CN103345077B - 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法 - Google Patents

液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103345077B
CN103345077B CN201310244484.XA CN201310244484A CN103345077B CN 103345077 B CN103345077 B CN 103345077B CN 201310244484 A CN201310244484 A CN 201310244484A CN 103345077 B CN103345077 B CN 103345077B
Authority
CN
China
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display module
probe
test point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201310244484.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN103345077A (zh
Inventor
赵国栋
刘一俊
陈方甫
马涛
宋涛
刘明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201310244484.XA priority Critical patent/CN103345077B/zh
Publication of CN103345077A publication Critical patent/CN103345077A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103345077B publication Critical patent/CN103345077B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs

Abstract

本发明公开了一种液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法,该质量检测装置包括设置在待检测的液晶显示模组上的多个测试点、与所述多个测试点分别电性连接的多个探针、用于驱动多个探针移动的驱动装置以及与所述多个探针电性连接的检测设备;当对液晶显示模组进行检测时,驱动装置驱动多个探针移动到预定位置,分别与对应的测试点接触而形成电连接,探针将所述测试信号通过测试点输入至液晶显示模组中进行检测,检测设备接收及处理液晶显示模组对应测试信号产生的反馈信号,并据此判断液晶显示模组的质量指标。实施本发明可减少因人员熟练程度不同导致的作业时间差异以及数据线和连接器的损坏。

