CN104217668A - 显示面板测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板测试装置及方法，所述显示面板测试装置包括：接口电路，用于与待测试显示面板连接；测试电路，与所述接口电路连接，所述测试电路用于在所述待测试显示面板处于测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号；其中，所述调整信号用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板保留的至少部分残影信号。本发明可以使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。

Description

显示面板测试装置及方法
【技术领域】
本发明涉及显示面板测试领域，特别涉及一种显示面板测试装置及方法。
【背景技术】
传统的对显示面板的进行测试的技术方案一般为：
将测试信号提供给显示面板，显示面板在接收到测试信号后显示与该测试信号对应的画面。
然而，在对显示面板进行测试的过程中，往往需要对显示面板进行开机和关机操作。
在实践中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：
显示面板开机时会显示上次关机时的残影。
此外，在对AMOLED(Active Matrix Organic Light EmittingDiode，有源矩阵有机发光二极管面板)进行测试的过程中，所述AMOLED的驱动开关电路(例如，驱动晶体管)会由于老化而使得开关电压阈值(Vth)发生偏移。
故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种显示面板测试装置及方法，其能使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。
为解决上述问题，本发明的技术方案如下：
一种显示面板测试装置，所述显示面板测试装置包括：接口电路，用于与待测试显示面板连接；测试电路，与所述接口电路连接，所述测试电路用于在所述待测试显示面板处于测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号；其中，所述调整信号用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板保留的至少部分残影信号。
在上述显示面板测试装置中，所述测试电路包括：测试信号生成电路，用于生成所述测试信号；调整信号生成电路，用于生成所述调整信号；选择电路，用于接收所述测试信号和所述调整信号，并用于在所述待测试显示面板处于所述测试状态时输出所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时输出所述调整信号。
在上述显示面板测试装置中，所述选择电路包括：第一开关，所述第一开关包括：第一输入端，用于接收所述测试信号；第一输出端，用于在所述第一输入端和所述第一输出端之间的第一电流通道开启时输出所述测试信号；第一控制端，用于接收第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道的开启或关闭；第二开关，所述第二开关包括：第二输入端，用于接收所述调整信号；第二输出端，用于在所述第二输入端和所述第二输出端之间的第二电流通道开启时输出所述调整信号；第二控制端，用于接收第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道的开启或关闭；控制电路，与所述第一控制端和所述第二控制端连接，所述控制电路用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号。
在上述显示面板测试装置中，在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道开启，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道关闭；在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道开启。
在上述显示面板测试装置中，所述调整信号包括：至少一开启信号，所述开启信号用于开启所述待测试显示面板的薄膜晶体管开关；至少一清理信号，所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板的像素电极中，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号。
在上述显示面板测试装置中，所述开启信号为高电平信号，所述清理信号为低电平信号；所述测试电路还用于将所述开启信号通过所述待测试显示面板的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及用于将所述清理信号通过所述待测试显示面板的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
在上述显示面板测试装置中，所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板，所述测试电路还用于在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，所述抑制信号用于提供给所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路，以抑制所述驱动开关电路的开关电压阈值偏移。
一种显示面板测试方法，所述方法包括以下步骤：所述测试电路在所述待测试显示面板处于所述测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号；所述测试电路在所述待测试显示面板处于所述预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号。
在上述显示面板测试方法中，所述方法还包括以下步骤：在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，所述测试信号生成电路生成所述测试信号，所述选择电路接收所述测试信号，并输出所述测试信号；在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述调整信号生成电路生成所述调整信号，所述选择电路接收所述调整信号，并输出所述调整信号。
