第三晶体管T3、第四晶体管T4。第三晶体管T3的第一极连接所述第二引脚21，第二极连接所述第二检测信号端SE2，栅极连接所述第二引脚21；第四晶体管T4的第一极连接所述第二检测信号端SE2，第二极连接所述第二栅线52，栅极连接所述第二控制信号端CN2。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第三检测电路63可以包括：第五晶体管T5、第六晶体管T6。第五晶体管T5的第一极连接所述第三引脚31，第二极连接所述第三检测信号端SE3，栅极连接所述第一数据线53；第六晶体管T6的第一极连接所述感测信号线54，第二极连接所述第三检测信号端SE3，栅极连接所述第三控制信号端CN3。

本示例性实施例中，如图1所示，所述驱动晶体管DT的第一极可以连接第一电源端VDD，所述像素驱动电路还可以包括电容C，电容C可以连接于所述驱动晶体管DT的栅极和第二极之间。驱动晶体管DT的第二极可以连接一发光单元OLED，发光单元OLED的另一端可以连接第二电源端VSS。

本示例性实施例中，显示子像素可以指能够发光的子像素，其主要区别于位于显示子像素周围的不能发光的虚拟子像素。如图1所示，第一检测电路61和第二检测电路62可以位于显示面板的相对两侧。如图1所示，每个第一检测电路连接的第一检测信号端SE1独立设置，每个第二检测电路连接的第二检测信号端SE2独立设置，每个第三检测电路连接的第三检测信号端SE3独立设置。本示例性实施例中，第一到第八晶体管以及驱动晶体管可以为P型晶体管也可以为N型晶体管。本示例性实施例以N型晶体管为例进行说明。应该理解的是，在其他示例性实施例中，第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63、像素驱动电路4还可以为其他的结构，第一检测电路、第二检测电路还可以位于显示面板的同一侧，这些都属于本公开的保护范围。

本示例性实施例中，该检测电路的驱动方法可以包括第一检测阶段和第二检测阶段。

在第一检测阶段：可以向第一控制信号端CN1输入关断信号，第一栅极驱动电路的多个输出端分别与第一引脚组3中的多个第一引脚11一一对应绑定，可以通过第一栅极驱动电路逐级向第一引脚11输出有效电平(可以为高电平)。如果第一栅极驱动电路的某一输出端与第一引脚绑定状态良好，该输出端输出的信号可以导通第一晶体管T1以连通第一引脚11和第一检测信号端SE1，此时第一检测信号端SE1的电平为该输出端输出的有效电平；如果第一栅极驱动电路的某一输出端与第一引脚11绑定状态不良，该输出端输出的信号不能导通第一晶体管T1，此时第一检测信号端SE1的电平为无效电平。因此，可以通过检测第一检测信号端的电位检测第一栅极驱动电路和第一引脚组的绑定状态。

同理，在第一检测阶段：还可以向第二控制信号端输入关断信号，第二栅极驱动电路的多个输出端分别与第二引脚组2中的多个第二引脚21一一对应绑定，可以通过第二栅极驱动电路逐级向第二引脚21输出有效电平(可以为高电平)。如果第二栅极驱动电路的某一输出端与第二引脚21绑定状态良好，该输出端输出的信号可以导通第三晶体管T3以连通第二引脚21和第二检测信号端SE2，此时第二检测信号端SE2的电平为该输出端输出的有效电平；如果第二栅极驱动电路的某一输出端与第二引脚21绑定状态不良，该输出端输出的信号不能导通第三晶体管T3，此时第二检测信号端SE2的电平为无效电平。因此，可以通过检测第二检测信号端SE2的电位检测第二栅极驱动电路和第二引脚组的绑定状态。