Description

液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法
技术领域
[0001] 本发明涉及液晶显示模组的质量检测技术,尤其涉及一种液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法。
背景技术
[0002] 在液晶面板模组制造领域,例如在扭曲向列型面板在液晶面板模组制造领域,例如在扭曲向列型面板等液晶模组的制作工艺中,需进行液晶面板邦定以使面板与驱动集成电路及印刷电路板连接,然后将其与背光源结合,再利用前框进行固定,从而形成完整的液晶显示模组。在对液晶面板完成邦定制程后,往往需往印刷电路板输入测试信号,经其板载集成电路运算处理后,通过覆晶薄膜/柔性线路板驱动液晶面板进行画面测试,以检出液晶面板、印刷电路板、驱动集成电路及线路的不良。
[0003]目前,在液晶面板邦定后的画面测试流程中,外部测试信号通常是通过多个软排线(flexible flat cable,FFC)或其他数据线与印刷电路板上的连接器进行连接,从而将其输入到印刷电路板中。在进行FFC等数据线与连接器连接时,通常是以作业人员手动将每个FFC端口插入连接器上对应的插槽中,如此则会由于人员作业熟练程度的不同及其本身的限制,导致作业时间长度不易统一控制。同时手动操作精度较差,易导致FFC等数据线和连接器(焊接于印刷电路板上)的损坏。
发明内容
[0004] 本发明的主要目的在于,针对现有技术中存在的由于作业人员熟练程度的问题所导致的作业时间长度不易控制及缩短且易导致数据线和连接器损坏的缺陷,提供了一种可以减少因作业人员熟练程度而导致的作业时间差异以及数据线和连接器损坏的液晶显示模组质量检测装置及其使用方法。
[0005] 本发明提供的一种液晶显示模组质量检测装置及其使用方法,该质量检测装置包括设置在待检测的液晶显示模组上的多个测试点、与所述多个测试点分别电性连接的多个探针、用于驱动所述多个探针移动的驱动装置以及与所述多个探针电性连接的检测设备;当对所述液晶显示模组进行检测时,驱动装置驱动所述多个探针移动到预定位置,分别与所述对应的测试点接触而形成电连接,所述探针将测试信号通过所述测试点输入至所述液晶显示模组中对所述液晶显示模组进行检测,所述检测设备接收及处理所述液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号以判断液晶显示模组的质量指标。
[0006] 上述的液晶显示模组的质量检测装置中,所述液晶显示模组包括印刷电路板以及固定安装在所述印刷电路板上的连接器,所述多个测试点设置在所述印刷电路板或连接器上。
[0007] 上述的液晶显示模组的质量检测装置中,还包括与所述探针连接的数据线和用于固定地安装所述数据线和探针的基板,每个所述探针均垂直连接在所述基板的下表面上。
[0008] 上述的液晶显示模组的质量检测装置中,所述数据线数量为多条且与所述多个探针一一对应,分别与每个对应的所述探针连接。
[0009] 上述的液晶显示模组的质量检测装置中,所述数据线与所述多个探针同时连接。
[0010] 上述的液晶显示模组的质量检测装置中,所述驱动装置包括电机、气缸、马达中的任意一种。
[0011] 一种液晶显示模组的质量检测方法,包括以下步骤:
[0012] 在待检测的液晶显示模组上设置多个用于向所述液晶显示模组输入测试信号的测试点;
[0013]制作与所述多个测试点电性连接的多个用于提供测试信号的探针,并将所述多个探针与驱动装置连接;
[0014] 使用驱动装置驱动所述多个探针移动至预定位置,分别与所述对应的测试点接触而形成电连接,所述探针将所述测试信号通过所述测试点输入所述液晶显示模组中对所述液晶显示模组进行检测;
[0015] 将所述多个探针与检测设备电性连接,所述检测设备接收及处理所述液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号以判断所述液晶显示模组的质量指标。
[0016] 上述的液晶显示模组的质量检测方法中,所述在待检测的液晶显示模组上设置多个用于向所述液晶显示模组输入测试信号的测试点的步骤包括:
[0017] 将所述多个测试点设置在所述液晶显示模组的印刷电路板或连接器上。
[0018] 上述的液晶显示模组的质量检测方法中,还包括以下步骤:
[0019] 用数据线将所述探针与所述检测设备连接。
[0020] 上述的液晶显示模组的质量检测方法中,还包括以下步骤:
[0021] 将所述数据线和探针固定地安装在基板上,其中每个所述探针均垂直连接在所述基板的下表面上。
[0022] 实施本发明的有益效果在于:本发明通过将现有技术中插拔的连接方式改为接触的连接方式,同时采用驱动装置驱动多个探针分别与相应的测试点接触,这样在检测操作时可以显著提高操作的自动化程度,省去了人工插拔数据线的操作,可以减少因人员熟练程度不同导致的作业时间差异,有利于节省人力和时间,同时可以显著减少FFC等数据线和连接器的损坏,提尚广品良率。
附图说明
[0023] 下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
[0024]图1为本发明提供的液晶显示模组质量检测装置的第一实施例结构示意图;
[0025]图2为本发明提供的液晶显示模组质量检测装置的第二实施例结构示意图;
[0026]图3为本发明提供的液晶显示模组质量检测方法的工作流程图。
具体实施方式
[0027] 本发明中提供的液晶显示模组质量检测装置及其使用方法,适用于邦定后的液晶面板的画面测试。本发明采用探针与焊点的接触而形成电性连接从而实现了测试信号的传输,这样就减少了插拔,不易产生连接器、数据线等的损坏;同时,本发明还采用驱动装置驱动探针与焊点的接触,这就避免了手动操作而导致的因操作人员熟练程度不同从而使作业时间差异大的缺陷。这就实现了液晶面板邦定后画面测试的自动化。
[0028] 参考图1示出的本发明提供的一种液晶显示模组质量检测装置的第一实施例示意图。该液晶显示模组质量检测装置包括液晶显示模组1、多个测试点3、多个探针2、基板4、数据线(图中未示出)、驱动装置5以及检测设备(图中未示出)。当然在其他的实施例中,该质量检测装置也可以不包括数据线和基板4,而由检测设备直接与探针2电性连接,传输信号。检测设备用于接收及处理液晶显示模组对应测试信号产生的反馈信号,并据此判断质量指标。探针2或数据线与检测设备电性连接,可向其输出该反馈信号。液晶显示模组1包括液晶面板11、覆晶薄膜/柔性电路板12、连接器13以及印刷电路板14。连接器12固定安装在印刷电路板13上,覆晶薄膜/柔性电路板12连接在印刷电路板14与液晶面板12之间。在连接器13上间隔设置多个测试点3。该间隔较佳为等间隔设置,当然也可以任意确定间隔的大小。测试点3的数量可以根据实际检测中的需要确定,在印刷电路板14或连接器13的加工过程中预留。当然在其他的实施例中,该连接器13上还可以设有用于插入FFC数据线的插槽,同时在连接器13的表面上间隔设置多个测试点。该测试点3与连接器13上的电路连通,可以用于向液晶显示模组1中传输信号。
[0029] 设置多个探针2,探针2的数量与测试点3的数量相同。探针2的位置与测试点3的位置相对应,具有相同的间隔设置。多个探针2均固定在一个基板4上,且沿基板4的下表面向下垂直延伸。探针2与数据线连接,可以将一条数据线连接多个探针或多条数据线连接多个探针2,不同的数据线可以相同的测试信号至探针2中,也可以提供不同的测试信号至探针2中。探针2与驱动装置5连接,两者之间可直接连接,也可以通过基板4连接,用于驱动探针2移动至预定位置即与测试点3接触的位置。在本实施例中,驱动装置5可以是气缸、电机或马达。驱动装置5还可以包括一个夹持部用于夹持基板4以带动基板4移动,当然也可以是基板4通过螺纹连接的方式固定在驱动装置5的运动输出部位。在其他的实施例中,也可以是其他的连接关系。驱动装置5可以驱动基板4和探针2作平移、升降、翻转等运动。
[0030] 参考图2示出的本发明提供的一种液晶显示模组质量检测装置的第二实施例示意图。本实施例与第一实施例将多个测试点3间隔设置在连接器13的方案的区别在于,将多个测试点3间隔设置在印刷电路板14上。当然,可以为等间隔设置,也可以是不同间隔设置。测试点3的数量根据实际检测需要而确定。
[0031] 参考图3为本发明提供的一种液晶显示模组质量检测方法的工作流程图。该实质上就是上述液晶显示模组质量检测装置第一或第二实施例的使用方法,其具体包括以下步骤:
[0032] S1、在液晶显示模组1上设置多个测试点3。包括在液晶显示模组1的连接器13或印刷电路板14上的加工过程中预间隔设置多个测试点3。这些测试点3与连接器13或印刷电路板14中的电路连通,可以用于输入测试信号。
[0033] S2、制作多个探针2,将探针2的数量与测试点3的数量相同,且探针2的位置与测试点3的位置对应,即具有相同的间隔设置。多个探针2与驱动装置连接,用于驱动多个探针2移动至预定位置即与测试点3接触的位置。
[0034] S3、在液晶显示模组邦定完成后进行检测时,驱动装置驱动探针2与测试点3接触,每个探针2与其对应的测试点3接触,两者之间形成电性连接。探针2将测试信号传输至测试点3中,测试点3再将测试信号输出至液晶显示模组1中对液晶显示模组1进行检测。在这一步骤中,还可以设置数据线和基板4,将数据线与探针2连接,同时将数据线和多个探针2均固定地安装在基板4上,每个探针2均垂直地连接在基板4的下表面上。
[0035] S4、将多个探针2与检测设备电性连接,使用检测设备接收及处理液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号,并据此判断所述液晶显示模组1的质量指标。在这一步骤中,也可以为探针2通过数据线与检测设备电性连接。
[0036] 本发明通过将现有技术中插拔的连接方式改为接触的连接方式,同时采用驱动装置驱动多个探针分别与相应的测试点接触,这样在检测操作时,可以减少因人员熟练程度不同导致的作业时间差异,显著减少FFC等数据线和连接器的损坏,进而有利于降低液晶面板邦定后画面测试的成本,同时有效减少客户抱怨,提升公司的品牌价值和产品竞争力。
[0037] 应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (6)

