CN112992024A - 显示装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示装置及其检测方法，显示装置包括：显示阵列，包括排列成阵列的多个像素单元以及多条扫描线；栅极驱动电路，用于提供具有不同时序的多个栅极驱动信号；信号检测电路，连接于栅极驱动电路和显示阵列之间，包括测试控制端和测试输出端，测试控制端用于在测试阶段接收测试控制信号，以根据测试控制信号在测试输出端按照时序依次输出与多个栅极驱动信号对应的检测信号，以及在非测试阶段接收低电平信号，从而可以依照时序将栅极驱动电路输出的栅极驱动信号输出至测试输出端，为后续判断显示异常的原因和类型提供有效帮助。

Description

显示装置及其检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置及其检测方法。

背景技术

显示装置是一种将显示数据通过传输设备显示到显示面板上再反射到人眼的显示工具，显示装置的示例包括液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)、等离子体显示器(Plasma Display Panel,PDP)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器以及电泳显示器(Electro-Phoretic Display,EPD)。

随着显示技术的发展，显示面板趋向于高集成度和低成本方向。现有技术将集成栅极驱动电路(Gate-driver on Array,GIA)直接集成在显示面板的阵列基板上，GIA电路通常包括多个级联栅极驱动单元，每个栅极驱动单元对应于与扫描线对应的一行或多行像素，以实现用于显示面板的扫描驱动器。

在某些检测过程中，显示面板会出现横纹、水波纹等显示异常现象，为了发现显示面板可能存在的问题或确定存在缺陷的栅极驱动单元，需要对各级栅极驱动单元输出的栅极驱动信号进行检测，然而现有的信号检测电路和检测方法只能检测出有限几级栅极驱动信号的波形，无法为解析问题提供有效帮助。

图1示出了根据现有技术的一种显示装置的结构示意图。如图1所示，在现有技术中，显示装置包括显示面板100。显示面板100包括显示阵列110和栅极驱动电路120。

显示阵列110包括成行成列排列的像素单元(未示出)以及m条传输栅极驱动信号的扫描线，其中，m为非零整数。

栅极驱动电路120包括多个级联栅极驱动单元130，每个栅极驱动单元130对应于与扫描线对应的一行像素，响应于起始脉冲信号生成栅极驱动信号并且根据时钟来对栅极驱动信号进行移位。

现有技术的检测方法将检测装置Gout与有限几级栅极驱动单元130的输出端连接，以得到栅极驱动信号的波形，难以为解析问题提供足够的有效信息，无法判断显示异常的原因和类型。若要检测全部栅极驱动信号，则要将检测装置Gout依次与各级栅极驱动单元130连接，操作繁琐，检测效率极低。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种显示装置及其检测方法，可以检测按照时序输出的各级栅极驱动信号。

根据本发明的一方面，提供一种显示装置，包括：显示阵列，所述显示阵列包括排列成阵列的多个像素单元以及多条扫描线和多条数据线；栅极驱动电路，用于提供具有不同时序的多个栅极驱动信号；信号检测电路，连接于所述栅极驱动电路和所述显示阵列之间，用于提供所述多个栅极驱动信号至所述显示阵列的多条扫描线的信号通路，其中，所述信号检测电路还包括测试控制端和测试输出端，所述测试控制端用于在测试阶段接收测试控制信号，以根据所述测试控制信号在所述测试输出端按照时序依次输出与所述多个栅极驱动信号对应的检测信号，以及在非测试阶段接收低电平信号，以将所述测试输出端置位低电平。

可选地，所述信号检测电路的测试控制端与所述栅极驱动电路连接，所述栅极驱动电路在所述测试阶段提供所述测试控制信号，以及在所述非测试阶段提供所述低电平信号。

可选地，所述显示装置还包括信号生成电路，所述信号检测电路的测试控制端在所述测试阶段与所述信号生成电路连接以接收所述测试控制信号，所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段与所述栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号。