在上述显示面板测试方法中，所述方法还包括以下步骤：控制电路生成所述第一控制信号和所述第二控制信号；在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，第一开关的第一控制端接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制第一电流通道开启，以使所述第一开关的第一输出端输出所述测试信号，第二开关的第二控制端接收所述第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制第二电流通道关闭；在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述第一控制端接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端接收所述第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道开启，以使所述第二输出端输出所述调整信号；其中，所述第一电流通道为所述第一输入端和所述第一输出端之间的电流通道，所述第二电流通道为所述第二输入端和所述第二输出端之间的电流通道。
在上述显示面板测试方法中，所述调整信号包括：至少一开启信号，所述开启信号用于开启所述待测试显示面板的薄膜晶体管开关；至少一清理信号，所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板的像素电极中，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号；所述方法还包括以下步骤：所述测试电路将所述开启信号通过所述待测试显示面板的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及将所述清理信号通过所述待测试显示面板的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
在上述显示面板测试方法中，所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板，所述方法还包括以下步骤：在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时，所述测试电路向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，以抑制所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路的开关电压阈值偏移。
相对现有技术，本发明可以使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
【附图说明】
图1为本发明的显示面板测试装置测试待测试显示面板的示意图；
图2为图1中的显示面板测试装置的框图；
图3为图2中的测试电路的框图；
图4为图3中的选择电路的框图；
图5为图1中的待测试显示面板在不同状态下所接收到的信号的示意图；
图6为本发明的显示面板测试方法的流程图；
图7为图6中的测试电路的工作步骤的流程图；
图8为图7中测试电路在待测试显示面板处于测试状态时输出测试信号的步骤的流程图；
图9为图7中测试电路在待测试显示面板处于预定状态时输出调整信号的步骤的流程图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。
参考图1、图2和图5，图1为本发明的显示面板测试装置102测试待测试显示面板101的示意图，图2为图1中的显示面板测试装置102的框图，图5为图1中的待测试显示面板在不同状态下所接收到的信号的示意图。
本发明的待测试显示面板可以是诸如LCD(Liquid CrystalDisplay，液晶显示面板)、AMOLED(Active Matrix Organic LightEmitting Diode，有源矩阵有机发光二极管面板)等显示面板。
本发明的显示面板测试装置102包括接口电路201和测试电路202。本发明的显示面板测试装置102通过所述接口电路201与所述待测试显示面板101连接。本发明的显示面板测试装置102还可以包括机台，所述机台用于承载所述待测试显示面板101，以便于操作员对所述待测试显示面板101进行检测。
所述接口电路201设置于所述承载机台上。所述接口电路201用于与待测试显示面板101连接。具体地，所述接口电路201包括至少一个接口，至少一个所述接口与所述待测试显示面板101中的信号接口(例如，测试垫(Pad))对接。所述测试电路202与所述接口电路201连接，所述测试电路202用于在所述待测试显示面板101处于测试状态(例如，显示测试画面的状态)502时生成测试信号，并通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板101处于预定状态(501，503)时生成调整信号，并通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述调整信号。
其中，所述预定状态(501，503)为所述待测试显示面板101的开机状态501和/或关机状态503。所述开机状态501对应所述待测试显示面板101开机时一瞬间的状态或开机后第一预定时间内的状态，所述关机状态503对应所述待测试显示面板101关机时一瞬间的状态或关机后的第二预定时间内的状态。所述第一预定时间和所述第二预定时间均可处于0.01秒至5秒的范围内，例如，所述第一预定时间、所述第二预定时间为0.02秒，0.035秒，0.050秒，0.08秒，0.09秒，1.12秒，1.20秒，1.25秒，1.38秒，1.45秒，1.56秒，1.69秒，1.72秒，1.85秒，1.99秒，2.03秒，2.13秒，2.30秒，2.41秒，2.55秒，2.64秒，2.73秒，2.89秒，2.96秒，3.10秒，3.30秒，3.35秒，3.51秒，3.60秒，3.73秒，3.87秒，3.95秒，4.03秒，4.20秒，4.29秒，4.36秒，4.51秒，4.62秒，4.78秒，4.89秒，4.96秒，5秒等中的任意一者；所述第二预定时间和所述第一预定时间可以相等，也可以不相等。
优选地，所述预定状态为所述关机状态503。