1.一种液晶显示模组的质量检测装置,其特征在于,包括设置在待检测的液晶显示模组上的多个测试点、与所述多个测试点分别电性连接的多个探针、用于驱动所述多个探针移动的驱动装置以及与所述多个探针电性连接的检测设备;当对所述液晶显示模组进行检测时,驱动装置驱动所述多个探针移动到预定位置,分别与对应的所述测试点接触而形成电连接,所述探针将测试信号通过所述测试点输入至所述液晶显示模组中对所述液晶显示模组进行检测,所述检测设备接收及处理所述液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号以判断液晶显示模组的质量指标; 所述检测装置还包括与所述探针连接的数据线和用于固定地安装所述数据线和探针的基板,每个所述探针均垂直连接在所述基板的下表面上; 所述液晶显示模组包括印刷电路板以及固定安装在所述印刷电路板上的连接器,所述多个测试点设置在所述印刷电路板或连接器上。
2.根据权利要求1所述的液晶显示模组的质量检测装置,其特征在于,所述数据线数量为多条且与所述多个探针一一对应,分别与每个对应的所述探针连接。
3.根据权利要求1所述的液晶显示模组的质量检测装置,其特征在于,所述数据线与所述多个探针同时连接。
4.根据权利要求1所述的液晶显示模组的质量检测装置,其特征在于,所述驱动装置包括电机、气缸、马达中的任意一种。
5.一种液晶显示模组的质量检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 在待检测的液晶显示模组上设置多个用于向所述液晶显示模组输入测试信号的测试点,所述多个测试点设置在所述液晶显示模组的印刷电路板或连接器上; 制作与所述多个测试点电性连接的多个用于提供测试信号的探针,并将所述多个探针与驱动装置连接; 设置数据线和基板,将所述数据线与所述探针连接,同时将所述数据线和探针固定地安装在基板上,其中每个所述探针均垂直连接在所述基板的下表面上; 使用驱动装置驱动所述多个探针移动至预定位置,分别与对应的所述测试点接触而形成电连接,所述探针将所述测试信号通过所述测试点输入所述液晶显示模组中对所述液晶显示模组进行检测; 将所述多个探针与检测设备电性连接,所述检测设备接收及处理所述液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号以判断所述液晶显示模组的质量指标。
6.根据权利要求5所述的液晶显示模组的质量检测方法,其特征在于,还包括以下步骤: 用数据线将所述探针与所述检测设备连接。
CN201310244484.XA 2013-06-19 2013-06-19 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法 Active CN103345077B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310244484.XA CN103345077B (zh) 2013-06-19 2013-06-19 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310244484.XA CN103345077B (zh) 2013-06-19 2013-06-19 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法
PCT/CN2013/079019 WO2014201737A1 (zh) 2013-06-19 2013-07-08 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103345077A CN103345077A (zh) 2013-10-09
CN103345077B true CN103345077B (zh) 2016-03-09