可选地，所述测试控制信号为高电平信号或者与帧周期同步的时钟信号，所述低电平信号为栅极关闭信号或者起始脉冲信号。

可选地，所述信号检测电路包括与所述多个栅极驱动信号对应的多个检测单元，每个所述检测单元包括：第一开关管，所述第一开关管的控制端和第一端与对应的栅极驱动信号至所述显示阵列的信号通路连接，以接收对应的栅极驱动信号；第二开关管，所述第二开关管的控制端接收所述测试控制信号或所述低电平信号，第一端与所述第一开关管的第二端连接，所述第二开关管的第二端输出与所述栅极驱动信号对应的检测信号。

可选地，所述第一开关管和所述第二开关管的沟道宽长比在16/3～24/3之间。

可选地，所述显示阵列、所述栅极驱动电路以及所述信号检测电路集成在显示面板上，所述信号生成电路选自柔性印刷电路。

根据本发明的另一方面，提供一种显示装置的检测方法，所述显示装置如上所述，其中，所述检测方法包括：在非测试阶段，向信号检测电路的测试控制端提供低电平信号，以将所述信号检测电路的测试输出端置位低电平；在测试阶段，向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号，以使得所述测试输出端按照时序依次输出与所述多个栅极驱动信号对应的检测信号。

可选地，所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段通过第一信号线与栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号，所述在所述测试阶段向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号的步骤包括：使用激光镭射切断第一信号线；以及将信号生成电路连接到所述信号检测电路的所述测试控制端，所述信号生成电路用于提供所述测试控制信号。

可选地，所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段通过第一信号线与栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号，所述在所述测试阶段向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号的步骤包括：在所述测试阶段在所述显示装置中焊接电阻或调整所述显示装置的输入代码，使得所述栅极驱动电路在所述第一信号线上提供所述测试控制信号。

根据本发明提供的显示装置及其检测方法，显示装置在进行检测时，可以依照时序将栅极驱动电路输出的栅极驱动信号输出至测试输出端，以便于检测装置的检测，为后续判断显示异常的原因和类型提供有效帮助。

可选地，本发明实施例的信号检测电路中，显示面板正常工作时，测试控制端接收栅极驱动电路产生的低压信号，仅仅将栅极驱动单元输出的栅极驱动信号传送到显示阵列的对应扫描线，测试输出端无信号输出，不仅减小显示面板正常工作时的功耗，并且减小检测电路对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板的稳定性。

可选地，本发明实施例的检测单元中，第二开关管根据第三信号线接收的测试控制信号的有效状态导通或截止，以导通或截断第一开关管的第一端到第二信号线的电流路径，从而使得检测单元只在检测时将栅极驱动信号输出至第二信号线，不仅可以降低显示面板正常工作时的功耗，并且可以减小检测电路对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板的稳定性。

可选地，通过配置信号生成电路使得测试控制信号每隔一帧或几帧开启一定时间，避免测试控制信号始终保持高电平导致显示面板检测时第二开关管始终处于工作状态的情况，降低第二开关管的老化速度，有利于提高信号检测电路以及显示面板的稳定性。

可选地，第一开关管的控制端与第一端接收栅极驱动信号，即第一开关管的控制端与第一端连接，具有一定的ESD(Electro-Static discharge，静电放电)防护能力，在遇到静电等高电压时，第一开关管首先被击穿，从而保护栅极驱动电路不被静电所影响。

可选地，第一开关管T1和第二开关管T2的宽长比在16/3～24/3之间，在保证信号检测电路240和显示装置200的边框足够窄的前提下，使得第一开关管T1和第二开关管T2拥有较好的充放电能力，从而提高信号检测电路的稳定性。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出了根据现有技术的一种显示装置的结构示意图。