在所述预定状态为所述开机状态501的情况下，所述测试电路202和所述接口电路201用于控制所述调整信号先于开机信号(例如，发光电压信号(OVDD))到达所述待测试显示面板101，即，所述测试线路和所述接口电路201用于通过所述调整信号在所述待测试显示面板101开机(点亮)之前清理所述待测试显示面板101中的残影信号。
其中，所述调整信号用于在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板101保留的至少部分残影信号。所述残影信号是所述待测试显示面板101在关机后残留的所述测试画面或其它画面所对应的信号，即，所述残影信号与所述待测试显示面板101的像素电极(或液晶电容)中残留的与所述测试画面或其它画面相关的电荷对应。
例如，所述测试电路202用于在所述待测试显示面板101处于所述关机状态503时通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述调整信号，以使得所述待测试显示面板101中的残留信号被清理，从而使得所述待测试显示面板101在下一次开机时出现残影。
参考图3，图3为图2中的测试电路202的框图。在本实施例中，所述测试电路202包括测试信号生成电路302、调整信号生成电路303和选择电路301。
所述测试信号生成电路302用于生成所述测试信号。所述调整信号生成电路303用于生成所述调整信号。
所述选择电路301用于接收所述测试信号和所述调整信号，并用于在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时输出所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时输出所述调整信号。具体地，所述选择电路301用于在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时将所述测试信号通过所述接口电路201输出至所述待测试显示面板101，以及用于在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时将所述调整信号通过所述接口电路201输出至所述待测试显示面板101。
参考图4，图4为图3中的选择电路301的框图。在本实施例中，所述选择电路301包括第一开关402、第二开关403和控制电路401。所述第一开关402和所述第二开关403均可以是三极管，其中，所述第一开关402包括第一输入端4023、第一输出端4021和第一控制端4022。所述第二开关403包括第二输入端4033、第二输出端4031和第二控制端4032。
所述第一输入端4023用于接收所述测试信号，所述第一输出端4021用于在所述第一输入端4023和所述第一输出端4021之间的第一电流通道开启时输出所述测试信号，所述第一控制端4022用于接收第一控制信号K1，并根据所述第一控制信号K1控制所述第一电流通道的开启或关闭。
所述第二输入端4033用于接收所述调整信号，所述第二输出端4031用于在所述第二输入端4033和所述第二输出端4031之间的第二电流通道开启时输出所述调整信号，所述第二控制端4032用于接收第二控制信号K2，并根据所述第二控制信号K2控制所述第二电流通道的开启或关闭。
所述控制电路401与所述第一控制端4022和所述第二控制端4032连接，所述控制电路401用于生成所述第一控制信号K1和所述第二控制信号K2。
在本实施例中，在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时，所述第一控制端4022用于根据所述第一控制信号K1控制所述第一电流通道开启，所述第二控制端4032用于根据所述第二控制信号K2控制所述第二电流通道关闭。在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时，所述第一控制端4022用于根据所述第一控制信号K1控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端4032用于根据所述第二控制信号K2控制所述第二电流通道开启。例如，所述第一控制信号K1为低电平信号与所述第一电流通道关闭对应，所述第一控制信号K1为高电平信号与所述第一电流通道开启对应。所述第二控制信号K2为低电平信号与所述第二电流通道关闭对应，所述第二控制信号K2为高电平信号与所述第二电流通道开启对应。反之亦然。
在本实施例中，所述调整信号包括至少一开启信号(G1、G2、G3，等等)和至少一清理信号(D1、D2、D3、D4、D5、D6，等等)。所述开启信号用于开启所述待测试显示面板101的薄膜晶体管开关。所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板101的像素电极中，以清理所述待测试显示面板101保留的至少部分所述残影信号，即，所述清理信号用于使得所述待测试显示面板101中的像素电极的电荷的至少一部分消失或被抵消，从而使得所述待测试显示面板101中的像素电极的电场恢复至初始状态。
在本实施例中，所述开启信号为高电平信号，所述清理信号为低电平信号。反之亦然。例如，如图5所示，开启信号(G1、G2、G3)在所述待测试显示面板处于所述预定状态(所述开机状态501和所述关机状态503)时均为高电平信号，所述清理信号(D1、D2、D3、D4、D5、D6)在所述待测试显示面板处于所述预定状态(所述开机状态501和所述关机状态503)时均为低电平信号。
所述测试电路202还用于将所述开启信号通过所述待测试显示面板101的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及用于将所述清理信号通过所述待测试显示面板101的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
通过上述技术方案，可以使得在所述待测试显示面板101关机(测试完)后，残留于像素电极中的与所述测试画面或其它画面相关的电荷被清理，即，使得所述像素电极的电场恢复至初始状态，因此，可以使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。
