CN103268744A - 一种显示装置的测试电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示装置的测试电路，包括多个阵列测试电路、一视觉测试控制电路，所述阵列测试电路包括多个CMOS传输门、多个分路开关；所述CMOS传输门的输入端与电源信号连接，输出端与所述分路开关连接，第一控制端与第二控制端分别与所述视觉测试控制电路的输出信号及所述视觉测试控制电路输出信号的反信号连接；所述视觉测试控制电路，用于在视觉测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。本发明的测试电路在视觉测试时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此测试电路不会受外界干扰，从而保证测试结果的准确性；而且减少了电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度。
Description
技术领域
本发明涉及显示装置测试领域，尤其涉及一种显示装置的测试电路。
背景技术
液晶显示器的测试电路中，视觉测试和像素阵列测试分别采用独立的开关信号，在进行视觉测试时，用于控制像素阵列测试的阵列测试的分路开关处于悬空状态。如图1所示，测试电路包括阵列测试电路1，阵列测试电路与像素阵列4连接，其中阵列测试电路1包括复数个集成电路元件IC（Integrate Circuit）或柔性线路板FPC衬垫2，及与其对应的复数个分路开关3；IC或FPC衬垫2与分路开关3一一对应连接，用于通过输入电源信号控制分路开关的断开或闭合。由于测试电路在视觉测试时（视觉测试电路未在图中示出），分路开关3处于悬空状态，因此视觉测试时易受外界信号干扰，影响判定结果；而且在正常工作时，为了输入电源信号关断所有分路开关3，需要IC或FPC需引出多个IC或FPC衬垫2，这种情况无疑会增加选材难度。
发明内容
本发明的目的是提供一种示装置像素阵列的测试电路，以解决现有技术中的测试电路，在阵列测试的分路开关悬空的问题；以及，显示器正常工作时由IC或FPC引出多个电源信号衬垫较多的问题。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：本发明较佳的实施例提供一种显示装置的测试电路，包括：多个阵列测试电路、一视觉测试控制电路，所述阵列测试电路包括多个CMOS传输门、多个分路开关；所述CMOS传输门的输入端与电源信号连接，输出端与所述分路开关连接，第一控制端与第二控制端分别与所述视觉测试控制电路的输出信号及所述视觉测试控制电路输出信号的反信号连接；所述视觉测试控制电路，用于在视觉测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。
所述视觉测试控制电路的输出信号一方面直接与所述第一控制端及第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述第一控制端及第二控制端中的另一个连接。
显示装置的测试电路还包括：一阵列测试控制电路，所述阵列测试控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第二控制端与第一控制端连接；所述阵列测试控制电路，用于在阵列测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关闭合。
所述阵列测试控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。
显示装置的测试电路还包括：工作控制电路，所述工作控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第一控制端及第二控制端连接；所述工作控制电路，用于在所述显示装置工作时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。
所述工作控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。
所述CMOS传输门的第一控制端为N管控制端，第二控制端为P管控制端，所述分路开关为N沟道增强型场效应管或P沟道耗尽型场效应管；或所述CMOS传输门的第一控制端为P管控制端，第二控制端为N管控制端，所述分路开关为N沟道耗尽型场效应管或P沟道增强型场效应管。
本发明实施例有益效果如下：通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此测试电路不会受外界干扰，从而保证测试结果的准确性；而且减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度。
附图说明
图1为现有技术中测试电路的局部示意图；
图2A为本发明实施例一中所述测试电路的局部示意图；
图2B为本发明实施例一中所述CMOS传输门的放大示意图；
图3为本发明实施例二中所述测试电路的局部示意图；
图4为本发明实施例三中所述测试电路的局部示意图；
图5为本发明实施例四中所述测试电路的局部示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明实施例的实现过程进行详细说明。
本发明实施例一，提供一种显示装置的测试电路，如图2A所示，包括多个阵列测试电路100、一视觉测试控制电路200，阵列测试电路100包括多个CMOS传输门101、多个分路开关102；其中参考图2B示出的CMOS传输门101的放大示意图，CMOS传输门101包括输入端1011、输出端1012、第一控制端1013和第二控制端1014。
CMOS传输门101的输入端1011与电源信号103连接，输出端1012与分路开关102连接，第一控制端1013与第二控制端1014分别与视觉测试控制电路200的输出信号及视觉测试控制电路200输出信号的反信号连接；
