CN108335658B - 显示面板和显示测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的实施例公开了显示面板和显示测试装置。显示面板包括：阵列基板，位于阵列基板上的测试器件和连接状态检测器件。显示测试装置经由该测试器件对显示面板的像素单元进行测试，连接状态检测器件在对阵列基板进行测试时检测显示测试装置与阵列基板的连接状态。

Description

显示面板和显示测试装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及显示面板和显示测试装置。
背景技术
液晶显示器LCD具有低辐射、体积小及低耗能等优点，被广泛地应用在笔记本电脑、平面电视或移动电话等电子产品中。
液晶显示器LCD包括多晶硅(Poly-Si)LCD和非晶硅(a-Si)LCD，两者的差异主要在于电晶体特性不同。多晶硅LCD可包括低温低位多晶硅晶体管(LTPS-TFT)LCD和高温多晶硅晶体管(HTPS-TFT)LCD。其中，LTPS-TFT LCD具有高分辨率、反应速度快、高亮度、高开口率等优点。由于LTPS-TFT LCD的硅结晶排列较a-Si有次序，使得电子移动率相对高100倍以上，可以将外围驱动电路同时制作在玻璃基板上，达到系统整合的目标、节省空间及驱动IC的成本。
发明内容
本发明的实施例提供了一种显示面板和显示测试装置。
根据本发明的第一方面，提供了一种显示面板，包括：阵列基板；位于阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由测试器件对显示面板的像素单元进行测试；位于阵列基板上的连接状态检测器件，连接状态检测器件用于在对显示面板进行测试时检测显示测试装置与阵列基板的连接状态。
在本发明的实施例中，连接状态检测器件包括：第一检测衬垫，用于从显示测试装置接收检测信号；第二检测衬垫，用于向显示测试装置发送基于检测信号的反馈信号；以及导电部件，其将第一检测衬垫电耦接到第二检测衬垫。
在本发明的实施例中，第一检测衬垫和/或第二检测衬垫作为阵列基板的对准标记。
在本发明的实施例中，阵列基板还包括：衬底，第一绝缘层，位于衬底上；第一导电层，位于第一绝缘层上；第二绝缘层，位于导电层上，其中，第二绝缘层具有暴露第一导电层的第一开口和第二开口，其中，第一检测衬垫位于第二绝缘层上并经由第一开口连接到第一导电层，第二检测衬垫位于第二绝缘层上并经由第二开口连接到第一导电层，其中，第一导电层的位于第一检测衬垫和第二检测衬垫之间的部分构成导电部件。
在本发明的实施例中，测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，测试器件还包括：第一晶体管，第一晶体管的控制极连接第一测试衬垫，第一极连接第二测试衬垫，第二极连接扫描信号线；第二晶体管，第二晶体管的控制极连接第三测试衬垫，第一极连接第四测试衬垫，第二极连接数据信号线；以及像素驱动晶体管，像素驱动晶体管的控制极连接扫描信号线，第一极连接像素单元的像素电极，第二极连接数据信号线。
在本发明的实施例中，第一测试衬垫被配置为接收第一信号，第二测试衬垫被配置为接收第二信号，第三测试衬垫被配置为接收第三信号，第四测试衬垫被配置为接收放电电平。第一信号使第一晶体管导通，以将第二信号提供给像素驱动晶体管的控制极，以使得像素驱动晶体管导通，第三信号使第二晶体管导通，以向像素电极提供放电电平。
根据本发明的第二方面，提供了一种显示测试装置。显示测试装置包括探头，探头具有连接状态检测探针和测试探针。
在本发明的实施例中，连接状态检测探针从探头的表面突出的部分的长度小于测试探针从探头的表面突出的长度。
在本发明的实施例中，测试探针沿突出方向可压缩。
在本发明的实施例中，显示测试装置还包括限位部件，用于将探头固定到第一位置或第二位置，其中，在第一位置，连接状态检测探针和测试探针与待测试的显示面板接触；在第二位置，连接状态检测探针和测试探针与显示面板断开。
在本发明的实施例中，显示测试装置包括阻尼部件，以便在探头在从第一位置变化到第二位置期间的中间位置提供阻尼，其中，在中间位置，连接状态检测探针与显示面板断开且测试探针与显示面板接触。
在本发明的实施例中，显示测试装置还包括轮轴，探头附接到轮轴的周向表面。
在本发明的实施例中，阻尼部件和限位部件包括位于轮轴的周向表面的凹槽，和对应于凹槽的凸起。