作为一种改进，在所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板的情况下(其中，所述有源矩阵有机发光二极管面板包括驱动开关电路，所述驱动开关电路用于接收开机信号(OVDD)和关机信号(OVSS)，所述驱动开关电路包括一个三极管，所述三极管包括一第三控制端、第一末端、第二末端，所述第一末端用于接收所述开机信号，所述第二末端用于接收关机信号，所述第三控制端与所述第一末端分别连接一个电容的两块极板，所述第二末端还与一个二极管连接)，所述测试电路还用于在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，所述抑制信号用于提供给所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路，以抑制所述驱动开关电路的开关电压阈值(Vth)偏移。术语“偏移”是指偏离正常(预定)值。
具体地，所述抑制信号用于提供给与所述三极管的所述第二末端连接的所述二极管的一端，所述抑制信号为正电压信号，所述正电压信号用于使得所述三极管处于反向偏制(反向截止/反向偏压)状态，即，使得所述第二末端的电压比所述第三控制端的电压高，从而抑制所述开关电压阈值(Vth)偏移，提高所述有源矩阵有机发光二极管面板的使用寿命。
参考图6，图6为本发明的显示面板测试方法的流程图。本发明的显示面板测试方法(即，显示面板测试装置102测试待测试显示面板101的方法)包括以下步骤：
步骤601，所述测试电路202在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时生成测试信号。
步骤602，所述测试电路202通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述测试信号。
步骤603，所述测试电路202在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时生成调整信号。
步骤603，所述测试电路202通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述调整信号，以清理所述待测试显示面板101保留的至少部分所述残影信号。
所述步骤601和所述步骤602以及所述步骤603和所述步骤604不分先后次序，即，所述步骤601和所述步骤602可以先于所述步骤603和所述步骤604执行，所述步骤603和所述步骤604也可以先于所述步骤601和所述步骤602执行，所述步骤603和所述步骤604也可以与所述步骤601和所述步骤602同时执行。
其中，所述预定状态为所述待测试显示面板101的开机状态501或关机状态503。所述开机状态501对应所述待测试显示面板101开机时一瞬间的状态或开机后第一预定时间内的状态，所述关机状态503对应所述待测试显示面板101关机时一瞬间的状态或关机后的第二预定时间内的状态。所述第一预定时间和所述第二预定时间均可处于0.01秒至5秒的范围内，例如，所述第一预定时间、所述第二预定时间为0.02秒，0.035秒，0.050秒，0.08秒，0.09秒，1.12秒，1.20秒，1.25秒，1.38秒，1.45秒，1.56秒，1.69秒，1.72秒，1.85秒，1.99秒，2.03秒，2.13秒，2.30秒，2.41秒，2.55秒，2.64秒，2.73秒，2.89秒，2.96秒，3.10秒，3.30秒，3.35秒，3.51秒，3.60秒，3.73秒，3.87秒，3.95秒，4.03秒，4.20秒，4.29秒，4.36秒，4.51秒，4.62秒，4.78秒，4.89秒，4.96秒，5秒等中的任意一者；所述第二预定时间和所述第一预定时间可以相等，也可以不相等。
优选地，所述预定状态为所述关机状态503。
在所述预定状态为所述开机状态501的情况下，所述测试电路202和所述接口电路201控制所述调整信号先于开机信号到达所述待测试显示面板101，即，所述测试线路和所述接口电路201通过所述调整信号在所述待测试显示面板101开机(点亮)之前清理所述待测试显示面板101中的残影信号。
所述调整信号用于在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板101保留的至少部分残影信号。所述残影信号是所述待测试显示面板101在关机后残留的所述测试画面或其它画面所对应的信号，即，所述残影信号与所述待测试显示面板101的像素电极(或液晶电容)中残留的与所述测试画面或其它画面相关的电荷对应。
例如，所述测试电路202在所述待测试显示面板101处于所述关机状态503时通过所述接口电路201向所述待测试显示面板101提供所述调整信号，以使得所述待测试显示面板101中的残留信号被清理，从而使得所述待测试显示面板101在下一次开机时出现残影。
参考图7，图7为图6中的测试电路202的工作步骤的流程图。在本实施例中，所述方法还包括以下步骤：
步骤701，在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时，所述测试信号生成电路302生成所述测试信号。
步骤702，所述选择电路301接收所述测试信号，并输出所述测试信号。
步骤703，在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时，所述调整信号生成电路303生成所述调整信号。
步骤704，所述选择电路301接收所述调整信号，并输出所述调整信号。
所述步骤701和所述步骤702以及所述步骤703和所述步骤704不分先后次序，即，所述步骤701和所述步骤702可以先于所述步骤703和所述步骤704执行，所述步骤703和所述步骤704也可以先于所述步骤701和所述步骤702执行，所述步骤703和所述步骤704也可以与所述步骤701和所述步骤702同时执行。
具体地，所述选择电路301在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时将所述测试信号通过所述接口电路201输出至所述待测试显示面板101，以及在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时将所述调整信号通过所述接口电路201输出至所述待测试显示面板101。
参考图8，图8为图7中测试电路202在待测试显示面板101处于测试状态502时输出测试信号的步骤的流程图。在本实施例中，在所述待测试显示面板101处于所述测试状态502时，所述方法还包括以下步骤：
步骤801，控制电路401生成所述第一控制信号K1和所述第二控制信号K2。
步骤802，第一开关402的第一控制端4022接收所述第一控制信号K1。