图2示出了根据本发明第一实施例的显示装置非测试阶段的结构示意图。

图3示出了根据本发明第一实施例的显示装置测试阶段的结构示意图。

图4示出了图2中检测单元的电路结构图。

图5示出了本发明第一实施例的一种测试控制信号的时序图。

图6示出了本发明第一实施例的另一种测试控制信号的时序图。

图7示出了根据本发明第二实施例的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。

应当理解，在以下的描述中，“电路”可包括单个或多个组合的硬件电路、可编程电路、状态机电路和/或能存储由可编程电路执行的指令的元件。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件或电路“连接在”两个节点之间时，它可以直接耦合或连接到另一元件或者可以存在中间元件，元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的，或者其结合。相反，当称元件“直接耦合到”或“直接连接到”另一元件时，意味着两者不存在中间元件。

同时，在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。

此外，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

图2示出了根据本发明第一实施例的显示装置非测试阶段的结构示意图。如图2所示，显示装置包括显示面板200。显示面板200包括显示阵列210、栅极驱动电路220以及信号检测电路240。

显示阵列210包括成行成列排列的像素单元(未示出)以及m条传输栅极驱动信号的扫描线，其中，m为非零整数。

栅极驱动电路220包括多个级联的栅极驱动单元230，每个栅极驱动单元230对应于与扫描线对应的一行或多行像素，响应于起始脉冲信号生成栅极驱动信号并且根据时钟来对栅极驱动信号进行移位。

信号检测电路240连接于栅极驱动电路220和显示阵列210之间，用于提供多个栅极驱动信号至显示阵列210的多条扫描线的信号通路。

信号检测电路240包括测试控制端WP、测试输出端Test-pad、第二信号线L2以及第三信号线L3。

测试控制端WP用于在测试阶段接收测试控制信号V1，以使得信号检测电路240在测试输出端Test-pad提供与多个栅极驱动信号对应的检测信号Test，其中，检测信号Test为按照时序依次输出的栅极驱动信号。

第二信号线L2的一端与信号检测电路240连接，另一端与测试输出端Test-pad连接，用于输出检测信号Test。

第三信号线L3的一端与信号检测电路连接，另一端与测试控制端WP连接，用于接收测试控制信号V1。

进一步的，测试控制端WP用于在非测试阶段通过第一信号线L1与栅极驱动电路220连接，第一信号线L1的一端与测试控制端WP连接，第一信号线L1的另一端接收栅极驱动电路220中的低压信号，例如起始脉冲信号STV、栅极关闭电压VGL或第三电平信号VSQ。

进一步的，信号检测电路240还包括多个检测单元250。检测单元250连接于栅极驱动单元230和显示阵列210之间，用于提供一个或多个栅极驱动信号至显示阵列210的一条或多条扫描线的信号通路，将栅极驱动单元230输出的栅极驱动信号传送至显示阵列210。

多个检测单元250还与第二信号线L2以及第三信号线L3连接，并且根据第三信号线L3接收到的测试控制信号V1的有效状态，将栅极驱动单元230输出的栅极驱动信号传送至第二信号线L2。

当显示装置处于非检测阶段时，信号检测电路240经由第三信号线L3和第一信号线L1接收栅极驱动电路220输出的低压信号，此时信号检测电路240只将栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号传送到显示阵列210的对应扫描线，第二信号线L2的输出端Test-Pad置位低电平。

图3示出了根据本发明第一实施例的显示装置测试阶段的结构示意图。参见图3，当要对显示面板200进行检测时，将第一信号线L1切断，例如使用激光将A点处导线切断，以断开栅极驱动电路220的低压信号与测试控制端WP之间的电流路径，并通过测试控制端WP将第三信号线L3与信号生成电路260连接，此时第三信号线L3接收测试控制信号V1。其中，信号生成电路260选自FPC(Flexible Printed Circuit，柔性印刷电路)