根据本发明的第三方面，提供了一种使用本发明的第二方面的显示测试装置测试本发明的第一方面的显示面板的方法。在方法中，经由显示测试装置向显示面板的连接状态检测器件提供检测信号；确定是否接收到来自连接状态检测器件的反馈信号，当确定接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行测试；当确定未接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行放电。
在本发明的实施例中，显示面板的测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，测试器件还包括：第一晶体管，其控制极连接第一测试衬垫，其第一极连接第二测试衬垫，其第二极连接扫描信号线；第二晶体管，其控制极连接第三测试衬垫，其第一极连接第四测试衬垫，其第二极连接数据信号线；以及像素驱动晶体管，其控制极连接扫描信号线，第一极连接像素单元的像素电极，第二极连接数据信号线。进行放电包括：向第一测试衬垫提供第一信号，向第二测试衬垫提供第二信号，向第三测试衬垫提供第三信号，向第四测试衬垫提供放电电平，其中，第一信号使第一晶体管导通，以将第二信号提供给像素驱动晶体管的控制极，以使得像素驱动晶体管导通，第三信号使第二晶体管导通，以向像素电极提供放电电平。
由上所述，根据本发明实施例提供的显示面板能够快速地检测其与显示测试装置的分离，从而有利于后续工序，如放电电路的及时启用，以对残留的像素电荷进行放电。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例的附图进行简单说明。应当知道，以下描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，而非对本发明的限制，其中：
图1示出了一种采用显示测试装置对显示面板进行测试的示意图；
图2示出了根据本发明的实施例的显示面板的示意图；
图3示出了根据本发明的实施例的显示面板的示意图；
图4示出了根据本发明的实施例的显示面板的一部分的截面示意图；
图5示出了根据本发明的实施例的放电电路的示意图；
图6示出了根据本发明的一个实施例的显示测试装置的示意图；
图7示出了根据本发明的另一实施例的显示测试装置的示意图；
图8a-8c示出了采用根据本发明的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的示意图；
图9示出了根据本发明的实施例的显示面板的测试信号的时序图；
图10示出了采用根据本发明的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本发明的实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而并非全部的实施例。基于所描述的实施例，本领域的普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，也都属于本发明的范围。
在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的机或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“耦接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图和实施例对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
在液晶显示器的制备过程中，需要对液晶面板进行测试。例如，通过显示测试装置对切割完成的进行液晶盒测试(Cell Test，简称为ET)，以确认液晶盒是否存在缺陷。液晶盒测试是在液晶面板还未安装驱动芯片以及用于输入显示信号的柔性电路板之前进行。具体地，在测试中，首先对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，然后通过缺陷测试装置逐一观察各个像素是否良好，此过程也可被称为点灯测试(Light-on Test)。
在显示面板突然掉电的情况下，如果不能将像素电荷快速释放，则电荷将残留于各像素内部。残留的电荷积累汇聚，将形成极性电场，从而可能导致显示面板出现残影、灰阶闪烁、抖动等不良效应。
对于a-Si LCD，由于晶体管的漏电流较大，在掉电时通常可通过漏电的方式释放掉像素内残留的电荷。然而，对于LTPS-TFT LCD，由于漏电流较小，电荷释放过程缓慢。因此，在突然掉电时，LTPS显示面板内的像素电荷不能被有效快速地释放。
通常，可利用集成在显示面板上的集成电路IC来进行低电平检测，并且在检测到异常掉电时快速启动放电电路，从而快速释放显示面板内残留的电荷，以解决灰阶闪烁抖动问题。然而，如上所提到的，在液晶盒测试期间，显示面板还没有安装具有低电平检测功能的集成电路，因此并不能相应地执行放电。