Family

ID=49279887

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310244484.XA Active CN103345077B (zh) 2013-06-19 2013-06-19 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103345077B (zh)
WO (1) WO2014201737A1 (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106814478A (zh) * 2016-01-27 2017-06-09 北京瑞荣达电子技术有限公司 液晶面板点灯测试时的探针定位方法及系统
CN105785607A (zh) * 2016-03-31 2016-07-20 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、点灯设备及点灯测试探针对位检测方法
CN106292001B (zh) * 2016-07-20 2019-06-28 京东方科技集团股份有限公司 一种测试装置及测试方法
CN107037636A (zh) * 2017-06-01 2017-08-11 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶基板的电压施加装置及施压方法
CN206892276U (zh) * 2017-07-12 2018-01-16 惠科股份有限公司 一种电路板

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2676206Y (zh) * 2003-12-09 2005-02-02 环国科技股份有限公司 显示面板的测试薄膜探针
CN101825669A (zh) * 2009-03-03 2010-09-08 友达光电(苏州)有限公司 显示模块测试装置及测试方法
CN102540509A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 塔工程有限公司 阵列测试装置
WO2012108262A1 (ja) * 2011-02-08 2012-08-16 シャープ株式会社 表示パネルの検査装置および表示パネルの検査方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100451742C (zh) * 2007-07-06 2009-01-14 友达光电股份有限公司 液晶面板检测方法及装置
CN101738806B (zh) * 2009-12-21 2011-10-05 友达光电股份有限公司 阵列背板、用以测试阵列背板的探针及液晶显示面板

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2676206Y (zh) * 2003-12-09 2005-02-02 环国科技股份有限公司 显示面板的测试薄膜探针
CN101825669A (zh) * 2009-03-03 2010-09-08 友达光电(苏州)有限公司 显示模块测试装置及测试方法
CN102540509A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 塔工程有限公司 阵列测试装置
WO2012108262A1 (ja) * 2011-02-08 2012-08-16 シャープ株式会社 表示パネルの検査装置および表示パネルの検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN103345077A (zh) 2013-10-09
WO2014201737A1 (zh) 2014-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103345077B (zh) 液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法
CN102621721B (zh) 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法
CN104360509B (zh) 点灯测试方法及装置
CN103135268B (zh) 液晶显示面板的检测装置
CN108172153B (zh) 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备
CN103852922B (zh) 一种阵列基板检测方法及检测装置
CN101847357A (zh) 显示面板、显示装置及其测试方法
US10672314B2 (en) Display panel detection method and display panel detection device
CN107613233A (zh) 一种可兼容处理两种信号的电视处理系统
CN101813841A (zh) 显示面板测试治具及测试方法
CN103376577A (zh) 一种lvds接口液晶屏的自动测试方法和系统
CN102646382A (zh) 液晶显示模组差分信号接收终端异常的检测方法及装置
CN103376576A (zh) 一种4k2k v-by-one接口液晶显示屏的自动测试方法及系统
CN103454794B (zh) 点灯测试治具以及液晶面板测试方法
CN202838905U (zh) Led显示模组通用测试装置
CN205506989U (zh) 点屏治具
CN202471858U (zh) 自动测试系统
CN202334661U (zh) 一种手机主板全自动测试的仪器
CN204463780U (zh) 短路棒治具
CN103499894A (zh) 信号线连接口、显示面板检测装置及检测方法
CN203838446U (zh) 测试线路、显示面板及显示装置
CN203870243U (zh) 一种自动检测智能电能表液晶轮显内容的装置
WO2014079099A1 (zh) Esd保护芯片数码显示检测系统
CN104375296A (zh) 一种玻璃基板、外围电路板和显示面板
US9304341B2 (en) Signal panel for checking images displayed on liquid display devices

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
C06 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C10 Entry into substantive examination
GR01 Patent grant
C14 Grant of patent or utility model