视觉测试控制电路200，用于在视觉测试时通过CMOS传输门101控制分路开关102断开，具体用于：在视觉测试时控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开。
图2A所示中，视觉测试控制电路200控制一阵列测试电路100的全部分路开关102，与之相似的，可以由视觉测试控制电路200控制指定个数的分路开关102，以便更灵活的断开指定个数的分路开关102，在此不再重复举例。
本发明实施例有益效果如下：通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此视觉测试不会受外界干扰，从而保证测试结果的准确性；而且减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度。
本发明实施例二，提供一种显示装置的测试电路，如图3所示，包括多个阵列测试电路100、一视觉测试控制电路200，阵列测试电路100包括多个CMOS传输门101、多个分路开关102；还包括一阵列测试控制电路300；
与实施例一相同，参考图2B为CMOS传输门101的放大示意图，CMOS传输门101包括输入端1011、输出端1012、第一控制端1013和第二控制端1014。
CMOS传输门101的输入端1011与电源信号103连接，输出端1012与分路开关102连接，第一控制端1013与第二控制端1014分别与视觉测试控制电路200的输出信号及视觉测试控制电路200输出信号的反信号连接；
视觉测试控制电路200，用于在视觉测试时通过CMOS传输门101控制分路开关102断开，具体用于：在视觉测试时控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开；
阵列测试控制电路300的输出信号一方面直接与第一控制端1013及第二控制端1014中的一个连接，另一方面通过非门104与第一控制端1013及第二控制端1014中的另一个连接；阵列测试控制电路100，用于在阵列测试时控制CMOS传输门101关断；
还包括多个开关控制电路301，开关控制电路400与分路开关102一一对应，开关控制电路301的输出信号分别与输出端1012和分路开关102连接，开关控制电路301用于在阵列测试控制电路300控制CMOS传输门101关断后，控制分路开关102闭合或断开。
需要说明的是，通常情况下，在测试电路进行阵列测试时，需要阵列测试控制电路300和开关控制电路301配合来控制阵列测试电路100所包含的分路开关102的闭合。
图3所示中，视觉测试控制电路200或阵列测试控制电路300控制一阵列测试电路100的全部分路开关102，与之相似的，可以由视觉测试控制电路200或阵列测试控制电路300控制指定个数的分路开关102，以便在视觉测试时，更灵活的断开指定个数的分路开关102；当然，阵列测试控制电路300与开关控制电路301配合，可以控制多个分路开关102中的每一个的单独闭合或断开，也可以控制多个分路开关102同时闭合或断开；在此不再重复举例。
本发明实施例有益效果如下：首先，通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此测试电路不会受外界干扰，从而保证测试结果的准确性；再者，减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度；另外，开关控制电路可以控制多个分路开关每一个单独闭合或断开，方便阵列测试时的控制。
本发明实施例三，提供一种显示装置的测试电路，如图4所示，包括多个阵列测试电路100、一视觉测试控制电路200，阵列测试电路100包括多个CMOS传输门101、多个分路开关102；还包括一工作控制电路400；
与实施例一相同，参考图2B为CMOS传输门101的放大示意图，CMOS传输门101包括输入端1011、输出端1012、第一控制端1013和第二控制端1014。
CMOS传输门101的输入端1011与电源信号103连接，输出端1012与分路开关102连接，第一控制端1013与第二控制端1014分别与视觉测试控制电路200的输出信号及视觉测试控制电路200输出信号的反信号连接；
视觉测试控制电路200，用于在视觉测试时通过CMOS传输门101控制分路开关102断开，具体用于：在视觉测试时控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开；
工作控制电路400的输出信号一方面直接与第一控制端1013及第二控制端1014连接中的一个连接，另一方面通过非门104与第一控制端1013及第二控制端1014中的另一个连接；
工作控制电路400，用于在显示装置工作时通过CMOS传输门101控制分路开关102断开，具体用于，在显示装置工作时，控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开。
应该注意到，视觉测试控制电路200或工作控制电路400，控制控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开后，实际上阵列测试电路100被关闭。
图4所示中，视觉测试控制电路200或工作控制电路400控制一阵列测试电路100的全部分路开关102，与之相似的，可以由视觉测试控制电路2000或工作控制电路400控制指定个数的分路开关102，以便在视觉测试时，更灵活的断开指定个数的分路开关102；在此不再重复举例。
本发明实施例有益效果如下：首先，通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试或显示装置正常工作时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此视觉测试或正常显示均不会受外界干扰，并且可以保证视觉测试结果的准确性；再者，减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度。