图1示出了一种采用显示测试装置对显示面板进行测试的示意图。显示面板100包括阵列基板110、彩膜基板120、以及位于阵列基板上的测试衬垫130。显示测试装置200包括探头210，探头210的一端设置有测试探针230。在测试期间，显示测试装置200的测试探针230与阵列基板上的测试衬垫130接合，以对显示面板100提供电力并对其进行测试。然而，在显示测试装置200的探头210抬起而导致测试探针230与测试衬垫130分离时，显示面板100发生掉电。在显示面板100突然掉电时，像素中残留的电荷难以被释放，从而导致灰阶抖动等问题发生。
本发明的实施例提出了在测试阶段可以检测掉电的显示面板以及用于对该显示面板进行测试的显示测试装置，检测到该显示面板掉电后，可以及时处理后续工艺，如放电电路可以及时启用，以释放显示面板上残留的像素电荷。
图2示出了根据本发明的一个实施例的显示面板的示意图。如图2所示，显示面板300包括阵列基板310、彩膜基板320、位于阵列基板310上的测试衬垫330和连接状态检测器件340。可理解地是，图2仅示意性地示出测试衬垫330和连接状态检测器件340，而并不对其数量进行具体限定。
在本发明的实施例中，显示测试装置经由测试衬垫330对显示面板300的像素单元进行测试，例如对阵列基板310提供测试信号。此外，连接状态检测器件340可在对显示面板300进行测试时检测显示测试装置与阵列基板310的连接状态。显示测试装置与显示面板的具体连接关系将在下文中详细描述。
图3示出了根据本发明的实施例的显示面板的示意图，进一步示出了测试衬垫330和连接状态检测器件340的配置。如图3所示，显示面板300包括阵列基板310、位于阵列基板310上的测试衬垫330和连接状态检测器件340。可理解地是，图3仅示意性地示出两个连接状态检测器件340和4个测试衬垫330。
如图3所示，连接状态检测器件340可包括：第一检测衬垫DP1、第二检测衬垫DP2、以及将第一检测衬垫电耦接到第二检测衬垫的导电部件CP。因此，在第一检测衬垫DP1和第二检测衬垫DP2之间存在导电通路。第一检测衬垫DP1可从显示测试装置接收检测信号，第二检测衬垫DP2可向显示测试装置发送基于检测信号的反馈信号。在第一检测衬垫DP1接收到来自显示测试装置的检测信号并且显示测试装置接收到来自第二检测衬垫DP2的反馈信号时，可确定显示测试装置与阵列基板处于连接状态。相反，在第一检测衬垫DP1没有接收到来自显示测试装置的检测信号时第二检测衬垫DP2也不能发送反馈信号，由此确定了显示测试装置与阵列基板分离，显示面板发生掉电。
图4示出了根据本发明的实施例的显示面板的一部分的截面示意图，进一步示出了连接状态检测器件340的结构。如图4所示，显示面板的阵列基板包括：衬底L1、位于衬底上的第一绝缘层L2、位于第一绝缘层上的第一导电层L3、位于导电层上的第二绝缘层L4。其中，第二绝缘层L4具有暴露第一导电层L3的第一开口O1和第二开口O2。第一检测衬垫DP1位于第二绝缘层L4上并经由第一开口O1连接到第一导电层L3，第二检测衬垫DP2位于第二绝缘层L4上并经由第二开口O2连接到第一导电层L3。第一导电层L3的位于第一检测衬垫DP1和第二检测衬垫DP2之间的部分则构成导电部件CP。
进一步地，衬底L1可以是玻璃基板。第一绝缘层L2可由例如SiN、SiO等的绝缘材料制成。第一导电层L3可由金属材料制成，例如Ti、Al、Ti等。第二绝缘层L4可由有机树脂材料制成。
在本发明的实施例中，还可使用第一检测衬垫DP1和/或第二检测衬垫DP2作为阵列基板310的对准标记。由此，连接状态检测器件340的引入不会占用额外的阵列基板面积。
此外，如图3所示，测试衬垫330可包括第一测试衬垫P1、第二测试衬垫P2、第三测试衬垫P3和第四测试衬垫P4。在测试期间，第一测试衬垫P1、第二测试衬垫P2、第三测试衬垫P3和第四测试衬垫P4分别接收显示测试装置提供的测试信号。具体地，第一测试衬垫P1接收第一信号S1，第二测试衬垫P2接收第二信号S2，第三测试衬垫P3接收第三信号S3，以及第四测试衬垫P4接收第四信号S4。此外，阵列基板310还被设置有放电电路(图3未示出)，并且放电电路的信号端与测试衬垫连接，以下可结合图5进行详细描述。
图5示出了根据本发明的实施例的放电电路的示意图。如图5所示，放电电路包括第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素驱动晶体管T3。在本发明的实施例中，第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素驱动晶体管T3均是N型场效应晶体管(NMOS)。晶体管的控制极为其栅极。由于NMOS晶体管的源极和漏极是对称的，因此可不做具体区分。例如，晶体管的第一极可表示源极(或者漏极)，第二极可表示漏极(或者源极)。可理解地是，也可使用P型场效应晶体管(PMOS)来实现第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素驱动晶体管T3。