步骤803，所述第一控制端4022根据所述第一控制信号K1控制第一电流通道开启，以使所述第一开关402的第一输出端4021输出所述测试信号。
步骤804，第二开关403的第二控制端4032接收所述第二控制信号K2。
步骤804，所述第二控制端4032根据所述第二控制信号K2控制第二电流通道关闭。
所述步骤802和所述步骤803以及所述步骤804和所述步骤805不分先后次序，即，所述步骤802和所述步骤803可以先于所述步骤804和所述步骤805执行，所述步骤804和所述步骤805也可以先于所述步骤802和所述步骤803执行，所述步骤804和所述步骤805也可以与所述步骤802和所述步骤803同时执行。
例如，所述第一控制信号K1为低电平信号与所述第一电流通道关闭对应，所述第一控制信号K1为高电平信号与所述第一电流通道开启对应。所述第二控制信号K2为低电平信号与所述第二电流通道关闭对应，所述第二控制信号K2为高电平信号与所述第二电流通道开启对应。反之亦然。
参考图9，图9为图7中测试电路202在待测试显示面板101处于预定状态时输出调整信号的步骤的流程图。在所述待测试显示面板101处于所述预定状态时，所述方法还包括以下步骤：
步骤901，所述控制电路401生成所述第一控制信号K1和所述第二控制信号K2。
步骤902，所述第一控制端4022接收所述第一控制信号K1。
步骤903，所述第一控制端4022根据所述第一控制信号K1控制所述第一电流通道关闭。
步骤904，所述第二控制端4032接收所述第二控制信号K2。
步骤905，所述第二控制端4032根据所述第二控制信号K2控制所述第二电流通道开启，以使所述第二输出端4031输出所述调整信号。
所述步骤902和所述步骤903以及所述步骤904和所述步骤905不分先后次序，即，所述步骤902和所述步骤903可以先于所述步骤904和所述步骤905执行，所述步骤904和所述步骤905也可以先于所述步骤902和所述步骤903执行，所述步骤904和所述步骤905也可以与所述步骤902和所述步骤903同时执行。
其中，所述第一电流通道为所述第一输入端4023和所述第一输出端4021之间的电流通道，所述第二电流通道为所述第二输入端4033和所述第二输出端4031之间的电流通道。
在本实施例中，所述调整信号包括至少一开启信号和至少一清理信号。所述开启信号用于开启所述待测试显示面板101的薄膜晶体管开关。所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板101的像素电极中，以清理所述待测试显示面板101保留的至少部分所述残影信号，即，所述清理信号用于使得所述待测试显示面板101中的像素电极的电荷的至少一部分消失或被抵消，从而使得所述待测试显示面板101中的像素电极的电场恢复至初始状态。
如图5所示，开启信号(G1、G2、G3)在所述待测试显示面板处于所述预定状态(所述开机状态501和所述关机状态503)时均为高电平信号，所述清理信号(D1、D2、D3、D4、D5、D6)在所述待测试显示面板处于所述预定状态(所述开机状态501和所述关机状态503)时均为低电平信号。
所述方法还包括以下步骤：
所述测试电路202将所述开启信号通过所述待测试显示面板101的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及将所述清理信号通过所述待测试显示面板101的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
通过上述技术方案，可以使得在所述待测试显示面板101关机(测试完)后，残留于像素电极中的与所述测试画面或其它画面相关的电荷被清理，即，使得所述像素电极的电场恢复至初始状态，因此，可以使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。
作为一种改进，在所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板的情况下(其中，所述有源矩阵有机发光二极管面板包括驱动开关电路，所述驱动开关电路用于接收开机信号(OVDD)和关机信号(OVSS)，所述驱动开关电路包括一个三极管，所述三极管包括一第三控制端、第一末端、第二末端，所述第一末端用于接收所述开机信号，所述第二末端用于接收关机信号，所述第三控制端与所述第一末端分别连接一个电容的两块极板，所述第二末端还与一个二极管连接)，所述方法还包括以下步骤：
所述测试电路在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，所述测试电路将所述抑制信号提供给所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路，以抑制所述驱动开关电路的开关电压阈值(Vth)偏移。
具体地，所述测试电路将所述抑制信号提供给与所述三极管的所述第二末端连接的所述二极管的一端，所述抑制信号为正电压信号，所述正电压信号用于使得所述三极管处于反向偏制(反向截止/反向偏压)状态，即，使得所述第二末端的电压比所述第三控制端的电压高，从而抑制所述开关电压阈值(Vth)偏移，提高所述有源矩阵有机发光二极管面板的使用寿命。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种显示面板测试装置，其特征在于，所述显示面板测试装置包括：
接口电路，用于与待测试显示面板连接；
测试电路，与所述接口电路连接，所述测试电路用于在所述待测试显示面板处于测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号；
其中，所述调整信号用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板保留的至少部分残影信号。
2.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述测试电路包括：
测试信号生成电路，用于生成所述测试信号；
调整信号生成电路，用于生成所述调整信号；
选择电路，用于接收所述测试信号和所述调整信号，并用于在所述待测试显示面板处于所述测试状态时输出所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时输出所述调整信号。
3.根据权利要求2所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述选择电路包括：
第一开关，所述第一开关包括：