本发明实施例四，提供一种显示装置的测试电路，如图5所示，包括多个阵列测试电路100、一视觉测试控制电路200，阵列测试电路100包括多个CMOS传输门101、多个分路开关102；还包括一阵列测试控制电路300；
与实施例一相同，参考图2B为CMOS传输门101的放大示意图，CMOS传输门101包括输入端1011、输出端1012、第一控制端1013和第二控制端1014。
CMOS传输门101的输入端1011与电源信号103连接，输出端1012与分路开关102连接，第一控制端1013与第二控制端1014分别与视觉测试控制电路200的输出信号及视觉测试控制电路200输出信号的反信号连接；
视觉测试控制电路200，用于在视觉测试时通过CMOS传输门101控制分路开关102断开，具体用于：在视觉测试时控制CMOS传输门101导通，使电源信号103经CMOS传输门的输出端1012至分路开关102，使分路开关断开，从而避免在视觉测试时阵列测试电路对其造成干扰。
阵列测试控制电路300的输出信号一方面直接与第一控制端1013及第二控制端1014中的一个连接，另一方面通过非门104与第一控制端1013及第二控制端1014中的另一个连接；阵列测试控制电路100，用于在阵列测试时通过CMOS传输门101控制分路开关102闭合，从而保证阵列测试正常进行。
还包括多个开关控制电路301，开关控制电路400与分路开关102一一对应，开关控制电路301的输出信号分别与输出端1012和分路开关102连接，开关控制电路301用于在阵列测试控制电路300控制CMOS传输门101关断后，控制分路开关102闭合或断开。
需要说明的是，通常情况下，在测试电路进行阵列测试时，需要阵列测试控制电路300和开关控制电路301配合来控制阵列测试电路100所包含的分路开关102的闭合。
图5所示中，视觉测试控制电路200、阵列测试控制电路300或工作控制电路400可以控制一阵列测试电路100的全部分路开关102，与之相似的，可以由视觉测试控制电路200、阵列测试控制电路300或工作控制电路400控制指定个数的分路开关102，以便在视觉测试时，更灵活的断开指定个数的分路开关102；当然，阵列测试控制电路300与开关控制电路301配合，可以控制多个分路开关102中的每一个的单独闭合或断开，也可以控制多个分路开关102同时闭合或断开；在此不再重复举例。
本发明实施例有益效果如下：首先，通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试或显示装置正常工作时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此视觉测试或正常显示均不会受外界干扰，并且可以保证视觉测试结果的准确性；再者，减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度；另外，开关控制电路可以控制多个分路开关每一个单独闭合或断开，方便阵列测试时的控制。
此外，实施例一至实施例四提供的测试电路中，优选的，视觉测试控制电路200的输出信号一方面直接与第一控制端1013及第二控制端1014中的一个连接，另一方面通过非门104与第一控制端1013及第二控制端1014中的另一个连接。
以上实施例中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端，分路开关102为N沟道增强型场效应管或P沟道耗尽型场效应管。或者，CMOS传输门101的第一控制端1013为P管控制端，第二控制端1014为N管控制端，分路开关102为P沟道增强型场效应管或N沟道耗尽型场效应管。当然分开开关102可以为绝缘栅型场效应管或结型场效应管。
作为分路开关102的场效应管的选择取决于CMOS传输门101第一控制端1013和第二控制端1014的开启电压，以及由CMOS传输门101的输入端1011的输入的电源信号103的取值；在此不再详细描述。
本发明实施例五，参考实施例一的附图2A对视觉测试时关闭分路开关102作详细说明。其中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端，分路开关为N沟道增强型场效应管N-MOS，电源信号102输入低电平信号，在此不详细规定实施例中所涉及CMOS传输门101的控制端及电源信号102的取值。
视觉测试控制电路200输出高电平信号，向第一控制端1013输入高电平信号，经非门104向第二控制端输入低电平信号，CMOS传输门101导通，该导通是指的由附图2B中CMOS传输门101的放大示意图的输入端1011向输出端1012方向的导通。在此，可以使导通后的CMOS传输门的输出端1012输出的信号与电源信号102相同，即输出端1012的输出低电平信号；该输出端1012输出的低电平信号作用于分路开关102，由于分路开关102为N-MOS，因此该分路开关关断。
本发明实施例六，参考实施例一的附图2A对视觉测试时关闭分路开关102作详细说明。其中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端。与实施例五不同之处在于，分路开关为P沟道增强型场效应管P-MOS，电源信号102输入高电平信号。在此不详细规定实施例中所涉及CMOS传输门101的控制端及电源信号102的取值。
视觉测试控制电路200输出高电平信号，向第一控制端1013输入高电平信号，经非门104向第二控制端输入低电平信号，该导通是指的由附图2B中CMOS传输门101的放大示意图的输入端1011向输出端1012方向的导通。在此，可以使导通后的CMOS传输门的输出端1012输出的信号与电源信号102相同，即输出端1012的输出高电平信号；该输出端1012输出的高电平信号作用于分路开关102，由于分路开关102为P-MOS，因此该分路开关关断。