信号检测电路240接收到高电平的测试控制信号V1并开始工作，在第二信号线L2上输出依照时序输出的栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号，将检测装置例如示波器连接至测试输出端Test-pad，即可得到检测信号Test，即依照时序输出的各级栅极驱动信号的波形。

本发明实施例的显示装置在进行检测时，可以依照时序将栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号输出至第二信号线L2，为后续判断显示异常的原因和类型提供有效帮助。

进一步的，本发明实施例的信号检测电路240中，显示面板正常工作时，测试控制端WP接收栅极驱动电路220产生的低压信号，仅仅将栅极驱动单元230输出的栅极驱动信号传送到显示阵列210的对应扫描线，测试输出端Test-pad无信号输出，不仅减小显示面板200正常工作时的功耗，并且减小检测电路240对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板200的稳定性。

图4示出了图2中检测单元的电路结构图。如图4所示，以位于显示面板200右侧的检测电路240中的检测单元250为例，检测单元250包括第一开关管T1和第二开关管T2。

第一开关管T1的控制端和第一端连接在输入的栅极驱动信号Gn-in至输出的栅极驱动信号Gn-out之间的信号通路上。当输入的栅极驱动信号Gn-in为高电平时，第一开关管T1导通，当输入的栅极驱动信号Gn-in为低电平时，第一开关管T1截止。

第二开关管T2的控制端与第三信号线L3连接，第二开关管T2的第一端与第一开关管T1的第二端连接，第二开关管T2的第二端与第二信号线L2连接以输出检测信号Test。

第一开关管T1和第二开关管T2的宽长比例如在16/3～24/3之间。

当第三信号线L3接收到低电平信号时，第二开关管T2截止，第二信号线L2上置位低电平。当第三信号线L3接收到高电平信号时，第二开关管T2导通，此时，若输入的栅极驱动信号Gn-in翻转为高电平，则第一开关管T1也导通，第一开关管T1的第一端到第二信号线L2的电流路径导通，第二信号线L2输出的检测信号Test与输入的栅极驱动信号Gn-in同步。

由此可见，本发明实施例的检测单元中，第二开关管T2根据第三信号线L3接收的测试控制信号V1的有效状态导通或截止，以导通或截断第一开关管T1的第一端到第二信号线L2的电流路径，从而使得检测单元250只在检测阶段将输入的栅极驱动信号Gn-in输出至第二信号线L2，不仅可以降低显示面板200正常工作时的功耗，并且可以减小检测电路240对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板200的稳定性。

进一步的，第一开关管T1的控制端与第一端接收栅极驱动信号Gn，即第一开关管T1的控制端与第一端连接，具有一定的ESD(Electro-Static discharge，静电放电)防护能力，在遇到静电等高电压时，第一开关管T1首先被击穿，从而保护栅极驱动电路220不被静电所影响。若在测试阶段发现测试信号Test中有波形缺失，则表示对应的第一开关管T1被击穿，可通过激光镭射进行连接。

进一步的，第一开关管T1和第二开关管T2的宽长比在16/3～24/3之间，在保证信号检测电路240和显示装置200的边框足够窄的前提下，使得第一开关管T1和第二开关管T2拥有较好的充放电能力，从而提高信号检测电路的稳定性。

图5示出了本发明第一实施例的测试控制信号的时序图。图5中由上至下分别是：起始脉冲信号STV、栅极关闭电压VGL、测试控制信号V1、检测信号Test。

参见图3和图4，图5中起始脉冲信号STV每一个上升沿表示一帧的开始，栅极关闭电压VGL保持低电平状态，测试控制信号V1保持高电平状态，信号检测电路240通过第三信号线L3接收到高电平的测试控制信号V1，将栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号输出至第二信号线L2，在测试点Test-Pad处得到检测信号Test。

然而，当测试控制信号V1是直流电压，即测试控制信号V1始终保持高电平时，检测单元250中的第二开关管T2始终处于导通状态，在显示面板200检测时第二开关管T2始终处于工作状态，导致第二开关管T2老化，从而降低信号检测电路240以及显示面板200的稳定性。