第一输入端，用于接收所述测试信号；
第一输出端，用于在所述第一输入端和所述第一输出端之间的第一电流通道开启时输出所述测试信号；
第一控制端，用于接收第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道的开启或关闭；
第二开关，所述第二开关包括：
第二输入端，用于接收所述调整信号；
第二输出端，用于在所述第二输入端和所述第二输出端之间的第二电流通道开启时输出所述调整信号；
第二控制端，用于接收第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道的开启或关闭；
控制电路，与所述第一控制端和所述第二控制端连接，所述控制电路用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号。
4.根据权利要求3所述的显示面板测试装置，其特征在于，在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道开启，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道关闭；
在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道开启。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述调整信号包括：
至少一开启信号，所述开启信号用于开启所述待测试显示面板的薄膜晶体管开关；
至少一清理信号，所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板的像素电极中，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号。
6.根据权利要求5所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述开启信号为高电平信号，所述清理信号为低电平信号；
所述测试电路还用于将所述开启信号通过所述待测试显示面板的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及用于将所述清理信号通过所述待测试显示面板的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
7.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板，所述测试电路还用于在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，所述抑制信号用于提供给所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路，以抑制所述驱动开关电路的开关电压阈值偏移。
8.一种显示面板测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
所述测试电路在所述待测试显示面板处于所述测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号；
所述测试电路在所述待测试显示面板处于所述预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号。
9.根据权利要求8所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：
在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，所述测试信号生成电路生成所述测试信号，所述选择电路接收所述测试信号，并输出所述测试信号；
在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述调整信号生成电路生成所述调整信号，所述选择电路接收所述调整信号，并输出所述调整信号。
10.根据权利要求9所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：
控制电路生成所述第一控制信号和所述第二控制信号；
在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，第一开关的第一控制端接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制第一电流通道开启，以使所述第一开关的第一输出端输出所述测试信号，第二开关的第二控制端接收所述第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制第二电流通道关闭；
在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述第一控制端接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端接收所述第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道开启，以使所述第二输出端输出所述调整信号；
其中，所述第一电流通道为所述第一输入端和所述第一输出端之间的电流通道，所述第二电流通道为所述第二输入端和所述第二输出端之间的电流通道。
11.根据权利要求8至10中任意一项所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述调整信号包括：
至少一开启信号，所述开启信号用于开启所述待测试显示面板的薄膜晶体管开关；
至少一清理信号，所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板的像素电极中，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号；
所述方法还包括以下步骤：
所述测试电路将所述开启信号通过所述待测试显示面板的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及将所述清理信号通过所述待测试显示面板的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。
12.根据权利要求8所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板，所述方法还包括以下步骤：