在第一检测阶段：还可以向第三控制信号端输入关断信号，源极驱动电路的多个输出端分别与第三引脚组3中的多个第三引脚31一一对应绑定，可以通过源极驱动电路向第三引脚31输出有效电平(可以为高电平)。如果源极驱动电路的某一输出端与第三引脚31绑定状态良好，该输出端输出的信号可以导通第五晶体管T5以连通第三引脚31和第三检测信号端SE3，此时第三检测信号端SE3的电平为该输出端输出的有效电平；如果源极驱动电路的某一输出端与第三引脚31绑定状态不良，该输出端输出的信号不能导通第五晶体管T5，此时第三检测信号端SE3的电平为无效电平。因此，可以通过检测第三检测信号端SE3的电位检测源极驱动电路和第三引脚组的绑定状态。

在第二检测阶段，可以向第一控制信号端、第二控制信号端、第三控制信号端输入导通信号，第一检测电路中的第二晶体管T2导通，第二检测电路中的第四晶体管T4导通，第三检测电路中的第六晶体管T6导通。第一栅极驱动电路逐级向第一引脚组输出有效电平，第二栅极驱动电路逐级向第二引脚组输出有效电平，源极驱动电路向第三引脚组输出有效电平。像素驱动电路4中的开关晶体管T7导通，检测晶体管T8导通，源极驱动电路输出的有效电平通过开关晶体管T7导通驱动晶体管DT，第三检测信号端SE3与第一电源端VDD连接，从而可以通过检测第三检测信号端SE3的电压检测该像素驱动电路驱动状态是否良好。例如，如果该像素驱动电路驱动状态良好，则第三检测信号端SE3的电压应该等于第一电源端VDD的电压减去驱动晶体管DT的阈值电压，因此，可以将检测到的第三检测信号端SE3电压与上述理论电压进行对比，如果其差值小于一预设电压值，则可以认为该像素驱动电路驱动状态良好，否则不良。再例如，可以将某一第三检测信号端SE3的电压与其他第三检测信号端SE3的电压进行对比，如果该第三检测信号端SE3的电压与其他第三检测信号端SE3的电压差值小于预设值，则可以认为该像素驱动电路驱动状态良好。否则，不良。

该检测电路即能够检测显示面板中第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、源极驱动电路的绑定状态，还能够检测显示子像素的驱动状态。此外，该检测电路还可以通过第三检测信号端SE3、第二检测信号端SE2、第一检测信号端SE1的位置快速定位出现驱动不良像素驱动电路的位置。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63中的一个或多个集成于所述显示面板的虚拟像素区。例如，所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63中晶体管、电容等器件可以与显示面板像素驱动电路的晶体管、电容同层成型。将所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63集成于虚拟像素区可以避免所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63对显示像素区的影响。应该理解的是，在其他示例性实施例中，所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63还可以集成于显示像素区。此外，所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63还可以以外挂形式连接于显示面板，即所述第一检测电路61、第二检测电路62、第三检测电路63单独设置，通过插接口与显示面板连接。

本示例性实施例中，如图1所示，多个所述第一检测电路61可以连接同一所述第一控制信号端CN1；多个所述第二检测电路62连接同一所述第二控制信号端CN2；多个所述第三检测电路63连接同一所述第三控制信号端CN3。如图1所示，所述显示面板还包括多个虚拟子像素(未画出)和多条第二数据线55，位于同一列的虚拟子像素通过所述第二数据线55连接，多个所述第一检测电路61可以通过同一所述第二数据线55连接于同一所述第一控制信号端CN1；多个所述第二检测电路62可以通过同一所述第二数据线55连接于同一所述第二控制信号端CN2。该检测电路还可以包括一控制信号生成电路，该控制信号生成电路可以分别通过不同的第二数据线55向第一控制信号端CN1、第二控制信号端CN2提供控制信号。

本示例性实施例中，如图1所示，所述显示面板还包括多个虚拟子像素(未画出)和多条第三栅线56，位于同一行的虚拟子像素通过所述第三栅线56连接；多个所述第三检测电路63可以通过同一所述第三栅线56连接同一所述第三控制信号端CN3。上述控制信号生成电路可以通过第三栅线56向第三控制信号端CN3提供控制信号。