如图5所示，第一晶体管T1的控制极被配置为连接第一测试衬垫P1以接收第一信号S1，其第一极被配置为连接第二测试衬垫P2以接收第二信号S2，其第二极被配置为连接扫描信号线SL。第二晶体管T2的控制极被配置为连接第三测试衬垫P3以接收第三信号S3，其第一极被配置为连接第四测试衬垫P4以接收第四信号S4(例如，可以是放电电平)，第二极被配置为连接数据信号线DL。像素驱动晶体管T3的控制极被配置为连接扫描信号线SL，第一极被配置为连接像素单元的像素电极PE，第二极被配置为连接数据信号线DL。如图4所示，像素电极PE和公共电极CE相对设置，掉电时像素电荷在像素电极PE处积聚。
在本发明的实施例中，第一晶体管T1可根据第一信号S1将第二信号S2提供至像素驱动晶体管T3的控制极。像素驱动晶体管T3根据其控制极的电压将像素电极PE的电压提供至第二晶体管T2的第二极。第二晶体管T2根据第三信号S3将其第二极上的电压提供至其第一极。
在本发明的实施例中，第一晶体管T1可复用显示面板中的触控晶体管，第二晶体管T2可复用显示面板中的数据控制晶体管。由此，可见减少器件数目，简化制造工艺。
图6示出了根据本发明的一个实施例的显示测试装置的示意图，其可用于测试根据本发明的实施例提供的显示面板。显示测试装置400包括探头410，探头具有连接状态检测探针440和测试探针430。连接状态检测探针440可用于与显示面板上的检测衬垫接合，测试探针430可用于与测试衬垫接合。应理解地是，图6仅示意性地示出连接状态检测探针440和测试探针430，而不对其数量进行限定，其数量可根据实际需要而设置。
在本发明的实施例中，连接状态检测探针440例如包括第一连接状态检测探针和第二连接状态检测探针。其中，在测试时，第一连接状态检测探针可与第一检测衬垫连接，以向其提供检测信号。第二连接状态检测探针可与第二检测衬垫连接，以从其接收反馈信号。
进一步地，连接状态检测探针440从探头410的表面突出的部分的长度h1小于测试探针430从探头410的表面突出的长度h2。此外，测试探针430沿突出方向可压缩。
图7示出了根据本发明的另一实施例的显示测试装置500的示意图。显示测试装置500包括轮轴550，此外探头410、连接状态检测探针440和测试探针430与图4中相同。如图7所示，探头410可附接到轮轴550的周向表面，从而可通过转动轮轴550来改变探头410的位置。例如，可拉动拉杆560来转动轮轴550。
如图7所示，显示测试装置500还可包括限位部件M1，限位部件M1可将探头410固定到第一位置。此外，显示测试装置500也可包括限位部件M2，限位部件M2可将探头410固定到第二位置。显示测试装置500还可包括阻尼部件M0。阻尼部件M0可以在探头410在从第一位置变化到第二位置期间的中间位置提供阻尼，以为放电电路提供适当的放电时间。进一步地，阻尼部件和限位部件包括位于轮轴的周向表面的凹槽，和对应于凹槽的凸起。该凸起例如是可伸缩或弹性的。以上第一位置、第二位置和中间位置将结合图8a-8c来描述。
图8a-8c示出了采用根据本发明的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的示意图。如图8a-8c所示，显示面板例如是图2所示的显示面板300，显示测试装置例如是图6所示的显示测试装置400(或者图7所示的显示测试装置的一部分)。
如图8a所示，在将探头410完全压下时，探头410处于第一位置。在第一位置处，连接状态检测探针和测试探针与待测试的显示面板接触。也就是说，连接状态检测器件340的检测衬垫与连接状态检测探针440接触，二者之间存在信号通路，由此确定显示测试装置与显示面板处于连接状态。阵列基板310上的测试衬垫330与显示测试装置400的测试探针430接触，从而可以通过显示测试装置400对显示面板300的像素单元进行测试，例如经由测试探针向测试衬垫提供测试信号。
如图8b所示，在显示测试装置400的探头410(例如，非故意地)抬起而造成连接状态检测探针与待测试的显示面板分离且测试探针与待测试的显示面板接触。在该状态下，连接状态检测器件340的检测衬垫首先与连接状态检测探针440分离时，两者之间不存在信号通路因而没有信号传递。由此，连接状态检测器件340可在测试期间检测出显示面板300即将发生掉电。然而，此时测试衬垫330仍能够与测试探针430保持接触，从而利用放电电路对残留的像素电荷进行放电。该状态下的探头410的位置即为中间位置。