此外，参考实施例三的附图4所示，工作控制电路400控制CMOS传输门101导通并关断分路开关102的过程与实施例五或实施例六的控制过程相似，在此不再重复举例。
本发明实施例七，参考实施例二的附图3对阵测关闭分路开关102作详细说明。其中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端，分路开关为N沟道增强型场效应管N-MOS，电源信号102输入低电平信号，在此不详细规定实施例中所涉及CMOS传输门101的控制端及电源信号102的取值。
视觉测试控制电路200无信号输出，阵列测试控制电路300输出低电平信号，即向第一控制端1013输入低电平信号，经非门104向第二控制端输入高电平信号，CMOS传输门101关断。此电源信号103无法通过CMOS传输门，也就不能作用于分路开关102；分路开关102处于关断或悬空状态；可以通过开关控制电路301向需要控制的分路开关102输入高电平信号，由于分路开关102为N-MOS，因此该分路开关102闭合，使连通分路开关连接数据线，实施阵列测试。
本发明实施例六，参考实施例一的附图2A对视觉测试时关闭分路开关102作详细说明。其中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端。与实施例五不同之处在于，分路开关为P沟道增强型场效应管P-MOS，电源信号102输入高电平信号。在此不详细规定实施例中所涉及CMOS传输门101的控制端及电源信号102的取值。
视觉测试控制电路200输出高电平信号，向第一控制端1013输入高电平信号，经非门104向第二控制端输入低电平信号，该导通是指的由附图2B中CMOS传输门101的放大示意图的输入端1011向输出端1012方向的导通。在此，可以使导通后的CMOS传输门的输出端1012输出的信号与电源信号102相同，即输出端1012的输出高电平信号；该输出端1012输出的高电平信号作用于分路开关102，由于分路开关102为P-MOS，因此该分路开关关断。
此外，参考实施例三的附图4所示，工作控制电路400控制CMOS传输门101导通并关断分路开关102的过程与实施例五或实施例六的控制过程相似，在此不再重复举例。
本发明实施例八，参考实施例二的附图3对阵测关闭分路开关102作详细说明。其中，CMOS传输门101的第一控制端1013为N管控制端，第二控制端1014为P管控制端，分路开关为P沟道增强型场效应管P-MOS，电源信号102输入高电平信号，在此不详细规定实施例中所涉及CMOS传输门101的控制端及电源信号102的取值。
视觉测试控制电路200无信号输出，阵列测试控制电路300输出低电平信号，即向第一控制端1013输入低电平信号，经非门104向第二控制端输入高电平信号，CMOS传输门101关断。此电源信号103无法通过CMOS传输门，也就不能作用于分路开关102；分路开关102处于关断或悬空状态；可以通过开关控制电路301向需要控制的分路开关102输入低电平信号，由于分路开关102为P-MOS，因此该分路开关102闭合，使连通分路开关连接数据线，实施阵列测试。
在此，应该意识到，参考实施例四的附图5，视觉测试控制电路200、阵列测试控制电路300、工作控制电路400以及开关控制电路301控制CMOS传输门101的关断或导通，以达到控制分路开关102的目的，其实现过程均为上述实施例五至实施例八的组合；还应该意识到，在通常情况下，视觉测试控制电路200、阵列测试控制电路300、工作控制电路400并不同时工作，如下：当视觉测试控制电路200工作时，阵列测试控制电路300和工作控制电路400不工作，当视觉测试控制电路200不工作时，阵列测试控制电路300或工作控制电路400工作；当阵列测试控制电路300工作时，视觉测试控制电路200和工作控制电路400不工作，当阵列测试控制电路300不工作时，视觉测试控制电路200或工作控制电路400工作；当工作控制电路400工作时，阵列测试控制电路300和视觉测试控制电路200不工作，当工作控制电路400不工作时，阵列测试控制电路300或视觉测试控制电路200工作。
需要说明的是，以上所有实施例所示附图是为了更清楚地进行说明，不应以图形成对本发明的限制。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种显示装置的测试电路，其特征在于，包括：多个阵列测试电路、一视觉测试控制电路，所述阵列测试电路包括多个CMOS传输门、多个分路开关；
所述CMOS传输门的输入端与电源信号连接，输出端与所述分路开关连接，第一控制端与第二控制端分别与所述视觉测试控制电路的输出信号及所述视觉测试控制电路输出信号的反信号连接；
所述视觉测试控制电路，用于在视觉测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。
2.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述视觉测试控制电路的输出信号一方面直接与所述第一控制端及第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述第一控制端及第二控制端中的另一个连接。
3.如权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括：一阵列测试控制电路，
所述阵列测试控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第二控制端与第一控制端连接；
所述阵列测试控制电路，用于在阵列测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关闭合。
4.如权利要求3所述的电路，其特征在于，所述阵列测试控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。