为了解决上述问题，可配置信号生成电路260使得测试控制信号V1每隔一帧或几帧开启一定时间，如图6示出了本发明第二实施例的测试控制信号的时序图。图6中由上至下分别是：起始脉冲信号STV、栅极关闭电压VGL、测试控制信号V1、检测信号Test。

参见图3和图4，图6中起始脉冲信号STV每一个上升沿表示一帧的开始，栅极关闭电压VGL保持低电平状态，测试控制信号V1每隔一帧开启一定时间，信号检测电路240通过第三信号线L3接收到测试控制信号V1，当测试控制信号V1为高电平时，检测单元240中的第二开关管T2导通，将栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号输出至第二信号线L2，在测试点Test-Pad处得到检测信号Test。

应当理解，测试控制信号V1还可以配置为每隔两帧、三帧或更多帧开启一定时间。其中，一定时间例如为一帧的时长。

当测试控制信号V1为始终保持高电平状态时，第二开关管T2始终处于导通状态，当测试控制信号V1每隔一帧、两帧或更多帧开启一次时，第二开关管T2也每隔一帧、两帧或更多帧导通一定时间，在保证检测效果的前提下，减少第二开关管T2的工作时间，有效防止第二开关管T2过快老化，从而提高栅极驱动电路220以及显示面板200的工作稳定性。

第二开关管T2每隔一帧、两帧或更多帧导通一定时间，栅极驱动电路220输出的栅极驱动信号也每隔一帧、两帧或更多帧输出到第二信号线L2，进一步降低了检测时信号检测电路240的功耗。

应当理解，本发明实施例的栅极驱动电路的应用不局限于GIA类型的显示装置，同样可以应用于非GIA类型的显示装置，如图7所示。

图7示出了根据本发明第二实施例的显示装置的结构示意图。显示装置300包括，显示阵列310，栅极驱动电路320、源极驱动电路330以及信号检测电路340。

显示阵列310包括成阵列排布的多个像素单元，每个像素单元主要包括薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)、储存电容以及液晶电容。每个像素单元通过扫描线与栅极驱动电路320相连接，通过数据线与源极驱动电路330相连接。响应于通过扫描线提供的栅极驱动信号，像素单元可以通过数据线接收数据信号，将该数据信号存储在储存电容中，并且与数据信号对应的控制从背光电路发出的光，从而显示与数据信号对应的亮度。

栅极驱动电路320用于接收栅极控制信号，基于该栅极控制信号生成栅极驱动信号，并将栅极驱动信号提供至对应的扫描线。

源极驱动电路330用于接收所述源极控制信号和帧数据，生成与帧数据对应的数据信号，并将该数据信号提供至对应的数据线。

信号检测电路340连接于栅极驱动电路320和显示阵列310之间，用于提供多个栅极驱动信号至显示阵列310的多条扫描线的信号通路。

信号检测电路340包括测试控制端WP、测试输出端Test-pad、第二信号线L2以及第三信号线L3。

测试控制端WP用于在测试阶段接收测试控制信号V1，以使得信号检测电路340在测试输出端Test-pad提供与多个栅极驱动信号对应的检测信号Test，其中，检测信号Test为按照时序依次输出的栅极驱动信号。

第二信号线L2的一端为测试输出端Test-pad，用于输出检测信号Test。

第三信号线L3的一端为测试控制端WP，用于接收测试控制信号V1。

测试控制端WP还通过第一信号线L1与栅极驱动电路320连接，第一信号线L1的一端与第三信号线L3连接，第一信号线L1的另一端接收栅极驱动电路320中的低压信号，例如起始脉冲信号STV、栅极关闭电压VGL或第三电平信号VSQ。