本示例性实施例中，所述检测电路还可以包括检测信号判断模块，检测信号判断模块连接所述第一检测信号端SE1、第二检测信号端SE2、第三检测信号端SE3，该检测信号判断模块可以根据上述不良判断方法判断第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、源极驱动电路的绑定状态以及像素驱动电路的驱动状态。

本示例性实施例中，如图1所示，所述显示面板还可以包括位于沿所述第一栅线51延伸方向一侧的第一走线区71，所述显示面板还包括第一连接线57，第一连接线57位于所述第一走线区71，所述第一检测电路61通过所述第一连接线57与所述第一引脚11连接。所述显示面板还包括位于沿所述第一栅线51延伸方向另一侧的第二走线区72，所述显示面板还包括第二连接线58，第二连接线58位于所述第二走线区72，所述第二检测电路62可以通过所述第二连接线58与所述第二引脚21连接。所述显示面板还可以包括位于沿所述第一数据线53延伸方向一侧的第三走线区73，所述显示面板还包括第三连接线59，第三连接线59位于所述第三走线区73，所述第三检测电路63可以通过所述第三连接线59与所述第三引脚31连接。第一走线区71、第二走线区72、第三走线区73可以为位于显示面板边框区的扇形走线区。

本示例性实施例中，如图2所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图，所述第三检测电路63可以用于响应第四控制信号端CN4的信号将所述第三引脚31的信号传输到所述第三检测信号端SE3，所述第三检测电路63可以包括第五晶体管T5、第六晶体管T6。第五晶体管T5的第一极连接所述第三引脚53，第二极连接所述第三检测信号端SE3，栅极连接所述第四控制信号端CN4；第六晶体管T6的第一极连接所述感测信号线54，第二极连接所述第三检测信号端SE3，栅极连接所述第三控制信号端CN3。同理，在其他示例性实施例中，第一检测电路61可以响应其他控制信号端的信号将所述第一引脚的信号传输到所述第一检测信号端，第二检测电路62可以响应其他控制信号端的信号将所述第二引脚的信号传输到所述第二检测信号端。

本示例性实施例中，该检测电路还可以用于检测像素驱动电路中驱动晶体管的阈值电压。如图3所示，为本公开一种示例性实施例中像素驱动电路一种驱动方法中各节点的时序图。其中，11指第一引脚11的时序，12指第二引脚的时序，13指第三引脚的时序。该像素驱动电路的驱动方法包括四个阶段：数据写入阶段T1、发光阶段T2、阈值检测阶段T3、补偿阶段T4。该像素驱动电路在进行上述四个阶段时，可以向第一控制信号端CN1、第二控制信号端CN2、第三控制信号端CN3输入导通信号，以导通第二晶体管T2、第四晶体管T4、第六晶体管T6。在数据写入阶段T1，第一栅极驱动电路向第一引脚11输入有效电平，以导通第一晶体管T1，源极驱动电路向第三引脚输入有效数据信号，此时，开关晶体管T7导通，有效数据信号传输到驱动晶体管DT的栅极，并存储于电容C。在发光阶段T2，源极驱动电路停止向第三引脚输入有效数据信号，第一栅极驱动电路向第一引脚输入无效信号，以关断第一晶体管T1，此时驱动晶体管DT在其栅极电压作用下导通，从而驱动发光单元OLED发光。在阈值检测阶段T3，源极驱动电路向第三引脚输入电位较低的数据信号，该数据信号不足以使发光单元OLED发光，第一栅极驱动电路向第一引脚输入有效电平，以导通第一晶体管T1，同时第二栅极驱动电路向第二引脚输入有效电平以导通第三晶体管T3、检测晶体管T8，此时驱动晶体管DT导通，驱动晶体管DT的第二极电压逐渐升高，直到驱动晶体管的第二极电压等于第一电源端电压减去驱动晶体管的阈值电压，同时驱动晶体管DT的输出电流为零，因此，可以通过感测信号线54检测驱动晶体管DT输出电流为零时，驱动晶体管DT第二极的电压，即可获取驱动晶体管的阈值电压。在补偿阶段T4，根据驱动晶体管的阈值电压对数据信号进行补偿。