5.如权利要求1-4任一项所述的测试电路，其特征在于，还包括：工作控制电路，
所述工作控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第一控制端及第二控制端连接；
所述工作控制电路，用于在所述显示装置工作时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。
6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述工作控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。
7.如权利要求1-4、6任一项所述的电路，其特征在于，所述CMOS传输门的第一控制端为N管控制端，第二控制端为P管控制端，所述分路开关为N沟道增强型场效应管或P沟道耗尽型场效应管；或
所述CMOS传输门的第一控制端为P管控制端，第二控制端为N管控制端，所述分路开关为N沟道耗尽型场效应管或P沟道增强型场效应管。
8.如权利要求5所述的电路，其特征在于，所述CMOS传输门的第一控制端为N管控制端，第二控制端为P管控制端，所述分路开关为N沟道增强型场效应管或P沟道耗尽型场效应管；或
所述CMOS传输门的第一控制端为P管控制端，第二控制端为N管控制端，所述分路开关为N沟道耗尽型场效应管或P沟道增强型场效应管。
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105096781A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-11-25 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种面板检测电路及检测方法 |
| CN105609028A (zh) * | 2016-03-23 | 2016-05-25 | 武汉华星光电技术有限公司 | 假压测试方法与装置 |
| CN105810136A (zh) * | 2016-05-23 | 2016-07-27 | 武汉华星光电技术有限公司 | 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置 |
| CN108257541A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-07-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、显示面板和显示装置 |
| CN109727563A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-05-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 下窄边框显示面板 |
| CN112992024A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-18 | 昆山龙腾光电股份有限公司 | 显示装置及其检测方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060114273A1 (en) * | 2004-11-29 | 2006-06-01 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Display panel |
| US20070080913A1 (en) * | 2005-10-12 | 2007-04-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Display device and testing method for display device |
| US20080024471A1 (en) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Samsung Electronics Co., Ltd | Driving apparatus for display device and display device including the same |
| CN101290740A (zh) * | 2007-04-11 | 2008-10-22 | 恩益禧电子股份有限公司 | 显示单元的驱动器 |
| CN101344650A (zh) * | 2007-07-11 | 2009-01-14 | 上海天马微电子有限公司 | 显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板 |
| US20100073009A1 (en) * | 2008-09-23 | 2010-03-25 | Au Optronics (Suzhou) Corp., Ltd. | Test circuit adapted in a display panel of an electronic device |
| CN102385828A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-03-21 | 友达光电股份有限公司 | 阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板 |
-
2012
- 2012-12-28 CN CN201210583350.6A patent/CN103268744B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060114273A1 (en) * | 2004-11-29 | 2006-06-01 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Display panel |