信号检测电路340还包括多个检测单元350。检测单元350连接于栅极驱动电路320和显示阵列310之间，用于提供一个或多个栅极驱动信号至显示阵列310的一条或多条扫描线的信号通路，将栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号传送至显示阵列310。

检测单元350还与第二信号线L2以及第三信号线L3连接。并且根据第三信号线L3接收到的测试控制信号V1的有效状态，将栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号传送至第二信号线L2。

当显示装置300未被检测时，第三信号线L3通过第一信号线L1接收栅极驱动电路320输出的低压信号，此时信号检测电路340只将栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号传送到显示阵列310的对应扫描线，第二信号线L2的输出端Test-Pad置位低电平。

要对显示装置300进行检测时，将测试控制信号V1调整为高电平，例如调整显示装置300的输入代码，或者在显示装置300内焊接电阻。例如将其连接到显示装置300的内部升压电路，或者显示装置300内部有两个及以上信号源，通过在不同位置焊接电阻和连接线以使得测试控制信号V1来自不同信号源。

信号检测电路340接收到高电平的测试控制信号V1并开始工作，在第二信号线L2上输出依照时序输出的栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号，即检测信号Test。

其中，检测单元350与本发明第一实施例的检测单元250结构相同，故不再赘述。

本发明第二实施例的显示装置在进行检测时，可以依照时序将栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号输出至第二信号线L2，为后续判断显示异常的原因和类型提供有效帮助。

进一步的，本发明实施例的信号检测电路340，在显示面300板正常工作时，第三信号线L3接收栅极驱动电路320产生的低压信号，仅仅将栅极驱动电路320输出的栅极驱动信号传送到显示阵列310的对应扫描线，不将栅极驱动信号输出至第二信号线L2，有效减小显示装置300正常工作时的功耗。

综上所述，本发明实施例的显示装置在进行检测时，可以依照时序将栅极驱动电路输出的栅极驱动信号输出至测试输出端，以便于检测装置检测，为后续判断显示异常的原因和类型提供有效帮助。

可选地，本发明实施例的信号检测电路中，显示面板正常工作时，测试控制端接收栅极驱动电路产生的低压信号，仅仅将栅极驱动单元输出的栅极驱动信号传送到显示阵列的对应扫描线，测试输出端无信号输出，不仅可以降低显示面板正常工作时的功耗，并且可以减小检测电路对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板的稳定性。

可选地，本发明实施例的检测单元中，第二开关管T2根据第三信号线L3接收的测试控制信号V1的有效状态导通或截止，以导通或截断第一开关管T1的第一端到第二信号线L2的电流路径，从而使得检测单元只在检测时将栅极驱动信号Gn输出至第二信号线L2，不仅减小显示面板正常工作时的功耗，并且减小检测电路对栅极驱动信号的影响，从而有效提高显示面板的稳定性。

可选地，通过配置信号生成电路260使得测试控制信号V1每隔一帧或几帧开启一定时间，避免测试控制信号V1始终保持高电平，显示面板检测时第二开关管T2始终处于工作状态，导致第二开关管T2老化，从而提高信号检测电路240以及显示面板200的稳定性。

可选地，第一开关管T1的控制端与第一端接收栅极驱动信号Gn，即第一开关管T1的控制端与第一端连接，具有一定的ESD防护能力，在遇到静电等高电压时，第一开关管T1首先被击穿，从而保护栅极驱动电路不被静电所影响。

可选地，第一开关管T1和第二开关管T2的宽长比在16/3～24/3之间，在保证信号检测电路240和显示装置200的边框足够窄的前提下，使得第一开关管T1和第二开关管T2拥有较好的充放电能力，从而提高信号检测电路的稳定性。