本示例性实施例还提供一种检测电路驱动方法，用于驱动上述的检测电路，该驱动方法包括：

在第一检测阶段：

向第一控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，从而通过第一检测信号端检测第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

向第二控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，从而通过第二检测信号端检测第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

向第三控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测第三引脚组与源极驱动电路的绑定状态；

在第二检测阶段：

向第一控制信号端、第二控制信号端、第三控制信号端输入导通信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测显示子像素的驱动状态。

本公开一种示例性实施例中，所述检测电路包括检测信号判断模块，所述驱动方法包括：

利用所述检测信号判断模块判断第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断显示子像素的驱动状态。

该检测电路驱动方法在上述内容中以及做出详细说明，此处不再赘述。

本示例性实施例还提供一种显示面板，该显示面板包括上述的检测电路。该显示面板可以用于手机、平板电脑、电视等显示装置。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性远离并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限定。

Claims (15)

1.一种检测电路，应用于显示面板，所述显示面板包括用于绑定第一栅极驱动电路的第一引脚组、用于绑定第二栅极驱动电路的第二引脚组、用于绑定源极驱动电路的第三引脚组，所述第一引脚组包括多个第一引脚，所述第二引脚组包括多个第二引脚，所述第三引脚组包括多个第三引脚，所述显示面板还包括多个显示子像素，所述显示子像素的像素驱动电路包括开关晶体管、检测晶体管以及驱动晶体管，所述开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接，所述检测晶体管的第一极与所述驱动晶体管的第二极连接，所述第一栅极驱动电路用于向所述开关晶体管提供栅极驱动信号，所述第二栅极驱动电路用于向检测晶体管提供栅极驱动电信号，所述源极驱动电路用于通过所述开关晶体管向驱动晶体管的栅极提供数据信号，其中，位于同一像素行的所述开关晶体管的栅极通过第一栅线连接，位于同一像素行的检查晶体管的栅极通过第二栅线连接，位于同一像素列的开关晶体管的第一极通过第一数据线连接，位于同一像素列的所述检测晶体管的第二极通过感测信号线连接，其特征在于，所述检测电路包括：

多个第一检测电路，所述第一检测电路与所述第一栅线一一对应设置，所述第一检测电路连接所述第一引脚、第一控制信号端、第一检测信号端、与其对应的第一栅线连接，用于响应一控制信号将所述第一引脚的信号传输到所述第一检测信号端，以及用于响应所述第一控制信号端的信号将所述第一检测信号端的信号传输到所述第一栅线；

多个第二检测电路，所述第二检测电路与所述第二栅线一一对应设置，所述第二检测电路连接所述第二引脚、第二控制信号端、第二检测信号端、与其对应的第二栅线连接，用于响应一控制信号将所述第二引脚的信号传输到所述第二检测信号端，以及用于响应所述第二控制信号端的信号将所述第二检测信号端的信号传输到所述第二栅线；

多个第三检测电路，所述第三检测电路与位于同一像素列的第一数据线、感测信号线一一对应设置，所述第三检测电路连接与其对应的第一数据线、与其对应的感测信号线、第三检测信号端、第三控制信号端，用于响应一控制信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，以及用于响应第三控制信号端的信号将所述第三检测信号端的信号传输到所述感测信号线。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测电路包括：

第一晶体管，第一极连接所述第一引脚，第二极连接所述第一检测信号端，栅极连接所述第一引脚；

第二晶体管，第一极连接所述第一检测信号端，第二极连接所述第一栅线，栅极连接所述第一控制信号端。

3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第二检测电路包括：

第三晶体管，第一极连接所述第二引脚，第二极连接所述第二检测信号端，栅极连接所述第二引脚；

第四晶体管，第一极连接所述第二检测信号端，第二极连接所述第二栅线，栅极连接所述第二控制信号端。

4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第三检测电路用于响应所述第一数据线的信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，所述第三检测电路包括：