在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时，所述测试电路向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，以抑制所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路的开关电压阈值偏移。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105513529A (zh) * 2016-02-23 2016-04-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的驱动电路及其品质测试方法
CN108039140A (zh) * 2017-11-21 2018-05-15 友达光电股份有限公司 显示面板测试系统和显示面板测试方法
CN108335658A (zh) * 2018-03-15 2018-07-27 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示测试装置
CN111795799A (zh) * 2020-06-17 2020-10-20 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测试方法及装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108039141B (zh) * 2017-12-29 2023-09-08 深圳市欢太科技有限公司 电子装置显示屏的测试工装

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060922A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Canon Inc 画像形成装置及び画像形成システム並びに画像形成方法
CN1959482A (zh) * 2006-10-25 2007-05-09 友达光电股份有限公司 消除残影的液晶显示器以及其方法
CN103345898A (zh) * 2013-03-21 2013-10-09 友达光电股份有限公司 显示装置
CN103943064A (zh) * 2014-03-11 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 关机控制方法及电路、驱动电路和amoled显示装置
CN103995407A (zh) * 2014-05-08 2014-08-20 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板和显示面板

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003161922A (ja) * 2001-11-26 2003-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法
CN202385228U (zh) * 2011-11-11 2012-08-15 星源电子科技(深圳)有限公司 消除lcm关机残影的测试装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060922A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Canon Inc 画像形成装置及び画像形成システム並びに画像形成方法
CN1959482A (zh) * 2006-10-25 2007-05-09 友达光电股份有限公司 消除残影的液晶显示器以及其方法
CN103345898A (zh) * 2013-03-21 2013-10-09 友达光电股份有限公司 显示装置
CN103943064A (zh) * 2014-03-11 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 关机控制方法及电路、驱动电路和amoled显示装置
CN103995407A (zh) * 2014-05-08 2014-08-20 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板和显示面板

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105513529A (zh) * 2016-02-23 2016-04-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的驱动电路及其品质测试方法
WO2017143741A1 (zh) * 2016-02-23 2017-08-31 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的驱动电路及其品质测试方法
CN108039140A (zh) * 2017-11-21 2018-05-15 友达光电股份有限公司 显示面板测试系统和显示面板测试方法
CN108335658A (zh) * 2018-03-15 2018-07-27 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示测试装置
US10948749B2 (en) 2018-03-15 2021-03-16 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel, display test apparatus and method of testing display panel
CN108335658B (zh) * 2018-03-15 2021-08-06 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示测试装置
CN111795799A (zh) * 2020-06-17 2020-10-20 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测试方法及装置

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