应当说明，本领域普通技术人员可以理解，本文中使用的与电路运行相关的词语“期间”、“当”和“当……时”不是表示在启动动作开始时立即发生的动作的严格术语，而是在其与启动动作所发起的反应动作(reaction)之间可能存在一些小的但是合理的一个或多个延迟，例如各种传输延迟等。本文中使用词语“大约”或者“基本上”意指要素值(element)具有预期接近所声明的值或位置的参数。然而，如本领域所周知的，总是存在微小的偏差使得该值或位置难以严格为所声明的值。本领域已恰当的确定了，至少百分之十(10％)(对于半导体掺杂浓度，至少百分之二十(20％))的偏差是偏离所描述的准确的理想目标的合理偏差。当结合信号状态使用时，信号的实际电压值或逻辑状态(例如“1”或“0”)取决于使用正逻辑还是负逻辑。

依照本发明的实施例如上文，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求及其等效物所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示装置，包括：

显示阵列，所述显示阵列包括排列成阵列的多个像素单元以及多条扫描线和多条数据线；

栅极驱动电路，用于提供具有不同时序的多个栅极驱动信号；

信号检测电路，连接于所述栅极驱动电路和所述显示阵列之间，用于提供所述多个栅极驱动信号至所述显示阵列的多条扫描线的信号通路，

其中，所述信号检测电路还包括测试控制端和测试输出端，所述测试控制端用于在测试阶段接收测试控制信号，以根据所述测试控制信号在所述测试输出端按照时序依次输出与所述多个栅极驱动信号对应的检测信号，以及在非测试阶段接收低电平信号，以将所述测试输出端置位低电平。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述信号检测电路的测试控制端与所述栅极驱动电路连接，

所述栅极驱动电路在所述测试阶段提供所述测试控制信号，以及在所述非测试阶段提供所述低电平信号。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，还包括信号生成电路，

所述信号检测电路的测试控制端在所述测试阶段与所述信号生成电路连接以接收所述测试控制信号，

所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段与所述栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号。

4.根据权利要求2或3所述的显示装置，其中，所述测试控制信号为高电平信号或者与帧周期同步的时钟信号，所述低电平信号为栅极关闭信号或者起始脉冲信号。

5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述信号检测电路包括与所述多个栅极驱动信号对应的多个检测单元，每个所述检测单元包括：

第一开关管，所述第一开关管的控制端和第一端与对应的所述栅极驱动信号至所述显示阵列的所述信号通路连接，以接收对应的所述栅极驱动信号；

第二开关管，所述第二开关管的控制端接收所述测试控制信号或所述低电平信号，所述第二开关管的第一端与所述第一开关管的第二端连接，所述第二开关管的第二端输出与所述栅极驱动信号对应的检测信号。

6.根据权利要求5所述的显示装置，所述第一开关管和所述第二开关管的沟道宽长比在16/3～24/3之间。

7.根据权利要求3所述的显示装置，所述显示阵列、所述栅极驱动电路以及所述信号检测电路集成在显示面板上，所述信号生成电路选自柔性印刷电路。

8.一种显示装置的检测方法，其特征在于，应用权利要求1至7任一项所述显示装置，其中，所述检测方法包括：

在非测试阶段，向信号检测电路的测试控制端提供低电平信号，以将所述信号检测电路的测试输出端置位低电平；

在测试阶段，向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号，以使得所述测试输出端按照时序依次输出与所述多个栅极驱动信号对应的检测信号。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其中，所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段通过第一信号线与栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号，所述在所述测试阶段向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号的步骤包括：

使用激光镭射切断第一信号线，

将信号生成电路连接到所述信号检测电路的所述测试控制端，所述信号生成电路用于提供所述测试控制信号。

10.根据权利要求8所述的检测方法，所述信号检测电路的测试控制端在所述非测试阶段通过第一信号线与栅极驱动电路连接以接收所述低电平信号，所述在所述测试阶段向所述信号检测电路的所述测试控制端提供测试控制信号的步骤包括：

在所述测试阶段在所述显示装置中焊接电阻或调整所述显示装置的输入代码，使得所述栅极驱动电路在所述第一信号线上提供所述测试控制信号。

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