第五晶体管，第一极连接所述第三引脚，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第一数据线；

第六晶体管，第一极连接所述感测信号线，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第三控制信号端。

5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第三检测电路用于响应第四控制信号端的信号将所述第三引脚的信号传输到所述第三检测信号端，所述第三检测电路包括：

第五晶体管，第一极连接所述第三引脚，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第四控制信号端；

第六晶体管，第一极连接所述感测信号线，第二极连接所述第三检测信号端，栅极连接所述第三控制信号端。

6.根据权利要求1-5任一项所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测电路、第二检测电路、第三检测电路中的一个或多个集成于所述显示面板的虚拟像素区。

7.根据权利要求1-5任一项所述的检测电路，其特征在于，

多个所述第一检测电路连接同一所述第一控制信号端；

多个所述第二检测电路连接同一所述第二控制信号端；

多个所述第三检测电路连接同一所述第三控制信号端。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，

所述显示面板还包括多个虚拟子像素和多条第二数据线，位于同一列的虚拟子像素通过所述第二数据线连接，多个所述第一检测电路通过同一所述第二数据线连接于同一所述第一控制信号端；

多个所述第二检测电路通过同一所述第二数据线连接于同一所述第二控制信号端。

9.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述显示面板还包括多个虚拟子像素和多条第三栅线，位于同一行的虚拟子像素通过所述第三栅线连接；

多个所述第三检测电路通过同一所述第三栅线连接同一所述第三控制信号端。

10.根据权利要求1-5任一项所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

检测信号判断模块，连接所述第一检测信号端、第二检测信号端、第三检测信号端，用于分别根据所述第一检测信号端、第二检测信号端、第三检测信号端的信号判断所述显示面板的状态。

11.根据权利要求1-5任一项所述的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括位于沿所述第一栅线延伸方向一侧的第一走线区，所述显示面板还包括：

第一连接线，位于所述第一走线区，所述第一检测电路通过所述第一连接线与所述第一引脚连接；

所述显示面板还包括位于沿所述第一栅线延伸方向另一侧的第二走线区，所述显示面板还包括：

第二连接线，位于所述第二走线区，所述第二检测电路通过所述第二连接线与所述第二引脚连接；

所述显示面板还包括位于沿所述第一数据线延伸方向一侧的第三走线区，所述显示面板还包括：

第三连接线，位于所述第三走线区，所述第三检测电路通过所述第三连接线与所述第三引脚连接。

12.根据权利要求1-5任一项所述的检测电路，其特征在于，所述驱动晶体管的第一极连接第一电源端，所述像素驱动电路还包括：

电容，连接于所述驱动晶体管的栅极和第二极之间。

13.一种检测电路驱动方法，用于驱动权利要求1-12任一项所述的检测电路，其特征在于，包括：

在第一检测阶段：

向第一控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，从而通过第一检测信号端检测第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

向第二控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，从而通过第二检测信号端检测第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

向第三控制信号端输入关断信号，并响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测第三引脚组与源极驱动电路的绑定状态；

在第二检测阶段：

向第一控制信号端、第二控制信号端、第三控制信号端输入导通信号，并响应一控制信号以连通第一引脚和第一检测信号端，响应一控制信号以连通第二引脚和第二检测信号端，响应一控制信号以连通第三引脚和第三检测信号端，从而通过第三检测信号端检测显示子像素的驱动状态。

14.根据权利要求13所述的检测电路驱动方法，其特征在于，所述检测电路包括检测信号判断模块，所述驱动方法包括：

利用所述检测信号判断模块判断第一引脚组与第一栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断第二引脚组与第二栅极驱动电路的绑定状态；

利用所述检测信号判断模块判断显示子像素的驱动状态。

15.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-12任一项所述的检测电路。

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