如图8c所示，探头410处于第二位置。在第二位置处，连接状态检测探针和测试探针与待测试的显示面板分离。也就是说，连接状态检测探针与检测衬垫断开且测试探针与测试衬垫断开。此时在显示测试装置400与显示面板300完全分离时，显示面板300发生掉电，测试终止。
可理解的是，在探头处于中间位置时将像素电荷完全释放，从而保证在显示面板完全掉电(即探头处于第二位置处)时不会产生残影、抖动等不良效应。
图9示出了采用根据本发明的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试时的测试信号的时序图。
从时刻t0到时刻t1，显示测试装置向显示装置的第一测试衬垫提供第一信号S1，向第二测试衬垫提供第二信号S2，向第三测试衬垫提供第三信号S3，向第四测试衬垫提供第四信号S4，均作为测试信号。例如，第一信号S1可以是触控测试信号，其在触控时为第一电平，并且在非触控时为第二电平。第二信号S2保持为第二电平。第三信号S3可以是数据开关信号，其在向数据信号线DL提供数据时为第一电平，而未向数据信号线DL提供数据时为第二电平。第四信号S4可以是数据信号。由此，显示测试装置对显示面板进行测试。此时间段可表示图8a所示的测试状态。
在时刻t1，连接状态检测器件检测到显示测试装置与显示面板分离。
从时刻t1到时刻t2，第一信号S1、第二信号S2和第三信号S3均为第一电平，第四信号为零电平，以通过放电电路对显示面板的像素电荷进行放电。以下结合图5的放电电路而描述。第一信号S1为第一电平，使第一晶体管T1导通，从而将处于第一电平的第二信号S2传递至像素驱动晶体管T3的控制极，以使像素驱动晶体管T3导通。第三信号S3为第一电平，使第二晶体管T2导通。第四信号S4为零电平，使得像素电极PE中残留的电荷经由像素驱动晶体管T3和第二晶体管T2被释放。此时间段可表示图8b所示的放电状态。通过本发明的实施例提供的阻尼部件可适当地延迟该时间段的时间，以进行充分放电。
在时刻t2之后，显示测试装置与显示面板完全分离，各信号均为零信号。也就是图8c所示的掉电状态。
本发明的实施例以在第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素驱动晶体管T3均为N型晶体管为例而进行说明。其中，第一电平为高电平，例如+8V，第二电平为低电平，例如-8V。此外，第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素驱动晶体管T3中的至少一者也可使用P型晶体管，可相应地对第一电平和第二电平进行适应性调整，这里不再详细描述。
图10示出了采用根据本发明的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的方法的流程图。
如图10所示，在步骤S110中，经由显示测试装置向显示面板的连接状态检测器件提供检测信号。在步骤S120中，确定是否接收到来自连接状态检测器件的反馈信号。在步骤S130中，当确定接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行测试。在步骤S140中，当确定未接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行放电。
进一步地，进行放电包括：向第一测试衬垫提供第一信号，向第二测试衬垫提供第二信号，向第三测试衬垫提供第三信号，向第四测试衬垫提供放电电平。具体地，第一信号使第一晶体管导通，以将第二信号提供给像素驱动晶体管的控制极，以使得像素驱动晶体管导通，第三信号使第二晶体管导通，以向像素电极提供放电电平。
由上所述，本发明实施例提供的显示面板及其显示测试装置能够通过快速检测两者的分离来及时地启动放电电路以对残留的像素电荷进行放电，从而防止在液晶盒测试期间突然掉电而引起的残影、闪烁等问题。
以上对本发明的若干实施方式进行了详细描述，但本发明的保护范围并不限于此。显然，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以对本发明的实施例进行各种修改、替换或变形。本发明的保护范围由所附权利要求限定。

Claims (13)

1.一种显示面板，包括：
阵列基板；