| US20070080913A1 (en) * | 2005-10-12 | 2007-04-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Display device and testing method for display device |
| US20080024471A1 (en) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Samsung Electronics Co., Ltd | Driving apparatus for display device and display device including the same |
| CN101290740A (zh) * | 2007-04-11 | 2008-10-22 | 恩益禧电子股份有限公司 | 显示单元的驱动器 |
| CN101344650A (zh) * | 2007-07-11 | 2009-01-14 | 上海天马微电子有限公司 | 显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板 |
| US20100073009A1 (en) * | 2008-09-23 | 2010-03-25 | Au Optronics (Suzhou) Corp., Ltd. | Test circuit adapted in a display panel of an electronic device |
| CN102385828A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-03-21 | 友达光电股份有限公司 | 阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板 |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105096781A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-11-25 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种面板检测电路及检测方法 |
| CN105609028A (zh) * | 2016-03-23 | 2016-05-25 | 武汉华星光电技术有限公司 | 假压测试方法与装置 |
| CN105609028B (zh) * | 2016-03-23 | 2018-03-27 | 武汉华星光电技术有限公司 | 假压测试方法与装置 |
| CN105810136A (zh) * | 2016-05-23 | 2016-07-27 | 武汉华星光电技术有限公司 | 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置 |
| US10235913B2 (en) | 2016-05-23 | 2019-03-19 | Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Array substrates testing circuits, display panels, and flat display devices |
| CN105810136B (zh) * | 2016-05-23 | 2019-04-02 | 武汉华星光电技术有限公司 | 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置 |
| CN108257541A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-07-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、显示面板和显示装置 |
| US11200819B2 (en) * | 2018-03-23 | 2021-12-14 | Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display substrate and manufacturing method thereof, display panel, display motherboard and testing method thereof, and display device |
| CN109727563A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-05-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 下窄边框显示面板 |
| US11373564B2 (en) | 2019-01-30 | 2022-06-28 | Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Lower narrow border display panel |
| CN112992024A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-18 | 昆山龙腾光电股份有限公司 | 显示装置及其检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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