位于所述阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由所述测试器件对所述显示面板的像素单元进行测试，其中，所述测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，所述测试器件还包括：第一晶体管，第二晶体管以及像素驱动晶体管，其中，所述第一晶体管的控制极连接第一测试衬垫，第一极连接第二测试衬垫，第二极连接扫描信号线；所述第二晶体管的控制极连接第三测试衬垫，第一极连接第四测试衬垫，第二极连接数据信号线；所述像素驱动晶体管的控制极连接所述扫描信号线，第一极连接所述像素单元的像素电极，第二极连接所述数据信号线；
位于所述阵列基板上的连接状态检测器件，所述连接状态检测器件用于在对所述显示面板进行测试时检测所述显示测试装置与所述阵列基板的连接状态；
其中，所述第一测试衬垫被配置为接收第一信号，所述第二测试衬垫被配置为接收第二信号，所述第三测试衬垫被配置为接收第三信号，所述第四测试衬垫被配置为接收放电电平，其中，所述第一信号使所述第一晶体管导通，以将所述第二信号提供给所述像素驱动晶体管的控制极，以使得所述像素驱动晶体管导通，所述第三信号使所述第二晶体管导通，以向所述像素电极提供放电电平。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述连接状态检测器件包括：
第一检测衬垫，用于从所述显示测试装置接收检测信号；
第二检测衬垫，用于向所述显示测试装置发送基于所述检测信号的反馈信号；以及
导电部件，其将所述第一检测衬垫电耦接到所述第二检测衬垫。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述第一检测衬垫和/或所述第二检测衬垫作为所述阵列基板的对准标记。
4.根据权利要求2或3所述的显示面板，其中，所述阵列基板还包括：
衬底，
第一绝缘层，位于所述衬底上；
第一导电层，位于所述第一绝缘层上；
第二绝缘层，位于所述第一导电层上，其中，所述第二绝缘层具有暴露所述第一导电层的第一开口和第二开口，
其中，所述第一检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第一开口连接到所述第一导电层，所述第二检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第二开口连接到所述第一导电层，
其中，所述第一导电层的位于所述第一检测衬垫和所述第二检测衬垫之间的部分构成所述导电部件。
5.一种显示测试装置，其用于对权利要求1-4中任一项所述的显示面板进行测试，所述显示测试装置包括探头，其中，
所述探头具有连接状态检测探针和测试探针。
6.根据权利要求5所述的显示测试装置，其中，
所述连接状态检测探针从所述探头的表面突出的部分的长度小于所述测试探针从所述探头的表面突出的长度。
7.根据权利要求6所述的显示测试装置，其中，
所述测试探针沿所述突出的方向可压缩。
8.根据权利要求5或6所述的显示测试装置，还包括限位部件，用于将所述探头固定到第一位置或第二位置，
其中，在所述第一位置，所述连接状态检测探针和所述测试探针与待测试的显示面板接触；
在所述第二位置，所述连接状态检测探针和所述测试探针与所述显示面板分离。
9.根据权利要求8所述的显示测试装置，还包括阻尼部件，用于在所述探头在从第一位置变化到第二位置期间的中间位置提供阻尼，
其中，在所述中间位置，所述连接状态检测探针与所述显示面板分离且所述测试探针与所述显示面板接触。
10.根据权利要求9所述的显示测试装置，还包括轮轴，其中，
所述探头附接到所述轮轴的周向表面。
11.根据权利要求10所述的显示测试装置，其中，
所述阻尼部件和所述限位部件包括位于所述轮轴的周向表面的凹槽，和对应于所述凹槽的凸起。
12.一种使用如权利要求5至11中任一项所述的显示测试装置测试如权利要求1至4中任一项所述的显示面板的方法，所述方法包括：
经由所述显示测试装置向所述显示面板的连接状态检测器件提供检测信号；
确定是否接收到来自所述连接状态检测器件的反馈信号，
当确定接收到所述反馈信号时，经由所述显示测试装置对所述显示面板进行测试，
当确定未接收到所述反馈信号时，经由所述显示测试装置对所述显示面板进行放电。
13.根据权利要求12所述的方法，
其中，进行所述放电包括：
向所述第一测试衬垫提供第一信号，向所述第二测试衬垫提供第二信号，向所述第三测试衬垫提供第三信号，向所述第四测试衬垫提供放电电平，其中，所述第一信号使所述第一晶体管导通，以将所述第二信号提供给所述像素驱动晶体管的控制极，以使得所述像素驱动晶体管导通，所述第三信号使所述第二晶体管导通，以向所述像素电极提供所述放电电平。
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